JPWO2013121507A1 - 電流検出器 - Google Patents

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Abstract

電流検出器は、検出部12を実装した回路基板13と、変流器が接続される接続端子6とを備えている。回路基板13は、一表面131に第1の配線層が設けられ、他表面に第2の配線層が設けられた両面基板からなる。これらの配線層には、接続端子6と検出部12とを電気的に接続する第1の配線パターン7と第2の配線パターン8とが形成されている。第1の配線パターン7は第1の配線層に形成されているのに対し、第2の配線パターン8は第1の配線層と第2の配線層とに跨って形成されている。第2の配線パターン8のうち他表面に形成された迂回部84は、その一部が第1の配線パターン7と重なる位置に配置されている。これにより、両配線パターン7,8で囲まれた領域の面積を小さくでき、この領域を通過する磁束を低減することができ、結果的に、外部で発生した磁束の影響を低減して電流の計測精度を向上できる。

Description

本発明は、変流器の出力に基づいて検出対象の電流を検出する電流検出器に関する。
従来から、住宅やオフィスビル等においては、一般的に電力系統(配電系統)から受電設備で受電した電力を配電盤や分電盤で複数の屋内配線に分岐し、分岐した屋内配線を介して各負荷に電力を供給するシステムが採用されている。この種のシステムにおいて、省エネルギー等の目的で、交流回路の複数の計測点における電力量をそれぞれ計測する多回路電力量計を用いることが提案されている(たとえば日本国公開特許公報2005−55404号参照)。
この多回路電力量計は、電圧と電流とから電力を演算するため、交流回路の電圧を測定する電圧測定回路に加えて、計測点における電流を計測する電流検出器(電流測定回路)を備えている。電流検出器は、交流回路の計測点にカップリングされた変流器に接続され、変流器の出力に基づいて計測点の電流を計測する。この種の電流検出器は、変流器の出力に基づいて検出対象の電流を検出する検出部を実装した回路基板を備え、回路基板には、変流器が接続される接続端子(コネクタ)が設けられている。
ところで、このような構成の電流検出器では、一般的に、接続端子と検出部とを電気的に接続する一対の配線パターンが回路基板に形成されている。しかし、この配線パターンで囲まれた領域を、外部で発生した磁束(たとえば屋内配線の周囲に生じる磁束)が通過すると、磁束の影響で配線パターンに電流が流れるため、検出部の入力にノイズが生じる可能性がある。とくに、変流器の出力が徴少信号である場合、検出部は、上記ノイズの影響によりSN比が低下し、電流の計測精度が低下するという問題がある。
本発明は上記事由に鑑みて為されており、外部で発生した磁束の影響を低減して電流の計測精度を向上させた電流検出器を提供することを目的とする。
本発明の電流検出器は、変流器の出力に基づいて検出対象の電流を検出する検出部を実装した回路基板と、前記回路基板に設けられ前記変流器が接続される接続端子とを備え、前記回路基板は、厚み方向に2層以上の配線層が設けられており、前記配線層には前記接続端子と前記検出部とを電気的に接続する第1の配線パターンと第2の配線パターンとが形成されており、前記第1の配線パターンの少なくとも一部は、前記第2の配線パターンが形成された前記配線層と隣接する前記配線層に形成され、前記回路基板の厚み方向において前記第2の配線パターンの投影面内に収まる形状に形成されていることを特徴とする。
この発明によれば、第1の配線パターンの少なくとも一部は、第2の配線パターンが形成された配線層と隣接する配線層に形成され、回路基板の厚み方向において第2の配線パターンの投影面内に収まるので、両配線パターンで囲まれた領域の面積を小さくできる。したがって、両配線パターンで囲まれた領域を通過する磁束を低減することができ、結果的に、外部で発生した磁束の影響を低減して電流の計測精度を向上できる、という利点がある。
この電流検出器において、前記回路基板には前記接続端子に接続された入力抵抗が設けられ、前記検出部は、前記入力抵抗で発生した電圧を検出することにより検出対象の電流を検出し、前記第1の配線パターンと前記第2の配線パターンとは、前記入力抵抗と前記検出部とを接続する部分の少なくとも一部において、前記回路基板の厚み方向に互いに重なっていることが望ましい。
この電流検出器において、前記入力抵抗は、直列に接続された第1の抵抗と第2の抵抗とを有し、前記接続端子は、前記第1の抵抗の両端に接続された第1の接続端子と前記第2の抵抗の両端に接続された前記第2の接続端子とを有し、前記第1の配線パターンは、前記第1の抵抗における前記第2の接続端子とは反対側の端子を前記検出部に接続し、前記第2の配線パターンは、前記第2の抵抗における前記第1の接続端子とは反対側の端子を前記検出部に接続し、前記第1の抵抗と前記第2の抵抗とは、互いに異なる前記配線層であって、前記回路基板の厚み方向において互いに重なる位置に設けられていることがより望ましい。
この電流検出器において、前記第2の配線パターンは前記第1の配線パターンに比べて幅広であって、前記検出部の基準電位に接続されていることがより望ましい。
この電流検出器において、前記第1の配線パターンと前記第2の配線パターンとの各々は、異なる前記配線層に跨って形成されており、前記第1の配線パターンの異なる前記配線層間をつなぐスルーホールは、前記第2の配線パターンの異なる前記配線層間をつなぐスルーホールに隣接して設けられていることがより望ましい。
実施形態1に係る電流検出器の要部の表面図である。 実施形態1に係る電流検出器の要部の裏面図である。 実施形態1に係る電気量管理システムの構成を示すブロック図である。 実施形態1に係る電流検出器の要部の構成を示す回路図である。 実施形態1に係る電流検出器の他の例を示す要部の表面図である。 実施形態2に係る電流検出器の要部の構成を示す回路図である。 実施形態2に係る電流検出器の要部の表面図である。 実施形態3に係る電流検出器の要部の構成を示す回路図である。 実施形態3に係る電流検出器の要部の斜視図である。 実施形態3に係る電流検出器の要部の表面図である。 実施形態3に係る電流検出器の要部の裏面図である。 実施形態4に係る電流検出器の要部の表面図である。 実施形態4に係る電流検出器の要部の表面図である。
(実施形態1)
本実施形態の電流検出器は、交流回路の複数の計測点における電力量をそれぞれ計測する電力計測装置100(図3参照)に用いられている。この電力計測装置100は、たとえば住宅等における分電盤(図示せず)内に設けられ、複数の分岐回路について負荷101(図3参照)に供給されている電力量を分岐回路ごとに計測し、計測結果を監視装置102(図3参照)に出力する。負荷101は、たとえば照明器具、給湯器、空調装置、テレビなどの各種電気機器である。これにより、ユーザは負荷101での電気使用量等を監視装置102にて確認可能となる。
まず、電力計測装置100の概略構成について図3を参照して説明する。
電力計測装置100は、交流電源103から負荷101への給電路(分岐回路)104に流れる電流を検出する電流検出器1と、給電路104の電圧を検出する電圧検出器2と、電力を演算する電力演算部3と、データを出力するデータ出力部4とを有している。
電流検出器1は、分電盤内において給電路104の所定箇所に設定されている計測点に設けられた変流器(CT)5に接続され、変流器5の出力に基づいて検出対象となる計測点の電流を検出する。ここでは、電流検出器1は、給電路104の計測点を流れる電流の大きさを計測しており、電流値を表す電流信号を電力演算部3に出力する。電圧検出器2は、分電盤内でたとえば主幹回路に接続され、給電路104の電圧の大きさを計測して、電圧値を表す電圧信号を電力演算部3に出力する。なお、電流検出器1および電圧検出器2は、出力する信号(電流信号、電圧信号)に所定値を加算する加算回路(図示せず)を有しており、電力演算部3には所定値分だけ底上げされた電流信号、電圧信号が入力される。
電力演算部3は、マイコン(マイクロコンピュータ)を主構成としており、電流検出器1からの電流信号および電圧検出器2からの電圧信号に基づいて、変流器5が設けられている計測点における電力を演算する。ここでは、電力演算部3は、電流検出器1および電圧検出器2からの各アナログ信号をデジタル信号に変換するA/D変換部(図示せず)と、A/D変換後の各信号を乗算することにより電力を求める乗算部(図示せず)とを有している。つまり、乗算部は、電流と電圧とを乗算することにより電力を算出する。電力演算部3は、演算により求めた電力値を積算することによって所定時間ごとの電力量を求め、求めた電力量をデータ出力部4に出力する。なお、電力演算部3は、A/D変換後の信号から、電流検出器1および電圧検出器2の加算回路で加算された所定値分を減算した上で、電力の演算を行う。
データ出力部4は、たとえばRS485などに準拠した通信機能を有しており、電力演算部3で求められた電力量を、通信により通信線105を通して監視装置102へ出力する。また、電力計測装置100は、図示しない外部メモリ用のインタフェースや内蔵メモリを具備しており、データ出力部4は、これらのメモリに対しても電力量を出力し、電力量をメモリに記憶する機能を有している。さらに、データ出力部4は、メモリに一旦記憶した電力量を、通信により監視装置102へ出力してもよい。
このように構成される電力計測装置100は、変流器5および監視装置102と共に、たとえば分岐回路ごとの電気使用量等を管理する電気量管理システムを構成する。監視装置102は、たとえば電力計測装置100とネットワーク接続されたパソコン(パーソナルコンピュータ)からなり、定期的(たとえば1時間毎)に電力計測装置100からデータを取得し、取得したデータを記憶する。これにより、監視装置102は、電力計測装置100から取得したデータをモニタ(図示せず)に表示し、分岐回路ごとの電気使用量等を管理可能とする。
ここで、電流検出器1に接続される変流器5は、環状のコア(図示せず)と、コアに巻き付けられた導線からなるコイル(図示せず)とを具備している。この変流器5は、コアの内側を給電路104が貫通するように給電路104の計測点に取り付けられ、コイルの両端が専用の接続線106(図4参照)を介して電流検出器1に接続される。これにより、変流器5は、コアを貫通した給電路104を流れる電流に応じた出力電流を、接続線106を介して電流検出器1に流すことになる。なお、変流器5は、既設配線を接続したままで取り付けることができる分割形であってもよい。
次に、電流検出器1の構成について図4を参照して説明する。
電流検出器1は、図4に示すように、変流器5が接続される入力抵抗11と、入力抵抗11で生じた電圧を検出する検出部12とを有している。入力抵抗11は、変流器5からの出力電流を流すことにより検出対象である計測点の電流に応じた電圧を生じる。したがって、検出部12は、入力抵抗11で生じた電圧を検出することによって、検出対象である計測点の電流に応じた値(電圧)を取得できる。
入力抵抗11は、両端が検出部12に接続されている。ここで、検出部12は、基準電位としての回路グランド(ゼロ電位)に接続されている。検出部12は、入力抵抗11の一端を基準電位に接続し、入力抵抗11の他端と基準電位との間に生じる電圧を、入力抵抗11の両端電圧として測定する。このようにして、検出部12は、入力抵抗11の両端電圧を測定することにより、給電路104の計測点を流れる電流値を計測する。ここで、検出部12は、入力抵抗11の両端電圧に所定値を加算する加算回路(図示せず)を具備しており、所定値分だけ底上げされた電流信号を電力演算部3に出力する。なお、検出部12は、電力演算部3(図3参照)を構成するマイコンにて実現されていてもよく、この場合、入力抵抗11はマイコンのA/D変換部に直接接続される。
ところで、本実施形態の電流検出器1は、検出部12を実装した回路基板13(図1参照)と、回路基板13に設けられており変流器5が接続される接続端子6とを備えている。接続端子6は、2線式の接続線106が接続されるように一対の接続部601,602を具備している。この接続端子6の一対の接続部601,602間には、上述した入力抵抗11が接続されている。これにより、変流器5の接続線106が接続端子6に接続された状態では、変流器5に入力抵抗11が接続され、変流器5からの出力電流に応じた電圧が入力抵抗11の両端に発生することになる。そのため、検出部12は、変流器5の出力電流に基づいて計測点の電流を検出できる。
ここで、回路基板13は、図1および図2に示すように、厚み方向に2層以上の配線層が設けられている。本実施形態では、回路基板13は、絶縁基板130の一表面131に第1の配線層が設けられ、他表面132に第2の配線層が設けられた両面基板からなる。本実施形態では、接続端子6と入力抵抗11と検出部12とは、いずれも回路基板13の一表面131に設けられている。なお、図1では入力抵抗11および検出部12は2点鎖線で表している。
これらの配線層には、接続端子6と検出部12とを電気的に接続する第1の配線パターン7と第2の配線パターン8とが形成されている。接続端子6の一方の接続部601は第1の配線パターン7を介して検出部12に接続され、他方の接続部602は第2の配線パターン8を介して検出部12に接続されている。さらに、第1の配線パターン7と第2の配線パターン8との間には入力抵抗11が接続されている。
以下に、これらの配線パターンの形状について詳しく説明する。以下では、接続端子6の一対の接続部601,602が並ぶ図1の左右方向をX方向とし、図1の右方向をX軸の正方向として説明し、また、図1の上下方向をY方向とし、図1の上方向をY軸の正方向として説明する。
第1の配線パターン7は、図1に示すように、Y方向の一端部に接続端子6の接続部601が接続されており、他端部には検出部12を接続するためのパッド72を有している。さらに、第1の配線パターン7は、Y方向の中間位置であって接続端子6の近傍に、入力抵抗11を接続するためのパッド71を有している。同様に、第2の配線パターン8は、Y方向の一端部に接続端子6の接続部602が接続されており、他端部には検出部12を接続するためのパッド82を有している。さらに、第2の配線パターン8は、Y方向の中間位置であって接続端子6の近傍に、入力抵抗11を接続するためのパッド81を有している。
本実施形態では一例として、入力抵抗11接続用のパッド71,81の間隔は一対の接続部601,602の間隔と同じであるが、検出部12接続用のパッド72,82の間隔は一対の接続部601,602の間隔よりも狭く設定されている。そのため、第1の配線パターン7においては、一方のパッド71は接続部601とY方向に沿った一直線上に並んでいるが、他方のパッド72はこの直線から第2の配線パターン8のパッド82側に寄った位置に配置されている。したがって、第1の配線パターン7は、パッド72からY軸の正方向に延び、その先端部がX軸の負方向に延長されてパッド71につながる略L字状の連結パターン73にて、両パッド71,72間が接続されている。第2の配線パターン8においては、2つのパッド81,82は接続部602とY方向に沿った一直線上に並んでいる。
ここで、第1の配線パターン7は、回路基板13の一表面131に設けられた第1の配線層に形成されているのに対し、第2の配線パターン8は第1の配線層と第2の配線層とに跨って形成されている。すなわち、第1の配線パターン7においては、2つのパッド71,72および両パッド71,72間をつなぐ連結パターン73のいずれも第1の配線層に形成されている。これに対し、第2の配線パターン8では2つのパッド81,82は第1の配線層に形成されているものの、両パッド81,82間をつなぐ連結パターン83の一部は第2の配線層に形成されている。
具体的に説明すると、第2の配線パターン8の連結パターン83は、一表面131上でパッド81からY軸の負方向に引き出された引出部831の先端が、スルーホール832を通して他表面132へ引き回されている。さらに、連結パターン83は、一表面131上でパッド82からY軸の正方向に引き出された引出部833の先端が、スルーホール834を通して他表面132へ引き回されている。他表面132においては、連結パターン83は、図2に示すように、一端部がスルーホール832を通して引出部831につながり、他端部がスルーホール834を通して引出部833につながる迂回部84を有している。なお、ここでいう「スルーホール」は、孔の内面に導電性材料によりスルーホールめっきが施され、一表面131側のパターンと他表面132側のパターンとを電気的に接続する構造を意味している。
迂回部84は、スルーホール832からX軸の負方向に延長された第1片841と、スルーホール834からX軸の負方向に延長された第2片842と、Y方向に沿って形成され第1片841および第2片842の先端部同士をつなぐ第3片843とからなる。
ここで、迂回部84のうち第3片843は、回路基板13の厚み方向において第1の配線パターン7の連結パターン73と重なる位置に配置されている。言い換えれば、第1の配線パターン7の少なくとも一部は、第2の配線パターン8が形成された配線層と隣接する配線層に形成され、回路基板13の厚み方向において第2の配線パターン8の投影面内に収まる形状に形成されている。本実施形態では、第1の配線パターン7の連結パターン73と、第2の配線パターン8の連結パターン83とでは幅寸法(太さ)が同一に設定されている。そのため、第1の配線パターン7は、第2の配線パターン8との重複部分において、第2の配線パターン(第3片843)8の投影面と同じ形状に形成されることになる。
以上説明した電流検出器1によれば、第1の配線パターン7の少なくとも一部は、第2の配線パターン8が形成された配線層と隣接する配線層に形成され、回路基板13の厚み方向において第2の配線パターン8の投影面内に収まっている。そのため、電流検出器1は、回路基板13において接続端子6と検出部12とを電気的に接続する一対の配線パターン7,8で囲まれた領域の面積を、極力小さく抑えることが可能である。すなわち、本実施形態の電流検出器1は、一対の配線パターン7,8の少なくとも一部が回路基板13の厚み方向に重なるので、この重複部分では、一対の配線パターン7,8の間隔を絶縁基板130の厚み寸法にまで小さくすることができる。したがって、この電流検出器1は、両配線パターン7,8が回路基板13の同一面に形成される構成に比べて、両配線パターン7,8の間隔を小さくでき、両配線パターン7,8で囲まれた領域の面積を小さくできる。
ここにおいて、両配線パターン7,8で囲まれた領域を、外部で発生した磁束(たとえば屋内配線の周囲に生じる磁束)が通過すると、磁束の影響で配線パターン7,8に電流が流れるため、検出部12の入力にノイズが生じる可能性がある。本実施形態の電流検出器1は、両配線パターン7,8で囲まれた領域の面積を小さく抑えることにより、この領域を通過する磁束を低減することができ、結果的に、外部で発生した磁束の影響を低減して電流の計測精度を向上できる、という利点がある。とくに、変流器5の出力が微小信号である場合、検出部12は上記ノイズの影響によりSN比が低下しやすいので、上述のように両配線パターン7,8で囲まれた領域の面積を小さく抑えることは有用である。
また、本実施形態では、第1の配線パターン7と第2の配線パターン8とは、入力抵抗11と検出部12とを接続する連結パターン73,83の一部で互いに重なっている。ここで、接続端子6と入力抵抗11との間は電流モードの信号が通過するのに対し、入力抵抗11と検出部12との間は電圧モードの信号が通過する。したがって、両配線パターン7,8は、電圧モードの信号が通過する部分同士が重なることとなり、その結果、両配線パターン7,8間の干渉が比較的小さくなる。
ところで、本実施形態の他の例として、図5に示すように、第2の配線パターン8の連結パターン83は、第1の配線パターン7の連結パターン73に比べて幅広に形成されていてもよい。
図5の構成では、第2の配線パターン8のうち、回路基板13の他表面132に形成された迂回部85は、面状の所謂ベタパターンにて形成されている。この場合でも、第1の配線パターン7は、連結パターン73の少なくとも一部が、回路基板13の厚み方向において第2の配線パターン(迂回路85)8の投影面内に形成されている。図5の例では、パッド81からX軸の正方向に引出部831が引き出され、引出部831の先端がスルーホール832に接続されている。また、パッド72,82は、パッド71,81に対してX軸の正方向にシフトした位置に設けられている。
さらにこの例では、第2の配線パターン8は検出部12の基準電位(回路グランド)に接続されている。したがって、第1の配線パターン7のうち第2の配線パターン8と重なる部分については、第2の配線パターン8が電磁シールドとして機能し、外来ノイズの影響をとくに受けにくくなる。
なお、接続端子6は、1枚の回路基板13に1個のみ設けられている構成に限らず、1枚の回路基板13に複数個設けられていてもよい。この場合、電流検出器1は、複数個の接続端子6で複数回路の電流を検出してもよいし、複数個の接続端子6で1回路の電流を検出してもよい。
すなわち、電流検出器1は、検出対象が単相二線式や単相三線式などの単相交流であれば1個の変流器5で1回路の電流を検出できるので、複数個の接続端子6で複数回路の電流を検出可能である。また、検出対象が三相四線式などの複相交流であれば、電流検出器1は、各相につき1個の変流器5で電流を検出するので、複数個の接続端子6で1回路の電流を検出可能である。さらに、検出対象が複相交流の場合でも、1回路分の電流を検出する複数個の接続端子6の組が複数組設けられていれば、電流検出器1は、複数回路の電流を検出可能である。
(実施形態2)
本実施形態の電流検出器1は、変流器5を接続するための接続端子6が、第1の接続端子61と第2の接続端子62と第3の接続端子63と第4の接続端子64とを有する点で、実施形態1の電流検出器1と相違する。以下、実施形態1と同様の構成については、共通の符号を付して適宜説明を省略する。
本実施形態の電流検出器1は、図6に示すように、変流器5として第1の変流器501、第2の変流器502、第3の変流器503、第4の変流器505の4種類の変流器を接続可能に構成されている。これらの変流器501〜504は、コアの内側をそれぞれ異なる給電路104(図3参照)が貫通するように計測点に取り付けられ、コイルの両端が専用の接続線106を介して電流検出器1に接続される。これにより、各変流器501〜504は、それぞれコアを貫通した給電路104を流れる電流に応じた出力電流を、接続線106を介して電流検出器1に流すことになる。
これらの変流器501〜504は、それぞれ個別の入力抵抗161〜164(以下、各々を区別しないときにはまとめて入力抵抗16という)に接続されており、各入力抵抗16の両端電圧が検出部12に入力される。ここで、各入力抵抗16は、一端が回路切替器15を介して検出部12に接続され、他端が基準電位としての回路グランドに接続されている。基準電位となる回路グランドはゼロ電位であってもよいし、ゼロ電位以外の所定電位であってもよい。回路切替器15は、入力抵抗161〜164を択一的に選択して検出部12に対して電気的に接続する。
これにより、検出部12は、回路切替器15で選択されている入力抵抗16の両端電圧を測定することにより、この入力抵抗16に接続された変流器5が設置されている計測点を流れる電流値を計測する。たとえば回路切替器15で第1の変流器501が選択された状態では、検出部12は、第1の変流器501の出力電流に基づいて計測点の電流を検出できる。回路切替器15で第2の変流器502が選択された状態では、検出部12は、第2の変流器502の出力電流に基づいて計測点の電流を検出できる。
また、第1の変流器501は第1の接続端子61に、第2の変流器502は第2の接続端子62に、第3の変流器503は第3の接続端子63に、第4の変流器504は第4の接続端子64にそれぞれ接続線106を介して接続される。ここで、図7に示すように、第1の接続端子61は、2線式の接続線106が接続されるように一対の接続部611,612を具備し、第2の接続端子62は、2線式の接続線106が接続されるように一対の接続部621,622を具備している。同様に、第3の接続端子63は、2線式の接続線106が接続されるように一対の接続部631,632を具備し、第4の接続端子64は、2線式の接続線106が接続されるように一対の接続部641,642を具備している。
ところで、本実施形態においては、図7に示すように、各接続端子6の一方の接続部611,621,631,641は別々の第1の配線パターン7を介して回路切替器15(図6参照)に接続される。他方の接続部612,622,632,642は共通の第2の配線パターン8を介して検出部12(図6参照)に接続される。なお、図7において、第1の配線パターン7のパッド72には回路切替器15が接続される。
第2の配線パターン8は、実施形態1で説明した図5の構成と同様に、両パッド81,82間をつなぐ連結パターン83が第1の配線パターン7の連結パターン73に比べて幅広に形成されている。つまり、本実施形態では、第2の配線パターン8のうち、回路基板13の他表面132に形成された迂回部85は、面状の所謂ベタパターンにて形成されている。さらに、第2の配線パターン8は、各入力抵抗161〜164を接続するためのパッド811〜814を有している。これらのパッド811〜814からは、それぞれX軸の正方向に引出部831,835,837,839が引き出されている。各引出部831,835,837,839の先端は、スルーホール832,836,838,840を通して他表面132へ引き回され、共通の迂回路85に電気的に接続されている。
第1の接続端子61に接続された第1の配線パターン701は、連結パターン731の少なくとも一部が、回路基板13の厚み方向において第2の配線パターン(迂回路85)8の投影面内に形成されている。同様に、接続端子62,63,64にそれぞれ接続された第1の配線パターン702,703,704についても、連結パターン732,733,734の少なくとも一部が第2の配線パターン(迂回路85)8の投影面内を通るように引き回されている。
さらにこの例では、第2の配線パターン8は検出部12の基準電位(回路グランド)に接続されている。したがって、第1の配線パターン7のうち第2の配線パターン8と重なる部分については、第2の配線パターン8が電磁シールドとして機能し、外来ノイズの影響をとくに受けにくくなる。
以上説明した本実施形態の電流検出器1によれば、検出対象が単相二線式や単相三線式などの単相交流であれば1個の変流器5で1回路の電流を検出できるので、複数個の接続端子6で複数回路の電流を検出可能になる。また、検出対象が三相四線式などの複相交流であれば、電流検出器1は、各相につき1個の変流器5で電流を検出するので、複数個の接続端子6で1回路の電流を検出可能である。
その他の構成および機能は実施形態1と同様である。
(実施形態3)
本実施形態の電流検出器1は、変流器5を接続するための接続端子6が、第1の接続端子61と第2の接続端子62とを有する点で、実施形態1の電流検出器1と相違する。以下、実施形態1と同様の構成については、共通の符号を付して適宜説明を省略する。
本実施形態の電流検出器1は、図8に示すように、変流器5として第1の変流器51と第2の変流器52との2種類の変流器を接続可能に構成されている。種類の異なるこれらの変流器51,52は、電流検出時の出力電流の大きさが異なり、それに伴い全体的なサイズも異なっており、基本的には、いずれか一種類が選択されて電流検出器1に接続される。これら種類の異なる変流器は用途によって使い分けられることもあるが、国や地域によって主流となる変流器が異なることもある。
ここで、第1の変流器51は、給電路104(図3参照)に電流が流れたときにコイルに比較的小さな電流(たとえば数十mA程度)が流れるように構成されており、コアが比較的小さく全体的なサイズも比較的小型である。これに対して、第2の変流器52は、給電路104に定格電流(たとえば数百A)が流れたときにコイルに比較的大きな電流(たとえば数A程度)が流れるように構成されており、コアが比較的大きく全体的なサイズも比較的大型である。
第1の変流器51の接続線106は第1の接続端子61に接続され、第2の変流器52の接続線106は第2の接続端子62に接続される。第1の接続端子61は、2線式の接続線106が接続されるように一対の接続部611,612を具備し、第2の接続端子62は、2線式の接続線106が接続されるように一対の接続部621,622を具備している。
検出部12は第1の変流器51と第2の変流器52とで共通であるものの、これら種類の異なる変流器51,52はその出力電流が大幅に異なるので、電流検出器1は、変流器51,52ごとに別々の抵抗111,112を有している。図8の例では、入力抵抗11は、抵抗値の異なる2種類の抵抗111,112が直列に接続されてなり、第1の変流器51は第1の抵抗111の両端に接続され、第2の変流器52は第2の抵抗112の両端に接続される。つまり、第1の抵抗111の両端には第1の接続端子61が接続され、第2の抵抗112の両端には第2の接続端子62が接続されている。たとえば、第1の抵抗111は抵抗値が3.3Ωの抵抗であり、第2の抵抗112は抵抗値が5mΩのシャント抵抗である。なお、シャント抵抗は、大電流が流れる回路の電流計測用に作られた、抵抗値が小さく高精度な抵抗器である。
これら2種類の抵抗111,112の直列回路は、第1の抵抗111側となる一端が検出部12に接続され、第2の抵抗112側となる他端が基準電位としての回路グランドに接続されている。基準電位となる回路グランドはゼロ電位であってもよいし、ゼロ電位以外の所定電位であってもよい。このように、検出部12は、抵抗111,112の直列回路からなる入力抵抗11の両端電圧を測定することにより、給電路104の計測点を流れる電流値を計測する。要するに、検出部12は、第1の接続端子61に第1の変流器51が接続された状態では、第1の変流器51の出力電流に基づいて計測点の電流を検出できる。一方、第2の接続端子62に第2の変流器52が接続された状態では、検出部12は、第2の変流器52の出力電流に基づいて計測点の電流を検出できる。
また、第1の接続端子61と第2の接続端子62とは、図9乃至11に示すように回路基板13の一表面131(図10参照)と、他表面132(図11参照)とに分かれて設けられている。ここでは、第1の接続端子61は回路基板13の一表面131に表面実装されており、第2の接続端子62は他表面132に表面実装されている。さらに、第1の接続端子61と第2の接続端子62とは、回路基板13の厚み方向において、互いに重なる位置に設けられている。つまり、これらの接続端子61,62は、一方の少なくとも一部が他方の投影面内に位置するように、回路基板13の表裏に分かれて設けられている。
また、本実施形態においては、第1の抵抗111は回路基板13の一表面131に設けられ、第2の抵抗112は回路基板13の他表面132に設けられ、検出部12(図8参照)は回路基板13の一表面132に設けられる。
次に、回路基板13に形成されている配線パターンの構成について、図9乃至11を参照して説明する。なお、図9では、説明のために絶縁基板130の厚み寸法を実際よりも大きくしたモデルを表している。
すなわち、第1の接続端子61の接続部611は、第1の配線パターン7によって検出部12と電気的に接続され、第2の接続端子62の接続部622は、第2の配線パターン8によって検出部12と電気的に接続されている。さらに、第1の接続端子61の接続部612と第2の接続端子62の接続部621とは、第3の配線パターン9によって電気的に接続されている。
第1の配線パターン7の形状については、実施形態1(図1参照)と同じであるから、ここでは説明を省略する。第2の配線パターン8は、他表面132に設けられたY方向の一端部に接続部622が接続されており、一表面131に設けられた他端部には検出部12を接続するためのパッド82を有している。さらに、第2の配線パターン8は、Y方向の中間位置であって他表面132における第2の接続端子62の近傍に、第2の抵抗112を接続するためのパッド81を有している。
第3の配線パターン9は、接続部612に接続されたパッド91(図10参照)を一表面131に有し、接続部621に接続されたパッド92(図11参照)を他表面132に有している。パッド91は、第1の配線パターン7のパッド71とX方向に並ぶように配置されており、第1の抵抗111を接続するために用いられる。パッド92は、第2の配線パターン8のパッド81とX方向に並ぶように配置されており、第2の抵抗112を接続するために用いられる。さらに、第3の配線パターン9は、一表面131上でパッド91からX軸の正方向に引き出された引出部93と、他表面132上でパッド92からX軸の正方向に引き出された引出部94との先端同士が、スルーホール95を通して電気的に接続されている。これにより、第1の抵抗111と第2の抵抗112とが直列接続される。
上述したように、第2の配線パターン8においては、一方のパッド81は第2の配線層に形成され、他方のパッド82は第1の配線層に形成されている。すなわち、第2の配線パターン8では、両パッド81,82間をつなぐ連結パターン86は、回路基板13の一表面131に設けられた第1の配線層と他表面132に設けられた第2の配線層とに跨って形成されている。
具体的に説明すると、第2の配線パターン8の連結パターン86は、図10に示すように、一表面131上でパッド82からY軸の正方向に引き出された引出部861の先端が、スルーホール862を通して他表面132へ引き回されている。他表面132においては、連結パターン86は、図11に示すように、一端部がパッド81につながり、他端部がスルーホール862を通して引出部861につながる迂回部87を有している。
迂回部87は、パッド81からX軸の正方向に延長された第1片871と、スルーホール862からX軸の負方向に延長された第2片872と、Y方向に沿って形成され第1片871および第2片872の先端部同士をつなぐ第3片873とで構成されている。
ここで、迂回部87のうち第1片871および第3片873は、回路基板13の厚み方向において第1の配線パターン7の連結パターン73と重なる位置に配置されている。言い換えれば、第1の配線パターン7の少なくとも一部は、第2の配線パターン8が形成された配線層と隣接する配線層に形成され、回路基板13の厚み方向において第2の配線パターン8の投影面内に収まる形状に形成されている。本実施形態では、第1の配線パターン7の連結パターン73と、第2の配線パターン8の連結パターン86とでは幅寸法(太さ)が同一に設定されている。そのため、第1の配線パターン7は、第2の配線パターン8との重複部分において、第2の配線パターン(第1片871および第3片873)8の投影面と同じ形状に形成されることになる。
以上説明した本実施形態の電流検出器1によれば、接続端子6が第1の変流器51を接続するための第1の接続端子61と第2の変流器52を接続するための第2の接続端子62とを有している。そのため、電流検出器1は、種類の異なる変流器51,52に対応することができる。
しかも、この電流検出器1では、第1の抵抗111と第2の抵抗112とは、互いに異なる配線層であって、回路基板13の厚み方向において互いに重なる位置に設けられている。したがって、第1の抵抗111に接続される第1の配線パターン7と、第2の抵抗112に接続される第2の配線パターン8とにおいては、回路基板13の厚み方向に重なる部分が多くなる。その結果、本実施形態の構成によれば、両配線パターン7,8で囲まれた領域の面積を極力小さくでき、この領域を通過する磁束がさらに低減されるので、外部で発生した磁束の影響を低減して電流の計測精度をさらに向上できる、という利点がある。
その他の構成および機能は実施形態1と同様である。
(実施形態4)
本実施形態の電流検出器1は、回路基板として4層の配線層を有する多層基板を用いている点で、実施形態1の電流検出器1と相違する。この回路基板14(図12参照)は、一表面141(図12参照)に第1の配線層、他表面(図示せず)に第4の配線層を有し、中間層として第2の配線層および第3の配線層を有している。これらの配線層は、一表面141側から第1の配線層、第2の配線層、第3の配線層、第4の配線層の順に、絶縁基板を介して積層されている。以下、実施形態1と同様の構成については、共通の符号を付して適宜説明を省略する。
本実施形態においては、接続端子6(図1参照)および入力抵抗11(図1参照)は、回路基板14の一表面141に設けられ、検出部12(図1参照)は回路基板4の他表面に設けられている。
以下、第1の配線パターン7および第2の配線パターン8の構成について、図12および図13を参照して説明する。図12は、一表面141側から見た回路基板14を示しており、第1の配線層に形成された配線パターン7,8については実線、第2の配線層に形成された配線パターン7,8については破線で表している。図13は、第1の配線層、第2の配線層を除いて一表面141側から見た回路基板14を示しており、第3の配線層に形成された配線パターン7,8については実線、第4の配線層に形成された配線パターン7,8については破線で表している。
ここで、第1の配線パターン7は、入力抵抗11接続用のパッド71が第1の配線層に形成され、検出部12接続用のパッド72が第4の配線層に形成され、両パッド71,72間をつなぐ連結パターン74が第1の配線層と第4の配線層と跨って形成されている。また、第2の配線パターン8は、入力抵抗11接続用のパッド81が第1の配線層に形成され、検出部12接続用のパッド82が第4の配線層に形成され、両パッド81,82間をつなぐ連結パターン88が第1〜4の全配線層に跨って形成されている。
第1の配線パターン7の連結パターン74は、平面視では、図12,13に示すように、パッド72からY軸の正方向に延び、その先端部がX軸の負方向に延長されてパッド71につながる略L字状に形成されている。ただし、連結パターン74は、Y方向における略中央に、回路基板14を貫通するスルーホール741を有しており、このスルーホール741にてY方向に2分されている。つまり、連結パターン74のうち、スルーホール741とパッド71との間の部分は第1の配線層に形成され、スルーホール741とパッド72との間の部分は第4の配線層に形成されている。
第2の配線パターン8の連結パターン88においても、第1の連結パターン7と同様にY方向における略中央に、回路基板14を貫通するスルーホール881を有しており、このスルーホール881にてY方向に2分されている。ただし、第2の配線パターン8においては、連結パターン88のうち、スルーホール881とパッド81との間の部分は第1,2の配線層に跨って形成され、スルーホール881とパッド82との間の部分は第3,4の配線層に跨って形成されている。
すなわち、連結パターン88は、図12に示すように、スルーホール881とパッド81との間に、第1の配線層と第2の配線層とを電気的に接続するビアホール882を有している。連結パターン88のうち、ビアホール882とスルーホール881とをつなぐ迂回部883は、第2の配線層に形成され、且つ第1の配線層に形成された第1の配線パターン7と重なるようにX方向に迂回した形状に形成されている。
また、連結パターン88は、図13に示すように、スルーホール881とパッド82との間に、第3の配線層と第4の配線層とを電気的に接続するビアホール884を有している。連結パターン88のうち、スルーホール881とビアホール884とをつなぐ迂回部885は、第3の配線層に形成され、且つ第4の配線層に形成された第1の配線パターン7と重なるようにX方向に迂回した形状に形成されている。
ここにおいて、本実施形態では、第1の配線パターン7のスルーホール741と、第2の配線パターン8のスルーホール881とは、互いに隣接するようにX方向に並べて形成されている。つまり、第1の配線パターン7の第1,4の配線層間をつなぐスルーホール741は、第2の配線パターン8の第2,3の配線層間をつなぐスルーホール881に隣接して設けられている。これらのスルーホール741,881間の距離は、極力小さくなるように設定されている。
以上説明した構成によれば、回路基板14に形成されたスルーホール741,881についても、第1の配線パターン7と第2の配線パターン8との間隔を極力小さくできる。したがって、本実施形態の構成によれば、両配線パターン7,8で囲まれた領域の面積を極力小さくでき、この領域を通過する磁束がさらに低減されるので、外部で発生した磁束の影響を低減して電流の計測精度をさらに向上できる、という利点がある。
その他の構成および機能は実施形態1と同様である。

Claims (5)

  1. 変流器の出力に基づいて検出対象の電流を検出する検出部を実装した回路基板と、前記回路基板に設けられ前記変流器が接続される接続端子とを備え、
    前記回路基板は、厚み方向に2層以上の配線層が設けられており、前記配線層には前記接続端子と前記検出部とを電気的に接続する第1の配線パターンと第2の配線パターンとが形成されており、
    前記第1の配線パターンの少なくとも一部は、前記第2の配線パターンが形成された前記配線層と隣接する前記配線層に形成され、前記回路基板の厚み方向において前記第2の配線パターンの投影面内に収まる形状に形成されていることを特徴とする電流検出器。
  2. 前記回路基板には前記接続端子に接続された入力抵抗が設けられ、前記検出部は、前記入力抵抗で発生した電圧を検出することにより検出対象の電流を検出し、
    前記第1の配線パターンと前記第2の配線パターンとは、前記入力抵抗と前記検出部とを接続する部分の少なくとも一部において、前記回路基板の厚み方向に互いに重なっていることを特徴とする請求項1に記載の電流検出器。
  3. 前記入力抵抗は、直列に接続された第1の抵抗と第2の抵抗とを有し、前記接続端子は、前記第1の抵抗の両端に接続された第1の接続端子と前記第2の抵抗の両端に接続された前記第2の接続端子とを有し、
    前記第1の配線パターンは、前記第1の抵抗における前記第2の接続端子とは反対側の端子を前記検出部に接続し、前記第2の配線パターンは、前記第2の抵抗における前記第1の接続端子とは反対側の端子を前記検出部に接続し、
    前記第1の抵抗と前記第2の抵抗とは、互いに異なる前記配線層であって、前記回路基板の厚み方向において互いに重なる位置に設けられていることを特徴とする請求項2に記載の電流検出器。
  4. 前記第2の配線パターンは前記第1の配線パターンに比べて幅広であって、前記検出部の基準電位に接続されていることを特徴とする請求項1〜3のいずれか1項に記載の電流検出器。
  5. 前記第1の配線パターンと前記第2の配線パターンとの各々は、異なる前記配線層に跨って形成されており、前記第1の配線パターンの異なる前記配線層間をつなぐスルーホールは、前記第2の配線パターンの異なる前記配線層間をつなぐスルーホールに隣接して設けられていることを特徴とする請求項1〜4のいずれか1項に記載の電流検出器。
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