JPWO2012176851A1 - 分光装置 - Google Patents

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Abstract

記憶手段27に、光源5の点灯状態において分光器3内で光軸が安定している時のサーミスタ23の検出温度が記憶されている。光源5が消灯状態から点灯されたとき、制御部29はヒーター25を動作させるとともに、制御部29はファン21を停止状態にさせておく。これにより、分光器3は、ランプハウス1からの熱によって加熱されるとともに、ヒーター25によっても加熱される。サーミスタ23の検出温度が記憶手段27に記憶された検出温度に到達したとき、制御部29はヒーター25の動作を停止させてヒーター25による分光器3の加熱を停止するとともに、ランプハウス1の温度が安定するようにファン21を所定の回転数で動作させる。

Description

本発明は、光源が内部に収容されたランプハウスと、そのランプハウスからの光を分光するための分光器とを備えた分光装置に関する。
図5は従来の分光装置の構成を概略的に示す図である。ここでは分光装置の一例として、多波長検出機能を備えた液体クロマトグラフ用PDA(フォトダイオードアレイ)吸光度検出器について説明する。
図5に示されるように、分光装置はランプハウス1と分光器3を備えている。
ランプハウス1の内部に光源5が備えられている。光源5から放射された光は窓板(図示は省略)を介して分光器3に照射される。
分光器3には、光が経由する順に、窓板(図示は省略)、集光鏡7、フローセル9、集光鏡11、スリット13、凹面回折格子15、フォトダイオードアレイ17が設けられている。
ランプハウス1と分光器3は、光通過のための開孔を有するスペーサ19を挟んで配置されている。
また、分光装置には、ランプハウス1を冷却するためのファン21が設けられている。
ランプハウス1及びファン21は、装置の周囲温度の変化によって光源5の放射光量が変化することを低減するために備えられている。一般に、光源5の放射光量は光源5の温度変化によって変動する。光源5の光量が変動するとフォトダイオードアレイ17の出力値が変動するので高感度測定が阻害される要因となる。そこで、装置の周囲温度の変化によってフォトダイオードアレイ17の出力値が変動するのを防ぐために、光源5はある程度大きな熱容量をもったランプハウス1内に収納され、ランプハウス1がファン21によって一定風量で空冷されて放熱されることによって、装置の周囲温度が変化しても光源5の温度は変化しにくいようにされている。
図5に示した分光装置は、光源5から放射された光をフローセル9に照射し、フローセル9を通過した光を回折格子15によってフォトダイオードアレイ17上に分光することにより、フローセル9に流入する分析試料の吸光スペクトルを測定する装置である。
この分光装置において、光源5が消灯状態から点灯された際に、光源5の発熱によって分光器3が熱膨張し、分光器3内で光軸が変動する。その影響で、光源5の点灯後からクロマトグラムのベースラインが安定するまでに時間がかかる。
特開2000−74821号公報
従来技術では、光源5を点灯させた直後、ランプハウス冷却用のファン21を一時的に停止させることによってランプハウス1の温度上昇を促進させ、ランプハウス1の温度上昇を介して分光器3の温度上昇を促進することで、クロマトグラムのベースラインの安定時間を短縮させていた(例えば特許文献1を参照。)。
しかしながら、光源点灯後にランプハウス1の温度が所定温度に上昇するまでの時間が短縮されても、分光器3内の温度分布が安定するまでに時間がかかるので、分光器3内で光軸が安定してクロマトグラムのベースラインが安定するまでにある程度の時間がかかってしまっていた。
このような問題は、液体クロマトグラフ用PDA吸光度検出器に限らず、例えば吸光分光光度計や蛍光分光光度計、液体クロマトグラフのUV検出器、蛍光検出器など、ランプハウスと分光器を備えている分光装置において生じていた。すなわち、ランプハウスと分光器を備えた光源装置において、光源点灯後に分光器内で光軸が安定するまでにある程度の時間がかかるという問題があった。
本発明は、光源が内部に収容されたランプハウスと、そのランプハウスからの光を分光するための分光器とを備えた分光装置において、光源点灯後から分光器内で光軸が安定するまでの時間を短縮することを目的とする。
本発明にかかる分光装置は、光源が内部に収容されたランプハウスと、そのランプハウスからの光を分光するための分光器とを備えた分光装置であって、上記分光器の温度を測定するための温度測定手段と、上記分光器を加熱するための加熱手段と、上記光源が点灯されている状態において上記分光器内で光軸が安定している時の上記温度測定手段の検出温度を記憶するための記憶手段と、上記加熱手段の動作を制御するための制御部と、を備え、上記制御部は、上記光源が消灯状態から点灯されたときに、上記温度測定手段の検出温度が上記記憶手段に記憶された検出温度になるまでの間、上記加熱手段を動作させる。
本発明の分光装置において、光源が消灯状態から点灯されたときに、分光器はランプハウスからの熱によって加熱されるとともに、温度測定手段の検出温度が記憶手段に記憶された検出温度になるまでの間、加熱手段によっても加熱される。
本発明の分光装置において、上記ランプハウスを冷却するためのファンをさらに備え、上記制御部は、上記光源が消灯状態から点灯されたときに上記ファンを停止させておき、上記温度測定手段の検出温度が上記記憶手段に記憶された検出温度に到達した後に上記ファンを所定の回転数で動作させるようにしてもよい。これにより、光源の点灯直後からファンが動作される場合に比べて、ランプハウスの温度上昇が促進される。ただし、本発明の分光装置において、ファンは、温度測定手段の検出温度が記憶手段に記憶された検出温度に到達するまでの間、上記所定の回転数で動作されてもよいし、上記所定の回転数よりも少ない回転数で動作されてもよい。
また、本発明の分光装置において、互いに異なる位置で上記分光器の温度測定及び加熱を行なう上記温度測定手段及び上記加熱手段の組を複数組備え、上記記憶手段は上記温度測定手段ごとに上記分光器内で光軸が安定している時の上記温度測定手段の検出温度を記憶し、上記制御部は、複数の上記加熱手段を対応する上記温度測定手段の検出温度に基づいて動作させるようにしてもよい。これにより、温度測定手段及び加熱手段が一組の場合に比べて、分光器内で光軸が安定している時の分光器の温度分布が早く再現されるようになり、光源点灯後から分光器内で光軸が安定するまでの時間がさらに短縮される。
また、本発明の分光装置において、上記記憶手段には、上記検出温度に替えて、上記光源が消灯状態から点灯された後に上記加熱手段の動作をともなって上記温度測定手段の検出温度が上記分光器内で光軸が安定している時の検出温度になるまでの時間が記憶されており、上記制御部は上記記憶手段に記憶された上記時間に基づいて上記加熱手段を動作させるようにしてもよい。加熱手段の動作が記憶手段に記憶された時間に基づいて制御される場合であっても、加熱手段の動作が温度測定手段の検出温度に基づいて動作される場合と同様に、分光器は適切に加熱され、光源の点灯開始から分光器で光軸が安定するまでの時間が短縮される。
本発明の分光装置は、光源が内部に収容されたランプハウスと、そのランプハウスからの光を分光するための分光器とを備えた分光装置において、分光器の温度を測定するための温度測定手段と、分光器を加熱するための加熱手段と、光源が点灯されている状態において分光器内で光軸が安定している時の温度測定手段の検出温度を記憶するための記憶手段と、加熱手段の動作を制御するための制御部と、を備えているようにした。そして、制御部は、光源が消灯状態から点灯されたときに、温度測定手段の検出温度が記憶手段に記憶された検出温度になるまでの間、上記加熱手段を動作させるようにした。これにより、分光器は、光源が消灯状態から点灯された後、ランプハウスからの熱によって加熱されるとともに、温度測定手段の検出温度が記憶手段に記憶された検出温度になるまでの間、加熱手段によっても加熱される。そして、上記加熱手段による加熱がない場合に比べて、分光器内で光軸が安定している時の分光器の温度分布が早く再現され、光源点灯後から分光器内で光軸が安定するまでの時間は短縮される。
一実施例の構成を概略的に示す図である。 図1に示した実施例による、光源点灯後のクロマトグラムのベースライン変動を示す図である。 従来技術による、光源点灯後のクロマトグラムのベースライン変動を示す図である。 他の実施例の構成を概略的に示す図である。 従来の分光装置の構成を概略的に示す図である。
図1は、一実施例の構成を概略的に示す図である。ここでは分光装置の一例として、多波長検出機能を備えた液体クロマトグラフ用PDA吸光度検出器について説明する。
図1に示されるように、分光装置はランプハウス1と分光器3を備えている。
ランプハウス1の内部に光源5が備えられている。ランプハウス1を構成する筐体は例えばアルミニウムによって形成されている。光源5としては、重水素ランプ等の放電灯やタングステンランプ等が使用される。光源5から放射された光は窓板(図示は省略)とスペーサ19を介して分光器3に照射される。
分光器3には、光が経由する順に、窓板(図示は省略)、集光鏡7、フローセル9、集光鏡11、スリット13、凹面回折格子15、フォトダイオードアレイ17が設けられている。分光器3を構成する筐体は例えばアルミニウムによって形成されている。ランプハウス1からの光は集光鏡7によってフローセル9で集光される。フローセル9を透過した光は集光鏡11によってスリット13に集光される。スリット13を通過した光は回折格子15で分光される。フォトダイオードアレイ17は回折格子15からの複数波長の光について光強度を検出する。
ランプハウス1と分光器3は、光通過のための開孔を有するスペーサ19を挟んで配置されている。スペーサ19は例えばステンレスによって形成されている。
また、分光装置には、ランプハウス1を冷却するためのファン21が設けられている。
分光器3の筐体外面にサーミスタ23とヒーター25が設けられている。サーミスタ23は分光器3の温度を測定するための温度測定手段を構成する。ヒーター25は分光器3を加熱するための加熱手段を構成する。
光源5が点灯されている状態において分光器3内で光軸が安定している時のサーミスタ23の検出温度を記憶するための記憶手段27が設けられている。
ヒーター25の動作を制御するための制御部29が設けられている。制御部29はファン21の動作も制御する。
この実施例の動作について説明する。
光源5が消灯状態から点灯されたとき、制御部29はヒーター25を動作させて分光器3を加熱する。制御部29はサーミスタ23の検出温度が記憶手段27に記憶された検出温度になるまでの間、ヒーター25を動作させる。これにより、分光器3は、ランプハウス1からの熱によって加熱されるとともに、ヒーター25によっても加熱される。
このとき、制御部29はファン21を停止状態にさせておく。これにより、光源5の点灯直後からファン21が動作されてランプハウス1が冷却される場合に比べて、ランプハウス1の温度上昇が促進される。
サーミスタ23の検出温度が記憶手段27に記憶された検出温度に到達したとき、制御部29はヒーター25の動作を停止させてヒーター25による分光器3の加熱を停止する。また、同時に、制御部29はファン21を所定の回転数で動作させてランプハウス1の温度を安定させる。
図2は、図1に示した実施例による、光源点灯後のクロマトグラムのベースライン変動を示す図である。図3は、図5に示した従来技術による、光源点灯後のクロマトグラムのベースライン変動を示す図である。図2及び図3において、縦軸は吸光度(任意単位(mAU))、横軸は時間(分)を示す。図2及び図3のクロマトグラムは例えば250nm(ナノメートル)及び4nmの波長の吸光度が検出されたものである。実施例では、光源5の点灯開始から約10分間(加熱期間)でサーミスタ23の検出温度が記憶手段27に記憶された検出温度に到達した。従来技術では、光源5の点灯開始から10分間(加熱期間)だけファン21を停止させた。
例えば、クロマトグラムのベースラインの変動幅が0.5mAU/h以下になったときにベースラインが安定したとする。図3に示すように、従来技術では、光源5の点灯開始からベースラインが安定するまでに約75分かかった(安定期間)。これに対し、図2に示すように、実施例では、光源5の点灯開始からベースラインが安定するまで約15分であった(安定期間)。このように、図1に示した実施例は、従来技術に比べて、光源5の点灯開始からベースラインが安定するまでの時間、すなわち光源5の点灯開始から分光器3で光軸が安定するまでの時間を短縮することができた。
図4は、他の実施例の構成を概略的に示す図である。図4で図1と同じ機能を果たす部分には同じ符号が付され、それらの部分の説明は省略される。
この実施例は、図1の実施例と比較して、サーミスタ31及びヒーター33をさらに備えている。サーミスタ31及びヒーター33の組は、サーミスタ23及びヒーター25の組とは互いに異なる位置で分光器3の温度測定及び加熱を行なうためのものである。
記憶手段27は、サーミスタ23,31ごとに、分光器3内で光軸が安定している時のサーミスタ23,31の検出温度を記憶する。
制御部29は、光源5が消灯状態から点灯されたとき、ヒーター25,33を動作させる。また、制御部29はファン21を停止状態にさせておく。
制御部29は、サーミスタ23の検出温度が記憶手段27に記憶された対応する検出温度に到達したときにヒーター25を停止させる。また、制御部29は、サーミスタ31の検出温度が記憶手段27に記憶された対応する検出温度に到達したときにヒーター33を停止させる。また、制御部29は、サーミスタ23,31の検出温度のいずれかが記憶手段27に記憶された対応する検出温度に到達したとき又は両方が到達したときに、ランプハウス1の温度が安定するようにファン21を所定の回転数で動作させる。
この動作により、サーミスタ及びヒーターが一組の場合に比べて、分光器3内で光軸が安定している時の分光器3の温度分布がさらに早く再現されるようになり、光源5点灯後から分光器3内で光軸が安定するまでの時間がさらに短縮される。
図4の実施例では、2組のサーミスタ及びヒーターが設けられているが、本発明の分光装置において、サーミスタ及びヒーターの組は3組以上であってもよい。
なお、図1及び図4に示されたサーミスタ23及びヒーター25の配置、ならびに図4に示されたサーミスタ31及びヒーター33の配置は一例であり、サーミスタ及びヒーターの組の配置位置は任意である。
以上の実施例は本発明の一例であり、本発明の範囲内で種々の変更が可能である。
上記実施例では、サーミスタ23又は31の検出温度に基づいてファン21の動作を制御している。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。例えば、ランプハウス1の温度を測定するためのランプハウス用温度測定手段がさらに設けられ、ファン21は、特許文献1に開示されたように、ランプハウス1の温度が所定の温度に到達したときに所定の回転数で動作されるようにしてもよい。ファン21の動作は例えば制御部29によって制御される。これにより、ランプハウス1が必要以上に加熱されることが防止される。さらに、ランプハウス1が所定の温度で安定するまでの時間が短縮される。
また、記憶手段27には、サーミスタ23,31の検出温度に替えて、光源5が消灯状態から点灯された後にヒーター25,33の動作をともなってサーミスタ23,31の検出温度が分光器3内で光軸が安定している時の検出温度になるまでの時間が記憶されているようにしてもよい。この場合、制御部29は、記憶手段27に記憶された上記時間に基づいて光源5の点灯開始からヒーター25,33を動作させる。この場合であっても、ヒーター25,33の動作がサーミスタ23,31の検出温度に基づいて動作される場合と同様に、分光器3は適切に加熱され、光源5の点灯開始から分光器3で光軸が安定するまでの時間を短縮することができる。
また、サーミスタ23,31及びヒーター25,33は分光器3の筐体外面に配置されているが、サーミスタ23,31及びヒーター25,33の配置位置は分光器3の筐体内部であってもよい。
また、上記実施例では、温度測定手段としてサーミスタ23,31が用いられ、加熱手段としてヒーター25,33が用いられている。しかし、本発明はこれに限定されるものではない。温度測定手段は所定の箇所で分光器3の温度を測定できるものであればどのような構成であってもよい。ヒーターは所定の箇所で分光器3を加熱できるものであればどのような構成であってもよい。
また、上記実施例で示されたランプハウス1の構成及び分光器3の構成は一例である。例えば特許文献1に開示されているように、本発明の分光装置においてランプハウスは集光レンズを備えていていもよい。
また、上記実施例は、本発明が液体クロマトグラフ用PDA吸光度検出器に適用されたものであるが、本発明が適用される分光装置はこれに限定されない。本発明は、光源が内部に収容されたランプハウスと、そのランプハウスからの光を分光するための分光器とを備えた分光装置に適用可能である。例えば、本発明は、例えば吸光分光光度計や蛍光分光光度計、液体クロマトグラフのUV検出器、蛍光検出器などに適用することができる。
1 ランプハウス
3 分光器
5 光源
21 ファン
23,31 サーミスタ(温度測定手段)
25,33 ヒーター(加熱手段)
27 記憶手段
29 制御部

Claims (4)

  1. 光源が内部に収容されたランプハウスと、
    そのランプハウスからの光を分光するための分光器と、
    前記分光器の温度を測定するための温度測定手段と、
    前記分光器を加熱するための加熱手段と、
    前記光源が点灯されている状態において前記分光器内で光軸が安定している時の前記温度測定手段の検出温度を記憶するための記憶手段と、
    前記加熱手段の動作を制御し、前記光源が消灯状態から点灯されたときに、前記温度測定手段の検出温度が前記記憶手段に記憶された検出温度になるまでの間、前記加熱手段を動作させるように構成された制御部と、を備えていることを特徴とする分光装置。
  2. 前記ランプハウスを冷却するためのファンをさらに備え、
    前記制御部は、前記光源が消灯状態から点灯されたときに前記ファンを停止させておき、前記温度測定手段の検出温度が前記記憶手段に記憶された検出温度に到達した後に前記ファンを所定の回転数で動作させる請求項1に記載の分光装置。
  3. 互いに異なる位置で前記分光器の温度測定及び加熱を行なう前記温度測定手段及び前記加熱手段の組を複数組備え、
    前記記憶手段は前記温度測定手段ごとに前記分光器内で光軸が安定している時の前記温度測定手段の検出温度を記憶し、
    前記制御部は、複数の前記加熱手段を対応する前記温度測定手段の検出温度に基づいて動作させる請求項1又は2に記載の分光装置。
  4. 前記記憶手段には、前記検出温度に替えて、前記光源が消灯状態から点灯された後に前記加熱手段の動作をともなって前記温度測定手段の検出温度が前記分光器内で光軸が安定している時の検出温度になるまでの時間が記憶されており、
    前記制御部は前記記憶手段に記憶された前記時間に基づいて前記加熱手段を動作させる請求項1から3のいずれか一項に記載の分光装置。
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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR102351001B1 (ko) 2014-01-31 2022-01-12 비아비 솔루션즈 아이엔씨. 광학 필터 및 분광계
DE102014110061B4 (de) 2014-07-17 2018-07-19 Dionex Softron Gmbh Verfahren und Vorrichtung zur Verringerung des Einflusses schwankender Umgebungs- und Betriebsbedingungen auf die Stabilität, Genauigkeit und/oder Präzision eines Prüf- und/oder Messgerätes
US10048127B2 (en) 2015-08-05 2018-08-14 Viavi Solutions Inc. Optical filter and spectrometer
JP6849404B2 (ja) * 2016-11-14 2021-03-24 浜松ホトニクス株式会社 分光計測装置及び分光計測システム
US10935425B2 (en) 2017-07-18 2021-03-02 Shimadzu Corporation Spectroscopic detector
GB2578920A (en) * 2018-11-14 2020-06-03 Duvas Tech Limited Lighting arrangement for fluid analysis system
WO2020183595A1 (ja) * 2019-03-12 2020-09-17 株式会社島津製作所 分光光度計

Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000074821A (ja) * 1998-08-27 2000-03-14 Shimadzu Corp 分析機器用光源装置
JP2005098765A (ja) * 2003-09-24 2005-04-14 Shimadzu Corp 光源装置及びそれを用いた分析装置
JP2005257535A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Shimadzu Corp 分光光度計
JP2006100416A (ja) * 2004-09-28 2006-04-13 Aruze Corp 筐体冷却装置、遊技機及び情報端末装置

Family Cites Families (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02101240U (ja) 1989-01-30 1990-08-13
JPH07198597A (ja) 1993-12-29 1995-08-01 Kurabo Ind Ltd 光電測定装置
US5850472A (en) * 1995-09-22 1998-12-15 Color And Appearance Technology, Inc. Colorimetric imaging system for measuring color and appearance
US5739905A (en) 1997-02-26 1998-04-14 Lucid Technologies, Inc. Spectrophotometer with electronic temperature stabilization
JP4448808B2 (ja) 2005-08-29 2010-04-14 株式会社日立ハイテクノロジーズ 分光光度計
US8013293B2 (en) * 2007-05-30 2011-09-06 Shimadzu Corporation Time-of-flight mass spectrometer
JP2011002310A (ja) 2009-06-18 2011-01-06 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計、および分光光度計の冷却方法

Patent Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2000074821A (ja) * 1998-08-27 2000-03-14 Shimadzu Corp 分析機器用光源装置
JP2005098765A (ja) * 2003-09-24 2005-04-14 Shimadzu Corp 光源装置及びそれを用いた分析装置
JP2005257535A (ja) * 2004-03-12 2005-09-22 Shimadzu Corp 分光光度計
JP2006100416A (ja) * 2004-09-28 2006-04-13 Aruze Corp 筐体冷却装置、遊技機及び情報端末装置

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