JP2003139685A - 光分析装置 - Google Patents

光分析装置

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JP2003139685A
JP2003139685A JP2001337275A JP2001337275A JP2003139685A JP 2003139685 A JP2003139685 A JP 2003139685A JP 2001337275 A JP2001337275 A JP 2001337275A JP 2001337275 A JP2001337275 A JP 2001337275A JP 2003139685 A JP2003139685 A JP 2003139685A
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JP
Japan
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lamp
temperature
house
message
power
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JP2001337275A
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Ryutaro Oda
竜太郎 小田
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Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】 【課題】 短時間で安全にランプ交換が可能な光分析装
置を提供する。 【解決手段】 ランプ1への電源供給を遮断し、ランプ
1を消灯させる。この時、ランプ1の冷却用ファン8は
動作させ続ける。制御部12は温度センサ5の出力をモ
ニタし、ランプハウス3の温度を表示器13に表示す
る。この温度が、作業者が触っても問題ないと判断され
る、あらかじめ設定された温度まで下がると、制御部1
2はランプ1の交換が可能になったことを表すメッセー
ジと、安全のため装置の電源を切ってからランプ1の交
換作業を行うよう注意を促すメッセージを表示器13に
表示する。作業者はこのメッセージを確認してから装置
電源を切り、ランプ1の交換を行い、一連のランプ交換
作業を終了する。

Description

【発明の詳細な説明】
【0001】
【発明の属する分野】本発明は、分光光度計、蛍光光度
計、屈折率計等の各種光分析装置に関する。
【0002】
【従来の技術】従来より上記各種光分析装置のための光
源としては、重水素ランプ等の放電灯や、タングステン
ランプ等が使用されている。ところで、これら光源(以
下ランプという)は入力された電力の大部分が熱に変換
されランプ自体が加熱される。この温度は時間とともに
上昇するが、ランプの温度が上昇しすぎるとランプを破
損するため、冷却が必要である。また、ランプの放射光
量はこの温度変化によって変動するので、ランプの周囲
温度が変化したときにランプ温度が変化しランプの放射
光量も変動するので、周囲温度が変化しないような対策
も必要である。例えば、従来の液体クロマトグラフ用分
光光度計の構成は図3に示すようになっている。すなわ
ち、図3においてランプ41から放射された光はレンズ
42を介して分光部45に投光される。この場合ランプ
41の光量が変動すると、検出器49の出力値も変動す
るので高感度測定が阻害される要因となる。そこで、環
境温度によって検出器49の出力値が変動するのを防ぐ
ため、ランプ41をある程度大きな熱容量を持ったラン
プハウス44に収納し、その外側を冷却用ファン47に
よって一定風量で空冷して放熱し、環境温度が変化して
もランプ41の周囲に伝わりにくくしている。
【0003】上記のような構成の光分析装置において
は、冷却用ファン47の故障等による加熱によって装置
の破損を防ぐ目的で、ランプハウス44内に温度センサ
を設置し、加熱時にランプ41への通電を遮断する安全
機構を設けている例もあるが、ランプハウス44内の温
度をモニターする手段に用いられているのみであり、検
出温度を表示している例はない。
【0004】
【発明が解決しようとする課題】分光光度計、蛍光光度
計等の各種光分析装置にはD2ランプやXeランプ等の
高温になるランプが使用されることが多い。このような
ランプが寿命に達し交換する際、それまで点灯していた
場合はランプは高温になっており、すぐには触れること
ができない。そのため、ランプを交換するためには分析
装置の電源を切り、ランプが冷めるのを待つ必要があ
る。この時、ランプの温度がわからないため、ランプ交
換時に火傷をおうおそれがあり、多めの時間を待ってか
らランプを交換しており、交換のための時間が長時間と
なり、大きな時間のロスとなっている。
【0005】本発明は、上記問題を解決するためになさ
れたものであり、ランプ交換時に火傷をおうおそれが無
く安全で、短時間でランプ交換が可能な光分析装置を提
供することを目的とする。
【0006】
【課題を解決するための手段】上記問題を解決するため
に、本発明の光分析装置は、光源としてのランプと、こ
のランプを内設するランプハウスとを有する光分析装置
において、ランプハウスの温度を検出する手段と、この
温度検出手段の出力信号からランプハウスの温度を表示
する表示機能を備えたものである。あるいは、ランプハ
ウス内にランプと接触するように設置された温度検出手
段と、この温度検出手段の出力信号から前記ランプの温
度を表示する表示機能を備えたものである。
【0007】ランプハウス内の温度を測定し、測定した
温度を表示することによって、ランプの温度状態が容易
に確認できるようになるので、ランプ消灯後、ランプが
確実に冷却されたことを確認した上でランプの交換作業
を行うことができるようになる。あるいは、ランプ表面
に直接接触するように温度センサを設置すれば、より確
実にランプの温度を測定することができる。これによ
り、ランプ交換時に火傷をおうおそれはなくなるととも
に、ランプが冷却されるまでの時間を必要以上に待たな
くてもよくなり、時間のロスを最小限にすることができ
る。
【0008】
【発明の実施の形態】以下、本発明の実施の形態を図を
参照しながら詳細に説明する。本発明の光分析装置を紫
外分光光度計に適用した装置の一実施例の概略構成図を
図1に示す。この紫外分光光度計はランプ1(光源)、
レンズ2、ランプ1およびレンズ2を設置したランプハ
ウス3、温度センサ5、冷却用ファン8、9、分光部
4、検出器10、電気系部7、表示器13およびケーシ
ング14から構成されている。電気系部7はファン制御
部6、ランプ点灯回路11および制御部12から構成さ
れている。
【0009】ランプ1(光源)として重水素ランプが使
用されている。ランプ1から出た光は、レンズ2で分光
部4の図示されていない入り口スリットに集光される。
そして、この分光部4内で分光された後、分光部4内の
セル(図示されていない)に照射され、検出器10によ
り光強度が測定され吸光度が得られる。ランプハウス3
の表面には、白金抵抗体やサーミスタ等の温度センサ5
が設置され、ランプハウス3の温度を検出するが、ラン
プハウス3の近くにはランプハウス3を空冷するための
冷却用ファン8が設置されている。この冷却用ファン8
はケーシング14の吸気口に設置され外部の冷気を直接
的にランプハウス3に吹き付けるようになっている。
【0010】温度センサ5は電気系部7の制御部12に
接続され、冷却用ファン8は電気系部7のファン制御部
6に接続されている。制御部12は温度センサ5の温度
を感知しファン制御部6を介して冷却用ファン8の回転
数を制御する。この電気系部7には、ランプ1の制御を
行うランプ点灯回路11、分光部4の制御も行う制御部
12等が内設されている。また、この電気系部7等のラ
ンプ以外の発熱部の冷却用として冷却用ファン9が設置
されている。この冷却用ファン9は電源投入中は定速で
運転され、放出された熱気をケーシング14から排出し
て冷却を行っている。
【0011】次に、ランプ1の交換を行う際の作業に沿
って説明を行う。ランプ1への電源供給を遮断し、ラン
プ1を消灯させる。この時、ランプ1の冷却用ファン8
は動作させ続ける。制御部12は温度センサ5の出力を
モニタし、ランプハウス3の温度を表示器13に表示す
る。この温度が、作業者が触っても問題ないと判断され
る、あらかじめ設定された温度まで下がると、制御部1
2はランプ1の交換が可能になったことを表すメッセー
ジと、安全のため装置の電源を切ってからランプ1の交
換作業を行うよう注意を促すメッセージを表示器13に
表示する。作業者はこのメッセージを確認してから装置
電源を切り、ランプ1の交換を行い、一連のランプ交換
作業を終了する。
【0012】図2に、本発明の光分析装置の光源装置の
第二の実施例の概略構成図を示す。この光源装置はラン
プ1と、レンズ2と、ランプハウス3と、温度センサ5
および板バネ16とから構成されている。
【0013】第二の実施例においては、温度センサ5を
板バネ16によりランプ1に直接接触するように配置し
ている。ここで、温度センサ5には熱電対を使用し、熱
電対の測温部は板バネ16の先端に接着されている。板
バネ16の先端がランプハウス3に挿入されたランプ1
に接触するように板バネ16は取り付けられている。こ
のような構成にすることにより、ランプ1をランプハウ
ス3に挿入するだけで、温度センサ5、板バネ16等の
特別な位置調整を必要とせずにランプ1の表面温度を直
接測定することが可能となる。
【0014】以上、本発明の実施例を説明したが、本発
明は上記実施例に限定されるものではなく、特許請求の
範囲に記載された本発明の要旨の範囲内で種々の変更を
行うことができる。第一の実施例において本発明の光分
析装置を紫外分光光度計に適用した例を示しているが、
この光分析装置の応用は紫外分光光度計に限定されるも
のではなく、蛍光光度計、屈折率検出器などの光源を有
する分析機器に適用することができる。また、温度セン
サ5の位置はランプハウス3自身、あるいはランプ1自
身に限定するものではなく、ランプハウス3内部、ラン
プハウス3の周囲いずれかまたはこれらの複数箇所に設
置してもよく、本発明の特許請求範囲における「ランプ
ハウスの温度」とは、これらのいずれかまたは複数箇所
に設置したセンサで検出された温度を包含するものであ
る。
【0015】また、冷却用ファン8、9の位置も図1に
示された位置に限定されるものではなく、1つの冷却用
ファンで冷却用ファン8と9を兼ねてもよい。さらにケ
ーシング14を有さない分析機器の場合もあり、冷却用
ファンの位置は冷却機能を発揮する位置であればどこで
もよい。
【0016】
【発明の効果】本発明によれば、ランプの温度状態を表
示器で容易に確認できるようになるので、ランプ消灯
後、ランプが確実に冷却されたことを確認した上でラン
プの交換作業を行うことができるようになる。従って、
ランプ交換時に火傷をおうおそれが軽減され、安全にラ
ンプ交換を行うことができる。また、ランプが冷却され
るまでの時間を必要以上に待たなくてよくなる。さら
に、ランプを消灯してからも冷却用ファンによる強制空
冷が可能になるのでランプ消灯からランプが冷え、ラン
プ交換作業が行えるようになるまでの待ち時間を短縮す
ることができる。
【図面の簡単な説明】
【図1】本発明の光分析装置を適用した紫外分光光度計
の概略構成図である。
【図2】本発明の第二の実施例の光源装置の概略構成図
である。
【図3】従来の液体クロマトグラフ用分光光度計の概略
構成図である。
【符号の説明】
1---ランプ 2---レンズ 3---ランプハウス 4---分光部 5---温度センサ 7---電気系部 8、9---冷却用ファン 10---検出器 13---表示器 14---ケーシング

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. 【請求項1】 光源としてのランプと、このランプを内
    設するランプハウスとを有する光分析装置において、前
    記ランプハウスの温度を検出する手段と、この温度検出
    手段の出力信号から前記ランプハウスの温度を表示する
    表示機能を備えたことを特徴とする光分析装置。
  2. 【請求項2】 光源としてのランプと、このランプを内
    設するランプハウスとを有する光分析装置において、前
    記ランプハウス内に前記ランプと接触するように設置さ
    れた温度検出手段と、この温度検出手段の出力信号から
    前記ランプの温度を表示する表示機能を備えたことを特
    徴とする光分析装置。
JP2001337275A 2001-11-02 2001-11-02 光分析装置 Pending JP2003139685A (ja)

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