JPH07146175A - 全光束測定装置 - Google Patents
全光束測定装置Info
- Publication number
- JPH07146175A JPH07146175A JP29582393A JP29582393A JPH07146175A JP H07146175 A JPH07146175 A JP H07146175A JP 29582393 A JP29582393 A JP 29582393A JP 29582393 A JP29582393 A JP 29582393A JP H07146175 A JPH07146175 A JP H07146175A
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- measured
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Abstract
(57)【要約】
【目的】安定した、かつ精度のよい全光束測定装置を提
供することを目的とする。 【構成】ランプ１と、ランプ点灯装置２と、積分球４
と、この積分球４の冷却装置５と、ランプ温度制御装置
６と、ランプ電力測定装置３を備え、測定するランプ１
を定電力点灯させたときに積分球４を特定温度に冷却す
るようにした全光束測定装置の構成とする。
供することを目的とする。 【構成】ランプ１と、ランプ点灯装置２と、積分球４
と、この積分球４の冷却装置５と、ランプ温度制御装置
６と、ランプ電力測定装置３を備え、測定するランプ１
を定電力点灯させたときに積分球４を特定温度に冷却す
るようにした全光束測定装置の構成とする。
Description
【０００１】
【産業上の利用分野】本発明は、光放射測定の分野で広
く使用されている球形光束計を用いた全光束測定装置に
関する。
く使用されている球形光束計を用いた全光束測定装置に
関する。
【０００２】
【従来の技術】電球や各種放電ランプの開発や品質管理
においては、ランプの全光束値を正確に測定することが
重要となる。ランプの全光束を測定する場合、一般には
球形光束計が用いられる。球形光束計は、積分球内部で
点灯されたランプの光を、積分球によって相互反射させ
て、積分球壁面の拡散光を受光器や分光器によって測定
する装置であり、全光束値が既知である全光束標準ラン
プとの比較測定によって、被測定ランプの全光束を測定
するものである。球形光束計は、被測定ランプを球内に
おいて点灯させるために明室においても測定ができるた
め、全光束測定ばかりでなく、測光窓に分光測定装置を
取り付けて分光分布の測定などにも利用されており、ラ
ンプの製造工場や開発部門などにおいては広く球形光束
計を使用している。
においては、ランプの全光束値を正確に測定することが
重要となる。ランプの全光束を測定する場合、一般には
球形光束計が用いられる。球形光束計は、積分球内部で
点灯されたランプの光を、積分球によって相互反射させ
て、積分球壁面の拡散光を受光器や分光器によって測定
する装置であり、全光束値が既知である全光束標準ラン
プとの比較測定によって、被測定ランプの全光束を測定
するものである。球形光束計は、被測定ランプを球内に
おいて点灯させるために明室においても測定ができるた
め、全光束測定ばかりでなく、測光窓に分光測定装置を
取り付けて分光分布の測定などにも利用されており、ラ
ンプの製造工場や開発部門などにおいては広く球形光束
計を使用している。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ランプ
を積分球内に閉じこめてしまうために、ランプから発生
する熱によってランプの諸特性が変化してしまい、この
ために、暗室で測定された特性と異なったり、また、球
形光束計を使用する場合でも、球形光束計の大きさによ
って特性が異なるといった問題があった。また、これを
解決する手段としては、ランプから発生する熱の影響が
及ぼされない程度の大きさの球形光束計を用いる方法が
とられていたが、球形光束計の直径が３ｍ以上のものを
用いる必要があり、球形光束計の設置場所や管理が難し
くなるといった問題や装置コストが高くなるといった問
題があった。
を積分球内に閉じこめてしまうために、ランプから発生
する熱によってランプの諸特性が変化してしまい、この
ために、暗室で測定された特性と異なったり、また、球
形光束計を使用する場合でも、球形光束計の大きさによ
って特性が異なるといった問題があった。また、これを
解決する手段としては、ランプから発生する熱の影響が
及ぼされない程度の大きさの球形光束計を用いる方法が
とられていたが、球形光束計の直径が３ｍ以上のものを
用いる必要があり、球形光束計の設置場所や管理が難し
くなるといった問題や装置コストが高くなるといった問
題があった。
【０００４】本発明は前記従来の問題に留意し、精度よ
く全光束が測定できる全光束測定装置を提供することを
目的とする。
く全光束が測定できる全光束測定装置を提供することを
目的とする。
【０００５】
【課題を解決するための手段】本発明は上記の問題を解
決するために、積分球の冷却手段と、前記冷却手段によ
る冷却温度の制御手段と、被測定ランプのランプ電力測
定手段と、被測定ランプの定電力点灯手段とを有し、被
測定ランプを定電力点灯させたときに、前記積分球を特
定温度に冷却するようにした全光束測定装置の構成とす
る。
決するために、積分球の冷却手段と、前記冷却手段によ
る冷却温度の制御手段と、被測定ランプのランプ電力測
定手段と、被測定ランプの定電力点灯手段とを有し、被
測定ランプを定電力点灯させたときに、前記積分球を特
定温度に冷却するようにした全光束測定装置の構成とす
る。
【０００６】
【作用】上記構成において、積分球内でランプを点灯す
る場合、ランプは、ランプからの熱と積分球の熱容量か
ら決まる温度で熱平衡状態となり、光放射特性や電気特
性が安定する。したがって、積分球の熱容量を変化させ
ることで、熱平衡状態のランプの温度を変化させること
ができ、目的の温度でランプを点灯させることで安定し
た全光束特性を得ることとなる。
る場合、ランプは、ランプからの熱と積分球の熱容量か
ら決まる温度で熱平衡状態となり、光放射特性や電気特
性が安定する。したがって、積分球の熱容量を変化させ
ることで、熱平衡状態のランプの温度を変化させること
ができ、目的の温度でランプを点灯させることで安定し
た全光束特性を得ることとなる。
【０００７】
【実施例】以下本発明の実施例を説明する。図１は本発
明の第１の実施例である全光束測定装置の概要図であ
る。図１において、１は積分球４内にセットされたラン
プであり、ランプ点灯装置２で点灯され、ランプ電力測
定装置３で測定されるようになっている。前記積分球４
の外側には冷却装置５が設けられ、冷却装置５はランプ
温度制御装置６で制御されるようになっている。
明の第１の実施例である全光束測定装置の概要図であ
る。図１において、１は積分球４内にセットされたラン
プであり、ランプ点灯装置２で点灯され、ランプ電力測
定装置３で測定されるようになっている。前記積分球４
の外側には冷却装置５が設けられ、冷却装置５はランプ
温度制御装置６で制御されるようになっている。
【０００８】上記構成において、ランプ電力測定装置３
はランプ１点灯時のランプ電圧およびランプ電流を測定
してランプ電力を求めてランプ点灯装置２に出力し、ラ
ンプ点灯装置２はランプ１の電力が一定になるようにラ
ンプ１を定電力点灯する。ランプ１から出された熱は、
最終的には、積分球４によって外部に放熱され、この放
熱の熱量によってランプ１の熱平衡状態時の温度が決定
される。積分球４はランプ温度制御装置６によって制御
された冷却装置５によって特定温度に冷却される。した
がって、冷却装置５の温度によって積分球４の放熱量を
制御でき、ランプ１の熱平衡状態時の温度を変化させる
ことができる。したがって、特定温度で点灯したランプ
の安定した全光束特性を得ることができ、ランプの全光
束を精度よく測定することができる。
はランプ１点灯時のランプ電圧およびランプ電流を測定
してランプ電力を求めてランプ点灯装置２に出力し、ラ
ンプ点灯装置２はランプ１の電力が一定になるようにラ
ンプ１を定電力点灯する。ランプ１から出された熱は、
最終的には、積分球４によって外部に放熱され、この放
熱の熱量によってランプ１の熱平衡状態時の温度が決定
される。積分球４はランプ温度制御装置６によって制御
された冷却装置５によって特定温度に冷却される。した
がって、冷却装置５の温度によって積分球４の放熱量を
制御でき、ランプ１の熱平衡状態時の温度を変化させる
ことができる。したがって、特定温度で点灯したランプ
の安定した全光束特性を得ることができ、ランプの全光
束を精度よく測定することができる。
【０００９】図２は本発明の第２の実施例である全光束
測定装置の概要図である。図２において、１はランプ、
２はランプ点灯装置、３はランプ電力測定装置、４は積
分球、６はランプ温度制御装置であり、これらは前記第
１の実施例と同様に構成されている。
測定装置の概要図である。図２において、１はランプ、
２はランプ点灯装置、３はランプ電力測定装置、４は積
分球、６はランプ温度制御装置であり、これらは前記第
１の実施例と同様に構成されている。
【００１０】本実施例の特徴は、積分球４に冷気吸入口
７と排気口８を設け、排気をダクト９によって冷気温度
設定装置１０に案内し、さらに冷気温度設定装置１０よ
り冷気を冷気吸入口７に送るようにしている。そして冷
気吸入口７と排気口８の内方には遮光板１１を配設して
いる。
７と排気口８を設け、排気をダクト９によって冷気温度
設定装置１０に案内し、さらに冷気温度設定装置１０よ
り冷気を冷気吸入口７に送るようにしている。そして冷
気吸入口７と排気口８の内方には遮光板１１を配設して
いる。
【００１１】上記構成において、ランプ１は本発明の第
１の実施例で示したように定電力点灯されている。冷気
温度設定装置１０はランプ温度制御装置６によって特定
温度および特定風量の冷気を、ダクト９を経て、冷気吸
入口７より積分球４内に出力する。この冷気はランプ１
から出された熱を吸収して、排気口８からダクト９を経
て、冷気温度設定装置１０に入力される。遮光板１１は
冷気吸入口７および排気口８からランプ１の光が洩れな
いような位置にあり、積分球４の相互反射能力を低下さ
せないようにするために、積分球４の内壁面と同じ塗装
を施されている。また、遮光板１１は冷気吸入口７およ
び排気口８によって生じる積分球４内の対流を制御して
いる。冷気による吸熱量は冷気温度設定装置１０によっ
て出力される冷気の温度および風量によって決定される
ため、冷気温度設定装置１０の温度および風量によって
ランプ１の熱平衡状態時の温度を変化させることができ
る。したがって、特定温度で点灯したランプ１の安定し
た全光束特性を得ることができ、ランプ１の全光束を精
度よく測定することができる。
１の実施例で示したように定電力点灯されている。冷気
温度設定装置１０はランプ温度制御装置６によって特定
温度および特定風量の冷気を、ダクト９を経て、冷気吸
入口７より積分球４内に出力する。この冷気はランプ１
から出された熱を吸収して、排気口８からダクト９を経
て、冷気温度設定装置１０に入力される。遮光板１１は
冷気吸入口７および排気口８からランプ１の光が洩れな
いような位置にあり、積分球４の相互反射能力を低下さ
せないようにするために、積分球４の内壁面と同じ塗装
を施されている。また、遮光板１１は冷気吸入口７およ
び排気口８によって生じる積分球４内の対流を制御して
いる。冷気による吸熱量は冷気温度設定装置１０によっ
て出力される冷気の温度および風量によって決定される
ため、冷気温度設定装置１０の温度および風量によって
ランプ１の熱平衡状態時の温度を変化させることができ
る。したがって、特定温度で点灯したランプ１の安定し
た全光束特性を得ることができ、ランプ１の全光束を精
度よく測定することができる。
【００１２】図３は本発明の第３の実施例である全光束
測定装置における温度制御部の概要図である。図３にお
いて、３はランプ電力測定装置、６はランプ温度制御装
置である。この実施例においては演算装置１２と、メモ
リ１３を備えた構成に特徴をもつ。
測定装置における温度制御部の概要図である。図３にお
いて、３はランプ電力測定装置、６はランプ温度制御装
置である。この実施例においては演算装置１２と、メモ
リ１３を備えた構成に特徴をもつ。
【００１３】上記構成において、全光束測定装置内のラ
ンプは定電力点灯されており、ランプ電力測定装置３に
よってランプ電流Ｉが演算装置１２に出力されている。
演算装置１２はメモリ１３に記憶されている設定電流Ｉ
0 を読み込み、設定電流Ｉ0とランプ電流Ｉが同じにな
るようにランプ温度制御装置６を制御することで、安定
した全光束特性を得ることができるランプ温度を設定す
ることができ、ランプの全光束を精度よく測定すること
ができる。
ンプは定電力点灯されており、ランプ電力測定装置３に
よってランプ電流Ｉが演算装置１２に出力されている。
演算装置１２はメモリ１３に記憶されている設定電流Ｉ
0 を読み込み、設定電流Ｉ0とランプ電流Ｉが同じにな
るようにランプ温度制御装置６を制御することで、安定
した全光束特性を得ることができるランプ温度を設定す
ることができ、ランプの全光束を精度よく測定すること
ができる。
【００１４】なお、設定電流Ｉ0 は、無風の特定温度雰
囲気において、同じランプ同電力で定電力点灯させた場
合のランプ電流値にすればよい。また、設定電流Ｉ0 を
求めるときの雰囲気の特定温度は、２５℃がよい。ま
た、設定電流Ｉ0 は、被測定ランプから出される熱の影
響を受けない大きさの積分球内において、同じランプ同
電力で定電力点灯させた場合のランプ電流値にすればよ
い。さらに設定電流Ｉ0を求めるときの被測定ランプか
ら出される熱の影響を受けないための積分球内の大きさ
は、通常のランプであれば直径３ｍ以上あればよい。
囲気において、同じランプ同電力で定電力点灯させた場
合のランプ電流値にすればよい。また、設定電流Ｉ0 を
求めるときの雰囲気の特定温度は、２５℃がよい。ま
た、設定電流Ｉ0 は、被測定ランプから出される熱の影
響を受けない大きさの積分球内において、同じランプ同
電力で定電力点灯させた場合のランプ電流値にすればよ
い。さらに設定電流Ｉ0を求めるときの被測定ランプか
ら出される熱の影響を受けないための積分球内の大きさ
は、通常のランプであれば直径３ｍ以上あればよい。
【００１５】図４は本発明の第４の実施例である全光束
測定装置における温度制御部の概要図である。図４にお
いて、４は積分球、６はランプ温度制御装置、１２は演
算装置、１３はメモリであり、本実施例では分光測定装
置１４を備えた構成となっている。
測定装置における温度制御部の概要図である。図４にお
いて、４は積分球、６はランプ温度制御装置、１２は演
算装置、１３はメモリであり、本実施例では分光測定装
置１４を備えた構成となっている。
【００１６】上記構成において全光束測定装置内のラン
プは定電力点灯されている。分光測定装置１４によって
特定波長λの分光放射束Ｐλが測定され、演算装置１２
に出力されている。演算装置１２はメモリ１３に記憶さ
れている設定分光放射束Ｐλ 0 を読み込み、設定分光放
射束Ｐλ0 と分光放射束Ｐλが同じになるようにランプ
温度制御装置６を制御することで、安定した全光束特性
を得ることができるランプ温度を設定することができ、
ランプの全光束を精度よく測定することができる。
プは定電力点灯されている。分光測定装置１４によって
特定波長λの分光放射束Ｐλが測定され、演算装置１２
に出力されている。演算装置１２はメモリ１３に記憶さ
れている設定分光放射束Ｐλ 0 を読み込み、設定分光放
射束Ｐλ0 と分光放射束Ｐλが同じになるようにランプ
温度制御装置６を制御することで、安定した全光束特性
を得ることができるランプ温度を設定することができ、
ランプの全光束を精度よく測定することができる。
【００１７】なお、設定分光放射束Ｐλ0 は、被測定ラ
ンプから出される熱の影響を受けない大きさの積分球内
において、同じランプ同電力で定電力点灯させた場合の
分光放射束にすればよい。また、設定分光放射束Ｐλ0
を求めるときの被測定ランプから出される熱の影響を受
けないための積分球内の大きさは、通常のランプであれ
ば直径３ｍ以上あればよい。さらに発光に水銀輝線を有
しているランプであれば、分光放射束を測定する場合の
特定波長としては４３６ｎｍの輝線を含む波長帯域に設
定するとよい。
ンプから出される熱の影響を受けない大きさの積分球内
において、同じランプ同電力で定電力点灯させた場合の
分光放射束にすればよい。また、設定分光放射束Ｐλ0
を求めるときの被測定ランプから出される熱の影響を受
けないための積分球内の大きさは、通常のランプであれ
ば直径３ｍ以上あればよい。さらに発光に水銀輝線を有
しているランプであれば、分光放射束を測定する場合の
特定波長としては４３６ｎｍの輝線を含む波長帯域に設
定するとよい。
【００１８】図５は本発明の第５の実施例である全光束
測定装置における温度制御部の概要図である。図５にお
いて、４は積分球、６はランプ温度制御装置、１２は演
算装置、１３はメモリ、１４は分光測定装置である。
測定装置における温度制御部の概要図である。図５にお
いて、４は積分球、６はランプ温度制御装置、１２は演
算装置、１３はメモリ、１４は分光測定装置である。
【００１９】この実施例において全光束測定装置内のラ
ンプは定電力点灯されており、分光測定装置１４によっ
て特定波長λ1 およびλ2 の分光放射束Ｐλ1 およびＰ
λ2が測定されて演算装置１２に出力され、分光放射束
の比ａを計算する。演算装置１２はメモリ１３に記憶さ
れている設定分光放射束比ａ0 を読み込み、設定分光放
射束比ａ0 と分光放射束比ａが同じになるようにランプ
温度制御装置６を制御することで、安定した全光束特性
を得ることができるランプ温度を設定することができ、
ランプの全光束を精度よく測定することができる。
ンプは定電力点灯されており、分光測定装置１４によっ
て特定波長λ1 およびλ2 の分光放射束Ｐλ1 およびＰ
λ2が測定されて演算装置１２に出力され、分光放射束
の比ａを計算する。演算装置１２はメモリ１３に記憶さ
れている設定分光放射束比ａ0 を読み込み、設定分光放
射束比ａ0 と分光放射束比ａが同じになるようにランプ
温度制御装置６を制御することで、安定した全光束特性
を得ることができるランプ温度を設定することができ、
ランプの全光束を精度よく測定することができる。
【００２０】なお、設定分光放射束比ａ0 は、無風の特
定温度雰囲気において、同じランプ同電力で定電力点灯
させた場合の分光分布（相対値）を測定して、分光放射
束比と同じ波長における比の値を用いればよい。また設
定分光放射束比ａ0 を求めるときの雰囲気の特定温度
は、２５℃がよい。
定温度雰囲気において、同じランプ同電力で定電力点灯
させた場合の分光分布（相対値）を測定して、分光放射
束比と同じ波長における比の値を用いればよい。また設
定分光放射束比ａ0 を求めるときの雰囲気の特定温度
は、２５℃がよい。
【００２１】また設定分光放射束比ａ0 は、被測定ラン
プから出される熱の影響を受けない大きさの積分球内に
おいて、同じランプ同電力で定電力点灯させた場合の分
光放射束の比の値にすればよい。また設定分光放射束比
ａ0 を求めるときの被測定ランプから出される熱の影響
を受けないための積分球内の大きさは、通常のランプで
あれば直径３ｍ以上あればよい。さらに発光に水銀輝線
を有しているランプであれば、分光放射束比を測定する
場合の１つの特定波長としては４３６ｎｍの輝線を含む
波長帯域に設定するとよい。
プから出される熱の影響を受けない大きさの積分球内に
おいて、同じランプ同電力で定電力点灯させた場合の分
光放射束の比の値にすればよい。また設定分光放射束比
ａ0 を求めるときの被測定ランプから出される熱の影響
を受けないための積分球内の大きさは、通常のランプで
あれば直径３ｍ以上あればよい。さらに発光に水銀輝線
を有しているランプであれば、分光放射束比を測定する
場合の１つの特定波長としては４３６ｎｍの輝線を含む
波長帯域に設定するとよい。
【００２２】
【発明の効果】前記各実施例の説明より明らかなよう
に、本発明は、球形光束計内において被測定ランプの光
特性や電気特性を安定に再現できるために精度良く全光
束を測定することができる。また温度制御の手段として
ランプ電流を用いることにより制御が容易であり、ま
た、設定ランプ電流を求める方法も簡易であるという特
長を持つ。また、温度制御の手段としてランプの発光特
性を用いることにより、精度よくランプの発光特性を再
現でき、全光束測定精度を向上できる。さらに温度制御
の手段として用いる分光放射束比を求める場合、分光分
布比より求めることができるためにより容易になる。
に、本発明は、球形光束計内において被測定ランプの光
特性や電気特性を安定に再現できるために精度良く全光
束を測定することができる。また温度制御の手段として
ランプ電流を用いることにより制御が容易であり、ま
た、設定ランプ電流を求める方法も簡易であるという特
長を持つ。また、温度制御の手段としてランプの発光特
性を用いることにより、精度よくランプの発光特性を再
現でき、全光束測定精度を向上できる。さらに温度制御
の手段として用いる分光放射束比を求める場合、分光分
布比より求めることができるためにより容易になる。
【図１】本発明の第１の実施例である全光束測定装置の
概要図
概要図
【図２】本発明の第２の実施例である全光束測定装置の
概要図
概要図
【図３】本発明の第３の実施例である全光束測定装置に
おける温度制御部の概要図
おける温度制御部の概要図
【図４】本発明の第４の実施例である全光束測定装置に
おける温度制御部の概要図
おける温度制御部の概要図
【図５】本発明の第５の実施例である全光束測定装置に
おける温度制御部の概要図
おける温度制御部の概要図
１ ランプ ２ ランプ点灯装置 ３ ランプ電力測定装置 ４ 積分球 ５ 冷却装置 ６ ランプ温度制御装置 ７ 冷気吸入口 ８ 排気口 ９ ダクト １０ 冷気温度設定装置 １１ 遮光板 １２ 演算装置 １３ メモリ １４ 分光測定装置
Claims (5)
- 【請求項１】 球形光束計における積分球において、前
記積分球の冷却手段と、前記冷却手段による冷却温度の
制御手段と、被測定ランプのランプ電力測定手段と、被
測定ランプの定電力点灯手段とを有し、被測定ランプの
定電力点灯時に前記積分球を特定温度に冷却するように
したことを特徴とした全光束測定装置。 - 【請求項２】 球形光束計における積分球において、気
体の冷却手段と、前記冷却手段による冷却温度の制御手
段と、前記冷却手段によって冷却された気体の前記積分
球内への流入手段と、前記積分球内の気体の排気手段
と、被測定ランプの光が前記流入手段および前記排気手
段によって洩れないようにするための遮光手段と、被測
定ランプのランプ電力測定手段と、被測定ランプの定電
力点灯手段とを有し、被測定ランプの定電力点灯時、前
記積分球内に特定温度および特定風量の気体を流入させ
るようにしたことを特徴とした全光束測定装置。 - 【請求項３】 ランプ電流測定手段と、演算装置と、メ
モリとを有し、前記ランプ電流測定手段によって測定さ
れる被測定ランプのランプ電流Ｉと、前記メモリに記憶
されている設定ランプ電流値Ｉ0 とが等しくなるように
冷却温度設定を行なう温度制御部を持つことを特徴とし
た請求項１または２記載の全光束測定装置。 - 【請求項４】 被測定ランプの分光特性測定手段と、演
算装置と、メモリとを有し、前記分光特性測定手段によ
って測定される被測定ランプの測定波長λの分光放射束
Ｐλと、前記メモリに記憶されている設定分光放射束Ｐ
λ0 とが等しくなるように冷却温度設定を行なう温度制
御部を持つことを特徴とした請求項１または２記載の全
光束測定装置。 - 【請求項５】 被測定ランプの分光特定測定手段と、演
算装置と、メモリとを有し、前記分光特定測定手段によ
って測定される被測定ランプの特定２波長の分光放射束
比ａと、前記メモリに記憶されている設定分光放射束比
ａ0 とが等しくなるように冷却温度設定を行なう温度制
御部を持つことを特徴とした請求項１または２記載の全
光束測定装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29582393A JPH07146175A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | 全光束測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP29582393A JPH07146175A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | 全光束測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH07146175A true JPH07146175A (ja) | 1995-06-06 |
Family
ID=17825640
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP29582393A Pending JPH07146175A (ja) | 1993-11-26 | 1993-11-26 | 全光束測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH07146175A (ja) |
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2006030597A1 (ja) * | 2004-09-17 | 2006-03-23 | Japan Science And Technology Agency | 積分球波動源を用いた対象のデジタル化装置 |
| WO2010073785A1 (ja) | 2008-12-24 | 2010-07-01 | 浜松ホトニクス株式会社 | 分光測定装置 |
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