JPWO2012147245A1 - 撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法 - Google Patents

撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2012147245A1
JPWO2012147245A1 JP2013511875A JP2013511875A JPWO2012147245A1 JP WO2012147245 A1 JPWO2012147245 A1 JP WO2012147245A1 JP 2013511875 A JP2013511875 A JP 2013511875A JP 2013511875 A JP2013511875 A JP 2013511875A JP WO2012147245 A1 JPWO2012147245 A1 JP WO2012147245A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
regions
imaging
optical system
pixels
light
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2013511875A
Other languages
English (en)
Other versions
JP5548310B2 (ja
Inventor
村田 晶子
晶子 村田
今村 典広
典広 今村
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Corp
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Panasonic Corp
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Panasonic Corp, Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Panasonic Corp
Priority to JP2013511875A priority Critical patent/JP5548310B2/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP5548310B2 publication Critical patent/JP5548310B2/ja
Publication of JPWO2012147245A1 publication Critical patent/JPWO2012147245A1/ja
Expired - Fee Related legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04NPICTORIAL COMMUNICATION, e.g. TELEVISION
    • H04N7/00Television systems
    • H04N7/18Closed-circuit television [CCTV] systems, i.e. systems in which the video signal is not broadcast
    • GPHYSICS
    • G03PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
    • G03BAPPARATUS OR ARRANGEMENTS FOR TAKING PHOTOGRAPHS OR FOR PROJECTING OR VIEWING THEM; APPARATUS OR ARRANGEMENTS EMPLOYING ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ACCESSORIES THEREFOR
    • G03B13/00Viewfinders; Focusing aids for cameras; Means for focusing for cameras; Autofocus systems for cameras
    • G03B13/32Means for focusing
    • G03B13/34Power focusing
    • G03B13/36Autofocus systems
    • GPHYSICS
    • G02OPTICS
    • G02BOPTICAL ELEMENTS, SYSTEMS OR APPARATUS
    • G02B7/00Mountings, adjusting means, or light-tight connections, for optical elements
    • G02B7/28Systems for automatic generation of focusing signals
    • G02B7/36Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals
    • G02B7/38Systems for automatic generation of focusing signals using image sharpness techniques, e.g. image processing techniques for generating autofocus signals measured at different points on the optical axis, e.g. focussing on two or more planes and comparing image data

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Multimedia (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Automatic Focus Adjustment (AREA)
  • Studio Devices (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Measurement Of Optical Distance (AREA)

Abstract

撮像装置は、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する6つの領域を有するレンズ光学系と、前記レンズ光学系を通過した光が入射する複数の画素を有する撮像素子と、前記6つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させるアレイ状光学素子とを備える。

Description

本発明はカメラ等の撮像装置およびその撮像装置を用いた撮像方法に関する。
近年、自動車の車間距離測定やカメラの自動焦点システム、3次元形状測定システムに、複数の撮像光学系間の視差によって被写体(測距対象物)までの距離を測定する測距装置が用いられている。
このような測距装置では、左右または上下に配置する一対の撮像光学系によってそれぞれの撮像領域に画像が形成され、それらの画像の視差から三角測量によって被写体までの距離が検出される。
また、単一の撮像光学系から被写体までの距離を測定する方式として、DFD(Depth From Defocus)法が知られている。DFD法は、取得した画像のボケ量の解析から距離を算出する手法であるが、単一の画像では被写体そのものの模様であるのか、被写体距離によってボケているのかを判別することができないため、複数の画像から距離を推定する方法が用いられている(特許文献1、非特許文献1)。
特許第3110095号公報 特開2010−39162号公報
Xue Tu、Youn-sik Kang and Murali Subbarao、"Two- and Three-Dimensional Methods for Inspection and Metrology V. " Edited by Huang、 Peisen S.. Proceedings of the SPIE、 Volume 6762、 pp. 676203 (2007).
複数の撮像光学系を用いた構成では、撮像装置が大型化、高コスト化する。また、複数の撮像光学系の特性を揃え、かつ複数の撮像光学系の光軸を高精度で平行にする必要性があるため、製造が難しく、さらにはカメラパラメータを求めるためのキャリブレーション工程が必要であるため、多くの工数を要する。
特許文献1および非特許文献1に開示されるようなDFD法では、1つの撮像光学系によって被写体までの距離を算出することができる。しかしながら、特許文献1および非特許文献1の方法では、焦点が合う被写体までの距離(合焦距離)を変化させて、時分割で複数の画像を取得する必要がある。このような手法を動画に適用すると、撮影の時間差により画像間にズレが生じてしまうため、測距精度を低下させてしまうという課題が生じる。
また、特許文献1には、プリズムによって光路を分割し、バックフォーカスを異ならせた2つの撮像面によって撮像することによって、1回の撮像で被写体までの距離を測定することができる撮像装置が開示されている。しかしながら、このような方法では、撮像面が2つ必要になるため、撮像装置が大型化し、かつ大幅なコストアップとなってしまうという課題が生じる。
本発明は上記課題を解決するためになされたものであり、その主な目的は、単一の撮像光学系を用いて被写体距離算出が可能な輝度情報を取得することができる撮像装置および撮像方法を提供することにある。
本発明の撮像装置は、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する6つの領域を含む複数の領域を有するレンズ光学系と、前記レンズ光学系を通過した光が入射する複数の画素を有する撮像素子と、前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置され、前記6つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させるアレイ状光学素子とを備える。
本発明の撮像システムは、本発明の撮像装置と、前記撮像装置における前記6つの領域を通過した光が入射する6つの異なる画素それぞれにおいて得られる複数の画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する信号処理装置とを備える。
本発明の撮像方法は、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する6つの領域を含む複数の領域を有するレンズ光学系と、前記レンズ光学系を通過した光が入射する複数の画素を有する撮像素子と、前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置されたアレイ状光学素子とを備える撮像装置を用い、前記アレイ状光学素子によって、前記6つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させ、前記6つの領域を通過した光が入射する6つの異なる画素それぞれにおいて得られる複数の画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する。
本発明の別の撮像装置は、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する3つの領域を含む複数の領域を有するレンズ光学系と、前記レンズ光学系を通過した光が入射し、中心点が正六角形の各頂点に位置する複数の画素を含む撮像素子と、前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置され、前記3つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させるアレイ状光学素子とを備える。
本発明のさらに別の撮像装置は、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する4つの領域を含む複数の領域を有するレンズ光学系と、前記レンズ光学系を通過した光が入射し、中心点の行方向における位置が、1行ごとに画素の配列ピッチの半分ずれて配列している複数の画素を含む撮像素子と、前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置され、前記4つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させるアレイ状光学素子とを備える。
本発明によれば、単一の撮像系を用いた撮像によって、被写体距離算出が可能な輝度情報を取得することができる。本発明では、複数の撮像光学系を用いた撮像装置のように、複数の撮像光学系間の特性や位置をそろえる必要がないため、製造工程数を削減することができ、製造が容易になる。また、本発明の撮像装置を用いて動画を撮影した場合、時間の経過によって被写体の位置に変化が生じても、被写体までの正確な距離を測定することができる。
本発明による撮像装置Aの実施の形態1を示す模式図である。 本発明の実施の形態1における光学素子L1を被写体側から見た正面図である。 本発明の実施の形態1におけるアレイ状光学素子Kの斜視図である。 (a)は、図1に示すアレイ状光学素子Kおよび撮像素子Nを拡大して示す図であり、(b)は、アレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。 本発明による撮像装置Aを示す断面図である。 本発明の実施の形態1における被写体距離と鮮鋭度(画像のシャープさ)の関係を示すグラフである。 (a)から(c)は、16×16のサイズの画像ブロックの輝度分布を示す図であり、(d)から(f)は、(a)から(c)のそれぞれに示す画像ブロックを2次元でフーリエ変換を行うことによって得られた周波数スペクトルを示す図である。 本発明の実施の形態1における光学素子L1を被写体側から見た正面図である。 本発明の実施例1におけるアレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。 本発明の実施の形態1における光学素子L1を被写体側から見た正面図である。 本発明の実施の形態1におけるアレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。 本発明の実施の形態1におけるアレイ状光学素子Kの斜視図である。 本発明の実施の形態1におけるアレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。 本発明による撮像装置Aの実施の形態2を示す模式図である。 本発明の実施の形態2における光学素子L1を被写体側から見た正面図である。 (a)は、図14に示すアレイ状光学素子Kおよび撮像素子Nを拡大して示す図であり、(b)は、アレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。 本発明の実施の形態2における被写体距離と鮮鋭度(画像のシャープさ)の関係を示すグラフである。 本発明の実施の形態2における光学素子L1を被写体側から見た正面図である。 本発明の実施の形態2におけるアレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。 (a1)は、光軸に対して回転非対称な形状を有するマイクロレンズアレイを示す斜視図である。(a2)は、(a1)に示すマイクロレンズアレイの等高線を示す図である。(a3)は、(a1)、(a2)に示すマイクロレンズを本発明のアレイ状光学素子に適用した場合の、光線追跡シミュレーションの結果を示す図である。(b1)は、光軸に対して回転対称な形状を有するマイクロレンズアレイを示す斜視図である。(b2)は、(b1)に示すマイクロレンズアレイの等高線を示す図である。(b3)は、(b1)、(b2)に示すマイクロレンズを本発明の実施の形態におけるアレイ状光学素子に適用した場合の、光線追跡シミュレーションの結果を示す図である。
以下、本発明による撮像装置の実施形態を、図面を参照しながら説明する。
(実施の形態1)
図1は、実施の形態1の撮像装置Aを示す模式図である。本実施形態の撮像装置Aは、Vを光軸とするレンズ光学系Lと、レンズ光学系Lの焦点近傍に配置されたアレイ状光学素子Kと、撮像素子Nと、第1の信号処理部C1と、第2の信号処理部C2と、記憶部Meを備える。
レンズ光学系Lは、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する6つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6(図1ではD2、D5を通る断面を図示)を有し、被写体(図示せず)からの光束B1、B2、B3、B4、B5及びB6(図1ではB2、B5を通る断面を図示)が入射する光学素子L1と、光学素子L1を通過した光が入射する絞りSと、絞りSを通過した光が入射するレンズL2とから構成されている。光学素子L1は、絞りSの近傍に配置されていることが好ましい。
本実施形態では、6つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6を通過した光は、レンズL2を通過した後、アレイ状光学素子Kに入射する。アレイ状光学素子Kは、6つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6を通過した光を、それぞれ撮像素子Nにおける6種類の画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6に入射させる。6種類の画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6のそれぞれには、複数の画素が属している。例えば図4(b)において、画素p1、p2、p3、p4、p5、p6は、それぞれ、画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6に属する画素である。
第1の信号処理部C1は、画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6において得られる画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6をそれぞれ出力する。6つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6の光学特性は互いに異なるため、画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の画像の鮮鋭度(輝度を用いて算出される値)は、被写体距離によって異なる。記憶部Meには、光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6のそれぞれを通過した光の鮮鋭度と被写体距離との相関関係が記憶されている。第2の信号処理部C2において、画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の鮮鋭度と上記相関関係とに基づいて、被写体までの距離を得ることができる。
図2は、光学素子L1を被写体側から見た正面図である。光学素子L1における光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6は、光軸Vを境界中心として、光軸Vに垂直な面内で6分割されている。図2において、破線sは絞りSの位置を示している。図1における光束B2は、光学素子L1上の光学領域D2を通過する光束であり、光束B5は、光学素子L1上の光学領域D5を通過する光束である。光束B1、B2、B3、B4、B5及びB6は、光学素子L1、絞りS、レンズL2、アレイ状光学素子Kをこの順に通過し、撮像素子N上の撮像面Ni(図4等に示す)に到達する。
図3は、アレイ状光学素子Kの斜視図である。アレイ状光学素子Kにおける撮像素子N側の面には、光軸Vに垂直な面内で光学要素M1が六方最密状に配列されている。それぞれの光学要素M1の断面(縦方向の断面)は、撮像素子N側に突出した曲面形状を有する。このように、アレイ状光学素子Kは、マイクロレンズアレイの構成を有する。
図1に示すように、アレイ状光学素子Kは、レンズ光学系Lの焦点近傍に配置されており、撮像面Niから所定の距離だけ離れた位置に配置されている。実際には、光学素子L1における光学特性がレンズ光学系L全体としての合焦特性に影響を与えるが、アレイ状光学素子Kが配置される位置は、たとえば、レンズL2の焦点を基準にして決定すればよい。なお、本実施形態において、「合焦特性が異なる」とは、その光学系において光の集光に寄与する特性の少なくとも1つが異なることをいい、具体的には、焦点距離、焦点が合う被写体までの距離、鮮鋭度が一定の値以上となる距離範囲などが異なることをいう。光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6の表面の曲率半径や非球面係数や屈折率を調整して光学特性を異ならせることにより、各領域を通過した光線による合焦特性を異なるものとすることができる。
図4(a)は、図1に示すアレイ状光学素子Kおよび撮像素子Nを拡大して示す図であり、図4(b)は、アレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。アレイ状光学素子Kは、光学要素M1が形成された面が撮像面Ni側に向かうように配置されている。撮像面Niには、幾何学的な形状をした画素Pの中心点が正六角形の各頂点にくるように配列されている。具体的には、特許文献2に記載のようなハニカム配列の画素を用いることができる。撮像面に設けられた複数の画素Pは、画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6のいずれかに属する画素に区別できる。アレイ状光学素子Kは、その光学要素M1の1つが、画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6にそれぞれ含まれる6つの画素p1、p2、p3、p4、p5及びp6に対応するように配置されている。第1から第6の画素群P2、P3、P4、P5及びP6にそれぞれ含まれる6つの画素p1、p2、p3、p4、p5及びp6の中心点が、正六角形の各頂点に位置している。撮像面Ni上には、画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6にそれぞれ含まれる6つの画素p1、p2、p3、p4、p5及びp6の表面を覆うようにマイクロレンズMs(光学要素M1)が設けられている。
なお、光学要素M1は六方最密状に配列することで、正六角形の各頂点にくるように配置された画素を効率よく覆うことができるため好ましい。
アレイ状光学素子は、光学素子L1上の光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6を通過した光束B1、B2、B3、B4、B5及びB6の大部分が、撮像面Ni上の画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6にそれぞれ到達するように設計されている。具体的には、アレイ状光学素子Kの屈折率、撮像面Niからの距離及び光学要素M1表面の曲率半径などのパラメータを適切に設定することで、上記構成が実現する。
ここで、図1に示す第1の信号処理部C1により、画素群P1のみで形成された第1の画像I1が出力される。同様に、画素群P2・・・、P6のみで形成された画像I2・・・I6がそれぞれ出力される。第2の信号処理部C2により、画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6において隣接する画素間の輝度値の差(鮮鋭度)によって表される輝度情報を用いて測距演算が実行される。
画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6は、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6を通過した光束B1、B2、B3、B4、B5及びB6によって得られる画像である。第2の信号処理部C2は、第1から第6の画素群P1からP6のうち複数の画素群において得られる複数の画像の鮮鋭度(輝度情報)を用いて被写体までの距離を算出する。本実施形態では、画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6を用いて、光学領域の分割数が少ないものと比較して、近距離にある被写体までの距離を精度良く求めることができる。つまり、単一の撮像光学系(レンズ光学系L)を用いた(例えば1回の)撮像によって、被写体までの距離を精度よく取得することができる。
絞りSは全ての画角の光束が通過する領域である。従って、絞りSの近傍に合焦特性を制御する光学特性を有する面を挿入することにより、全ての画角の光束の合焦特性を同様に制御することができる。すなわち、本実施形態では、光学素子L1は、絞りSの近傍に設けられていることが好ましい。互いに合焦特性を異ならせる光学特性を有する光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6を、絞りSの近傍に配置することによって、領域の分割数に応じた合焦特性を光束に与えることができる。
図1においては、光学素子L1を通過した光が、直接(他の光学部材を介することなく)、絞りSに入射する位置に設けられている。光学素子L1は、絞りSよりも撮像素子N側に設けられていてもよい。この場合、光学素子L1は、絞りSとレンズL2との間に設けられており、絞りSを通過した光が、直接(他の光学部材を介することなく)、光学素子L1に入射することが好ましい。像側テレセントリック光学系の場合、光学系の焦点における光線の入射角は、絞りSを通過する光線の位置と画角によって一義的に決定される。また、アレイ状光学素子Kは、光線の入射角に応じて出射方向を振り分ける機能を有する。そのため、絞りSの近傍で分割された光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6に対応するように、撮像面Ni上の画素に光束を振り分けることができる。
次に、具体的に被写体距離を求める方法について説明する。
図5は、実施の形態1における撮像装置Aを示す断面図である。図5において図1と同じ構成要素には、図1と同じ符号を付している。図5においてはアレイ状光学素子K(図1等に示す)の図示は省略しているが、図5の領域Hには、実際には、アレイ状光学素子Kが含まれている。領域Hは、図4(a)に示す構成を有する。図5に示すような光学系の設計データを作成し、これに基づいて、光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6を通過した光束B1、B2、B3、B4、B5及びB6によって形成される点像強度分布を求める。次に、6分割されてできた6つの画像から、正方配列の画像に変換する。
被写体距離と鮮鋭度の関係をグラフで示すと、図6のような関係になる。図6のグラフにおいて、プロファイルG1、G2・・・、G6は、それぞれ画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6のみで生成された画像の所定領域の鮮鋭度を示している。鮮鋭度は、所定の大きさの画像ブロック内において隣接する画素間の輝度値の差分に基づいて求めることができる。また、所定の大きさの画像ブロックの輝度分布をフーリエ変換した周波数スペクトルに基づいて求めることもできる。
所定の大きさのブロック内のおける鮮鋭度をEとし、隣接する画素間の輝度値の差分に基づいて求める場合は、たとえば(数1)を用いる。
Figure 2012147245
(数1)において、Δxijは、所定の大きさの画像ブロック内のある座標における画素の輝度値と、隣接するブロック内の同じ位置にある画素の輝度値との差分値であり、Δyijは、所定の大きさの画像ブロック内の座標における画素の輝度値と、隣接するブロック内の同じ位置にある画素の輝度値との差分値であり、kは係数である。Δyijには所定の係数を乗じることが望ましい。
次に、所定の大きさのブロック内のおける鮮鋭度Eをフーリエ変換した周波数スペクトルに基づいて求める方法について説明する。画像は2次元であるため、2次元フーリエ変換を用いて鮮鋭度を求める方法について説明する。ここでは、所定のブロックサイズの鮮鋭度を2次元のフーリエ変換によって求める場合を説明する。
図7(a)から(c)は、16×16のサイズの画像ブロックの輝度分布を示している。図7(a)、(b)、(c)の順に鮮鋭度が小さくなっている。図7(d)から(f)は、図7(a)から(c)のそれぞれに示す画像ブロックを2次元でフーリエ変換を行うことによって得られた周波数スペクトルを示す。図7(d)から(f)では、わかりやすくするために、各周波数スペクトルの強度を対数変換して表示しており、周波数スペクトルが強いほど明るく示されている。各周波数スペクトルにおいて中央の最も輝度の高い箇所が直流成分であり、周辺部に近づくほど周波数が高くなっている。図7(d)から(f)では、画像の鮮鋭度が小さくなるほど、高い周波数スペクトルの値が欠落していくことがわかる。従って、これらの周波数スペクトルから鮮鋭度を求めるには、たとえば、周波数スペクトル全体あるいは一部を抽出することによって求めることができる。
ここで、図6におけるZの範囲は、鮮鋭度G1、G2、G3、G4、G5およびG6のいずれかが変化している領域を示している。Zの範囲では、このような関係を利用して被写体距離を求めることができる。例えば、Zの範囲では、被写体距離と、鮮鋭度G1とG2の比、Z2の範囲では鮮鋭度G2とG3の比、Z3の範囲では鮮鋭度G3とG4の比、Z4の範囲では鮮鋭度G4とG5の比、Z5の範囲では鮮鋭度G5とG6の比に相関がある。このように、被写体距離がある一定の範囲内(z1からz6)にある場合、6つの光学領域D1からD6に入射した光によって形成される6つの画像のうち、任意の2つの画像の鮮鋭度の比の値は、被写体距離と相関関係を有する。これらの鮮鋭度の比と被写体距離との相関関係をあらかじめ記憶部Meに記憶しておく。
撮像装置の使用時には、1回の撮像の結果得られるデータのうち、各画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6ごとに生成された画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の鮮鋭度の比を演算ブロックごとに求める。そして、記憶部Meに記憶されている相関関係(任意の2つの画像の相関関係と鮮鋭度の比)を利用して、被写体距離を求めることができる。具体的には、演算ブロックごとに、上記相関関係における鮮鋭度の比と、画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の鮮鋭度の比の値とを比較する。そして、両者が一致する値に対応する被写体距離を、撮影時の被写体までの距離とする。
画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の鮮鋭度の比から被写体距離を一意的に求めるためには、鮮鋭度の比が所定の被写体距離範囲内ですべて異なっている必要がある。
図6においては、Zの範囲で、いずれかの光学系の鮮鋭度が高くなるように構成されており、鮮鋭度の比がすべて異なっているため、被写体距離を一意的に求めることができる。また、鮮鋭度の値が低すぎると比を求めることができないため、鮮鋭度の値は一定値以上であることが好ましい。
なお、被写体距離と鮮鋭度の関係は、光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6の表面の曲率半径や球面収差特性や屈折率によって決まる。つまり、光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6は画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の鮮鋭度の比が、所定の距離範囲内ですべて異なるような光学特性を有している必要がある。
なお、本実施形態では、輝度を用いて算出される値(輝度情報)であれば、鮮鋭度以外の値、例えばコントラストを用いて被写体距離を求めてもよい。コントラストは、例えば、所定の演算ブロック内における最大輝度値と最低輝度値の比から求めることができる。鮮鋭度は輝度値の差分であるのに対し、コントラストは輝度値の比である。最大輝度値である一点と最低輝度値である一点の比からコントラストを求めてもよいし、例えば、輝度値の上位数点の平均値と、輝度値の下位数点の平均値との比からコントラストを求めてもよい。コントラストを用いて被写体距離を求める場合も、鮮鋭度の場合と同様に、あらかじめ被写体距離とコントラストの比との相関関係を記憶部Meに記憶させておく。ブロック毎に画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6のコントラストの比を求めることにより、相関関係を利用して被写体距離を求めることができる。
なお、本実施形態では、隣接する画素における輝度値の差分から鮮鋭度を求める方法、および、フーリエ変換によって鮮鋭度を求める方法のいずれを採用してもよい。ただし、輝度値は相対的な値であるため、前者の方法で求めた輝度値と後者の方法で求めた輝度値は異なる値となる。従って、相関関係(あらかじめ記憶しておく被写体距離と鮮鋭度の比との相関関係)を求めるために鮮鋭度を求める方法と、撮像時に鮮鋭度を求める方法とは一致させておく必要がある。
本実施の形態では、撮像装置の光学系は、像側テレセントリック光学系を用いてもよい。これにより画角が変化しても、アレイ状光学素子Kの主光線入射角は、0度に近い値で入射するため、撮像領域全域にわたって、画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6に到達するそれぞれの光束のクロストークを低減することができる。
本実施形態では、レンズ光学系Lとして、像側非テレセントリック光学系を用いてもよい。この場合、光学素子L1の6つの領域の曲率半径がそれぞれ異なるため、それぞれの領域にとって得られる画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の倍率が異なる。ここで、前述のような鮮鋭度の比を画像の領域毎に算出した場合、光軸外では互いに参照する所定領域がずれてしまい、鮮鋭度の比を正しく求めることができない。この場合、画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6の倍率を略同一になるように補正して、所定領域の鮮鋭度の比を求めることにより、正しく求めることができる。
また、本実施形態1では、光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6の面積(光軸に沿った方向から見た場合の面積)を等しくしている(略同一の面積)。このような構成により、画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6の露光時間を等しくすることができる。光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6の面積が異なる場合には、画素群P1、P2、P3、P4、P5及びP6の露光時間を異ならせるか、撮像後に明るさ調整を行うことが好ましい。
以上に述べたように、本実施形態によると、光学素子L1の6つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5及びD6によって得られる画像の鮮鋭度(またはコントラスト)の比と被写体距離の相関関係をあらかじめ記憶しておき、撮像された画像I1、I2、I3、I4、I5及びI6における鮮鋭度(またはコントラスト)の比と、上記相関関係とに基づいて、被写体までの距離を得ることができる。即ち、本実施形態の撮像装置を用いて、例えば1回の撮像を行うことにより、被写体距離測定が可能な輝度情報を取得することができる。そして、当該輝度情報を用いて被写体距離を算出することができる。以上のとおり、本実施形態では、単一の撮像光学系(レンズ光学系L)を用いて(例えば1回の)撮像によって被写体までの距離を得ることができるため、複数の撮像光学系を用いた撮像装置のように、複数の撮像光学系間の特性や位置を揃える必要がない。また、本実施形態の撮像装置を用いて動画を撮影した場合、時間の経過によって被写体の位置に変化が生じても被写体までの正確な距離を測定することができる。
なお、撮像面Niにおいて画素の中心点が正六角形の各頂点にくるように配置する場合、光学領域D1、D2、D3、D4、D5およびD6の光学特性は、6種類ではなく3種類であってもよい。つまり、図8に示すように、分割した6つの領域のうち、光軸に対して点対称の位置にある2つの領域を同一の光学特性として、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する3つの光学領域(D1、D2、D3)を有する構成にしてもよい。このとき、図9に示すように、撮像素子Nにおける画素の中心点が正六角形の各頂点にくるように配置する。また、3つの光学領域D1、D2、D3を通過した光は、画素群P1、P2、P3にそれぞれ入射する。画素群P1に含まれる2つの画素p1は、光学要素M1の中心軸に対して点対称の位置にある。同様に、画素群P2、P3に含まれる2つの画素p2および2つの画素p3は、それぞれ、光学要素M1の中心軸に対して点対称の位置にある。この構成により、各光学領域D1、D2、D3を通過した光が入射する画素群P1、P2、P3それぞれにおいて得られる画像間に視差が発生しない。このため、高精度な測距が可能である。
また、図10に示すように、光軸を含む面で横方向に2分割し、縦方向に3分割することにより、領域を6分割して、それぞれ異なる光学特性を有する領域(D1、D2、D3、D4、D5及びD6)を形成してもよい。このとき、マイクロレンズが碁盤状に配列したマイクロレンズアレイと、図11のような長方形の画素を組み合わせることが考えられる。また、図12のように、外枠が長方形の形状をしたマイクロレンズ(光学要素M1)を配列したマイクロレンズアレイを、図13のように正方形の画素6つとマイクロレンズ(光学要素M1)とが対応するように配置する組合せでも、同様の効果が得られる。
(実施の形態2)
本実施の形態2は、光学素子L1の領域分割を7つにした点で実施の形態1と異なっている。ここでは、本実施形態において実施の形態1と同様の内容についての詳細な説明は省略する。
図14は、本発明による撮像装置Aの実施の形態2を示す模式図である。図14において、実施の形態1と同じ構成要素には、同じ符号を付して示している。本実施形態の撮像装置Aは、Vを光軸とするレンズ光学系Lと、レンズ光学系Lの焦点近傍に配置されたアレイ状光学素子Kと、撮像素子Nと、第1の信号処理部C1と、第2の信号処理部C2と、記憶部Meを備える。レンズ光学系Lは、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する7つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6及びD7(図14ではD1、D2、D5を通る断面を図示)を有し、被写体(図示せず)からの光束B1、B2、B3、B4、B5、B6及びB7(図14ではB1、B2、B5を通る断面を図示)が入射する光学素子L1と、光学素子L1を通過した光が入射する絞りSと、絞りSを通過した光が入射するレンズL2とから構成されている。
絞りSは、レンズ光学系Lの近傍に設置されており、単一開口である。
本実施形態では、7つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6及びD7を通過した光は、レンズL2を通過した後、アレイ状光学素子Kに入射する。アレイ状光学素子Kは、7つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6及びD7を通過した光をそれぞれ撮像素子Nにおける画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6及びP7(図16等に示す)に入射させる。第1の信号処理部C1は、画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6及びP7において得られる画像I1、I2、I3、I4、I5、I6及びI7をそれぞれ出力する。7つの光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6及びD7の光学特性は互いに異なるため、画像I1、I2、I3、I4、I5、I6及びI7の画像の鮮鋭度(輝度を用いて算出される値)は、被写体距離によって異なる。記憶部Meには、光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6及びD7のそれぞれを通過した光の鮮鋭度と被写体距離との相関関係が記憶されている。第2の信号処理部C2において、画像I1、I2、I3、I4、I5、I6及びI7の鮮鋭度と上記相関関係とに基づいて、被写体までの距離を得ることができる。
図15は、光学素子L1を被写体側から見た正面図である。光学領域はレンズ光学系の光軸上に位置する1つの中心部領域D1と、その周辺に位置する6つの周辺部領域D2、D3、D4、D5、D6及びD7とからなる。
本実施形態2では、光学領域D1は光学領域D2、D3、D4、D5、D6及びD7と異なる形状をしているが、光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6及びD7は、それぞれ等しい面積を有している。このような構成により、各光学領域からの光が入射する画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6及びP7における露光時間を等しくすることができる。なお、各光学領域の面積が異なる場合には、面積に応じて画素毎の露光時間を異ならせるか、画像生成時に明るさを調整することが好ましい。
また、破線sは絞りSの位置を示している。
本実施形態において、アレイ状光学素子Kの構成は第1の実施形態と同様であり、本実施形態のアレイ状光学素子Kの斜視図は、図3と同様である。
図16(a)は、図14に示すアレイ状光学素子Kと撮像素子Nとを拡大して示す図であり、図16(b)はアレイ状光学素子Kと撮像素子N上の画素との位置関係を示す図である。
アレイ状光学素子Kは、光学要素M4が形成された面が撮像面Ni側に向かうように配置されている。撮像面Niにおいて、複数の画素Pは、例えば、n行(nは2以上の整数)に配列されている。図16(b)に示すように、画素の中心点の行方向(横方向)における位置が、1行ごとに画素の配列ピッチの半分だけずれて配列されている。複数の画素Pは、画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6及びP7のいずれかに属する画素p1、p2、p3、p4、p5、p6及びp7に区別できる。画素群P2、P3、P4、P5、P6及びP7にそれぞれ含まれる6つの画素p2、p3、p4、p5、p6及びp7は、それぞれ六角形の頂点に配置されており、画素群P1に含まれる画素p1は、六角形の中心に配置されている。
アレイ状光学素子Kは、レンズ光学系Lの焦点近傍に配置されており、撮像面Niから所定の距離だけ離れた位置に配置されている。また、撮像面Ni上には、画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6及びP7にそれぞれ含まれる7つの画素p1、p2、p3、p4、p5、p6及びp7の表面を覆うようにマイクロレンズMsが設けられている。
また、アレイ状光学素子Kは、光学要素M4が形成された面が撮像面Ni側に向かうように配置されている。アレイ状光学素子Kは、その光学要素M4のひとつが、画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6及びP7にそれぞれ含まれる7つの画素p1、p2、p3、p4、p5、p6及びp7に対応するように構成されている。アレイ状光学素子は、光学素子L1上の光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6及びD7を通過した光束B1、B2、B3、B4、B5、B6及びB7の大部分が、撮像面Ni上の画素群P1、P2、P3、P4、P5、P6及びP7にそれぞれ到達するように設計されている。具体的には、アレイ状光学素子Kの屈折率、撮像面Niからの距離及び光学要素M4表面の曲率半径などのパラメータを適切に設定することで、上記構成が実現する。
ここで、図14に示す第1の信号処理部C1により、画素群P1のみで形成された第1の画像I1が出力される。同様に、画素群P2、P3、P4、P5、P6、及びP7のみで形成された画像I2、I3、I4、I5、I6及びI7がそれぞれ出力される。第2の信号処理部C2により、画像I1、I2、I3、I4、I5、I6及びI7において隣接する画素間の輝度値の差(鮮鋭度)によって表される輝度情報を用いて測距演算が実行される。
本実施形態2において、被写体距離と鮮鋭度の関係は、図17のようになり、Zの範囲内において、被写体距離を求めることができる。
以上に述べたように、本実施形態によると、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する7つの領域によって、7つの異なる画像を同時に取得できる構成となっており、単一の撮像光学系を用いた(例えば1回の)撮像によって被写体までの距離を得ることができる。この構成により、図6に示す6つの領域に分割した形態と比較して、測距可能な被写体距離範囲を広げることができる。
なお、撮像面Niにおいて画素の中心点の行方向における位置が、1行ごとに画素の配列ピッチの半分ずれて配列されている場合、光学領域D1、D2、D3、D4、D5、D6およびD7の光学特性は、7種類ではなく4種類であってもよい。つまり、図18に示すように、レンズ光学系の光軸上に位置する1つの中心部領域とその周辺に位置する6つの周辺部領域とに分割した7つの領域のうち、光軸に対して点対称の位置にある2つの領域を同一の光学特性として、合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する4つの光学領域(D1、D2、D3及びD4)を有する構成にしてもよい。このとき、図19に示すように、画素の中心点の行方向における位置が、1行ごとに画素の配列ピッチの半分ずれて配列させる。また、光学領域D1を通過した光が入射する画素群P1に含まれる画素は、それぞれ、光学要素M4の中心軸上に位置する。また、光軸に対して点対称の位置にある2つの領域からなる光学領域D2、D3及びD4を通過した光は、画素群P2、P3、P4にそれぞれ入射する。画素群P2に含まれる2つの画素p2は、光学要素M4の中心軸に対して点対称の位置にある。同様に、画素群P3、P4に含まれる2つの画素p3および2つの画素p4は、それぞれ、光学要素M4の中心軸に対して点対称の位置にある。この構成により、各光学領域D1、D2、D3及びD4を通過した光が入射する画素群P1、P2、P3及びP4それぞれにおいて得られる画像間に視差が発生しない。このため、高精度な測距が可能である。
(その他の実施の形態)
なお、実施の形態1および2は、合焦特性を異ならせるための曲面形状などが光学素子L1における被写体側の面に配置された形態であるが、このような曲面形状などは光学素子L1の像側の面に配置されていてもよい。
また、レンズL2は1枚の構成としているが、複数群または複数枚の構成のレンズであってもよい。
また、複数の光学領域は、絞り近傍に配置したレンズL2の光学面上に形成されていてもよい。
また、光学素子L1は、絞りの位置に対して被写体側に配置されているが、絞りの位置に対して像側に配置されていてもよい。
実施の形態1および2は、第1の信号処理部C1、第2の信号処理部C2及び記憶部Me(図1等に示す)を備える撮像装置である。本発明の撮像装置は、これらの信号処理部及び記憶部を備えていなくてもよい。その場合、撮像装置の外部のPC等を用いて、第1の信号処理部C1および第2の信号処理部C2が行う処理を行えばよい。すなわち、本発明は、レンズ光学系L、アレイ状光学素子Kおよび撮像素子Nを備える撮像装置と、外部の信号処理装置とを備えるシステムによっても実現することができる。この形態における撮像装置によれば、単一の撮像光学系を用いた(例えば1回の)撮像によって被写体距離の測定が可能な輝度情報を取得することができる。また、当該輝度情報及び外部の記憶部に記憶された鮮鋭度(又はコントラスト)の相関関係を用いて外部の信号処理部が行う処理によって、被写体距離を取得することができる。
なお、本発明の測距方法においては、必ずしも鮮鋭度と被写体距離との相関関係を用いなくてもよい。例えば、鮮鋭度またはコントラストと被写体距離との関係を示す式に、得られた鮮鋭度またはコントラストを代入することにより被写体距離を得てもよい。
また、実施の形態1および2におけるマイクロレンズアレイの各光学要素(マイクロレンズ)は、各光学要素の所定の半径の範囲内において、光軸に対して回転対称形とすることが好ましい。以下、光軸に対して回転非対称な形状を有するマイクロレンズと比較して説明する。
図20(a1)は、光軸に対して回転非対称な形状を有するマイクロレンズアレイを示す斜視図である。このようなマイクロレンズアレイは、アレイの上に四角柱状のレジストを形成して熱処理を行うことによりレジストの角部を丸め、そのレジストを用いてパターニングを行うことにより形成される。図20(a1)に示すマイクロレンズの等高線を図20(a2)に示す。回転非対称な形状を有するマイクロレンズでは、縦横方向(マイクロレンズの底面の四辺と平行な方向)と斜め方向(マイクロレンズの底面の対角線方向)との曲率半径が異なる。
図20(a3)は、図20(a1)、(a2)に示すマイクロレンズを本発明のアレイ状光学素子に適用した場合の、光線追跡シミュレーションの結果を示す図である。図20(a3)では、アレイ状光学素子Kを通過する光のうち1つの光学領域を通過する光のうち1つの光学領域を通過する光束のみを示している。このように回転非対称形状のマイクロレンズの場合、隣接の画素に光が漏れてクロストークが発生する。
図20(b1)は、光軸に対して回転対称な形状を有するマイクロレンズアレイを示す斜視図である。このような回転対称形状のマイクロレンズは、熱インプリントやUVインプリント製法により、ガラス板等の上に形成することができる。
図20(b2)に、回転対称形状のマイクロレンズの等高線を示す。回転対称な形状を有するマイクロレンズでは、縦横方向と斜め方向の曲率半径は等しい。
図20(b3)、図20(b1)、(b2)に示すマイクロレンズを本発明のアレイ状光学素子に適用した場合の、光線追跡シミュレーションの結果を示す図である。図20(b3)では、アレイ状光学素子Kを通過する光のうち1つの光学領域を通過する光束のみを示しているが、図20(a3)のようなクロストークは、発生していないことがわかる。このように、マイクロレンズを回転対称形状にすることにより、クロストークを低減させることができるため、測距演算における精度の劣化を抑制することができる。
本発明にかかる撮像装置は、デジタルスチルカメラやデジタルビデオカメラ等の撮像装置として有用である。また、自動車の周辺監視用及び乗員監視用の測距装置やゲーム、PC、携帯端末等の3次元情報入力用の測距装置の用途にも応用できる。
A 撮像装置
L レンズ光学系
L1 光学素子
L2 レンズ
D1,D2,D3,D4,D5,D6,D7 光学領域
S 絞り
K アレイ状光学素子
N 撮像素子
Ni 撮像面
Me 記憶部
Ms 撮像素子上のマイクロレンズ
M1,M2,M3,M4 アレイ状光学素子のマイクロレンズ(光学要素)
P1,P2,P3,P4,P5,P6,P7 撮像素子上の受光素子(画素群)
p1,p2,p3,p4,p5,p6,p7 画素
C1,C2 第1、第2の信号処理部

Claims (28)

  1. 合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する6つの領域を含む複数の領域を有するレンズ光学系と、
    前記レンズ光学系を通過した光が入射する複数の画素を有する撮像素子と、
    前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置され、前記6つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させるアレイ状光学素子とを備える、撮像装置。
  2. 前記複数の画素は、第1から第6の画素群のそれぞれに属する複数の画素を含み、
    前記6つの領域を通過した光は、前記第1から第6の画素群にそれぞれ入射する、請求項1に記載の撮像装置。
  3. 信号処理部をさらに備え、
    前記信号処理部は、前記第1から第6の画素群のうち複数の画素群において得られる複数の画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する、請求項2に記載の撮像装置。
  4. 被写体距離がある一定の範囲内にある場合、前記6つの領域に入射した光によって形成される6つの画像のうち、任意の2つの画像の鮮鋭度の比の値は、前記被写体距離と相関関係を有し、
    前記信号処理部は、前記相関関係と、前記任意の2つの画像の鮮鋭度の比に基づいて、前記被写体までの距離を算出する、請求項3に記載の撮像装置。
  5. 被写体距離がある一定の範囲内にある場合、前記6つの領域に入射した光によって形成される6つの画像のうち、任意の2つの画像のコントラストの比の値は、前記被写体距離と相関関係を有し、
    前記信号処理部は、前記相関関係と、前記任意の2つの画像のコントラストの比に基づいて、前記被写体までの距離を算出する、請求項3に記載の撮像装置。
  6. 前記第1から第6の画素群にそれぞれ含まれる6つの画素の中心点は、正六角形の各頂点に位置している、請求項2に記載の撮像装置。
  7. 前記アレイ状光学素子は、マイクロレンズからなる光学要素が六方最密状に配列したマイクロレンズアレイであり、
    前記第1から第6の画素群にそれぞれ含まれる6つの画素と、前記光学要素1つとが対応するように配置されている、請求項2に記載の撮像装置。
  8. 前記マイクロレンズの各光学要素は、各光学要素の光軸から所定の半径の範囲内において回転対称な形状を有する、請求項1から7のいずれかに記載の撮像装置。
  9. 前記6つの領域は、前記レンズ光学系の光軸を挟んで互いに点対称に配置された複数の領域である、請求項1から8のいずれかに記載の撮像装置。
  10. 前記6つの領域は、前記レンズ光学系の光軸に沿った方向から見て略同一の面積を有し、互いに異なる曲率半径を有する、請求項1から9のいずれかに記載の撮像装置。
  11. 前記レンズ光学系は、前記6つの領域以外に少なくとも1つの領域をさらに備え、
    前記アレイ状光学素子は、前記6つの領域と前記1つの領域とを含む7つの領域を通過した光のそれぞれを、前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させる、請求項1または2に記載の撮像装置。
  12. 信号処理部をさらに備え、
    前記複数の画素は、第7の画素群に属する複数の画素を含み、
    前記1つの領域を通過した光は、前記第7の画素群に入射し、
    前記信号処理部は、前記7つの領域を通過した光が入射する前記第1から第7の画素群のうち複数の画素群において得られる複数の画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する、請求項11に記載の撮像装置。
  13. 被写体距離がある一定の範囲内にある場合、前記7つの領域に入射した光によって形成される7つの画像のうち、任意の2つの画像の鮮鋭度の比の値は、前記被写体距離と相関関係を有し、
    前記信号処理部は、前記相関関係と、前記任意の2つの画像の鮮鋭度の比に基づいて、前記被写体までの距離を算出する、請求項11または12に記載の撮像装置。
  14. 被写体距離がある一定の範囲内にある場合、前記7つの領域に入射した光によって形成される7つの画像のうち、任意の2つの画像のコントラストの比の値は、前記被写体距離と相関関係を有し、
    前記信号処理部は、前記相関関係と、前記任意の2つの画像のコントラストの比に基づいて、前記被写体までの距離を算出する、請求項11または12に記載の撮像装置。
  15. 前記撮像素子における複数の画素は、n行(nは2以上の整数)に配置され、
    前記複数の画素のそれぞれにおける中心点の行方向における位置は、1行ごとに画素の配列ピッチの半分だけずれている、請求項11から14のいずれかに記載の撮像装置。
  16. 前記7つの領域は、前記レンズ光学系の光軸上に位置する1つの中心部領域と、前記中心部領域の周辺に位置する6つの周辺部領域とから構成されている、請求項15に記載の撮像装置。
  17. 合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する3つの領域を含む複数の領域を有するレンズ光学系と、
    前記レンズ光学系を通過した光が入射し、中心点が正六角形の各頂点に位置する複数の画素を含む撮像素子と、
    前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置され、前記3つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させるアレイ状光学素子とを備える、撮像装置。
  18. 前記3つの領域のそれぞれは、前記レンズ光学系の光軸を挟んで点対称に配置された2つの領域を有する、請求項17に記載の撮像装置。
  19. 合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する4つの領域を含む複数の領域を有するレンズ光学系と、
    前記レンズ光学系を通過した光が入射し、n行(nは2以上の整数)に配列された複数の画素を含む撮像素子と、
    前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置され、前記4つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させるアレイ状光学素子とを備え、
    前記複数の画素のそれぞれにおける中心点の行方向における位置が、1行ごとに画素の配列ピッチの半分だけずれている、撮像装置。
  20. 前記4つの領域は、前記レンズ光学系の光軸上に位置する1つの中心部領域と、前記中心部領域の周辺に位置する3つの領域とであり、
    前記3つの領域のそれぞれは、前記レンズ光学系の光軸を挟んで点対称に配置された2つの領域を有する、請求項19に記載の撮像装置。
  21. 前記レンズ光学系は、絞りをさらに備え、
    前記複数の領域は、前記絞り近傍に配置されている、請求項1から20のいずれかに記載の撮像装置。
  22. 前記レンズ光学系が像側テレセントリック光学系である、請求項1から21のいずれかに記載の撮像装置。
  23. 前記アレイ状光学素子は、前記撮像素子上に形成されている、請求項1から22のいずれかに記載の撮像素子。
  24. 前記アレイ状光学素子と前記撮像素子との間に設けられたマイクロレンズをさらに備え、
    前記アレイ状光学素子は、前記マイクロレンズを介して前記撮像素子上に形成されている、請求項23に記載の撮像装置。
  25. 請求項1、17、19のいずれかに記載の撮像装置と、
    前記複数の領域を通過した光によって得られる複数の画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する信号処理装置とを備える撮像システム。
  26. 合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する6つの領域を有するレンズ光学系と、
    前記レンズ光学系を通過した光が入射し、それぞれ複数の画素を有する第1から第6の画素群を有する撮像素子と、
    前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置されたアレイ状光学素子とを備える撮像装置を用い、
    前記アレイ状光学素子によって、前記6つの領域を通過した光を、前記第1から第6の画素群にそれぞれ入射させ、
    前記第1から第6の画素群のうち複数の画素群において得られる複数の画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する、撮像方法。
  27. 合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する3つの領域を有するレンズ光学系と、
    前記レンズ光学系を通過した光が入射し、中心点が正六角形の各頂点に位置する複数の画素を含む撮像素子と、
    前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置されたアレイ状光学素子とを備える撮像装置を用い、
    前記アレイ状光学素子によって、前記3つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させ、
    前記3つの領域を通過した光によって得られる3つの画像のうち少なくとも2つの画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する、撮像方法。
  28. 合焦特性を互いに異ならせる光学特性を有する4つの領域を有するレンズ光学系と、
    前記レンズ光学系を通過した光が入射し、n行(nは2以上の整数)に配列された複数の画素を含む撮像素子と、
    前記レンズ光学系と前記撮像素子との間に配置されたアレイ状光学素子とを備え、
    前記複数の画素のそれぞれにおける中心点の行方向における位置が、1行ごとに画素の配列ピッチの半分だけずれている撮像装置を用い、
    前記アレイ状光学素子によって、前記4つの領域を通過した光のそれぞれを前記撮像素子上の互いに異なる画素に入射させ、
    前記4つの領域を通過した光によって得られる4つの画像のうち少なくとも2つの画像の輝度情報を用いて被写体までの距離を算出する、撮像方法。
JP2013511875A 2011-04-27 2012-02-03 撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法 Expired - Fee Related JP5548310B2 (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2013511875A JP5548310B2 (ja) 2011-04-27 2012-02-03 撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法

Applications Claiming Priority (4)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2011099165 2011-04-27
JP2011099165 2011-04-27
PCT/JP2012/000728 WO2012147245A1 (ja) 2011-04-27 2012-02-03 撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法
JP2013511875A JP5548310B2 (ja) 2011-04-27 2012-02-03 撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JP5548310B2 JP5548310B2 (ja) 2014-07-16
JPWO2012147245A1 true JPWO2012147245A1 (ja) 2014-07-28

Family

ID=47071781

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2013511875A Expired - Fee Related JP5548310B2 (ja) 2011-04-27 2012-02-03 撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法

Country Status (3)

Country Link
US (1) US9270948B2 (ja)
JP (1) JP5548310B2 (ja)
WO (1) WO2012147245A1 (ja)

Families Citing this family (12)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2013114888A1 (ja) * 2012-02-02 2013-08-08 パナソニック株式会社 撮像装置
WO2013141007A1 (ja) * 2012-03-21 2013-09-26 富士フイルム株式会社 撮像装置
WO2014010734A1 (ja) * 2012-07-12 2014-01-16 株式会社ニコン 撮像装置
JP5953270B2 (ja) * 2013-07-04 2016-07-20 オリンパス株式会社 撮像装置
JP6077967B2 (ja) * 2013-08-27 2017-02-08 富士フイルム株式会社 撮像装置
JP6536877B2 (ja) 2014-07-31 2019-07-03 パナソニックIpマネジメント株式会社 撮像装置および撮像システム
US9661193B2 (en) * 2014-08-01 2017-05-23 Panasonic Intellectual Property Management Co., Ltd. Imaging apparatus and analyzing apparatus
JPWO2018167999A1 (ja) * 2017-03-17 2020-01-16 パナソニックIpマネジメント株式会社 プロジェクタ及びプロジェクタシステム
WO2021030034A1 (en) 2019-08-15 2021-02-18 Apple Inc. Depth mapping using spatial multiplexing of illumination phase
WO2021034409A1 (en) * 2019-08-20 2021-02-25 Apple Inc. Depth sensor with interlaced sampling structure
US11763472B1 (en) 2020-04-02 2023-09-19 Apple Inc. Depth mapping with MPI mitigation using reference illumination pattern
WO2021252153A1 (en) 2020-06-11 2021-12-16 Apple Inc. Global-shutter image sensor with time-of-flight sensing capability

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6176310U (ja) * 1984-10-26 1986-05-22
JPH05302831A (ja) * 1992-04-27 1993-11-16 Olympus Optical Co Ltd 距離測定装置
JPH0735545A (ja) * 1993-07-22 1995-02-07 Nissan Motor Co Ltd 光学式距離計
JP2000152281A (ja) * 1998-11-09 2000-05-30 Sony Corp 撮像装置
JP2001227914A (ja) * 2000-02-15 2001-08-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 物体監視装置
JP2004191893A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Canon Inc 撮像装置
JP2006184065A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 物体検出装置
JP2006184844A (ja) * 2004-12-03 2006-07-13 Tochigi Nikon Corp 結像光学系及びこれを用いた撮像装置
JP2009198376A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Aisin Seiki Co Ltd 表面形状測定装置
JP2012039255A (ja) * 2010-08-04 2012-02-23 Olympus Corp 画像処理装置、画像処理方法、撮像装置及びプログラム

Family Cites Families (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5940610A (ja) 1982-08-30 1984-03-06 Canon Inc 合焦検出装置
JPH0760211B2 (ja) 1986-04-21 1995-06-28 ソニー株式会社 オ−トフオ−カスコントロ−ル装置
JP3110095B2 (ja) 1991-09-20 2000-11-20 富士通株式会社 測距方法及び測距装置
US20070279618A1 (en) * 2004-10-15 2007-12-06 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Imaging Apparatus And Image Improving Method
EP1887399A4 (en) 2005-05-30 2011-03-23 Nikon Corp IMAGE GENERATION CONDITION DETECTION DEVICE
DE102005036486A1 (de) * 2005-07-20 2007-01-25 Leica Microsystems (Schweiz) Ag Optisches Gerät mit erhöhter Schärfentiefe
JP2008051894A (ja) 2006-08-22 2008-03-06 Matsushita Electric Ind Co Ltd 撮像装置
CN101861542B (zh) * 2007-08-04 2016-04-20 全视技术有限公司 多区域成像系统
JP5272565B2 (ja) 2008-08-05 2013-08-28 株式会社ニコン 焦点検出装置および撮像装置
JP4760915B2 (ja) * 2009-01-08 2011-08-31 ソニー株式会社 固体撮像素子

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6176310U (ja) * 1984-10-26 1986-05-22
JPH05302831A (ja) * 1992-04-27 1993-11-16 Olympus Optical Co Ltd 距離測定装置
JPH0735545A (ja) * 1993-07-22 1995-02-07 Nissan Motor Co Ltd 光学式距離計
JP2000152281A (ja) * 1998-11-09 2000-05-30 Sony Corp 撮像装置
JP2001227914A (ja) * 2000-02-15 2001-08-24 Matsushita Electric Ind Co Ltd 物体監視装置
JP2004191893A (ja) * 2002-12-13 2004-07-08 Canon Inc 撮像装置
JP2006184844A (ja) * 2004-12-03 2006-07-13 Tochigi Nikon Corp 結像光学系及びこれを用いた撮像装置
JP2006184065A (ja) * 2004-12-27 2006-07-13 Matsushita Electric Ind Co Ltd 物体検出装置
JP2009198376A (ja) * 2008-02-22 2009-09-03 Aisin Seiki Co Ltd 表面形状測定装置
JP2012039255A (ja) * 2010-08-04 2012-02-23 Olympus Corp 画像処理装置、画像処理方法、撮像装置及びプログラム

Also Published As

Publication number Publication date
WO2012147245A1 (ja) 2012-11-01
US20130329042A1 (en) 2013-12-12
US9270948B2 (en) 2016-02-23
JP5548310B2 (ja) 2014-07-16

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP5548310B2 (ja) 撮像装置、撮像装置を備える撮像システム、及び撮像方法
JP5159986B2 (ja) 撮像装置および撮像方法
JP5358039B1 (ja) 撮像装置
JP5490309B2 (ja) 撮像装置および測距装置
US8339463B2 (en) Camera lens calibration system
JP5681954B2 (ja) 撮像装置及び撮像システム
US20120300104A1 (en) Image sensor and image capturing apparatus
CN107424195B (zh) 一种光场距离估计方法
US20130242161A1 (en) Solid-state imaging device and portable information terminal
JP6189061B2 (ja) 固体撮像装置
JP2016036024A (ja) 撮像装置および分析装置
JP6116151B2 (ja) 距離検出装置
JP6353233B2 (ja) 画像処理装置、撮像装置、及び画像処理方法
JP6150497B2 (ja) 検出装置、及び、プログラム
JP2016066995A (ja) 像ズレ量算出装置、撮像装置、および像ズレ量算出方法
JP6304964B2 (ja) 情報処理装置及びその制御方法、及び、システム
JP2014089075A (ja) 分光反射率測定システム
JP4696730B2 (ja) ピント測定装置
JP2017005509A (ja) 固体撮像素子、撮像装置、および測距装置
Fu et al. Image quality evaluation of light field photography
TWI569087B (zh) 攝像裝置與光場攝像鏡頭
JP2016090975A (ja) 距離検出装置、撮像装置、距離検出方法、およびプログラム
KR101088777B1 (ko) 입체형상측정장치
JP6055595B2 (ja) 立体画像撮影装置および立体画像表示装置
JP6590463B2 (ja) 距離算出装置

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20140507

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20140516

R151 Written notification of patent or utility model registration

Ref document number: 5548310

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R151

LAPS Cancellation because of no payment of annual fees