JPWO2012077683A1 - ガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システム - Google Patents
ガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システム Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2012077683A1 JPWO2012077683A1 JP2012547876A JP2012547876A JPWO2012077683A1 JP WO2012077683 A1 JPWO2012077683 A1 JP WO2012077683A1 JP 2012547876 A JP2012547876 A JP 2012547876A JP 2012547876 A JP2012547876 A JP 2012547876A JP WO2012077683 A1 JPWO2012077683 A1 JP WO2012077683A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- defect
- glass ribbon
- image
- calculated
- images
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/84—Systems specially adapted for particular applications
- G01N21/88—Investigating the presence of flaws or contamination
- G01N21/89—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles
- G01N21/892—Investigating the presence of flaws or contamination in moving material, e.g. running paper or textiles characterised by the flaw, defect or object feature examined
- G01N21/896—Optical defects in or on transparent materials, e.g. distortion, surface flaws in conveyed flat sheet or rod
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Textile Engineering (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)
- Image Processing (AREA)
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
ガラスリボンの界面付近に欠陥が存在する場合や、欠陥が大きい場合であっても、ガラスリボン内の欠陥の高さ方向位置を測定することができるガラスリボン内欠陥測定方法を提供する。搬送されるガラスリボンを撮影することによって得られた画像内から、重なり合う2つの像の外接矩形を特定する。そして、外接矩形の辺24に対応する実空間での長さhを計算する。また、画像内における像21の中心部分21aから近い方の短辺までの距離に対応する実空間での長さを計算し、その2倍の長さsを計算する。そして、h−sを計算することにより、1つ目の像が撮影された位置から、2つ目の像が撮影された位置までの欠陥の移動距離ydを求め、ydと屈折角βとから、欠陥の高さ方向位置を計算する。
Description
本発明は、ガラスリボン内の欠陥に関する測定を行うガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システムに関し、特に、ガラスリボンにおける欠陥の高さ方向位置等を測定するガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システムに関する。
ガラスリボン内の欠陥の高さ方向位置等を測定する方法が種々提案されている。
ガラスリボン内の欠陥の高さ方向位置を測定する一般的な方法として、欠陥を撮影するときにカメラの焦点を調節して欠陥の高さ方向位置を測定する方法がある。この方法を便宜的に第1の測定方法と呼ぶことにする。図10Aは、第1の測定方法を模式的に示す説明図である。第1の測定方法では、図10Aに示すように、ガラスリボン82に光を通過させた状態で、ガラスリボン82を搬送する。そして、ラインカメラ81で、搬送されるガラスリボン82の内部を撮影する。ガラスリボン82の内部に欠陥83があれば、欠陥83が撮影される。図10Bは、撮影された欠陥の画像の例を示す。図10Aでは、欠陥83を模式的に長方形で表し、図10Bにおいてもガラスリボンの画像内に表れる欠陥の像86を長方形で表しているが、欠陥の形状は長方形であるとは限らない。ただし、以下に示す図11A、図11B、図12A、図12B、図13、図14においても欠陥を模式的に長方形で表す。なお、図10Bに示す矢印は、ガラスリボン82の搬送方向である。ラインカメラ81でガラスリボン82の内部を撮影するときには、カメラの焦点を調節して、欠陥の存在位置とカメラの焦点とを一致させて、ラインカメラ81から欠陥までの絶対的な距離を測定し、その距離に基づいて欠陥の高さ方向位置を計算する。カメラの焦点を調節して、欠陥の存在位置とカメラの焦点とを一致させる方法として、DFF(Depth from Focus)法等がある。また、欠陥のサイズに関しては、撮影した画像に対して画像処理を行って欠陥のサイズを測定する。
カメラの焦点を調節して欠陥の高さ方向位置を測定する方法や装置は、例えば、特許文献1〜3等に記載されている。
また、ガラスリボン内の欠陥の高さ方向位置を測定する他の一般的な方法として、ガラスリボンに入射した光の反射光を利用して同一欠陥を2つの位置で撮影し、その結果得られる2つの像の位置関係から欠陥の高さ方向位置を測定する方法がある。この方法を便宜的に第2の測定方法と記す。図11Aは、第2の測定方法を模式的に示す説明図である。第2の測定方法では、例えば、図11Aに示すように、ガラスリボン82において、ラインカメラ81と同じ側に光を入射させ、その反射光がラインカメラ81に到達するようにする。そして、ガラスリボン82を搬送し、ラインカメラ81でガラスリボン82の内部を撮影する。ガラスリボン内における光の経路については、図13の上段に示す側面図を参照して後述する。欠陥83は、ガラスリボン82の搬送とともに移動し、反射前の光の経路と重なったときと、反射後の光の経路と重なったときにそれぞれ、ラインカメラ81において像として捉えられる。この結果、欠陥83が一つであっても、撮影した画像には2つの像が写る。図11Bは、第2の測定方法で撮影した画像の例である。図11Bに示すように、同一の欠陥に対して2つの像84,85が写る。第2の測定方法では、図11Bに例示する画像における2つの像の位置関係から、欠陥83の高さ方向位置を計算する。また、欠陥のサイズに関しては、撮影した画像に対して画像処理を行って欠陥のサイズを測定する。なお、図11Bに示す矢印は、ガラスリボン82の搬送方向である。
透明基板等に入射した光の反射光を利用して同一欠陥を2つの位置で撮影し、2つの像の位置関係から欠陥の高さ方向位置を測定する方法や装置は、例えば、特許文献4〜6、8等に記載されている。
また、ガラスリボンの両面において、第2の測定方法と同様に画像を撮影し、ガラスリボンのそれぞれの面で撮影した画像内における像の位置関係から欠陥の高さ方向位置を測定する方法がある。この方法を便宜的に第3の測定方法と記す。図12Aは、第3の測定方法を模式的に示す説明図である。第3の測定方法では、例えば、図12Aに示すように、ガラスリボン82において、第1ラインカメラ81aと同じ側に光を入射させ、その反射光が第1ラインカメラ81aに到達するようにする。同様に、第2ラインカメラ81bと同じ側に光を入射させ、その反射光が第2ラインカメラ81bに到達するようにする。そして、ガラスリボン82を搬送し、第1ラインカメラ81aおよび第2ラインカメラ81bでそれぞれガラスリボン82の内部を撮影する。すると、第1ラインカメラ81aにおいて、第2の測定方法の場合と同様に2つの像が捉えられる。また、第2ラインカメラ81bにおいても、2つの像が捉えられる。図12Bは、第3の測定方法で撮影した画像の例である。第3の測定方法では、図12Bに示すように、一方のラインカメラがガラスリボンの上側から撮影した画像と、もう一方のラインカメラがガラスリボンの下側から撮影した画像とが得られる。各画像において、それぞれ2つの像が写る。第3の測定方法では、ガラスリボンの上側および下側から撮影した各画像における像の位置関係から、欠陥83の高さ方向位置を計算する。なお、図12Bでは、上側から撮影した画像において像が重なっている場合を例示している。また、欠陥のサイズに関しては、撮影した画像に対して画像処理を行って欠陥のサイズを測定する。なお、図12Bに示す矢印は、ガラスリボン82の搬送方向である。
透明基板等の両側から画像を撮影して欠陥の高さ方向位置を求める方法が、例えば、特許文献7に記載されている。
第2の測定方法や、第3の測定方法では、同一欠陥の像が画像内で重なっていないことを条件に、欠陥の高さ方向位置を計算する。なお、第3の測定方法において、図12Bに例示するように一方の画像で像が重なっている場合、もう一方の画像を用いて欠陥の高さ方向位置を計算すればよい。
以下、第2の測定方法において撮影された画像内の2つの像の位置関係から、欠陥の高さ方向位置を測定する具体例を示す。図13は、搬送されるガラスリボン内の欠陥がラインカメラに撮影されるときの位置を示す説明図である。図13の上段に示す図は、ガラスリボンの側面図であり、図13の下段の左側に示す図は、図13の上段に示す側面図に対応する上面図である。また、図13の下段の右側に示す図は、搬送されるガラスリボン82内の一つの欠陥83を撮影したときに得られる画像を示している。
図13に示す側面図および上面図内に示した長方形は、ガラスリボン82内の欠陥83を表している。本例では、欠陥は1つである。1つの欠陥83は、搬送されるガラスリボン82とともに移動する。図13に示す側面図および上面図では、位置91に移動したときの欠陥83と、位置92に移動したときの欠陥83とをそれぞれ図示している。図13に示す側面図および上面図において、欠陥そのものが2つ存在するわけではない。
図13の上段の側面図に示すように、ラインカメラ81に到達する光は、ガラスリボン82におけるラインカメラ側の面から、搬送されるガラスリボン82へ入射する。そして、入射した光は、ガラスリボン82における入射側とは反対側の界面に到達すると、その界面で反射し、入射側の界面を通過してラインカメラ81に到達する。ラインカメラ81に到達する光の入射角αは、ラインカメラ81の設置位置に依存する。ラインカメラ81の設置位置を固定することにより、入射角αは、固定値として定まる。また、光の屈折角βは、光の入射角αおよびガラスリボン82の屈折率nに依存して定まる。ここでは、入射角αおよび屈折率nは既知であり、屈折角βも固定値として定まっているものとする。屈折率n、入射角αおよび屈折角βには、式(1)の関係が成立する。
n=sinα/sinβ 式(1)
従って、入射角αおよび屈折率nが既知であれば、式(1)をβに関して解くことにより屈折角βが求まる。
また、図13に示す例において、ガラスリボン82におけるラインカメラ81とは反対側の面から欠陥83までの高さ方向位置dが、測定対象である。
ラインカメラ81は、ガラスリボン82の内部を撮影し続ける。欠陥83は、ガラスリボン82とともに搬送方向に移動する。そして、ガラスリボン82に入射して界面で反射した後にラインカメラ81に到達する光の経路との最初の交差位置91に欠陥83が移動すると、ラインカメラ81は欠陥83の像として1つ目の像(以下、第1の像と記す。)を撮影する。さらに、欠陥83が光の経路との2回目の交差位置92まで移動すると、ラインカメラ81は欠陥83の像として2つ目の像(以下、第2の像と記す。)を撮影する。この結果、図13の下段の右側に示すように、撮影した画像には、第1の像98および第2の像99が現れる。
なお、欠陥83が光透過性の場合、欠陥83を透過した光がラインカメラ81に到達し、像として捉えられる。欠陥83が遮光性の欠陥の場合、欠陥83は黒色の像として画像に写る。欠陥83は、遮光性であるか否かによらず、位置91,92に移動したときに像として捉えられる。
また、図13に示すように、第1の像の撮影位置91から第2の像の撮影位置92までの欠陥83の移動距離をydとする。また、ラインカメラ81の正面方向の撮影位置の連なりをセンターライン95と呼ぶことにする。より具体的には、ラインカメラ81の正面方向の撮影位置の連なりを、ガラスリボン82の界面に正射影して得られる直線がセンターライン95である。ydは、撮影した画像(図13の下段の右側を参照)において、第1の像98および第2の像99を、センターライン95に相当する画像内のライン96に正射影したときの像98,99の距離に基づいて、測定することができる。
画像に基づいて、ydの値を測定したならば、屈折角βを用いて、以下に示す式(2)を計算することにより、欠陥83の高さ方向位置dを求めることができる。
d=yd/(2・tanβ) 式(2)
また、ラインカメラ81から第1の像の撮影位置91へ向かう直線をガラスリボンの界面に正射影した直線と、センターライン95とのなす角をθとする。このとき、撮影した画像(図13の下段の右側を参照)において、第1の像98および第2の像99の各中心を通る直線と、ライン96とのなす角もθである。なお、このとき、tanθは、以下のように算出することができる。以下、図13の下段の左側の上面図に示すycについて説明した上で、tanθの計算について説明する。
図13では、欠陥83がラインカメラ81の正面からずれている場合を示した。図14に示すように、欠陥83がラインカメラ81の正面に存在すると仮定した場合に、第2の像が撮影される位置92をガラスリボン82の界面に正射影した位置と、ラインカメラ81のレンズ部分をガラスリボン82の界面に正射影した位置との距離を撮像距離ycと呼ぶことにする。ただし、撮像距離ycは、欠陥83の高さ方向位置dにより変化する。dが最大になるとき、撮像距離は最小値y1となり、dが最小となるときに、撮像距離ycは最大値y2となる(図14の上段に示す側面図を参照)。すなわち、y1≦yc≦y2である。このように、ycは、厳密にはdに依存するが、ycは、例えば、y1≦yc≦y2の範囲で、予め定めておいてよい。ycが正確な値でなくても、y1≦yc≦y2の範囲の値であれば、tanθには無視し得る誤差しか含まれない。
また、ラインカメラの正面方向からの欠陥83のずれをxccと記す(図13の下段の左側を参照)。xccは、撮影した画像(図13の下段の右側を参照)において、センターライン95に相当するライン96から第2の像99までの距離に基づいて特定することができる。すなわち、画像内において、ライン96から第2の像99までの距離に相当するピクセル数をカウントする。ラインカメラ81の位置が固定であることから、1ピクセル当たりの実空間での距離も固定値として定められる。ライン96から第2の像99までの距離に相当するピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗じることにより、xccの長さを算出することができる。
ここで、tanθは、ycおよびxccを用いて、以下の式(3)に示すように、近似式で表すことができる。すなわち、tanθは、ycおよびxccを用いて式(3)の計算によって求めることができる。
また、特許文献8には、ガラス板を移動させながら、ガラス板に光を入射させ、その入射光および反射光で欠陥を検出し、欠陥の高さ方向位置を演算する方法が記載されている。特許文献8に記載の方法では、欠陥のパターンを検出した場合、ガラス板の移動方向にほぼ同一の大きさのパターンがない場合、すなわち、ガラス板の裏面近くに欠陥が存在する場合や欠陥が大きい場合、その欠陥の高さ方向位置を0と判定する。このため、特許文献8に記載の方法では、上記の場合、欠陥の高さ方向の位置を正確に求めることが出来ない。
前述の第1の測定方法では、カメラの焦点を調節して、カメラから欠陥までの絶対的な距離を算出することにより、ガラスリボン内での欠陥の高さ方向位置を求める。しかし、ガラスリボンは、搬送中に上下に振動することがある。そのため、第1の測定方法では、ガラスリボンの上下の振動によって、欠陥の高さ方向位置の測定結果に誤差が生じやすいという問題がある。
第2の測定方法や第3の測定方法では、撮影した画像内で2つの像が重なっていないことを条件に、欠陥の高さ方向位置を計算する。従って、図11Bに示すように、画像内で2つの像84,85が重なっていなければ、欠陥の高さ方向位置を計算することができる。しかし、欠陥がガラスリボンの界面付近に存在する場合や、欠陥が大きい場合には、同一の欠陥の2つの像が重なる。2つの像が重なると、第2の測定方法や第3の測定方法では、欠陥の高さ方向位置を計算できない。
なお、第3の測定方法では、欠陥がガラスリボンの界面付近に存在する場合、図12Bに示すように、その界面とは反対側のラインカメラで撮影された画像では、2つの像が重なってしまうが、欠陥が存在する側のラインカメラで撮影された画像では、2つの画像は重ならない。この場合、2つの画像のうち、像が重なってない画像に基づいて、欠陥の高さ方向位置を計算することができる。
しかし、第3の測定方法においても、欠陥が大きい場合には、2つのラインカメラ81a,81b(図12A参照)で撮影した各画像において、2つの像が重なってしまうこともある。その場合には、欠陥の高さ方向位置を計算することができない。
そこで、本発明は、ガラスリボンの界面付近に欠陥が存在する場合や、欠陥が大きい場合であっても、ガラスリボン内の欠陥の高さ方向位置を測定することができるガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システムを提供することを目的とする。
本発明によるガラスリボン内欠陥測定方法は、搬送されるガラスリボン(例えば、ガラスリボン5)に光源(例えば、光源2)から光を照射し、ガラスリボンで反射した光が到達する位置に配置された撮影手段(例えばラインカメラ3)によって、ガラスリボンを撮影する撮影ステップと、撮影手段で撮影された画像内における、ガラスリボンの同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像であって、その欠陥の種類に固有の形状の2つの像の位置関係に基づいて、ガラスリボン内での欠陥の高さ方向位置を算出する演算ステップとを含むことを特徴とする。
演算ステップで、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像(例えば、像21,22)の一方の像の撮像位置から他方の像の撮像位置までの欠陥の移動距離(例えば、yd)を計算し、計算した移動距離と、ガラスリボン内での光の屈折角とにより、ガラスリボン内での欠陥の高さ方向位置を算出する方法であってもよい。
演算ステップで、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像(例えば、像21,22)の外接矩形における、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さ(例えば、h)から、搬送方向に平行な欠陥の径の長さ(例えば、s)を減算することにより移動距離を算出する方法であってもよい。
演算ステップで、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像(例えば、像21,22)の外接矩形における、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さ(例えば、h)から、搬送方向に平行な欠陥の径の長さ(例えば、s)を減算することにより移動距離を算出する方法であってもよい。
演算ステップで、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像の位置関係から、ガラスリボンの幅方向における像の位置を変数(例えば、変数u)として含む、予め定められた算出式(例えば、式(4)や式(5))を用いて、欠陥の特徴量(例えば、sやr)を算出し、当該特徴量を用いて、移動距離を算出する方法であってもよい。
特徴量は、ガラスリボンの搬送方向に平行な欠陥の径の長さ(例えば、s)であり、2つの重なり合う像の外接矩形における搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さからその径の長さを減算することにより移動距離を算出する方法であってもよい。
特徴量は、欠陥の2つの径の比(例えば、r)であり、撮影手段の正面方向の撮影位置に相当する画像内のラインと、2つの像の各中心を通過するラインとのなす角と、上記の比とにより、移動距離を算出する方法であってもよい。
また、本発明によるガラスリボン内欠陥測定システムは、欠陥の高さ方向位置の測定対象となるガラスリボンを搬送する搬送手段(例えば、搬送ローラ1)と、ガラスリボンに光を照射する光源(例えば、光源2)と、ガラスリボンで反射した光が到達する位置に配置され、ガラスリボンを撮影する撮影手段(例えば、ラインカメラ3)と、撮影手段で撮影された画像内における、ガラスリボンの同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像であって、欠陥の種類に固有の形状の2つの像の位置関係に基づいて、ガラスリボン内での欠陥の高さ方向位置を算出する演算手段(例えば、演算装置4)とを備えることを特徴とする。
演算手段が、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像の一方の像の撮像位置から他方の像の撮像位置までの欠陥の移動距離(例えば、yd)を計算し、計算した移動距離と、ガラスリボン内での光の屈折角とにより、ガラスリボン内での欠陥の高さ方向位置を算出する構成であってもよい。
演算手段が、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像の外接矩形における、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さ(例えば、h)から、搬送方向に平行な欠陥の径の長さ(例えば、s)を減算することにより移動距離を算出する構成であってもよい。
演算手段が、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像の外接矩形における、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さ(例えば、h)から、搬送方向に平行な欠陥の径の長さ(例えば、s)を減算することにより移動距離を算出する構成であってもよい。
演算手段が、同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像の位置関係から、ガラスリボンの幅方向における像の位置を変数(例えば、変数u)として含む、予め定められた算出式(例えば、式(4)や式(5))を用いて、欠陥の特徴量(例えば、sやr)を算出し、当該特徴量を用いて、移動距離を算出する構成であってもよい。
本発明によれば、ガラスリボンの界面付近に欠陥が存在する場合や、欠陥が大きい場合であっても、ガラスリボン内の欠陥の高さ方向位置を測定することができる。
以下、本発明の実施の形態を図面を参照して説明する。本発明では、ガラスリボン内における高さ方向位置を測定する対象となる欠陥の種別は既知であるとする。また、この欠陥を撮影して得られる画像内の像は、特徴的な点(以下、特徴点と記す。)を含む定形の像であるものとする。換言すれば、本願における高さ方向位置の計測対象となる欠陥は、特徴点を含む定形の像として撮影されるという条件を満たした欠陥である。このような欠陥の例として、ガラスリボン内の泡が挙げられる。泡はガラスリボン内で楕円体となっている。そして、泡は、中心が白色の楕円形の像として画像上に写され、中心の白色部分を特徴点として用いることができる。以下の実施の形態では、欠陥が泡である場合を例にして説明する。
[実施の形態1]
図1は、本発明のガラスリボン内欠陥測定システムの構成例を示す模式図である。本発明のガラスリボン内欠陥測定システムは、搬送ローラ1と、光源2と、ラインカメラ3と、演算装置4とを備える。
図1は、本発明のガラスリボン内欠陥測定システムの構成例を示す模式図である。本発明のガラスリボン内欠陥測定システムは、搬送ローラ1と、光源2と、ラインカメラ3と、演算装置4とを備える。
搬送ローラ1は、ガラスリボン5を支持し、ガラスリボン5を一定方向に一定速度で搬送する。なお、ガラスリボン5の製造方法として、例えば、フロート法が挙げられる。ガラスリボン5は、製造時における主要な延伸方向に沿って、搬送ローラ1で搬送される。ガラスリボンの主要な延伸方向とは、ガイド部材によるガラスリボンの幅方向への延伸ではなく、ガラスリボンの進行方向に沿った延伸の方向を意味する。以下、ガラスリボンの主要な延伸方向を、単にガラスリボンの延伸方向と記す。また、本発明では、ガラスリボン5における搬送ローラ1側の表面から欠陥(泡)までの高さ方向位置(距離)を測定する。
光源2は、ガラスリボン5の2つの面のうち、一方の面の側に配置され、ガラスリボン5に向けて光を照射する。この光は、界面8からガラスリボン5に入射し、ガラスリボン内を通過して入射側とは反対側の界面9で反射する。反射した光は、入射側の界面8を通過してラインカメラ3に到達する。なお、図1では光の経路を簡略化して示しているが、図13の上段の側面図に示したように、光の経路は、光が界面8に入射するとき、および、界面9での反射後に界面8を通過するときに、それぞれ屈折する。
ラインカメラ3は、光源2から照射されてガラスリボン5で反射した光が到達する位置に配置される。具体的には、ガラスリボン5を基準として、光源2と同じ側に配置される。また、例えば、ラインカメラ3は、光源2を基準として、ガラスリボン5の搬送方向に配置される。そして、ラインカメラ3は、ガラスリボン5の内部を撮影し、撮影結果として画像を生成する。
光源2およびラインカメラ3の配置位置が定まっていることにより、光の経路において入射角α(図13の上段を参照)も固定値として決まっている。さらに、ガラスリボン5の屈折率nも既知であり、式(1)を解くことにより、光源2からラインカメラ3までの光の経路における屈折角βの値も固定値として決定されているものとする。
ガラスリボン5は搬送され、ラインカメラ3は固定位置でガラスリボン5の撮影を行い続ける。従って、時間経過とともに、ガラスリボン5において、撮影される箇所が変化する。よって、ラインカメラ3の正面方向の撮影位置の連なりを、ガラスリボン5の界面8に正射影すると直線として表される。この直線をセンターラインと呼ぶこととする。図2Aは、センターラインを示す説明図であり、図2Bは、画像内におけるセンターラインに相当するラインを示す説明図である。図2Aは、ガラスリボン5の上面図である。ガラスリボン5の搬送に伴いラインカメラ3の正面の撮影位置が変化し、その連なりの界面への正射影をセンターライン95として図示している。また、図2Bは、ラインカメラ3によって撮影した画像を表す。画像内において、センターライン95に相当するライン96を、一点鎖線で示している。このライン96は、ラインカメラ3の正面方向の撮影位置に対応する画素の連なりということができる。また、センターライン95は、ガラスリボン5の搬送方向と平行であり、センターライン95に相当する画像内のライン96は、画像内における、ガラスリボン5の搬送方向に相当する方向を表しているということができる。センターライン95に相当する画像内のライン96を、搬送方向ラインと記す。なお、図2Bでは、説明のために搬送方向ライン96を図示したが、実際の撮影画像において搬送方向ライン96が画像内に写っているわけではない。
ガラスリボン5内に欠陥(本例では泡)が存在する場合、1つの欠陥に起因して、ラインカメラ3が撮影する画像内では、その欠陥の像が2つ現れる。また、本例では、欠陥が泡であるので、画像内に現れる像は楕円形であり、その中心部は白色となっている。
演算装置4は、ラインカメラ3によって撮影された画像を参照して、欠陥の高さ方向位置を測定する。この欠陥の高さ方向位置は、図13の上段の側面図において“d”として示した長さである。すなわち、ガラスリボン5において、光源2とは反対側の界面9から欠陥までの距離である。演算装置4は、共通の欠陥を撮影して得られた対になる像が重なり合っている場合に、欠陥の種類(本例では泡)に固有の形状の像(すなわち、楕円形の像)の位置関係に基づいて、ガラスリボン5内における欠陥の高さ方向位置を算出する。具体的には、演算装置4は、画像内において2つの重なり合う像の外接矩形における、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での距離から、欠陥(泡)の径のうち、搬送方向に平行な径の長さを減算した値を計算する。なお、画像内において、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行であるということは、搬送方向ライン96(図2B参照)に平行であるということである。演算装置4は、上記の減算によって求めた値と、ガラスリボン5での屈折角βとにより、欠陥の高さ方向位置を算出する。この計算については、図5を参照して、後述する。
また、ガラスリボン内の泡の長径は、搬送ローラ1による搬送方向(換言すれば、ガラスリボン5の延伸方向)と略平行となっている。図3に示すように、泡の長径72の方向と搬送ローラ1によるガラスリボン5の搬送方向71とのずれは、最大で10°である。このように、泡の長径72と搬送ローラ1による搬送方向71とは、略平行であるので、ラインカメラ3が撮影した画像においても、楕円形として表れる欠陥の像の長径と、搬送方向ライン96(図2B参照)も略平行となる。以下、撮影した画像において、欠陥の像の長径と搬送方向ライン96とが平行になっている場合を例にして説明する。
なお、対になる像が重なり合っていない場合には、演算装置4は、公知の方法によって、欠陥の高さ方向位置を算出すればよい。
また、ラインカメラ3の配置位置は固定される。従って、ラインカメラ3が撮影した画像における1ピクセル分に応じた実空間における距離も固定値として定められる。画像における1ピクセル分に応じた実空間における距離は、既知であるものとする。
次に、動作について説明する。図4は、本実施の形態におけるガラスリボン内欠陥測定システムの処理経過の例を示すフローチャートである。
まず、光源2がガラスリボン5に対して光の照射を開始する(ステップS1)。
そして、搬送ローラ1は、搬送ローラ1上に配置されたガラスリボン5を一定方向に搬送し、ラインカメラ3は、搬送されるガラスリボン5の内部の撮影を継続し続ける。そして、ラインカメラ3は、撮影結果として、画像を生成する(ステップS2)。ラインカメラ3は、撮影により得た画像を演算装置4に送信する。
ガラスリボン5の内部に欠陥が存在する場合、ステップS2で得られた画像には、欠陥の像が含まれる。本例では、欠陥が泡であるので、画像内には楕円形の像が写される。また、図13で説明したように、欠陥が反射前の光の経路と重なる位置(図13の上段の側面図に示す位置91)に移動したときと、欠陥が反射後の光の経路と重なる位置(図13の上段の側面図に示す位置92)に移動したときに、それぞれ像として画像に写される。従って、1つの欠陥が存在する場合、画像には2つの像が写る。また、欠陥が大きい場合や、欠陥がガラスリボン5の界面9(図1参照)の付近に存在する場合には、その2つの像は重なり合う。
演算装置4は、ステップS2で生成された画像を受信すると、画像中から、2つの重なり合う像の外接矩形の領域を検出する。そして、その外接矩形の辺のうち、画像内において、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向と平行な辺(すなわち、画像内の搬送方向ラインと平行な辺)のピクセル数をカウントする。そして、演算装置4は、その辺のピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算することによって、その辺のピクセル数に応じた実空間での長さを算出する(ステップS3)。
図5は、2つの重なり合う像の外接矩形の領域を示す説明図である。図5に示すように、重なり合う2つの像21,22の外接矩形として、図5に示す外接矩形23が定まる。像21,22は、楕円であり、合同であるとみなすことができる。図5に示す例では、外接矩形23の長辺が、搬送方向ライン(図2B参照)と平行であるとものとする。この場合、演算装置4は、像21,22の外接矩形23の長辺24のピクセル数をカウントし、そのピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算する。この長辺24に応じた実空間での長さを“h”で表す。hの単位は、例えばμmである。
また、欠陥が泡である場合、像21の中心部21aは、画像上において白色となっている。この中心部21aは、像21の特徴点である。演算装置4は、一方の像21の中心部21aから、外接矩形23の短辺のうち近い方の短辺までのピクセル数をカウントする。すなわち、図5おいて符号Aで示す部分のピクセル数をカウントする。演算装置4は、そのピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算する。この乗算結果は、図5に示すAに相当する部分に応じた実空間での長さであり、具体的には、搬送方向に平行な欠陥の径(欠陥の径のうち、搬送方向に平行な径)の1/2の長さである。図5に示す例では、この径は、欠陥の長径である。演算装置4は、上記の乗算結果を2倍することによって、搬送方向に平行な欠陥の径の長さを算出する(ステップS4)。この欠陥の径の長さをsとする。sの単位は、例えばμmである。実空間におけるs/2の長さに対応する画像内での箇所が、図5おいて符号Aで示す部分である。また、2つの像21,22は合同であるとみなすことができるので、図5において、A=A’とみなすことができる。
なお、ここでは、像21の中心部21aを用いてsを計算する場合を例にして説明したが、像22の中心部を用いてsを計算してもよい。
また、図5では、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが平行になっている場合を例にして説明しているが、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが完全には平行となっていない場合もある。しかし、ガラスリボン内の泡の長径とガラスリボンの搬送方向とのずれは最大でも10°しかない(図3参照)。よって、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが完全には平行になっていなくても、両者が平行になっているとみなして、上記のステップS3,S4と同様にh,sを計算してよい。すなわち、hを求める際には、重なり合う2つの像の外接矩形の長辺のピクセル数をカウントし、そのピクセル数に1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算すればよい。また、sを求める際には、一方の像の中心部から外接矩形の短辺のうち近い方の短辺までのピクセル数をカウントし、そのピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算し、その乗算結果を2倍すればよい。欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが完全には平行になっていなくても、上記のようにh,sを計算し、そのh,sを用いて欠陥の高さ方向位置を計算しても、無視し得る程度の誤差しか含まれない。
次に、演算装置4は、ステップS3で算出したhから、ステップS4で算出したsを減算する(ステップS5)。この減算結果をydとする。ydは、1つ目の像が撮影された位置から、2つ目の像が撮影された位置までの欠陥の移動距離である。すなわち、ステップS5で算出されるydは、欠陥の像が撮影される2点間の距離である。なお、実空間におけるydの長さに対応する画像内での箇所が、図5において符号Bで示す部分である。
演算装置4は、ステップS5で算出されたydと、予め定められた屈折角βとを用いて、式(2)の計算を行い、欠陥の高さ方向位置dを計算する。すなわち、yd/(2・tanβ)を計算し、その計算結果をdとする(ステップS6)。欠陥の高さ方向位置dは、ガラスリボン5の界面9(図1参照)から欠陥までの距離である。
本実施の形態によれば、同一の欠陥に起因する2つの像が重なり合っていてもその欠陥の高さ方向位置を測定することができる。従って、ガラスリボンの界面付近に欠陥が存在する場合や、欠陥が大きい場合であっても、ガラスリボン内の欠陥の高さ方向位置を測定することができる。
また、ステップS4で算出したsは、欠陥の長径の長さである。また、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが完全には平行になっていない場合であっても、ステップS4で算出したsを欠陥の長径の長さとみなしても、無視し得る程度の誤差しか含まれない。従って、欠陥の大きさ(長径の長さ)も算出することができる。
また、本実施の形態によれば、ガラスリボン5の片側に光源2およびラインカメラ3を配置すればよい。従って、第3の測定方法(図12A参照)と比較して、光源2およびラインカメラ3の設置数を少なくすることができ、測定のために要するコストを低減することができる。
[実施の形態2]
本発明の第2の実施の形態は、第1の実施の形態と同様に、搬送ローラ1と、光源2と、ラインカメラ3と、演算装置4とを備える(図1参照)。ガラスリボン5に対する光源2およびラインカメラ3の位置関係は、第1の実施の形態と同様であり、説明を省略する。第2の実施の形態では、演算装置4による欠陥の高さ方向位置の測定方法が第1の実施の形態と異なる。
本発明の第2の実施の形態は、第1の実施の形態と同様に、搬送ローラ1と、光源2と、ラインカメラ3と、演算装置4とを備える(図1参照)。ガラスリボン5に対する光源2およびラインカメラ3の位置関係は、第1の実施の形態と同様であり、説明を省略する。第2の実施の形態では、演算装置4による欠陥の高さ方向位置の測定方法が第1の実施の形態と異なる。
第2の実施の形態では、演算装置4は、ガラスリボン5内の欠陥の特徴量を算出する。そして、演算装置4は、その特徴量を用いて、重なり合う2つの像の外接矩形における、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さから、ガラスリボンの搬送方向に平行な欠陥の径(欠陥の径のうち、搬送方向に平行な径)の長さを減算した値を計算する。また、演算装置4は、上記の特徴量を計算するときには、重なり合う2つの像の位置関係に基づき、予め定められた計算式を用いて特徴量を計算する。
また、第2の実施の形態では、特徴量として、ガラスリボンの搬送方向に平行な欠陥の径の長さを計算する。
上記の特徴量を算出するための式は、ガラスリボンの端部を基準とする像の特徴点に対応する位置の座標と、第1の実施の形態で説明したhと、2つの重なり合う像の面積とを変数とする関数として予め定めておく。この特徴量(欠陥の径のうち、搬送方向に平行な径)を定めるための計算式は、例えば、以下の式(4)で表すことができる。
s=a1u2+a2h2+a3p2+a4uh+a5hp+a6up+a7u+a8h+a9p+a10 式(4)
式(4)において、“u”は、ガラスリボンの端部を基準とする像の特徴点に対応する位置の座標であり、具体的には、搬送方向に平行なガラスリボンの側面から欠陥の中心までの距離である。ここでは、uの単位はmmであるものとする。“h”は、欠陥を撮影した画像に基づいて、第1の実施の形態におけるステップS3と同じ計算によって得られる値である。ここでは、hの単位はμmであるものとする。pは、欠陥を撮影した画像において、2つの像が占める領域(2つの像の領域の和集合)の面積であり、具体的には、画像内でのピクセル数で表される。式(4)におけるa1〜a10は、係数である。また、式(4)におけるsは、ガラスリボンの搬送方向に平行な欠陥の径である。特徴量となる径sは、ガラスリボンの幅方向の欠陥の位置によって影響を受けやすいので、上記の変数uを含む算出式(例えば、上記の式(4))をsの計算に用いる。
また、撮影した画像において、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが平行になっている場合、上記のsは、欠陥の長径に該当する。ただし、画像において、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが完全には平行になっていない場合であっても、両者はほぼ平行であるので、上記の特徴量sは、欠陥の長径とみなすことができる。このように欠陥の長径とみなしても、無視し得る程度の誤差しか含まれておらず、欠陥の高さ方向位置の算出に影響しない。
式(4)における係数a1〜a10は、最小二乗法によって予め求めておく。具体的には、サンプルとなる欠陥を用いて、s,uを実測する。また、サンプルとなる欠陥を含むガラスリボンに対して、第1の実施の形態で説明したステップS1〜S3と同じ処理を行いhを得る。また、そのときステップS2で得た画像から、2つの像の和集合となる領域のピクセル数pをカウントする。サンプルとなる欠陥を複数個用意して、それらの各欠陥について、このようにs,u,h,pを得る。s,u,h,pの組を複数組得たならば、それらのs,u,h,pの組から、最小二乗法により、式(4)における係数a1〜a10を求めればよい。
sは、u,h,pとの間に相関を有しており、最小二乗法により、式(4)における各係数を求めることができる。
演算装置4は、欠陥の高さ方向位置の測定対象となるガラスリボンを撮影することによって得られた画像から、u,h,pを求め、式(4)に代入することによって、sを算出する。そして、演算装置4は、h−s(=yd)を計算し、その計算結果と屈折角βとを用いて、欠陥の高さ方向位置を算出する。
次に、第2の実施の形態の動作について説明する。図6は、第2の実施の形態におけるガラスリボン内欠陥測定システムの処理経過の例を示すフローチャートである。図4に示す処理と同様の処理に関しては、図4と同一の符号を付し、説明を省略する。
ステップS3でhを算出するまでの動作は、第1の実施の形態と同様である。
図7は、画像内に写されるガラスリボンの例を示す説明図である。欠陥が存在する場合、画像内に欠陥の像21,22も写される。また、図7に示す例では、像の特徴点として、各像21,22の中心部分21a,22aも白色の領域として画像内に現れる。なお、像21,22の外接矩形23を図示しているが、外接矩形23は、画像内に写っているわけではない。
ステップS3の後、演算装置4は、画像内におけるガラスリボンの端部31から、像の特徴点までのピクセル数をカウントする。すなわち、図7において符号Cで示す部分のピクセル数をカウントする。そして、演算装置4は、そのピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算する(ステップS11)。この乗算結果は、実空間におけるガラスリボンの端部(側面)から欠陥までの距離uに該当する。すなわち、ステップS11では、uを算出する。
ただし、上記のステップS11の説明では、説明を簡単にするために、ガラスリボンの端部31が画像内に映っている場合を例にして説明した。ガラスリボンの端部31が画像内に映っていない場合には、以下のようにして、距離uを計算すればよい。ラインカメラ3の設置位置は固定であるので、ガラスリボンの端部から、ラインカメラ3によって撮影された画像内におけるガラスリボン端部側の端までの実空間における距離(u0とする。)は、予め求めておくことができる。そして、演算装置4は、撮影された画像におけるその端の部分から、像の特徴点までの距離を計算する。この計算では、例えば、画像におけるその端の部分から特徴点までのピクセル数をカウントし、そのピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算すればよい。演算装置4は、この距離に、ラインカメラ設置位置により定まるu0を加算することにより、実空間におけるガラスリボンの端部(側面)から欠陥までの距離uを算出すればよい。
なお、図7に示す例では、特徴点として像21の中心部分21aを用い、画像内におけるガラスリボンの端部31から中心部分21aまでの距離を求める場合を例にしている。特徴点として、もう一方の像22の中心部分22aを用いてもよい。どちらの中心部分を特徴点として用いても、実空間におけるガラスリボンの端部(側面)から欠陥までの距離uを求めることができる。特徴点として中心部分21a,22aのどちらを用いるかによりピクセル数のカウント結果が異なるが、その差は僅かであり、距離uには無視し得る誤差しか含まれない。また、特徴点として、外接矩形23内の特徴的な点(例えば、外接矩形23のいずれかの頂点)を用いてもよい。この場合でも、距離uには無視し得る誤差しか含まれない。
ステップS11の後、演算装置4は、重なり合う2つの像21,22が占める領域(2つの像の領域の和集合)の面積として、その領域内のピクセル数pをカウントする(ステップS12)。
そして、演算装置4は、ステップS3,S11,S12で求めたh,u,pを、式(4)に代入することにより、欠陥の径のうち、搬送方向に平行な径sを計算する(ステップS13)。図7に示すように像の長径が搬送方向ラインと平行になっている場合、この径sは、欠陥の長径である。既に説明したように、撮影画像において、像の長径が搬送方向ラインと完全には平行になっていなくても、両者はほぼ平行であるので、ステップS13で計算した径sは、欠陥の長径とみなすことができる。
以降の処理は、第1の実施の形態におけるステップS5,S6と同様である。すなわち、演算装置4は、ステップS3で算出したhから、ステップS13で算出したsを減算することにより、ydを求める(ステップS5)。そして、演算装置4は、ydと、屈折角βとを用いて、式(2)の計算を行い、欠陥の高さ方向位置dを計算する。
第2の実施の形態においても、第1の実施の形態と同様の効果が得られる。また、第2の実施の形態においても、sの値をステップS13で算出するので、欠陥の大きさ(長径)も求めることができる。
[実施の形態3]
本発明の第3の実施の形態は、第1の実施の形態と同様に、搬送ローラ1と、光源2と、ラインカメラ3と、演算装置4とを備える(図1参照)。ガラスリボン5に対する光源2およびラインカメラ3の位置関係は、第1の実施の形態と同様であり、説明を省略する。
本発明の第3の実施の形態は、第1の実施の形態と同様に、搬送ローラ1と、光源2と、ラインカメラ3と、演算装置4とを備える(図1参照)。ガラスリボン5に対する光源2およびラインカメラ3の位置関係は、第1の実施の形態と同様であり、説明を省略する。
第3の実施の形態においても、演算装置4は、ガラスリボン5内の欠陥の特徴量を算出し、その特徴量を用いて、ydを計算する。ただし、第2の実施の形態では、特徴量として欠陥の径sを算出したが、第3の実施の形態では、欠陥の2つの径の比を計算する。具体的には、演算装置4は、欠陥の径のうち、搬送方向に直交する方向の径に対する、搬送方向の径の割合を欠陥の特徴量として求める。すなわち、欠陥の径のうち、搬送方向に直交する方向の径をr1とし、搬送方向の径をr2とすると、r2/r1を特徴量として計算する。以下、r2/r1をrと記す。
なお、撮影した画像において、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが平行になっている場合、上記のr1は欠陥の短径に該当し、r2は欠陥の長径に該当する。すなわち、特徴量rとして、「長径/短径」を計算することになる。ただし、画像において、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが完全には平行になっていない場合であっても、両者はほぼ平行であるので、上記のr1を欠陥の短径とみなし、上記のr2を欠陥の長径とみなすことができる。すなわち、画像において、欠陥の像の長径と搬送方向ラインとが完全には平行になっていない場合であっても、特徴量として計算したrを欠陥の「長径/短径」とみなすことができる。このようにみなしても、rには無視し得る程度の誤差しか含まれず、欠陥の高さ方向位置の算出に影響しない。
演算装置4は、欠陥の特徴量としてrを算出した後、そのrを用いて、yd(1つ目の像が撮影された位置から、2つ目の像が撮影された位置までの欠陥の移動距離)を求める。
また、演算装置4は、上記の特徴量rを計算するときには、重なり合う2つの像の位置関係に基づき、予め定められた計算式を用いて特徴量を計算する。
この特徴量rを算出するための式は、ガラスリボンの端部を基準とする像の特徴点に対応する位置の座標と、第1の実施の形態で説明したhと、2つの重なり合う像の面積とを変数とする関数として予め定めておく。特徴量rを求めるための計算式は、例えば、以下の式(5)で表すことができる。
r=b1u2+b2h2+b3p2+b4uh+b5hp+b6up+b7u+b8h+b9p+b10 式(5)
この関数における変数u,h,pは、第2の実施の形態で示した式(4)における変数u,h,pと同様である。すなわち、“u”は、搬送方向に平行なガラスリボンの側面から欠陥の中心までの距離である。“h”は、欠陥を撮影した画像に基づいて、第1の実施の形態におけるステップS3と同じ計算によって得られる値である。pは、欠陥を撮影した画像において、2つの像が占める領域(2つの像の領域の和集合)の面積であり、具体的には、画像内でのピクセル数で表される。式(5)におけるb1〜b10は、係数である。特徴量rは、ガラスリボンの幅方向の欠陥の位置によって影響を受けやすいので、上記の変数uを含む算出式(例えば、上記の式(5))をrの計算に用いる。
式(5)における係数b1〜b10は、最小二乗法によって予め求めておく。具体的には、サンプルとなる欠陥を用いて、r,uを実測する。また、サンプルとなる欠陥を含むガラスリボンに対して、第1の実施の形態で説明したステップS1〜S3と同じ処理を行いhを得る。また、そのときステップS2で得た画像から、2つの像の和集合となる領域のピクセル数pをカウントする。サンプルとなる欠陥を複数個用意して、それらの各欠陥について、このようにr,u,h,pを得る。r,u,h,pの組を複数組得たならば、それらのr,u,h,pの組から、最小二乗法により、式(5)における係数b1〜b10を求めればよい。
rは、u,h,pとの間に相関を有しており、最小二乗法により、式(5)における各係数を求めることができる。
演算装置4は、欠陥の高さ方向位置の測定対象となるガラスリボンを撮影することによって得られた画像から、u,h,pを求め、式(5)に代入することによってrを算出する。
また、演算装置4は、撮影された画像において、搬送方向ライン96と、2つの像の中心を通過するラインとのなす角をθとしたときに、tanθの値を求める。そして、演算装置4は、h,u,r,tanθを用いて、ydを計算する。演算装置4は、そのydと屈折角βとを用いて、欠陥の高さ方向位置を算出する。
次に、第3の実施の形態の動作について説明する。図8は、第3の実施の形態におけるガラスリボン内欠陥測定システムの処理経過の例を示すフローチャートである。第1の実施の形態や第2の実施の形態と同様の処理に関しては、図4や図6と同一の符号を付し、説明を省略する。
ステップS12でpを求めるまでの動作(ステップS1,S2,S3,S11,S12)は、第2の実施の形態と同様である。
ステップS12の後、演算装置4は、ステップS3,S11,S12で求めたh,u,pを、式(5)に代入することにより、r(すなわち、欠陥の径のうち、搬送方向に直交する方向の径の長さに対する、搬送方向の径の長さの割合)を計算する(ステップS21)。
図9は、画像内に写されるガラスリボンの例を示す説明図である。図7と同様の要素については、図7と同一の符号を付し、説明を省略する。
ステップS21の後、演算装置4は、2つの重なり合う像21,22の外接矩形23の辺のうち、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向と直交する辺(換言すれば、画像における搬送方向ラインと直交する辺)のピクセル数をカウントする。すなわち、図9において符号Dで示す部分のピクセル数をカウントする。そして、演算装置4は、そのピクセル数に、1ピクセル当たりの実空間での距離を乗算する(ステップS22)。この結果得られる長さをwと記す。すなわち、wは、図9において符号Dで示す部分に対応する実空間での長さである。
また、演算装置4は、外接矩形の辺のうち、ガラスリボンの搬送方向に相当する方向と平行な辺と、2つの像21,22の中心部分21a,22aを通過するラインとのなす角θの正接であるtanθを求める(ステップS23)。
θは、2つの像21,22の中心部分21a,22aを通過するラインと、搬送方向ラインとのなす角であるということもできる。従って、演算装置4は、例えば、予めyc(図14参照)の値を定めておき、xccを既に説明した方法で計算し、式(3)の計算を行うことによってtanθを計算してもよい。あるいは、他の方法でtanθを計算してもよい。
次に、演算装置4は、ステップS23までの処理で算出済みであるh,r,w,tanθを用いて、ydを算出する(ステップS24)。具体的には、演算装置4は、以下に示す式(6)の計算を行うことによって、ydを計算すればよい。
yd=(h−r・w)/(1−r・tanθ) 式(6)
演算装置4は、上記のydと、予め定められた屈折角βとを用いて、式(2)の計算を行い、欠陥の高さ方向位置dを計算する(ステップS25)。この計算は、第1の実施の形態におけるステップS6と同様である。
なお、ステップS25で、欠陥の高さ方向位置を求めて処理を終了としてもよい。また、他の実施の形態と同様に、搬送方向に平行な欠陥の径の長さを算出する場合には、演算装置4は、hからydを減算することによってsを算出すればよい(ステップS26)。
第3の実施の形態においても、第1の実施の形態や第2の実施の形態と同様の効果が得られる。また、第3の実施の形態では、欠陥の特徴量として、欠陥の径の比であるrを得ることもできる。
上記の各実施形態において、演算装置4は、例えば、プログラムに従って動作するコンピュータによって実現される。例えば、コンピュータが、プログラムに従って、演算装置4として動作してもよい。
また、上記の各実施形態では、欠陥が泡である場合を例にしたが、本発明が測定対象とする欠陥は、泡に限定されず、特徴点を含む定形の像として撮影されるという条件を満たした欠陥であればよい。このような欠陥として、泡以外に異物等が挙げられる。
本発明は、ガラスリボン内部の欠陥の高さ方向位置等の測定に好適に適用される。
本出願を詳細にまた特定の実施態様を参照して説明したが、本発明の精神と範囲を逸脱することなく様々な変更や修正を加えることができることは当業者にとって明らかである。
本出願は、2010年12月9日出願の日本特許出願(特願2010-275048)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
本出願は、2010年12月9日出願の日本特許出願(特願2010-275048)に基づくものであり、その内容はここに参照として取り込まれる。
1 搬送ローラ
2 光源
3 ラインカメラ
4 演算装置
5 ガラスリボン
2 光源
3 ラインカメラ
4 演算装置
5 ガラスリボン
Claims (10)
- 搬送されるガラスリボンに光源から光を照射し、前記ガラスリボンで反射した光が到達する位置に配置された撮影手段によって、前記ガラスリボンを撮影する撮影ステップと、
前記撮影手段で撮影された画像内における、前記ガラスリボンの同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像であって、前記欠陥の種類に固有の形状の2つの像の位置関係に基づいて、前記ガラスリボン内での前記欠陥の高さ方向位置を算出する演算ステップとを含む
ことを特徴とするガラスリボン内欠陥測定方法。 - 前記演算ステップで、前記2つの重なり合う像の一方の像の撮像位置から他方の像の撮像位置までの欠陥の移動距離を計算し、
計算した前記移動距離と、前記ガラスリボン内での光の屈折角とにより、前記ガラスリボン内での前記欠陥の高さ方向位置を算出する
請求項1に記載のガラスリボン内欠陥測定方法。 - 前記演算ステップで、前記2つの重なり合う像の外接矩形における、前記ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さから、前記搬送方向に平行な欠陥の径の長さを減算することにより前記移動距離を算出する
請求項2に記載のガラスリボン内欠陥測定方法。 - 前記演算ステップで、前記2つの重なり合う像の位置関係から、前記ガラスリボンの幅方向における像の位置を変数として含む、予め定められた算出式を用いて、前記欠陥の特徴量を算出し、当該特徴量を用いて、前記移動距離を算出する
請求項2に記載のガラスリボン内欠陥測定方法。 - 前記特徴量は、前記ガラスリボンの搬送方向に平行な欠陥の径の長さであり、前記2つの重なり合う像の外接矩形における前記搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さから前記径の長さを減算することにより前記移動距離を算出する
請求項4に記載のガラスリボン内欠陥測定方法。 - 前記特徴量は、前記欠陥の2つの径の比であり、前記撮影手段の正面方向の撮影位置に相当する画像内のラインと、前記2つの像の各中心を通過するラインとのなす角と、前記比とにより、前記移動距離を算出する
請求項4に記載のガラスリボン内欠陥測定方法。 - 欠陥の高さ方向位置の測定対象となるガラスリボンを搬送する搬送手段と、
前記ガラスリボンに光を照射する光源と、
前記ガラスリボンで反射した光が到達する位置に配置され、前記ガラスリボンを撮影する撮影手段と、
前記撮影手段で撮影された画像内における、前記ガラスリボンの同一の欠陥に起因する2つの重なり合う像であって、前記欠陥の種類に固有の形状の2つの像の位置関係に基づいて、前記ガラスリボン内での前記欠陥の高さ方向位置を算出する演算手段とを備える
ことを特徴とするガラスリボン内欠陥測定システム。 - 演算手段は、
前記2つの重なり合う像の一方の像の撮像位置から他方の像の撮像位置までの欠陥の移動距離を計算し、
計算した前記移動距離と、前記ガラスリボン内での光の屈折角とにより、前記ガラスリボン内での前記欠陥の高さ方向位置を算出する
請求項7に記載のガラスリボン内欠陥測定システム。 - 演算手段は、
前記2つの重なり合う像の外接矩形における、前記ガラスリボンの搬送方向に相当する方向に平行な辺のピクセル数に応じた実空間での長さから、前記搬送方向に平行な欠陥の径の長さを減算することにより前記移動距離を算出する
請求項7に記載のガラスリボン内欠陥測定システム。 - 演算手段は、
前記2つの重なり合う像の位置関係から、前記ガラスリボンの幅方向における像の位置を変数として含む、予め定められた算出式を用いて、前記欠陥の特徴量を算出し、当該特徴量を用いて、前記移動距離を算出する
請求項7に記載のガラスリボン内欠陥測定システム。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2010275048 | 2010-12-09 | ||
JP2010275048 | 2010-12-09 | ||
PCT/JP2011/078203 WO2012077683A1 (ja) | 2010-12-09 | 2011-12-06 | ガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システム |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2012077683A1 true JPWO2012077683A1 (ja) | 2014-05-19 |
Family
ID=46207171
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2012547876A Pending JPWO2012077683A1 (ja) | 2010-12-09 | 2011-12-06 | ガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システム |
Country Status (5)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPWO2012077683A1 (ja) |
KR (1) | KR20130140058A (ja) |
CN (1) | CN103250047A (ja) |
TW (1) | TW201233993A (ja) |
WO (1) | WO2012077683A1 (ja) |
Families Citing this family (20)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US9790465B2 (en) | 2013-04-30 | 2017-10-17 | Corning Incorporated | Spheroid cell culture well article and methods thereof |
KR102233060B1 (ko) * | 2013-12-19 | 2021-03-30 | 코닝 인코포레이티드 | 사실상 원통형인 경면 반사면의 형상을 결정하기 위한 방법 |
CN103791835A (zh) * | 2014-01-26 | 2014-05-14 | 扬州苏庆非标装备研发有限公司 | 条状光学玻璃截面轮廓及体积检测方法 |
CN104655646A (zh) * | 2014-04-24 | 2015-05-27 | 东旭集团有限公司 | 玻璃基板内部缺陷检查系统及所处高度位置的检查方法 |
DE102014005932A1 (de) * | 2014-04-25 | 2015-10-29 | Boraident Gmbh | Verfahren und Vorrichtung zur Selektion und Detektion von Nickelsulfid-Einschlüssen in Glas |
EP3212759A1 (en) | 2014-10-29 | 2017-09-06 | Corning Incorporated | Cell culture insert |
KR102575017B1 (ko) | 2016-11-17 | 2023-09-05 | 삼성디스플레이 주식회사 | 유리 기판의 결함 검출 방법 |
EP3652292A1 (en) | 2017-07-14 | 2020-05-20 | Corning Incorporated | Cell culture vessel for 3d culture and methods of culturing 3d cells |
US11857970B2 (en) | 2017-07-14 | 2024-01-02 | Corning Incorporated | Cell culture vessel |
US11345880B2 (en) | 2017-07-14 | 2022-05-31 | Corning Incorporated | 3D cell culture vessels for manual or automatic media exchange |
CN110998298B (zh) * | 2017-08-24 | 2023-01-06 | 日本电气硝子株式会社 | 板状玻璃的制造方法 |
WO2019041087A1 (zh) * | 2017-08-28 | 2019-03-07 | 深圳市兴华炜科技有限公司 | 透明物体的测试方法及相关产品 |
CN109060819B (zh) * | 2018-07-06 | 2021-03-30 | 中国飞机强度研究所 | 一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法 |
JP7171695B2 (ja) | 2018-07-13 | 2022-11-15 | コーニング インコーポレイテッド | 液体培地送達面を含む側壁を有するマイクロキャビティ皿 |
EP3649227A1 (en) | 2018-07-13 | 2020-05-13 | Corning Incorporated | Fluidic devices including microplates with interconnected wells |
PL3649229T3 (pl) | 2018-07-13 | 2021-12-06 | Corning Incorporated | Naczynia do hodowli komórkowych ze stabilizującymi urządzeniami |
US11878928B2 (en) | 2019-02-06 | 2024-01-23 | Corning Incorporated | Methods of processing a viscous ribbon |
CN111487191A (zh) * | 2020-04-26 | 2020-08-04 | 山东创策电气科技有限公司 | 基于图像处理的钢化玻璃自爆隐患检测方法及装置 |
TW202217240A (zh) * | 2020-08-04 | 2022-05-01 | 美商康寧公司 | 用於檢查材料的方法和裝置 |
KR102502540B1 (ko) * | 2021-01-30 | 2023-02-21 | 주광철 | 카메라를 이용한 변위량 측정 방법 |
Family Cites Families (14)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS54106289A (en) * | 1978-02-07 | 1979-08-21 | Nippon Sheet Glass Co Ltd | Defect detector for glass sheet |
FR2697086B1 (fr) * | 1992-10-20 | 1994-12-09 | Thomson Csf | Procédé et dispositif d'inspection de matériau transparent. |
JPH0961139A (ja) * | 1995-08-22 | 1997-03-07 | Asahi Glass Co Ltd | 透明体の欠点検出方法及び装置 |
US6930772B2 (en) * | 2001-07-05 | 2005-08-16 | Nippon Sheet Glass Company, Limited | Method and device for inspecting defect of sheet-shaped transparent body |
CN1193222C (zh) * | 2001-07-12 | 2005-03-16 | 虹光精密工业股份有限公司 | 用于扫描装置上检测透光式底片上缺陷的方法 |
JP2004233338A (ja) * | 2003-01-08 | 2004-08-19 | Tdk Corp | 円盤状基板の欠陥検出方法、その装置及び光ディスク用基板の製造方法 |
TWI270670B (en) * | 2003-05-12 | 2007-01-11 | De & T Co Ltd | Lighting apparatus for inspecting substrate |
KR100535569B1 (ko) * | 2003-05-31 | 2005-12-08 | 삼성코닝정밀유리 주식회사 | 유리 기판에 존재하는 결함의 깊이방향 위치 검출방법 |
JP4793266B2 (ja) * | 2004-11-24 | 2011-10-12 | 旭硝子株式会社 | 透明板状体の欠陥検査方法および装置 |
JP2007248292A (ja) * | 2006-03-16 | 2007-09-27 | Olympus Corp | 外観検査装置 |
JP4878907B2 (ja) * | 2006-05-08 | 2012-02-15 | 三菱電機株式会社 | 画像検査装置およびこの画像検査装置を用いた画像検査方法 |
JPWO2009031420A1 (ja) * | 2007-09-04 | 2010-12-09 | 旭硝子株式会社 | 透明板体内部の微小異物を検出する方法及びその装置 |
JP2010008177A (ja) * | 2008-06-26 | 2010-01-14 | Adtec Engineeng Co Ltd | 欠陥検出装置及び方法 |
JP5521377B2 (ja) * | 2009-04-13 | 2014-06-11 | セントラル硝子株式会社 | ガラス板の欠陥識別方法および装置 |
-
2011
- 2011-12-06 CN CN2011800594339A patent/CN103250047A/zh active Pending
- 2011-12-06 JP JP2012547876A patent/JPWO2012077683A1/ja active Pending
- 2011-12-06 KR KR1020137014662A patent/KR20130140058A/ko not_active Application Discontinuation
- 2011-12-06 WO PCT/JP2011/078203 patent/WO2012077683A1/ja active Application Filing
- 2011-12-09 TW TW100145663A patent/TW201233993A/zh unknown
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2012077683A1 (ja) | 2012-06-14 |
TW201233993A (en) | 2012-08-16 |
CN103250047A (zh) | 2013-08-14 |
KR20130140058A (ko) | 2013-12-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2012077683A1 (ja) | ガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システム | |
JP5686139B2 (ja) | 液晶表示パネル用ガラス基板の製造方法 | |
JP5963514B2 (ja) | 測距装置、測距方法及び撮像システム | |
CN107683401A (zh) | 形状测定装置和形状测定方法 | |
WO2014129358A1 (ja) | 透明板状体表面検査用撮像システム | |
WO2018150586A1 (ja) | 板エッジ検出装置及び板エッジ検出方法 | |
TW201738551A (zh) | 透明板表面檢查裝置、透明板表面檢查方法、及玻璃板之製造方法 | |
JP5686585B2 (ja) | レンズシートの欠陥検査装置、欠陥検査方法及び製造装置 | |
US8717544B2 (en) | Alignment method, alignment apparatus, and exposure apparatus | |
JP2014119361A (ja) | 表面欠陥検出装置および表面欠陥検出方法 | |
TWI638237B (zh) | Drawing device and drawing method | |
CN111338186A (zh) | 决定方法、曝光方法、曝光装置以及物品制造方法 | |
JP7241611B2 (ja) | パターン測定装置、パターン測定装置における傾き算出方法およびパターン測定方法 | |
JP7266300B2 (ja) | 物体検知システム及び物体検知システム用プログラム | |
KR100942236B1 (ko) | 판유리 두께의 측정오차 보정방법 | |
KR100942235B1 (ko) | 판유리 두께측정방법 | |
JP6828879B2 (ja) | 欠陥検査装置及び欠陥検査方法 | |
JP6225719B2 (ja) | 真直度測定装置、真直度測定方法、およびプログラム | |
JP2008170209A (ja) | 形状測定方法 | |
JP2007047022A (ja) | 表面形状測定装置 | |
JP2005017351A (ja) | プロジェクタ装置および距離検出装置 | |
JP5529829B2 (ja) | 高さ測定装置及び高さ測定方法 | |
JP2005016970A (ja) | プロジェクタ装置および距離検出装置 | |
JP2013148353A (ja) | 検査装置および3次元画像認識装置ならびに3次元画像認識方法 | |
JP2003161606A (ja) | 膜厚測定方法、膜厚測定装置、およびプログラム |