JPH0961139A - 透明体の欠点検出方法及び装置 - Google Patents
透明体の欠点検出方法及び装置Info
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- JPH0961139A JPH0961139A JP21368195A JP21368195A JPH0961139A JP H0961139 A JPH0961139 A JP H0961139A JP 21368195 A JP21368195 A JP 21368195A JP 21368195 A JP21368195 A JP 21368195A JP H0961139 A JPH0961139 A JP H0961139A
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 ガラスの凹凸を欠点として検出しないように
してガラスの欠点を検出する透明体の欠点検出方法及び
装置を提供する。 【解決手段】 ガラス４８の表面４８Ａにスクリーン部
材４２を密着して、ガラス４８の裏面４８Ｂから投光さ
れた光でガラス４８の表面４８Ａにガラス４８の欠点５
０Ａ、５０Ｂを投影した。従って、ガラス４８の表面４
８Ａが皺等で凹凸状に形成されていても、この凹凸がス
クリーン部材４２に陰として投影されないので、ガラス
４８の表面４８Ａの凹凸を欠点として検出しないように
する。
してガラスの欠点を検出する透明体の欠点検出方法及び
装置を提供する。 【解決手段】 ガラス４８の表面４８Ａにスクリーン部
材４２を密着して、ガラス４８の裏面４８Ｂから投光さ
れた光でガラス４８の表面４８Ａにガラス４８の欠点５
０Ａ、５０Ｂを投影した。従って、ガラス４８の表面４
８Ａが皺等で凹凸状に形成されていても、この凹凸がス
クリーン部材４２に陰として投影されないので、ガラス
４８の表面４８Ａの凹凸を欠点として検出しないように
する。
Description
【０００１】
【発明の属する技術分野】本発明は、ガラス等の透明体
に存在するキズ潰れ泡等の表面欠点や泡、異物等の内部
欠点を検出する透明体の欠点検出方法及び装置に関す
る。
に存在するキズ潰れ泡等の表面欠点や泡、異物等の内部
欠点を検出する透明体の欠点検出方法及び装置に関す
る。
【０００２】
【従来の技術】従来、ガラス等の透明体に存在するピッ
トや潰れ泡等の表面欠点及び泡、異物等の内部欠点をス
クリーンを利用して検出する場合、図５に示すように、
ガラス１０の一方の面側（表面側）にスクリーン１４を
設置し、ガラス１０の他方の面側（裏面側）に光源１２
を配置する。そして、光源１２から投光された平行光や
散乱光でガラス１０を照射し、スクリーン１４上にガラ
ス１０に存在する欠点１６を投影する。この欠点１６の
投影像１６Ａをカメラ１８で撮像して欠点１６を検出す
る。
トや潰れ泡等の表面欠点及び泡、異物等の内部欠点をス
クリーンを利用して検出する場合、図５に示すように、
ガラス１０の一方の面側（表面側）にスクリーン１４を
設置し、ガラス１０の他方の面側（裏面側）に光源１２
を配置する。そして、光源１２から投光された平行光や
散乱光でガラス１０を照射し、スクリーン１４上にガラ
ス１０に存在する欠点１６を投影する。この欠点１６の
投影像１６Ａをカメラ１８で撮像して欠点１６を検出す
る。
【０００３】
【発明が解決しようとする課題】しかしながら、ガラス
１０のスクリーン１４側の表面に皺などの凹凸が形成さ
れている場合、皺などの凹凸の投影像がスクリーン１４
上に写るので、皺などの凹凸が欠点として検出されると
いう問題がある。本発明はこのような事情に鑑みて成さ
れたもので、ガラス表面に形成された皺などの凹凸を欠
点として検出しないようにすることができる透明体の欠
点検出方法及び装置を提供することを目的とする。
１０のスクリーン１４側の表面に皺などの凹凸が形成さ
れている場合、皺などの凹凸の投影像がスクリーン１４
上に写るので、皺などの凹凸が欠点として検出されると
いう問題がある。本発明はこのような事情に鑑みて成さ
れたもので、ガラス表面に形成された皺などの凹凸を欠
点として検出しないようにすることができる透明体の欠
点検出方法及び装置を提供することを目的とする。
【０００４】
【課題を解決するための手段】本発明は、前記目的を達
成するために、透明体の一方の面にスクリーン部材を密
着し、透明体及びスクリーン部材に光を投光して、前記
スクリーン部材の透明体と密着した面に前記透明体の欠
点を投影し、前記一方の面に投影された前記欠点の投影
像を撮像して前記欠点を検出することを特徴とする。
成するために、透明体の一方の面にスクリーン部材を密
着し、透明体及びスクリーン部材に光を投光して、前記
スクリーン部材の透明体と密着した面に前記透明体の欠
点を投影し、前記一方の面に投影された前記欠点の投影
像を撮像して前記欠点を検出することを特徴とする。
【０００５】また、本発明は、前記目的を達成するため
に、透明体の一方の面にスクリーン部材を密着し、透明
体及びスクリーン部材に第１の投光手段から光を投光し
て、前記スクリーン部材の透明体と密着した面に前記透
明体の欠点を投影し、前記スクリーン部材の面に投影さ
れた前記欠点の第１投影像を撮像し、第１の投光手段と
は位置の異なる第２の投光手段から光を投光して、前記
スクリーン部材の透明体と密着した面に前記透明体の欠
点を投影し、前記スクリーン部材の面に投影された前記
欠点の第２投影像を撮像し、前記第１投影像から第２投
影像までの位置の差に基づいて前記欠点の深さ位置を検
出することを特徴とする。
に、透明体の一方の面にスクリーン部材を密着し、透明
体及びスクリーン部材に第１の投光手段から光を投光し
て、前記スクリーン部材の透明体と密着した面に前記透
明体の欠点を投影し、前記スクリーン部材の面に投影さ
れた前記欠点の第１投影像を撮像し、第１の投光手段と
は位置の異なる第２の投光手段から光を投光して、前記
スクリーン部材の透明体と密着した面に前記透明体の欠
点を投影し、前記スクリーン部材の面に投影された前記
欠点の第２投影像を撮像し、前記第１投影像から第２投
影像までの位置の差に基づいて前記欠点の深さ位置を検
出することを特徴とする。
【０００６】本発明によれば、前記目的を達成するため
に、前記透明体の一方の面に密着されたスクリーン部材
と、透明体及びスクリーン部材に光を投光する投光手段
と、前記透明体の他方の面側に設けられ、前記投光手段
から投光された光で、前記スクリーン部材の透明体と密
着した面に投影された前記欠点の投影像を撮像する撮像
手段と、前記撮像手段で撮像された撮像データに基づい
て透明体の欠点を検出する画像処理手段と、を備えたこ
とを特徴とする。
に、前記透明体の一方の面に密着されたスクリーン部材
と、透明体及びスクリーン部材に光を投光する投光手段
と、前記透明体の他方の面側に設けられ、前記投光手段
から投光された光で、前記スクリーン部材の透明体と密
着した面に投影された前記欠点の投影像を撮像する撮像
手段と、前記撮像手段で撮像された撮像データに基づい
て透明体の欠点を検出する画像処理手段と、を備えたこ
とを特徴とする。
【０００７】
【発明の実施の形態】以下添付図面に従って本発明に係
る透明体の欠点検出方法及び装置の好ましい実施の形態
を詳説する。図１は本発明に係る透明体の欠点検出装置
の側面図である。同図に示すように、透明体の欠点検出
装置３０は、スクリーン手段３２、第１、第２の投光手
段３４、３６、撮像手段３８及び画像処理手段４０を備
えている。
る透明体の欠点検出方法及び装置の好ましい実施の形態
を詳説する。図１は本発明に係る透明体の欠点検出装置
の側面図である。同図に示すように、透明体の欠点検出
装置３０は、スクリーン手段３２、第１、第２の投光手
段３４、３６、撮像手段３８及び画像処理手段４０を備
えている。
【０００８】スクリーン手段３２のスクリーン部材４２
はゴム状の白色散乱部材で中空のマット状に形成されて
いる。スクリーン部材４２の中空部４２Ａはホース４４
を介してエア供給源４６に連通されている。これによ
り、エア供給源４６を駆動することにより、スクリーン
部材４２の中空部４２Ａ内にエアが充填される。このよ
うに、スクリーン部材４２の中空部４２Ａ内にエアが充
填された状態で、スクリーン部材４２の上面にガラス４
８の表面４８Ａが接触するように載置すると、スクリー
ン部材４２の上面はガラス４８の表面４８Ａに形成され
た凹凸に対応して変形して、スクリーン部材４２の上面
がガラス４８の凹凸状の表面４８Ａに密着する。なお、
ガラス４８としては、例えばブラウン管の管球用製品パ
ネル等が対象となる。
はゴム状の白色散乱部材で中空のマット状に形成されて
いる。スクリーン部材４２の中空部４２Ａはホース４４
を介してエア供給源４６に連通されている。これによ
り、エア供給源４６を駆動することにより、スクリーン
部材４２の中空部４２Ａ内にエアが充填される。このよ
うに、スクリーン部材４２の中空部４２Ａ内にエアが充
填された状態で、スクリーン部材４２の上面にガラス４
８の表面４８Ａが接触するように載置すると、スクリー
ン部材４２の上面はガラス４８の表面４８Ａに形成され
た凹凸に対応して変形して、スクリーン部材４２の上面
がガラス４８の凹凸状の表面４８Ａに密着する。なお、
ガラス４８としては、例えばブラウン管の管球用製品パ
ネル等が対象となる。
【０００９】第１の投光手段３４はガラス４８の裏面４
８Ｂ上方の左側に配設されている。この第１の投光手段
３４から投光された光はガラス４８を透過して、ガラス
４８の表面４８Ａに密着されたスクリーン部材４２で反
射散乱される。従って、図２に示すように、ガラス４８
に欠点５０Ａ、５０Ｂが存在する場合、スクリーン部材
４２に欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ1 、５０Ｂ1
が投影される。この欠点としては、ピット、潰れ泡等の
表面欠点及び泡、異物等の内部欠点が対象となる。
８Ｂ上方の左側に配設されている。この第１の投光手段
３４から投光された光はガラス４８を透過して、ガラス
４８の表面４８Ａに密着されたスクリーン部材４２で反
射散乱される。従って、図２に示すように、ガラス４８
に欠点５０Ａ、５０Ｂが存在する場合、スクリーン部材
４２に欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ1 、５０Ｂ1
が投影される。この欠点としては、ピット、潰れ泡等の
表面欠点及び泡、異物等の内部欠点が対象となる。
【００１０】一方、図１に示すように、スクリーン部材
４２の上面がガラス４８の凹凸状の表面４８Ａに密着し
ているので、ガラス４８の表面４８Ａが等価的にスクリ
ーンのような状態となり、ガラス４８の表面４８Ａに形
成された皺などの凹凸が投影像として投影されない。密
着の度合は、ガラス４８の表面４８Ａの凸凹がスクリー
ンに陰影と認識されない程度にガラスとスクリーンが近
ければ良い。
４２の上面がガラス４８の凹凸状の表面４８Ａに密着し
ているので、ガラス４８の表面４８Ａが等価的にスクリ
ーンのような状態となり、ガラス４８の表面４８Ａに形
成された皺などの凹凸が投影像として投影されない。密
着の度合は、ガラス４８の表面４８Ａの凸凹がスクリー
ンに陰影と認識されない程度にガラスとスクリーンが近
ければ良い。
【００１１】なお、第１の投光手段３４には、一般に散
乱光用の光源が使用されるが、この光源としては、スク
リーンに投影された欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像のコン
トラストを向上させるために、欠点５０Ａ、５０Ｂの２
重投影像を発生させない平行光または発散光の光源が望
ましい。第２の投光手段３６はガラス４８の裏面４８Ｂ
上方の左側に配設されている。この第２の投光手段３６
から投光された光は、第１の投光手段３４から投光され
た光と同様に、ガラス４８を透過してガラス４８の表面
４８Ａに密着されたスクリーン部材４２で反射される。
従って、ガラス４８に存在する欠点５０Ａ、５０Ｂの投
影像５０Ａ2 、５０Ｂ2 がスクリーン部材４２に投影さ
れる。
乱光用の光源が使用されるが、この光源としては、スク
リーンに投影された欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像のコン
トラストを向上させるために、欠点５０Ａ、５０Ｂの２
重投影像を発生させない平行光または発散光の光源が望
ましい。第２の投光手段３６はガラス４８の裏面４８Ｂ
上方の左側に配設されている。この第２の投光手段３６
から投光された光は、第１の投光手段３４から投光され
た光と同様に、ガラス４８を透過してガラス４８の表面
４８Ａに密着されたスクリーン部材４２で反射される。
従って、ガラス４８に存在する欠点５０Ａ、５０Ｂの投
影像５０Ａ2 、５０Ｂ2 がスクリーン部材４２に投影さ
れる。
【００１２】なお、第２の投光手段３６の光源として、
平行光または発散角の小さい光源を使用することによ
り、投影像を明確にして欠点５０Ａ、５０Ｂの大きさを
高精度に判断することができる。図１に示すように、撮
像手段３８は、第１、第２の投光手段３４、３６の間に
配置され、撮像手段３８としては、カメラ、光電変換セ
ンサまたは光電子倍増管等が使用される。この撮像手段
３８は、第１の投光手段３４の光でスクリーン部材４２
に投影された欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ1 、５
０Ｂ1 と、第２の投光手段３６の光でスクリーン部材４
２に投影された欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ2 、
５０Ｂ2 を撮像する。
平行光または発散角の小さい光源を使用することによ
り、投影像を明確にして欠点５０Ａ、５０Ｂの大きさを
高精度に判断することができる。図１に示すように、撮
像手段３８は、第１、第２の投光手段３４、３６の間に
配置され、撮像手段３８としては、カメラ、光電変換セ
ンサまたは光電子倍増管等が使用される。この撮像手段
３８は、第１の投光手段３４の光でスクリーン部材４２
に投影された欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ1 、５
０Ｂ1 と、第２の投光手段３６の光でスクリーン部材４
２に投影された欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ2 、
５０Ｂ2 を撮像する。
【００１３】また、図３に示すように、第１の投光手段
３４の光軸３４Ａと撮像手段３８の光軸３８Ａとを一致
させないことにより欠点のスクリーン投影像のコントラ
ストを向上することができる。さらに、それぞれの光軸
がガラスを見込む角度を一致させないことによって、正
反射光の受光を取り除き、欠点のコントラストを向上で
きる。
３４の光軸３４Ａと撮像手段３８の光軸３８Ａとを一致
させないことにより欠点のスクリーン投影像のコントラ
ストを向上することができる。さらに、それぞれの光軸
がガラスを見込む角度を一致させないことによって、正
反射光の受光を取り除き、欠点のコントラストを向上で
きる。
【００１４】画像処理手段４０は、撮像手段３８が撮像
したスクリーン部材４２の投影像５０Ａ1 、５０Ｂ
1 と、スクリーン部材４２の投影像５０Ａ2 、５０Ｂ2
とに基づいて、投影像５０Ａ1 から投影像５０Ａ2 まで
の移動量ｄ1 を算出し、投影像５０Ｂ1 から投影像５０
Ｂ2 までの移動量ｄ2 を算出する。一方、欠点５０Ａは
ガラス４８の裏面４８Ｂ上にあり、またガラス４８は板
厚Ｄ1 が求められるので次式から欠点５０Ｂがガラス４
８内に埋設された深さ位置を求めることができる。
したスクリーン部材４２の投影像５０Ａ1 、５０Ｂ
1 と、スクリーン部材４２の投影像５０Ａ2 、５０Ｂ2
とに基づいて、投影像５０Ａ1 から投影像５０Ａ2 まで
の移動量ｄ1 を算出し、投影像５０Ｂ1 から投影像５０
Ｂ2 までの移動量ｄ2 を算出する。一方、欠点５０Ａは
ガラス４８の裏面４８Ｂ上にあり、またガラス４８は板
厚Ｄ1 が求められるので次式から欠点５０Ｂがガラス４
８内に埋設された深さ位置を求めることができる。
【００１５】Ｄ2 ≒（Ｄ1 ×ｄ2 ）／ｄ1 なお、図１上で６０はスクリーン部材４２が載置された
ステージ６２を移動する駆動モータである。図１上では
スクリーン部材４２を移動する手段としてステージ６２
を使用したが、これに限らず、その他の方法でスクリー
ン部材４２を移動することも可能である。
ステージ６２を移動する駆動モータである。図１上では
スクリーン部材４２を移動する手段としてステージ６２
を使用したが、これに限らず、その他の方法でスクリー
ン部材４２を移動することも可能である。
【００１６】前記の如く構成された本発明に係る透明体
の欠点検出装置の作用を図４に基づいて説明する。先
ず、スクリーン部材４２の中空部４２Ａ内にエアを充填
した状態で、スクリーン部材４２の上面に、透明体とし
てのガラス４８の表面４８Ａを接触するように載置し
て、スクリーン部材４２の上面にガラス４８の凹凸状の
表面４８Ａに密着する。次に、ガラス４８を検査位置に
位置決めする（ステップ７０）。次に、第１の投光手段
３４から平行光や発散光を投光して、スクリーン部材４
２に欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ1 、５０Ｂ1 を
投影する。そして、スクリーン部材４２に投影された投
影像５０Ａ1 、５０Ｂ1 を撮像手段３８で撮像する（ス
テップ７２）。
の欠点検出装置の作用を図４に基づいて説明する。先
ず、スクリーン部材４２の中空部４２Ａ内にエアを充填
した状態で、スクリーン部材４２の上面に、透明体とし
てのガラス４８の表面４８Ａを接触するように載置し
て、スクリーン部材４２の上面にガラス４８の凹凸状の
表面４８Ａに密着する。次に、ガラス４８を検査位置に
位置決めする（ステップ７０）。次に、第１の投光手段
３４から平行光や発散光を投光して、スクリーン部材４
２に欠点５０Ａ、５０Ｂの投影像５０Ａ1 、５０Ｂ1 を
投影する。そして、スクリーン部材４２に投影された投
影像５０Ａ1 、５０Ｂ1 を撮像手段３８で撮像する（ス
テップ７２）。
【００１７】次いで、撮像手段３８で撮像した投影像５
０Ａ1 、５０Ｂ1 の撮像データからノイズ成分を除去す
るために、この撮像データにシェーディングデータを入
力する（ステップ７４）。続いて、ノイズ成分が除去さ
れた投影像５０Ａ1 、５０Ｂ 1 の撮像データを画像処理
手段４０に取り込む（ステップ７６）。次に、画像処理
手段４０に取り込んだ撮像データが２個を越えない場合
（ステップ７８）、ステップ７２にフィードバックして
第２の投光手段３６から平行光や発散光を投光して、ス
クリーン部材４２に投影された投影像５０Ａ2 、５０Ｂ
2 を投影する。以下、ステップ７４、７６を経て、ノイ
ズ成分が除去された投影像５０Ａ2 、５０Ｂ2 の撮像デ
ータを画像処理手段４０に取り込む。
０Ａ1 、５０Ｂ1 の撮像データからノイズ成分を除去す
るために、この撮像データにシェーディングデータを入
力する（ステップ７４）。続いて、ノイズ成分が除去さ
れた投影像５０Ａ1 、５０Ｂ 1 の撮像データを画像処理
手段４０に取り込む（ステップ７６）。次に、画像処理
手段４０に取り込んだ撮像データが２個を越えない場合
（ステップ７８）、ステップ７２にフィードバックして
第２の投光手段３６から平行光や発散光を投光して、ス
クリーン部材４２に投影された投影像５０Ａ2 、５０Ｂ
2 を投影する。以下、ステップ７４、７６を経て、ノイ
ズ成分が除去された投影像５０Ａ2 、５０Ｂ2 の撮像デ
ータを画像処理手段４０に取り込む。
【００１８】そして、再度、画像処理手段４０に取り込
んだ撮像データが２個を越えた場合（ステップ７８）、
画像処理手段４０は、撮像手段３８が撮像したスクリー
ン部材４２の投影像５０Ａ1 、５０Ｂ1 と、スクリーン
部材４２の投影像５０Ａ2 、５０Ｂ2 とに基づいて、投
影像５０Ａ1 から投影像５０Ａ2 までの移動量ｄ1 を算
出し、投影像５０Ｂ1 から投影像５０Ｂ2 までの移動量
ｄ2 を算出する。そして、次式に基づいて欠点５０Ｂが
ガラス４８内に埋設された深さ位置を求める（ステップ
８０）。
んだ撮像データが２個を越えた場合（ステップ７８）、
画像処理手段４０は、撮像手段３８が撮像したスクリー
ン部材４２の投影像５０Ａ1 、５０Ｂ1 と、スクリーン
部材４２の投影像５０Ａ2 、５０Ｂ2 とに基づいて、投
影像５０Ａ1 から投影像５０Ａ2 までの移動量ｄ1 を算
出し、投影像５０Ｂ1 から投影像５０Ｂ2 までの移動量
ｄ2 を算出する。そして、次式に基づいて欠点５０Ｂが
ガラス４８内に埋設された深さ位置を求める（ステップ
８０）。
【００１９】Ｄ2 ≒（Ｄ1 ×ｄ2 ）／ｄ1 また、画像処理手段４０は欠点５０Ｂの大きさを求め
る。次いで、測定が終了しない場合（ステップ８２）、
ステップ７０にフィードバックして順次上述した工程を
繰り返す。一方、測定が終了した場合（ステップ８
２）、測定を終了する。
る。次いで、測定が終了しない場合（ステップ８２）、
ステップ７０にフィードバックして順次上述した工程を
繰り返す。一方、測定が終了した場合（ステップ８
２）、測定を終了する。
【００２０】前記実施の形態では、ゴム状の白色散乱部
材で中空のマット状に形成したスクリーン部材４２を使
用した場合について説明したが、これに限らず、白濁液
体や白煙などをスクリーンとして使用することも可能で
ある。すなわち、スクリーン部材は剛性が低く、透明体
の凸凹にならうように簡単に変形するような材料からな
るものであれば使用できる。白濁液体の場合、容器に充
填された白濁液体の液面にガラス４８を浮かせてガラス
４８の表面４８Ａに白濁液体を密着させる。また、白煙
の場合、容器内に充填した白煙をガラス４８の表面４８
Ａに密着することによりスクリーンとして使用できる。
材で中空のマット状に形成したスクリーン部材４２を使
用した場合について説明したが、これに限らず、白濁液
体や白煙などをスクリーンとして使用することも可能で
ある。すなわち、スクリーン部材は剛性が低く、透明体
の凸凹にならうように簡単に変形するような材料からな
るものであれば使用できる。白濁液体の場合、容器に充
填された白濁液体の液面にガラス４８を浮かせてガラス
４８の表面４８Ａに白濁液体を密着させる。また、白煙
の場合、容器内に充填した白煙をガラス４８の表面４８
Ａに密着することによりスクリーンとして使用できる。
【００２１】また、前記実施の形態では、スクリーン部
材４２に投影された投影像を第１、第２の投光手段３
４、３６側から撮像する場合について説明したが、これ
に限らず、十分に薄い、もしくは半透過性のスクリーン
等を使用することにより第１、第２の投光手段３４、３
６と反対側からスクリーン部材４２に投影された投影像
を撮像することも可能である。
材４２に投影された投影像を第１、第２の投光手段３
４、３６側から撮像する場合について説明したが、これ
に限らず、十分に薄い、もしくは半透過性のスクリーン
等を使用することにより第１、第２の投光手段３４、３
６と反対側からスクリーン部材４２に投影された投影像
を撮像することも可能である。
【００２２】前記実施の形態では、ガラス４８は、ブラ
ウン管の未研磨パネルやその他の透明体の欠点検出に適
用することができる。
ウン管の未研磨パネルやその他の透明体の欠点検出に適
用することができる。
【００２３】
【発明の効果】以上説明したように本発明に係る透明体
の欠点検出方法及び装置によれば、透明体の一方の面に
スクリーン部材を密着して、透明体の他方の面側から投
光された光で透明体の一方の面に透明体の欠点を投影し
た。従って、透明体の一方の面が皺等で凹凸状に形成さ
れていても、この凹凸がスクリーン部材に陰として投影
されないので、透明体の凹凸を欠点として検出すること
を防止することができる。従って、透明体の凹凸面の欠
点を確実に検出することができる。また、透明体の内部
及び表面に存在する欠点の検出が可能になる。
の欠点検出方法及び装置によれば、透明体の一方の面に
スクリーン部材を密着して、透明体の他方の面側から投
光された光で透明体の一方の面に透明体の欠点を投影し
た。従って、透明体の一方の面が皺等で凹凸状に形成さ
れていても、この凹凸がスクリーン部材に陰として投影
されないので、透明体の凹凸を欠点として検出すること
を防止することができる。従って、透明体の凹凸面の欠
点を確実に検出することができる。また、透明体の内部
及び表面に存在する欠点の検出が可能になる。
【００２４】さらに、欠点の近くにスクリーン部材が配
置されるので、欠点の投影像のコントラストを高くして
欠点の検出感度を向上することができる。また、本発明
によれば、欠点の投影像を撮像するので、反射光を受光
する従来の検出機と比較して、光源と受光装置の相対位
置に対する制約が少なく検出装置の簡略化を図ることが
できる。さらに、欠点の投影像を検出することから、多
くの欠点種類を検出することができる。
置されるので、欠点の投影像のコントラストを高くして
欠点の検出感度を向上することができる。また、本発明
によれば、欠点の投影像を撮像するので、反射光を受光
する従来の検出機と比較して、光源と受光装置の相対位
置に対する制約が少なく検出装置の簡略化を図ることが
できる。さらに、欠点の投影像を検出することから、多
くの欠点種類を検出することができる。
【００２５】また、本発明によれば、投光手段を透明体
の他方の面側に２個設け、第１の投光手段から投光され
た光で、スクリーン部材が密着された透明体の一方の面
に投影された透明体の欠点の第１投影像と、第２の投光
手段から投光された光で、透明体の一方の面に投影され
た前記透明体の欠点の第２投影像とを撮像する。そし
て、撮像された第１投影像から第２投影像までの移動量
に基づいて欠点の深さ位置を求める。
の他方の面側に２個設け、第１の投光手段から投光され
た光で、スクリーン部材が密着された透明体の一方の面
に投影された透明体の欠点の第１投影像と、第２の投光
手段から投光された光で、透明体の一方の面に投影され
た前記透明体の欠点の第２投影像とを撮像する。そし
て、撮像された第１投影像から第２投影像までの移動量
に基づいて欠点の深さ位置を求める。
【００２６】このように、欠点の深さ位置を特定するこ
とができるので、透明体の表面欠点や内部欠点を区別す
ることができ、また、スクリーン部材の汚れ及び透明体
表面の汚れと透明体内部欠点の区別が可能である。
とができるので、透明体の表面欠点や内部欠点を区別す
ることができ、また、スクリーン部材の汚れ及び透明体
表面の汚れと透明体内部欠点の区別が可能である。
【図１】本発明に係る透明体の欠点検出装置を示した側
面図
面図
【図２】本発明に係る透明体の欠点検出装置の動作を説
明した説明図
明した説明図
【図３】本発明に係る透明体の欠点検出装置の動作を説
明した説明図
明した説明図
【図４】本発明に係る透明体の欠点検出装置の動作を説
明したフローチャート
明したフローチャート
【図５】本発明に係る透明体の欠点検出装置を示した斜
視図
視図
３０…透明体の欠点検出装置 ３４…第１の投光手段 ３６…第２の投光手段 ３８…撮像手段 ４０…画像処理手段 ４２…スクリーン部材 ４８…ガラス（透明体） ４８Ａ…一方の面（表面） ４８Ｂ…他方の面（裏面） ５０Ａ、５０Ｂ…欠点 ５０Ａ1 、５０Ｂ1 …第１投影像 ５０Ａ2 、５０Ｂ2 …第２投影像
Claims (4)
- 【請求項１】 透明体の一方の面にスクリーン部材を密
着し、 透明体及びスクリーン部材に光を投光して、前記スクリ
ーン部材の透明体と密着した面に前記透明体の欠点を投
影し、 前記一方の面に投影された前記欠点の投影像を撮像して
前記欠点を検出することを特徴とした透明体の欠点検出
方法。 - 【請求項２】 透明体の一方の面にスクリーン部材を密
着し、 透明体及びスクリーン部材に第１の投光手段から光を投
光して、前記スクリーン部材の透明体と密着した面に前
記透明体の欠点を投影し、 前記スクリーン部材の面に投影された前記欠点の第１投
影像を撮像し、 第１の投光手段とは位置の異なる第２の投光手段から光
を投光して、前記スクリーン部材の透明体と密着した面
に前記透明体の欠点を投影し、 前記スクリーン部材の面に投影された前記欠点の第２投
影像を撮像し、 前記第１投影像から第２投影像までの位置の差に基づい
て前記欠点の深さ位置を検出することを特徴とした透明
体の欠点検出方法。 - 【請求項３】 透明体の一方の面に密着されたスクリー
ン部材と、 透明体及びスクリーン部材に光を投光する投光手段と、 前記透明体の他方の面側に設けられ、前記投光手段から
投光された光で、前記スクリーン部材の透明体と密着し
た面に投影された前記欠点の投影像を撮像する撮像手段
と、 前記撮像手段で撮像された撮像データに基づいて透明体
の欠点を検出する画像処理手段と、 を備えたことを特徴とした透明体の欠点検出装置。 - 【請求項４】 前記投光手段を２個設け、 第１の投光手段から投光された光で、前記スクリーン部
材の透明体と密着した面に投影された前記透明体の欠点
の第１投影像と、第２の投光手段から投光された光で、
前記スクリーン面に投影された前記透明体の欠点の第２
投影像とを前記撮像手段で撮像し、 前記撮像手段で撮像した前記第１投影像から第２投影像
までの位置の差に基づいて前記欠点の深さ位置を前記画
像処理手段で求めることを特徴とした請求項３の透明体
の欠点検出装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21368195A JPH0961139A (ja) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | 透明体の欠点検出方法及び装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP21368195A JPH0961139A (ja) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | 透明体の欠点検出方法及び装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPH0961139A true JPH0961139A (ja) | 1997-03-07 |
Family
ID=16643223
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP21368195A Pending JPH0961139A (ja) | 1995-08-22 | 1995-08-22 | 透明体の欠点検出方法及び装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH0961139A (ja) |
Cited By (5)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012077542A1 (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | 旭硝子株式会社 | ガラス基板 |
| WO2012077683A1 (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | 旭硝子株式会社 | ガラスリボン内欠陥測定方法およびガラスリボン内欠陥測定システム |
| CN107505335A (zh) * | 2017-09-05 | 2017-12-22 | 天之域电子工业(厦门)有限公司 | 一种触摸屏贴合气泡的检测装置及方法 |
| JP2018031634A (ja) * | 2016-08-24 | 2018-03-01 | 株式会社ディスコ | 内部クラック検出方法 |
| JP2019045452A (ja) * | 2017-09-07 | 2019-03-22 | 株式会社住田光学ガラス | 検査装置および検査方法 |
-
1995
- 1995-08-22 JP JP21368195A patent/JPH0961139A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2012077542A1 (ja) * | 2010-12-09 | 2012-06-14 | 旭硝子株式会社 | ガラス基板 |
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| CN107505335A (zh) * | 2017-09-05 | 2017-12-22 | 天之域电子工业(厦门)有限公司 | 一种触摸屏贴合气泡的检测装置及方法 |
| CN107505335B (zh) * | 2017-09-05 | 2022-08-02 | 天之域电子工业(厦门)有限公司 | 一种触摸屏贴合气泡的检测装置及方法 |
| JP2019045452A (ja) * | 2017-09-07 | 2019-03-22 | 株式会社住田光学ガラス | 検査装置および検査方法 |
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