CN109060819B - 一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法 - Google Patents

一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法 Download PDF

Info

Publication number
CN109060819B
CN109060819B CN201810738333.2A CN201810738333A CN109060819B CN 109060819 B CN109060819 B CN 109060819B CN 201810738333 A CN201810738333 A CN 201810738333A CN 109060819 B CN109060819 B CN 109060819B
Authority
CN
China
Prior art keywords
vibration
test piece
pixel
pixel error
field
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN201810738333.2A
Other languages
English (en)
Other versions
CN109060819A (zh
Inventor
李闵行
郭佳
宁宁
白玮
祁小凤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
AVIC Aircraft Strength Research Institute
Original Assignee
AVIC Aircraft Strength Research Institute
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by AVIC Aircraft Strength Research Institute filed Critical AVIC Aircraft Strength Research Institute
Priority to CN201810738333.2A priority Critical patent/CN109060819B/zh
Publication of CN109060819A publication Critical patent/CN109060819A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN109060819B publication Critical patent/CN109060819B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8883Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges involving the calculation of gauges, generating models
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • G01N2021/8887Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges based on image processing techniques

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Investigating Strength Of Materials By Application Of Mechanical Stress (AREA)

Abstract

本发明涉及机器视觉监测技术领域,特别涉及一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法。包括:步骤1:获取试验参数;步骤2:获取振动视场内精度修正模型;步骤3:获取试验件向上振动时像素误差公式以及获取试验件向下振动时像素误差公式;步骤4:根据步骤3中的试验件向上振动时像素误差公式获取向上振动时像素误差,以及根据步骤3中的试验件向下振动时像素误差公式获取向下振动时像素误差;步骤5:将所述步骤4中获得的向上振动时像素误差以及向下振动时像素误差代入所述振动视场内精度修正模型,计算得到修正后的向上振动时像素误差以及修正后的向下振动时像素误差。本发明能够修正试验件由于振动在视场内产生的位移误差,使测量更精确。

Description

一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法
技术领域
本发明涉及机器视觉监测技术领域,特别涉及一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法。
背景技术
传统的疲劳裂纹检测系统主要由人工完成,操作反复而且过程繁琐,很容易受到检测操作人员的主观因素的影响,不仅耗时费力,而且还不能保证疲劳裂纹检测的精度。为了提高疲劳裂纹检测精度和效率,降低工作人员带来的接触性误差,减轻检测人员的劳动量,机器视觉检测手段逐渐被人们所采纳。但随之而来的检测精度控制问题也应运而生,尤其是在高频疲劳试验中本身对精度的要求就比较高,因此必须控制裂纹检测系统各方面的精度问题,摄像头的精度控制对于裂纹检测系统来说非常重要,它能够永久性的提高试验系统的精度,降低疲劳裂纹的实时检测误差。
发明内容
本发明的目的是提供了一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,以解决现有技术存在的至少一个问题。
本发明的技术方案是:
一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,所述振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法包括如下步骤:
步骤1:获取试验参数;
步骤2:获取振动视场内精度修正模型;
步骤3:获取试验件向上振动时像素误差公式以及获取试验件向下振动时像素误差公式;
步骤4:根据步骤3中的试验件向上振动时像素误差公式获取向上振动时像素误差,以及根据步骤3中的试验件向下振动时像素误差公式获取向下振动时像素误差;
步骤5:将所述步骤4中获得的向上振动时像素误差以及向下振动时像素误差代入所述振动视场内精度修正模型,计算得到修正后的向上振动时像素误差以及修正后的向下振动时像素误差。
可选地,步骤1中所述试验参数包括:视场半径x,像元尺寸r,物距h,焦距F。
可选地,步骤2中获取振动视场内精度修正模型,获取过程具体为:
计算视场偏角θ的正切值:
Figure BDA0001722592040000021
其中,x为视场半径,h为物距;
当发生振动时,物距h会产生向上或向下变化,变化量为Δh,则
Figure BDA0001722592040000022
因此,振动视场内精度修正模型为:
Δx=Δh×tanθ。
可选地,步骤3中获取试验件向上振动时像素误差公式以及获取试验件向下振动时像素误差公式包括:
当物距为h时,像素对应空间尺寸D=r×h/F;
当试验件向上振动时,像素对应空间尺寸D1=r×h1/F;
当试验件向下振动时,像素对应空间尺寸D2=r×h2/F;
其中:h1=h-Δh;h2=h+Δh;
假设被测量为L,则,总长度的像素值为:
Figure BDA0001722592040000031
当试验件向上振时的总长度像素值:
Figure BDA0001722592040000032
当试验件向下振时的总长度像素值:
Figure BDA0001722592040000033
当试验件向上振时的像素误差:R1=(D1-D)×|n1-n|;
当试验件向下振时的像素误差:R2=(D2-D)×|n2-n|;
其中,r为像元尺寸,h为物距,F为焦距,h1为试验件向上振动后的物距,h2为试验件向下振动后的物距。
可选地,步骤5中具体为:
所述修正后的向上振动时像素误差为:
R′1=R1×tanθ
所述修正后的向下振动时像素误差为:
R′2=R2×tanθ。
发明效果:
本发明的振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,针对振动部件的裂纹高精度检测需求,能够修正试验件由于振动在视场内产生的位移误差,使测量更精确。
附图说明
图1是本发明的振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法的机器视觉裂纹扩展试验框图;
图2是本发明的振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法的振动视场精度控制模型。
具体实施方式
为使本发明实施的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行更加详细的描述。在附图中,自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。所描述的实施例是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的,旨在用于解释本发明,而不能理解为对本发明的限制。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本发明保护的范围。下面结合附图对本发明的实施例进行详细说明。
在本发明的描述中,需要理解的是,术语“中心”、“纵向”、“横向”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本发明和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本发明保护范围的限制。
下面结合附图1至图2对本发明的振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法做进一步详细说明。
针对于定焦镜头,物距h本身不会发生变化,但随着振动台的加载,物距因振动发生空间上的微变化,该变化会在视场内产生空间像素误差,最终产生测量误差。
本发明提供了一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,所述振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法包括如下步骤:
步骤1:获取试验参数;
步骤2:获取振动视场内精度修正模型;
步骤3:获取试验件向上振动时像素误差公式以及获取试验件向下振动时像素误差公式;
步骤4:根据步骤3中的试验件向上振动时像素误差公式获取向上振动时像素误差,以及根据步骤3中的试验件向下振动时像素误差公式获取向下振动时像素误差;
步骤5:将所述步骤4中获得的向上振动时像素误差以及向下振动时像素误差代入所述振动视场内精度修正模型,计算得到修正后的向上振动时像素误差以及修正后的向下振动时像素误差。
具体的,步骤1中所述试验参数包括:视场半径x,像元尺寸r,物距h,焦距F。
在步骤2中获取振动视场内精度修正模型,获取过程具体为:
如图2中所示,视场偏角为θ,计算视场偏角θ的正切值:
Figure BDA0001722592040000051
其中,x为视场半径,h为物距;
当发生振动时,物距会产生向上或向下变化,变化量为Δh,则
Figure BDA0001722592040000052
因此,振动视场内精度修正模型为:
Δx=Δh×tanθ。
步骤3中获取试验件向上振动时像素误差公式以及获取试验件向下振动时像素误差公式包括:
当物距为h时,像素对应空间尺寸D=r×h/F;
当试验件向上振动时,像素对应空间尺寸D1=r×h1/F;
当试验件向下振动时,像素对应空间尺寸D2=r×h2/F;
其中:
h1=h-Δh;h2=h+Δh;
x1=x-Δx;x2=x+Δx;
假设被测量为L,则,总长度的像素值为:
Figure BDA0001722592040000061
当试验件向上振时的总长度像素值:
Figure BDA0001722592040000062
当试验件向下振时的总长度像素值:
Figure BDA0001722592040000063
当试验件向上振时像素误差:R1=(D1-D)×|n1-n|;
当试验件向下振时像素误差:R2=(D2-D)×|n2-n|;
其中,r为像元尺寸,h为物距,F为焦距,h1为试验件向上振动后的物距,h2为试验件向下振动后的物距。
步骤5中具体为:
所述修正后的向上振动时像素误差为:
R′1=R1×tanθ
所述修正后的向下振动时像素误差为:
R′2=R2×tanθ。
下面通过具体实施例对本发明作进一步说明:
在100*100的视场范围内,即x为50;选取像素为500万的定焦摄像头,分辨率:2456*2058;误差0.2%。工作时,摄像头离试验件的距离即物距h为300mm;像元尺寸r为3.45um;焦距F为50mm。假设被测量即裂纹长度为280mm。
其中:
Figure BDA0001722592040000064
当发生振动时,物距会产生向上或向下变大,变化量为Δh,
Δh=h×0.2%=300×0.002=0.6mm
则,
Figure BDA0001722592040000071
振动视场内精度修正模型:
Figure BDA0001722592040000072
其中:h1=h-Δh=300-0.6=299.4;
h2=h+Δh=300+0.6=300.6;
当物距为h时,像素对应空间尺寸:
Figure BDA0001722592040000073
当试验件向上振动时,像素对应空间尺寸:
Figure BDA0001722592040000074
当试验件向下振动时,像素对应空间尺寸:
Figure BDA0001722592040000075
D1-D=-0.04;D2-D=0.04;
L=280mm毫米,则总长度的像素值为:
Figure BDA0001722592040000076
当试验件向上振动时的总长度像素值:
Figure BDA0001722592040000077
当试验件向下振动时的总长度像素值:
Figure BDA0001722592040000081
|n1-n|=9;|n2-n|=8;
当试验件向上振动时像素误差:
R1=(D1-D)×|n1-n|=-0.04×9=-0.36mm
当试验件向下振动时像素误差:
R2=(D2-D)×|n2-n|=0.04×8=0.32mm
振动视场内精度修正模型:Δx=Δh×tanθ
修正后的向上振动时像素误差为:
Figure BDA0001722592040000082
修正后的向下振动时像素误差为:
Figure BDA0001722592040000083
结论:对于系统误差为0.2%的机器视觉系统,当试验件向上振动时视场内误差为0.36mm,经过本发明的振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,可将误差减少至0.06mm,测量精度提高83%左右;当试验件向下振动时视场内误差为0.32mm,经过本发明的振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,可将误差减少至0.05mm,测量精度提高84%左右。
综上所述,本发明的振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,针对振动部件的裂纹高精度检测需求,基于光学测量和计算机图像处理技术,能够修正试验件由于振动在视场内产生的位移误差,提高测量精度,使测量更精确。
以上所述,仅为本发明的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,可轻易想到的变化或替换,都应涵盖在本发明的保护范围之内。因此,本发明的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (1)

1.一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法,其特征在于,所述振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法包括如下步骤:
步骤1:获取试验参数;
步骤2:获取振动视场内精度修正模型;
步骤3:获取试验件向上振动时像素误差公式以及获取试验件向下振动时像素误差公式;
步骤4:根据步骤3中的试验件向上振动时像素误差公式获取向上振动时像素误差,以及根据步骤3中的试验件向下振动时像素误差公式获取向下振动时像素误差;
步骤5:将所述步骤4中获得的向上振动时像素误差以及向下振动时像素误差代入所述振动视场内精度修正模型,计算得到修正后的向上振动时像素误差以及修正后的向下振动时像素误差;
步骤1中所述试验参数包括:视场半径x,像元尺寸r,物距h,焦距F;
步骤2中获取振动视场内精度修正模型,获取过程具体为:
计算视场偏角θ的正切值:
Figure FDA0002919334400000011
其中,x为视场半径,h为物距;
当发生振动时,物距h会产生向上或向下变化,变化量为Δh,则
Figure FDA0002919334400000012
因此,振动视场内精度修正模型为:
Δx=Δh×tanθ;
步骤3中获取试验件向上振动时像素误差公式以及获取试验件向下振动时像素误差公式包括:
当物距为h时,像素对应空间尺寸D=r×h/F;
当试验件向上振动时,像素对应空间尺寸D1=r×h1/F;
当试验件向下振动时,像素对应空间尺寸D2=r×h2/F;
其中:
h1=h-Δh;
h2=h+Δh;
假设被测量为L,则,总长度的像素值为:
Figure FDA0002919334400000021
当试验件向上振时的总长度像素值:
Figure FDA0002919334400000022
当试验件向下振时的总长度像素值:
Figure FDA0002919334400000023
当试验件向上振时的像素误差:R1=(D1-D)×|n1-n|;
当试验件向下振时的像素误差:R2=(D2-D)×|n2-n|;
其中,r为像元尺寸,h为物距,F为焦距,h1为试验件向上振动后的物距,h2为试验件向下振动后的物距;
步骤5中具体为:
所述修正后的向上振动时像素误差为:
R′1=R1×tanθ
所述修正后的向下振动时像素误差为:
R′2=R2×tanθ。
CN201810738333.2A 2018-07-06 2018-07-06 一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法 Active CN109060819B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810738333.2A CN109060819B (zh) 2018-07-06 2018-07-06 一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN201810738333.2A CN109060819B (zh) 2018-07-06 2018-07-06 一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN109060819A CN109060819A (zh) 2018-12-21
CN109060819B true CN109060819B (zh) 2021-03-30

Family

ID=64819016

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN201810738333.2A Active CN109060819B (zh) 2018-07-06 2018-07-06 一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN109060819B (zh)

Families Citing this family (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN110853018B (zh) * 2019-11-13 2022-03-15 燕山大学 一种基于计算机视觉的振动台疲劳裂纹在线检测系统及检测方法

Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1031758A (zh) * 1987-08-26 1989-03-15 电子工业部第二十七研究所 激光测厚仪
CN101694371A (zh) * 2009-10-16 2010-04-14 天津大学 抗振动大尺寸直径精密在线测量方法
CN101872471A (zh) * 2010-06-04 2010-10-27 北京理工大学 基于航空tdi-ccd成像误差振动模型的图像恢复方法
CN102565072A (zh) * 2011-12-30 2012-07-11 重庆大学 拉伸铝合金板表面裂纹立体视觉在线检测方法
CN103250047A (zh) * 2010-12-09 2013-08-14 旭硝子株式会社 玻璃带内缺陷测定方法和玻璃带内缺陷测定系统
JP2014106110A (ja) * 2012-11-27 2014-06-09 Canon Inc 計測方法及び計測装置
CN105488780A (zh) * 2015-03-25 2016-04-13 遨博(北京)智能科技有限公司 一种用于工业生产线的单目视觉测距追踪装置及其追踪方法
CN105842062A (zh) * 2016-06-02 2016-08-10 江西洪都航空工业集团有限责任公司 一种裂纹扩展实时监测装置及方法
KR20170126042A (ko) * 2016-05-04 2017-11-16 전자부품연구원 진동 보정이 가능한 표면 형상 측정 장치 및 이를 이용한 진동 보정 방법

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN1031758A (zh) * 1987-08-26 1989-03-15 电子工业部第二十七研究所 激光测厚仪
CN101694371A (zh) * 2009-10-16 2010-04-14 天津大学 抗振动大尺寸直径精密在线测量方法
CN101872471A (zh) * 2010-06-04 2010-10-27 北京理工大学 基于航空tdi-ccd成像误差振动模型的图像恢复方法
CN103250047A (zh) * 2010-12-09 2013-08-14 旭硝子株式会社 玻璃带内缺陷测定方法和玻璃带内缺陷测定系统
CN102565072A (zh) * 2011-12-30 2012-07-11 重庆大学 拉伸铝合金板表面裂纹立体视觉在线检测方法
JP2014106110A (ja) * 2012-11-27 2014-06-09 Canon Inc 計測方法及び計測装置
CN105488780A (zh) * 2015-03-25 2016-04-13 遨博(北京)智能科技有限公司 一种用于工业生产线的单目视觉测距追踪装置及其追踪方法
KR20170126042A (ko) * 2016-05-04 2017-11-16 전자부품연구원 진동 보정이 가능한 표면 형상 측정 장치 및 이를 이용한 진동 보정 방법
CN105842062A (zh) * 2016-06-02 2016-08-10 江西洪都航空工业集团有限责任公司 一种裂纹扩展实时监测装置及方法

Non-Patent Citations (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
Computer vision-based displacement and;Tung Khuc等;《Structure and Infrastructure Engineering》;20160426;第1-12页 *
I型裂纹虚拟裂纹闭合法的误差分析及修正;彭国良等;《固体力学学报》;20160630;第280-282页 *
基于单目离面视觉的结构振动检测;喻其炳等;《中国机械工程》;20160930;第2367-2371页 *
基于机器视觉的工件表面质量高速在线检测技术研究;诸晓锋;《中国优秀硕士学位论文全文数据库 信息科技辑》;20151015;第9-15页 *
振动对动载体成像的影响及被动隔振技术的应用;安源等;《半导体光电》;20061231;第803-806页 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN109060819A (zh) 2018-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP4825598B2 (ja) 画像測定装置の校正方法
US9509986B2 (en) Electronic device and method for calibrating spectral confocal sensors
CN114220757B (zh) 晶圆检测对位方法、装置和系统及计算机介质
JP2013113600A (ja) ステレオ3次元計測装置
CN111105466B (zh) 一种ct系统中相机的标定方法
CN109060819B (zh) 一种振动部件裂纹测量中视场内误差修正方法
KR20090070194A (ko) 원통 내면에 오일 그루브를 가공하는 가공툴의 위치보정용센싱장치 및 이를 이용한 가공툴의 위치보정방법
JP2008070135A (ja) 撮像装置の光軸ずれ検出方法、及び部品位置検出方法と装置
US10849261B2 (en) Surface mounter and method of correcting recognition error
TWI584648B (zh) 具有校正功能的影像擷取裝置與影像擷取裝置的校正方法
JP2006049755A (ja) 回転中心算出方法およびこの方法を用いたワーク位置決め装置
CN109887038B (zh) 一种用于在线检测的机器视觉图像校正方法
CN115866383A (zh) 一种侧面芯片主动对准装配方法、装置、电子设备及介质
CN110118530B (zh) 一种大工件高精度光学视觉测量方法
JP2013170829A (ja) ひずみ計測装置及びひずみ計測方法
KR20110100568A (ko) 슈라우드 노즐 수직도 측정 및 안내 시스템 및 방법
CN108985002B (zh) 一种基于机台运动随机性处理的对位补偿方法
JP2014115179A (ja) 測長装置、書画カメラおよび測長方法
US20170124688A1 (en) Image processor, image processing method, and measuring apparatus
KR20070022514A (ko) 오차를 최소화하는 선형광 형상검출 시스템 및 방법
CN115704737B (zh) 一种投影仪投影画面晃动量测量方法及相关装置
CN109238165A (zh) 一种3c产品轮廓度检测方法
KR101727165B1 (ko) 3차원 카메라 모듈 측정 장치, 3차원 카메라 모듈 보정 장치 및 보정 방법
JP7498047B2 (ja) 精度補正方法及びワイヤ放電加工機
KR100945144B1 (ko) 연속적인 이미지 배열이 가능한 카메라

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant