JPWO2010050571A1 - 光ピックアップ装置およびそれを備える光ディスク装置 - Google Patents

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清隆 江泉
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Abstract

【課題】不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置およびそれを備える光ディスク装置を構成させる。【解決手段】光ディスク装置の光ピックアップ装置において、規格化された光検出器の第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離に対し、光検出器７３Ａの第１メイン受光部７４Ａと第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの間の距離が変更された。前側の第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃと、中央の第１メイン受光部７４Ａと、後側の第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃと、の分光比は、規格化された前側の第１サブ受光部と、中央の第１メイン受光部と、後側の第１サブ受光部と、の分光比に対し、変更された。規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値に対し、第１メイン受光部７４Ａから出力される信号の値が変更または同じとされ、規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値に対し、第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃから出力される信号の値が変更された。【選択図】図７

Description

本発明は、光ピックアップ装置およびそれを備える光ディスク装置に関するものである
。
光ピックアップ装置を備える光ディスク装置（不図示）内に光ディスクが挿入される。
不図示の光ディスク装置内に入れられる光ディスクは、略円板状に形成されている。
ディスクとして、例えば、「ＣＤ−ＲＯＭ」、「ＤＶＤ−ＲＯＭ」、「ＨＤ ＤＶＤ−
ＲＯＭ」、「ＢＤ−ＲＯＭ」などのデータ読出し専用の光ディスクや、「ＣＤ−Ｒ」、「
ＤＶＤ−Ｒ」、「ＤＶＤ＋Ｒ」、「ＨＤ ＤＶＤ−Ｒ」、「ＢＤ−Ｒ」などのデータ追記
型の光ディスクや、「ＣＤ−ＲＷ」、「ＤＶＤ−ＲＷ」、「ＤＶＤ＋ＲＷ」、「ＤＶＤ−
ＲＡＭ」、「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＷ」、「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＡＭ」、「ＢＤ−ＲＥ」などの
データ書込み／消去やデータ書換え可能なタイプの光ディスクなどが挙げられる。
光ディスクについて説明すると、「ＣＤ」は、「Ｃｏｍｐａｃｔ Ｄｉｓｃ」（商標）
の略称とされている。また、「ＤＶＤ」（登録商標）は、「Ｄｉｇｉｔａｌ Ｖｅｒｓａ
ｔｉｌｅ Ｄｉｓｃ」の略称とされている。また、「ＨＤ ＤＶＤ」（登録商標）は「Ｈ
ｉｇｈ Ｄｅｆｉｎｉｔｉｏｎ ＤＶＤ」の略称とされている。また、「Ｂｌｕ−ｒａｙ
Ｄｉｓｃ」（登録商標）の「Ｂｌｕ−ｒａｙ」とは、従来の信号の読書きに用いられて
いた赤色のレーザに対し、高密度記録が実現されるために採用された青紫色のレーザを意
味する。「ＨＤ ＤＶＤ」は、従来のＤＶＤ系列のものと互換性をもたせ、且つ、従来の
ＤＶＤ系列のディスクよりも記憶容量の大きいものとされている。従来のＣＤには、赤外
レーザが用いられていた。また、従来のＤＶＤには、赤色レーザが用いられていた。しか
しながら、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」もしくは「ＨＤ ＤＶＤ」の光ディスクに記録
されたデータ／情報／信号が読み出されるときや、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」もしく
は「ＨＤ ＤＶＤ」の光ディスクにデータ／情報／信号が書き込まれるときには、青紫色
レーザが用いられる。
また、「ＣＤ−ＲＯＭ」、「ＤＶＤ−ＲＯＭ」及び「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＯＭ」の「ＲＯ
Ｍ」は、「Ｒｅａｄ Ｏｎｌｙ Ｍｅｍｏｒｙ」の略称とされている。また、「ＢＤ−Ｒ
ＯＭ」は、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ−ＲＯＭ」の略称とされている。「ＣＤ−ＲＯＭ
」、「ＤＶＤ−ＲＯＭ」、「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＯＭ」及び「ＢＤ−ＲＯＭ」は、データ／
情報読出し専用のものとされている。また、「ＣＤ−Ｒ」、「ＤＶＤ−Ｒ」、「ＤＶＤ＋
Ｒ」及び「ＨＤ ＤＶＤ−Ｒ」の「Ｒ」は、「Ｒｅｃｏｒｄａｂｌｅ」の略称とされてい
る。また、「ＢＤ−Ｒ」は、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ−Ｒ」の略称とされている。「
ＣＤ−Ｒ」、「ＤＶＤ−Ｒ」、「ＤＶＤ＋Ｒ」、「ＨＤ ＤＶＤ−Ｒ」及び「ＢＤ−Ｒ」
は、データ／情報の書込みが可能なものとされている。また、「ＣＤ−ＲＷ」、「ＤＶＤ
−ＲＷ」、「ＤＶＤ＋ＲＷ」及び「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＷ」の「ＲＷ」は、「Ｒｅ−Ｗｒｉ
ｔａｂｌｅ」の略称とされている。また「ＢＤ−ＲＥ」は、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ
−ＲＥ」の略称とされている。「ＣＤ−ＲＷ」、「ＤＶＤ−ＲＷ」、「ＤＶＤ＋ＲＷ」、
「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＷ」及び「ＢＤ−ＲＥ」は、データ／情報の書換えが可能なものとさ
れている。また、「ＤＶＤ−ＲＡＭ」及び「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＡＭ」の「ＲＡＭ」は、「
Ｒａｎｄｏｍ Ａｃｃｅｓｓ Ｍｅｍｏｒｙ」の略称とされている。「ＤＶＤ−ＲＡＭ」
及び「ＨＤ ＤＶＤ−ＲＡＭ」は、データ／情報の読書き／消去が可能なものとされてい
る。
光ディスク装置内にてデータ／情報／信号の記録が可能な光ディスクにおいては、光デ
ィスクの信号記録面とされる信号層に、データ／情報／信号が保存されるためのグルーブ
（不図示）が設けられている。グルーブとは、例えば細長いへこみ状のものを意味する。
円板状光ディスクが平面視されたときに、グルーブは、略螺旋状に形成されている。光デ
ィスクにレーザ光が照射されるときに、レーザ光が照射される信号層側から光ディスクを
眺めた場合、グルーブは、渦巻状のものとされている。グルーブは、非常に小さいものと
されているので、グルーブは、目視不能とされる。
光ピックアップ装置は、対物レンズの位置を制御して光ディスク内にある所定の記録ト
ラック上に集光スポットを適切に照射させるべく、フォーカスエラー信号やトラッキング
エラー信号等のエラー信号を検出するための光学系を備えている。
フォーカスとは、例えば焦点やピントを意味する。また、フォーカシングとは、例えば
焦点を合わせることや、焦点が合わせられることを意味する。また、トラッキングとは、
例えば、光を用いて、光ディスクの信号層や光ディスクの信号層等に設けられた微小なピ
ット（穴、凹み）や、グルーブ（溝）、ウォブル（蛇行）などを追跡観測し、略螺旋状に
描かれた軌道の位置を定めることを意味する。また、ピットとは、例えば穴やへこみ状の
ものを意味する。また、ウォブルとは、例えば情報などのデータ信号が記録されるトラッ
クの蛇行を意味する。
光ピックアップ装置における光ディスクの集光スポットのフォーカシング検出法として
、例えば差動非点収差法に基づいた検出法等が挙げられる。差動非点収差法とは、例えば
、非点収差をもった光学系で結像した点像ひずみを検出することにより、集光スポットの
変位を検出する方法とされる。また、光ピックアップ装置における光ディスクの集光スポ
ットのトラッキング検出法として、例えば差動プッシュプル法に基づいた検出法等が挙げ
られる。差動プッシュプル法とは、例えば、データ読書き用のメインビームと、位置ずれ
の補正信号を検出する２つのサブビームとにより、集光スポットの変位を検出する方法と
される。
トラッキングエラー信号の検出方式について説明すると、例えばトラックピッチが１．
６μｍ（ミクロン／マイクロメートル）のＣＤ規格（ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−Ｒ
Ｗ等）の光ディスクに対し、光ピックアップ装置によるトラッキングエラー信号の検出が
行われる場合には、トラッキングエラー信号の検出方式として、３本の光束が用いられる
例えば「３ビーム方式（又は３スポット方式とも称される。）」が主に採用される。また
、例えばトラックピッチが０．７４μｍのＤＶＤ規格（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、Ｄ
ＶＤ−ＲＷ等）の光ディスクに対し、光ピックアップ装置によるトラッキングエラー信号
の検出が行われる場合には、トラッキングエラー信号の検出方式として、少なくとも３本
の光束が用いられる例えば「インライン方式」が主に採用される。ここでのトラッキング
エラー信号の各検出方式の呼び名は、便宜上の呼び名とされている。
また、例えばランド・グルーブ構造をしたＶｅｒｓｉｏｎ１のＤＶＤ−ＲＡＭのトラッ
クピッチが略０．７４μｍとされているのに対し、ランド・グルーブ構造をしたＶｅｒｓ
ｉｏｎ２．０および２．１のＤＶＤ−ＲＡＭのトラックピッチは、略０．６１５μｍとさ
れている。また、例えばランド・グルーブ構造に対し異なる構造をしたＤＶＤ−ＲＯＭ、
ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等のトラックピッチが略０．７４μｍとされているのに対し、
ランド・グルーブ構造をしたＶｅｒｓｉｏｎ２．０および２．１のＤＶＤ−ＲＡＭのトラ
ックピッチは、略０．６１５μｍとされている。このように、ランド・グルーブ構造をし
たＶｅｒｓｉｏｎ１のＤＶＤ−ＲＡＭ、ランド・グルーブ構造に対し異なる構造をしたＤ
ＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ等、ランド・グルーブ構造をしたＶｅｒｓｉｏ
ｎ２．０および２．１のＤＶＤ−ＲＡＭは、トラックピッチが異なる。
まず、ＣＤ規格のエラー信号検出に際して主に採用される「３ビーム方式」について説
明する。光ピックアップ装置には、図２６に示すように、半導体レーザ素子２１０と偏光
ビームスプリッタ２３０間の光路上にＣＤ用回折格子３２０を配置している。ＣＤ用回折
格子３２０は、一定の周期で等間隔に刻まれた直線状の格子溝を有しており、半導体レー
ザ素子２１０から発したレーザ光をメインビーム（０次光）および２つのサブビーム（±
１次回折光束）の少なくとも３ビームに回折分岐させる機能を備えている。
これらの３ビームが偏光ビームスプリッタ２３０、コリメートレンズ２４０、対物レン
ズ２５０を経た結果、図２７の左側に示すように、光ディスクＤの信号層Ｄａ上において
、メインビームに対応したメインスポット１００と、２つのサブビームに各々対応したサ
ブスポット１０１、１０２とが形成される。尚、光ディスクＤの信号層Ｄａ上には信号を
記録するためのトラックＤ１００が周期的に設けられており、メインスポット１００並び
にサブスポット１０１、１０２のディスク半径方向の間隔δは、ＣＤ用回折格子３２０を
光軸回りに回転調整する手段等によって、トラックＤ１００の周期Ｄｔｐの略２分の１に
一致するように調整される。そして、メインスポット１００並びにサブスポット１０１、
１０２の反射光が、再び対物レンズ２５０、コリメートレンズ２４０、偏光ビームスプリ
ッタ２３０に達して、その一部の光量が偏光ビームスプリッタ２３０を透過した後に検出
レンズ２６０を経て光検出器２７０に入射される。
光検出器２７０には、図２７の右側に示すように、メインスポット１００並びにサブス
ポット１０１、１０２の反射光に各々対応した受光面２００ａ、２００ｂ、２００ｃが配
置される。メインスポット１００並びにサブスポット１０１、１０２の反射光が各々受光
面２００ａ、２００ｂ、２００ｃに入射されると、メインスポット１００に対応するメイ
ン検出光スポット２００と、サブスポット１０１、１０２に対応するサブ検出光スポット
２０１、２０２がそれぞれ形成される。
ここで、メインスポット１００がトラックＤ１００上を正確に走査している場合、サブ
検出光スポット２０１、２０２の光量は同一である。しかしながら、メインスポット１０
０の走査がトラックＤ１００上からずれる場合、サブ検出光スポット２０１、２０２間の
光量に差が生じてくる。そこで、例えばサブ検出光スポット２０１、２０２の光量を減算
器４００等によって減算処理等することによって、トラッキングの走査ずれを示すトラッ
キングエラー信号が生成される。
つぎに、ＤＶＤ規格のエラー信号検出に際して主に採用される「インライン方式」につ
いて説明する。インライン方式の光学系としては、基本的には、３ビーム方式と略同じ光
学系に基づきトラッキングエラー信号を検出することができる。ただし、３ビーム方式の
光学系と対比して、図２９の左側に示すように、一方の半平面３４１に形成された格子溝
の周期構造の位相が他方の半平面３４２に形成された格子溝の周期構造の位相に対して約
１８０度ずれたＤＶＤ用回折格子３４０を用いる点が相違する。
ここで、ＤＶＤ用回折格子３４０を図２６に示すＣＤ用回折格子３２０と略同じ位置に
ＣＤ用回折格子３２０と置き換えて設ける場合と仮定する。また、インライン方式に対応
すべく、図２８の左側に示すように、光ディスクＤの信号層Ｄａに照射されたメインスポ
ット１００及びサブスポット１０１、１０２が同一のトラックＤ１００上を照射するよう
に、ＤＶＤ用回折格子３４０や集光光学系等の配置位置が調整された場合と仮定する。
メイン検出光スポット２００を形成するＤＶＤ用のメインビームが光検出器２７０の受
光面２００ａに照射されたときに、受光面２００ａに接続された減算器５００ａは、受光
面２００ａからの出力信号の差分を演算し例えばメインプッシュプル信号Ｓａとして生成
する。
また、サブ検出光スポット２０１を形成するＤＶＤ用の第１のサブビームが光検出器２
７０の受光面２００ｂに照射されたときに、受光面２００ｂに接続された減算器５００ｂ
は、受光面２００ｂからの出力信号の差分を演算し例えば先行サブプッシュプル信号Ｓｂ
として生成する。
また、サブ検出光スポット２０２を形成するＤＶＤ用の第２のサブビームが光検出器２
７０の受光面２００ｃに照射されたときに、受光面２００ｃに接続された減算器５００ｃ
は、受光面２００ｃからの出力信号の差分を演算し例えば遅行サブプッシュプル信号Ｓｃ
として生成する。
図２８の右側に示すように、メイン検出光スポット２００から検出されるプッシュプル
信号Ｓａと、サブスポット１０１、１０２のそれぞれに対応するサブ検出光スポット２０
１、２０２から検出されるプッシュプル信号Ｓｂ、Ｓｃとは、３ビーム方式と同様に互い
に逆位相で出力される。そののちに、加算器５１０によってプッシュプル信号Ｓｂ、Ｓｃ
が加算され、この加算された信号が減算器５３０によってプッシュプル信号Ｓａに対し減
算処理されることにより、プッシュプル信号Ｓａ、Ｓｂ、Ｓｃの各オフセット成分が相殺
されたトラッキングエラー信号を生成することが可能となる。
ところで、近年、ＣＤ規格の光ディスクとＤＶＤ規格の光ディスクとの両方の記録再生
を行うことができる光ピックアップ装置が提案されている。尚、当該光ピックアップ装置
では、光学系の簡略化によるコストダウンを図るべく、ＣＤ規格に適した赤外波長帯７６
５ｎｍ〜８０５ｎｍ（ナノメートル）の第１の波長の第１のレーザ光を発するＣＤ用半導
体レーザ素子及びＤＶＤ規格に適した赤色波長帯６４５ｎｍ〜６７５ｎｍの第２の波長の
第２のレーザ光を発するＤＶＤ用半導体レーザ素子を具備したマルチレーザユニットが用
いられる。
また、当該光ピックアップ装置では、光学系の更なる簡略化を図るべく、ＣＤ規格の３
ビーム方式及びＤＶＤ規格のインライン方式の両方に対応した２波長対応回折格子が用い
られる（例えば、以下に示す特許文献１を参照）。例えば２波長対応回折格子３００Ａの
構造としては、図２９に示すように、光学ガラス板３６０の厚さ方向で対向する一方の平
面及び他方の平面に関して、当該一方の平面にはＣＤ用回折格子３２０を固着し、当該他
方の平面にはＤＶＤ用回折格子３４０を固着して構成される。
図２９に示した２波長対応回折格子３００Ａの構造以外にも、例えば、図３０に示すよ
うな構造の２波長対応回折格子３００Ｂが提案されている（例えば、以下に示す特許文献
２を参照）。例えば２波長対応回折格子３００Ｂの構造としては、液晶材料等を含んで構
成されたＣＤ用回折格子３２０及びＤＶＤ用回折格子３４０を重ね合わせて固着した上で
、２枚の光学ガラス板３６１、３６２の間に挟み込んで固着して構成される。
特開２００７−１６４９６２号公報（第１頁、第１−８図） 特開２００７−１４９２４９号公報（第１頁、第１−７図）
しかしながら、上記のようなＣＤ用回折格子３２０及びＤＶＤ用回折格子３４０を組み
合わせた２波長対応回折格子３００Ａまたは３００Ｂが使用された場合、例えば、ＣＤ規
格の第１のレーザ光をＣＤ用回折格子３２０に入射させたときに、ＣＤ用回折格子３２０
によって当該第１のレーザ光が回折されてメインビーム（０次光）及び２つのサブビーム
（±１次回折光束）の３ビームに分岐される。そして、当該３ビームがＤＶＤ用回折格子
３４０により更に回折されて分岐される。
このように、マルチレーザユニットから発光される第１のレーザ光又は第２のレーザ光
が、２波長対応回折格子３００Ａまたは３００ＢのＣＤ用回折格子３２０及びＤＶＤ用回
折格子３４０の両方を通過する結果、ＣＤ用及びＤＶＤ用それぞれの回折格子３２０、３
４０において回折分岐が行われるので、不要な回折光が発生してしまう。この結果、トラ
ッキングエラー信号等のエラー信号検出精度が悪化するという問題が生じていた。
また、例えば不要な回折光の発生により、回折格子３２０、３４０における０次光およ
び±１次回折光の透過率が低下し、その結果、マルチレーザユニットから発せられる出射
光の利用効率が低下するという問題も生じていた。
また、近年、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｖｅｒｓ
ｉｏｎ１、２．０、２．１）等のトラックピッチＤｔｐの異なる複数種類の光ディスクＤ
に対して不具合なく対応可能とさせるために、トラッキング制御等の制御が行われ易い高
度な光ピックアップ装置や、トラッキング制御等の制御が行われ易い高度な光ピックアッ
プ装置を備えた光ディスク装置が、市場から要求されている。
例えば、トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類の光ディスクＤのデータ記録／再生時
に、対物レンズ２５０の変位に伴うトラッキングエラー信号等のエラー信号の振幅を劣化
させない光ピックアップ装置や、トラッキングエラー信号等のエラー信号にオフセットを
残留させない光ピックアップ装置が、市場から要求されている。
また、上記問題が解決されるとともに安価な光ピックアップ装置や安価な光ディスク装
置も求められている。
前述した課題を解決するために、本発明の請求項１に係る光ピックアップ装置は、第１
波長光と第２波長光とを少なくとも出射可能な発光素子と、前記第１波長光を少なくとも
第１メインビームと第１サブビームとに分け、且つ、前記第２波長光を少なくとも第２メ
インビームと第２サブビームとに分ける回折格子と、を少なくとも備え、前記第１波長光
に対応する第１メディアに前記第１メインビームと前記第１サブビームとが照射されたと
きの前記第１メインビームと前記第１サブビームとの間隔をＹｐ１と定め、前記第２波長
光に対応する第２メディアに前記第２メインビームと前記第２サブビームとが照射された
ときの前記第２メインビームと前記第２サブビームとの間隔をＹｐ２と定めたときに、下
式（１）を満足すること、を特徴とする。
上記構成により、第１波長光と第２波長光とに確実に対応するとともにエラー信号の検
出精度が向上された光ピックアップ装置が構成される。発光素子から出射された第１波長
光が回折格子により少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分けられて、第１
メインビームと第１サブビームとが第１メディアに照射されるときに、第１メインビーム
と第１サブビームとは、第１メディアに精度よく照射される。また、発光素子から出射さ
れた第２波長光が回折格子により少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分け
られて、第２メインビームと第２サブビームとが第２メディアに照射されるときに、第２
メインビームと第２サブビームとは、第２メディアに精度よく照射される。
請求項２に係る光ピックアップ装置は、第１波長光と第２波長光とを少なくとも出射可
能な発光素子と、前記第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分
け、且つ、前記第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分ける回
折格子と、を少なくとも備え、前記第１波長光に対応する第１メディアに前記第１メイン
ビームと前記第１サブビームとが照射されたときに、前記第１メインビームの光の強さと
前記第１サブビームの光の強さとの総和に対する前記第１メインビームの光の強さとされ
た光の効率比をＡ１と定め、前記第２波長光に対応する第２メディアに前記第２メインビ
ームと前記第２サブビームとが照射されたときに、前記第２メインビームの光の強さと前
記第２サブビームの光の強さとの総和に対する前記第２メインビームの光の強さとされた
光の効率比をＡ２と定めた場合に、下式（２）及び下式（３）を満足すること、を特徴と
する。
0.90＜Ａ１＜0.94 …（２）
0.87＜Ａ２＜0.91 …（３）
上記構成により、第１波長光と第２波長光とに確実に対応するとともにエラー信号の検
出精度が向上された光ピックアップ装置が構成される。発光素子から出射された第１波長
光が回折格子により少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分けられて、第１
メインビームと第１サブビームとが第１メディアに照射されるときに、第１メインビーム
と第１サブビームとは、第１メディアに確実に照射される。また、発光素子から出射され
た第２波長光が回折格子により少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分けら
れて、第２メインビームと第２サブビームとが第２メディアに照射されるときに、第２メ
インビームと第２サブビームとは、第２メディアに確実に照射される。
請求項３に係る光ピックアップ装置は、第１波長光と第２波長光とを少なくとも出射可
能な発光素子と、前記第２波長光に対応する回折格子と、を少なくとも備え、前記発光素
子における前記第１波長光の発光位置と前記第２波長光の発光位置とが異なることに対応
して、前記第１波長光に対応する第１メディア上の前記第１波長光の集光位置と前記第２
波長光に対応する第２メディア上の前記第２波長光の集光位置とが異なること、を特徴と
する。
上記構成により、第１メディア上に第１波長光を確実に集光させるとともに、第２メデ
ィア上に第２波長光を確実に集光させる光ピックアップ装置が構成される。
請求項４に係る光ピックアップ装置は、請求項３に記載の光ピックアップ装置において
、略円板状をした前記第１メディア上の前記第１波長光の集光位置よりも略円板状をした
前記第２メディア上の前記第２波長光の集光位置のほうが略円板状をしたメディアの内周
側に存すること、を特徴とする。
上記構成により、第１メディア上に第１波長光を確実に集光させるとともに、第２メデ
ィア上に第２波長光を確実に集光させる光ピックアップ装置が構成される。
請求項５に係る光ピックアップ装置は、請求項１に記載の光ピックアップ装置と、請求
項２に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１波長光と第２波長光とに確実に対応するとともにエラー信号の検
出精度が向上された光ピックアップ装置が構成される。発光素子から出射された第１波長
光が回折格子により少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分けられて、第１
メインビームと第１サブビームとが第１メディアに照射されるときに、第１メインビーム
と第１サブビームとは、第１メディアに精度よく確実に照射される。また、発光素子から
出射された第２波長光が回折格子により少なくとも第２メインビームと第２サブビームと
に分けられて、第２メインビームと第２サブビームとが第２メディアに照射されるときに
、第２メインビームと第２サブビームとは、第２メディアに精度よく確実に照射される。
請求項６に係る光ピックアップ装置は、請求項１に記載の光ピックアップ装置と、請求
項３に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１波長光と第２波長光とに確実に対応するとともにエラー信号の検
出精度が向上された光ピックアップ装置が構成される。発光素子から出射された第１波長
光が回折格子により少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分けられて、第１
メインビームと第１サブビームとが第１メディアに照射されるときに、第１メインビーム
と第１サブビームとは、第１メディアに精度よく照射される。また、発光素子から出射さ
れた第２波長光が回折格子により少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分け
られて、第２メインビームと第２サブビームとが第２メディアに照射されるときに、第２
メインビームと第２サブビームとは、第２メディアに精度よく照射される。第１メディア
上に第１波長光を確実に集光させるとともに、第２メディア上に第２波長光を確実に集光
させる光ピックアップ装置が構成される。
請求項７に係る光ピックアップ装置は、請求項２に記載の光ピックアップ装置と、請求
項３に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１波長光と第２波長光とに確実に対応するとともにエラー信号の検
出精度が向上された光ピックアップ装置が構成される。発光素子から出射された第１波長
光が回折格子により少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分けられて、第１
メインビームと第１サブビームとが第１メディアに照射されるときに、第１メインビーム
と第１サブビームとは、第１メディアに確実に照射される。また、発光素子から出射され
た第２波長光が回折格子により少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分けら
れて、第２メインビームと第２サブビームとが第２メディアに照射されるときに、第２メ
インビームと第２サブビームとは、第２メディアに確実に照射される。第１メディア上に
第１波長光を確実に集光させるとともに、第２メディア上に第２波長光を確実に集光させ
る光ピックアップ装置が構成される。
請求項８に係る光ピックアップ装置は、請求項１に記載の光ピックアップ装置と、請求
項２に記載の光ピックアップ装置と、請求項３に記載の光ピックアップ装置と、が合わせ
られたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１波長光と第２波長光とに確実に対応するとともにエラー信号の検
出精度が向上された光ピックアップ装置が構成される。発光素子から出射された第１波長
光が回折格子により少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分けられて、第１
メインビームと第１サブビームとが第１メディアに照射されるときに、第１メインビーム
と第１サブビームとは、第１メディアに精度よく確実に照射される。又、発光素子から出
射された第２波長光が回折格子により少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに
分けられて、第２メインビームと第２サブビームとが第２メディアに照射されるときに、
第２メインビームと第２サブビームとは、第２メディアに精度よく確実に照射される。第
１メディア上に第１波長光を確実に集光させるとともに、第２メディア上に第２波長光を
確実に集光させる光ピックアップ装置が構成される。
請求項９に係る光ピックアップ装置は、第１波長光を少なくとも第１メインビームと第
１サブビームとに分け、第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに
分け、前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、前記第１メインビームが
照射される第１メイン受光部と、前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、前
記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、前記第２サブビームが照射される
第２サブ受光部と、を有する光検出器と、を少なくとも備え、規格化された第１メイン受
光部と第１サブ受光部との間の距離に対し、前記第１メイン受光部と前記第１サブ受光部
との間の距離が変更されたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。第２波長
光に対応した回折面部を有する回折格子が光ピックアップ装置に備えられ、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第１波長光が透過したときに、第１波長光が少なくとも第
１メインビームと第１サブビームとに分けられるものとされていれば、第１波長光が回折
格子を透過するときに不要な光が生じるということは略防止される。また、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第２波長光が透過したときに、不要な光が略生じることな
く、第２波長光は、少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分けられる。また
、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離に対し、この光検出器に
おいては、第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離が変更されているので、第２
波長光に対応した回折格子の回折面部を第１波長光が透過するときに、第２波長光に対応
した回折格子の回折面部によって分けられた第１波長光の第１サブビームが光検出器の第
１サブ受光部に照射されないという不具合の発生は回避される。本発明における規格化は
、例えば広く普及されてきた従来のもの等を説明するときのために、便宜上、用いられる
。第２波長光に対応した回折格子の回折面部を第１波長光が透過することによって不要な
光が略生じることなく分けられた第１波長光の第１サブビームは、光検出器の第１メイン
受光部に対し距離が変更された第１サブ受光部に照射される。また、第２波長光に対応し
た回折格子の回折面部を第１波長光が透過することによって不要な光が略生じることなく
分けられた第１波長光の第１メインビームは、光検出器の第１メイン受光部に照射される
。また、第２波長光に対応した回折格子の回折面部を第２波長光が透過することによって
不要な光が略生じることなく分けられた第２波長光の第２サブビームは、光検出器の第２
サブ受光部に照射される。また、第２波長光に対応した回折格子の回折面部を第２波長光
が透過することによって不要な光が略生じることなく分けられた第２波長光の第２メイン
ビームは、光検出器の第２メイン受光部に照射される。
請求項１０に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置におい
て、変更された前記第１メイン受光部と前記第１サブ受光部との間の前記距離は、前記規
格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離よりも長く設定されたこと、
を特徴とする。
上記構成により、信号の検出精度を向上させた光ピックアップ装置が構成される。回折
格子の回折面部によって第１波長光が分けられて生じた第１メインビームが、光検出器の
第１サブ受光部に悪影響を及ぼすということは回避され易くなる。また、回折格子の回折
面部によって第１波長光が分けられて生じた第１サブビームが、光検出器の第１メイン受
光部に悪影響を及ぼすということは回避され易くなる。例えば、変更された第１メイン受
光部と第１サブ受光部との間の距離が、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部
との間の距離よりも短く設定されていると、第１メインビームが、光検出器の第１サブ受
光部に干渉することが懸念される。また、例えば、変更された第１メイン受光部と第１サ
ブ受光部との間の距離が、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離
よりも短く設定されていると、第１サブビームが、光検出器の第１メイン受光部に干渉す
ることが懸念される。しかしながら、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部と
の間の距離よりも、変更された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離のほうが
長く設定されているので、光検出器の第１メイン受光部に第１メインビームが照射される
ときに、第１メインビームが第１サブ受光部に干渉するということは回避され易くなる。
また、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離よりも、変更された
第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離のほうが長く設定されているので、光検
出器の第１サブ受光部に第１サブビームが照射されるときに、第１サブビームが第１メイ
ン受光部に干渉するということは回避され易くなる。
請求項１１に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置におい
て、前記規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の値が１００％の
値と定められたときに、変更された前記第１メイン受光部と前記第１サブ受光部との間の
前記距離の値は、前記規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の値
に対し、略１１１％の値に設定されたこと、を特徴とする。
上記構成により、信号の検出精度を向上させた光ピックアップ装置が構成される。回折
格子の回折面部によって第１波長光が分けられて生じた第１メインビームが、光検出器の
第１サブ受光部に悪影響を及ぼすということは回避される。また、回折格子の回折面部に
よって第１波長光が分けられて生じた第１サブビームが、光検出器の第１メイン受光部に
悪影響を及ぼすということは回避される。例えば、変更された第１メイン受光部と第１サ
ブ受光部との間の距離が、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離
よりも短く設定されていると、第１メインビームが、光検出器の第１サブ受光部に干渉す
ることが懸念される。また、例えば、変更された第１メイン受光部と第１サブ受光部との
間の距離が、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離よりも短く設
定されていると、第１サブビームが、光検出器の第１メイン受光部に干渉することが懸念
される。しかしながら、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の
値が１００％の値と定められたときに、変更された第１メイン受光部と第１サブ受光部と
の間の距離の値が、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の値に
対し、略１１１％の値に設定されているので、光検出器の第１メイン受光部に第１メイン
ビームが照射されるときに、第１メインビームが第１サブ受光部に干渉するということは
回避される。また、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の値が
１００％の値と定められたときに、変更された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間
の距離の値が、規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の値に対し
、略１１１％の値に設定されているので、光検出器の第１サブ受光部に第１サブビームが
照射されるときに、第１サブビームが第１メイン受光部に干渉するということは回避され
る。
請求項１２に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置におい
て、前記規格化された第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値が１００％の
値と定められたときに、前記第２メイン受光部と前記第２サブ受光部との間の前記距離の
値は、前記規格化された第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値に対し、略
１００％の値に設定されたこと、を特徴とする。
上記構成により、信号の検出精度を向上させた光ピックアップ装置が構成される。回折
格子の回折面部によって第２波長光が分けられて生じた第２メインビームが、光検出器の
第２サブ受光部に悪影響を及ぼすということは回避される。また、回折格子の回折面部に
よって第２波長光が分けられて生じた第２サブビームが、光検出器の第２メイン受光部に
悪影響を及ぼすということは回避される。例えば、第２メイン受光部と第２サブ受光部と
の間の距離が、規格化された第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離よりも短く
設定されていると、第２メインビームが、光検出器の第２サブ受光部に干渉することが懸
念される。また、例えば、第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離が、規格化さ
れた第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離よりも短く設定されていると、第２
サブビームが、光検出器の第２メイン受光部に干渉することが懸念される。しかしながら
、規格化された第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値が１００％の値と定
められたときに、第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値が、規格化された
第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値に対し、略１００％の値に設定され
ているので、光検出器の第２メイン受光部に第２メインビームが照射されるときに、第２
メインビームが第２サブ受光部に干渉するということは回避される。また、規格化された
第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値が１００％の値と定められたときに
、第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値が、規格化された第２メイン受光
部と第２サブ受光部との間の距離の値に対し、略１００％の値に設定されているので、光
検出器の第２サブ受光部に第２サブビームが照射されるときに、第２サブビームが第２メ
イン受光部に干渉するということは回避される。
請求項１３に係る光ピックアップ装置は、第１波長光を少なくとも第１メインビームと
第１サブビームとに分け、第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームと
に分け、前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、前記第１メインビーム
が照射される第１メイン受光部と、前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、
前記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、前記第２サブビームが照射され
る第２サブ受光部と、を有する光検出器と、を少なくとも備え、前記第１メイン受光部を
中心に一対の位置変更された前記第１サブ受光部が配置されて、前側の前記第１サブ受光
部と、中央の前記第１メイン受光部と、後側の前記第１サブ受光部と、が並設されたとき
に、前側の前記第１サブ受光部と、中央の前記第１メイン受光部と、後側の前記第１サブ
受光部と、の分光比は、規格化された前側の第１サブ受光部と、中央の第１メイン受光部
と、後側の第１サブ受光部と、の分光比に対し、変更されたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。第２波長
光に対応した回折面部を有する回折格子が光ピックアップ装置に備えられ、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第１波長光が透過したときに、第１波長光が少なくとも第
１メインビームと第１サブビームとに分けられるものとされていれば、第１波長光が回折
格子を透過するときに不要な光が生じるということは略防止される。また、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第２波長光が透過したときに、不要な光が略生じることな
く、第２波長光は、少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分けられる。また
、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精
度よく行われ易くなる。第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子を第１波長光が
透過して、第１波長光が、前側の第１サブビームと、中央の第１メインビームと、後側の
第１サブビームと、に少なくとも分けられたときに、前側の第１サブビームが照射される
前側の第１サブ受光部と、中央の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受光部
と、後側の第１サブビームが照射される後側の第１サブ受光部と、の分光比が、規格化さ
れた前側の第１サブ受光部と、中央の第１メイン受光部と、後側の第１サブ受光部と、の
分光比に対して変更されていれば、設定変更された光検出器にて、第１メインビームの検
出と第１サブビームの検出とが精度よく行われ易くなる。
請求項１４に係る光ピックアップ装置は、請求項１３に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記第１メイン受光部を中心に一対の位置変更された前記第１サブ受光部が配置さ
れて、前側の前記第１サブ受光部と、中央の前記第１メイン受光部と、後側の前記第１サ
ブ受光部と、が並設されたときに、前側の前記第１サブ受光部と、中央の前記第１メイン
受光部と、後側の前記第１サブ受光部と、の分光比は、略１：（２０〜２６）：１とされ
たこと、を特徴とする。
上記構成により、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更され
た光検出器にて精度よく行われる。例えば、第１波長光に対応した第１回折面部と、第２
波長光に対応した第２回折面部と、を有する従来の回折格子を第１波長光が透過して、第
１波長光が、前側の第１サブビームと、中央の第１メインビームと、後側の第１サブビー
ムと、に少なくとも分けられたときに、前側の第１サブビームが照射される前側の第１サ
ブ受光部と、中央の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受光部と、後側の第
１サブビームが照射される後側の第１サブ受光部と、の分光比が、例えば略１：１６：１
に設定されることで、従来の規格化された光検出器にて、第１メインビームの検出と第１
サブビームの検出とが精度よく行われていた。しかしながら、第１波長光に対応した回折
面部が省略され、第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子を第１波長光が透過し
て、第１波長光が、前側の第１サブビームと、中央の第１メインビームと、後側の第１サ
ブビームと、に少なくとも分けられた場合には、前側の第１サブビームが照射される前側
の第１サブ受光部と、中央の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受光部と、
後側の第１サブビームが照射される後側の第１サブ受光部と、の分光比が、例えば略１：
１６：１に設定されていると、従来の規格化された光検出器においては、第１メインビー
ムの検出と第１サブビームの検出とが精度よく行われないことが懸念されていた。これに
対し、第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子を第１波長光が透過して、第１波
長光が、前側の第１サブビームと、中央の第１メインビームと、後側の第１サブビームと
、に少なくとも分けられたときに、前側の第１サブビームが照射される前側の第１サブ受
光部と、中央の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受光部と、後側の第１サ
ブビームが照射される後側の第１サブ受光部と、の分光比が、略１：（２０〜２６）：１
に設定されていれば、設定変更された光検出器にて、第１メインビームの検出と第１サブ
ビームの検出とが精度よく行われる。前側の第１サブビームが照射される前側の第１サブ
受光部と、中央の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受光部と、後側の第１
サブビームが照射される後側の第１サブ受光部と、の分光比が例えば略１：２０未満：１
とされた場合や、この分光比が例えば略１：２６超：１とされた場合には、第１メインビ
ームの検出と第１サブビームの検出とが精度よく行われないことが懸念されるが、この分
光比が略１：（２０〜２６）：１好ましくは略１：（２１〜２５）：１に設定されること
により、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とが精度よく行われる。
請求項１５に係る光ピックアップ装置は、請求項１３に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記第２メイン受光部を中心に一対の前記第２サブ受光部が配置されて、前側の前
記第２サブ受光部と、中央の前記第２メイン受光部と、後側の前記第２サブ受光部と、が
並設されたときに、前側の前記第２サブ受光部と、中央の前記第２メイン受光部と、後側
の前記第２サブ受光部と、の分光比は、略１：（１２〜１８）：１とされたこと、を特徴
とする。
上記構成により、第２メインビームの検出と第２サブビームの検出とは、光検出器にて
精度よく行われる。第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子を第２波長光が透過
して、第２波長光が、前側の第２サブビームと、中央の第２メインビームと、後側の第２
サブビームと、に少なくとも分けられたときに、前側の第２サブビームが照射される前側
の第２サブ受光部と、中央の第２メインビームが照射される中央の第２メイン受光部と、
後側の第２サブビームが照射される後側の第２サブ受光部と、の分光比が、略１：（１２
〜１８）：１に設定されていれば、光検出器にて第２メインビームの検出と第２サブビー
ムの検出とが精度よく行われる。前側の第２サブビームが照射される前側の第２サブ受光
部と、中央の第２メインビームが照射される中央の第２メイン受光部と、後側の第２サブ
ビームが照射される後側の第２サブ受光部と、の分光比が例えば略１：１２未満：１とさ
れた場合や、この分光比が例えば略１：１８超：１とされた場合には、第２メインビーム
の検出と第２サブビームの検出とが精度よく行われないことが懸念されるが、この分光比
が略１：（１２〜１８）：１好ましくは略１：（１４〜１８）：１に設定されることによ
り、第２メインビームの検出と第２サブビームの検出とが精度よく行われる。
請求項１６に係る光ピックアップ装置は、第１波長光を少なくとも第１メインビームと
第１サブビームとに分け、第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームと
に分け、前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、前記第１メインビーム
が照射される第１メイン受光部と、前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、
前記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、前記第２サブビームが照射され
る第２サブ受光部と、を有する光検出器と、を少なくとも備え、規格化された第１メイン
受光部の受光感度の値に対し、前記第１メイン受光部の受光感度の値が変更または同じと
され、規格化された第１サブ受光部の受光感度の値に対し、前記第１サブ受光部の受光感
度の値が変更されたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。第２波長
光に対応した回折面部を有する回折格子が光ピックアップ装置に備えられ、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第１波長光が透過したときに、第１波長光が少なくとも第
１メインビームと第１サブビームとに分けられるものとされていれば、第１波長光が回折
格子を透過するときに不要な光が生じるということは略防止される。また、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第２波長光が透過したときに、不要な光が略生じることな
く、第２波長光は、少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分けられる。また
、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精
度よく行われ易くなる。規格化された第１メイン受光部の受光感度の値に対し、第１メイ
ン受光部の受光感度の値が変更または同じとされ、規格化された第１サブ受光部の受光感
度の値に対し、第１サブ受光部の受光感度の値が変更されることにより、設定変更された
光検出器にて、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とが精度よく行われ易く
なる。
請求項１７に係る光ピックアップ装置は、請求項１６に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたと
きに、前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値に対し、変更または同じとされ
た前記第１メイン受光部の受光感度の値は、略１００％または略１００％以下の低い値に
設定され、前記規格化された第１サブ受光部の受光感度の値が１００％の値と定められた
ときに、前記規格化された第１サブ受光部の受光感度の値に対し、変更された前記第１サ
ブ受光部の受光感度の値は、略１００％以上の高い値に設定されたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更され
た光検出器にて精度よく行われ易くなる。規格化された第１メイン受光部の受光感度の値
が１００％とされているのに対し、変更または同じとされた第１メイン受光部の受光感度
の値が略１００％または略１００％以下の低い値に設定され、規格化された第１サブ受光
部の受光感度の値が１００％とされているのに対し、変更された第１サブ受光部の受光感
度の値が略１００％以上の高い値に設定されることにより、設定変更された光検出器にて
、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とが精度よく行われ易くなる。
請求項１８に係る光ピックアップ装置は、請求項１６に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたと
きに、前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値に対し、変更または同じとされ
た前記第１メイン受光部の受光感度の値は、略９５〜１００％の値に設定され、前記規格
化された第１サブ受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに、前記規格化
された第１サブ受光部の受光感度の値に対し、変更された前記第１サブ受光部の受光感度
の値は、略１２０〜１６０％の値に設定されたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更され
た光検出器にて精度よく行われる。規格化された第１メイン受光部の受光感度の値が１０
０％とされているのに対し、変更または同じとされた第１メイン受光部の受光感度の値が
略９５〜１００％の値に設定され、規格化された第１サブ受光部の受光感度の値が１００
％とされているのに対し、変更された第１サブ受光部の受光感度の値が略１２０〜１６０
％の値に設定されることにより、設定変更された光検出器にて、第１メインビームの検出
と第１サブビームの検出とが精度よく行われる。
請求項１９に係る光ピックアップ装置は、請求項１６に記載の光ピックアップ装置にお
いて、規格化された第２メイン受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに
、前記規格化された第２メイン受光部の受光感度の値に対し、前記第２メイン受光部の受
光感度の値は、略１００％の値に設定され、規格化された第２サブ受光部の受光感度の値
が１００％の値と定められたときに、前記規格化された第２サブ受光部の受光感度の値に
対し、前記第２サブ受光部の受光感度の値は、略１００％の値に設定されたこと、を特徴
とする。
上記構成により、第２メインビームの検出と第２サブビームの検出とは、光検出器にて
精度よく行われる。規格化された第２メイン受光部の受光感度の値が１００％とされてい
るのに対し、第２メイン受光部の受光感度の値が略１００％の値に設定され、規格化され
た第２サブ受光部の受光感度の値が１００％とされているのに対し、第２サブ受光部の受
光感度の値が略１００％の値に設定されることにより、光検出器にて、第２メインビーム
の検出と第２サブビームの検出とが精度よく行われる。
請求項２０に係る光ピックアップ装置は、第１波長光を少なくとも第１メインビームと
第１サブビームとに分け、第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームと
に分け、前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、前記第１メインビーム
が照射される第１メイン受光部と、前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、
前記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、前記第２サブビームが照射され
る第２サブ受光部と、を有する光検出器と、を少なくとも備え、規格化された第１メイン
受光部から出力される信号の値に対し、前記第１メイン受光部から出力される信号の値が
変更または同じとされ、規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値に対し、前
記第１サブ受光部から出力される信号の値が変更されたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。第２波長
光に対応した回折面部を有する回折格子が光ピックアップ装置に備えられ、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第１波長光が透過したときに、第１波長光が少なくとも第
１メインビームと第１サブビームとに分けられるものとされていれば、第１波長光が回折
格子を透過するときに不要な光が生じるということは略防止される。また、第２波長光に
対応した回折格子の回折面部を第２波長光が透過したときに、不要な光が略生じることな
く、第２波長光は、少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分けられる。また
、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、精度よく行われ易くなる。規格
化された第１メイン受光部から出力される信号の値に対し、第１メイン受光部から出力さ
れる信号の値が変更または同じとされ、規格化された第１サブ受光部から出力される信号
の値に対し、第１サブ受光部から出力される信号の値が変更されることにより、第１メイ
ンビームの検出と第１サブビームの検出とが精度よく行われ易くなる。
請求項２１に係る光ピックアップ装置は、請求項２０に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値が１００％の値と定め
られたときに、前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値に対し、変更
または同じとされた前記第１メイン受光部から出力される信号の値は、略１００％または
略１００％以下の低い値に設定され、前記規格化された第１サブ受光部から出力される信
号の値が１００％の値と定められたときに、前記規格化された第１サブ受光部から出力さ
れる信号の値に対し、変更された前記第１サブ受光部から出力される信号の値は、略１０
０％以上の高い値に設定されたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、精度よく行わ
れ易くなる。規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値が１００％とされて
いるのに対し、変更または同じとされた第１メイン受光部から出力される信号の値が略１
００％または略１００％以下の低い値に設定され、規格化された第１サブ受光部から出力
される信号の値が１００％とされているのに対し、変更された第１サブ受光部から出力さ
れる信号の値が略１００％以上の高い値に設定されることにより、第１メインビームの検
出と第１サブビームの検出とが精度よく行われ易くなる。
請求項２２に係る光ピックアップ装置は、請求項２０に記載の光ピックアップ装置にお
いて、前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値が１００％の値と定め
られたときに、前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値に対し、変更
または同じとされた前記第１メイン受光部から出力される信号の値は、略９５〜１００％
の値に設定され、前記規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値が１００％の
値と定められたときに、前記規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値に対し
、変更された前記第１サブ受光部から出力される信号の値は、略１２０〜１６０％の値に
設定されたこと、を特徴とする。
上記構成により、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、精度よく行わ
れる。規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値が１００％とされているの
に対し、変更または同じとされた第１メイン受光部から出力される信号の値が略９５〜１
００％の値に設定され、規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値が１００％
とされているのに対し、変更された第１サブ受光部から出力される信号の値が略１２０〜
１６０％の値に設定されることにより、第１メインビームの検出と第１サブビームの検出
とが精度よく行われる。
請求項２３に係る光ピックアップ装置は、請求項２０に記載の光ピックアップ装置にお
いて、規格化された第２メイン受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められ
たときに、前記規格化された第２メイン受光部から出力される信号の値に対し、前記第２
メイン受光部から出力される信号の値は、略１００％の値に設定され、規格化された第２
サブ受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められたときに、前記規格化され
た第２サブ受光部から出力される信号の値に対し、前記第２サブ受光部から出力される信
号の値は、略１００％の値に設定されたこと、を特徴とする。
上記構成により、第２メインビームの検出と第２サブビームの検出とは、光検出器にて
精度よく行われる。規格化された第２メイン受光部から出力される信号の値が１００％と
されているのに対し、第２メイン受光部から出力される信号の値が略１００％の値に設定
され、規格化された第２サブ受光部から出力される信号の値が１００％とされているのに
対し、第２サブ受光部から出力される信号の値が略１００％の値に設定されることにより
、光検出器にて、第２メインビームの検出と第２サブビームの検出とが精度よく行われる
。
請求項２４に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置と、請
求項１３に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。また、第
１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精度よ
く行われ易くなる。
請求項２５に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置と、請
求項１６に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。また、第
１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精度よ
く行われ易くなる。
請求項２６に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置と、請
求項２０に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。
請求項２７に係る光ピックアップ装置は、請求項１３に記載の光ピックアップ装置と、
請求項１６に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。また、第
１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精度よ
く行われ易くなる。
請求項２８に係る光ピックアップ装置は、請求項１３に記載の光ピックアップ装置と、
請求項２０に記載の光ピックアップ装置と、が合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。また、第
１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精度よ
く行われ易くなる。
請求項２９に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置と、請
求項１３に記載の光ピックアップ装置と、請求項１６に記載の光ピックアップ装置と、が
合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。また、第
１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精度よ
く行われ易くなる。
請求項３０に係る光ピックアップ装置は、請求項９に記載の光ピックアップ装置と、請
求項１３に記載の光ピックアップ装置と、請求項２０に記載の光ピックアップ装置と、が
合わせられたこと、を特徴とする。
上記構成により、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。また、第
１メインビームの検出と第１サブビームの検出とは、設定変更された光検出器にて精度よ
く行われ易くなる。
請求項３１に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子の回折面部は、前記
第１波長光を少なくとも前記第１メインビームと前記第１サブビームとに分ける回折面部
と、前記第２波長光を少なくとも前記第２メインビームと前記第２サブビームとに分ける
回折面部と、を兼ねたこと、を特徴とする。
上記構成により、回折格子における不要な回折光の発生が抑えられるとともに光の効率
の低下が防止され、更に価格を低く抑えることが可能な光ピックアップ装置が構成される
。回折格子の回折面部が、第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームと
に分ける回折面部と、第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分
ける回折面部と、を兼ねて形成されていれば、第１波長光が不要に回折されて第１波長光
の効率が低下されたり、第２波長光が不要に回折されて第２波長光の効率が低下されたり
するということは回避される。また、第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サ
ブビームとに分ける回折面部と、第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビ
ームとに分ける回折面部と、を兼ねて回折格子の回折面部が形成されているので、加工部
分、加工工数が減らされた回折格子が構成される。回折格子の加工部分、加工工数が減ら
されるので、回折格子の価格が低く抑えられる。これに伴って、価格を低く抑えることが
可能とされた光ピックアップ装置を構成させることが可能となる。
請求項３２に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は、複数の領域部に
分けられたこと、を特徴とする。
上記構成により、メディアに対する光ピックアップ装置のエラー信号の検出は、良好に
行われ易くなる。例えば、メディアに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、良好
に行われ易くなる。メディアとは、情報を記録して媒介するものや情報を記録して伝達す
るものを意味する。また、光ピックアップ装置におけるトラッキングとは、メディアの半
径方向の振れに追従して、目標のトラック上に常にスポットを存在させる動作を意味する
。回折格子が複数の領域部に分けられて構成されることにより、メディアに、各々独立し
た少なくとも三個のスポットが照射される。メディアに、少なくとも三個のスポットが各
々独立して照射されるので、２種類以上のメディアの記録／再生時等に、トラッキングエ
ラー信号等のエラー信号の検出精度が低下するということは回避され易くなる。
請求項３３に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は、偶数の領域部に
分けられたこと、を特徴とする。
上記構成により、メディアに形成されるスポットは、精度のよいスポットとして形成さ
れる。例えば一方の領域部と他方の領域部とに回折格子が偶数分割されるので、光ピック
アップ装置に回折格子が装備されるときに、回折格子に当てられる光は、回折格子の一方
の領域部と、回折格子の他方の領域部とに、略２等分された状態に当てられ易くなる。回
折格子の一方の領域部と、回折格子の他方の領域部とに、光が略２等分とされた状態に当
てられ易くなることにより、回折格子は、光ピックアップ装置に精度よく備えられ易くな
る。従って、メディアに精度よくスポットが形成され易くなる。これに伴って、２種類以
上のメディアの記録／再生時等におけるエラー信号の検出精度が向上する。
請求項３４に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、前記回折格子は、第１領域部と、
第２領域部と、第３領域部と、第４領域部と、の少なくとも４つに分けられたこと、を特
徴とする。
上記構成により、メディアに対する光ピックアップ装置のエラー信号の検出は、良好に
行われる。例えば、メディアに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、良好に行わ
れる。回折格子が４つの領域部に分けられて構成されることにより、メディアに、各々独
立した少なくとも三個のスポットが照射される。メディアに、少なくとも三個のスポット
が各々独立して照射されるので、２種類以上のメディアの記録／再生時等に、トラッキン
グエラー信号等のエラー信号の検出精度が低下するということは回避される。
請求項３５に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、複数種類の波長光を出射可能な発
光素子を備えること、を特徴とする。
上記構成により、光ピックアップ装置の部品点数の削減化に伴う価格低減化が図られる
。発光素子は、例えば第１波長光と第２波長光との少なくとも２種類以上の波長光を出射
可能な複数種類の波長光を出射する発光素子として構成されるので、光ピックアップ装置
は、多種のメディアに対応可能となる。また、これとともに、少なくとも第１波長光を出
射可能な発光素子と第２波長光を出射可能な発光素子とが１つの発光素子としてまとめら
れるので、光ピックアップ装置の部品削減化が図られる。光ピックアップ装置の部品削減
化に伴って光ピックアップ装置の価格が低く抑えられる。従って、部品削減化、価格低減
化が図られた光ピックアップ装置の提供が可能となる。
請求項３６に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、前記第１波長光の波長は、略７６
５〜８４０ｎｍとされ、前記第２波長光の波長は、略６３０〜６８５ｎｍとされたこと、
を特徴とする。
上記構成により、略７６５〜８４０ｎｍの波長光とされる第１波長光が回折格子を透過
するときに不要な光が生じるということは略防止される。また、略６３０〜６８５ｎｍの
波長光とされる第２波長光が回折格子を透過するときに不要な光が生じるということは略
防止される。
請求項３７に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、前記第１波長光の波長は、略６３
０〜６８５ｎｍとされ、前記第２波長光の波長は、略３４０〜４５０ｎｍとされたこと、
を特徴とする。
上記構成により、略６３０〜６８５ｎｍの波長光とされる第１波長光が回折格子を透過
するときに不要な光が生じるということは略防止される。また、略３４０〜４５０ｎｍの
波長光とされる第２波長光が回折格子を透過するときに不要な光が生じるということは略
防止される。
請求項３８に係る光ピックアップ装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２
０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置において、複数の信号面部を有するメディア
に対応可能とされたこと、を特徴とする。
上記構成により、複数の信号面部を有するメディアに対する光ピックアップ装置の信号
、情報の読取り、及び／又は、複数の信号面部を有するメディアに対する光ピックアップ
装置の信号、情報の書込み等は、良好に行われる。
また、上記構成により、波長の異なる２種類以上のレーザ光に対応し不要な回折光を抑
えてエラー信号の検出精度を向上させた光ピックアップ装置が提供される。
本発明の請求項３９に係る光ディスク装置は、請求項１、２、３、９、１３、１６、又
は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装置を少なくとも備えること、を特徴とする
。
上記構成により、上記各種問題点のうち少なくとも１つを解決可能な光ピックアップ装
置を少なくとも備える光ディスク装置が構成される。
本発明によれば、第１波長光と第２波長光とに確実に対応するとともにエラー信号の検
出精度が向上された光ピックアップ装置を構成させることができる。
また、本発明によれば、第１メディア上に第１波長光を確実に集光させるとともに、第
２メディア上に第２波長光を確実に集光させる光ピックアップ装置を構成させることがで
きる。
また、本発明によれば、不要な光の発生を抑えた光ピックアップ装置を構成させること
ができる。
また、本発明によれば、設定変更された光検出器にて、第１メインビームの検出と第１
サブビームの検出とを精度よく行わせ易くさせることができる。
また、本発明によれば、波長の異なる２種類以上のレーザ光に対応し不要な回折光を抑
えてエラー信号の検出精度を向上させた光ピックアップ装置を提供することができる。
また、本発明によれば、上記各種問題点のうち少なくとも１つを解決可能な光ピックア
ップ装置を少なくとも備える光ディスク装置を構成させることができる。
本発明の一実施形態に係る光ピックアップ装置の光学配置図である。 本発明の一実施形態に係る光ピックアップ装置の説明図である。 本発明の一実施形態に係る光ピックアップ装置の説明図である。 本発明の一実施形態に係る回折格子を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係るインライン方式における光ディスク上の集光スポット配置とトラッキングエラー信号検出系の概要を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る演算処理回路の全体構成を示す図である。 本発明の一実施形態に係る光検出器の受光領域を説明するための図である。 本発明の一実施形態に係る光検出器の受光領域における各受光部間隔の導出方法を説明するための図である。 光ピックアップ装置に装備される回折格子の第一実施形態を示す概略平面図である。 図９の回折格子における光ディスク半径方向と位相差との関係を示す図である。 光ピックアップ装置に装備される回折格子の第二実施形態を示す概略図である。 光ピックアップ装置に装備される回折格子の第三実施形態を示す概略平面図である。 図１２の回折格子における光ディスク半径方向と位相差との関係を示す図である。 光ピックアップ装置に装備される回折格子の第四実施形態を示す概略平面図である。 図１４の回折格子における光ディスク半径方向と位相差との関係を示す図である。 光ピックアップ装置の視野特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置の視野特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置の視野特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置のサブ・プッシュプル信号振幅レベル特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置のサブ・プッシュプル信号振幅レベル特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置のサブ・プッシュプル信号振幅レベル特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置のトラッキングエラー位相差特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置のトラッキングエラー位相差特性を示す説明図である。 光ピックアップ装置のトラッキングエラー位相差特性を示す説明図である。 光ディスク装置、光ピックアップ装置の第五実施形態を示す概略図である。 従来の光ピックアップ装置の光学系を示した図である。 ３ビーム方式を説明するための図である。 インライン方式を説明するための図である。 従来の２波長対応回折格子を説明するための図である。 従来のその他の２波長対応回折格子を説明するための図である。
以下に本発明に係る光ピックアップ装置およびそれを備える光ディスク装置の実施の形
態を図面に基づいて詳細に説明する。
＜＜光ピックアップ装置の光学系＞＞
図１は、本発明の一実施形態に係る光ピックアップ装置の光学配置図、図２及び図３は
、本発明の一実施形態に係る光ピックアップ装置の説明図である。
尚、当該光ピックアップ装置は、ＣＤ規格（ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等）
又はＤＶＤ規格（ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｖｅｒｓｉｏｎ１、２．０、２．１
）、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷ等）の光ディスクＤ等のメデ
ィアＤに対応したものである。メディアとは、情報を記録して媒介するものや情報を記録
して伝達するものを意味する。例えば、ここでのメディアとは、データ、情報、信号など
が保存されるディスク等を意味する。略円板状をした光ディスクＤの内周側Ｄ８４から外
周側Ｄ８８にかけて１本のトラックが略螺旋状に形成されている。
ディスクとして上記各種光ディスクが挙げられる。また、例えば中国において定められ
た規格に基づく光ディスクとされる「ＣＢＨＤ（Ｃｈｉｎａ Ｂｌｕｅ Ｈｉｇｈ−Ｄｅ
ｆｉｎｉｔｉｏｎ）」規格（例：旧名「ＣＨ−ＤＶＤ」規格）等の光ディスク（不図示）
も挙げられる。また、ディスクとして、例えばディスク両面に信号面が設けられ、データ
書込み／消去やデータ書換え等が可能とされた光ディスクＤ等も挙げられる。また、ディ
スクとして、例えば二層の信号面が設けられ、データ書込み／消去やデータ書換え等が可
能とされた光ディスクＤ等も挙げられる。また、例えば三層の信号面が設けられ、データ
書込み／消去やデータ書換え等が可能とされた「ＨＤ ＤＶＤ」用光ディスク（不図示）
等も挙げられる。また、例えば四層の信号面が設けられ、データ書込み／消去やデータ書
換え等が可能とされた「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」用光ディスク（不図示）等も挙げら
れる。また、例えばディスクのレーベル面側にもレーザ光を照射させてレーベル等の各種
書込み等を行うことが可能とされた光ディスクＤ等も挙げられる。光ディスクＤの信号層
Ｄａは、例えば金属薄膜などの金属層等により形成されている。金属薄膜などから形成さ
れる信号層Ｄａに、情報やデータなどが記録される。
光ピックアップ装置を備える光ディスク装置は、例えば上記各種ディスクに対応可能と
される。光ピックアップ装置を備える光ディスク装置が用いられて、各種光ディスクに記
録された情報などのデータ再生が行われる。また、光ピックアップ装置を備える光ディス
ク装置が用いられて、各種光ディスクに情報などのデータ記録等が行われる。
この光ピックアップ装置における光ディスクＤの集光スポットのフォーカシング検出法
は、例えば、非点収差法に基づいた検出法とされている。非点収差法とは、例えば、非点
収差をもった光学系で結像した点像ひずみを検出することにより、集光スポットの変位を
検出する方法とされる。また、フォーカシング検出法として、例えば差動非点収差法に基
づいた検出法等が挙げられる。上述した如く、差動非点収差法とは、例えば、非点収差を
もった光学系で結像した点像ひずみを検出することにより、集光スポットの変位を検出す
る方法とされる。また、差動非点収差法とは、例えばメインスポットで生成されたフォー
カスエラー信号から所定の係数を乗じたサブスポットで生成されたフォーカスエラー信号
を減算することによりフォーカスエラー信号を生成する方法とされ、プッシュプル漏れ込
みが小さく抑えられる。この光ピックアップ装置における集光スポットのフォーカシング
検出法は、例えば、非点収差法、差動非点収差法などに基づいた検出法とされる。具体的
に説明すると、この光ピックアップ装置は、差動非点収差法による光学系を備えた光ピッ
クアップ装置とされている。尚、フォーカシング検出法として、例えば、フーコー法、ナ
イフエッジ法などの他の検出法が用いられたり併用されたりしてもよい。各光ディスクＤ
の種類などにより、例えば差動非点収差法などの各フォーカシング検出法が、適宜、自動
的に選択される。
また、この光ピックアップ装置における光ディスクＤの集光スポットのトラッキング検
出法は、例えば、差動プッシュプル法や、位相差法などに基づいた検出法とされる。上述
した如く、差動プッシュプル法とは、例えば、データ読書き用のメインビームと、位置ず
れの補正信号を検出する２つのサブビームとにより、集光スポットの変位を検出する方法
とされる。また、トラッキング検出法として、例えば位相差法などを含むＤＰＤ（Ｄｉｆ
ｆｅｒｅｎｔｉａｌ Ｐｈａｓｅ Ｄｅｔｅｃｔｉｏｎ）法に基づいた検出法等が挙げら
れる。具体的に説明すると、トラッキング検出法として、例えば、４分割型光検出装置７
３Ａによって検出される位相差信号に基づいた位相差法が挙げられる。この光ピックアッ
プ装置における集光スポットのトラッキング検出法は、例えば、ＤＰＰ法、ＤＰＤ法、位
相差法、ヘテロダイン検波法などに基づいた検出法が用いられたり併用されたりする。ま
た、各光ディスクＤの種類などにより、例えば位相差法などの各トラッキング検出法が、
適宜、自動的に選択される。また、この光ピックアップ装置の光検出装置７３Ａは、例え
ば光検出器７３Ａとして構成されている。
レーザユニット６１は、ＣＤ規格に適した赤外波長帯略７６５ｎｍ〜８４０ｎｍの第１
の波長（例えば７８２ｎｍ）の第１のレーザ光を発する第１の光源６２と、ＤＶＤ規格に
適した赤色波長帯略６３０ｎｍ〜６８５ｎｍの第２の波長（例えば６５５ｎｍ）の第２の
レーザ光を発する第２の光源６３と、を同一の発光面６１ａ上に有したマルチレーザユニ
ットである。レーザユニット６１は、第１のレーザ光と、第１のレーザ光と異なる波長と
され且つ第１のレーザ光よりも短い波長のレーザ光とされる第２のレーザ光との２種類の
波長のレーザ光を出射可能な例えば二波長発光素子６１として構成されている。このよう
に、レーザユニット６１は、複数種類の波長のレーザ光を出射可能な発光素子６１とされ
ている。尚、第１の光源６２、第２の光源６３は、半導体レーザ素子を構成するものであ
る。
レーザユニット６１を構成する第１の光源６２および／または第２の光源６３から例え
ば０．２ｍＷ以上５００ｍＷ（ミリワット）以下、具体的には２ｍＷ以上４００ｍＷ以下
の出力値のレーザ光が出射される。例えば０．２ｍＷ未満の出力値のレーザ光とされた場
合、光ディスクＤに照射されたのちに反射され光検出器７３Ａに届くレーザ光の光量が不
足する。光ディスクＤの各データ等を再生させるときには、例えば０．２ｍＷ以上このま
しくは０．５ｍＷ以上より好ましくは２ｍＷ以上２０ｍＷ以下程度という数〜数十ｍＷの
出力値のレーザ光で十分とされる。光ディスクＤに各データ等を書き込むときには、数十
〜数百ｍＷの出力値のレーザ光が必要とされる。例えば光ディスクＤに高速で各データ等
を書き込むときには、４００ｍＷや５００ｍＷ等という高い出力値のパルスレーザ光が必
要とされることがある。
レーザユニット６１は、例えば放熱性に優れる略円筒状または略円柱状のＣＡＮパッケ
ージタイプのレーザダイオードとして構成されている。光ピックアップ装置の設計／仕様
などにより、ＣＡＮパッケージタイプのレーザユニット６１に代えて、例えば、薄型化、
小型化等に対応可能な略板状のリードフレームパッケージタイプのレーザダイオード（不
図示）が用いられてもよい。
第１の光源６２及び第２の光源６３からそれぞれ出射される第１のレーザ光及び第２の
レーザ光は、４分割などの複数分割された回折格子６４Ａによりメインビーム（０次光）
と２つのサブビーム（±１次回折光束）とによる少なくとも３ビームを発生させるべく回
折されたのちに、例えばカップリングレンズ６５ｉにより広がり角が調整されてプレート
型の偏光ビームスプリッタ６６の偏光フィルタ面により反射される。
偏光ビームスプリッタ６６により反射されたレーザ光は、光学レンズとされるコリメー
タレンズ６７により平行光に形成されたのちに、１／４波長板６８を通過して円偏光に変
換され、更に、反射ミラー６９により光軸が折曲されて光学レンズとされる対物レンズ７
０に入射され、対物レンズ７０により収束されて光ディスクＤに照射される。
尚、第１層ＤＬ０（図２）と第２層ＤＬ１との複数の層ＤＬ０、ＤＬ１を有する光ディ
スクＤに対応可能とさせるために、対物レンズ７０は、対物レンズ７０の光軸方向（Ｐ軸
方向）に略沿って移動可能な状態で光ピックアップ装置に備えられている。対物レンズ７
０の光軸方向（Ｐ軸方向）に略沿って、対物レンズ７０が移動可能な状態で光ピックアッ
プ装置に備えられることにより、複数の信号層Ｄａを有する光ディスクＤに対応可能な光
ピックアップ装置が構成される。また、対物レンズ７０は、光ディスクＤの信号層Ｄａの
トラック等に正確に追従するために、ディスク半径方向（Ｒ軸方向）に略沿って移動可能
な状態で光ピックアップ装置に備えられている。
光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、第１層ＤＬ０（図２）と第２層ＤＬ１と
の複数の層ＤＬ０、ＤＬ１を有する光ディスクＤに対応可能とさせるために、コリメータ
レンズ６７がコリメータレンズ６７の光軸方向に略沿って移動可能な状態で光ピックアッ
プ装置に備えられる。コリメータレンズ６７の光軸方向に略沿って、コリメータレンズ６
７が移動可能な状態で光ピックアップ装置に備えられることにより、複数の信号層Ｄａを
有する光ディスクＤにより確実に対応可能な光ピックアップ装置が構成される。
以上のように、回折格子６４Ａ、カップリングレンズ６５ｉ、偏光ビームスプリッタ６
６、コリメータレンズ６７、１／４波長板６８、反射ミラー６９、対物レンズ７０等は、
集光光学系の一例となる。対物レンズ７０および回折格子６４Ａは、回折格子６４Ａによ
って分岐されたメインビームと２つのサブビームとを集光して、光ディスクＤのトラック
上において、細長のトラックに対し略平行もしくは斜めに傾けられて略一列にメインビー
ムに対応したメインスポットと２つのサブビームに対応した２つのサブスポットとを照射
させる。
尚、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えばカップリングレンズ（６５ｉ
）が装備されることなく省略されてもよい。また、図１においては、コリメータレンズ６
７と反射ミラー６９との間に１／４波長板６８が位置する光ピックアップ装置の光学配置
例を示したが、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、コリメータレンズ
（６７）と反射ミラー（６９）との間に１／４波長板（６８）が装備されることなく、偏
光ビームスプリッタ（６６）とコリメータレンズ（６７）との間に１／４波長板（６８）
が位置する光ピックアップ装置も使用可能とされている。本願における符号に付けられた
括弧（ ）は、図面に示されたものと若干異なるものを説明するために便宜上用いられて
いる。
また、光ディスクＤに信号が記録可能な光ピックアップ装置においては、レーザユニッ
ト６１から出射されるレーザ光をモニタし、レーザユニット６１の制御のためにフィード
バックをかける受光素子６５iiが、例えば偏光ビームスプリッタ６６の周辺近傍に装備さ
れる。
対物レンズ７０は、例えば各種の光ディスクＤに適合した波長の各レーザ光をそれぞれ
の光学特性に合わせて回折する回折格子６４Ａが入射面に光軸を中心として例えば略輪帯
状に形成させ、当該回折格子により回折分岐された３ビームが各光ディスクＤに対して球
面収差を補正して集光作用を持たせるように設計される。そして、対物レンズ７０を、フ
ォーカス方向（図１中に示すＰ軸方向）、トラッキング方向（図１中に示すトラックの形
成方向を示すＱ軸と直交する方向であって且つＰ軸と直交する方向とされるＲ軸方向）、
チルト方向（レンズ揺動方向）に略沿って対物レンズ７０を駆動させることにより、光デ
ィスクＤの信号層Ｄａにレーザ光を合焦させるとともに、光ディスクＤの所定のトラック
にレーザ光を追従させるように、対物レンズ７０から光ディスクＤに向けてレーザ光が照
射される。
光ディスクＤの信号層Ｄａにより変調されて反射されたレーザ光は対物レンズ７０に戻
り、往路と途中まで略同じ光路である復路を経由して偏光ビームスプリッタ６６に至る。
光ディスクＤの信号層Ｄａに例えば右旋回のレーザ光が照射されたときに、反射されたレ
ーザ光は、例えば左旋回のレーザ光に反転された状態の円偏光となる。また、光ディスク
Ｄへの往路で例えばＳ偏光であったレーザ光は、復路では例えばＰ偏光のレーザ光となっ
て１／４波長板６８から出射され、Ｐ偏光のレーザ光は、偏光ビームスプリッタ６６に入
射される。
復路のＰ偏光のレーザ光は、偏光ビームスプリッタ６６を略透過する。偏光ビームスプ
リッタ６６に戻されたレーザ光は、例えば偏光ビームスプリッタ６６を透過する際の非点
収差を補正すべく傾けられて配置された第１の平行平板７１を透過する。また、第１の平
行平板７１を透過したレーザ光が傾けられて配置された第２の平行平板７２を透過するこ
とにより、例えば光ディスクＤに照射されるレーザ光のフォーカスエラー成分となる非点
収差が付与されるとともに、偏光ビームスプリッタ６６及び第１の平行平板７１により発
生されるコマ収差が補正された上で、光検出器７３Ａにレーザ光が導かれる。この結果、
光検出器７３Ａは、第２の平行平板７２より導かれたレーザ光に基づきトラッキングエラ
ー信号やフォーカスエラー信号等を生成する。
光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、第１の平行平板７１および第２の平行平
板７２は、例えば非点収差素子７１、７２とされる。例えば第１の非点収差素子７１およ
び第２の非点収差素子７２も光ピックアップ装置の集光光学系の一例とされる。また、第
１の平行平板７１および第２の平行平板７２に代えて、例えばレーザ光の非点収差を発生
させて光ディスクＤの信号層Ｄａに照射される集光スポット８０のフォーカシング検出を
非点収差法／差動非点収差法などに基づいて検出可能とさせるアナモフィックレンズ（不
図示）等のセンサレンズ（不図示）等が非点収差素子として用いられてもよい。
光検出器７３Ａは、光ディスクＤから反射されたレーザ光を受けて、その信号をトラッ
キングエラー信号やフォーカスエラー信号等の電気信号に変えて、光ピックアップ装置を
構成する対物レンズ７０付のレンズホルダ（不図示）等のサーボ機構（不図示）を動作さ
せるためのものとされている。サーボとは、例えば制御の対象の状態を測定し、予め定め
られた基準値と比較して、自動的に修正制御する機構のもの等を意味する。また、光検出
器７３Ａは、光ディスクＤから反射されたレーザ光を受けて、その信号を電気信号に変え
、光ディスクＤに記録されたデータ／情報／信号などを検出するためのものとされている
。
＜＜光ディスクＤに照射される第１の波長光および第２の波長光のメインスポット８０
の位置＞＞
以下、図２および図３を用いて、光ディスクＤに照射される第１の波長光および第２の
波長光のメインスポット８０の位置について説明する。
レーザユニット６１における第１の光源６２の装備位置と、レーザユニット６１におけ
る第２の光源６３の装備位置と、が異なる。このため、例えば、光ピックアップ装置が光
ディスクＤの最も内周側Ｄ８４に位置するときや、光ピックアップ装置が光ディスクＤの
最も外周側Ｄ８８に位置するときや、光ピックアップ装置が光ディスクＤの最も内周側Ｄ
８４から最も外周側Ｄ８８に至るまでの何れかに位置するときに、第１の波長光に対応し
ＣＤ規格に基づいた光ディスクＤの信号面部Ｄａ上における第１の波長光のディスク半径
方向（Ｒ軸方向）に略沿ったメインスポット８０形成位置と、第２の波長光に対応しＤＶ
Ｄ規格に基づいた光ディスクＤの信号面部Ｄａ上における第２の波長光のディスク半径方
向（Ｒ軸方向）に略沿ったメインスポット８０形成位置と、は、ディスク半径方向（Ｒ軸
方向）に略沿った線上において数μｍ〜数十μｍほど異なる。
１つの対物レンズ７０を備える光ピックアップ装置が用いられて、ＣＤ規格に基づいた
光ディスクＤにレーザ光が照射されるときや、ＤＶＤ規格に基づいた光ディスクＤにレー
ザ光が照射されるときに、ＣＤ規格に基づいた光ディスクＤに対するＣＤ用レーザ光のデ
ィスク半径方向集光位置と、ＤＶＤ規格に基づいた光ディスクＤに対するＤＶＤ用レーザ
光のディスク半径方向集光位置と、が異なる。
また、例えば、光ピックアップ装置が光ディスクＤの最も内周側Ｄ８４に位置するとき
や、光ピックアップ装置が光ディスクＤの最も外周側Ｄ８８に位置するときや、光ピック
アップ装置が光ディスクＤの最も内周側Ｄ８４から最も外周側Ｄ８８に至るまでの何れか
に位置するときに、第１の波長光に対応しＣＤ規格に基づく略円板状の光ディスクＤの信
号面部Ｄａ上にうつし出される第１波長光のメインスポット８０のディスク半径方向（Ｒ
軸方向）に略沿った照射位置よりも、第２の波長光に対応しＤＶＤ規格に基づく略円板状
の光ディスクＤの信号面部Ｄａ上にうつし出される第２波長光のメインスポット８０のデ
ィスク半径方向（Ｒ軸方向）に略沿った照射位置のほうが、数μｍ〜数十μｍほど略円板
状をした光ディスクＤの内周側Ｄ８４に存する。
尚、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、光ピックアップ装置が光デ
ィスクＤの最も内周側Ｄ８４に位置するときや、光ピックアップ装置が光ディスクＤの最
も外周側Ｄ８８に位置するときや、光ピックアップ装置が光ディスクＤの最も内周側Ｄ８
４から最も外周側Ｄ８８に至るまでの何れかに位置するときに、第１の波長光に対応しＣ
Ｄ規格に基づく略円板状の光ディスクＤの信号面部Ｄａ上にうつし出される第１波長光の
メインスポット８０のディスク半径方向（Ｒ軸方向）に略沿った照射位置のほうが、第２
の波長光に対応しＤＶＤ規格に基づく略円板状の光ディスクＤの信号面部Ｄａ上にうつし
出される第２波長光のメインスポット８０のディスク半径方向（Ｒ軸方向）に略沿った照
射位置よりも数μｍ〜数十μｍほど略円板状をした光ディスクＤの内周側Ｄ８４に存する
ように、光ピックアップ装置が構成されてもよい。
第１の波長光に対応しＣＤ規格に基づいた光ディスクＤの信号面部Ｄａ上におけるピッ
ト等の大きさよりも、第２の波長光に対応しＤＶＤ規格に基づいた光ディスクＤの信号面
部Ｄａ上におけるピット等の大きさのほうが小さい。また、第１の波長光に対応しＣＤ規
格に基づいた光ディスクＤの信号面部Ｄａ上に照射／形成される光のスポット８０の大き
さよりも、第２の波長光に対応しＤＶＤ規格に基づいた光ディスクＤの信号面部Ｄａ上に
照射／形成される光のスポット８０の大きさのほうが小さい。このようなことから、ＣＤ
規格に基づく第１の波長光よりも波長の短いＤＶＤ規格に基づく第２の波長光が光ピック
アップ装置の光学系中心軸に略位置するように光ピックアップ装置が構成されている。
＜＜光ディスクＤに照射される第１の波長光および第２の波長光のメインスポット８０
とサブスポット８１、８２との間隔Ｙｐ＞＞
以下、図４、図５を用いて、光ディスクＤに照射される第１の波長光および第２の波長
光のメインスポット８０とサブスポット８１、８２との間隔Ｙｐについて説明する。
図４は、本発明の一実施形態に係る回折格子を説明するための図、図５は、本発明の一
実施形態に係るインライン方式における光ディスク上の集光スポット配置とトラッキング
エラー信号検出系の概要を説明するための図である。
本実施形態の光ピックアップ装置は、ＣＤ規格及びＤＶＤ規格のいずれの光ディスクＤ
にも対応したものである。尚、ＣＤ−ＲＯＭ、ＣＤ−Ｒ、ＣＤ−ＲＷ等のＣＤ規格の光デ
ィスクＤのトラックピッチＤｔｐと、ＤＶＤ−ＲＯＭ、ＤＶＤ−Ｒ、ＤＶＤ＋Ｒ、ＤＶＤ
−ＲＷ、ＤＶＤ＋ＲＷの光ディスクＤのトラックピッチＤｔｐと、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｖｅ
ｒｓｉｏｎ１）の光ディスクＤのトラックピッチＤｔｐと、ＤＶＤ−ＲＡＭ（Ｖｅｒｓｉ
ｏｎ２．０、２．１）の光ディスクＤのトラックピッチＤｔｐと、は異なるが、各図面に
おいては、各種の光ディスクＤは、便宜上、一纏めに描かれている。また、光ディスクＤ
の信号面部Ｄａ上に照射／形成される各光のスポット８０、８１、８２の形状／配置／形
態等は、便宜上、描かれた形状／配置／形態等とされている。
回折格子６４Ａ（図４）は、ＤＶＤ用回折格子２０と略同じ構成をした安価なインライ
ン方式対応の回折格子６４Ａとされている。回折格子６４Ａは、３ビーム方式対応のＣＤ
用回折格子を用いずに、インライン方式対応のＤＶＤ用回折格子２０のみで構成されたも
のである。本願における回折格子とは、例えば光を回折させる回折面部が形成された部材
を意味し、例えばインライン・グレーティング等と呼ばれる。また、本願における図示さ
れた回折格子等は、各詳細部が分かり易くされるために、便宜上、描かれている。インラ
イン方式対応の回折格子６４Ａに入射された光は、インライン方式対応の回折格子６４Ａ
によって、１本の第１メインビームと少なくとも２本の第１サブビームとに分光される。
まず、インライン方式対応の回折格子６４Ａに入射される第１の波長がＣＤ規格の波長
とされ、インライン方式対応の回折格子６４Ａに入射される第２の波長がＤＶＤ規格の波
長とされた場合について説明する。第１の波長をＣＤ規格の波長λ（ｃｄ）と定める。第
１の波長λ（ｃｄ）は、略７６５ｎｍ〜８４０ｎｍとされている。また、第２の波長をＤ
ＶＤ規格の波長λ（ｄｖｄ）と定める。第２の波長λ（ｄｖｄ）は、略６３０ｎｍ〜６８
５ｎｍとされている。
また、第１の波長光に対応する第１の光ディスクＤに１本の第１メインビームと少なく
とも２本の第１サブビームとが照射されたときの第１メインビームのスポット８０の略中
心部とされる照射点Ｏａと第１サブビームのスポット８１の略中心部とされる照射点Ｘｂ
との間隔ＹｐをＹｐ１と定める。
また、第１の波長光に対応する第１の光ディスクＤに１本の第１メインビームと少なく
とも２本の第１サブビームとが照射されたときの第１メインビームのスポット８０の略中
心部とされる照射点Ｏａと第１サブビームのスポット８２の略中心部とされる照射点Ｘｃ
との間隔ＹｐをＹｐ１と定める。
また、第２の波長光に対応する第２の光ディスクＤに１本の第２メインビームと少なく
とも２本の第２サブビームとが照射されたときの第２メインビームのスポット８０の略中
心部とされる照射点Ｏａと第２サブビームのスポット８１の略中心部とされる照射点Ｘｂ
との間隔ＹｐをＹｐ２と定める。
また、第２の波長光に対応する第２の光ディスクＤに１本の第２メインビームと少なく
とも２本の第２サブビームとが照射されたときの第２メインビームのスポット８０の略中
心部とされる照射点Ｏａと第２サブビームのスポット８２の略中心部とされる照射点Ｘｃ
との間隔ＹｐをＹｐ２と定める。
このように定義されたときに、例えば次の式（４）を仮定する。
ＣＤ規格の波長（第１の波長）λ（ｃｄ）が例えば略７６５ｎｍとされたと仮定した場
合、式（４）のλ（ｃｄ）に７６５を代入する。また、ＤＶＤ規格の波長（第２の波長）
λ（ｄｖｄ）が例えば略６８５ｎｍとされたと仮定した場合、式（４）のλ（ｄｖｄ）に
６８５を代入する。すると、つぎの式（５）に記載された通りに値が求められる。
765/685＝1.11679 …（５）
また、ＣＤ規格の波長（第１の波長）λ（ｃｄ）が例えば略８４０ｎｍとされたと仮定
した場合、式（４）のλ（ｃｄ）に８４０を代入する。また、ＤＶＤ規格の波長（第２の
波長）λ（ｄｖｄ）が例えば略６３０ｎｍとされたと仮定した場合、式（４）のλ（ｄｖ
ｄ）に６３０を代入する。すると、つぎの式（６）に記載された通りに値が求められる。
840/630＝1.33333 …（６）
以上より、ＣＤ規格の波長とされる第１の波長λ（ｃｄ）と、ＤＶＤ規格の波長とされ
る第２の波長λ（ｄｖｄ）と、を出射可能な光ピックアップ装置は、例えば下式（７）を
満足する光ピックアップ装置とされる。
つぎに、インライン方式対応の回折格子６４Ａに入射される第１の波長がＤＶＤ規格の
波長とされ、インライン方式対応の回折格子６４Ａに入射される第２の波長がＢＤ規格の
波長とされた場合について説明する。第１の波長をＤＶＤ規格の波長λ（ｄｖｄ）と仮定
する。第１の波長λ（ｄｖｄ）は、略６３０ｎｍ〜６８５ｎｍとされる。また、第２の波
長をＢＤ規格の波長λ（ｂｄ）と仮定する。第２の波長λ（ｂｄ）は、略３４０ｎｍ〜４
５０ｎｍとされる。この場合、例えば次の式（８）を仮定する。
ＤＶＤ規格の波長（第１の波長）λ（ｄｖｄ）が例えば略６３０ｎｍとされたと仮定し
た場合、式（８）のλ（ｄｖｄ）に６３０を代入する。また、ＢＤ規格の波長（第２の波
長）λ（ｂｄ）が例えば略４５０ｎｍとされたと仮定した場合、式（８）のλ（ｂｄ）に
４５０を代入する。すると、つぎの式（９）に記載された通りに値が求められる。
630/450＝1.40000 …（９）
また、ＤＶＤ規格の波長（第１の波長）λ（ｄｖｄ）が例えば略６８５ｎｍとされたと
仮定した場合、式（８）のλ（ｄｖｄ）に６８５を代入する。また、ＢＤ規格の波長（第
２の波長）λ（ｂｄ）が例えば略３４０ｎｍとされたと仮定した場合、式（８）のλ（ｂ
ｄ）に３４０を代入する。すると、つぎの式（１０）に記載された通りに値が求められる
。
685/340＝2.01471 …（１０）
以上より、ＤＶＤ規格の波長とされる第１の波長λ（ｄｖｄ）と、ＢＤ規格の波長とさ
れる第２の波長λ（ｂｄ）と、を出射可能な光ピックアップ装置は、例えば下式（１１）
を満足する光ピックアップ装置とされる。
つぎに、インライン方式対応の回折格子６４Ａに入射される第１の波長がＣＤ規格の波
長とされ、インライン方式対応の回折格子６４Ａに入射される第２の波長がＢＤ規格の波
長とされた場合について説明する。第１の波長をＣＤ規格の波長λ（ｃｄ）と仮定する。
第１の波長λ（ｃｄ）は、略７６５ｎｍ〜８４０ｎｍとされる。また、第２の波長をＢＤ
規格の波長λ（ｂｄ）と仮定する。第２の波長λ（ｂｄ）は、略３４０ｎｍ〜４５０ｎｍ
とされる。この場合、例えば次の式（１２）を仮定する。
ＣＤ規格の波長（第１の波長）λ（ｃｄ）が例えば略７６５ｎｍとされたと仮定した場
合、式（１２）のλ（ｃｄ）に７６５を代入する。また、ＢＤ規格の波長（第２の波長）
λ（ｂｄ）が例えば略４５０ｎｍとされたと仮定した場合、式（１２）のλ（ｂｄ）に４
５０を代入する。すると、つぎの式（１３）に記載された通りに値が求められる。
765/450＝1.70000 …（１３）
また、ＣＤ規格の波長（第１の波長）λ（ｃｄ）が例えば略８４０ｎｍとされたと仮定
した場合、式（１２）のλ（ｃｄ）に８４０を代入する。また、ＢＤ規格の波長（第２の
波長）λ（ｂｄ）が例えば略３４０ｎｍとされたと仮定した場合、式（１２）のλ（ｂｄ
）に３４０を代入する。すると、つぎの式（１４）に記載された通りに値が求められる。
840/340＝2.47059 …（１４）
以上より、ＣＤ規格の波長とされる第１の波長λ（ｃｄ）と、ＢＤ規格の波長とされる
第２の波長λ（ｂｄ）と、を出射可能な光ピックアップ装置は、例えば下式（１５）を満
足する光ピックアップ装置とされる。
＜＜光ディスクＤに照射される各スポット８０、８１、８２の分光比、光ディスクＤに
照射される各スポット８０、８１、８２の光の強さの総和に対するメインスポット８０の
光の強さの効率比＞＞
以下、図５を用いて例えば光ディスクＤに照射される各スポット８０、８１、８２の光
の強度比とされる分光比、メインスポット８０の光の効率比Ａ１、Ａ２について説明する
。
まず、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに１本の第１波長光のメインビームと少なくとも
２本の第１波長光のサブビームとが照射されたときに、１本の第１波長光のメインビーム
により光ディスクＤにうつし出されたメインスポット８０の光の強さと少なくとも２本の
第１波長光のサブビームにより光ディスクＤにうつし出された各サブスポット８１、８２
の光の強さとの総和に対し、１本の第１波長光のメインビームにより光ディスクＤにうつ
し出されたメインスポット８０の光の強さを例えば光の効率比Ａ１と定める。
また、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに１本の第２波長光のメインビームと少なくと
も２本の第２波長光のサブビームとが照射されたときに、１本の第２波長光のメインビー
ムにより光ディスクＤにうつし出されたメインスポット８０の光の強さと少なくとも２本
の第２波長光のサブビームにより光ディスクＤにうつし出された各サブスポット８１、８
２の光の強さとの総和に対し、１本の第２波長光のメインビームにより光ディスクＤにう
つし出されたメインスポット８０の光の強さを例えば光の効率比Ａ２と定める。
まず、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さや分光比等について説明
する。例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット
８１と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０と、
ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２との分光比
は、略１：（１６±１．６）：１とされる。
例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１
と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０と、ＤＶ
Ｄ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２との分光比は、
略１：１４．４：１とされる。
この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における
光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／１６．
４となる。また、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０に
おける光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１４
．４／１６．４となる。すなわち、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメイ
ンスポット８０の光の効率比Ａ２は、０．８７８０５となる。
また、例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポッ
ト８１と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０と
、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２との分光
比は、略１：１７．６：１とされる。
この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における
光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／１９．
６となる。また、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０に
おける光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１７
．６／１９．６となる。すなわち、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメイ
ンスポット８０の光の効率比Ａ２は、０．８９７９６となる。
具体的に説明すると、例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の
先行サブスポット８１と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメイン
スポット８０と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポッ
ト８２との分光比は、略１：１６：１とされる。
この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における
光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／１８と
なる。また、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０におけ
る光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１６／１
８となる。すなわち、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８
０の光の効率比Ａ２は、０．８８８８９となる。
光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスク
ＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのト
ラックＤ８０上のメインスポット８０と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ
８０上の後行サブスポット８２との分光比が、略１：１５：１とされる。
この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における
光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／１７と
なる。また、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０におけ
る光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１５／１
７となる。すなわち、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８
０の光の効率比Ａ２は、０．８８２３５となる。
図５に示すインライン方式のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射されるレーザ光の
分光比は、図２８に示すインライン方式のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される
レーザ光の分光比と略同じとされる。
例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の先行サブスポット１
０１と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上のメインスポット１００
と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の後行サブスポット１０２と
の分光比は、略１：１５：１とされる。
この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット１０１または１０２にお
ける光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／１
７となる。また、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット１００
における光の強さは、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１
５／１７となる。すなわち、この場合のＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポ
ット１００の光の効率比Ａ２は、０．８８２３５となる。
つぎに、図５に示すＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さや分光比等に
ついて説明する。例えば、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブ
スポット８１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８
０と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２との分
光比は、略１：（２３±２．３）：１とされる。
例えば、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１と
、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０と、ＣＤ規格
に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２との分光比は、略１：
２０．７：１とされる。
この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における光
の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／２２．７と
なる。また、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０における
光の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略２０．７／２
２．７となる。すなわち、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット
８０の光の効率比Ａ１は、０．９１１８９となる。
また、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット
８１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０と、Ｃ
Ｄ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２との分光比は、
略１：２５．３：１とされる。
この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における光
の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／２７．３と
なる。また、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０における
光の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略２５．３／２
７．３となる。すなわち、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット
８０の光の効率比Ａ１は、０．９２６７４となる。
具体的に説明すると、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先
行サブスポット８１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポ
ット８０と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２
との分光比は、略１：２３：１とされる。
この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における光
の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／２５となる
。また、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０における光の
強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略２３／２５となる
。すなわち、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０の光の効
率比Ａ１は、０．９２０００となる。
図５に示すインライン方式のＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射されるレーザ光の分
光比は、図２７に示す３ビーム方式のＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射されるレーザ
光の分光比と異なる。
例えば、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の先行サブスポット１０
１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上のメインスポット１００と、
ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の後行サブスポット１０２との分光
比は、略１：１６：１とされる。
この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット１０１または１０２におけ
る光の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／１８と
なる。また、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット１００におけ
る光の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１６／１８
となる。すなわち、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット１００
の光の効率比Ａ１は、０．８８８８９となる。
ＣＤ用レーザ光に対応する回折格子部を有していない回折格子６４Ａを備える光ピック
アップ装置が構成された場合、回折格子６４Ａを透過した各ＣＤ用レーザ光がＣＤ規格に
基づく光ディスクＤに照射されると、従来のものに対し、ＣＤ規格に基づいた光ディスク
Ｄに照射される各レーザ光の分光比が変更される。
また、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディ
スクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤの
トラックＤ８０上のメインスポット８０と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ
８０上の後行サブスポット８２との分光比が、略１：２３．５：１とされてもよい。
この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における光
の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／２５．５と
なる。また、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０における
光の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略２３．５／２
５．５となる。すなわち、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット
８０の光の効率比Ａ１は、０．９２１５７となる。
また、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディ
スクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤの
トラックＤ８０上のメインスポット８０と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ
８０上の後行サブスポット８２との分光比が、略１：２０：１とされてもよい。
この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における光
の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／２２となる
。また、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０における光の
強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略２０／２２となる
。すなわち、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０の光の効
率比Ａ１は、０．９０９０９となる。
また、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディ
スクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤの
トラックＤ８０上のメインスポット８０と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ
８０上の後行サブスポット８２との分光比が、略１：２６：１とされてもよい。
この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のサブスポット８１または８２における光
の強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略１／２８となる
。また、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０における光の
強さは、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤに照射される光の強さ全体の略２６／２８となる
。すなわち、この場合のＣＤ規格に基づく光ディスクＤ上のメインスポット８０の光の効
率比Ａ１は、０．９２８５７となる。
＜＜回折格子６４Ａと光検出器７３Ａ＞＞
以下、図４、図５を用いて回折格子６４Ａおよび光検出器７３Ａについて説明する。
従来のＣＤ用回折格子部３２０（図２９、図３０）及びＤＶＤ用回折格子部３４０を両
方具備する２波長対応回折格子３００Ａ、３００Ｂにおいては、ＣＤ規格に準拠した第１
のレーザ光又はＤＶＤ規格に準拠した第２のレーザ光がＣＤ用回折格子部３２０及びＤＶ
Ｄ用回折格子部３４０の両方を通過した結果、不要な回折光が発生されることが問題とさ
れていた。このような不要な回折光の発生を解消させるために、回折格子６４Ａ（図４）
は、ＤＶＤ規格に準拠した一波長光用回折格子部２０のみの構成とされている。
具体的には、回折格子６４Ａは、図４の左側に示すように、一方の半平面２１に形成さ
れた格子溝の周期構造の位相が他方の半平面２２に形成された格子溝の周期構造の位相に
対して約１８０度ずれたＤＶＤ用回折格子部材２０とされている。また、回折格子６４Ａ
の光学配置は、インライン方式に準拠して、図５に示すように、光ディスクＤ上に照射さ
れた第１又は第２のレーザ光のメインビームに基づくメインスポット８０及び第１又は第
２のレーザ光のサブビームに基づくサブスポット８１、８２を同一のトラックＤ８０上に
略平行もしくは斜めに傾けられた状態で略一列に照射させるように調整される。
以上のようなＤＶＤ用回折格子部材２０のみとされる回折格子６４Ａの構成並びにその
光学配置を採用したことによって、前述したとおり、不要な回折光が抑制されるとともに
、インライン方式に基づくトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２の検出を適切に行うこ
とができる。具体的に説明すると、図５に示すように、ＤＶＤ規格に準拠した第２のレー
ザ光の場合には、つぎのとおりトラッキングエラー信号ＳＥ２の検出が行われる。
例えば、ＤＶＤ規格に準拠した第２のレーザ光が光ディスクＤに照射される場合、つぎ
のとおりトラッキングエラー信号ＳＥ２の検出が行われる。
ＤＶＤ規格に対応したメイン検出光スポット８０を形成するＤＶＤ用のメインビームが
光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３Ａの第２受光領域７５たとえば
ＤＶＤ受光領域７５におけるメイン受光部７５Ａにメイン検出光スポット９０iiとして照
射されたときに、メイン受光部７５Ａに接続された減算器は、メイン受光部７５Ａからの
出力信号の差分を演算し例えばメインプッシュプル信号ＳＡ２として生成する。
また、ＤＶＤ規格に対応した第１のサブ検出光スポット８１を形成するＤＶＤ用の第１
のサブビームが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光
領域７５における一方の第２のサブ受光部７５Ｂに第１のサブ検出光スポット９１iiとし
て照射されたときに、一方の第２のサブ受光部７５Ｂに接続された減算器は、一方の第２
のサブ受光部７５Ｂからの出力信号の差分を演算し例えば先行サブプッシュプル信号ＳＢ
２として生成する。
また、ＤＶＤ規格に対応した第２のサブ検出光スポット８２を形成するＤＶＤ用の第２
のサブビームが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光
領域７５における他方の第２のサブ受光部７５Ｃに第２のサブ検出光スポット９２iiとし
て照射されたときに、他方の第２のサブ受光部７５Ｃに接続された減算器は、他方の第２
のサブ受光部７５Ｃからの出力信号の差分を演算し例えば遅行サブプッシュプル信号ＳＣ
２として生成する。
メインスポット８０に対応したメイン検出光スポット９０iiから検出されるプッシュプ
ル信号ＳＡ２と、サブスポット８１、８２のそれぞれに対応するサブ検出光スポット９１
ii、９２iiから検出されるプッシュプル信号ＳＢ２、ＳＣ２とは、互いに逆位相で出力さ
れる。そののちに、加算器７８Ｃによってプッシュプル信号ＳＢ２、ＳＣ２が加算され、
この加算された信号ＳＤ２が増幅器７８Ｂによって増幅されたのちに減算器７８Ａによっ
てプッシュプル信号ＳＡ２に対し減算処理されることにより、プッシュプル信号ＳＡ２、
ＳＢ２、ＳＣ２の各オフセット成分が相殺された精度の高いトラッキングエラー信号ＳＥ
２を生成させることが可能となる。
一方、ＣＤ規格に準拠した第１のレーザ光が光ディスクＤに照射される場合であっても
、つぎのとおりトラッキングエラー信号ＳＥ１の検出が行われる。
ＣＤ規格に対応したメイン検出光スポット８０を形成するＣＤ用のメインビームが光デ
ィスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３Ａの第１受光領域７４たとえばＣＤ
受光領域７４におけるメイン受光部７４Ａにメイン検出光スポット９０ｉとして照射され
たときに、メイン受光部７４Ａに接続された減算器は、メイン受光部７４Ａからの出力信
号の差分を演算し例えばメインプッシュプル信号ＳＡ１として生成する。
また、ＣＤ規格に対応した第１のサブ検出光スポット８１を形成するＣＤ用の第１のサ
ブビームが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７
４における一方の第１のサブ受光部７４Ｂに第１のサブ検出光スポット９１ｉとして照射
されたときに、一方の第１のサブ受光部７４Ｂに接続された減算器は、一方の第１のサブ
受光部７４Ｂからの出力信号の差分を演算し例えば先行サブプッシュプル信号ＳＢ１とし
て生成する。
また、ＣＤ規格に対応した第２のサブ検出光スポット８２を形成するＣＤ用の第２のサ
ブビームが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７
４における他方の第１のサブ受光部７４Ｃに第２のサブ検出光スポット９２ｉとして照射
されたときに、他方の第１のサブ受光部７４Ｃに接続された減算器は、他方の第１のサブ
受光部７４Ｃからの出力信号の差分を演算し例えば遅行サブプッシュプル信号ＳＣ１とし
て生成する。
メインスポット８０に対応したメイン検出光スポット９０ｉから検出されるプッシュプ
ル信号ＳＡ１と、サブスポット８１、８２のそれぞれに対応するサブ検出光スポット９１
ｉ、９２ｉから検出されるプッシュプル信号ＳＢ１、ＳＣ１とは、互いに逆位相で出力さ
れる。そののちに、加算器７８Ｃによってプッシュプル信号ＳＢ１、ＳＣ１が加算され、
この加算された信号ＳＤ１が増幅器７８Ｂによって増幅されたのちに減算器７８Ａによっ
てプッシュプル信号ＳＡ１に対し減算処理されることにより、プッシュプル信号ＳＡ１、
ＳＢ１、ＳＣ１の各オフセット成分が相殺された精度の高いトラッキングエラー信号ＳＥ
１を生成させることが可能となる。
光ピックアップ装置の光検出器７３Ａで生成された信号は、例えば光ピックアップ装置
に通電可能に接続された光ディスク装置の基板（不図示）の演算部７６Ａに送られて計算
が行われ、光ディスク装置の基板の演算部７６Ａにて生成された信号が光ピックアップ装
置の対物レンズ駆動部７９に送られる。光ピックアップ装置の対物レンズ駆動部７９に電
気信号が流されることにより、光ピックアップ装置の対物レンズ７０が動かされる。演算
部７６Ａで生成されたトラッキング誤差信号ＳＥ１、ＳＥ２が対物レンズ駆動部７９に送
られて、光ディスクＤのトラックＤ８０に対する対物レンズ７０のトラッキング調整が自
動的に行われる。
しかしながら、回折格子６４Ａは、例えばＤＶＤ規格に準拠した第２のレーザ光とされ
る第２の波長に対応するＤＶＤ用回折格子部材２０のみの構成とされており、ＣＤ規格に
準拠した第１のレーザ光とされる第１の波長には対応していない。このため、ＣＤ規格に
準拠した第１のレーザ光が回折格子６４Ａにより回折分岐されたメイン検出光スポット９
０ｉとサブ検出光スポット９１ｉ、９２ｉとの間隔（以下、メイン−サブピッチと呼ぶ。
）は、回折格子６４Ａが対応する波長に反比例した長さとなるので、本来使用すべきＣＤ
用回折格子により回折分岐された場合のメイン−サブピッチと対比して拡大する。また、
メイン−サブピッチが拡大した結果、メイン検出光スポット９０ｉとサブ検出光スポット
９１ｉ、９２ｉの分光比も変化してしまう。
そこで、図５、図７の如く、光検出器７３Ａにおいて、メイン検出光スポット９０iiを
受光する第２のメイン受光部７５Ａと一方のサブ検出光スポット９１iiを受光する一方の
第２のサブ受光部７５Ｂとの間の受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）、及び、メイン検出光スポット
９０iiを受光する第２のメイン受光部７５ａと他方のサブ検出光スポット９２iiを受光す
る他方の第２のサブ受光部７５Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）、および／または、メ
イン検出光スポット９０ｉを受光する第１のメイン受光部７４Ａと一方のサブ検出光スポ
ット９１ｉを受光する一方の第１のサブ受光部７４Ｂとの間の受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）、及
び、メイン検出光スポット９０ｉを受光する第１のメイン受光部７４ａと他方のサブ検出
光スポット９２ｉを受光する他方の第１のサブ受光部７４Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｃｄ
）を、それぞれのレーザ光に応じたメイン−サブピッチと合わせるように、適切に設定す
る必要がある。
＜＜光検出器７３Ａと演算部７６Ａ＞＞
以下、図５、図６を用いて光検出器７３Ａおよび演算部７６Ａについて説明する。
図６は、光検出器７３Ａの受光結果に基づいてトラッキングエラー信号ＳＥ１を生成す
る演算部７６Ａの全体構成の一例を示す演算処理回路図である。
光ピックアップ装置は、１本の第１メインビームが照射される１つの第１メイン受光部
７４Ａと、２本の第１サブビームが照射される２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃと、
を備えた第１受光領域７４と、１本の第２メインビームが照射される１つの第２メイン受
光部７５Ａと、２本の第２サブビームが照射される２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ
と、を備えた第２受光領域７５と、を有する光検出器７３Ａを備えている。
光検出器７３Ａの同一受光面部７３ｓにおいて、ＣＤ規格の光ディスクＤの記録／再生
に用いられる第１の受光領域７４たとえばＣＤ受光領域７４と、ＤＶＤ規格の光ディスク
Ｄの記録／再生に用いられる第２の受光領域７５たとえばＤＶＤ受光領域７５と、が並べ
られて形成されている。
互いに直交する２つの分割線により略十字状に４分割されてそれぞれ４つの光検出面部
により構成されるＣＤ用のメイン受光部７４Ａ、サブ受光部７４Ｂ及び７４Ｃが例えば縦
に３つ並べられて配置されて、光検出器７３ＡにＣＤ受光領域７４が構成される。ＣＤ用
のメイン受光部７４Ａ、サブ受光部７４Ｂ及び７４Ｃに、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤ
により反射された０次回折レーザ光、＋１次回折レーザ光、−１次回折レーザ光のそれぞ
れの反射レーザ光が受光される。光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４に、例えば非点収差
発生光学系により非点収差が付与されたＣＤ規格に基づくレーザ光が受光される。光検出
器７３ＡのＣＤ用メイン受光部７４Ａの分割線７４Ａｘ、７４Ａｙ、サブ受光部７４Ｂ及
び７４Ｃのそれぞれの分割線７４Ｂｘ、７４Ｂｙ及び７４Ｃｘ、７４Ｃｙは、受光される
レーザ光の非点収差の発生方向に対してそれぞれ略４５°の角度となるように設定されて
いる。
また、互いに直交する２つの分割線により略十字状に４分割されてそれぞれ４つの光検
出面部により構成されるＤＶＤ用のメイン受光部７５Ａ、サブ受光部７５Ｂ及び７５Ｃが
例えば縦に３つ並べられて配置されて、光検出器７３ＡにＤＶＤ受光領域７５が構成され
る。ＤＶＤ用のメイン受光部７５Ａ、サブ受光部７５Ｂ及び７５Ｃに、ＤＶＤ規格に基づ
く光ディスクＤにより反射された０次回折レーザ光、＋１次回折レーザ光、−１次回折レ
ーザ光のそれぞれの反射レーザ光が受光される。光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５に
、例えば非点収差発生光学系により非点収差が付与されたＤＶＤ規格に基づくレーザ光が
受光される。光検出器７３ＡのＤＶＤ用メイン受光部７５Ａの分割線７５Ａｘ、７５Ａｙ
、サブ受光部７５Ｂ及び７５Ｃのそれぞれの分割線７５Ｂｘ、７５Ｂｙ及び７５Ｃｘ、７
５Ｃｙは、受光されるレーザ光の非点収差の発生方向に対してそれぞれ略４５°の角度と
なるように設定されている。
光ディスク装置の演算部７６Ａは、例えば、７つの加算器７７Ｄ、７７Ｅ、７７Ｆ、７
７Ｇ、７７Ｈ、７７Ｉ、７８Ｃと、４つの減算器７７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７８Ａと、１
つの増幅器７８Ｂと、を含んで構成される。加算器７７Ｄ、７７Ｅ、減算器７７Ａは、ト
ラッキングエラー信号ＳＥ１の基となる０次反射光の光量に応じた信号ＳＡ１を生成する
ために、演算部７６Ａを構成するものとして演算部７６Ａ内に備えられている。また、加
算器７７Ｆ、７７Ｇ、減算器７７Ｂは、トラッキングエラー信号ＳＥ１の基となる＋１次
反射光の光量に応じた信号ＳＢ１を生成するために、演算部７６Ａを構成するものとして
演算部７６Ａ内に備えられている。また、加算器７７Ｈ、７７Ｉ、減算器７７Ｃは、トラ
ッキングエラー信号ＳＥ１の基となる−１次反射光の光量に応じた信号ＳＣ１を生成する
ために、演算部７６Ａを構成するものとして演算部７６Ａ内に備えられている。減算器７
７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７８Ａは、例えば差動アンプ７７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７８Ａと
される。また、増幅器７８Ｂは、例えば増幅アンプ７８Ｂとされる。
光ピックアップ装置を構成する光検出器７３Ａは、光ディスク装置を構成する基板の演
算部７６Ａに通電可能に接続されている。光ピックアップ装置の光検出器７３Ａにて生成
された信号は、コネクタ、フレキシブル回路基板（不図示）等を経由して光ディスク装置
の演算部７６Ａに送信される。詳しく説明すると、光ピックアップ装置を構成する光検出
器７３Ａ等と、光ディスク装置の基板を構成する演算部７６Ａ等とは、回路基板とされる
フレキシブルプリント回路体（ＦＰＣ：ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｐｒｉｎｔｅｄ ｃｉｒｃｕ
ｉｔ／ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｐｒｉｎｔｅｄ ｃａｂｌｅ）、フレキシブルフラット回路体
（ＦＦＣ：ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｆｌａｔ ｃｉｒｃｕｉｔ／ｆｌｅｘｉｂｌｅ ｆｌａｔ
ｃａｂｌｅ）などのフレキシブル回路基板の各導体部や、フレキシブル回路基板の各導
体部に接続される端子などを備えたコネクタなどを介して通電可能に接続される（何れも
不図示）。
ＦＰＣに各種電子部品、各種電気部品などが半田付けされて通電可能に接続されるため
に、ＦＰＣの基部は、耐熱性に優れるポリイミド系樹脂などの耐熱性合成重合体が用いら
れて形成されている。ポリイミド（ｐｏｌｙｉｍｉｄｅ）は、例えば「ＰＩ」と略称され
る。ＦＰＣは、例えば複数の回路導体部が全芳香族系ポリイミド樹脂などの芳香族系耐熱
性樹脂製の絶縁シートに印刷等されて、例えば銅箔などの金属箔が絶縁シートに並設され
、その上に例えば全芳香族系ポリイミド樹脂などの芳香族系耐熱性樹脂製の透明もしくは
半透明の保護層が設けられて構成される。ＦＰＣは、例えば可撓性の薄い略帯状をしたシ
ート物として形成される。
全芳香族系ポリイミド樹脂などの芳香族系耐熱性樹脂製の絶縁シートおよび／または保
護層を備えるＦＰＣが用いられることにより、ＦＰＣ同士の半田付けが良好に行われる。
また、ＦＰＣに対し、各種電子部品、各種電気部品などの半田付けが良好に行われる。Ｆ
ＰＣは、例えば他の光ピックアップ装置に共通して使用可能な例えば規格化されたＦＰＣ
として構成される。
光ピックアップ装置を構成する光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４には、ＣＤ規格に準
拠した第１のレーザ光を回折格子６４Ａにより回折分岐した３ビーム、具体的には、メイ
ンビーム（０次光）と、そのメインビームの前後に配置される２つのサブビーム（±１次
回折光束）とのそれぞれに対応して、第１のメイン受光部７４Ａと、２つの第１のサブ受
光部７４Ｂ、７４Ｃとが形成されている。本願における「前」、「後」の定義は、便宜上
の定義とされている。第１のメイン受光部７４Ａ、第１のサブ受光部７４Ｂ、７４Ｃは、
それぞれ４分割されて４つの光検出面部により構成される。
詳しく説明すると、ＣＤ受光領域７４の略矩形状をした中央の第１のメイン受光部７４
Ａは、略直交する２本の分割線７４Ａｘ、７４Ａｙにより４分割されて、４つの略矩形状
をした光検出面部７４Ａａ、７４Ａｂ、７４Ａｃ、７４Ａｄいわゆるセグメント７４Ａａ
、７４Ａｂ、７４Ａｃ、７４Ａｄを備えて構成される。セグメント（ｓｅｇｍｅｎｔ）と
は、例えば、部分、断片など、全体が幾つかに分割されたもののうちの１つを意味する。
ＣＤ受光領域７４の略矩形状をした中央の第１のメイン受光部７４Ａは、略矩形状をした
第１のメインセグメント７４Ａａと、第１のメインセグメント７４Ａａに隣接する略矩形
状をした第２のメインセグメント７４Ａｂと、第２のメインセグメント７４Ａｂに隣接す
る略矩形状をした第３のメインセグメント７４Ａｃと、第３のメインセグメント７４Ａｃ
に隣接する略矩形状をした第４のメインセグメント７４Ａｄと、を備えて構成され、第４
のメインセグメント７４Ａｄに第１のメインセグメント７４Ａａが隣接されている。ＣＤ
受光領域７４の中央の第１メイン受光部７４Ａは、略正方形状に構成されている。
また、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４は、中央のメイン受光部７４Ａと、中央のメ
イン受光部７４Ａの各セグメント７４Ａａ、７４Ａｂ、７４Ａｃ、７４Ａｄからの各受光
出力信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１をそれぞれ電流信号から電圧信号に変
換すると共に増幅する各電流・電圧変換アンプ７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７
７ＥＲ１と、各電流・電圧変換アンプ７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１
により電圧信号に変換され且つ増幅された各信号をそれぞれ更に増幅する各後段アンプ７
７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２と、を備えている。
演算部７６Ａを構成する減算器７７Ａは、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４において
中央の第１メイン受光部７４Ａを構成する例えば上下一対のセグメント７４Ａａ、７４Ａ
ｂ、及び、７４Ａｃ，７４Ａｄからの出力信号の差分｛（ＴＡａ１＋ＴＡｂ１）−（ＴＡ
ｃ１＋ＴＡｄ１）｝すなわち（ＴＡａｂ１−ＴＡｃｄ１）を演算しメインプッシュプル信
号ＳＡ１として生成する。
また、ＣＤ受光領域７４の略矩形状をした前側の第１のサブ受光部７４Ｂは、略直交す
る２本の分割線７４Ｂｘ、７４Ｂｙにより４分割されて、４つの略矩形状をした光検出面
部７４Ｂａ、７４Ｂｂ、７４Ｂｃ、７４Ｂｄいわゆるセグメント７４Ｂａ、７４Ｂｂ、７
４Ｂｃ、７４Ｂｄを備えて構成される。ＣＤ受光領域７４の略矩形状をした前側の第１の
サブ受光部７４Ｂは、略矩形状をした第１のサブセグメント７４Ｂａと、第１のサブセグ
メント７４Ｂａに隣接する略矩形状をした第２のサブセグメント７４Ｂｂと、第２のサブ
セグメント７４Ｂｂに隣接する略矩形状をした第３のサブセグメント７４Ｂｃと、第３の
サブセグメント７４Ｂｃに隣接する略矩形状をした第４のサブセグメント７４Ｂｄと、を
備えて構成され、第４のサブセグメント７４Ｂｄに第１のサブセグメント７４Ｂａが隣接
されている。ＣＤ受光領域７４の前側の第１サブ受光部７４Ｂは、略正方形状に構成され
ている。
また、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４は、前側のサブ受光部７４Ｂと、前側のサブ
受光部７４Ｂの各セグメント７４Ｂａ、７４Ｂｂ、７４Ｂｃ、７４Ｂｄからの各受光出力
信号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１をそれぞれ電流信号から電圧信号に変換す
ると共に増幅する各電流・電圧変換アンプ７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７Ｇ
Ｒ１と、各電流・電圧変換アンプ７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１によ
り電圧信号に変換され且つ増幅された各信号をそれぞれ更に増幅する各後段アンプ７７Ｆ
Ｌ２、７７ＦＲ２、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２と、を備えている。
演算部７６Ａを構成する減算器７７Ｂは、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４において
前側の第１サブ受光部７４Ｂを構成する例えば上下一対のセグメント７４Ｂａ、７４Ｂｂ
、及び、７４Ｂｃ，７４Ｂｄからの出力信号の差分｛（ＴＢａ１＋ＴＢｂ１）−（ＴＢｃ
１＋ＴＢｄ１）｝すなわち（ＴＢａｂ１−ＴＢｃｄ１）を演算し先行サブプッシュプル信
号ＳＢ１として生成する。
また、ＣＤ受光領域７４の略矩形状をした後側の第１のサブ受光部７４Ｃは、略直交す
る２本の分割線７４Ｃｘ、７４Ｃｙにより４分割されて、４つの略矩形状をした光検出面
部７４Ｃａ、７４Ｃｂ、７４Ｃｃ、７４Ｃｄいわゆるセグメント７４Ｃａ、７４Ｃｂ、７
４Ｃｃ、７４Ｃｄを備えて構成される。ＣＤ受光領域７４の略矩形状をした後側の第１の
サブ受光部７４Ｃは、略矩形状をした第１のサブセグメント７４Ｃａと、第１のサブセグ
メント７４Ｃａに隣接する略矩形状をした第２のサブセグメント７４Ｃｂと、第２のサブ
セグメント７４Ｃｂに隣接する略矩形状をした第３のサブセグメント７４Ｃｃと、第３の
サブセグメント７４Ｃｃに隣接する略矩形状をした第４のサブセグメント７４Ｃｄと、を
備えて構成され、第４のサブセグメント７４Ｃｄに第１のサブセグメント７４Ｃａが隣接
されている。ＣＤ受光領域７４の後側の第１サブ受光部７４Ｃは、略正方形状に構成され
ている。
また、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４は、後側のサブ受光部７４Ｃと、後側のサブ
受光部７４Ｃの各セグメント７４Ｃａ、７４Ｃｂ、７４Ｃｃ、７４Ｃｄからの各受光出力
信号ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１をそれぞれ電流信号から電圧信号に変換す
ると共に増幅する各電流・電圧変換アンプ７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７Ｉ
Ｒ１と、各電流・電圧変換アンプ７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１によ
り電圧信号に変換され且つ増幅された各信号をそれぞれ更に増幅する各後段アンプ７７Ｈ
Ｌ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、７７ＩＲ２と、を備えている。
演算部７６Ａを構成する減算器７７Ｃは、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４において
後側の第１サブ受光部７４Ｃを構成する例えば上下一対のセグメント７４Ｃａ、７４Ｃｂ
、及び、７４Ｃｃ，７４Ｃｄからの出力信号の差分｛（ＴＣａ１＋ＴＣｂ１）−（ＴＣｃ
１＋ＴＣｄ１）｝すなわち（ＴＣａｂ１−ＴＣｃｄ１）を演算し遅行サブプッシュプル信
号ＳＣ１として生成する。
加算器７８Ｃに、減算器７７Ｂの出力信号である先行サブプッシュプル信号ＳＢ１と、
減算器７７Ｃの出力信号である遅行サブプッシュプル信号ＳＣ１とが入力される。加算器
７８Ｃは、これらの信号の加算（ＳＢ１＋ＳＣ１）を演算し加算サブプッシュプル信号Ｓ
Ｄ１とさせる。増幅器７８Ｂに、加算器７８Ｃの出力信号である加算サブプッシュプル信
号ＳＤ１が入力される。増幅器７８Ｂは、加算サブプッシュプル信号ＳＤ１を例えば増幅
率Ｋでメインプッシュプル信号ＳＡ１と同等の信号レベルに増幅する。減算器７８Ａに、
減算器７７Ａの出力信号と、増幅器７８Ｂの出力信号とが入力される。減算器７８Ａは、
メインプッシュプル信号ＳＡ１と、加算サブプッシュプル信号ＳＤ１を増幅した信号との
差分を演算して、トラッキング誤差信号ＳＥ１として出力する。
演算部７６Ａで生成されたトラッキング誤差信号ＳＥ１が対物レンズ駆動部７９（図２
、図３）に送られて、光ディスクＤのトラックＤ８０（図５）に対する対物レンズ７０（
図２、図３）のトラッキング調整が自動的に行われる。
第１のメイン受光部７４Ａ、第１のサブ受光部７４Ｂ、７４Ｃを構成する各セグメント
から得られる各受光出力に所定の演算を施すことにより、ＣＤ規格の光ディスクＤの記録
／再生時等に、メイン情報信号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号Ｓ
Ｅ１が得られる。
例えば、光ディスク装置を構成する不図示の基板のＬＳＩからＦＰＣを経由して光ピッ
クアップ装置の発光素子（ＬＤ：ｌａｓｅｒ ｄｉｏｄｅ）に例えば単一周波数であって
高周波のレーザ光出射信号が送られるときに、ＦＰＣ等の周囲に不要輻射が生じることが
ある。ＬＳＩ（ｌａｒｇｅ ｓｃａｌｅ ｉｎｔｅｇｒａｔｉｏｎ）とは、例えば半導体
集積回路（ＩＣ：ｉｎｔｅｇｒａｔｅｄ ｃｉｒｃｕｉｔ）のうち素子の集積度が１００
０個〜１０００００個程度のもの、又は単にＩＣの同義語とされる。また、不要輻射とは
、例えば電子機器などが出す電磁波や不要な電波等を意味する。
例えば光ディスクＤの内周側Ｄ８４から外周側Ｄ８８にかけて光ディスクＤにデータ、
情報、信号が記録されるときに、光ディスク装置を構成する基板のＬＳＩと光ピックアッ
プ装置のＬＤとを通電可能に繋ぐＦＰＣが撓まされたりのばされたりして、ＦＰＣが例え
ば引き回される環境下において、ＦＰＣに例えば単一周波数であって高周波のパルス信号
が流される構造のものにおいては、不要輻射の点で不利とされることがある。
各受光出力信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１、ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢ
ｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１をそれぞれ電流信号から電圧
信号に変換すると共に増幅する各電流・電圧変換アンプ７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７Ｅ
Ｌ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７
７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１、及び、各電流・電圧変換アンプ７７ＤＬ１、７７Ｄ
Ｒ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７
７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１により電圧信号に変換され且つ増幅され
た各信号をそれぞれ更に増幅する各後段アンプ７７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７
７ＥＲ２、７７ＦＬ２、７７ＦＲ２、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２
、７７ＩＬ２、７７ＩＲ２が光ピックアップ装置の光検出器７３Ａに装備されていれば、
前記各電流・電圧変換アンプ７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７Ｆ
Ｌ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７
７ＩＲ１、及び、前記各後段アンプ７７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２、
７７ＦＬ２、７７ＦＲ２、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ
２、７７ＩＲ２により、光検出器７３Ａの各受光部７４Ａ、７４Ｂ、７４Ｃから出力され
る各受光出力信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１、ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢ
ｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１は、例えば確実にゲインアッ
プされた光電変換信号ＴＡａ１、ＴＡｂ１、ＴＡｃ１、ＴＡｄ１、ＴＢａ１、ＴＢｂ１、
ＴＢｃ１、ＴＢｄ１、ＴＣａ１、ＴＣｂ１、ＴＣｃ１、ＴＣｄ１として光検出器７３Ａか
ら出力される。
これにより、例えば光ピックアップ装置を構成する光検出器７３Ａ等と光ディスク装置
の基板を構成する演算部７６Ａ等とを通電可能に接続するＦＰＣ等の周囲に不要輻射など
が生じても、光検出器７３Ａから出力される光電変換信号ＴＡａ１、ＴＡｂ１、ＴＡｃ１
、ＴＡｄ１、ＴＢａ１、ＴＢｂ１、ＴＢｃ１、ＴＢｄ１、ＴＣａ１、ＴＣｂ１、ＴＣｃ１
、ＴＣｄ１の劣化が抑えられる。従って、光ディスク装置の基板の演算部７６Ａにて、１
本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とが精度よく確実に行われる
。
尚、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、電流・電圧変換アンプ（７
７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１
、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１）は、電流・電圧変換
機能を備えもっていない通常の前段増幅アンプ（７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、
７７ＥＲ１、７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ
１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１）として構成されてもよい。
又、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、電流・電圧変換アンプ（７
７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１
、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１）は、増幅アンプ（７
７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２、７７ＦＬ２、７７ＦＲ２、７７ＧＬ２
、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、７７ＩＲ２）よりも信号の流れの
下流側に位置するものとされてもよい。
例えば、ＣＤ規格に準拠した第１のレーザ光がＣＤ規格に準拠した第１の光ディスクＤ
に照射される場合、つぎのとおりトラッキングエラー信号ＳＥ１の検出が行われる。
先ず、演算部７６Ａの加算器７７Ｄは、光検出器７３Ａのメイン受光部７４Ａの第１セ
グメント７４Ａａにおいて受光した０次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＡａ
１と、光検出器７３Ａのメイン受光部７４Ａの第２セグメント７４Ａｂにおいて受光した
０次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＡｂ１と、を加算し、光電変換信号ＴＡ
ａｂ１を生成する。
また、演算部７６Ａの加算器７７Ｅは、光検出器７３Ａのメイン受光部７４Ａの第３セ
グメント７４Ａｃにおいて受光した０次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＡｃ
１と、光検出器７３Ａのメイン受光部７４Ａの第４セグメント７４Ａｄにおいて受光した
０次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＡｄ１と、を加算し、光電変換信号ＴＡ
ｃｄ１を生成する。
また、演算部７６Ａの減算器７７Ａは、加算器７７Ｄの加算結果（光電変換信号ＴＡａ
１＋光電変換信号ＴＡｂ１）から、加算器７７Ｅの加算結果（光電変換信号ＴＡｃ１＋光
電変換信号ＴＡｄ１）を減算し、メインプッシュプル信号ＳＡ１を生成する。この結果、
減算器７７Ａは、トラッキングエラー信号ＳＥ１の基となる０次反射光の光量に応じた信
号｛（光電変換信号ＴＡａ１＋光電変換信号ＴＡｂ１）−（光電変換信号ＴＡｃ１＋光電
変換信号ＴＡｄ１）｝、即ちメインプッシュプル信号ＳＡ１を出力することとなる。
ＣＤ規格に対応したメイン検出光スポット８０を形成するＣＤ用のメインビームが光デ
ィスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるメイ
ン受光部７４Ａにメイン検出光スポット９０ｉとして照射されたときに、メイン受光部７
４Ａに接続された減算器７７Ａは、メイン受光部７４Ａからの出力信号の差分を演算し例
えばメインプッシュプル信号ＳＡ１として生成する。
また、演算部７６Ａの加算器７７Ｆは、光検出器７３Ａの前側サブ受光部７４Ｂの第１
セグメント７４Ｂａにおいて受光した＋１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号Ｔ
Ｂａ１と、光検出器７３Ａの前側サブ受光部７４Ｂの第２セグメント７４Ｂｂにおいて受
光した＋１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＢｂ１と、を加算し、光電変換
信号ＴＢａｂ１を生成する。
また、演算部７６Ａの加算器７７Ｇは、光検出器７３Ａの前側サブ受光部７４Ｂの第３
セグメント７４Ｂｃにおいて受光した＋１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号Ｔ
Ｂｃ１と、光検出器７３Ａの前側サブ受光部７４Ｂの第４セグメント７４Ｂｄにおいて受
光した＋１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＢｄ１と、を加算し、光電変換
信号ＴＢｃｄ１を生成する。
また、演算部７６Ａの減算器７７Ｂは、加算器７７Ｆの加算結果（光電変換信号ＴＢａ
１＋光電変換信号ＴＢｂ１）から、加算器７７Ｇの加算結果（光電変換信号ＴＢｃ１＋光
電変換信号ＴＢｄ１）を減じ、サブプッシュプル信号ＳＢ１を生成する。
ＣＤ規格に対応した第１のサブ検出光スポット８１を形成するＣＤ用の第１のサブビー
ムが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４にお
ける前側の第１のサブ受光部７４Ｂに第１のサブ検出光スポット９１ｉとして照射された
ときに、前側の第１のサブ受光部７４Ｂに接続された減算器７７Ｂは、前側の第１のサブ
受光部７４Ｂからの出力信号の差分を演算し例えば先行サブプッシュプル信号ＳＢ１とし
て生成する。
また、演算部７６Ａの加算器７７Ｈは、光検出器７３Ａの後側サブ受光部７４Ｃの第１
セグメント７４Ｃａにおいて受光した−１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号Ｔ
Ｃａ１と、光検出器７３Ａの後側サブ受光部７４Ｃの第２セグメント７４Ｃｂにおいて受
光した−１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＣｂ１と、を加算し、光電変換
信号ＴＣａｂ１を生成する。
また、演算部７６Ａの加算器７７Ｉは、光検出器７３Ａの後側サブ受光部７４Ｃの第３
セグメント７４Ｃｃにおいて受光した−１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号Ｔ
Ｃｃ１と、光検出器７３Ａの後側サブ受光部７４Ｃの第４セグメント７４Ｃｄにおいて受
光した−１次反射光の一部の光量に応じた光電変換信号ＴＣｄ１と、を加算し、光電変換
信号ＴＣｃｄ１を生成する。
また、演算部７６Ａの減算器７７Ｃは、加算器７７Ｈの加算結果（光電変換信号ＴＣａ
１＋光電変換信号ＴＣｂ１）から、加算器７７Ｉの加算結果（光電変換信号ＴＣｃ１＋光
電変換信号ＴＣｄ１）を減じ、サブプッシュプル信号ＳＣ１を生成する。
ＣＤ規格に対応した第２のサブ検出光スポット８２を形成するＣＤ用の第２のサブビー
ムが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４にお
ける後側の第１のサブ受光部７４Ｃに第２のサブ検出光スポット９２ｉとして照射された
ときに、後側の第１のサブ受光部７４Ｃに接続された減算器７７Ｃは、後側の第１のサブ
受光部７４Ｃからの出力信号の差分を演算し例えば遅行サブプッシュプル信号ＳＣ１とし
て生成する。
演算部７６Ａの加算器７８Ｃは、減算器７７Ｂの減算結果｛（光電変換信号ＴＢａ１＋
光電変換信号ＴＢｂ１）−（光電変換信号ＴＢｃ１＋光電変換信号ＴＢｄ１）｝と、減算
器７７Ｃの減算結果｛（光電変換信号ＴＣａ１＋光電変換信号ＴＣｂ１）−（光電変換信
号ＴＣｃ１＋光電変換信号ＴＣｄ１）｝と、を加算し、加算サブプッシュプル信号ＳＤ１
を生成する。
演算部７６Ａの増幅器７８Ｂは、加算器７８Ｃの加算結果〔｛（光電変換信号ＴＢａ１
＋光電変換信号ＴＢｂ１）−（光電変換信号ＴＢｃ１＋光電変換信号ＴＢｄ１）｝＋｛（
光電変換信号ＴＣａ１＋光電変換信号ＴＣｂ１）−（光電変換信号ＴＣｃ１＋光電変換信
号ＴＣｄ１）｝〕、即ち、加算サブプッシュプル信号ＳＤ１を増幅率Ｋで増幅する。この
増幅率Ｋは、例えば回折格子６４Ａの回折効率による０次光と±１次回折光の光強度の相
違を調整するべく定まる値である。
演算部７６Ａの減算器７８Ａは、減算器７７Ａの減算結果〔（光電変換信号ＴＡａ１＋
光電変換信号ＴＡｂ１）−（光電変換信号ＴＡｃ１＋光電変換信号ＴＡｄ１）〕から、増
幅器７８Ｂの増幅結果［Ｋ・〔｛（光電変換信号ＴＢａ１＋光電変換信号ＴＢｂ１）−（
光電変換信号ＴＢｃ１＋光電変換信号ＴＢｄ１）｝＋｛（光電変換信号ＴＣａ１＋光電変
換信号ＴＣｂ１）−（光電変換信号ＴＣｃ１＋光電変換信号ＴＣｄ１）｝〕］を減算する
ことにより、トラッキングエラー信号ＳＥ１を生成する。このトラッキングエラー信号Ｓ
Ｅ１は、［〔（光電変換信号ＴＡａ１＋光電変換信号ＴＡｂ１）−（光電変換信号ＴＡｃ
１＋光電変換信号ＴＡｄ１）〕−Ｋ・［〔｛（光電変換信号ＴＢａ１＋光電変換信号ＴＢ
ｂ１）−（光電変換信号ＴＢｃ１＋光電変換信号ＴＢｄ１）｝＋｛（光電変換信号ＴＣａ
１＋光電変換信号ＴＣｂ１）−（光電変換信号ＴＣｃ１＋光電変換信号ＴＣｄ１）｝〕］
］とされる。
中央のメインスポット８０に対応した中央のメイン検出光スポット９０ｉから検出され
るメインプッシュプル信号ＳＡ１と、前後のサブスポット８１、８２のそれぞれに対応す
る前後のサブ検出光スポット９１ｉ、９２ｉから検出される各サブプッシュプル信号ＳＢ
１、ＳＣ１とは、互いに逆位相で出力される。そののちに、加算器７８Ｃによって各サブ
プッシュプル信号ＳＢ１、ＳＣ１が加算され、加算生成された加算サブプッシュプル信号
ＳＤ１が増幅器７８Ｂによって増幅されたのちに減算器７８Ａによってメインプッシュプ
ル信号ＳＡ１に対し減算処理されることにより、プッシュプル信号ＳＡ１、ＳＢ１、ＳＣ
１の各オフセット成分が相殺された精度の高いトラッキングエラー信号ＳＥ１を生成させ
ることが可能となる。
光ピックアップ装置を構成する光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５には、ＤＶＤ規格
に準拠した第２のレーザ光を回折格子６４Ａにより回折分岐した３ビーム、具体的には、
メインビーム（０次光）と、そのメインビームの前後に配置される２つのサブビーム（±
１次回折光束）とのそれぞれに対応して、第２のメイン受光部７５Ａと、２つの第２のサ
ブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとが形成されている。第２のメイン受光部７５Ａ、第２のサブ受
光部７５Ｂ、７５Ｃは、それぞれ４分割されて４つのセグメントにより構成される。
詳しく説明すると、ＤＶＤ受光領域７５の略矩形状をした中央の第２のメイン受光部７
５Ａは、略直交する２本の分割線７５Ａｘ、７５Ａｙにより４分割されて、４つの略矩形
状をしたセグメント７５Ａａ、７５Ａｂ、７５Ａｃ、７５Ａｄを備えて構成される。ＤＶ
Ｄ受光領域７５の略矩形状をした中央の第２のメイン受光部７５Ａは、略矩形状をした第
２のメインセグメント７５Ａａと、第２のメインセグメント７５Ａａに隣接する略矩形状
をした第２のメインセグメント７５Ａｂと、第２のメインセグメント７５Ａｂに隣接する
略矩形状をした第３のメインセグメント７５Ａｃと、第３のメインセグメント７５Ａｃに
隣接する略矩形状をした第４のメインセグメント７５Ａｄと、を備えて構成され、第４の
メインセグメント７５Ａｄに第２のメインセグメント７５Ａａが隣接されている。ＤＶＤ
受光領域７５の中央の第２メイン受光部７５Ａは、略正方形状に構成されている。
また、ＤＶＤ受光領域７５の略矩形状をした前側の第２のサブ受光部７５Ｂは、略直交
する２本の分割線７５Ｂｘ、７５Ｂｙにより４分割されて、４つの略矩形状をしたセグメ
ント７５Ｂａ、７５Ｂｂ、７５Ｂｃ、７５Ｂｄを備えて構成される。ＤＶＤ受光領域７５
の略矩形状をした前側の第２のサブ受光部７５Ｂは、略矩形状をした第２のサブセグメン
ト７５Ｂａと、第２のサブセグメント７５Ｂａに隣接する略矩形状をした第２のサブセグ
メント７５Ｂｂと、第２のサブセグメント７５Ｂｂに隣接する略矩形状をした第３のサブ
セグメント７５Ｂｃと、第３のサブセグメント７５Ｂｃに隣接する略矩形状をした第４の
サブセグメント７５Ｂｄと、を備えて構成され、第４のサブセグメント７５Ｂｄに第２の
サブセグメント７５Ｂａが隣接されている。ＤＶＤ受光領域７５の前側の第２サブ受光部
７５Ｂは、略正方形状に構成されている。
また、ＤＶＤ受光領域７５の略矩形状をした後側の第２のサブ受光部７５Ｃは、略直交
する２本の分割線７５Ｃｘ、７５Ｃｙにより４分割されて、４つの略矩形状をしたセグメ
ント７５Ｃａ、７５Ｃｂ、７５Ｃｃ、７５ＤＶＤを備えて構成される。ＤＶＤ受光領域７
５の略矩形状をした後側の第２のサブ受光部７５Ｃは、略矩形状をした第２のサブセグメ
ント７５Ｃａと、第２のサブセグメント７５Ｃａに隣接する略矩形状をした第２のサブセ
グメント７５Ｃｂと、第２のサブセグメント７５Ｃｂに隣接する略矩形状をした第３のサ
ブセグメント７５Ｃｃと、第３のサブセグメント７５Ｃｃに隣接する略矩形状をした第４
のサブセグメント７５ＤＶＤと、を備えて構成され、第４のサブセグメント７５ＤＶＤに
第２のサブセグメント７５Ｃａが隣接されている。ＤＶＤ受光領域７５の後側の第２サブ
受光部７５Ｃは、略正方形状に構成されている。
尚、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５は、例えば図６に示す回路に近似した各電流
・電圧変換アンプ、各後段アンプを備えるが、ここではその詳細な説明を省略する。また
、演算部７６Ａは、例えば図６に示す回路に近似しＤＶＤ用信号を演算する各加算器、減
算器、増幅器を備え、ＤＶＤ信号演算用の各加算器、減算器、増幅器は、ＤＶＤ受光領域
７５に接続されるが、ここではその詳細な説明を省略する。
第２のメイン受光部７５Ａ、第２のサブ受光部７５Ｂ、７５Ｃを構成する各セグメント
から得られる各受光出力に所定の演算を施すことにより、ＤＶＤ規格の光ディスクＤの記
録／再生時等に、メイン情報信号、フォーカスエラー信号およびトラッキングエラー信号
ＳＥ２が得られる。
例えば、ＤＶＤ規格に準拠した第２のレーザ光がＤＶＤ規格に準拠した第２の光ディス
クＤに照射される場合、つぎのとおりトラッキングエラー信号ＳＥ２の検出が行われる。
ＤＶＤ規格に対応したメイン検出光スポット８０を形成するＤＶＤ用のメインビームが
光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５におけ
るメイン受光部７５Ａにメイン検出光スポット９０iiとして照射されたときに、メイン受
光部７５Ａに接続された減算器は、メイン受光部７５Ａからの出力信号の差分を演算し例
えばメインプッシュプル信号ＳＡ２として生成する。
また、ＤＶＤ規格に対応した第２のサブ検出光スポット８１を形成するＤＶＤ用の第２
のサブビームが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光
領域７５における前側の第２のサブ受光部７５Ｂに第２のサブ検出光スポット９１iiとし
て照射されたときに、前側の第２のサブ受光部７５Ｂに接続された減算器は、前側の第２
のサブ受光部７５Ｂからの出力信号の差分を演算し例えば先行サブプッシュプル信号ＳＢ
２として生成する。
また、ＤＶＤ規格に対応した第２のサブ検出光スポット８２を形成するＤＶＤ用の第２
のサブビームが光ディスクＤの信号層Ｄａから反射されて、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光
領域７５における後側の第２のサブ受光部７５Ｃに第２のサブ検出光スポット９２iiとし
て照射されたときに、後側の第２のサブ受光部７５Ｃに接続された減算器は、後側の第２
のサブ受光部７５Ｃからの出力信号の差分を演算し例えば遅行サブプッシュプル信号ＳＣ
２として生成する。
中央のメインスポット８０に対応した中央のメイン検出光スポット９０iiから検出され
るメインプッシュプル信号ＳＡ２と、前後のサブスポット８１、８２のそれぞれに対応す
る前後のサブ検出光スポット９１ii、９２iiから検出される各サブプッシュプル信号ＳＢ
２、ＳＣ２とは、互いに逆位相で出力される。そののちに、加算器７８Ｃによって各サブ
プッシュプル信号ＳＢ２、ＳＣ２が加算され、加算生成された加算サブプッシュプル信号
ＳＤ２が増幅器７８Ｂによって増幅されたのちに減算器７８Ａによってメインプッシュプ
ル信号ＳＡ２に対し減算処理されることにより、プッシュプル信号ＳＡ２、ＳＢ２、ＳＣ
２の各オフセット成分が相殺された精度の高いトラッキングエラー信号ＳＥ２を生成させ
ることが可能となる。
＜＜光検出器７３Ａの受光領域７４、７５＞＞
以下、図７、図８を用いて光検出器７３Ａの受光領域７４、７５について説明する。
図７は、本発明の一実施形態に係る光検出器の受光領域を説明するための図、図８は、
本発明の一実施形態に係る光検出器の受光領域における各受光部間隔の導出方法を説明す
るための図である。
光検出器７３Ａの同一受光面部７３ｓにおいて、ＤＶＤ規格の光ディスクＤの記録／再
生に用いられるＤＶＤ受光領域７５と、ＣＤ規格の光ディスクＤの記録／再生に用いられ
るＣＤ受光領域７４と、が並べられて形成されている。
ＤＶＤ受光領域７５には、ＤＶＤ規格に準拠した第２のレーザ光を回折格子６４Ａによ
り回折分岐した３ビーム、具体的には、メインビーム（０次光）と、そのメインビームの
前後に配置される２つのサブビーム（±１次回折光束）とのそれぞれに対応して、第２の
メイン受光部７５Ａと、第２のサブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとが形成される。第２のメイン
受光部７５Ａ、第２のサブ受光部７５Ｂ、７５Ｃは、４分割されてそれぞれ４つのセグメ
ントにより構成される。第２のメイン受光部７５Ａ、第２のサブ受光部７５Ｂ及び第２の
サブ受光部７５Ｃを構成する各セグメントから得られる各受光出力に所定の演算を施すこ
とにより、ＤＶＤ規格の光ディスクＤの記録／再生時等に、メイン情報信号、フォーカス
エラー信号及びトラッキングエラー信号ＳＥ２が得られる。尚、第２のメイン受光部７５
Ａ、第２のサブ受光部７５Ｂ、７５Ｃは、４分割に限定されず、例えば２分割であっても
よい。また、第２のサブ受光部７５ｂ、７５ｃは、例えば分割されていなくてもよい。
ＣＤ受光領域７４には、ＣＤ規格に準拠した第１のレーザ光を回折格子６４Ａにより回
折分岐した３ビーム、具体的には、メインビーム（０次光）と、そのメインビームの前後
に配置される２つのサブビーム（±１次回折光束）とのそれぞれに対応して、第１のメイ
ン受光部７４Ａと、２つの第１のサブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとが形成される。第１のメイ
ン受光部７４Ａ、第１のサブ受光部７４Ｂ、７４Ｃは、それぞれ４分割されて４つのセグ
メントにより構成される。第１のメイン受光部７４Ａ、第１のサブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ
を構成する各セグメントから得られる各受光出力に所定の演算を施すことにより、ＣＤ規
格の光ディスクＤの記録／再生時等に、メイン情報信号、フォーカスエラー信号及びトラ
ッキングエラー信号ＳＥ１が得られる。尚、第１のメイン受光部７４Ａ、第１のサブ受光
部７４Ｂ、７４Ｃは、４分割に限定されず、例えば２分割であってもよい。また、第１の
サブ受光部７４ｂ、７４ｃは、例えば分割されていなくてもよい。
ＤＶＤ受光領域７５における第２のメイン受光部７５Ａと第２のサブ受光部７５Ｂ、７
５Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）と、ＣＤ受光領域７４における第１のメイン受光部
７４Ａと第１のサブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）とは、つぎのよ
うに導出される。
まず、レーザユニット６１の第１又は第２の光源６２、６３より出射される第１又は第
２のレーザ光の波長λと、回折格子６４Ａにおいて連続した凹部Ｓ１１から凸部Ｓ１２ま
たは凸部Ｓ１２から凹部Ｓ１１までを一周期とした格子間隔ｄと、に基づいて、つぎの式
（１６）によるブラッグの条件に基づく近似式によって回折角θが求められる（図８参照
）。尚、格子間隔ｄは、例えば数μｍ〜数百μｍ程度とされる。
θ＝Sin-1（λ/ｄ） …（１６）
また、凹部Ｓ１１は、底面Ｓｉと、底面Ｓｉに対し略直交する両側面Ｓiii、Ｓivと、
を備えて構成されている。また、凹部Ｓ１１を構成する凹面Ｓ２１も、底面Ｓｉと、底面
Ｓｉに対し略直交する両側面Ｓiii、Ｓivと、を備えて構成される。また、凸部Ｓ１２は
、底面Ｓｉに略平行な外面Ｓiiと、底面Ｓｉおよび外面Ｓiiに対し略直交する両側面Ｓii
i、Ｓivと、を備えて構成されている。また、凸部Ｓ１２を構成する凸面Ｓ２１も、底面
Ｓｉに略平行な外面Ｓiiと、底面Ｓｉおよび外面Ｓiiに対し略直交する両側面Ｓiii、Ｓi
vと、を備えて構成される。また、回折角θとは、回折光が回折格子６４Ａの略平滑面Ｓ
の裏側の回折面部２０ａを構成する凹面Ｓ２１の底面Ｓｉや凸面Ｓ２２の外面Ｓiiの法線
Ｎと成す角度のことを意味する。また、仮想の発光点Ｘは、法線Ｎを中心軸として略対称
に一対ほど設定される。尚、図８に示す説明図は、説明を容易とさせるために、便宜上、
描かれた図である。
つぎに、レーザユニット６１の発光面６１ａに含まれる第１又は第２の光源６２、６３
の現実の位置を示す第１の発光点Ｏから回折格子６４Ａの略平滑面Ｓの裏側の凹面Ｓ２１
を構成する底面Ｓｉや凸面Ｓ２２を構成する外面Ｓiiまでの間の法線距離Ｌと、上記式（
１６）により求めた回折角θと、に基づき、レーザユニット６１の発光面６１ａ上でのサ
ブビームに関する見かけ上の第１又は第２の光源６２、６３の位置を示す第２の発光点Ｘ
を定めることができる。尚、レーザユニット６１の発光面６１ａは、回折格子６４Ａの略
平滑面Ｓの法線Ｎに対して垂直であり、面Ｓの裏側の凹面Ｓ２１を構成する底面Ｓｉや凸
面Ｓ２２を構成する外面Ｓiiから略法線距離Ｌだけ離れた位置にある平面となっている。
そして、つぎの式（１７）により、レーザユニット６１の発光面６１ａ上における第１の
発光点Ｏから第２の発光点Ｘまでの間の距離Ｙｒが求められる（図８参照）。
Ｙｒ＝Ｌ×tan(θ) …（１７）
ここで、光ディスクＤの信号層Ｄａ上におけるメインスポット８０の略中心部とされる
第１の照射点Ｏａと、第２の発光点Ｘより仮想的に発光される第１又は第２のレーザ光に
対応した光ディスクＤの信号層Ｄａ上におけるサブスポット８１／８２の略中心部とされ
る第２の照射点Ｘｂ／Ｘｃとについて、簡単に説明する。
例えば、コリメータレンズ６７の焦点距離ｆ２（不図示）と、対物レンズ７０の焦点距
離ｆ１（不図示）と、に基づいて、第１の発光点Ｏより仮想的に発光される第１又は第２
のレーザ光に対応した光ディスクＤの信号層Ｄａ上におけるメインスポット８０の略中心
部とされる第１の照射点Ｏａと、第２の発光点Ｘより仮想的に発光される第１又は第２の
レーザ光に対応した光ディスクＤの信号層Ｄａ上におけるサブスポット８１／８２の略中
心部とされる第２の照射点Ｘｂ／Ｘｃと、が求められる。例えば、光ディスクＤの信号層
Ｄａ上における第１の照射点Ｏａと第２の照射点Ｘｂ又はＸｃとの間の距離Ｙｐは、発光
点Ｏから発光点Ｘまでの距離Ｙｒと、コリメータレンズ６７の焦点距離ｆ２と、対物レン
ズ７０の焦点距離ｆ１と、に基づいて、例えばつぎの式（１８）により求められる。
Ｙｐ＝Ｙｒ×f1/f2 …（１８）
以上を整理すると、第１又は第２のレーザ光の波長を例えばλとし、回折格子６４Ａの
格子間隔をｄとし、レーザユニット６１の発光面６１ａから回折格子６４Ａの面Ｓに対す
る裏側の凹面Ｓ２１を構成する底面Ｓｉや凸面Ｓ２２を構成する外面Ｓiiとの間の法線距
離をＬとし、対物レンズ７０の焦点距離をｆ１とし、コリメータレンズ６７の焦点距離を
ｆ２としたときに、光ディスクＤの信号層Ｄａ上における第１の照射点Ｏａと第２の照射
点Ｘｂ又はＸｃとの間の距離Ｙｐは、つぎの式（１９）に基づいて求められる。尚、距離
Ｙｐは、第１又は第２のレーザ光が回折格子６４Ａにより回折分岐された場合の光ディス
クＤの信号層Ｄａ上での各メイン−サブピッチを表している。
Ｙｐ＝Ｌ×tan｛sin-1（λ/ｄ）｝×f1/f2 …（１９）
光ディスクＤの信号層Ｄａに照射される第１又は第２のレーザ光のメインビームおよび
２つのサブビームは、光ディスクＤの信号層Ｄａにより反射されて最終的に光検出器７３
Ａに照射される。
つぎに、光検出器７３Ａにおける第１のメイン受光部７４Ａと第１のサブ受光部７４Ｂ
、７４Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）並びに第２のメイン受光部７５Ａと第２のサブ受
光部７５Ｂ、７５Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）の設定方法について、引き続き説明
する。
上記式（１６）および式（１７）に基づき、つぎの式（２０）が求められる。
Ｙｒ＝Ｌ×tan｛sin-1（λ/ｄ)｝ …（２０）
ここで、レーザユニット６１の発光面６１ａにおけるＤＶＤ用の発光点Ｏ、Ｘと、ＤＶ
Ｄ用反射光に対応した光検出器７３Ａの受光面におけるＤＶＤ用の照射点Ｏ（ｄｖｄ）、
Ｘ（ｄｖｄ）とを、例えば光学的に等価な位置に配置させるために、ＤＶＤ用出射光に対
応した仮想の光源間隔Ｙｒ（ｄｖｄ）と、ＤＶＤ用反射光に対応した実際の受光間隔Ｙｓ
（ｄｖｄ）とが略等しいものと仮定する。
例えばつぎの式（２１）を仮定する。
Ｙｓ(dvd)≒Ｙｒ(dvd) …（２１）
つぎに、式（２０）および式（２１）に基づき、例えばつぎの式（２２）が設定される
。
Ｙｓ(dvd)＝Ｌ×tan｛sin-1（λ(dvd)/ｄ)｝ …（２２）
ＤＶＤ規格の波長（第２の波長）λ（ｄｖｄ）が例えば略６６０ｎｍとされている場合
、式（２２）のλ（ｄｖｄ）に６６０を代入すると、つぎの式（２３）が求められる。
Ｙｓ(dvd)＝Ｌ×tan｛sin-1（660/d）｝ …（２３）
予め定められた法線距離Ｌの数値と、予め定められた格子間隔ｄの数値とを式（２３）
に代入することにより、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５における受光間隔Ｙｓ（ｄ
ｖｄ）が求められる。
つぎに、レーザユニット６１の発光面６１ａにおけるＣＤ用の発光点Ｏ、Ｘと、ＣＤ用
反射光に対応した光検出器７３Ａの受光面におけるＣＤ用の照射点Ｏ（ｃｄ）、Ｘ（ｃｄ
）とを、例えば光学的に等価な位置に配置させるために、ＣＤ用出射光に対応した仮想の
光源間隔Ｙｒ（ｃｄ）と、ＣＤ用反射光に対応した実際の受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）とが略等
しいものと仮定する。
例えばつぎの式（２４）を仮定する。
Ｙｓ(cd)≒Ｙｒ(cd) …（２４）
つぎに、式（２０）および式（２４）に基づき、例えばつぎの式（２５）が設定される
。
Ｙｓ(cd)＝Ｌ×tan｛sin-1（λ(cd)/ｄ）｝ …（２５）
ＣＤ規格の波長（第１の波長）λ（ｃｄ）が例えば略７８５ｎｍとされている場合、式
（２５）のλ（ｃｄ）に７８５を代入すると、つぎの式（２６）が求められる。
Ｙｓ(cd)＝Ｌ×tan｛sin-1（785/d）｝ …（２６）
予め定められた法線距離Ｌの数値と、予め定められた格子間隔ｄの数値とを式（２６）
に代入することにより、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４における受光間隔Ｙｓ（ｃｄ
）が求められる。
このようにして、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５における受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ
）と、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４における受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）とが定められる
。
予め定められた法線距離Ｌの数値と、予め定められた格子間隔ｄの数値とは、共に一定
値とされることから、式（２３）に基づいて導き出されたＤＶＤ用反射光に対応する実際
の受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）と、式（２６）に基づいて導き出されたＣＤ用反射光に対応す
る実際の受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）とを比較すると、受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）よりも受光間隔
Ｙｓ（ｃｄ）のほうが明らかに長くなる。
このように、光検出器７３Ａにおける第１のメイン受光部７４Ａと第１のサブ受光部７
４Ｂ、７４Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）は、式（２６）によって求まる距離Ｙｓ（ｃ
ｄ）に基づいて設定される。また、光検出器７３Ａにおける第２のメイン受光部７５Ａと
第２のサブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとの間の受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）は、式（２３）によっ
て求まる距離Ｙｓ（ｄｖｄ）に基づいて設定される。
具体的には、第１のメイン受光部７４Ａにおける４セグメントの中心と、第１のサブ受
光部７４Ｂ、７４Ｃの４セグメントの中心との間の距離Ｙｓ（ｃｄ）を、式（２６）によ
って求められる距離Ｙｓ（ｃｄ）に設定する。また、第２のメイン受光部７５Ａにおける
４セグメントの中心と、第２のサブ受光部７５Ｂ、７５Ｃの４セグメントの中心との間の
距離Ｙｓ（ｄｖｄ）を、式（２３）によって求められる距離Ｙｓ（ｄｖｄ）に設定する。
これにより、光検出器７３Ａは、第１又は第２のレーザ光を回折格子６４Ａにより回折分
岐させた場合の各メイン−サブピッチに適切に対応可能となる。
＜＜光検出器７３Ａに照射される各スポット９０ｉ、９１ｉ、９２ｉ／９０ii、９１ii
、９２iiの分光比、光検出器７３Ａの受光感度＞＞
以下、図５を用いて例えば各スポット９０ｉ、９１ｉ、９２ｉ／９０ii、９１ii、９２
iiの光の強度比とされる分光比等について説明する。
まず、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５に照射される光の強さや分光比等について
説明する。
例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１
に対応するサブ検出光スポット９１iiと、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ
８０上のメインスポット８０に対応するメイン検出光スポット９０iiと、ＤＶＤ規格に基
づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２に対応するサブ検出光スポ
ット９２iiとの分光比は、略１：１５：１とされている。
この場合のサブ検出光スポット９１iiまたは９２iiにおける光の強さは、光検出器７３
ＡのＤＶＤ受光領域７５に照射される光の強さ全体の略１／１７となる。また、この場合
のメイン検出光スポット９０iiにおける光の強さは、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７
５に照射される光の強さ全体の略１５／１７となる。
図５に示すインライン方式の光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５に照射されるレーザ
光の分光比は、図２８に示すインライン方式のＤＶＤ用光検出器２７０に照射されるレー
ザ光の分光比と略同じとされている。
例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の先行サブスポット１
０１に対応するサブ検出光スポット２０１と、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラッ
クＤ１００上のメインスポット１００に対応するメイン検出光スポット２００と、ＤＶＤ
規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の後行サブスポット１０２に対応するサ
ブ検出光スポット２０２との分光比は、略１：１５：１とされている。
この場合のサブ検出光スポット２０１または２０２における光の強さは、光検出器２７
０に照射される光の強さ全体の略１／１７となる。また、この場合のメイン検出光スポッ
ト２００における光の強さは、光検出器２７０に照射される光の強さ全体の略１５／１７
となる。
つぎに、図５に示す光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４に照射される光の強さや分光比
等について説明する。
例えば、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１に
対応するサブ検出光スポット９１ｉと、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０
上のメインスポット８０に対応するメイン検出光スポット９０ｉと、ＣＤ規格に基づく光
ディスクＤのトラックＤ８０上の後行サブスポット８２に対応するサブ検出光スポット９
２ｉとの分光比は、略１：２３：１とされている。
この場合のサブ検出光スポット９１ｉまたは９２ｉにおける光の強さは、光検出器７３
ＡのＣＤ受光領域７４に照射される光の強さ全体の略１／２５となる。また、この場合の
メイン検出光スポット９０ｉにおける光の強さは、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４に
照射される光の強さ全体の略２３／２５となる。
図５に示すインライン方式の光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４に照射されるレーザ光
の分光比は、図２７に示す３ビーム方式のＣＤ用光検出器２７０に照射されるレーザ光の
分光比と異なる。
例えば、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の先行サブスポット１０
１に対応するサブ検出光スポット２０１と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ
１００上のメインスポット１００に対応するメイン検出光スポット２００と、ＣＤ規格に
基づく光ディスクＤのトラックＤ１００上の後行サブスポット１０２に対応するサブ検出
光スポット２０２との分光比は、略１：１６：１とされている。
この場合のサブ検出光スポット２０１または２０２における光の強さは、光検出器２７
０に照射される光の強さ全体の略１／１８となる。また、この場合のメイン検出光スポッ
ト２００における光の強さは、光検出器２７０に照射される光の強さ全体の略１６／１８
となる。
ＣＤ用レーザ光に対応する回折格子部を有していない回折格子６４Ａを備える光ピック
アップ装置が構成された場合、回折格子６４Ａを透過した各ＣＤ用レーザ光が光検出器７
３ＡのＣＤ受光領域７４に照射されると、従来のものに対し、ＣＤ受光領域７４に照射さ
れる各レーザ光の分光比が変更される。
従来のものに対し、ＣＤ受光領域７４に照射される各レーザ光の分光比が変更されるこ
とに伴い、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるメイン受光部７４Ａおよび各サブ
受光部７４Ｂ、７４Ｃの受光感度が変更される。
例えば、サブ検出光スポット９１ｉ、９２ｉが照射されるサブ受光部７４Ｂ、７４Ｃの
受光感度の変更倍率は、つぎの式（２７）により求められる。
｛(1/18)/(1/25)｝×100＝138.88889 …（２７）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるサブ受光部７４Ｂまたは７４
Ｃの受光感度（ｍＶ／μＷ）（ミリボルト・パー・マイクロワット）は、例えば従来のも
のを１００％とした場合、従来のものに対して略１３９％の値に設定されることとなる。
また、例えば、メイン検出光スポット９０ｉが照射されるメイン受光部７４Ａの受光感
度の変更倍率は、つぎの式（２８）により求められる。
｛(16/18)/(23/25)｝×100＝96.61836 …（２８）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるメイン受光部７４Ａの受光感
度（ｍＶ／μＷ）は、例えば従来のものを１００％とした場合、従来のものに対して略９
７％の値に設定されることとなる。
光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＤＶＤ規格に基づく光ディスク
ＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１に対応するサブ検出光スポット９１iiと、
ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０に対応するメ
イン検出光スポット９０iiと、ＤＶＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後
行サブスポット８２に対応するサブ検出光スポット９２iiとの分光比が、略１：１６：１
とされてもよい。
この場合のサブ検出光スポット９１iiまたは９２iiにおける光の強さは、光検出器７３
ＡのＤＶＤ受光領域７５に照射される光の強さ全体の略１／１８となる。また、この場合
のメイン検出光スポット９０iiにおける光の強さは、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７
５に照射される光の強さ全体の略１６／１８となる。
また、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディ
スクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１に対応するサブ検出光スポット９１ｉ
と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０に対応する
メイン検出光スポット９０ｉと、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後
行サブスポット８２に対応するサブ検出光スポット９２ｉとの分光比が、略１：２３．５
：１とされてもよい。
この場合のサブ検出光スポット９１ｉまたは９２ｉにおける光の強さは、光検出器７３
ＡのＣＤ受光領域７４に照射される光の強さ全体の略１／２５．５となる。また、この場
合のメイン検出光スポット９０ｉにおける光の強さは、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７
４に照射される光の強さ全体の略２３．５／２５．５となる。
また、この場合、例えば、サブ検出光スポット９１ｉ、９２ｉが照射されるサブ受光部
７４Ｂ、７４Ｃの受光感度の変更倍率は、つぎの式（２９）により求められる。
｛(1/18)/(1/25.5)｝×100＝141.66667 …（２９）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるサブ受光部７４Ｂまたは７４
Ｃの受光感度（ｍＶ／μＷ）は、例えば従来のものを１００％とした場合、従来のものに
対して略１４２％の値に設定されることとなる。
また、この場合、例えば、メイン検出光スポット９０ｉが照射されるメイン受光部７４
Ａの受光感度の変更倍率は、つぎの式（３０）により求められる。
｛(16/18)/(23.5/25.5)｝×100＝96.45390 …（３０）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるメイン受光部７４Ａの受光感
度（ｍＶ／μＷ）は、例えば従来のものを１００％とした場合、従来のものに対して略９
６％の値に設定されることとなる。
また、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディ
スクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１に対応するサブ検出光スポット９１ｉ
と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０に対応する
メイン検出光スポット９０ｉと、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後
行サブスポット８２に対応するサブ検出光スポット９２ｉとの分光比が、略１：２０：１
とされてもよい。
この場合のサブ検出光スポット９１ｉまたは９２ｉにおける光の強さは、光検出器７３
ＡのＣＤ受光領域７４に照射される光の強さ全体の略１／２２となる。また、この場合の
メイン検出光スポット９０ｉにおける光の強さは、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４に
照射される光の強さ全体の略２０／２２となる。
また、この場合、例えば、サブ検出光スポット９１ｉ、９２ｉが照射されるサブ受光部
７４Ｂ、７４Ｃの受光感度の変更倍率は、つぎの式（３１）により求められる。
｛(1/18)/(1/22)｝×100＝122.22222 …（３１）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるサブ受光部７４Ｂまたは７４
Ｃの受光感度（ｍＶ／μＷ）は、例えば従来のものを１００％とした場合、従来のものに
対して略１２２％の値に設定されることとなる。
また、この場合、例えば、メイン検出光スポット９０ｉが照射されるメイン受光部７４
Ａの受光感度の変更倍率は、つぎの式（３２）により求められる。
｛(16/18)/(20/22)｝×100＝97.77778 …（３２）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるメイン受光部７４Ａの受光感
度（ｍＶ／μＷ）は、例えば従来のものを１００％とした場合、従来のものに対して略９
８％の値に設定されることとなる。
また、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、ＣＤ規格に基づく光ディ
スクＤのトラックＤ８０上の先行サブスポット８１に対応するサブ検出光スポット９１ｉ
と、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上のメインスポット８０に対応する
メイン検出光スポット９０ｉと、ＣＤ規格に基づく光ディスクＤのトラックＤ８０上の後
行サブスポット８２に対応するサブ検出光スポット９２ｉとの分光比が、略１：２６：１
とされてもよい。
この場合のサブ検出光スポット９１ｉまたは９２ｉにおける光の強さは、光検出器７３
ＡのＣＤ受光領域７４に照射される光の強さ全体の略１／２８となる。また、この場合の
メイン検出光スポット９０ｉにおける光の強さは、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４に
照射される光の強さ全体の略２６／２８となる。
また、この場合、例えば、サブ検出光スポット９１ｉ、９２ｉが照射されるサブ受光部
７４Ｂ、７４Ｃの受光感度の変更倍率は、つぎの式（３３）により求められる。
｛(1/18)/(1/28)｝×100＝155.55556 …（３３）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるサブ受光部７４Ｂまたは７４
Ｃの受光感度（ｍＶ／μＷ）は、例えば従来のものを１００％とした場合、従来のものに
対して略１５６％の値に設定されることとなる。
また、この場合、例えば、メイン検出光スポット９０ｉが照射されるメイン受光部７４
Ａの受光感度の変更倍率は、つぎの式（３４）により求められる。
｛(16/18)/(26/28)｝×100＝95.72650 …（３４）
このように、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４におけるメイン受光部７４Ａの受光感
度（ｍＶ／μＷ）は、例えば従来のものを１００％とした場合、従来のものに対して略９
６％の値に設定されることとなる。
上記回折格子６４Ａと、上記光検出器７３Ａとを備える上記光ピックアップ装置が構成
されることにより、光検出器７３Ａは、ＤＶＤ規格に準拠した第２のレーザ光を回折格子
６４Ａにより回折分岐した３ビームに関するメイン−サブピッチはもとより、ＣＤ規格に
準拠した第１のレーザ光を回折格子６４Ａにより回折分岐した３ビームに関するメイン−
サブピッチならびに分光比についても対応することができ、トラッキングエラー信号ＳＥ
１、ＳＥ２等のエラー信号検出精度等を向上させることができる。
また、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５における受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）は、ＤＶ
Ｄ用回折格子部材２０もしくはＤＶＤ用回折格子６４Ａの格子間隔ｄを基準としたもので
あるので、例えば、ＤＶＤ規格の光ディスクＤの信号層Ｄａが第１層ＤＬ０と第２層ＤＬ
１の２層構造の場合にあって、第１層ＤＬ０の再生時において第２層ＤＬ１からの反射光
が第２のメイン受光部７５Ａのみならず一方の第２のサブ受光部７５Ｂ及び他方の第２の
サブ受光部７５Ｃにおいても受光されてしまうことを未然に抑制することができる。
＜＜光ピックアップ装置の総説＞＞
以下、図１〜図１０を用いて光ピックアップ装置について説明する。
図９は、光ピックアップ装置に装備される回折格子の第一実施形態を示す概略平面図、
図１０は、図９の回折格子における光ディスク半径方向と位相差との関係を示す図である
。
図１〜図３の如く、この光ピックアップ装置は、上記第１の光源６２および第２の光源
６３を有する上記発光素子６１と、上記回折格子６４Ａと、上記偏光ビームスプリッタ６
６と、上記コリメータレンズ６７と、上記１／４波長板６８と、上記反射ミラー６９と、
上記対物レンズ７０と、上記第１の平行平板７１と、上記第２の平行平板７２と、上記光
検出器７３Ａと、上記対物レンズ駆動部７９と、不図示の上記フレキシブル回路基板と、
上記コネクタと、を備えて構成されている。また、必要に応じて、この光ピックアップ装
置は、上記カップリングレンズ６５ｉと、上記受光素子６５iiと、を更に備える。また、
必要に応じて、この光ピックアップ装置（図１〜図３）は、例えば上記演算部７６Ａ（図
２、図３）を更に備えてもよい。
この光ピックアップ装置は、第１レーザ波長光と、第１レーザ波長光と異なるレーザ波
長光とされ且つ第１レーザ波長光よりも短い波長のレーザ光とされる第２レーザ波長光と
、を少なくとも出射可能な複数波長出射型の発光素子６１と、第１レーザ波長光を少なく
とも１本の第１メインビームと１本の第１メインビームを中心とした略対称位置の少なく
とも２本の第１サブビームとに分け、且つ、第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メ
インビームと１本の第２メインビームを中心とした略対称位置の少なくとも２本の第２サ
ブビームとに分け、第１レーザ波長光に対応した回折面部（不図示）を有することなく第
２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折面部２０ａを有する回折格子
６４Ａと、を備えて構成されている。
ここで、第１レーザ波長光に対応する第１光ディスクＤに１本の第１メインビームと少
なくとも２本の第１サブビームとが照射されたときの第１メインビームのスポット８０の
略中心部とされる照射点Ｏａと第１サブビームのスポット８１の略中心部とされる照射点
Ｘｂとの間隔ＹｐをＹｐ１と定める。また、第１レーザ波長光に対応する第１光ディスク
Ｄに１本の第１メインビームと少なくとも２本の第１サブビームとが照射されたときの第
１メインビームのスポット８０の略中心部とされる照射点Ｏａと第１サブビームのスポッ
ト８２の略中心部とされる照射点Ｘｃとの間隔ＹｐをＹｐ１と定める。
また、第２レーザ波長光に対応する第２光ディスクＤに１本の第２メインビームと少な
くとも２本の第２サブビームとが照射されたときの第２メインビームのスポット８０の略
中心部とされる照射点Ｏａと第２サブビームのスポット８１の略中心部とされる照射点Ｘ
ｂとの間隔ＹｐをＹｐ２と定める。また、第２レーザ波長光に対応する第２光ディスクＤ
に１本の第２メインビームと少なくとも２本の第２サブビームとが照射されたときの第２
メインビームのスポット８０の略中心部とされる照射点Ｏａと第２サブビームのスポット
８２の略中心部とされる照射点Ｘｃとの間隔ＹｐをＹｐ２と定める。
このように各間隔Ｙｐ１、Ｙｐ２が定義されたときに、例えば、上記式（７）、上記式
（１１）、及び上記式（１５）に基づき、下式（１）を満足する性能を発揮する光ピック
アップ装置を構成させる。
また、第１レーザ波長光に対応する第１光ディスクＤに１本の第１メインビームと少な
くとも２本の第１サブビームとが照射されたときに、１本の第１メインビームの光の強さ
と少なくとも２本の第１サブビームの光の強さとの総和に対する１本の第１メインビーム
の光の強さとされた光の効率比をＡ１と定める。
また、第２レーザ波長光に対応する第２光ディスクＤに１本の第２メインビームと少な
くとも２本の第２サブビームとが照射されたときに、１本の第２メインビームの光の強さ
と少なくとも２本の第２サブビームの光の強さとの総和に対する１本の第２メインビーム
の光の強さとされた光の効率比をＡ２と定める。
このように各光の効率比Ａ１、Ａ２が定義された場合に、例えば算出された上記各光の
効率比Ａ１およびＡ２に基づき、下式（２）及び下式（３）を満足する性能を発揮する光
ピックアップ装置を構成させる。
0.90＜Ａ１＜0.94 …（２）
0.87＜Ａ２＜0.91 …（３）
好ましくは、下式（３５）及び下式（３６）を満足する性能を発揮する光ピックアップ
装置を構成させる。
0.90＜Ａ１＜0.93 …（３５）
0.87＜Ａ２＜0.90 …（３６）
上記式（１）及び／又は上記式（２）及び上記式（３）、好ましくは上記式（１）及び
／又は上記式（３５）及び上記式（３６）を満足するように光ピックアップ装置が設定さ
れることにより、第１レーザ波長光と、第１レーザ波長光と異なるレーザ波長光とされ且
つ第１レーザ波長光よりも短い波長のレーザ光とされる第２レーザ波長光と、に確実に対
応するとともに、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号の検出精度が向
上された複数波長対応型の光ピックアップ装置が構成される。
複数波長出射型の発光素子６１から出射された第１レーザ波長光が、第１レーザ波長光
に対応した回折面部を有さず第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回
折面部２０ａを有する回折格子６４Ａにより、少なくとも１本の第１メインビームと１本
の第１メインビームを中心とした略対称位置の２本の第１サブビームとに分けられて、１
本の第１メインビームと１本の第１メインビームを中心とした略対称位置の少なくとも２
本の第１サブビームとが第１光ディスクＤの信号面部Ｄａに照射されるときに、１本の第
１メインビームと１本の第１メインビームを中心とした略対称位置の少なくとも２本の第
１サブビームとは、第１光ディスクＤの信号面部ＤａのトラックＤ８０に精度よく確実に
照射される。
また、複数波長出射型の発光素子６１から出射された第２レーザ波長光が、第１レーザ
波長光に対応した回折面部を有さず第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準と
した回折面部２０ａを有する回折格子６４Ａにより、少なくとも１本の第２メインビーム
と１本の第２メインビームを中心とした略対称位置の２本の第２サブビームとに分けられ
て、１本の第２メインビームと１本の第２メインビームを中心とした略対称位置の少なく
とも２本の第２サブビームとが第２光ディスクＤの信号面部Ｄａに照射されるときに、１
本の第２メインビームと１本の第２メインビームを中心とした略対称位置の少なくとも２
本の第２サブビームとは、第２光ディスクＤの信号面部ＤａのトラックＤ８０に精度よく
確実に照射される。
また、発光素子６１における第１レーザ波長光の発光位置と、発光素子６１における第
２レーザ波長光の発光位置と、が異なることに対応して、第１レーザ波長光に対応する第
１光ディスクＤの信号面部Ｄａ上における第１レーザ波長光のディスク半径方向集光位置
と、第２レーザ波長光に対応する第２光ディスクＤの信号面部Ｄａ上における第２レーザ
波長光のディスク半径方向集光位置と、が異なるように、光ピックアップ装置が設定され
ている。
また、例えば、光ピックアップ装置が光ディスクＤの最も内周側Ｄ８４に位置するとき
や、光ピックアップ装置が光ディスクＤの最も外周側Ｄ８８に位置するときや、光ピック
アップ装置が光ディスクＤの最も内周側Ｄ８４から最も外周側Ｄ８８に至るまでの何れか
に位置するときに、略円板状をした第１光ディスクＤの信号面部Ｄａ上における第１レー
ザ波長光のディスク半径方向集光位置よりも、略円板状をした第２光ディスクＤの信号面
部Ｄａ上における第２レーザ波長光のディスク半径方向集光位置のほうが、略円板状をし
た光ディスクＤの内周側Ｄ８４に僅かに存する。
このように第１レーザ波長光のディスク半径方向集光位置と第２レーザ波長光のディス
ク半径方向集光位置とが設定されることにより、第１光ディスクＤの信号面部Ｄａ上に第
１レーザ波長光を確実に集光させるとともに、第２光ディスクＤの信号面部Ｄａ上に第２
レーザ波長光を確実に集光させる複数波長対応型の光ピックアップ装置が構成される。
例えば、第１の波長光に対応しＣＤ規格に基づいた略円板状第１光ディスクＤの信号面
部Ｄａの内周側Ｄ８４に、第１光ディスクＤに関する各種基本情報／データ等が読込み可
能とされたり、第１光ディスクＤに関する各種基本情報／データ等が書込み可能とされた
りする領域が形成されている。また、例えば、第２の波長光に対応しＤＶＤ規格に基づい
た略円板状第２光ディスクＤの信号面部Ｄａの内周側Ｄ８４に、第２光ディスクＤに関す
る各種基本情報／データ等が読込み可能とされたり、第２光ディスクＤに関する各種基本
情報／データ等が書込み可能とされたりする領域が形成されている。
第１の波長光に対応しＣＤ規格に基づいた第１光ディスクＤの信号面部Ｄａ上における
ピット等の大きさよりも、第２の波長光に対応しＤＶＤ規格に基づいた第２光ディスクＤ
の信号面部Ｄａ上におけるピット等の大きさのほうが小さい。また、第１の波長光に対応
しＣＤ規格に基づいた第１光ディスクＤの信号面部Ｄａ上に照射／形成される光のスポッ
ト８０の大きさよりも、第２の波長光に対応しＤＶＤ規格に基づいた第２光ディスクＤの
信号面部Ｄａ上に照射／形成される光のスポット８０の大きさのほうが小さい。例えば略
円板状をした第２光ディスクＤの信号面部Ｄａの内周側Ｄ８４に存する精緻なピット情報
などに対し、精度よく正確に光ピックアップ装置が対応するために、上記の如く第１レー
ザ波長光のディスク半径方向集光位置と第２レーザ波長光のディスク半径方向集光位置と
が設定されることが好ましい。
また、この光ピックアップ装置は、第１レーザ波長光と、第１レーザ波長光に対し異な
る波長のレーザ光とされ且つ第１レーザ波長光よりも短い波長のレーザ光とされる第２レ
ーザ波長光と、に少なくとも対応し、第１レーザ波長光を少なくとも１本の第１メインビ
ームと２本の第１サブビームとに分け、第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メイン
ビームと２本の第２サブビームとに分け、第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を
基準とした回折面部２０ａ（図４、図８、図９）を有する回折格子６４Ａと、１本の第１
メインビームが照射される１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）と、２本の第１
サブビームが照射される２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃと、を備えた第１受光領域
７４と、１本の第２メインビームが照射される１つの第２メイン受光部７５Ａと、２本の
第２サブビームが照射される２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃと、を備えた第２受光
領域７５と、を有する光検出器７３Ａと、を備えて構成されている。
図１〜図３等に示す光ピックアップ装置が構成されていれば、回折格子６４Ａにおける
不要な回折光の発生を抑えた光ピックアップ装置が構成される。
従来の光ピックアップ装置は、一般に、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０
２（図２９、図３０）と、第２レーザ波長光に対応した第２回折面部３０４と、の２つの
回折面部３０２、３０４を有する回折格子３００Ａ、３００Ｂを備えるものとされていた
。そのため、従来の光ピックアップ装置においては、第１レーザ波長光が第１レーザ波長
光に対応した回折格子３００Ａ、３００Ｂの第１回折面部３０２を透過するときに、第１
レーザ波長光は、少なくとも１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに分けら
れていたが、第１レーザ波長光が第２レーザ波長光に対応した回折格子３００Ａ、３００
Ｂの第２回折面部３０４を透過するときに、不要な回折光が発生されていた。
また、従来の光ピックアップ装置においては、第２レーザ波長光が第１レーザ波長光に
対応した回折格子３００Ａ、３００Ｂ（図２９、図３０）の第１回折面部３０２を透過す
るときに、不要な回折光が発生されていた。第２レーザ波長光が第２レーザ波長光に対応
した回折格子３００Ａ、３００Ｂの第２回折面部３０４を透過するときに、第２レーザ波
長光は、少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに分けられていた
。
これに対し、第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折面部２０ａ
（図４、図８、図９）を有する回折格子６４Ａが光ピックアップ装置に備えられ、第２レ
ーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａの回折面部２０ａを第
１レーザ波長光が透過したときに、第１レーザ波長光が少なくとも１本の第１メインビー
ムと２本の第１サブビームとに分けられるものとされていれば、第１レーザ波長光が回折
格子６４Ａを透過するときに不要な回折光が生じるということは略防止される。
また、第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａ（図４
、図８、図９）の回折面部２０ａを第２レーザ波長光が透過したときに、不要な回折光が
略生じることなく、第２レーザ波長光は、少なくとも１本の第２メインビームと２本の第
２サブビームとに分けられる。
また、従来の光検出器２７０（図２７）のＣＤ受光領域２８０における第１メイン受光
部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）は、第１
レーザ波長光に対応して規格化された通常の距離Ｙｔ（ｃｄ）とされていた。本発明にお
ける「規格化」は、例えば広く普及されてきた従来のもの等を説明するときのために、便
宜上、用いられている。例えば規格化されたものとは、大量生産などが行われてきたこと
により実質的に規格化されたものに等しいもの等とされる。本発明における「規格化」さ
れたものとは、必ずしも例えばＪＩＳ（Ｊａｐａｎｅｓｅ Ｉｎｄｕｓｔｒｉａｌ Ｓｔ
ａｎｄａｒｄｓ）等の規格にて定められたものだけを意味するものではない。例えば、規
格化された光検出器２７０とは、これまでに大量生産されて市場等で広く普及されてきた
汎用の光検出器２７０等とされる。第１レーザ波長光の１本の第１メインビームは、従来
規格の１つの第１メイン受光部２００ａに照射され、第１レーザ波長光の２本の第１サブ
ビームは、従来規格の２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃに照射されていた。
しかしながら、例えば、第１レーザ波長光に対応して規格化された光検出器２７０（図
２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心
点間距離Ｙｔ（ｃｄ）に対し、光検出器７３Ａ（図７）における第１メイン受光部７４Ａ
と第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）は、変更されている。
例えば、第１レーザ波長光に対応して規格化された光検出器２７０（図２７）の通常の
第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（
ｃｄ）に対し、この光検出器７３Ａ（図７）においては、第１メイン受光部７４Ａと第１
サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）が変更されているので、第２レ
ーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）
の回折面部２０ａを第１レーザ波長光が透過するときに、第２レーザ波長光に対応し第２
レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａの回折面部２０ａによって分けられた第１レー
ザ波長光の２本の第１サブビームが、光検出器７３Ａ（図５〜図７）に備えられた第１受
光領域７４の２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃにうまく照射されないという不具合の
発生は回避される。
第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａ（図４、図８
、図９）の回折面部２０ａを第１レーザ波長光が透過することによって不要な回折光が略
生じることなく分けられた第１レーザ波長光の２本の第１サブビームは、光検出器７３Ａ
（図７）に備えられた第１受光領域７４の１つの第１メイン受光部７４Ａに対し距離Ｙｓ
（ｃｄ）が変更された２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃに確実に照射される。
また、第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａ（図４
、図８、図９）の回折面部２０ａを第１レーザ波長光が透過することによって不要な回折
光が略生じることなく分けられた第１レーザ波長光の１本の第１メインビームは、光検出
器７３Ａ（図５〜図７）に備えられた第１受光領域７４の１つの第１メイン受光部７４Ａ
に確実に照射される。
また、光検出器７３Ａ（図７）の第２受光領域７５における第２メイン受光部７５Ａと
第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）は、第２レーザ波長光に
対応して規格化された光検出器２７０（図２８）の通常の距離Ｙｔ（ｄｖｄ）と同じとさ
れている。
第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａ（図４、図８
、図９）の回折面部２０ａを第２レーザ波長光が透過することによって不要な回折光が略
生じることなく分けられた第２レーザ波長光の２本の第２サブビームは、光検出器７３Ａ
（図５、図７）に備えられた従来規格と同じ第２受光領域７５の２つの第２サブ受光部７
５Ｂ、７５Ｃに確実に照射される。
また、第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子６４Ａ（図４
、図８、図９）の回折面部２０ａを第２レーザ波長光が透過することによって不要な回折
光が略生じることなく分けられた第２レーザ波長光の１本の第２メインビームは、光検出
器７３Ａに備えられた従来規格と同じ第２受光領域７５の１つの第２メイン受光部７５Ａ
に確実に照射される。
光検出器７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受光部７４Ａと第１サブ受光部
７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）は、例えば規格化された光検出器２７０（
図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中
心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）よりも長く設定されている。
詳しく説明すると、規格化された光検出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部
２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）の値が１０
０％の値と定められたときに、光検出器７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受
光部７４Ａと第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）の値は、例え
ば規格化された光検出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ
受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）の値に対し、略１１１％の値に
設定されている。
図５〜図７に示す光検出器７３Ａが構成されていれば、エラー信号等の信号の検出精度
を向上させた光ピックアップ装置が構成される。回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の
回折面部２０ａによって第１レーザ波長光が分けられて生じた１本の第１メインビームが
、光検出器７３Ａ（図５〜図７）の２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃに悪影響を及ぼ
すということは回避される。
また、図５〜図７に示す光検出器７３Ａが構成されていれば、エラー信号等の信号の検
出精度を向上させた光ピックアップ装置が構成される。回折格子６４Ａ（図４、図８、図
９）の回折面部２０ａによって第１レーザ波長光が分けられて生じた２本の第１サブビー
ムのうち何れか一方または両方が、光検出器７３Ａ（図５〜図７）の１つの第１メイン受
光部７４Ａに悪影響を及ぼすということは回避される。
例えば、光検出器７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受光部７４Ａと第１サ
ブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）が、規格化された光検出器２７０
（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの
中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）よりも短く設定されていると、１本の第１メインビームが、光
検出器７３Ａ（図５〜図７）の２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃに干渉することが懸
念される。
また、例えば、光検出器７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受光部７４Ａと
第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）が、規格化された光検出器
２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００
ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）よりも短く設定されていると、２本の第１サブビームの
うち何れか一方または両方が、光検出器７３Ａ（図５〜図７）の１つの第１メイン受光部
７４Ａに干渉することが懸念される。
しかしながら、規格化された光検出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２０
０ａと第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）よりも、新しい
光検出器７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受光部７４Ａと第１サブ受光部７
４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）のほうが長く設定されているので、光検出器
７３Ａの１つの第１メイン受光部７４Ａに１本の第１メインビームが照射されるときに、
１本の第１メインビームが２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃの何れか一方または両方
に干渉するということは回避され易くなる。
規格化された光検出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ
受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）の値が１００％の値と定められ
たときに、新しい光検出器７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受光部７４Ａと
第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）の値は、規格化された光検
出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２
００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）の値に対し、略１１１％の値に設定されているので
、光検出器７３Ａ（図７）の１つの第１メイン受光部７４Ａに１本の第１メインビームが
照射されるときに、１本の第１メインビームが２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃの何
れか一方または両方に干渉するということは回避される。
また、規格化された光検出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第
１サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）よりも、新しい光検出器
７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受光部７４Ａと第１サブ受光部７４Ｂ、７
４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）のほうが長く設定されているので、光検出器７３Ａの
前後２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃに前後２本の第１サブビームが照射されるとき
に、２本の第１サブビームのうち何れか一方または両方が１つの第１メイン受光部７４Ａ
に干渉するということは回避され易くなる。
規格化された光検出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ
受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）の値が１００％の値と定められ
たときに、新しい光検出器７３Ａ（図７）において変更された第１メイン受光部７４Ａと
第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）の値は、規格化された光検
出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、２
００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）の値に対し、略１１１％の値に設定されているので
、光検出器７３Ａ（図７）の前後２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃに前後２本の第１
サブビームが照射されるときに、２本の第１サブビームのうち何れか一方または両方が１
つの第１メイン受光部７４Ａに干渉するということは回避される。
光検出器７３Ａの第２メイン受光部７５Ａと第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとの中心点
間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）は、規格化された光検出器２７０（図２８）の通常の第２メイン受
光部２００ａと第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）と同
じとされている。
規格化された光検出器２７０（図２８）の通常の第２メイン受光部２００ａと第２サブ
受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）の値が１００％の値と定めら
れたときに、光検出器７３Ａ（図７）において第２メイン受光部７５Ａと第２サブ受光部
７５Ｂ、７５Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）の値は、例えば規格化された光検出器２
７０（図２８）の通常の第２メイン受光部２００ａと第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ
との中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）の値に対し、略１００％の値に設定されている。
図５〜図７に示す光検出器７３Ａが構成されていれば、エラー信号等の信号の検出精度
を向上させた光ピックアップ装置が構成される。回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の
回折面部２０ａによって第２レーザ波長光が分けられて生じた１本の第２メインビームが
、光検出器７３Ａ（図５、図７）の２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃに悪影響を及ぼ
すということは回避される。また、回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の回折面部２０
ａによって第２レーザ波長光が分けられて生じた２本の第２サブビームのうち何れか一方
または両方が、光検出器７３Ａ（図５、図７）の１つの第２メイン受光部７５Ａに悪影響
を及ぼすということは回避される。
例えば光検出器７３Ａ（図７）において、第１メイン受光部７４Ａと第１サブ受光部７
４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）が変更されることなく、第１メイン受光部７
４Ａと第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｃｄ）が、規格化された光
検出器２７０（図２７）の通常の第１メイン受光部２００ａと第１サブ受光部２００ｂ、
２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｃｄ）と等しく設定された場合、光検出器７３Ａ（図７
）における第２メイン受光部７５Ａと第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとの中心点間距離Ｙ
ｓ（ｄｖｄ）を狭める必要性が生じる。
例えば、光検出器７３Ａにおいて第２メイン受光部７５Ａと第２サブ受光部７５Ｂ、７
５Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）が、規格化された光検出器２７０（図２８）の通常
の第２メイン受光部２００ａと第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ
（ｄｖｄ）よりも短く設定されていると、回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の回折面
部２０ａによって第２レーザ波長光が分けられて生じた１本の第２メインビームが、光検
出器７３Ａ（図５、図７）の２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃに干渉することが懸念
される。
例えば図７の如く、第１層ＤＬ０と第２層ＤＬ１との複数の層ＤＬ０、ＤＬ１を有する
ＤＶＤ規格の光ディスクＤの第１層ＤＬ０における信号の再生または信号の記録等が行わ
れているときに、ＤＶＤ規格の光ディスクＤの第２層ＤＬ１における不要な反射光が、光
検出器７３ＡにおけるＤＶＤ受光領域７５の一方の第２サブ受光部７５Ｂもしくは他方の
第２サブ受光部７５Ｃの何れか一方または両方にノイズとして入り込むことが懸念される
。
このように、複数の層ＤＬ０、ＤＬ１を有するＤＶＤ規格の光ディスクＤが用いられて
、第１層ＤＬ０または第２層ＤＬ１の何れか一方の層ＤＬ０またはＤＬ１における信号の
再生または信号の記録等が行われているときに、光検出器７３ＡにおけるＤＶＤ受光領域
７５の一方の第２サブ受光部７５Ｂもしくは他方の第２サブ受光部７５Ｃの何れか一方ま
たは両方に漏れ信号が入り込むといういわゆる層間クロストークの発生が懸念される。
また、例えば、光検出器７３Ａにおいて第２メイン受光部７５Ａと第２サブ受光部７５
Ｂ、７５Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）が、規格化された光検出器２７０（図２８）
の通常の第２メイン受光部２００ａと第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距
離Ｙｔ（ｄｖｄ）よりも短く設定されていると、回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の
回折面部２０ａによって第２レーザ波長光が分けられて生じた２本の第２サブビームのう
ち何れか一方または両方が、光検出器７３Ａ（図５、図７）の１つの第２メイン受光部７
５Ａに干渉することが懸念される。
光検出器７３Ａの第２メイン受光部７５Ａと第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとの中心点
間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）が、規格化された光検出器２７０（図２８）の通常の第２メイン受
光部２００ａと第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）と同
じに設定されていれば、例えば、１本の第２メインビームが光検出器７３Ａ（図７）の２
つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃのうち何れか一方または両方に干渉したり、２本の第
２サブビームのうち何れか一方または両方が光検出器７３Ａの１つの第２メイン受光部７
５Ａに干渉したりするということは回避される。
規格化された光検出器２７０（図２８）の通常の第２メイン受光部２００ａと第２サブ
受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）の値が１００％の値と定めら
れたときに、新しい光検出器７３Ａ（図７）において第２メイン受光部７５Ａと第２サブ
受光部７５Ｂ、７５Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）の値が、規格化された光検出器２
７０（図２８）の通常の第２メイン受光部２００ａと第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ
との中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）の値に対し、略１００％の値に設定されているので、光
検出器７３Ａの（図７）１つの第２メイン受光部７５Ａに１本の第２メインビームが照射
されるときに、１本の第２メインビームが２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃの何れか
一方または両方に干渉するということは回避される。
また、規格化された光検出器２７０（図２８）の通常の第２メイン受光部２００ａと第
２サブ受光部２００ｂ、２００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）の値が１００％の値と
定められたときに、新しい光検出器７３Ａ（図７）において第２メイン受光部７５Ａと第
２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃとの中心点間距離Ｙｓ（ｄｖｄ）の値が、規格化された光検
出器２７０（図２８）の通常の第２メイン受光部２００ａと第２サブ受光部２００ｂ、２
００ｃとの中心点間距離Ｙｔ（ｄｖｄ）の値に対し、略１００％の値に設定されているの
で、光検出器７３Ａ（図７）の前後２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃに前後２本の第
２サブビームが照射されるときに、２本の第２サブビームのうち何れか一方または両方が
１つの第２メイン受光部７５Ａに干渉するということは回避される。
光検出器７３Ａ（図５〜図７）の第１メイン受光部７４Ａを中心に一対の位置変更され
た第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃが配置されて、前側の位置変更された第１サブ受光部７
４Ｂと、中央の第１メイン受光部７４Ａと、後側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｃ
と、が略一直線上に並設されたときに、前側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｂと、
中央の第１メイン受光部７４Ａと、後側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｃと、の分
光比は、従来の規格化された光検出器２７０（図２７）の前側の第１サブ受光部２００ｂ
と、中央の第１メイン受光部２００ａと、後側の第１サブ受光部２００ｃと、の分光比に
対して変更されている。
詳しく説明すると、光検出器７３Ａ（図５〜図７）の第１メイン受光部７４Ａを中心に
一対の位置変更された第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃが配置されて、前側の位置変更され
た第１サブ受光部７４Ｂと、中央の第１メイン受光部７４Ａと、後側の位置変更された第
１サブ受光部７４Ｃと、が略一直線上に並設されたときに、前側の位置変更された第１サ
ブ受光部７４Ｂと、中央の第１メイン受光部７４Ａと、後側の位置変更された第１サブ受
光部７４Ｃと、の分光比は、略１：（２０〜２６）：１とされている。すなわち、前側の
位置変更された第１サブ受光部７４Ｂと、中央の第１メイン受光部７４Ａと、後側の位置
変更された第１サブ受光部７４Ｃと、の分光比は、略１：（２３±３）：１とされている
。好ましくは、前側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｂと、中央の第１メイン受光部
７４Ａと、後側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｃと、の分光比は、略１：（２３±
２．３）：１とされる。
従来の規格化された光検出器２７０（図２７）の第１レーザ波長光の分光比に対し、設
定変更された光検出器７３Ａ（図５〜図７）の第１レーザ波長光の分光比が変更されてい
れば、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とは、新しい設定変
更された光検出器７３Ａにて精度よく良好に行われ易くなる。従来の規格化された光検出
器２７０（図２７）の第１レーザ波長光の分光比が略１：１６：１に設定されているのに
対し、設定変更された光検出器７３Ａ（図５〜図７）の第１レーザ波長光の分光比が、略
１：（２０〜２６）：１すなわち略１：（２３±３）：１好ましくは略１：（２３±２．
３）：１に設定されていれば、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの
検出とは、新しい設定変更された光検出器７３Ａにて精度よく良好に行われる。
例えば、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０２（図２９、図３０）と、第２
レーザ波長光に対応した第２回折面部３０４と、の２つの回折面部３０２、３０４を有す
る従来の回折格子３００Ａ、３００Ｂを第１レーザ波長光が透過して、第１レーザ波長光
が、前側の１本の第１サブビームと、中央の１本の第１メインビームと、後側の１本の第
１サブビームと、に少なくとも分けられたときに、前側の１本の第１サブビームが照射さ
れる前側の第１サブ受光部２００ｂ（図２７）と、中央の１本の第１メインビームが照射
される中央の第１メイン受光部２００ａと、後側の１本の第１サブビームが照射される後
側の第１サブ受光部２００ｃと、の分光比が、例えば通常の略１：１６：１に設定される
ことで、従来の規格化された光検出器２７０にて、１本の第１メインビームの検出と２本
の第１サブビームの検出とが精度よく行われていた。
しかしながら、例えば第１レーザ波長光に対応した回折面部３０２（図２９、図３０）
を有する回折格子３２０が設けられることなく省略され、第２レーザ波長光に対応し第
２レーザ波長光を基準とした回折面部３０４を有する回折格子３００Ａ、３００Ｂを第１
レーザ波長光が透過して、第１レーザ波長光が、前側の１本の第１サブビームと、中央の
１本の第１メインビームと、後側の１本の第１サブビームと、に少なくとも分けられた場
合には、前側の１本の第１サブビームが照射される前側の位置変更された第１サブ受光部
２００ｂ（図２７）と、中央の１本の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受
光部２００ａと、後側の１本の第１サブビームが照射される後側の位置変更された第１サ
ブ受光部２００ｃと、の分光比が、例えば通常の略１：１６：１に設定されていると、従
来の規格化された光検出器２７０においては、１本の第１メインビームの検出と２本の第
１サブビームの検出とが精度よく行われないことが懸念されていた。
これに対し、第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折面部２０ａ
（図４、図８、図９）を有する回折格子６４Ａを第１レーザ波長光が透過して、第１レー
ザ波長光が、前側の１本の第１サブビームと、中央の１本の第１メインビームと、後側の
１本の第１サブビームと、に少なくとも分けられたときに、前側の１本の第１サブビーム
が照射される前側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｂ（図５〜図７）と、中央の１本
の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受光部７４Ａと、後側の１本の第１サ
ブビームが照射される後側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｃと、の分光比が、従来
の規格化された光検出器２７０（図２７）の前側の第１サブ受光部２００ｂと、中央の第
１メイン受光部２００ａと、後側の第１サブ受光部２００ｃと、の分光比に対して変更さ
れて、略１：（２０〜２６）：１すなわち略１：（２３±３）：１好ましくは略１：（２
３±２．３）：１に設定されていれば、新しい設定変更された光検出器７３Ａ（図５〜図
７）にて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とが精度よく良
好に行われる。
また、前側の１本の第１サブビームが照射される前側の位置変更された第１サブ受光部
７４Ｂと、中央の１本の第１メインビームが照射される中央の第１メイン受光部７４Ａと
、後側の１本の第１サブビームが照射される後側の位置変更された第１サブ受光部７４Ｃ
と、の分光比が、例えば略１：２０未満：１とされた場合や、この分光比が例えば略１：
２６超：１とされた場合には、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの
検出とが精度よく行われないことが懸念されるが、この分光比が略１：（２０〜２６）：
１好ましくは略１：（２０．７〜２５．３）：１より好ましくは略１：（２１〜２５）：
１に設定されることにより、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検
出とが精度よく良好に行われる。
光検出器７３Ａの第２メイン受光部７５Ａを中心に一対の第２サブ受光部７５Ｂ、７５
Ｃが配置されて、前側の第２サブ受光部７５Ｂと、中央の第２メイン受光部７５Ａと、後
側の第２サブ受光部７５Ｃと、が略一直線上に並設されたときに、前側の第２サブ受光部
７５Ｂと、中央の第２メイン受光部７５Ａと、後側の第２サブ受光部７５Ｃと、の分光比
は、略１：（１２〜１８）：１とされている。すなわち、前側の第２サブ受光部７５Ｂと
、中央の第２メイン受光部７５Ａと、後側の第２サブ受光部７５Ｃと、の分光比は、略１
：（１５±３）：１とされている。好ましくは、前側の第２サブ受光部７５Ｂと、中央の
第２メイン受光部７５Ａと、後側の第２サブ受光部７５Ｃと、の分光比は、略１：（１６
±１．６）：１とされる。
このように分光比が定められていれば、１本の第２メインビームの検出と２本の第２サ
ブビームの検出とは、光検出器７３Ａにて精度よく良好に行われる。第２レーザ波長光に
対応し第２レーザ波長光を基準とした回折面部２０ａ（図４、図８、図９）を有する回折
格子６４Ａを第２レーザ波長光が透過して、第２レーザ波長光が、前側の１本の第２サブ
ビームと、中央の１本の第２メインビームと、後側の１本の第２サブビームと、に少なく
とも分けられたときに、前側の１本の第２サブビームが照射される前側の第２サブ受光部
７５Ｂ（図５、図７）と、中央の１本の第２メインビームが照射される中央の第２メイン
受光部７５Ａと、後側の１本の第２サブビームが照射される後側の第２サブ受光部７５Ｃ
と、の分光比が、略１：（１２〜１８）：１すなわち略１：（１５±３）：１好ましくは
略１：（１６±１．６）：１に設定されていれば、光検出器７３Ａにて１本の第２メイン
ビームの検出と２本の第２サブビームの検出とが精度よく良好に行われる。
また、前側の１本の第２サブビームが照射される前側の第２サブ受光部７５Ｂと、中央
の１本の第２メインビームが照射される中央の第２メイン受光部７５Ａと、後側の１本の
第２サブビームが照射される後側の第２サブ受光部７５Ｃと、の分光比が、例えば略１：
１２未満：１とされた場合や、この分光比が例えば略１：１８超：１とされた場合には、
１本の第２メインビームの検出と２本の第２サブビームの検出とが精度よく行われないこ
とが懸念されるが、この分光比が略１：（１２〜１８）：１好ましくは略１：（１４〜１
８）：１より好ましくは略１：（１４．４〜１７．６）：１に設定されることにより、１
本の第２メインビームの検出と２本の第２サブビームの検出とが精度よく良好に行われる
。
規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）における通常受光感度の値に
対し、１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）における受光感度の値が変更または
同じとされている。詳しく説明すると、規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（
図２７）における通常受光感度の値が１００％の値と定められたときに、規格化された１
つの第１メイン受光部２００ａにおける通常受光感度の値に対し、変更または同じとされ
た１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）における受光感度の値は、略１００％ま
たは略１００％未満もしくは略１００％以下の低い値に設定されている。
また、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）における通常
受光感度の値に対し、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）における受光
感度の値が変更されている。詳しく説明すると、規格化された２つの第１サブ受光部２０
０ｂ、２００ｃ（図２７）における通常受光感度の値が共に１００％の値と定められたと
きに、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃにおける通常受光感度の値
に対し、変更された２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）における受光感
度の値は、共に略１００％以上または略１００％を超える高い値に設定されている。
このように受光感度の値が従来の値に対し変更または同じとされて設定されていれば、
１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とは、新しい設定変更され
た光検出器７３Ａにて比較的精度よく行われ易くなる。規格化された１つの第１メイン受
光部２００ａ（図２７）における通常受光感度の値に対し、１つの第１メイン受光部７４
Ａ（図５〜図７）における受光感度の値が変更または同じとされ、規格化された２つの第
１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）における通常受光感度の値に対し、２つの第
１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）における受光感度の値が変更されることによ
り、新しい設定変更された光検出器７３Ａにて、１本の第１メインビームの検出と２本の
第１サブビームの検出とが比較的精度よく行われ易くなる。
詳しく説明すると、規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）における
通常受光感度の値が１００％とされているのに対し、変更または同じとされた１つの第１
メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）における受光感度の値が略１００％または略１００％
未満もしくは略１００％以下の低い値に設定され、規格化された２つの第１サブ受光部２
００ｂ、２００ｃ（図２７）における通常受光感度の値が共に１００％とされているのに
対し、変更された２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）における受光感度
の値が共に略１００％以上または略１００％を超える高い値に設定されることにより、新
しい設定変更された光検出器７３Ａにて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サ
ブビームの検出とが比較的精度よく行われ易くなる。
規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）における通常受光感度の値が
１００％の値と定められたときに、規格化された１つの第１メイン受光部２００ａにおけ
る通常受光感度の値に対し、変更または同じとされた１つの第１メイン受光部７４Ａ（図
５〜図７）における受光感度の値は、略９５〜１００％好ましくは略９６〜１００％の値
に設定されている。また、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２
７）における通常受光感度の値が共に１００％の値と定められたときに、規格化された２
つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃにおける通常受光感度の値に対し、変更された２
つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）における受光感度の値は、共に略１２
０〜１６０％好ましくは共に略１３８〜１４２％の値に設定されている。
このように受光感度の値が設定されていれば、１本の第１メインビームの検出と２本の
第１サブビームの検出とは、新しい設定変更された光検出器７３Ａにて精度よく良好に行
われる。規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）における通常受光感度
の値が１００％とされているのに対し、変更または同じとされた１つの第１メイン受光部
７４Ａ（図５〜図７）における受光感度の値が略９５〜１００％好ましくは略９６〜１０
０％の値に設定され、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）
における通常受光感度の値が共に１００％とされているのに対し、変更された２つの第１
サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）における受光感度の値が共に略１２０〜１６０
％好ましくは共に略１３８〜１４２％の値に設定されることにより、新しい設定変更され
た光検出器７３Ａにて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出と
が精度よく良好に行われる。
１つの第２メイン受光部７５Ａにおける受光感度の値は、規格化された１つの第２メイ
ン受光部２００ａ（図２８）における通常受光感度の値とされている。規格化された１つ
の第２メイン受光部２００ａにおける通常受光感度の値が１００％の値と定められたとき
に、規格化された１つの第２メイン受光部２００ａにおける通常受光感度の値に対し、１
つの第２メイン受光部７５Ａ（図５、図７）における受光感度の値は、略１００％の値に
設定されている。
また、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃにおける受光感度の値は、規格化された２
つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２８）における通常受光感度の値とされてい
る。規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃにおける通常受光感度の値が
共に１００％の値と定められたときに、規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２
００ｃにおける通常受光感度の値に対し、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ（図５、
図７）における受光感度の値は、共に略１００％の値に設定されている。
このように受光感度の値が設定されていれば、１本の第２メインビームの検出と２本の
第２サブビームの検出とは、光検出器７３Ａにて精度よく行われる。１つの第２メイン受
光部７５Ａにおける受光感度の値が、規格化された１つの第２メイン受光部２００ａ（図
２８）における通常受光感度の値とされ、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ（図５、
図７）における受光感度の値が、規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ
（図２８）における通常受光感度の値とされることにより、光検出器７３Ａにて、１本の
第２メインビームの検出と２本の第２サブビームの検出とが精度よく行われる。
規格化された１つの第２メイン受光部２００ａ（図２８）における通常受光感度の値が
１００％とされているのに対し、１つの第２メイン受光部７５Ａ（図５、図７）における
受光感度の値が略１００％の値に設定され、規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ
、２００ｃ（図２８）における通常受光感度の値が共に１００％とされているのに対し、
２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ（図５、図７）における受光感度の値が共に略１０
０％の値に設定されることにより、光検出器７３Ａにて、１本の第２メインビームの検出
と２本の第２サブビームの検出とが精度よく行われる。
規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常の信号の
電流および／または電圧値に対し、１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）から出
力される信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１（図６）の電流／電圧値が変更ま
たは同じとされている。詳しく説明すると、規格化された１つの第１メイン受光部２００
ａ（図２７）から出力される通常の信号の電流／電圧値が１００％の電流／電圧値と定め
られたときに、規格化された１つの第１メイン受光部２００ａから出力される通常の信号
の電流／電圧値に対し、変更または同じとされた１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５〜
図７）から出力される信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１／ＴＡａ１、ＴＡｂ
１、ＴＡｃ１、ＴＡｄ１（図６）の電流／電圧値は、略１００％または略１００％未満も
しくは略１００％以下の低い値に設定されている。１つの第１メイン受光部７４Ａから出
力される信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１の電流／電圧値が設定変更される
場合、例えばアッテネータ（不図示）等が用いられて１つの第１メイン受光部７４Ａから
出力される信号の電流／電圧値が変更設定される。
また、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力され
る通常の信号の電流／電圧値に対し、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７
）から出力される信号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、
ＵＣｃ１、ＵＣｄ１（図６）の電流／電圧値が変更されている。詳しく説明すると、規格
化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通常の信号
の電流／電圧値が共に１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化された２つの
第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃから出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、２
つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）から出力される信号ＵＢａ１、ＵＢｂ
１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１（図６）の電流／電
圧値が共に変更されて、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）から出力さ
れた信号ＴＢａ１、ＴＢｂ１、ＴＢｃ１、ＴＢｄ１、ＴＣａ１、ＴＣｂ１、ＴＣｃ１、Ｔ
Ｃｄ１（図６）の電流／電圧値は、共に略１００％以上または略１００％を超える高い値
にゲインアップ設定されている。
２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃから出力される信号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ
１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１の電流／電圧値は、光検出器７
３Ａに備えられた前段アンプ７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７Ｈ
Ｌ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１、及び／又は、後段アンプ７７ＦＬ２、７７
ＦＲ２、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、７７ＩＲ２に
て変更設定される。
このように信号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣ
ｃ１、ＵＣｄ１の電流／電圧値、又は、信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１の
電流／電圧値が従来の信号の電流／電圧値に対し変更または同じとされて設定されていれ
ば、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とは、例えば信号の劣
化が抑えられつつ演算部７６Ａにて精度よく行われ易くなる。規格化された１つの第１メ
イン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、１つの
第１メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）から出力される信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ
１、ＵＡｄ１（図６）の電流／電圧値が変更または同じとされ、規格化された２つの第１
サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通常の信号の電流／電圧値に対
し、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）から出力される信号ＵＢａ１、
ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１（図６）の電
流／電圧値がゲインアップ変更されることにより、例えば信号の劣化が抑えられつつ演算
部７６Ａにて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とが精度よ
く行われ易くなる。
詳しく説明すると、規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力
される通常の信号の電流／電圧値が１００％とされているのに対し、変更または同じとさ
れた１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）から出力される信号ＵＡａ１、ＵＡｂ
１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１（図６）の電流／電圧値が略１００％または略１００％未満もし
くは略１００％以下の低い値に設定され、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、
２００ｃ（図２７）から出力される通常の信号の電流／電圧値が共に１００％とされてい
るのに対し、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）から出力される信号Ｕ
Ｂａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１（図
６）の電流／電圧値が共に変更されて、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図
７）から出力された信号ＴＢａ１、ＴＢｂ１、ＴＢｃ１、ＴＢｄ１、ＴＣａ１、ＴＣｂ１
、ＴＣｃ１、ＴＣｄ１（図６）の電流／電圧値が共に略１００％以上または略１００％を
超える高い値にゲインアップ設定されることにより、例えば信号の劣化が抑えられつつ演
算部７６Ａにて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とが精度
よく行われ易くなる。
規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常の信号の
電流／電圧値が１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化された１つの第１メ
イン受光部２００ａから出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、変更または同じと
された１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５〜図７）から出力される信号ＵＡａ１、ＵＡ
ｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１の電流／電圧値は、略９５〜１００％好ましくは略９６〜１０
０％の電流／電圧値に設定されている。また、規格化された２つの第１サブ受光部２００
ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通常の信号の電流／電圧値が共に１００％の電流
／電圧値と定められたときに、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃか
ら出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（
図５〜図７）から出力される信号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、
ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１（図６）の電流／電圧値が共に変更されて、２つの第１サ
ブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）から出力された信号ＴＢａ１、ＴＢｂ１、ＴＢｃ
１、ＴＢｄ１、ＴＣａ１、ＴＣｂ１、ＴＣｃ１、ＴＣｄ１（図６）の電流／電圧値は、共
に略１２０〜１６０％好ましくは共に略１３８〜１４２％の電流／電圧値にゲインアップ
設定されている。
このように信号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣ
ｃ１、ＵＣｄ１の電流／電圧値、又は、信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１の
電流／電圧値が設定されていれば、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビー
ムの検出とは、例えば信号の劣化が抑えられつつ演算部７６Ａにて精度よく良好に行われ
る。規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常の信号
の電流／電圧値が１００％とされているのに対し、変更または同じとされた１つの第１メ
イン受光部７４Ａ（図５〜図７）から出力される信号ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、Ｕ
Ａｄ１（図６）の電流／電圧値が略９５〜１００％好ましくは略９６〜１００％の電流／
電圧値に設定され、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）か
ら出力される通常の信号の電流／電圧値が共に１００％とされているのに対し、２つの第
１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）から出力される信号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、Ｕ
Ｂｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１（図６）の電流／電圧値が
共に変更されて、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５〜図７）から出力された信
号ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１
（図６）の電流／電圧値が共に略１２０〜１６０％好ましくは共に略１３８〜１４２％の
電流／電圧値にゲインアップ設定されることにより、例えば信号の劣化が抑えられつつ演
算部７６Ａにて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とが精度
よく良好に行われる。
このようにして精度よくトラッキングエラー信号ＳＥ１が生成される。
尚、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、１つの第１メイン受光部（
７４Ａ）から出力される直後の信号（ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１）の電流
／電圧値が、例えば光検出器（７３Ａ）に備えられた不図示のアッテネータ等により設定
変更されたものも使用可能とされる。又、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、
例えば、１つの第１メイン受光部（７４Ａ）から出力される信号（ＴＡａ１、ＴＡｂ１、
ＴＡｃ１、ＴＡｄ１）の電流／電圧値が、例えば演算部（７６Ａ）に備えられた不図示の
アッテネータ等により設定変更されたものも使用可能とされる。
１つの第２メイン受光部７５Ａ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値は、
規格化された１つの第２メイン受光部２００ａ（図２８）から出力される通常の信号の電
流／電圧値とされている。規格化された１つの第２メイン受光部２００ａから出力される
通常の信号の電流／電圧値が１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化された
１つの第２メイン受光部２００ａから出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、１つ
の第２メイン受光部７５Ａ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値は、略１０
０％の電流／電圧値に設定されている。
また、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃから出力される信号の電流／電圧値は、規
格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２８）から出力される通常の信
号の電流／電圧値とされている。規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ
から出力される通常の信号の電流／電圧値が共に１００％の電流／電圧値と定められたと
きに、規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃから出力される通常の信号
の電流／電圧値に対し、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ（図５、図７）から出力さ
れる信号の電流／電圧値は、共に略１００％の電流／電圧値に設定されている。
このように信号の電流／電圧値が設定されていれば、１本の第２メインビームの検出と
２本の第２サブビームの検出とは、演算部７６Ａにて精度よく行われる。１つの第２メイ
ン受光部７５Ａから出力される信号の電流／電圧値が、規格化された１つの第２メイン受
光部２００ａ（図２８）から出力される通常の信号の電流／電圧値とされ、２つの第２サ
ブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値が、規格化さ
れた２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２８）から出力される通常の信号の電
流／電圧値とされることにより、演算部７６Ａにて、１本の第２メインビームの検出と２
本の第２サブビームの検出とが精度よく行われる。
規格化された１つの第２メイン受光部２００ａ（図２８）から出力される通常の信号の
電流／電圧値が１００％とされているのに対し、１つの第２メイン受光部７５Ａ（図５、
図７）から出力される信号の電流／電圧値が略１００％の電流／電圧値に設定され、規格
化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２８）から出力される通常の信号
の電流／電圧値が共に１００％とされているのに対し、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７
５Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値が共に略１００％の電流／電圧値
に設定されることにより、演算部７６Ａにて、１本の第２メインビームの検出と２本の第
２サブビームの検出とが精度よく行われる。
尚、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５に照射されたレーザ光に基づき、各電流・電
圧変換アンプ、後段アンプ、加算器、減算器、増幅器などが用いられて精度よくトラッキ
ングエラー信号ＳＥ２が生成される工程の詳細説明については、ここでは省略する。又、
光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４、ＤＶＤ受光領域７５に照射されたレーザ光に基づき
、精度よくフォーカスエラー信号が生成される工程の詳細説明についても、ここでは省略
する。又、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４、ＤＶＤ受光領域７５に照射されたレーザ
光に基づき、光ディスクＤに記録されたデータ、情報などの信号が精度よく生成される工
程の詳細説明についても、ここでは省略する。
又、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、前段の電流・電圧変換アン
プ（７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７
ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１）と、後段の増
幅アンプ（７７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２、７７ＦＬ２、７７ＦＲ２
、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、７７ＩＲ２）と、が
合わせられて一体化された増幅機能を備えもつ１段タイプの電流・電圧変換アンプ（不図
示）が光検出器（７３Ａ）に装備されて、光検出器（７３Ａ）におけるアンプ等の部品点
数が少なくされたものも使用可能とされる。
又、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、加算器（７７Ｄ、７７Ｅ、
７７Ｆ、７７Ｇ、７７Ｈ、７７Ｉ、７８Ｃ）、減算器（７７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７８Ａ
）、増幅器（７８Ｂ）等を含む演算部（７６Ａ）が、各受光部（７４Ａ、７４Ｂ、７４Ｃ
）、各電流・電圧変換アンプ（７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７
ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、
７７ＩＲ１）、各後段アンプ（７７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２、７７
ＦＬ２、７７ＦＲ２、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、
７７ＩＲ２）等を含む光検出器（７３Ａ）に備えられ、加算器（７７Ｄ、７７Ｅ、７７Ｆ
、７７Ｇ、７７Ｈ、７７Ｉ、７８Ｃ）、減算器（７７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７８Ａ）、増
幅器（７８Ｂ）等を含む演算部（７６Ａ）と、各受光部（７４Ａ、７４Ｂ、７４Ｃ）、各
電流・電圧変換アンプ（７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１
、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７Ｉ
Ｒ１）、各後段アンプ（７７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２、７７ＦＬ２
、７７ＦＲ２、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、７７Ｉ
Ｒ２）等を含む光検出器（７３Ａ）と、が一体化された演算部付光検出器（不図示）も使
用可能とされる。
回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の回折面部２０ａは、第１レーザ波長光を少なく
とも１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに分ける回折面部２０ａと、第２
レーザ波長光を少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに分ける回
折面部２０ａと、を兼ねて、複数種類のレーザ波長光の回折に対応する１つの面部２０ａ
として形成されている。
このように回折格子６４Ａの回折面部２０ａが形成されていれば、回折格子６４Ａにお
ける不要な回折光の発生が抑えられるとともにレーザ光の効率の低下が防止され、更に価
格を低く抑えることが可能な光ピックアップ装置が構成される。
例えば、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０２（図２９、図３０）と、第２
レーザ波長光に対応した第２回折面部３０４と、の２つの回折面部３０２、３０４を有す
る従来の回折格子３００Ａ、３００Ｂの第１回折面部３０２を第１レーザ波長光が透過し
て、第１レーザ波長光が１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに少なくとも
分けられるときに、回折格子３００Ａ、３００Ｂの第２回折面部３０４により、第１レー
ザ波長光の第１メインビームが更に無駄に回折されるとともに第１サブビームが更に無駄
に回折され、これに伴って、第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビーム
の光の効率が低下することが懸念されていた。
また、例えば、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０２と、第２レーザ波長光
に対応した第２回折面部３０４と、の２つの回折面部３０２、３０４を有する従来の回折
格子３００Ａ、３００Ｂの第２回折面部３０４を第２レーザ波長光が透過して、第２レー
ザ波長光が１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに少なくとも分けられると
きに、回折格子３００Ａ、３００Ｂの第１回折面部３０２により、第２レーザ波長光が無
駄に回折され、これに伴って、第２レーザ波長光の光の効率が低下することが懸念されて
いた。
しかしながら、回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の回折面部２０ａが、第１レーザ
波長光を少なくとも１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに分ける回折面部
２０ａと、第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビー
ムとに分ける回折面部２０ａと、を兼ねて複数種類のレーザ波長光の回折に対応する１つ
の面部２０ａとして形成されていれば、第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１
サブビームが不要に回折されて第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビー
ムの光の効率が低下されたり、第２レーザ波長光が不要に回折されて第２レーザ波長光の
光の効率が低下されたりするということは回避される。
また、第１レーザ波長光を少なくとも１本の第１メインビームと２本の第１サブビーム
とに分ける回折面部２０ａと、第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メインビームと
２本の第２サブビームとに分ける回折面部２０ａと、を兼ねて複数種類のレーザ波長光の
回折に対応する１つの面部２０ａとして回折格子６４Ａの回折面部２０ａが形成されてい
るので、加工部分、加工工数等が減らされた回折格子６４Ａが構成される。回折格子６４
Ａの加工部分、加工工数等が減らされるので、回折格子６４Ａの価格が低く抑えられる。
これに伴って、価格を低く抑えることが可能とされた光ピックアップ装置を構成させるこ
とが可能となる。
図４および図９の如く、回折格子６４Ａに、レーザユニット６１（図１〜図３）から出
射されるレーザ光の一部にπラジアンの位相シフトを発生させる位相シフト領域部２１、
２２（図４、図９）が設けられている。回折格子６４Ａは、略長方形状の第１領域部２１
と、第１領域部２１に隣接する略長方形状の第２領域部２２との少なくとも２つの領域部
２１、２２に分けられている。回折格子６４Ａは、複数の領域部２１、２２に分けられて
いる。各領域部２１、２２内で所定の周期構造が構成されている。
図４および図９に示す回折格子６４Ａにおいて、回折格子６４Ａを構成する各領域部２
１、２２の周期構造は、微細な凹凸状の繰返し周期構造とされている。また、回折格子６
４Ａは、例えば略３〜１０ｍｍ角の縦横寸法をした厚み略０．３〜３ｍｍのガラス板とさ
れている。
複数の領域部２１、２２に分けられた回折格子６４Ａが構成されていれば、メディアＤ
（図５、図７）の信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のエラー信号の検出は、良好
に行われ易くなる。例えば、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のト
ラッキングは、良好に行われ易くなる。回折格子６４Ａ（図４、図９）が複数の領域部２
１、２２に分けられて構成されることにより、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに、各
々独立した少なくとも三個の集光スポット８０、８１、８２が照射される。メディアＤの
信号面部Ｄａに、少なくとも三個の集光スポット８０、８１、８２が各々独立して照射さ
れるので、トラックピッチＤｔｐが異なる２種類以上のメディアＤの記録／再生時等に、
トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号の検出精度が低下するということ
は回避され易くなる。従って、トラッキング制御が行われ易い光ピックアップ装置の提供
が可能となる。
図４および図９の如く、回折格子６４Ａは、偶数の領域部２１、２２に分けられている
。
偶数の領域部２１、２２に分けられた回折格子６４Ａが構成されていれば、メディアＤ
（図５）の信号面部Ｄａに形成される集光スポット８０、８１、８２は、精度のよい集光
スポット８０、８１、８２として形成される。例えば回折格子６４Ａ（図４、図９）の境
界線部２６によって、一方の領域部２１と他方の領域部２２とに回折格子６４Ａが２等分
されて偶数分割されているので、光ピックアップ装置に回折格子６４Ａが装備されるとき
に、回折格子６４Ａに当てられる光は、回折格子６４Ａの一方の領域部２１と、回折格子
６４Ａの他方の領域部２２とに、略２等分された状態に当てられ易くなる。回折格子６４
Ａの一方の領域部２１と、回折格子６４Ａの他方の領域部２２とに、光が略２等分とされ
た状態に当てられ易くなることにより、回折格子６４Ａは、光ピックアップ装置に精度よ
く備えられ易くなる。従って、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに精度よく集光スポッ
ト８０、８１、８２が形成され易くなる。これに伴って、トラックピッチＤｔｐが異なる
２種類以上のメディアＤの記録／再生時等におけるトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ
２等のエラー信号の検出精度が向上する。また、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピ
ックアップ装置のトラッキングは、精度よく行われ易くなる。
図４および図９の如く、回折格子６４Ａは、第１領域部２１と、第１領域部２１に隣接
し第１領域部２１の周期構造に対し異なる周期構造を有する第２領域部２２と、の２つの
領域部２１、２２に分けられている。回折格子６４Ａは、いわゆる２分割型インライング
レーティングとして構成されている。
図４および図９に示す複数の領域部２１、２２に分割された回折格子６４Ａが光ピック
アップ装置に装備されていれば、メディアＤ（図２、図３、図５、図７）の信号面部Ｄａ
に対する光ピックアップ装置のエラー信号の検出は、良好に行われる。例えば、メディア
Ｄの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、良好に行われる。回折
格子６４Ａ（図４、図９）が２つの領域部２１、２２に分けられて構成されることにより
、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも３個の集光スポット８
０、８１、８２が照射される。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも３個の集光スポ
ット８０、８１、８２が各々独立して照射されるので、トラックピッチＤｔｐが異なる２
種類以上のメディアＤにデータ記録等が行われるときや、トラックピッチＤｔｐが異なる
２種類以上のメディアＤのデータ再生が行われるときに、例えば対物レンズ７０（図１〜
図３）の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号の検出精
度が低下するということは回避される。従って、トラッキング制御が行われ易い光ピック
アップ装置の提供が可能となる。
図９の如く、回折格子６４Ａは、第１領域部２１とされる略長方形状の一方の領域部２
１と、一方の領域部２１に隣接し第２領域部２２とされる略長方形状の他方の領域部２２
とを有するものとされる。回折格子６４Ａの第１領域部２１の幅２１ｗと、第２領域部２
２の幅２２ｗとは、略等しい幅とされている。回折格子６４Ａの第１領域部２１と、この
第１領域部２１に隣接する回折格子６４Ａの第２領域部２２との境界線部２６により、回
折格子６４Ａは、回折格子６４Ａを構成する一方の領域部２１と、回折格子６４Ａを構成
する他方の領域部２２とに２等分される。回折格子６４Ａは、偶数分割されている。
これにより、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに形成される集光スポット８０、８１
、８２は、精度のよい集光スポット８０、８１、８２として形成される。偶数分割された
回折格子６４Ａ（図４、図９）の第１領域部２１と、第１領域部２１に隣接する第２領域
部２２との境界線部２６によって、第１領域部２１とされる一方の領域部２１と、一方の
領域部２１に隣接し第２領域部２２とされる他方の領域部２２とに回折格子６４Ａが２等
分されるので、光ピックアップ装置のハウジング（不図示）に回折格子６４Ａが装備され
るときに、レーザユニット６１（図１〜図３）から出射され回折格子６４Ａに当てられた
レーザ光は、例えば不図示の光軸調整用カメラなどにより、容易に光軸調整される。レー
ザユニット６１から出射され回折格子６４Ａに当てられたのちに対物レンズ７０を透過し
たレーザ光は、例えば光軸調整用カメラなどが用いられて観察可能とされる。
２分割型回折格子６４Ａ（図４、図９）においては、回折格子６４Ａの略中央を２等分
させて、略長方形状の一方の領域部２１と、略長方形状の他方の領域部２２とを構成させ
る境界線部２６が回折格子６４Ａに設けられているので、光軸調整用カメラなどが用いら
れてレーザ光の光軸調整が行われるときに、レーザ光は、回折格子６４Ａを構成する略長
方形状の一方の領域部２１と、回折格子６４Ａを構成する略長方形状の他方の領域部２２
とに、略２等分された状態に当てられ易くなる。
回折格子６４Ａを構成する略長方形状の一方の領域部２１と、回折格子６４Ａを構成す
る略長方形状の他方の領域部２２とに、レーザ光が略２等分とされた状態に当てられ易く
なることにより、回折格子６４Ａは、光ピックアップ装置のハウジングに精度よく位置決
め調整されつつ備えられ易くなる。従って、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに精度よ
く集光スポット８０、８１、８２が形成され易くなる。これに伴って、メディアＤの信号
面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、精度よく行われ易くなる。
回折格子６４Ａ（図４、図９）を構成する略短冊状の第１領域部２１および略短冊状の
第２領域部２２の間に、回折格子６４Ａを構成する略線状の境界線部２６が位置する。第
１領域部２１の周期構造に対し、第２領域部２２の周期構造は、異なる位相を有する周期
構造とされている。第１領域部２１の周期構造に対し、第２領域部２２の周期構造は、略
１８０度ほど異なる位相を有する周期構造とされている。
これにより、回折格子６４Ａにおける第１領域部２１と、第２領域部２２とが区別化さ
れるとともに、回折格子６４Ａおける第１領域部２１と、第２領域部２２との位相差が明
確化される。回折格子６４Ａの第１領域部２１の周期構造に対し、回折格子６４Ａの第２
領域部２２の周期構造が、略１８０度ほど異なる位相を有する周期構造とされているので
、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに少なくとも３個の各集光スポット８０、８１、８
２が良好に形成される。メディアＤの信号面部Ｄａに良好に形成された少なくとも３個の
各集光スポット８０、８１、８２により、トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメデ
ィアＤのデータ記録／再生時等に、例えば対物レンズ７０（図１〜図３）の変位に伴って
トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化するということは回避され易くなる。
第１領域部２１（図４、図９）と第２領域部２２とを区切る境界線部２６により、第１
領域部２１と第２領域部２２とが分けられている。
回折格子６４Ａが２つの領域部に分けられて区別化されることにより、メディアＤ（図
５）の信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも３個の集光スポット８０、８１、８２が
照射される。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも３個の集光スポット８０、８１、
８２が各々独立して照射されるので、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ
装置のトラッキングは、行われ易くなる。
回折格子６４Ａ（図４、図９）は、略矩形板状に形成されている。回折格子６４Ａが平
面視されたときに、回折格子６４Ａは、略矩形板状のものとして目視される。
縦長の略長方形状第１領域部２１と、縦長の略長方形状第２領域部２２とが横並びに配
列された状態で、回折格子６４Ａが平面視されたときに、回折格子６４Ａの一領域部の位
相に対し、一領域部の右側に隣接する他領域部の位相が略右上がり階段状にずらされた場
合に、他領域部の位相は、プラス（＋）側にずらされたものと定められる。
また、縦長の略長方形状第１領域部２１と、縦長の略長方形状第２領域部２２とが横並
びに配列された状態で、回折格子６４Ａが平面視されたときに、回折格子６４Ａの一領域
部の位相に対し、一領域部の右側に隣接する他領域部の位相が略右下がり階段状にずらさ
れた場合に、他領域部の位相は、マイナス（−）側にずらされたものと定められる。
尚、本願におけるプラス（＋）の位相およびマイナス（−）の位相の定義は、回折格子
の位相差状態を説明するための便宜上の定義とされる。また、本願における「縦」、「横
」の定義についても、回折格子を説明するための便宜上の定義とされる。
回折格子６４Ａが平面視されたときに、第１領域部２１の周期構造に対し、第１領域部
２１の右側に隣接する第２領域部２２の周期構造は、プラス側にずらされた位相を有する
周期構造とされている（図１０）。第１領域部２１（図９）の周期構造に対し、第２領域
部２２の周期構造は、略＋１８０度異なる位相を有する周期構造とされている。
この光ピックアップ装置は、デスクトップ型パーソナルコンピュータ（ＰＣ：Ｐｅｒｓ
ｏｎａｌ Ｃｏｍｐｕｔｅｒ）用の光ディスク装置に装備されて使用されることが可能と
されるとともに、ノート型もしくはラップトップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備されて
使用されることも可能とされる。
この光ピックアップ装置（図１〜図３）は、例えば、平面視略矩形の回折格子６４Ａ（
図９）と、少なくとも３本の光束を集光してメディアＤ（図１〜図３、図５）の信号面部
Ｄａ（図５）に各々独立した少なくとも３個の集光スポット８０、８１、８２を照射させ
る対物レンズ７０（図１〜図３）と、メディアＤにおける３個の各集光スポット８０、８
１、８２（図５）の反射光を受光する光検出器７３Ａ（図１〜図３、図５〜図７）と、を
備えて構成される。
このように光ピックアップ装置が構成されていれば、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄ
ａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、精度よく行われる。トラックピッチＤ
ｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、対物レンズ７０（図１〜
図３）の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２の振幅が劣化することや
、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２にオフセットが残留するということは回避され
易くなる。
位相シフト型２分割回折格子６４Ａ（図４、図９）を備える光ピックアップ装置が構成
されることにより、ＤＶＤ−ＲＡＭに対する光ピックアップ装置のデータ再生動作または
データ記録動作は、確実に行われる。また、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷに対する光ピック
アップ装置のデータ再生動作またはデータ記録動作も、確実に行われる。
図１〜図３に示す光検出器７３Ａは、例えば、２種類のレーザ波長光、３種類のレーザ
波長光等といった複数種類のレーザ波長光を受光可能な１つの光検出器７３Ａとして構成
される。
複数種類のレーザ波長光を受光可能な１つの光検出器７３Ａが光ピックアップ装置に装
備されていれば、多種のメディアＤ（図１〜図３、図５、図７）に対応可能な光ピックア
ップ装置が構成されるとともに、光ピックアップ装置の部品点数の削減化に伴う価格低減
化が図られる。光検出器７３Ａ（図１〜図３）は、第１波長光と、第１波長光と異なる波
長とされ且つ第１レーザ波長光よりも短い波長のレーザ光とされる第２波長光との２種類
以上の波長光を受光可能な複数種類の波長光に対応する光検出器７３Ａとして構成される
ので、光ピックアップ装置は、多種のメディアＤに対応可能となる。また、これとともに
、第１波長光を受光可能な光検出器と、第２波長光を受光可能な光検出器とが、１つの光
検出器７３Ａとしてまとめられるので、光ピックアップ装置の部品削減化、小型化、軽薄
化などが図られる。光ピックアップ装置の部品削減化に伴って光ピックアップ装置の価格
が低く抑えられる。従って、多種のメディアＤに対応可能とされるとともに、部品削減化
、価格低減化、小型化、軽薄化などが図られた光ピックアップ装置の提供が可能となる。
また、この光ピックアップ装置は、２種類のレーザ波長光、３種類のレーザ波長光等と
いった複数種類のレーザ波長光を出射可能な１つの発光素子６１（図１〜図３）を備えて
構成される。
複数種類のレーザ波長光を出射可能な１つの発光素子６１が光ピックアップ装置に装備
されていれば、多種のメディアＤ（図１〜図３、図５、図７）に対応可能な光ピックアッ
プ装置が構成されるとともに、光ピックアップ装置の部品点数の削減化に伴う価格低減化
が図られる。発光素子６１（図１〜図３）は、例えば、第１波長光と、第１波長光と異な
る波長とされ且つ第１レーザ波長光よりも短い波長のレーザ光とされる第２波長光との少
なくとも２種類以上の波長光を出射可能な複数種類の波長光を出射する発光素子６１とし
て構成されるので、光ピックアップ装置は、多種のメディアＤに対応可能となる。また、
これとともに、少なくとも第１波長光を出射可能な発光素子と第２波長光を出射可能な発
光素子とが１つの発光素子６１としてまとめられるので、光ピックアップ装置の部品削減
化、小型化、軽薄化などが図られる。光ピックアップ装置の部品削減化に伴って光ピック
アップ装置の価格が低く抑えられる。従って、多種のメディアＤに対応可能とされるとと
もに、部品削減化、価格低減化、小型化、軽薄化などが図られた光ピックアップ装置の提
供が可能となる。
また、光ピックアップ装置の部品点数の削減化により、光ピックアップ装置の性能／品
質の安定化も図られる。例えば、第１波長光を出射可能な第１発光素子と、第２波長光を
出射可能な第２発光素子とが、個別にハウジング等に備えられる場合、例えば第１発光素
子および／または第２発光素子の取付誤差などにより、第１波長光の光軸および第２波長
光の光軸などに「ばらつき」が生じることが懸念される。しかしながら、第１波長光を出
射可能な発光素子と、第２波長光を出射可能な発光素子とが、１つの発光素子６１として
まとめられていれば、取付誤差などによる光軸などの「ばらつき」発生が減らされる。従
って、光ピックアップ装置の性能／品質が安定化される。
第１レーザ波長光は、ＣＤ規格に準拠した波長光とされている。第１レーザ波長光は、
ＣＤ規格に準拠した赤外レーザ光とされている。詳しく説明すると、第１レーザ波長光の
波長は、ＣＤ規格の光ディスクＤに対応して、略７６５〜８４０ｎｍ、基準とされる波長
が略７８０〜７８２ｎｍとされている。例えば基準とされる波長が略７６５〜８４０ｎｍ
の範囲内に収められる波長光が第１レーザ波長光とされる。二波長発光素子６１の第１光
源６２から出射される第１レーザ波長光は、例えば発光素子６１の蓄熱温度等により変動
することがある。
また、第２レーザ波長光は、ＤＶＤ規格に準拠した波長光とされている。第２レーザ波
長光は、ＤＶＤ規格に準拠した赤色レーザ光とされている。詳しく説明すると、第２レー
ザ波長光の波長は、ＤＶＤ規格の光ディスクＤに対応して、略６３０〜６８５ｎｍ、基準
とされる波長が略６３５〜６６０ｎｍとされている。例えば基準とされる波長が略６３０
〜６８５ｎｍの範囲内に収められる波長光が第２レーザ波長光とされる。二波長発光素子
６１の第２光源６３から出射される第２レーザ波長光は、例えば発光素子６１の蓄熱温度
等により変動することがある。
回折面部２０ａ（図４、図８、図９）を片側面にのみ有する回折格子６４Ａが用いられ
ていれば、ＣＤ規格の光ディスクＤ（図１〜図３）に対応した略７６５〜８４０ｎｍ、基
準とされる波長が略７８０〜７８２ｎｍの波長光とされるＣＤ規格に準拠した第１レーザ
波長光が回折格子６４Ａを透過するときに、不要な回折光が生じるということは略防止さ
れる。
また、回折面部２０ａ（図４、図８、図９）を片側面にのみ有する回折格子６４Ａが用
いられていれば、ＤＶＤ規格の光ディスクＤ（図１〜図３）に対応した略６３０〜６８５
ｎｍ、基準とされる波長が略６３５〜６６０ｎｍの波長光とされるＤＶＤ規格に準拠した
第２レーザ波長光が回折格子６４Ａを透過するときに、不要な回折光が生じるということ
は略防止される。
ＤＶＤ規格に準拠する第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格
子６４Ａ（図４、図８、図９）の回折面部２０ａをＣＤ規格に準拠した所定波長光の第１
レーザ波長光が透過することによって、不要な回折光が略生じることなく分けられたＣＤ
規格に準拠する第１レーザ波長光の２本の第１サブビームは、光検出器７３Ａ（図７）に
備えられた第１受光領域７４の１つの第１メイン受光部７４Ａに対して中心点間距離Ｙｓ
（ｃｄ）が変更された２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃに確実に照射される。また、
ＤＶＤ規格に準拠する第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子
６４Ａ（図４、図８、図９）の回折面部２０ａをＣＤ規格に準拠した所定波長光の第１レ
ーザ波長光が透過することによって、不要な回折光が略生じることなく分けられたＣＤ規
格に準拠する第１レーザ波長光の１本の第１メインビームは、光検出器７３Ａ（図７）に
備えられた第１受光領域７４の１つの第１メイン受光部７４Ａに確実に照射される。
また、ＤＶＤ規格に準拠する第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした
回折格子６４Ａ（図４、図８、図９）の回折面部２０ａをＤＶＤ規格に準拠した所定波長
光の第２レーザ波長光が透過したときに、不要な回折光が略生じることなく、ＤＶＤ規格
に準拠した所定波長光の第２レーザ波長光は、少なくとも１本の第２メインビームと２本
の第２サブビームとに分けられる。ＤＶＤ規格に準拠する第２レーザ波長光の２本の第２
サブビームは、光検出器７３Ａ（図７）に備えられた従来規格と同じ第２受光領域７５の
２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃに確実に照射され、ＤＶＤ規格に準拠する第２レー
ザ波長光の１本の第２メインビームは、光検出器７３Ａに備えられた従来規格と同じ第２
受光領域７５の１つの第２メイン受光部７５Ａに確実に照射される。
光ピックアップ装置等の設計／仕様などにより、例えば第１レーザ波長光が「ＤＶＤ」
規格に準拠した波長光とされてもよい。例えば第１レーザ波長光が「ＤＶＤ」規格に準拠
した赤色レーザ光とされてもよい。詳しく説明すると、第１レーザ波長光の波長は、「Ｄ
ＶＤ」規格の光ディスク（Ｄ）に対応して、略６３０〜６８５ｎｍ、基準とされる波長が
略６３５〜６６０ｎｍとされる。例えば基準とされる波長が略６３０〜６８５ｎｍの範囲
内に収められる波長光が第１レーザ波長光とされる。二波長発光素子（６１）の第１光源
（６２）から出射される第１レーザ波長光は、例えば発光素子（６１）の蓄熱温度等によ
り変動することがある。
また、光ピックアップ装置等の設計／仕様などにより、例えば第２レーザ波長光が、「
Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等に準拠し
た波長光とされてもよい。例えば第２レーザ波長光が、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規
格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等に準拠した青紫色レーザ光とされてもよ
い。詳しく説明すると、第２レーザ波長光の波長は、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格
、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等の光ディスク（Ｄ）に対応して、例えば略
３４０〜４５０ｎｍ、好ましくは略３８０〜４５０ｎｍ、より好ましくは略４００ｎｍを
超え４５０ｎｍ以下、基準とされる波長が略４０５ｎｍとされる。例えば基準とされる波
長が略３４０〜４５０ｎｍの範囲内に収められる波長光、好ましくは基準とされる波長が
略３８０〜４５０ｎｍの範囲内に収められる波長光、より好ましくは基準とされる波長が
略４００ｎｍを超え４５０ｎｍ以下の範囲内に収められる波長光が第２レーザ波長光とさ
れる。二波長発光素子（６１）の第２光源（６３）から出射される第２レーザ波長光は、
例えば発光素子（６１）の蓄熱温度等により変動することがある。
回折面部（２０ａ）（図４、図８、図９）を片側面にのみ有する回折格子（６４Ａ）が
用いられていれば、「ＤＶＤ」規格の光ディスク（Ｄ）（図１〜図３）に対応した略６３
０〜６８５ｎｍ、基準とされる波長が略６３５〜６６０ｎｍの波長光とされる「ＤＶＤ」
規格に準拠した第１レーザ波長光が回折格子（６４Ａ）を透過するときに、不要な回折光
が生じるということは略防止される。
また、回折面部（２０ａ）（図４、図８、図９）を片側面にのみ有する回折格子（６４
Ａ）が用いられていれば、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、
「ＣＢＨＤ」規格等の光ディスク（Ｄ）（図１〜図３）に対応した例えば略３４０〜４５
０ｎｍの波長光、好ましくは略３８０〜４５０ｎｍの波長光、より好ましくは略４００ｎ
ｍを超え４５０ｎｍ以下の波長光、基準とされる波長が略４０５ｎｍの波長光とされる「
Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等に準拠し
た第２レーザ波長光が回折格子（６４Ａ）を透過するときに、不要な回折光が生じるとい
うことは略防止される。
「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等に準
拠する第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子（６４Ａ）（図
４、図８、図９）の回折面部（２０ａ）を「ＤＶＤ」規格に準拠した所定波長光の第１レ
ーザ波長光が透過することによって、不要な回折光が略生じることなく分けられた「ＤＶ
Ｄ」規格に準拠する第１レーザ波長光の２本の第１サブビームは、光検出器（７３Ａ）（
図７）に備えられた第１受光領域（７４）の１つの第１メイン受光部（７４Ａ）に対して
中心点間距離（Ｙｓ（ｃｄ））が変更された２つの第１サブ受光部（７４Ｂ、７４Ｃ）に
確実に照射される。また、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、
「ＣＢＨＤ」規格等に準拠する第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした
回折格子（６４Ａ）（図４、図８、図９）の回折面部（２０ａ）を「ＤＶＤ」規格に準拠
した所定波長光の第１レーザ波長光が透過することによって、不要な回折光が略生じるこ
となく分けられた「ＤＶＤ」規格に準拠する第１レーザ波長光の１本の第１メインビーム
は、光検出器（７３Ａ）（図７）に備えられた第１受光領域（７４）の１つの第１メイン
受光部（７４Ａ）に確実に照射される。
また、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格
等に準拠する第２レーザ波長光に対応し第２レーザ波長光を基準とした回折格子（６４Ａ
）（図４、図８、図９）の回折面部（２０ａ）を、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、
「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等に準拠した所定波長光の第２レーザ波長光が
透過したときに、不要な回折光が略生じることなく、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格
、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等に準拠した所定波長光の第２レーザ波長光
は、少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに分けられる。「Ｂｌ
ｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等に準拠する第
２レーザ波長光の２本の第２サブビームは、光検出器（７３Ａ）（図７）に備えられた従
来規格と同じ第２受光領域（７５）の２つの第２サブ受光部（７５Ｂ、７５Ｃ）に確実に
照射され、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規
格等に準拠する第２レーザ波長光の１本の第２メインビームは、光検出器（７３Ａ）に備
えられた従来規格と同じ第２受光領域（７５）の１つの第２メイン受光部（７５Ａ）に確
実に照射される。
また、図１〜図３等に示す光ピックアップ装置は、第１層ＤＬ０（図７）、第２層ＤＬ
１等の複数の信号面部Ｄａを有するメディアＤに対応可能とされている。
上記光ピックアップ装置が構成されることにより、第１層ＤＬ０（図７）、第２層ＤＬ
１等の複数の信号面部Ｄａを有するメディアＤに対する光ピックアップ装置の信号、情報
の読取り、及び／又は、第１層ＤＬ０、第２層ＤＬ１等の複数の信号面部Ｄａを有するメ
ディアＤに対する光ピックアップ装置の信号、情報の書込み等は、良好に行われる。回折
格子６４Ａ（図１〜図４、図８、図９）による不要な光の発生が抑えられた光ピックアッ
プ装置（図１〜図３）が構成されるので、光ピックアップ装置によって、複数の信号面部
Ｄａを有するメディアＤのデータ、信号、情報等の読取りが行われているときや、複数の
信号面部Ｄａを有するメディアＤにデータ、信号、情報等の書込み等が行われているとき
に、例えば不要な光の発生に起因した不具合が生じるということは回避される。
例えば、第１層ＤＬ０（図７）と第２層ＤＬ１との複数の層ＤＬ０、ＤＬ１を有するＤ
ＶＤ規格のメディアＤの第１層ＤＬ０における信号の再生または信号の記録等が行われて
いるときに、回折格子６４Ａ（図１〜図４、図８、図９）による不要な光がＤＶＤ規格の
メディアＤの第２層ＤＬ１に照射され、その結果、ＤＶＤ規格のメディアＤの第２層ＤＬ
１における不要な反射光が、光検出器７３ＡにおけるＤＶＤ受光領域７５の一方の第２サ
ブ受光部７５Ｂもしくは他方の第２サブ受光部７５Ｃの何れか一方または両方にノイズと
して入り込み、光検出器７３Ａにいわゆる層間クロストークが生じるということは回避さ
れる。
また、例えば、第１層（ＤＬ０）（図７）と第２層（ＤＬ１）との複数の層（ＤＬ０）
、（ＤＬ１）を有する「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「Ｃ
ＢＨＤ」規格等のメディア（Ｄ）の第１層（ＤＬ０）における信号の再生または信号の記
録等が行われているときに、回折格子（６４Ａ）（図１〜図４、図８、図９）による不要
な光が、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格
等のメディア（Ｄ）の第２層（ＤＬ１）に照射され、その結果、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉ
ｓｃ」規格、「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格等のメディア（Ｄ）の第２層（Ｄ
Ｌ１）における不要な反射光が、光検出器（７３Ａ）におけるＤＶＤ受光領域（７５）の
一方の第２サブ受光部（７５Ｂ）もしくは他方の第２サブ受光部（７５Ｃ）の何れか一方
または両方にノイズとして入り込み、光検出器（７３Ａ）にいわゆる層間クロストークが
生じるということは回避される。
図１１は、光ピックアップ装置に装備される回折格子の第二実施形態を示す概略図であ
る。
図１〜図３および図８に示す回折格子６４Ａに代えて、図４の右側および図１１に示す
回折格子６４Ｂが光ピックアップ装置（図１〜図３）に装備される。図１〜図３および図
８に示す回折格子６４Ａが図４の右側および図１１に示す回折格子６４Ｂに置き換えられ
たこと以外に、光ピックアップ装置および光ディスク装置に変更はない。図１〜図３およ
び図８に示す回折格子６４Ａが図４の右側および図１１に示す回折格子６４Ｂに置き換え
られた点で、実施例１と実施例２とが異なるが、回折格子６４Ａ、６４Ｂ以外の他の部分
においては、実施例１と実施例２とは、共通なものとされている。便宜上、図１〜図１０
を併用して、実施例２を説明する。また、実施例２において、実施例１にて説明したもの
と同一のものについては、同一の符号を付し、その詳細な説明を省略した。
回折格子６４Ｂは、図４に示すように、一方の半平面２１に形成された格子溝の周期構
造の位相が他方の半平面２２に形成された格子溝の周期構造の位相に対して約１８０度ず
れたＤＶＤ用回折格子部材２０が、光学ガラス板５０の一方の平面部５０ａに固着されて
構成される。光学ガラス板５０が装備されることにより、回折格子６４Ｂは、回折格子６
４Ａ（図４の左側、図８）よりも機械的強度に優れる。
まず、レーザユニット６１の第１又は第２の光源６２、６３より出射される第１又は第
２のレーザ光の波長λと、回折格子６４Ｂにおいて連続した凹部Ｓ１１から凸部Ｓ１２ま
たは凸部Ｓ１２から凹部Ｓ１１までを一周期とした格子間隔ｄと、に基づいて、上記式（
１６）によるブラッグの条件に基づく近似式によって回折角θが求められる（図１１参照
）。尚、図１１に示す説明図は、説明を容易とさせるために、便宜上、描かれた図である
。
つぎに、レーザユニット６１の発光面６１ａに含まれる第１又は第２の光源６２、６３
の現実の位置を示す第１の発光点Ｏから回折格子６４Ｂの略平滑面Ｓの裏側の凹面Ｓ２１
を構成する底面Ｓｉや凸面Ｓ２２を構成する外面Ｓiiまでの間の法線距離Ｌと、上記式（
１６）により求めた回折角θと、に基づき、レーザユニット６１の発光面６１ａ上でのサ
ブビームに関する見かけ上の第１又は第２の光源６２、６３の位置を示す第２の発光点Ｘ
を定めることができる。尚、レーザユニット６１の発光面６１ａは、回折格子６４Ｂの略
平滑面Ｓの法線Ｎに対して垂直であり、面Ｓの裏側の凹面Ｓ２１を構成する底面Ｓｉや凸
面Ｓ２２を構成する外面Ｓiiから略法線距離Ｌだけ離れた位置にある平面となっている。
そして、上記式（１７）により、レーザユニット６１の発光面６１ａ上における第１の発
光点Ｏから第２の発光点Ｘまでの間の距離Ｙｒが求められる（図１１参照）。
また、上記式（１６）および式（１７）に基づき、上記式（２０）が求められる。また
、上記式（２１）、（２２）、（２３）により、光検出器７３ＡのＤＶＤ受光領域７５に
おける受光間隔Ｙｓ（ｄｖｄ）が求められる。また、上記式（２４）、（２５）、（２６
）により、光検出器７３ＡのＣＤ受光領域７４における受光間隔Ｙｓ（ｃｄ）が求められ
る。
図１２は、光ピックアップ装置に装備される回折格子の第三実施形態を示す概略平面図
、図１３は、図１２の回折格子における光ディスク半径方向と位相差との関係を示す図で
ある。
図１〜図３および図８に示す回折格子６４Ａに代えて、図１２に示す回折格子６４Ｃが
光ピックアップ装置（図１〜図３）に装備される。図１〜図３および図８に示す回折格子
６４Ａが図１２に示す回折格子６４Ｃに置き換えられたこと以外に、光ピックアップ装置
および光ディスク装置に変更はない。図１〜図３および図８に示す回折格子６４Ａが図１
２に示す回折格子６４Ｃに置き換えられた点で、実施例１と実施例３とが異なるが、回折
格子６４Ａ、６４Ｃ以外の他の部分においては、実施例１と実施例３とは、共通なものと
されている。便宜上、図１〜図８ならびに図１６〜図２４を併用して、実施例３を説明す
る。また、実施例３において、実施例１にて説明したものと同一のものについては、同一
の符号を付し、その詳細な説明を省略した。
尚、図１６、図１７及び図１８は、光ピックアップ装置の視野特性を示す説明図、図１
９、図２０及び図２１は、光ピックアップ装置のサブ・プッシュプル信号振幅レベル特性
を示す説明図、図２２、図２３及び図２４は、光ピックアップ装置のトラッキングエラー
位相差特性を示す説明図である。
回折格子６４Ｃ（図１２）の回折面部３０ａは、第１レーザ波長光を少なくとも１本の
第１メインビームと２本の第１サブビームとに分ける回折面部３０ａと、第２レーザ波長
光を少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに分ける回折面部３０
ａと、を兼ねて、複数種類のレーザ波長光の回折に対応する１つの面部３０ａとして形成
されている。
このように回折格子６４Ｃの回折面部３０ａが形成されていれば、回折格子６４Ｃにお
ける不要な回折光の発生が抑えられるとともにレーザ光の効率の低下が防止され、更に価
格を低く抑えることが可能な光ピックアップ装置が構成される。
例えば、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０２（図２９、図３０）と、第２
レーザ波長光に対応した第２回折面部３０４と、の２つの回折面部３０２、３０４を有す
る従来の回折格子３００Ａ、３００Ｂの第１回折面部３０２を第１レーザ波長光が透過し
て、第１レーザ波長光が１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに少なくとも
分けられるときに、回折格子３００Ａ、３００Ｂの第２回折面部３０４により、第１レー
ザ波長光の第１メインビームが更に無駄に回折されるとともに第１サブビームが更に無駄
に回折され、これに伴って、第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビーム
の光の効率が低下することが懸念されていた。
また、例えば、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０２と、第２レーザ波長光
に対応した第２回折面部３０４と、の２つの回折面部３０２、３０４を有する従来の回折
格子３００Ａ、３００Ｂの第２回折面部３０４を第２レーザ波長光が透過して、第２レー
ザ波長光が１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに少なくとも分けられると
きに、回折格子３００Ａ、３００Ｂの第１回折面部３０２により、第２レーザ波長光が無
駄に回折され、これに伴って、第２レーザ波長光の光の効率が低下することが懸念されて
いた。
しかしながら、回折格子６４Ｃ（図１２）の回折面部３０ａが、第１レーザ波長光を少
なくとも１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに分ける回折面部３０ａと、
第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに分け
る回折面部３０ａと、を兼ねて複数種類のレーザ波長光の回折に対応する１つの面部３０
ａとして形成されていれば、第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビーム
が不要に回折されて第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビームの光の効
率が低下されたり、第２レーザ波長光が不要に回折されて第２レーザ波長光の光の効率が
低下されたりするということは回避される。
また、第１レーザ波長光を少なくとも１本の第１メインビームと２本の第１サブビーム
とに分ける回折面部３０ａと、第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メインビームと
２本の第２サブビームとに分ける回折面部３０ａと、を兼ねて複数種類のレーザ波長光の
回折に対応する１つの面部３０ａとして回折格子６４Ｃの回折面部３０ａが形成されてい
るので、加工部分、加工工数等が減らされた回折格子６４Ｃが構成される。回折格子６４
Ｃの加工部分、加工工数等が減らされるので、回折格子６４Ｃの価格が低く抑えられる。
これに伴って、価格を低く抑えることが可能とされた光ピックアップ装置を構成させるこ
とが可能となる。
図１２の如く、回折格子６４Ｃに、レーザユニット６１（図１〜図３）から出射される
レーザ光の一部にπラジアンの位相シフトを発生させる位相シフト領域部３１、３３（図
１２）が設けられている。回折格子６４Ｃは、略長方形状の第１領域部３１と、第１領域
部３１に隣接する略線状の第２領域部３２と、第２領域部３２に隣接する略長方形状の第
３領域部３３との少なくとも３つの領域部３１、３２、３３に分けられている。回折格子
６４Ｃは、複数の領域部３１、３２、３３に分けられている。各領域部３１、３２、３３
内で所定の周期構造が構成されている。
図１２に示す回折格子６４Ｃにおいて、第２領域部３２の位相状態が分かり易くされる
ために、便宜上、第２領域部３２は、ある程度の幅をもたせて描かれている。実際には、
回折格子６４Ｃの第２領域部３２は、例えば幅３２ｗが２０〜２００μｍ程度の細い線形
状とされる。また、回折格子６４Ｃを構成する各領域部３１、３２、３３の周期構造は、
微細な凹凸状の繰返し周期構造とされている。また、回折格子６４Ｃは、例えば略３〜１
０ｍｍ角の縦横寸法をした厚み略０．３〜３ｍｍのガラス板とされている。図１２に示す
回折格子６４Ｃが斜視されたときに、回折格子６４Ｃは、例えば図１に示す回折格子６４
Ａのように眺められる。
複数の領域部３１、３２、３３（図１２）に分けられた回折格子６４Ｃが構成されてい
れば、メディアＤ（図５、図７）の信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のエラー信
号の検出は、良好に行われ易くなる。例えば、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピッ
クアップ装置のトラッキングは、良好に行われ易くなる。回折格子６４Ｃ（図１２）が複
数の領域部３１、３２、３３に分けられて構成されることにより、メディアＤ（図５）の
信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも三個の集光スポット８０、８１、８２が照射さ
れる。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも三個の集光スポット８０、８１、８２が
各々独立して照射されるので、トラックピッチＤｔｐが異なる２種類以上のメディアＤの
記録／再生時等に、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号の検出精度が
低下するということは回避され易くなる。従って、トラッキング制御が行われ易い光ピッ
クアップ装置の提供が可能となる。
図１２の如く、回折格子６４Ｃは、第１領域部３１と、第１領域部３１に隣接し第１領
域部３１の周期構造に対し異なる周期構造を有する第２領域部３２と、第２領域部３２に
隣接し第２領域部３２の周期構造に対し異なる周期構造を有する第３領域部３３と、の３
つの領域部３１、３２、３３に分けられている。回折格子６４Ｃは、いわゆる３分割型イ
ンライングレーティングとして構成されている。
図１２に示す複数の領域部３１、３２、３３に分割された回折格子６４Ｃが光ピックア
ップ装置に装備されていれば、メディアＤ（図２、図３、図５、図７）の信号面部Ｄａに
対する光ピックアップ装置のエラー信号の検出は、良好に行われる。例えば、メディアＤ
の信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、良好に行われる。回折格
子６４Ｃ（図１２）が３つの領域部３１、３２、３３に分けられて構成されることにより
、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも３個の集光スポット８
０、８１、８２が照射される。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも３個の集光スポ
ット８０、８１、８２が各々独立して照射されるので、トラックピッチＤｔｐが異なる２
種類以上のメディアＤにデータ記録等が行われるときや、トラックピッチＤｔｐが異なる
２種類以上のメディアＤのデータ再生が行われるときに、例えば対物レンズ７０（図１〜
図３）の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号の検出精
度が低下するということは回避される。従って、トラッキング制御が行われ易い光ピック
アップ装置の提供が可能となる。
図１２の如く、回折格子６４Ｃは、第１領域部３１とされる略長方形状の一方の領域部
３１と、第３領域部３２とされる略長方形状の他方の領域部３２とを有するものとされる
。回折格子６４Ｃの第１領域部３１の幅３１ｗと、第３領域部３３の幅３３ｗとは、略等
しい幅とされている。回折格子６４Ｃの第２領域部３２により、回折格子６４Ｃは、回折
格子６４Ｃを構成する一方の領域部３１と、回折格子６４Ｃを構成する他方の領域部３２
とに分けられる。回折格子６４Ｃは、奇数分割されている。
回折格子６４Ｃを構成する略短冊状の第１領域部３１および略短冊状の第３領域部３３
の間に、回折格子６４Ｃを構成する略線状の第２領域部３２が配置されている。第１領域
部３１の周期構造に対し、第２領域部３２の周期構造は、異なる位相を有する周期構造と
されている。また、第２領域部３２の周期構造に対し、第３領域部３３の周期構造は、異
なる位相を有する周期構造とされている。第１領域部３１の周期構造に対し、第３領域部
３３の周期構造は、略１８０度ほど異なる位相を有する周期構造とされている。
これにより、回折格子６４Ｃにおける第１領域部３１と、第２領域部３２と、第３領域
部３３とが区別化されるとともに、回折格子６４Ｃおける第１領域部３１と、第３領域部
３３との位相差が明確化される。回折格子６４Ｃの第１領域部３１の周期構造に対し、回
折格子６４Ｃの第３領域部３３の周期構造が、略１８０度ほど異なる位相を有する周期構
造とされているので、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに少なくとも３個の各集光スポ
ット８０、８１、８２が良好に形成される。メディアＤの信号面部Ｄａに良好に形成され
た少なくとも３個の各集光スポット８０、８１、８２により、トラックピッチＤｔｐが異
なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、例えば対物レンズ７０（図１〜図
３）の変位に伴ってトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化するということは回避
され易くなる。
第１領域部３１（図１２）と第２領域部３２とを区切る境界線部３５により、第１領域
部３１と第２領域部３２とが分けられている。また、第２領域部３２と第３領域部３３と
を区切る境界線部３７により、第２領域部３２と第３領域部３３とが分けられている。
回折格子６４Ｃが３つの領域部に分けられて区別化されることにより、メディアＤ（図
５）の信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも３個の集光スポット８０、８１、８２が
照射される。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも３個の集光スポット８０、８１、
８２が各々独立して照射されるので、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ
装置のトラッキングは、行われ易くなる。
回折格子６４Ｃ（図１２）は、略矩形板状に形成されている。回折格子６４Ｃが平面視
されたときに、回折格子６４Ｃは、略矩形板状のものとして目視される。
縦長の略長方形状第１領域部３１と、縦長の略線状第２領域部３２と、縦長の略長方形
状第３領域部３３とが横並びに配列された状態で、回折格子６４Ｃが平面視されたときに
、回折格子６４Ｃの一領域部の位相に対し、一領域部の右側に隣接する他領域部の位相が
略右上がり階段状にずらされた場合に、他領域部の位相は、プラス（＋）側にずらされた
ものと定められる。
また、縦長の略長方形状第１領域部３１と、縦長の略線状第２領域部３２と、縦長の略
長方形状第３領域部３３とが横並びに配列された状態で、回折格子６４Ｃが平面視された
ときに、回折格子６４Ｃの一領域部の位相に対し、一領域部の右側に隣接する他領域部の
位相が略右下がり階段状にずらされた場合に、他領域部の位相は、マイナス（−）側にず
らされたものと定められる。
回折格子６４Ｃが平面視されたときに、第１領域部３１の周期構造に対し、第１領域部
３１の右側に隣接する第２領域部３２の周期構造は、プラス側にずらされた位相を有する
周期構造とされている。また、回折格子６４Ｃが平面視されたときに、第２領域部３２の
周期構造に対し、第２領域部３２の右側に隣接する第３領域部３３の周期構造は、プラス
側にずらされた位相を有する周期構造とされている。
回折格子６４Ｃは、各領域部３１、３２、３３の周期構造の各位相が順を追って段階的
にずらされて構成されている（図１３）。回折格子６４Ｃ（図１２）は、いわゆる順位相
の周期構造を備える回折格子６４Ｃとされている。
光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば図１２に示す回折格子６４Ｃにお
いて、符号や引出線や寸法線などについては略そのままとされつつ、輪郭線のみが左右反
転された回折格子（６４Ｃ）が用いられてもよい。そのようなものについて具体的に説明
すると、例えば、回折格子（６４Ｃ）が平面視されたときに、第１領域部（３１）の周期
構造に対し、第１領域部（３１）の右側に隣接する第２領域部（３２）の周期構造が、マ
イナス側にずらされた位相を有する周期構造とされてもよい。また、例えば、回折格子（
６４Ｃ）が平面視されたときに、第２領域部（３２）の周期構造に対し、第２領域部（３
２）の右側に隣接する第３領域部（３３）の周期構造が、マイナス側にずらされた位相を
有する周期構造とされてもよい。
回折格子（６４Ｃ）は、各領域部（３１、３２、３３）の周期構造の各位相が順を追っ
て段階的にずらされて構成される。回折格子（６４Ｃ）は、いわゆる順位相の周期構造を
備える回折格子（６４Ｃ）とされる。
順位相の周期構造を備える回折格子が光ピックアップ装置に装備されていれば、サブ・
プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル）が増加され、サブ・プッシュプ
ル信号振幅レベル特性（Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性）が向上され易くなる（図１９、図
２０、図２１）。Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特
性が低下するということは回避される。
メディアＤ（図１〜図３、図５）の信号面部Ｄａ（図５）に照射される少なくとも３個
の集光スポット８０、８１、８２は、メインスポット８０と、メインスポット８０を挟む
一対のサブスポット８１、８２とを含むものとされている。メインスポット８０と、サブ
スポット８１、８２とに関連した信号振幅レベルとされるＳｕｂ−ＰＰ振幅レベルは、つ
ぎの式（３７）に基づいて定められる。
また、トラッキングエラー位相差量（ＴＥ位相差量）が減少され、トラッキングエラー
位相差特性（ＴＥ位相差特性）が向上され易くなる（図２２、図２３、図２４）。ＴＥ位
相差量が増加され、ＴＥ位相差特性が低下するということは回避される。
Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が向上されるとともに、ＴＥ位相差特性が向上されるので
、この光ピックアップ装置は、デスクトップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備されて使用
されることが可能とされるとともに、ノート型もしくはラップトップ型ＰＣ用の光ディス
ク装置に装備されて使用されることも可能とされる。例えばデスクトップ型ＰＣ用の光デ
ィスク装置に用いられる光ピックアップ装置は、大きいサイズの対物レンズが使用可能と
されることから、視野特性が考慮されつつ、視野特性よりも、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特
性や、ＴＥ位相差特性のほうが、設計上、重要とされることがある。
また、トラッキングエラー視野特性（ＴＥ視野特性）の低下が抑えられるので、この光
ピックアップ装置は、デスクトップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備されて使用されるこ
とが可能とされるとともに、ノート型もしくはラップトップ型ＰＣ用の光ディスク装置に
装備されて使用されることも可能とされる。
図１２、図１３の如く、第１領域部３１の周期構造に対し、第２領域部３２の周期構造
は、略＋９０度異なる位相を有する周期構造とされている。また、第２領域部３２の周期
構造に対し、第３領域部３３の周期構造は、略＋９０度異なる位相を有する周期構造とさ
れている。第１領域部３１の周期構造に対し、第３領域部３３の周期構造は、略＋１８０
度異なる位相を有する周期構造とされている。
このように構成された回折格子６４Ｃが光ピックアップ装置に装備されていれば、Ｓｕ
ｂ−ＰＰ振幅レベル（％）が増加され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が向上する（図１９
、図２０、図２１）。Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベ
ル特性が低下するということは回避される。また、ＴＥ位相差量が減少され、ＴＥ位相差
特性が向上する（図２２、図２３、図２４）。ＴＥ位相差量が増加され、ＴＥ位相差特性
が低下するということは回避される。
位相シフト型３分割回折格子６４Ｃ（図１２）が採用されて、インラインＤＰＰ法によ
るトラッキング誤差検出法が実行される光ピックアップ装置（図１〜図３）は、ＴＥ位相
差量を小さく抑えることが可能となる（図２２、図２３、図２４）。従って、位相シフト
型３分割回折格子６４Ｃ（図１２）を備える光ピックアップ装置（図１〜図３）が装備さ
れた光ディスク装置においては、例えばトラックピッチＤｔｐ（図５）の異なるいかなる
メディアＤに対しても、安定した動作にて、メディアＤに対しデータ／情報の読出し／書
込み等が行われる。
メディアＤの信号面部Ｄａに照射されたＳｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が向上されるとと
もに、ＴＥ位相差特性が向上されるので、この光ピックアップ装置は、デスクトップ型Ｐ
Ｃ用の光ディスク装置に装備されて使用されることが可能とされるとともに、ノート型も
しくはラップトップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備されて使用されることも可能とされ
る。
また、このように構成された回折格子６４Ｃが光ピックアップ装置に装備されていれば
、トラッキングエラー振幅レベル（ＴＥ振幅レベル）（％）が大幅に減少され、ＴＥ視野
特性が著しく低下するということは回避される（図１６、図１７、図１８）。ＴＥ視野特
性の大幅な低下が抑えられるので、この光ピックアップ装置は、ノート型もしくはラップ
トップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備されて使用されることが可能とされるとともに、
デスクトップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備されて使用されることも可能とされる。ま
た、ＴＥ視野特性の大幅な低下が抑えられるので、この光ピックアップ装置は、例えば複
数の小さい対物レンズ７０を備える光ピックアップ装置として使用されることも可能とさ
れる。
対物レンズ７０（図１、図２）の瞳面部７０ａ（図２）を通過するＤＶＤ規格に準拠し
た波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの
中央部３０ｍ（図１２）の幅３２ｗは、例えば１４〜３０％、好ましくは１６〜２８％、
より好ましくは１８〜２６％、更に好ましくは１８〜２５％とされる。すなわち、ＤＶＤ
規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光が回折格子６４Ｃを通過す
るときに、回折格子６４Ｃの中央部比率Ｗｒは、例えば１４〜３０％、好ましくは１６〜
２８％、より好ましくは１８〜２６％、更に好ましくは１８〜２５％とされる（図１６〜
図２３）。
このように構成された回折格子６４Ｃが光ピックアップ装置に装備されていれば、トラ
ックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、対物レンズ
７０の変位に伴ってトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化するということは回避
され易くなる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗ
が１４％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下
される（図１６、図１７）。すなわち、ＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍ
の第２レーザ波長光が回折格子６４Ｃを通過するときに、回折格子６４Ｃの中央部比率Ｗ
ｒが１４％未満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低
下される。対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０
〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの
幅３２ｗが１６％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特
性が低下され易くなる（図１６、図１７）。すなわち、ＤＶＤ規格に準拠した波長略６３
０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光が回折格子６４Ｃを通過するときに、回折格子６４Ｃ
の中央部比率Ｗｒが１６％未満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、Ｔ
Ｅ視野特性が低下され易くなる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗ
が１８％以上とされることにより、ＴＥ振幅レベル（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特
性の低下が抑えられる。すなわち、ＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第
２レーザ波長光が回折格子６４Ｃを通過するときに、回折格子６４Ｃの中央部比率Ｗｒが
１８％以上とされることにより、ＯＢＬセンタ比（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性
の低下が抑えられる。ＯＢＬ（ｏｂｊｅｃｔｉｖｅ ｌｅｎｓ）とは、対物レンズを意味
する。
また、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜
６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅
３２ｗが３０％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕｂ−
ＰＰ振幅レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下される（図１９
、図２０）。対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３
０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍ
の幅３２ｗが２８％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕ
ｂ−ＰＰ振幅レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下され易くな
る。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗ
が２６％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）の減少が抑えられ易く
なり、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられ易くなる。具体的に説明すると、対
物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍ
の第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが２
５％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）の減少が抑えられ、Ｓｕｂ
−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられる。
また、対物レンズ７０（図２）の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略
６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃ（図１２）
の中央部３０ｍの幅３２ｗが３０％を超えて設定された場合、トラッキングエラー位相差
量（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキングエラー位相差特性（ＴＥ位相差特性）が低
下される（図２２、図２３）。具体的に説明すると、対物レンズ７０（図２）の瞳面部７
０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直
径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃ（図１２）の中央部３０ｍの幅３２ｗが２８％を超えて
設定された場合、トラッキングエラー位相差量（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキン
グエラー位相差特性（ＴＥ位相差特性）が低下され易くなる（図２２、図２３）。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗ
が２６％以内とされることにより、ＴＥ位相差量の増加が抑えられ易くなり、ＴＥ位相差
特性の低下が抑えられ易くなる。具体的に説明すると、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを
通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０
ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが２５％以内とされることにより、
ＴＥ位相差量の増加が抑えられ、ＴＥ位相差特性の低下が抑えられる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗ
が例えば１４〜３０％好ましくは１６〜２８％より好ましくは１８〜２６％更に好ましく
は１８〜２５％に設定されることにより、ＴＥ振幅レベル（図１６、図１７）と、Ｓｕｂ
−ＰＰ振幅レベル（図１９、図２０）と、ＴＥ位相差量（図２２、図２３）とが適度な値
に設定され易くなる。
例えば、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０
〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの
幅３２ｗが略２０％に設定されることにより、ＴＥ振幅レベル（図１６、図１７）と、Ｓ
ｕｂ−ＰＰ振幅レベル（図１９、図２０）と、ＴＥ位相差量（図２２、図２３）とが最適
な値に設定され易くなる。ＴＥ振幅レベルと、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベルと、ＴＥ位相差量
とが、バランスよく適度な値に設定されるので、光ピックアップ装置のトラッキング制御
が行われ易くなる。
対物レンズ７０（図１、図３）の瞳面部７０ａ（図３）を通過するＣＤ規格に準拠した
波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中
央部３０ｍ（図１２）の幅３２ｗは、例えば１０％以上４０％以下、好ましくは１２％以
上３０％以下、設計／仕様などにより１４％以上２５％以下、また設計／仕様などにより
１６％以上２０％以下とされる。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光が回折格子６４Ｃを通過するときに、回折格子６４Ｃの中央部比率
Ｗｒは、例えば１０％以上４０％以下、好ましくは１２％以上３０％以下、設計／仕様な
どにより１４％以上２５％以下、また設計／仕様などにより１６％以上２０％以下とされ
る（図１８、図２１、図２４）。
このように構成された回折格子６４Ｃが光ピックアップ装置に装備されていれば、トラ
ックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、対物レンズ
７０の変位に伴ってトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化するということは回避
され易くなる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが
１０％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下さ
れる（図１８）。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ
波長光が回折格子６４Ｃを通過するときに、回折格子６４Ｃの中央部比率Ｗｒが１０％未
満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下される。対
物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの
第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが１２
％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下され易
くなる（図１８）。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レー
ザ波長光が回折格子６４Ｃを通過するときに、回折格子６４Ｃの中央部比率Ｗｒが１２％
未満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下され易く
なる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが
１４％以上とされることにより、ＴＥ振幅レベル（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性
の低下が抑えられる。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レ
ーザ波長光が回折格子６４Ｃを通過するときに、回折格子６４Ｃの中央部比率Ｗｒが１４
％以上とされることにより、ＯＢＬセンタ比（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性の低
下が抑えられる。具体的に説明すると、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規
格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格
子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが１６％以上とされることにより、ＴＥ振幅レベル（
％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性の低下が確実に抑えられる。すなわち、ＣＤ規格に
準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光が回折格子６４Ｃを通過するとき
に、回折格子６４Ｃの中央部比率Ｗｒが１６％以上とされることにより、ＯＢＬセンタ比
（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性の低下が確実に抑えられる。
また、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８
４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３
２ｗが４０％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕｂ−Ｐ
Ｐ振幅レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下される（図２１）
。対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが
３０％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕｂ−ＰＰ振幅
レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下され易くなる。
設計／仕様などにより、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した
波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中
央部３０ｍの幅３２ｗが２５％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）
の減少が抑えられ易くなり、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられ易くなる。ま
た、設計／仕様などにより、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠し
た波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの
中央部３０ｍの幅３２ｗが２０％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％
）の減少が抑えられ、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられる。
また、対物レンズ７０（図３）の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７
６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃ（図１２）の
中央部３０ｍの幅３２ｗが４０％を超えて設定された場合、トラッキングエラー位相差量
（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキングエラー位相差特性（ＴＥ位相差特性）が低下
される（図２４）。具体的に説明すると、対物レンズ７０（図３）の瞳面部７０ａを通過
するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対
し、回折格子６４Ｃ（図１２）の中央部３０ｍの幅３２ｗが３０％を超えて設定された場
合、トラッキングエラー位相差量（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキングエラー位相
差特性（ＴＥ位相差特性）が低下され易くなる（図２４）。
設計／仕様などにより、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した
波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中
央部３０ｍの幅３２ｗが２５％以内とされることにより、ＴＥ位相差量の増加が抑えられ
易くなり、ＴＥ位相差特性の低下が抑えられ易くなる。また、設計／仕様などにより、対
物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの
第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが２０
％以内とされることにより、ＴＥ位相差量の増加が抑えられ、ＴＥ位相差特性の低下が抑
えられる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗが
、例えば１０％以上４０％以下、好ましくは１２％以上３０％以下、設計／仕様などによ
り１４％以上２５％以下、また設計／仕様などにより１６％以上２０％以下に設定される
ことにより、ＴＥ振幅レベル（図１８）と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（図２１）と、ＴＥ
位相差量（図２４）とが適度な値に設定され易くなる。
以上に基づき、例えば下式（３８）及び下式（３９）が設定される。下式（３８）及び
下式（３９）を設定するために、まず、回折格子６４Ｃの中央部３０ｍの幅３２ｗをＢ１
と定める。また、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７
６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃをＢ２と定める。また、対物レンズ７
０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レー
ザ波長光の直径７０ｂをＢ３と定める。
このように定義されたときに、下式（３８）及び下式（３９）を満足する性能を発揮す
る光ピックアップ装置を構成させる。
Ｂ１／Ｂ２が、例えば０．１０以上０．４０以下、好ましくは０．１２以上０．３０以
下、設計／仕様などにより０．１４以上０．２５以下、また設計／仕様などにより０．１
６以上０．２０以下に設定されることにより、ＣＤ規格に準拠した光ディスクＤに対する
光ピックアップ装置のデータ／情報／信号の読取り／書込み等が行われるときに、視野特
性の最低値「ＤＰＰ＿Ｌ」と、メインプッシュプル信号の信号レベルに対するサブプッシ
ュプル信号の信号レベルの割合「ＳＰＰ／ＭＰＰ」とが適度な値に設定され易くなる。
また、Ｂ１／Ｂ３が、例えば０．１４〜０．３０、好ましくは０．１６〜０．２８、よ
り好ましくは０．１８〜０．２６、更に好ましくは０．１８〜０．２５に設定されること
により、ＤＶＤ規格に準拠した光ディスクＤに対する光ピックアップ装置のデータ／情報
／信号の読取り／書込み等が行われるときに、視野特性の最低値「ＤＰＰ＿Ｌ」と、メイ
ンプッシュプル信号の信号レベルに対するサブプッシュプル信号の信号レベルの割合「Ｓ
ＰＰ／ＭＰＰ」とが適度な値に設定され易くなる。
回折格子６４Ｃ（図１２）の回折格子６４Ｃの第２領域部３２の幅３２ｗは、２０〜２
００μｍ、好ましくは６０〜１６０μｍ、より好ましくは９６〜１４４μｍに設定される
。すなわち、回折格子６４Ｃの分割部幅３２ｗは、２０〜２００μｍ、好ましくは６０〜
１６０μｍ、より好ましくは９６〜１４４μｍに設定される。
これにより、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは
、良好に行われ易くなる。トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤの記録／
再生時等に、例えば対物レンズ７０の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、Ｓ
Ｅ２が劣化するということは回避され易くなる。
回折格子６４Ｃの第２領域部３２の幅３２ｗが２０μｍ未満の狭い幅とされた場合や、
回折格子６４Ｃの第２領域部３２の幅３２ｗが２００μｍを超える広い幅とされた場合に
は、ＴＥ視野特性と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性と、ＴＥ位相差特性とのバランスが崩
される。各特性のバランスが崩されると、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化
されて、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングが正確に
行われ難くなる。
例えば、回折格子６４Ｃの第２領域部３２の幅３２ｗが６０〜１６０μｍ程度に設定さ
れることにより、ＴＥ視野特性と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性と、ＴＥ位相差特性との
バランスが略保たれ易くなる。これに伴って、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピッ
クアップ装置のトラッキングは、正確に行われ易くなる。
好ましくは、回折格子６４Ｃの第２領域部３２の幅３２ｗが９６〜１４４μｍの範囲内
に設定されることにより、ＴＥ視野特性と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性と、ＴＥ位相差
特性とのバランスが保たれる。これにより、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２の劣
化は回避される。従って、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラ
ッキングは、正確に行われる。
この光ピックアップ装置（図１〜図３）は、たとえば、平面視略矩形の回折格子６４Ｃ
（図１２）と、少なくとも３本の光束を集光して、メディアＤ（図１〜図３、図５）の信
号面部Ｄａ（図５）に、各々独立した少なくとも３個の集光スポット８０、８１、８２を
照射させる対物レンズ７０（図１〜図３）と、メディアＤにおける３個の各集光スポット
８０、８１、８２（図５）の反射光を受光する光検出器７３Ａ（図１〜図３、図５〜図７
）とを備えて構成される。
このように光ピックアップ装置が構成されていれば、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄ
ａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、精度よく行われる。トラックピッチＤ
ｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、対物レンズ７０（図１〜
図３）の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２の振幅が劣化することや
、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２にオフセットが残留するということは回避され
易くなる。
位相シフト型３分割回折格子６４Ｃ（図１２）を備える光ピックアップ装置が構成され
ることにより、ＤＶＤ−ＲＡＭに対する光ピックアップ装置のデータ再生動作またはデー
タ記録動作は、確実に行われる。また、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷに対する光ピックアッ
プ装置のデータ再生動作またはデータ記録動作も、確実に行われる。
図１４は、光ピックアップ装置に装備される回折格子の第四実施形態を示す概略平面図
、図１５は、図１４の回折格子における光ディスク半径方向と位相差との関係を示す図で
ある。
図１〜図３および図８に示す回折格子６４Ａに代えて、図１４に示す回折格子６４Ｄが
光ピックアップ装置（図１〜図３）に装備される。図１〜図３および図８に示す回折格子
６４Ａが図１４に示す回折格子６４Ｄに置き換えられたこと以外に、光ピックアップ装置
および光ディスク装置に変更はない。図１〜図３および図８に示す回折格子６４Ａが図１
４に示す回折格子６４Ｄに置き換えられた点で、実施例１と実施例４とが異なるが、回折
格子６４Ａ、６４Ｄ以外の他の部分においては、実施例１と実施例４とは、共通なものと
されている。便宜上、図１〜図８ならびに図１６〜図２４を併用して、実施例４を説明す
る。また、実施例４において、実施例１にて説明したものと同一のものについては、同一
の符号を付し、その詳細な説明を省略した。
回折格子６４Ｄ（図１４）の回折面部４０ａは、第１レーザ波長光を少なくとも１本の
第１メインビームと２本の第１サブビームとに分ける回折面部４０ａと、第２レーザ波長
光を少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに分ける回折面部４０
ａと、を兼ねて、複数種類のレーザ波長光の回折に対応する１つの面部４０ａとして形成
されている。
このように回折格子６４Ｄの回折面部４０ａが形成されていれば、回折格子６４Ｄにお
ける不要な回折光の発生が抑えられるとともにレーザ光の効率の低下が防止され、更に価
格を低く抑えることが可能な光ピックアップ装置が構成される。
例えば、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０２（図２９、図３０）と、第２
レーザ波長光に対応した第２回折面部３０４と、の２つの回折面部３０２、３０４を有す
る従来の回折格子３００Ａ、３００Ｂの第１回折面部３０２を第１レーザ波長光が透過し
て、第１レーザ波長光が１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに少なくとも
分けられるときに、回折格子３００Ａ、３００Ｂの第２回折面部３０４により、第１レー
ザ波長光の第１メインビームが更に無駄に回折されるとともに第１サブビームが更に無駄
に回折され、これに伴って、第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビーム
の光の効率が低下することが懸念されていた。
また、例えば、第１レーザ波長光に対応した第１回折面部３０２と、第２レーザ波長光
に対応した第２回折面部３０４と、の２つの回折面部３０２、３０４を有する従来の回折
格子３００Ａ、３００Ｂの第２回折面部３０４を第２レーザ波長光が透過して、第２レー
ザ波長光が１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに少なくとも分けられると
きに、回折格子３００Ａ、３００Ｂの第１回折面部３０２により、第２レーザ波長光が無
駄に回折され、これに伴って、第２レーザ波長光の光の効率が低下することが懸念されて
いた。
しかしながら、回折格子６４Ｄ（図１４）の回折面部４０ａが、第１レーザ波長光を少
なくとも１本の第１メインビームと２本の第１サブビームとに分ける回折面部４０ａと、
第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メインビームと２本の第２サブビームとに分け
る回折面部４０ａと、を兼ねて複数種類のレーザ波長光の回折に対応する１つの面部４０
ａとして形成されていれば、第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビーム
が不要に回折されて第１レーザ波長光の第１メインビームおよび第１サブビームの光の効
率が低下されたり、第２レーザ波長光が不要に回折されて第２レーザ波長光の光の効率が
低下されたりするということは回避される。
また、第１レーザ波長光を少なくとも１本の第１メインビームと２本の第１サブビーム
とに分ける回折面部４０ａと、第２レーザ波長光を少なくとも１本の第２メインビームと
２本の第２サブビームとに分ける回折面部４０ａと、を兼ねて複数種類のレーザ波長光の
回折に対応する１つの面部４０ａとして回折格子６４Ｄの回折面部４０ａが形成されてい
るので、加工部分、加工工数等が減らされた回折格子６４Ｄが構成される。回折格子６４
Ｄの加工部分、加工工数等が減らされるので、回折格子６４Ｄの価格が低く抑えられる。
これに伴って、価格を低く抑えることが可能とされた光ピックアップ装置を構成させるこ
とが可能となる。
図１４の如く、回折格子６４Ｄに、レーザユニット６１（図１〜図３）から出射される
レーザ光の一部にπラジアンの位相シフトを発生させる位相シフト領域部４１、４４（図
１４）が設けられている。回折格子６４Ｄは、略長方形状の第１領域部４１と、第１領域
部４１に隣接する略線状の第２領域部４２と、第２領域部４２に隣接する略線状の第３領
域部４３と、第３領域部４３に隣接する略長方形状の第４領域部４４との少なくとも４つ
の領域部４１、４２、４３、４４に分けられている。回折格子６４Ｄは、複数の領域部４
１、４２、４３、４４に分けられている。各領域部４１、４２、４３、４４内で所定の周
期構造が構成されている。
図１４に示す回折格子６４Ｄにおいて、第２領域部４２の位相状態と、第３領域部４３
の位相状態とが分かり易くされるために、便宜上、第２領域部４２および第３領域部４３
は、ある程度の幅をもたせて描かれている。実際には、回折格子６４Ｄの第２領域部４２
および回折格子６４Ｄの第３領域部４３は、例えば幅４０ｗが２０〜２００μｍ程度の細
い線形状とされる。また、回折格子６４Ｄを構成する各領域部４１、４２、４３、４４の
周期構造は、微細な凹凸状の繰返し周期構造とされている。また、回折格子６４Ｄは、例
えば略３〜１０ｍｍ角の縦横寸法をした厚み略０．３〜３ｍｍのガラス板とされている。
図１４に示す回折格子６４Ｄが斜視されたときに、回折格子６４Ｄは、例えば図１に示す
回折格子６４Ａのように眺められる。
複数の領域部４１、４２、４３、４４（図１４）に分けられた回折格子６４Ｄが構成さ
れていれば、メディアＤ（図５、図７）の信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のエ
ラー信号の検出は、良好に行われ易くなる。例えば、メディアＤの信号面部Ｄａに対する
光ピックアップ装置のトラッキングは、良好に行われ易くなる。回折格子６４Ｄ（図１４
）が複数の領域部４１、４２、４３、４４に分けられて構成されることにより、メディア
Ｄ（図５）の信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも三個の集光スポット８０、８１、
８２が照射される。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも三個の集光スポット８０、
８１、８２が各々独立して照射されるので、トラックピッチＤｔｐが異なる２種類以上の
メディアＤの記録／再生時等に、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号
の検出精度が低下するということは回避され易くなる。従って、トラッキング制御が行わ
れ易い光ピックアップ装置の提供が可能となる。
図１４の如く、回折格子６４Ｄは、偶数の領域部４１、４２、４３、４４に分けられて
いる。
偶数の領域部４１、４２、４３、４４に分けられた回折格子６４Ｄが構成されていれば
、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに形成される集光スポット８０、８１、８２は、精
度のよい集光スポット８０、８１、８２として形成される。例えば、回折格子６４Ｄ（図
１４）の第２領域部４２と、第２領域部４２に隣接する第３領域部４３との境界線部４６
によって、第１領域部４１および第１領域部４１に隣接する第２領域部４２を備える一方
の領域部４８と、第３領域部４３および第３領域部４３に隣接する第４領域部４４を備え
る他方の領域部４９と、に回折格子６４Ｄが少なくとも２等分されて偶数分割されている
ので、光ピックアップ装置に回折格子６４Ｄが装備されるときに、回折格子６４Ｄに当て
られる光は、回折格子６４Ｄの一方の領域部４８と、回折格子６４Ｄの他方の領域部４９
とに、略２等分された状態に当てられ易くなる。回折格子６４Ｄの一方の領域部４８と、
回折格子６４Ｄの他方の領域部４９とに、光が略２等分とされた状態に当てられ易くなる
ことにより、回折格子６４Ｄは、光ピックアップ装置に精度よく備えられ易くなる。従っ
て、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに精度よく集光スポット８０、８１、８２が形成
され易くなる。これに伴って、トラックピッチＤｔｐが異なる２種類以上のメディアＤの
記録／再生時等におけるトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号の検出精
度が向上する。また、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキ
ングは、精度よく行われ易くなる。
図１４の如く、回折格子６４Ｄは、第１領域部４１と、第１領域部４１に隣接し第１領
域部４１の周期構造に対し異なる周期構造を有する第２領域部４２と、第２領域部４２に
隣接し第２領域部４２の周期構造に対し異なる周期構造を有する第３領域部４３と、第３
領域部４３に隣接し第３領域部４３の周期構造に対し異なる周期構造を有する第４領域部
４４と、の少なくとも４つの領域部４１、４２、４３、４４に分けられている。回折格子
６４Ｄは、いわゆる４分割型インライングレーティングとして構成されている。
図１４に示す複数の領域部４１、４２、４３、４４に分割された回折格子６４Ｄが光ピ
ックアップ装置に装備されていれば、メディアＤ（図２、図３、図５、図７）の信号面部
Ｄａに対する光ピックアップ装置のエラー信号の検出は、良好に行われる。例えば、メデ
ィアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、良好に行われる。
回折格子６４Ｄ（図１４）が４つの領域部４１、４２、４３、４４に分けられて構成され
ることにより、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも３個の集
光スポット８０、８１、８２が照射される。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも３
個の集光スポット８０、８１、８２が各々独立して照射されるので、トラックピッチＤｔ
ｐが異なる２種類以上のメディアＤにデータ記録等が行われるときや、トラックピッチＤ
ｔｐが異なる２種類以上のメディアＤのデータ再生が行われるときに、例えば対物レンズ
７０（図１〜図３）の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー
信号の検出精度が低下するということは回避される。従って、トラッキング制御が行われ
易い光ピックアップ装置の提供が可能となる。
図１４の如く、回折格子６４Ｄは、第１領域部４１および第１領域部４１に隣接する第
２領域部４２を備える略長方形状の一方の領域部４８と、第３領域部４３および第３領域
部４３に隣接する第４領域部４４を備える略長方形状の他方の領域部４９とを有するもの
とされる。回折格子６４Ｄの第１領域部４１の幅４１ｗと、第４領域部４４の幅４４ｗと
は、略等しい幅とされている。また、回折格子６４Ｄの第２領域部４２の幅４２ｗと、第
３領域部４３の幅４３ｗとは、略等しい幅とされている。回折格子６４Ｄの第２領域部４
２と、この第２領域部４２に隣接する回折格子６４Ｄの第３領域部４３との境界線部４６
により、回折格子６４Ｄは、回折格子６４Ｄを構成する一方の領域部４８と、回折格子６
４Ｄを構成する他方の領域部４９とに２等分される。回折格子６４Ｄは、偶数分割されて
いる。
これにより、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに形成される集光スポット８０、８１
、８２は、精度のよい集光スポット８０、８１、８２として形成される。偶数分割された
回折格子６４Ｄ（図１４）の第２領域部４２と、第２領域部４２に隣接する第３領域部４
３との境界線部４６によって、第１領域部４１および第１領域部４１に隣接する第２領域
部４２を備える一方の領域部４８と、第３領域部４３および第３領域部４３に隣接する第
４領域部４４を備える他方の領域部４９とに回折格子６４Ｄが２等分されるので、光ピッ
クアップ装置のハウジング（不図示）に回折格子６４Ｄが装備されるときに、レーザユニ
ット６１（図１〜図３）から出射され回折格子６４Ｄに当てられたレーザ光は、例えば不
図示の光軸調整用カメラなどにより、容易に光軸調整される。レーザユニット６１から出
射され回折格子６４Ｄに当てられたのちに対物レンズ７０を透過したレーザ光は、例えば
光軸調整用カメラなどが用いられて観察可能とされる。
図１４に示す４分割型回折格子６４Ｄにおいては、回折格子６４Ｄの略中央を２等分さ
せて、略長方形状の一方の領域部４８と、略長方形状の他方の領域部４９とを構成させる
境界線部４６が回折格子６４Ｄに設けられているので、光軸調整用カメラなどが用いられ
てレーザ光の光軸調整が行われるときに、レーザ光は、回折格子６４Ｄを構成する略長方
形状の一方の領域部４８と、回折格子６４Ｄを構成する略長方形状の他方の領域部４９と
に、略２等分された状態に当てられ易くなる。
回折格子６４Ｄを構成する略長方形状の一方の領域部４８と、回折格子６４Ｄを構成す
る略長方形状の他方の領域部４９とに、レーザ光が略２等分とされた状態に当てられ易く
なることにより、回折格子６４Ｄは、光ピックアップ装置のハウジングに精度よく位置決
め調整されつつ備えられ易くなる。従って、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに精度よ
く集光スポット８０、８１、８２が形成され易くなる。これに伴って、メディアＤの信号
面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、精度よく行われ易くなる。
回折格子６４Ｄの第２領域部４２の周期構造に対し、回折格子６４Ｄの第３領域部４３
の周期構造は、３〜１８０度の範囲内の異なる位相を有する周期構造とされる。
これにより、メディアＤの信号面部Ｄａに形成される集光スポット８０、８１、８２は
、より精度の高い集光スポット８０、８１、８２として形成され易くなる。回折格子６４
Ｄを構成する第２領域部４２の周期構造に対し、回折格子６４Ｄを構成する第３領域部４
３の周期構造は、３〜１８０度の範囲内の異なる位相を有する周期構造とされているので
、回折格子６４Ｄの第２領域部４２と、第２領域部４２に隣接する回折格子６４Ｄの第３
領域部４３との境界線部４６が略明確化される。
第２領域部４２の周期構造に対し、第３領域部４３の周期構造が３度未満の異なる位相
を有する周期構造とされた場合、第２領域部４２と、第３領域部４３との境界線部４６が
明確化されない。第２領域部４２の周期構造に対し、第３領域部４３の周期構造が１８０
度の異なる位相を有する周期構造とされたときに、第２領域部４２と、第３領域部４３と
の境界線部４６は、最も明確化される。第２領域部４２の周期構造に対し、第３領域部４
３の周期構造が、例えば３〜９０度の範囲内の異なる位相を有する周期構造とされた場合
に、第２領域部４２と、第３領域部４３との境界線部４６が明確化されつつ、適度な特性
を備えた回折格子６４Ｄが形成される。
回折格子６４Ｄの第２領域部４２と、回折格子６４Ｄの第３領域部４３との境界線部４
６が略明確化されるので、第１領域部４１および第１領域部４１に隣接する第２領域部４
２を備える回折格子６４Ｄの一方の領域部４８と、第３領域部４３および第３領域部４３
に隣接する第４領域部４４を備える回折格子６４Ｄの他方の領域部４９との境界線部４６
が明確化される。従って、回折格子６４Ｄの一方の領域部４８と、回折格子６４Ｄの他方
の領域部４９とに、レーザ光が略２等分された状態に当てられる。回折格子６４Ｄの一方
の領域部４８と、回折格子６４Ｄの他方の領域部４９とに、レーザ光が略２等分された状
態に当てられたときに、光ピックアップ装置のハウジングに回折格子６４Ｄが精度よく装
備される。
回折格子６４Ｄを構成する略短冊状の第１領域部４１および略短冊状の第４領域部４４
の間に、回折格子６４Ｄを構成する略線状の第２領域部４２および略線状の第３領域部４
３が配置されている。第１領域部４１の周期構造に対し、第２領域部４２の周期構造は、
異なる位相を有する周期構造とされている。また、第２領域部４２の周期構造に対し、第
３領域部４３の周期構造は、異なる位相を有する周期構造とされている。また、第３領域
部４３の周期構造に対し、第４領域部４４の周期構造は、異なる位相を有する周期構造と
されている。第１領域部４１の周期構造に対し、第４領域部４４の周期構造は、略１８０
度ほど異なる位相を有する周期構造とされている。
これにより、回折格子６４Ｄにおける第１領域部４１と、第２領域部４２と、第３領域
部４３と、第４領域部４４とが区別化されるとともに、回折格子６４Ｄおける第１領域部
４１と、第４領域部４４との位相差が明確化される。回折格子６４Ｄの第１領域部４１の
周期構造に対し、回折格子６４Ｄの第４領域部４４の周期構造が、略１８０度ほど異なる
位相を有する周期構造とされているので、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄａに少なくと
も３個の各集光スポット８０、８１、８２が良好に形成される。メディアＤの信号面部Ｄ
ａに良好に形成された少なくとも３個の各集光スポット８０、８１、８２により、トラッ
クピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、例えば対物レ
ンズ７０（図１〜図３）の変位に伴ってトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化す
るということは回避され易くなる。
第１領域部４１（図１４）と第２領域部４２とを区切る境界線部４５により、第１領域
部４１と第２領域部４２とが分けられている。また、第２領域部４２と第３領域部４３と
を区切る境界線部４６により、第２領域部４２と第３領域部４３とが分けられている。ま
た、第３領域部４３と第４領域部４４とを区切る境界線部４７により、第３領域部４３と
第４領域部４４とが分けられている。
第１領域部４１の周期構造に対し、第２領域部４２の周期構造は、３０〜１８０度の範
囲内の異なる位相を有する周期構造とされる。また、第２領域部４２の周期構造に対し、
第３領域部４３の周期構造は、３〜１８０度の範囲内の異なる位相を有する周期構造とさ
れる。また、第３領域部４３の周期構造に対し、第４領域部４４の周期構造は、３０〜１
８０度の範囲内の異なる位相を有する周期構造とされる。
これにより、回折格子６４Ｄにおける第１領域部４１と、第２領域部４２と、第３領域
部４３と、第４領域部４４とが、略明確に区別化される。回折格子６４Ｄを構成する第１
領域部４１の周期構造に対し、回折格子６４Ｄを構成する第２領域部４２の周期構造は、
３０〜１８０度の範囲内の異なる位相を有する周期構造とされているので、回折格子６４
Ｄの第１領域部４１と、回折格子６４Ｄの第２領域部４２とが明確に区別化される。また
、回折格子６４Ｄを構成する第２領域部４２の周期構造に対し、回折格子６４Ｄを構成す
る第３領域部４３の周期構造は、３〜１８０度の範囲内の異なる位相を有する周期構造と
されているので、回折格子６４Ｄの第２領域部４２と、回折格子６４Ｄの第３領域部４３
とが略区別化される。また、回折格子６４Ｄを構成する第３領域部４３の周期構造に対し
、回折格子６４Ｄを構成する第４領域部４４の周期構造は、３０〜１８０度の範囲内の異
なる位相を有する周期構造とされているので、回折格子６４Ｄの第３領域部４３と、回折
格子６４Ｄの第４領域部４４とが明確に区別化される。
回折格子６４Ｄが４つの領域部に分けられて区別化されることにより、メディアＤ（図
５）の信号面部Ｄａに、各々独立した少なくとも３個の集光スポット８０、８１、８２が
照射される。メディアＤの信号面部Ｄａに、少なくとも３個の集光スポット８０、８１、
８２が各々独立して照射されるので、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ
装置のトラッキングは、行われ易くなる。また、各領域部の周期構造の位相が、定められ
た数値の範囲内に適宜設定されることにより、回折格子６４Ｄ（図１４）の設計自由度が
向上するとともに、光ピックアップ装置の設計自由度も向上する。従って、使用される部
位に対応して最適な特性が発揮され易い光ピックアップ装置が構成される。
回折格子６４Ｄは、略矩形板状に形成されている。回折格子６４Ｄが平面視されたとき
に、回折格子６４Ｄは、略矩形板状のものとして目視される。
縦長の略長方形状第１領域部４１と、縦長の略線状第２領域部４２と、縦長の略線状第
３領域部４３と、縦長の略長方形状第４領域部４４とが横並びに配列された状態で、回折
格子６４Ｄが平面視されたときに、回折格子６４Ｄの一領域部の位相に対し、一領域部の
右側に隣接する他領域部の位相が略右上がり階段状にずらされた場合に、他領域部の位相
は、プラス（＋）側にずらされたものと定められる。
また、縦長の略長方形状第１領域部４１と、縦長の略線状第２領域部４２と、縦長の略
線状第３領域部４３と、縦長の略長方形状第４領域部４４とが横並びに配列された状態で
、回折格子６４Ｄが平面視されたときに、回折格子６４Ｄの一領域部の位相に対し、一領
域部の右側に隣接する他領域部の位相が略右下がり階段状にずらされた場合に、他領域部
の位相は、マイナス（−）側にずらされたものと定められる。
回折格子６４Ｄが平面視されたときに、第１領域部４１の周期構造に対し、第１領域部
４１の右側に隣接する第２領域部４２の周期構造は、プラス側にずらされた位相を有する
周期構造とされている。また、回折格子６４Ｄが平面視されたときに、第２領域部４２の
周期構造に対し、第２領域部４２の右側に隣接する第３領域部４３の周期構造は、マイナ
ス側にずらされた位相を有する周期構造とされている。また、回折格子６４Ｄが平面視さ
れたときに、第３領域部４３の周期構造に対し、第３領域部４３の右側に隣接する第４領
域部４４の周期構造は、プラス側にずらされた位相を有する周期構造とされている。
回折格子６４Ｄは、第１領域部４１、第２領域部４２、第４領域部４４の周期構造の位
相に対し、第３領域部４３の周期構造の位相のみ位相方向が逆にずらされて構成されてい
る（図１５）。回折格子６４Ｄ（図１４）は、いわゆる逆位相の周期構造を備える回折格
子６４Ｄとされている。
光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば図１４に示す回折格子６４Ｄにお
いて、符号や引出線や寸法線などについては略そのままとされつつ、輪郭線のみが境界線
部（４６）を中心に左右反転された回折格子（６４Ｄ）が用いられてもよい。そのような
ものについて具体的に説明すると、例えば、回折格子（６４Ｄ）が平面視されたときに、
第１領域部（４１）の周期構造に対し、第１領域部（４１）の右側に隣接する第２領域部
（４２）の周期構造が、マイナス側にずらされた位相を有する周期構造とされてもよい。
また、例えば、回折格子（６４Ｄ）が平面視されたときに、第２領域部（４２）の周期構
造に対し、第２領域部（４２）の右側に隣接する第３領域部（４３）の周期構造が、プラ
ス側にずらされた位相を有する周期構造とされてもよい。また、例えば、回折格子（６４
Ｄ）が平面視されたときに、第３領域部（４３）の周期構造に対し、第３領域部（４３）
の右側に隣接する第４領域部（４４）の周期構造が、マイナス側にずらされた位相を有す
る周期構造とされてもよい。
回折格子（６４Ｄ）は、第１領域部（４１）、第２領域部（４２）、第４領域部（４４
）の周期構造の位相に対し、第３領域部（４３）の周期構造の位相のみ位相方向が逆にず
らされて構成される。回折格子（６４Ｄ）は、いわゆる逆位相の周期構造を備える回折格
子（６４Ｄ）とされる。
逆位相の周期構造を備える回折格子が光ピックアップ装置に装備されていれば、ＴＥ振
幅レベル（％）が増加され、ＴＥ視野特性が向上され易くなる（図１６、図１７、図１８
）。ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下するということは回避される
。ＴＥ視野特性が向上されるので、この光ピックアップ装置は、ノート型もしくはラップ
トップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備されることが好ましい。また、ＴＥ視野特性が向
上されるので、この光ピックアップ装置は、例えば複数の小さい対物レンズ７０を備える
光ピックアップ装置として用いられることが好ましい。ノート型もしくはラップトップ型
ＰＣ用の光ディスク装置に用いられる光ピックアップ装置や、複数の対物レンズ７０を備
える光ピックアップ装置は、小さいサイズの対物レンズが使用されることから、主に視野
特性が重要とされる。
尚、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、この光ピックアップ装置に、順位相
の周期構造を備える４分割型回折格子（不図示）が装備されてもよい。また、光ピックア
ップ装置の設計／仕様などにより、この光ピックアップ装置は、デスクトップ型ＰＣ用の
光ディスク装置に装備されて使用されてもよい。
図１４、図１５の如く、第１領域部４１の周期構造に対し、第２領域部４２の周期構造
は、略＋１２０度異なる位相を有する周期構造とされている。また、第２領域部４２の周
期構造に対し、第３領域部４３の周期構造は、略−６０度異なる位相を有する周期構造と
されている。第１領域部４１の周期構造に対し、第３領域部４３の周期構造は、略＋６０
度異なる位相を有する周期構造とされている。また、第３領域部４３の周期構造に対し、
第４領域部４４の周期構造は、略＋１２０度異なる位相を有する周期構造とされている。
第１領域部４１の周期構造に対し、第４領域部４４の周期構造は、略＋１８０度異なる位
相を有する周期構造とされている。
このように構成された回折格子６４Ｄが光ピックアップ装置に装備されていれば、ＴＥ
振幅レベル（％）が増加され、ＴＥ視野特性が大幅に向上する（図１６、図１７、図１８
）。ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下するということは回避される
。この光ピックアップ装置のＴＥ視野特性は、３つの位相領域部３１、３２、３３（図１
２）に分けられた回折格子６４Ｃを備える光ピックアップ装置のＴＥ視野特性よりも、大
幅に向上する（図１６、図１７、図１８）。ＴＥ視野特性が大幅に向上されるので、この
光ピックアップ装置は、ノート型もしくはラップトップ型ＰＣ用の光ディスク装置に装備
されることが好ましい。また、ＴＥ視野特性が大幅に向上されるので、この光ピックアッ
プ装置は、例えば複数の小さい対物レンズ７０を備える光ピックアップ装置として用いら
れることが好ましい。
回折格子６４Ｄ（図１４）の第２領域部４２と、第３領域部４３とが合わせられた領域
部４２、４３が、回折格子６４Ｄの縦長の中央部４０ｍとされる。対物レンズ７０（図１
、図２）の瞳面部７０ａ（図２）を通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍ（図１４）
の幅４０ｗは、例えば１４〜３０％、好ましくは１６〜２８％、より好ましくは１８〜２
６％、更に好ましくは１８〜２５％とされる。すなわち、ＤＶＤ規格に準拠した波長略６
３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光が回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４
Ｄの中央部比率Ｗｒは、例えば１４〜３０％、好ましくは１６〜２８％、より好ましくは
１８〜２６％、更に好ましくは１８〜２５％とされる（図１６〜図２３）。
このように構成された回折格子６４Ｄが光ピックアップ装置に装備されていれば、トラ
ックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、対物レンズ
７０の変位に伴ってトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化するということは回避
され易くなる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗ
が１４％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下
される（図１６、図１７）。すなわち、ＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍ
の第２レーザ波長光が回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４Ｄの中央部比率Ｗ
ｒが１４％未満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低
下される。対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０
〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの
幅４０ｗが１６％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特
性が低下され易くなる（図１６、図１７）。すなわち、ＤＶＤ規格に準拠した波長略６３
０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光が回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４Ｄ
の中央部比率Ｗｒが１６％未満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、Ｔ
Ｅ視野特性が低下され易くなる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗ
が１８％以上とされることにより、ＴＥ振幅レベル（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特
性の低下が抑えられる。すなわち、ＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第
２レーザ波長光が回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４Ｄの中央部比率Ｗｒが
１８％以上とされることにより、ＯＢＬセンタ比（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性
の低下が抑えられる。
また、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜
６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅
４０ｗが３０％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕｂ−
ＰＰ振幅レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下される（図１９
、図２０）。対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３
０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍ
の幅４０ｗが２８％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕ
ｂ−ＰＰ振幅レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下され易くな
る。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗ
が２６％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）の減少が抑えられ易く
なり、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられ易くなる。具体的に説明すると、対
物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍ
の第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが２
５％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）の減少が抑えられ、Ｓｕｂ
−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられる。
また、対物レンズ７０（図２）の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略
６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄ（図１４）
の中央部４０ｍの幅４０ｗが３０％を超えて設定された場合、トラッキングエラー位相差
量（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキングエラー位相差特性（ＴＥ位相差特性）が低
下される（図２２、図２３）。具体的に説明すると、対物レンズ７０（図２）の瞳面部７
０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直
径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄ（図１４）の中央部４０ｍの幅４０ｗが２８％を超えて
設定された場合、トラッキングエラー位相差量（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキン
グエラー位相差特性（ＴＥ位相差特性）が低下され易くなる（図２２、図２３）。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗ
が２６％以内とされることにより、ＴＥ位相差量の増加が抑えられ易くなり、ＴＥ位相差
特性の低下が抑えられ易くなる。具体的に説明すると、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを
通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０
ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが２５％以内とされることにより、
ＴＥ位相差量の増加が抑えられ、ＴＥ位相差特性の低下が抑えられる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５
ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗ
が例えば１４〜３０％好ましくは１６〜２８％より好ましくは１８〜２６％更に好ましく
は１８〜２５％に設定されることにより、ＴＥ振幅レベル（図１６、図１７）と、Ｓｕｂ
−ＰＰ振幅レベル（図１９、図２０）と、ＴＥ位相差量（図２２、図２３）とが適度な値
に設定され易くなる。
例えば、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０
〜６８５ｎｍの第２レーザ波長光の直径７０ｂに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの
幅４０ｗが略２０％に設定されることにより、ＴＥ振幅レベル（図１６、図１７）と、Ｓ
ｕｂ−ＰＰ振幅レベル（図１９、図２０）と、ＴＥ位相差量（図２２、図２３）とが最適
な値に設定され易くなる。ＴＥ振幅レベルと、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベルと、ＴＥ位相差量
とが、バランスよく適度な値に設定されるので、光ピックアップ装置のトラッキング制御
が行われ易くなる。
回折格子６４Ｄ（図１４）の第２領域部４２と、第３領域部４３とが合わせられた領域
部４２、４３が、回折格子６４Ｄの縦長の中央部４０ｍとされる。対物レンズ７０（図１
、図３）の瞳面部７０ａ（図３）を通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍ（図１４）の
幅４０ｗは、例えば１０％以上４０％以下、好ましくは１２％以上３０％以下、設計／仕
様などにより１４％以上２５％以下、また設計／仕様などにより１６％以上２０％以下と
される。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光が
回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４Ｄの中央部比率Ｗｒは、例えば１０％以
上４０％以下、好ましくは１２％以上３０％以下、設計／仕様などにより１４％以上２５
％以下、また設計／仕様などにより１６％以上２０％以下とされる（図１８、図２１、図
２４）。
このように構成された回折格子６４Ｄが光ピックアップ装置に装備されていれば、トラ
ックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、対物レンズ
７０の変位に伴ってトラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化するということは回避
され易くなる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが
１０％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下さ
れる（図１８）。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ
波長光が回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４Ｄの中央部比率Ｗｒが１０％未
満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下される。対
物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの
第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが１２
％未満に設定された場合、ＴＥ振幅レベル（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下され易
くなる（図１８）。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レー
ザ波長光が回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４Ｄの中央部比率Ｗｒが１２％
未満に設定された場合、ＯＢＬセンタ比（％）が減少され、ＴＥ視野特性が低下され易く
なる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが
１４％以上とされることにより、ＴＥ振幅レベル（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性
の低下が抑えられる。すなわち、ＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レ
ーザ波長光が回折格子６４Ｄを通過するときに、回折格子６４Ｄの中央部比率Ｗｒが１４
％以上とされることにより、ＯＢＬセンタ比（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性の低
下が抑えられる。具体的に説明すると、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規
格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格
子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが１６％以上とされることにより、ＴＥ振幅レベル（
％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性の低下が確実に抑えられる。すなわち、ＣＤ規格に
準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光が回折格子６４Ｄを通過するとき
に、回折格子６４Ｄの中央部比率Ｗｒが１６％以上とされることにより、ＯＢＬセンタ比
（％）の減少が抑えられ、ＴＥ視野特性の低下が確実に抑えられる。
また、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８
４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４
０ｗが４０％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕｂ−Ｐ
Ｐ振幅レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下される（図２１）
。対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが
３０％を超えて設定された場合、サブ・プッシュプル信号振幅レベル（Ｓｕｂ−ＰＰ振幅
レベル）（％）が減少され、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性が低下され易くなる。
設計／仕様などにより、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した
波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中
央部４０ｍの幅４０ｗが２５％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％）
の減少が抑えられ易くなり、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられ易くなる。ま
た、設計／仕様などにより、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠し
た波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの
中央部４０ｍの幅４０ｗが２０％以内とされることにより、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（％
）の減少が抑えられ、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性の低下が抑えられる。
また、対物レンズ７０（図３）の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７
６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄ（図１４）の
中央部４０ｍの幅４０ｗが４０％を超えて設定された場合、トラッキングエラー位相差量
（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキングエラー位相差特性（ＴＥ位相差特性）が低下
される（図２４）。具体的に説明すると、対物レンズ７０（図３）の瞳面部７０ａを通過
するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対
し、回折格子６４Ｄ（図１４）の中央部４０ｍの幅４０ｗが３０％を超えて設定された場
合、トラッキングエラー位相差量（ＴＥ位相差量）が増加され、トラッキングエラー位相
差特性（ＴＥ位相差特性）が低下され易くなる（図２４）。
設計／仕様などにより、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した
波長略７６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中
央部４０ｍの幅４０ｗが２５％以内とされることにより、ＴＥ位相差量の増加が抑えられ
易くなり、ＴＥ位相差特性の低下が抑えられ易くなる。また、設計／仕様などにより、対
物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎｍの
第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが２０
％以内とされることにより、ＴＥ位相差量の増加が抑えられ、ＴＥ位相差特性の低下が抑
えられる。
対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７６５〜８４０ｎ
ｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃに対し、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗが
、例えば１０％以上４０％以下、好ましくは１２％以上３０％以下、設計／仕様などによ
り１４％以上２５％以下、また設計／仕様などにより１６％以上２０％以下に設定される
ことにより、ＴＥ振幅レベル（図１８）と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル（図２１）と、ＴＥ
位相差量（図２４）とが適度な値に設定され易くなる。
以上に基づき、例えば下式（３８）及び下式（３９）が設定される。下式（３８）及び
下式（３９）を設定するために、まず、回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗをＢ１
と定める。また、対物レンズ７０の瞳面部７０ａを通過するＣＤ規格に準拠した波長略７
６５〜８４０ｎｍの第１レーザ波長光の直径７０ｃをＢ２と定める。また、対物レンズ７
０の瞳面部７０ａを通過するＤＶＤ規格に準拠した波長略６３０〜６８５ｎｍの第２レー
ザ波長光の直径７０ｂをＢ３と定める。
このように定義されたときに、下式（３８）及び下式（３９）を満足する性能を発揮す
る光ピックアップ装置を構成させる。
Ｂ１／Ｂ２が、例えば０．１０以上０．４０以下、好ましくは０．１２以上０．３０以
下、設計／仕様などにより０．１４以上０．２５以下、また設計／仕様などにより０．１
６以上０．２０以下に設定されることにより、ＣＤ規格に準拠した光ディスクＤに対する
光ピックアップ装置のデータ／情報／信号の読取り／書込み等が行われるときに、視野特
性の最低値「ＤＰＰ＿Ｌ」と、メインプッシュプル信号の信号レベルに対するサブプッシ
ュプル信号の信号レベルの割合「ＳＰＰ／ＭＰＰ」とが適度な値に設定され易くなる。
また、Ｂ１／Ｂ３が、例えば０．１４〜０．３０、好ましくは０．１６〜０．２８、よ
り好ましくは０．１８〜０．２６、更に好ましくは０．１８〜０．２５に設定されること
により、ＤＶＤ規格に準拠した光ディスクＤに対する光ピックアップ装置のデータ／情報
／信号の読取り／書込み等が行われるときに、視野特性の最低値「ＤＰＰ＿Ｌ」と、メイ
ンプッシュプル信号の信号レベルに対するサブプッシュプル信号の信号レベルの割合「Ｓ
ＰＰ／ＭＰＰ」とが適度な値に設定され易くなる。
回折格子６４Ｄ（図１４）の第２領域部４２の幅４２ｗと、回折格子６４Ｄの第３領域
部４３の幅４３ｗとは、両方とも、１０〜１００μｍ、好ましくは３０〜８０μｍ、より
好ましくは４８〜７２μｍに設定される。すなわち、回折格子６４Ｄの分割部幅４２ｗ、
４３ｗは、１０〜１００μｍ、好ましくは３０〜８０μｍ、より好ましくは４８〜７２μ
ｍに設定される。
これにより、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは
、良好に行われ易くなる。トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤの記録／
再生時等に、例えば対物レンズ７０の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、Ｓ
Ｅ２が劣化するということは回避され易くなる。
回折格子６４Ｄの第２領域部４２の幅４２ｗと、回折格子６４Ｄの第３領域部４３の幅
４３ｗとが、両方とも１０μｍ未満の狭い幅とされた場合や、回折格子６４Ｄの第２領域
部４２の幅４２ｗと、回折格子６４Ｄの第３領域部４３の幅４３ｗとが、両方とも１００
μｍを超える広い幅とされた場合には、ＴＥ視野特性と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性と
、ＴＥ位相差特性とのバランスが崩される。各特性のバランスが崩されると、トラッキン
グエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化されて、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピック
アップ装置のトラッキングが正確に行われ難くなる。
例えば、回折格子６４Ｄの第２領域部４２の幅４２ｗと、回折格子６４Ｄの第３領域部
４３の幅４３ｗとが、両方とも３０〜８０μｍ程度に設定されることにより、ＴＥ視野特
性と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性と、ＴＥ位相差特性とのバランスが略保たれ易くなる
。これに伴って、メディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキング
は、正確に行われ易くなる。
好ましくは、回折格子６４Ｄの第２領域部４２の幅４２ｗと、回折格子６４Ｄの第３領
域部４３の幅４３ｗとが、両方とも４８〜７２μｍの範囲内に設定されることにより、Ｔ
Ｅ視野特性と、Ｓｕｂ−ＰＰ振幅レベル特性と、ＴＥ位相差特性とのバランスが保たれる
。これにより、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２の劣化は回避される。従って、メ
ディアＤの信号面部Ｄａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、正確に行われる
。
例えば３分割型回折格子６４Ｃ（図１２）を備えた光ピックアップ装置において、ＴＥ
視野特性もしくはＴＥ位相差特性を変更させるには、３分割型回折格子６４Ｃの中央部３
０ｍの幅３２ｗを変更させることでしかできなかった。
これに対し、４分割型回折格子６４Ｄ（図１４）を備えた光ピックアップ装置（図１〜
図３）において、ＴＥ視野特性や、ＴＥ位相差特性などを変更させる場合には、４分割型
回折格子６４Ｄ（図１４）の中央部４０ｍの幅４０ｗを変更させることに加え、４分割型
回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの各領域部４２、４３を構成する格子状ピッチの位相差を
変更させることにより、各種特性を調整変更させることが可能となる。
４分割型回折格子６４Ｄの中央部４０ｍの幅４０ｗと、４分割型回折格子６４Ｄの中央
部４０ｍの各領域部４２、４３を構成する格子状ピッチの位相差とが、調整されて設定さ
れることにより、所望の性能が発揮されるとともに各種特性のバランスがとられた光ピッ
クアップ装置を設計することが可能となる。従って、光ピックアップ装置が設計されると
きの設計の自由度が向上する。
この光ピックアップ装置（図１〜図３）は、例えば、平面視略矩形の回折格子６４Ｄ（
図１４）と、少なくとも３本の光束を集光してメディアＤ（図１〜図３、図５）の信号面
部Ｄａ（図５）に各々独立した少なくとも３個の集光スポット８０、８１、８２を照射さ
せる対物レンズ７０（図１〜図３）と、メディアＤにおける３個の各集光スポット８０、
８１、８２（図５）の反射光を受光する光検出器７３Ａ（図１〜図３、図５〜図７）とを
備えて構成される。
このように光ピックアップ装置が構成されていれば、メディアＤ（図５）の信号面部Ｄ
ａに対する光ピックアップ装置のトラッキングは、精度よく行われる。トラックピッチＤ
ｔｐが異なる複数種類のメディアＤのデータ記録／再生時等に、対物レンズ７０（図１〜
図３）の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２の振幅が劣化することや
、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２にオフセットが残留するということは回避され
易くなる。
位相シフト型４分割回折格子６４Ｄ（図１４）を備える光ピックアップ装置が構成され
ることにより、ＤＶＤ−ＲＡＭに対する光ピックアップ装置のデータ再生動作またはデー
タ記録動作は、確実に行われる。また、ＤＶＤ±Ｒ、ＤＶＤ±ＲＷに対する光ピックアッ
プ装置のデータ再生動作またはデータ記録動作も、確実に行われる。
＜＜光ディスク装置の説明＞＞
光ディスク装置は、上記実施例１、２、３、４に示す光ピックアップ装置（図１〜図３
）のうち少なくとも１つの光ピックアップ装置を備えて構成される。具体的に説明すると
、光ディスク装置は、上記実施例１、２、３、４に示す光ピックアップ装置のうち何れか
単一の光ピックアップ装置を備えて構成される。上記光ピックアップ装置は、光ディスク
装置に装備される。
また、光ディスク装置は、例えば上記演算部７６Ａ（図２、図３）を備えて構成される
。
上記実施例１、２、３、４に示す光ピックアップ装置が光ディスク装置に装備されるこ
とにより、上記各種問題点のうち少なくとも１つを解決可能な光ピックアップ装置を少な
くとも備える光ディスク装置が構成される。
例えば、上記式（１）及び／又は上記式（２）及び上記式（３）を満足するように設定
された光ピックアップ装置が光ディスク装置に装備されることにより、第１レーザ波長光
と、第１レーザ波長光と異なるレーザ波長光とされ且つ第１レーザ波長光よりも短い波長
のレーザ光とされる第２レーザ波長光と、に確実に対応するとともに、トラッキングエラ
ー信号ＳＥ１、ＳＥ２等のエラー信号の検出精度が向上された複数波長対応型の光ディス
ク装置が構成される。
また、第１光ディスクＤの信号面部Ｄａ上に第１レーザ波長光を確実に集光させるとと
もに、第２光ディスクＤの信号面部Ｄａ上に第２レーザ波長光を確実に集光させる複数波
長対応型の光ピックアップ装置を少なくとも備える光ディスク装置が構成される。
また、回折格子６４Ａ、６４Ｂ、６４Ｃ、６４Ｄにおける不要な回折光の発生を抑える
とともにレーザ光の効率の低下を防いだ光ピックアップ装置を少なくとも備える光ディス
ク装置が構成される。
また、従来の規格化された光検出器２７０（図２７）の第１レーザ波長光の分光比に対
し、設定変更された光検出器７３Ａ（図５〜図７）の第１レーザ波長光の分光比が変更さ
れていれば、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とは、新しい
設定変更された光検出器７３Ａにて精度よく良好に行われ易くなる。
また、精度の高いトラッキング制御等の制御が行われ易い単一の光ピックアップ装置を
備えた光ディスク装置の提供が可能となる。各メディアＤからのデータの読出しや、各メ
ディアＤに対するデータの書込み等は、光ピックアップ装置を備える光ディスク装置にて
正常に行われる。光ディスク装置に各メディアＤが挿入されて、トラックピッチＤｔｐが
異なる複数種類のメディアＤのデータが読み出されたり、又は、トラックピッチＤｔｐが
異なる複数種類のメディアＤにデータが書き込まれたりされるときに、例えば対物レンズ
７０の変位に伴って、トラッキングエラー信号ＳＥ１、ＳＥ２が劣化するということは回
避され易くなる。従って、精度の高いトラッキング制御が行われ易い単一の光ピックアッ
プ装置を備えた光ディスク装置の提供が可能となる。
また、光ディスク装置に、トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤに対応
可能な１つの光ピックアップ装置が内装されていれば、光ディスク装置の価格が低く抑え
られる。トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤに対応して、複数の光ピッ
クアップ装置が光ディスク装置に内装され、これに伴って、光ディスク装置の価格が大幅
に上昇するということは回避される。
図２５は、光ディスク装置、光ピックアップ装置の第五実施形態を示す概略図である。
図５および図６に示す設定変更された光検出器７３Ａおよび演算部７６Ａの通常設定の
増幅アンプ７８Ｂに代えて、例えば、通常設定の光検出器７３Ｂが光ピックアップ装置に
装備され、且つ、設定変更された増幅アンプ７８ＢＶ（図２５）等が装備されて演算部７
６Ｂが構成されている。
詳しく説明すると、図５および図６に示す演算部７６Ａにおける通常の増幅率Ｋに設定
された増幅アンプ７８Ｂに代えて、例えば増幅率が設定変更されて増幅率Ｇとされた増幅
アンプ７８ＢＶ（図２５）等が演算部７６Ｂに装備されている。また、例えば図６に示す
各電流・電圧変換アンプ７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１
、７７ＦＲ１、７７ＧＬ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７Ｉ
Ｒ１等、及び、各後段アンプ７７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２、７７Ｆ
Ｌ２、７７ＦＲ２、７７ＧＬ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、７
７ＩＲ２等が通常の値に設定されて構成された光検出器７３Ｂ（図２５）が光ピックアッ
プ装置に装備されている。
図１〜図３に示す光学系／回路系に対し、図２５に示す光検出器７３Ｂおよび演算部７
６Ｂを含む光学系／回路系は、一部が異なる。また、光検出器７３ＢのＣＤ受光領域７４
、ＤＶＤ受光領域７５は、例えば図６に示す回路に近似した各電流・電圧変換アンプ、各
後段アンプを備えるが、ここではその詳細な説明を省略する。また、演算部７６Ｂは、例
えば図６に示す回路に近似し信号を演算する各加算器、減算器、増幅器を備え、信号演算
用の各加算器、減算器、増幅器は、ＣＤ受光領域７４、ＤＶＤ受光領域７５に接続される
が、ここではその詳細な説明を省略する。
また、光検出器７３ＢのＤＶＤ受光領域７５に照射されたレーザ光に基づき、各電流・
電圧変換アンプ、後段アンプ、加算器、減算器、増幅器などが用いられて精度よくトラッ
キングエラー信号が生成される工程の詳細説明についても、ここでは省略する。また、光
検出器７３ＢのＣＤ受光領域７４、ＤＶＤ受光領域７５に照射されたレーザ光に基づき、
精度よくフォーカスエラー信号が生成される工程の詳細説明についても、ここでは省略す
る。また、光検出器７３ＢのＣＤ受光領域７４、ＤＶＤ受光領域７５に照射されたレーザ
光に基づき、光ディスクＤに記録されたデータ、情報などの信号が精度よく生成される工
程の詳細説明についても、ここでは省略する。
図５および図６等に示す設定変更された光検出器７３Ａおよび演算部７６Ａの通常設定
の増幅アンプ７８Ａが、図２５に示す通常設定の光検出器７３Ｂおよび設定変更された演
算部７６Ｂの増幅アンプ７８Ｂに置き換えられたこと以外に、光ピックアップ装置および
光ディスク装置に変更はない。図５および図６等に示す設定変更された光検出器７３Ａお
よび演算部７６Ａの通常設定の増幅アンプ７８Ａが、図２５に示す通常設定の光検出器７
３Ｂおよび設定変更された演算部７６Ｂの増幅アンプ７８Ｂに置き換えられた点で、実施
例１、２、３、及び４と、実施例５とが異なるが、光検出器７３Ａ、７３Ｂ、演算部７６
Ａ、７６Ｂを構成する増幅アンプ７８Ａ、７８Ｂ以外の他の部分においては、実施例１、
２、３、及び４と、実施例５とは、共通なものとされている。便宜上、図１〜図２４を併
用して、実施例５を説明する。また、実施例５において、実施例１、２、３、及び４にて
説明したものと同一のものについては、同一の符号を付し、その詳細な説明を省略した。
光検出器７３Ｂは、演算部７６Ｂに接続されている。光検出器７３Ｂにて生成された信
号は、演算部７６Ｂに送信される。演算部７６Ｂは、例えば少なくとも４つの差動アンプ
７７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７８Ａと、加算器７８Ｃと、増幅アンプ７８ＢＶとを含んで構
成される。差動アンプ７７Ａは、中央の第１メイン受光部７４Ａを構成する例えば左右一
対の光検出面部７４ＡＬ、７４ＡＲからの出力信号の差分（ＴＡＬ１−ＴＡＲ１）を演算
しメインプッシュプル信号Ｓａ１として生成する。差動アンプ７７Ｂは、一方の第１サブ
受光部７４Ｂを構成する例えば左右一対の光検出面部７４ＢＬ、７４ＢＲからの出力信号
の差分（ＴＢＬ１−ＴＢＲ１）を演算し先行サブプッシュプル信号Ｓｃ１として生成する
。差動アンプ７７Ｃは、他方の第１サブ受光部７４Ｃを構成する例えば左右一対の光検出
面部７４ＣＬ、７４ＣＲからの出力信号の差分（ＴＣＬ１−ＴＣＲ１）を演算し遅行サブ
プッシュプル信号Ｓｃ１として生成する。
加算器７８Ｃに、差動アンプ７７Ｂの出力信号である先行サブプッシュプル信号Ｓｂ１
と、差動アンプ７７Ｃの出力信号である遅行サブプッシュプル信号Ｓｃ１とが入力される
。加算器７８Ｃは、これらの信号の加算（Ｓｂ１＋Ｓｃ１）を演算し加算サブプッシュプ
ル信号Ｓｄ１とさせる。増幅アンプ７８ＢＶに、加算器７８Ｃの出力信号である加算サブ
プッシュプル信号Ｓｄ１が入力される。増幅アンプ７８ＢＶは、加算サブプッシュプル信
号Ｓｄ１を例えば増幅率Ｇでメインプッシュプル信号Ｓａ１と同等もしくはそれ以上の信
号レベルに増幅する。差動アンプ７８Ａに、差動アンプ７７Ａの出力信号と、増幅アンプ
７８ＢＶの出力信号とが入力される。差動アンプ７８Ａは、メインプッシュプル信号Ｓａ
１と、加算サブプッシュプル信号Ｓｄ１を増幅した信号との差分を演算して、トラッキン
グ誤差信号Ｓｅ１として出力する。
演算部７６Ｂで生成されたトラッキング誤差信号Ｓｅ１が対物レンズ駆動部７９（図２
、図３）に送られて、光ディスクＤのトラックＤ８０（図２５）に対する対物レンズ７０
（図２、図３）のトラッキング調整が自動的に行われる。
規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常の信号の
電流および／または電圧値に対し、１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５、図７）から出
力される信号の電流／電圧値が変更または同じとされている。詳しく説明すると、規格化
された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常の信号の電流／電
圧値が１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化された１つの第１メイン受光
部２００ａから出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、変更または同じとされた１
つの第１メイン受光部７４Ａ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値は、略１
００％または略１００％未満もしくは略１００％以下の低い値に設定されている。１つの
第１メイン受光部７４Ａから出力される信号の電流／電圧値が設定変更される場合、例え
ばアッテネータ（不図示）等が用いられて１つの第１メイン受光部７４Ａから出力される
信号の電流／電圧値が変更設定される。
また、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力され
る通常の信号の電流／電圧値に対し、２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５、図７
）から出力される信号の電流／電圧値が変更されている。詳しく説明すると、規格化され
た２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通常の信号の電流
／電圧値が共に１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化された２つの第１サ
ブ受光部２００ｂ、２００ｃから出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、変更され
た２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧
値は、共に略１００％以上または略１００％を超える高い値にゲインアップ設定されてい
る。２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃから出力される信号の電流／電圧値は、増幅器
７８ＢＶにて変更設定される。
このように信号の電流／電圧値が従来の信号の電流／電圧値に対し変更または同じとさ
れて設定されていれば、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出と
は、新しい設定変更された増幅器７８ＢＶを含む演算部７６Ｂにて比較的精度よく行われ
易くなる。規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常
の信号の電流／電圧値に対し、１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５、図７）から出力さ
れる信号の電流／電圧値が変更または同じとされ、規格化された２つの第１サブ受光部２
００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、２つの第
１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値がゲイン
アップ変更されることにより、新しい設定変更された増幅器７８ＢＶを含む演算部７６Ｂ
にて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１サブビームの検出とが比較的精度よく
行われ易くなる。
詳しく説明すると、規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力
される通常の信号の電流／電圧値が１００％とされているのに対し、変更または同じとさ
れた１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値が
略１００％または略１００％未満もしくは略１００％以下の低い値に設定され、規格化さ
れた２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通常の信号の電
流／電圧値が共に１００％とされているのに対し、変更された２つの第１サブ受光部７４
Ｂ、７４Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値が共に略１００％以上また
は略１００％を超える高い値にゲインアップ設定されることにより、新しい設定変更され
た増幅器７８ＢＶを含む演算部７６Ｂにて、１本の第１メインビームの検出と２本の第１
サブビームの検出とが比較的精度よく行われ易くなる。
規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２７）から出力される通常の信号の
電流／電圧値が１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化された１つの第１メ
イン受光部２００ａから出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、変更または同じと
された１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値
は、略９５〜１００％好ましくは略９６〜１００％の電流／電圧値に設定されている。ま
た、規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通
常の信号の電流／電圧値が共に１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化され
た２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃから出力される通常の信号の電流／電圧値に
対し、変更された２つの第１サブ受光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５、図７）から出力される信
号の電流／電圧値は、共に略１２０〜１６０％好ましくは共に略１３８〜１４２％の電流
／電圧値にゲインアップ設定されている。
このように信号の電流／電圧値が設定されていれば、１本の第１メインビームの検出と
２本の第１サブビームの検出とは、新しい設定変更された増幅器７８ＢＶを含む演算部７
６Ｂにて精度よく良好に行われる。規格化された１つの第１メイン受光部２００ａ（図２
７）から出力される通常の信号の電流／電圧値が１００％とされているのに対し、変更ま
たは同じとされた１つの第１メイン受光部７４Ａ（図５、図７）から出力される信号の電
流／電圧値が略９５〜１００％好ましくは略９６〜１００％の電流／電圧値に設定され、
規格化された２つの第１サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２７）から出力される通常の
信号の電流／電圧値が共に１００％とされているのに対し、変更された２つの第１サブ受
光部７４Ｂ、７４Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値が共に略１２０〜
１６０％好ましくは共に略１３８〜１４２％の電流／電圧値にゲインアップ設定されるこ
とにより、新しい設定変更された増幅器７８ＢＶを含む演算部７６Ｂにて、１本の第１メ
インビームの検出と２本の第１サブビームの検出とが精度よく良好に行われる。
尚、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、１つの第１メイン受光部（
７４Ａ）から出力される直後の信号の電流／電圧値が、例えば光検出器（７３Ｂ）に備え
られた不図示のアッテネータ等により設定変更されてもよい。また、光ピックアップ装置
の設計／仕様などにより、例えば、１つの第１メイン受光部（７４Ａ）から出力される信
号の電流／電圧値が、例えば演算部（７６Ｂ）に備えられた不図示のアッテネータ等によ
り設定変更されてもよい。また、光ピックアップ装置の設計／仕様などにより、例えば、
増幅器（７８ＢＶ）等を含む演算部（７６Ｂ）が光検出器（７３Ｂ）に備えられ、増幅器
（７８ＢＶ）等を含む演算部（７６Ｂ）と光検出器（７３Ｂ）とが一体化された演算部付
光検出器（不図示）も使用可能とされる。
１つの第２メイン受光部７５Ａから出力される信号の電流／電圧値は、規格化された１
つの第２メイン受光部２００ａ（図２８）から出力される通常の信号の電流／電圧値とさ
れている。規格化された１つの第２メイン受光部２００ａから出力される通常の信号の電
流／電圧値が１００％の電流／電圧値と定められたときに、規格化された１つの第２メイ
ン受光部２００ａから出力される通常の信号の電流／電圧値に対し、１つの第２メイン受
光部７５Ａ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値は、略１００％の電流／電
圧値に設定されている。
また、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃから出力される信号の電流／電圧値は、規
格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２８）から出力される通常の信
号の電流／電圧値とされている。規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ
から出力される通常の信号の電流／電圧値が共に１００％の電流／電圧値と定められたと
きに、規格化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃから出力される通常の信号
の電流／電圧値に対し、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ（図５、図７）から出力さ
れる信号の電流／電圧値は、共に略１００％の電流／電圧値に設定されている。
このように信号の電流／電圧値が設定されていれば、１本の第２メインビームの検出と
２本の第２サブビームの検出とは、演算部７６Ｂにて精度よく行われる。１つの第２メイ
ン受光部７５Ａから出力される信号の電流／電圧値が、規格化された１つの第２メイン受
光部２００ａ（図２８）から出力される通常の信号の電流／電圧値とされ、２つの第２サ
ブ受光部７５Ｂ、７５Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値が、規格化さ
れた２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２８）から出力される通常の信号の電
流／電圧値とされることにより、演算部７６Ｂにて、１本の第２メインビームの検出と２
本の第２サブビームの検出とが精度よく行われる。
規格化された１つの第２メイン受光部２００ａ（図２８）から出力される通常の信号の
電流／電圧値が１００％とされているのに対し、１つの第２メイン受光部７５Ａ（図５、
図７）から出力される信号の電流／電圧値が略１００％の電流／電圧値に設定され、規格
化された２つの第２サブ受光部２００ｂ、２００ｃ（図２８）から出力される通常の信号
の電流／電圧値が共に１００％とされているのに対し、２つの第２サブ受光部７５Ｂ、７
５Ｃ（図５、図７）から出力される信号の電流／電圧値が共に略１００％の電流／電圧値
に設定されることにより、演算部７６Ｂにて、１本の第２メインビームの検出と２本の第
２サブビームの検出とが精度よく行われる。
また、精度の高いトラッキング制御等の制御が行われ易い単一の光ピックアップ装置を
備えた光ディスク装置の提供が可能となる。各メディアＤからのデータの読出しや、各メ
ディアＤに対するデータの書込み等は、光ピックアップ装置を備える光ディスク装置にて
正常に行われる。光ディスク装置に各メディアＤが挿入されて、トラックピッチＤｔｐが
異なる複数種類のメディアＤのデータが読み出されたり、又は、トラックピッチＤｔｐが
異なる複数種類のメディアＤにデータが書き込まれたりされるときに、例えば対物レンズ
７０の変位に伴って、トラッキングエラー信号Ｓｅ１等が劣化するということは回避され
易くなる。従って、精度の高いトラッキング制御が行われ易い単一の光ピックアップ装置
を備えた光ディスク装置の提供が可能となる。
また、光ディスク装置に、トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤに対応
可能な１つの光ピックアップ装置が内装されていれば、光ディスク装置の価格が低く抑え
られる。トラックピッチＤｔｐが異なる複数種類のメディアＤに対応して、複数の光ピッ
クアップ装置が光ディスク装置に内装され、これに伴って、光ディスク装置の価格が大幅
に上昇するということは回避される。
上記光ピックアップ装置、並びに上記光ピックアップ装置を備える光ディスク装置は、
上記各種光ディスクＤにデータ／情報／信号等を記録等させたり、上記各種光ディスクＤ
のデータ／情報／信号等を再生させたりする記録・再生装置に使用可能とされる。具体的
に説明すると、上記光ピックアップ装置、並びに上記光ピックアップ装置を備える光ディ
スク装置は、上記各種光ディスクＤにデータ／情報／信号等を記録させたり、上記各種光
ディスクＤのデータ／情報／信号等を再生させたり、上記各種光ディスクＤのデータ／情
報／信号等を消去させたりする記録・再生・消去可能装置に使用可能とされる。また、上
記光ピックアップ装置、並びに上記光ピックアップ装置を備える光ディスク装置は、上記
各種光ディスクＤのデータ／情報／信号等を再生させる再生専用装置にも使用可能とされ
る。
また、上記光ピックアップ装置、並びに上記光ピックアップ装置を備える光ディスク装
置は、例えば、コンピュータ、音響／映像機器、ゲーム機、車載機（何れも不図示）など
に組み付けられる光ディスク装置に装備される。また、上記光ピックアップ装置、並びに
上記光ピックアップ装置を備える光ディスク装置は、例えば、ノート型ＰＣや、ラップト
ップ型ＰＣや、デスクトップ型ＰＣや、車載用コンピュータなどのコンピュータや、コン
ピュータゲーム機などのゲーム機や、ＣＤプレーヤ／ＣＤレコーダ、ＤＶＤプレーヤ／Ｄ
ＶＤレコーダなどの音響および／または映像機器などに装備可能とされる（何れも不図示
）。また、上記光ピックアップ装置は、ＣＤ系光ディスク、ＤＶＤ系光ディスク、「ＨＤ
ＤＶＤ」系光ディスク、「ＣＢＨＤ」系光ディスク、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」系
光ディスク等の複数のディスクに対応可能なものとされる。また、上記光ピックアップ装
置は、複数層の信号面部を有する一枚の光ディスクに対応可能なものとされている。上記
光ピックアップ装置は、例えば、「ＣＤ」、「ＤＶＤ」、「ＨＤ ＤＶＤ」、「ＣＢＨＤ
」、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」などの各種光ディスクに対応したコンピュータ、音響
および／または映像機器、ゲーム機、車載機などに装備可能とされている（何れも不図示
）。
以上、本発明の実施形態について説明したが、前述した実施形態は、本発明の理解を容
易にするためのものであり、本発明を限定して解釈するためのものではない。本発明は、
その趣旨を逸脱することなく変更／改良され得るとともに、本発明にはその等価物も含ま
れる。
例えば、図４、図９に示す２つの領域部２１、２２を備えた２分割タイプの回折格子６
４Ａ、６４Ｂに代えて、他の形態をした２つの領域部を備える２分割タイプの回折格子（
不図示）が用いられてもよい。また、例えば、図１２に示す３つの領域部３１、３２、３
３を備えた３分割タイプの回折格子６４Ｃに代えて、他の形態をした３つの領域部を備え
る３分割タイプの回折格子（不図示）が用いられてもよい。また、例えば、図１４に示す
４つの領域部４１、４２、４３、４３を備えた４分割タイプの回折格子６４Ｄに代えて、
他の形態をした４つの領域部を備える４分割タイプの回折格子（不図示）が用いられても
よい。このように各種複数の領域部を備える複数分割タイプの回折格子が使用可能とされ
ている。
また、例えば、図１２に示す３つの領域部（３１、３２、３３）を備えた３分割タイプ
の回折格子（６４Ｃ）に、光学ガラス板（５０）（図４、図１１）が装着されてもよい。
また、例えば、図１４に示す４つの領域部（４１、４２、４３、４３）を備えた４分割タ
イプの回折格子（６４Ｄ）に、光学ガラス板（５０）（図４、図１１）が装着されてもよ
い。
また、例えば、第１のレーザ光は、波長略６６０ｎｍ（第１の波長）の「ＤＶＤ」規格
の赤色レーザ光であり、第２のレーザ光は、波長略４０５ｎｍ（第２の波長）の「ＨＤ
ＤＶＤ」規格、「ＣＢＨＤ」規格、又は「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格等の青紫色レ
ーザ光でもよい。尚、この場合、回折格子６４Ａ、６４Ｂ、６４Ｃ、６４Ｄは、「ＨＤ
ＤＶＤ」、「ＣＢＨＤ」、又は「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格等の波長に応じた格子
間隔を具備した回折格子部材のみで構成される。
また、例えば、波長略７８０ｎｍの「ＣＤ」規格の赤外レーザ光と、波長略６６０ｎｍ
の「ＤＶＤ」規格の赤色レーザ光と、波長略４０５ｎｍの「ＨＤ ＤＶＤ」規格、「ＣＢ
ＨＤ」規格、又は「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」規格等の青紫色レーザ光と、を出射可能
な３波長対応のレーザユニット（６１）が用いられてもよい。
また、例えば、２つ以上の複数の対物レンズ（７０）を備える光ピックアップ装置が構
成されてもよい。例えば、波長が略７６５〜８４０ｎｍの第１波長光および波長が略６３
０〜６８５ｎｍの第２波長光に対応した開口数（Ｎｕｍｅｒｉｃａｌ Ａｐｅｒｔｕｒｅ
：ＮＡ）略０．６〜０．６６の対物レンズ７０と、波長が略３４０〜４５０ｎｍの他の波
長光に対応したＮＡ略０．８５の不図示の対物レンズと、を備える光ピックアップ装置が
構成されてもよい。
上記光ピックアップ装置が構成されることにより、光学系の簡略化を図りつつ、波長の
異なる２種類の第１及び第２のレーザ光に対応し、不要な回折光を抑えてエラー信号の検
出精度を向上させるとともに安価で高効率な光ピックアップ装置を提供することができる
。
例えば信号の検出等を精度よく実行可能な光ピックアップ装置およびそれを備える光デ
ィスク装置に適用可能とされる。また、例えば、「ＣＤ」、「ＤＶＤ」、「ＨＤ ＤＶＤ
」、「ＣＢＨＤ」、「Ｂｌｕ−ｒａｙ Ｄｉｓｃ」等として挙げられる各種光ディスク等
の各種メディアに記録されたデータ、情報、信号等を再生させたり、書込み可能もしくは
書換え可能な各種光ディスク等の各種メディアにデータ、情報、信号等を記録させたり、
書込み可能もしくは書換え可能な各種光ディスク等の各種メディアに記録されたデータ、
情報、信号等を消去させたりすることが可能な光ピックアップ装置およびそれを備える光
ディスク装置に適用可能とされる。
２０、３２０、３４０ 回折格子部（回折格子）
２０ａ、３０ａ、４０ａ 回折面部（面部）
２１、２２、３４１、３４２ 半平面（領域部）
２１ｗ、２２ｗ、３１ｗ、３２ｗ、３３ｗ、４０ｗ、４１ｗ、４４ｗ 幅
２６、３５、３７、４５、４６、４７ 境界線部（境界部）
３０ｍ、４０ｍ 中央部
３１、４１ 第１領域部（領域部）
３２、４２ 第２領域部（領域部）
３３、４３ 第３領域部（領域部）
４２ｗ、４３ｗ 分割部幅（幅）
４４ 第４領域部（領域部）
４８ 一方の領域部
４９ 他方の領域部
５０、３６０、３６１、３６２ 光学ガラス板（ガラス基板）
５０ａ 平面部
６１ レーザユニット（発光素子）
６１ａ 発光面
６２ 第１の光源（光源）
６３ 第２の光源（光源）
６４Ａ、６４Ｂ、６４Ｃ、６４Ｄ 回折格子
６５ｉ カップリングレンズ
６５ii 受光素子
６６、２３０ 偏光ビームスプリッタ
６７、２４０ コリメータレンズ
６８ １／４波長板
６９ 反射ミラー
７０、２５０ 対物レンズ
７０ａ 瞳面部
７０ｂ、７０ｃ 光の直径（直径）
７１、７２ 平行平板（非点収差素子）
７３Ａ、７３Ｂ、２７０ 光検出器（光検出装置）
７３ｓ 同一受光面部（受光面部）
７４、７５、２８０、２９０ 受光領域（領域）
７４Ａ、７５Ａ メイン受光部（受光部）
７４Ａａ、７４Ａｂ、７４Ａｃ、７４Ａｄ、７４ＡＬ、７４ＡＲ、７４Ｂａ、７４Ｂｂ
、７４Ｂｃ、７４Ｂｄ、７４ＢＬ、７４ＢＲ、７４Ｃａ、７４Ｃｂ、７４Ｃｃ、７４Ｃｄ
、７４ＣＬ、７４ＣＲ、７５Ａａ、７５Ａｂ、７５Ａｃ、７５Ａｄ、７５Ｂａ、７５Ｂｂ
、７５Ｂｃ、７５Ｂｄ、７５Ｃａ、７５Ｃｂ、７５Ｃｃ、７５Ｃｄ、 セグメント（光検
出面部）
７４Ａｘ、７４Ａｙ、７４Ｂｘ、７４Ｂｙ、７４Ｃｘ、７４Ｃｙ、７５Ａｘ、７５Ａｙ
、７５Ｂｘ、７５Ｂｙ、７５Ｃｘ、７５Ｃｙ 分割線
７４Ｂ、７４Ｃ、７５Ｂ、７５Ｃ サブ受光部（受光部）
７６Ａ、７６Ｂ 演算部
７７Ａ、７７Ｂ、７７Ｃ、７８Ａ 差動アンプ（減算器）
７７Ｄ、７７Ｅ、７７Ｆ、７７Ｇ、７７Ｈ、７７Ｉ、７８Ｃ、５１０ 加算器
７７ＤＬ１、７７ＤＲ１、７７ＥＬ１、７７ＥＲ１、７７ＦＬ１、７７ＦＲ１、７７Ｇ
Ｌ１、７７ＧＲ１、７７ＨＬ１、７７ＨＲ１、７７ＩＬ１、７７ＩＲ１ 電流・電圧変換
アンプ（アンプ）
７７ＤＬ２、７７ＤＲ２、７７ＥＬ２、７７ＥＲ２、７７ＦＬ２、７７ＦＲ２、７７Ｇ
Ｌ２、７７ＧＲ２、７７ＨＬ２、７７ＨＲ２、７７ＩＬ２、７７ＩＲ２ 後段アンプ（ア
ンプ）
７８Ｂ、７８ＢＶ 増幅アンプ（増幅器）
７９ 対物レンズ駆動部（駆動部）
８０、１００ メインスポット（スポット）
８１、８２、１０１、１０２ サブスポット（スポット）
９０ｉ、９０ii、２００ メイン検出光スポット（スポット）
９１ｉ、９１ii、９２ｉ、９２ii、２０１、２０２ サブ検出光スポット（スポット）
２００ａ、２００ｂ、２００ｃ 受光面（受光部）
２１０ 半導体レーザ素子
２６０ 検出レンズ
３００Ａ、３００Ｂ ２波長対応回折格子（回折格子）
３０２ 第１回折面部（回折面部）
３０４ 第２回折面部（回折面部）
４００、５００ａ、５００ｂ、５００ｃ、５３０ 減算器
Ｄ 光ディスク（メディア）
Ｄ８０、Ｄ１００ トラック
Ｄ８４ 内周側
Ｄ８８ 外周側
Ｄａ 信号層（信号面部）
ＤＬ０ 第１層（層）
ＤＬ１ 第２層（層）
Ｄｔｐ トラックピッチ（周期）
ｄ 格子間隔
Ｌ 法線距離
Ｎ 法線
Ｏ、Ｘ 発光点
Ｏａ、Ｘｂ、Ｘｃ、Ｏ（ｃｄ）、Ｘ（ｃｄ）、Ｏ（ｄｖｄ）、Ｘ（ｄｖｄ） 照射点
Ｓ 面
Ｓ１１ 凹部
Ｓ１２ 凸部
Ｓ２１ 凹面
Ｓ２２ 凸面
Ｓｉ 底面
Ｓii 外面
Ｓiii、Ｓiv 側面
ＳＡ１、Ｓａ１、ＳＡ２、Ｓａ、ＳＢ１、Ｓｂ１、ＳＢ２、Ｓｂ、ＳＣ１、Ｓｃ１、Ｓ
Ｃ２、Ｓｃ プッシュプル信号
ＳＤ１、Ｓｄ１、ＳＤ２ 加算サブプッシュプル信号（信号）
ＳＥ１、Ｓｅ１、ＳＥ２ トラッキングエラー信号（トラッキング誤差信号）
ＴＡａ１、ＴＡａｂ１、ＴＡｂ１、ＴＡｃ１、ＴＡｃｄ１、ＴＡｄ１、ＴＡＬ１、ＴＡ
Ｒ１、ＴＢａ１、ＴＢａｂ１、ＴＢｂ１、ＴＢｃ１、ＴＢｃｄ１、ＴＢｄ１、ＴＢＬ１、
ＴＢＲ１、ＴＣａ１、ＴＣａｂ１、ＴＣｂ１、ＴＣｃ１、ＴＣｃｄ１、ＴＣｄ１、ＴＣＬ
１、ＴＣＲ１ 光電変換信号（信号）
ＵＡａ１、ＵＡｂ１、ＵＡｃ１、ＵＡｄ１、ＵＢａ１、ＵＢｂ１、ＵＢｃ１、ＵＢｄ１
、ＵＣａ１、ＵＣｂ１、ＵＣｃ１、ＵＣｄ１ 受光出力信号（信号）
Ｙｐ、Ｙｓ（ｃｄ）、Ｙｓ（ｄｖｄ）、Ｙｔ（ｃｄ）、Ｙｔ（ｄｖｄ） 間隔（距離）
Ｙｒ 距離
θ 回折角
δ 間隔

Claims (39)

  1. 第１波長光と第２波長光とを少なくとも出射可能な発光素子と、
    前記第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分け、且つ、前記
    第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分ける回折格子と、
    を少なくとも備え、
    前記第１波長光に対応する第１メディアに前記第１メインビームと前記第１サブビーム
    とが照射されたときの前記第１メインビームと前記第１サブビームとの間隔をＹｐ１と定
    め、
    前記第２波長光に対応する第２メディアに前記第２メインビームと前記第２サブビーム
    とが照射されたときの前記第２メインビームと前記第２サブビームとの間隔をＹｐ２と定
    めたときに、
    下式（１）を満足すること、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  2. 第１波長光と第２波長光とを少なくとも出射可能な発光素子と、
    前記第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分け、且つ、前記
    第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分ける回折格子と、
    を少なくとも備え、
    前記第１波長光に対応する第１メディアに前記第１メインビームと前記第１サブビーム
    とが照射されたときに、前記第１メインビームの光の強さと前記第１サブビームの光の強
    さとの総和に対する前記第１メインビームの光の強さとされた光の効率比をＡ１と定め、
    前記第２波長光に対応する第２メディアに前記第２メインビームと前記第２サブビーム
    とが照射されたときに、前記第２メインビームの光の強さと前記第２サブビームの光の強
    さとの総和に対する前記第２メインビームの光の強さとされた光の効率比をＡ２と定めた
    場合に、
    下式（２）及び下式（３）を満足すること、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
    0.90＜Ａ１＜0.94 …（２）
    0.87＜Ａ２＜0.91 …（３）
  3. 第１波長光と第２波長光とを少なくとも出射可能な発光素子と、
    前記第２波長光に対応する回折格子と、
    を少なくとも備え、
    前記発光素子における前記第１波長光の発光位置と前記第２波長光の発光位置とが異な
    ることに対応して、前記第１波長光に対応する第１メディア上の前記第１波長光の集光位
    置と前記第２波長光に対応する第２メディア上の前記第２波長光の集光位置とが異なるこ
    と、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  4. 請求項３に記載の光ピックアップ装置において、
    略円板状をした前記第１メディア上の前記第１波長光の集光位置よりも略円板状をした
    前記第２メディア上の前記第２波長光の集光位置のほうが略円板状をしたメディアの内周
    側に存すること、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  5. 請求項１に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項２に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  6. 請求項１に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項３に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  7. 請求項２に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項３に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  8. 請求項１に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項２に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項３に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  9. 第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分け、
    第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分け、
    前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、
    前記第１メインビームが照射される第１メイン受光部と、
    前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、
    前記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、
    前記第２サブビームが照射される第２サブ受光部と、
    を有する光検出器と、
    を少なくとも備え、
    規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離に対し、前記第１メイン
    受光部と前記第１サブ受光部との間の距離が変更されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  10. 請求項９に記載の光ピックアップ装置において、
    変更された前記第１メイン受光部と前記第１サブ受光部との間の前記距離は、前記規格
    化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離よりも長く設定されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  11. 請求項９に記載の光ピックアップ装置において、
    前記規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の値が１００％の値
    と定められたときに、変更された前記第１メイン受光部と前記第１サブ受光部との間の前
    記距離の値は、前記規格化された第１メイン受光部と第１サブ受光部との間の距離の値に
    対し、略１１１％の値に設定されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  12. 請求項９に記載の光ピックアップ装置において、
    前記規格化された第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値が１００％の値
    と定められたときに、前記第２メイン受光部と前記第２サブ受光部との間の前記距離の値
    は、前記規格化された第２メイン受光部と第２サブ受光部との間の距離の値に対し、略１
    ００％の値に設定されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  13. 第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分け、
    第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分け、
    前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、
    前記第１メインビームが照射される第１メイン受光部と、
    前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、
    前記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、
    前記第２サブビームが照射される第２サブ受光部と、
    を有する光検出器と、
    を少なくとも備え、
    前記第１メイン受光部を中心に一対の位置変更された前記第１サブ受光部が配置されて
    、前側の前記第１サブ受光部と、中央の前記第１メイン受光部と、後側の前記第１サブ受
    光部と、が並設されたときに、
    前側の前記第１サブ受光部と、中央の前記第１メイン受光部と、後側の前記第１サブ受
    光部と、の分光比は、規格化された前側の第１サブ受光部と、中央の第１メイン受光部と
    、後側の第１サブ受光部と、の分光比に対し、変更されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  14. 請求項１３に記載の光ピックアップ装置において、
    前記第１メイン受光部を中心に一対の位置変更された前記第１サブ受光部が配置されて
    、前側の前記第１サブ受光部と、中央の前記第１メイン受光部と、後側の前記第１サブ受
    光部と、が並設されたときに、
    前側の前記第１サブ受光部と、中央の前記第１メイン受光部と、後側の前記第１サブ受
    光部と、の分光比は、略１：（２０〜２６）：１とされたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  15. 請求項１３に記載の光ピックアップ装置において、
    前記第２メイン受光部を中心に一対の前記第２サブ受光部が配置されて、前側の前記第
    ２サブ受光部と、中央の前記第２メイン受光部と、後側の前記第２サブ受光部と、が並設
    されたときに、
    前側の前記第２サブ受光部と、中央の前記第２メイン受光部と、後側の前記第２サブ受
    光部と、の分光比は、略１：（１２〜１８）：１とされたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  16. 第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分け、
    第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分け、
    前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、
    前記第１メインビームが照射される第１メイン受光部と、
    前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、
    前記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、
    前記第２サブビームが照射される第２サブ受光部と、
    を有する光検出器と、
    を少なくとも備え、
    規格化された第１メイン受光部の受光感度の値に対し、前記第１メイン受光部の受光感
    度の値が変更または同じとされ、
    規格化された第１サブ受光部の受光感度の値に対し、前記第１サブ受光部の受光感度の
    値が変更されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  17. 請求項１６に記載の光ピックアップ装置において、
    前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに
    、前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値に対し、変更または同じとされた前
    記第１メイン受光部の受光感度の値は、略１００％または略１００％以下の低い値に設定
    され、
    前記規格化された第１サブ受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに、
    前記規格化された第１サブ受光部の受光感度の値に対し、変更された前記第１サブ受光部
    の受光感度の値は、略１００％以上の高い値に設定されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  18. 請求項１６に記載の光ピックアップ装置において、
    前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに
    、前記規格化された第１メイン受光部の受光感度の値に対し、変更または同じとされた前
    記第１メイン受光部の受光感度の値は、略９５〜１００％の値に設定され、
    前記規格化された第１サブ受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに、
    前記規格化された第１サブ受光部の受光感度の値に対し、変更された前記第１サブ受光部
    の受光感度の値は、略１２０〜１６０％の値に設定されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  19. 請求項１６に記載の光ピックアップ装置において、
    規格化された第２メイン受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに、前
    記規格化された第２メイン受光部の受光感度の値に対し、前記第２メイン受光部の受光感
    度の値は、略１００％の値に設定され、
    規格化された第２サブ受光部の受光感度の値が１００％の値と定められたときに、前記
    規格化された第２サブ受光部の受光感度の値に対し、前記第２サブ受光部の受光感度の値
    は、略１００％の値に設定されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  20. 第１波長光を少なくとも第１メインビームと第１サブビームとに分け、
    第２波長光を少なくとも第２メインビームと第２サブビームとに分け、
    前記第２波長光に対応した回折面部を有する回折格子と、
    前記第１メインビームが照射される第１メイン受光部と、
    前記第１サブビームが照射される第１サブ受光部と、
    前記第２メインビームが照射される第２メイン受光部と、
    前記第２サブビームが照射される第２サブ受光部と、
    を有する光検出器と、
    を少なくとも備え、
    規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値に対し、前記第１メイン受光部
    から出力される信号の値が変更または同じとされ、
    規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値に対し、前記第１サブ受光部から
    出力される信号の値が変更されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  21. 請求項２０に記載の光ピックアップ装置において、
    前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められ
    たときに、前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値に対し、変更また
    は同じとされた前記第１メイン受光部から出力される信号の値は、略１００％または略１
    ００％以下の低い値に設定され、
    前記規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められた
    ときに、前記規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値に対し、変更された前
    記第１サブ受光部から出力される信号の値は、略１００％以上の高い値に設定されたこと
    、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  22. 請求項２０に記載の光ピックアップ装置において、
    前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められ
    たときに、前記規格化された第１メイン受光部から出力される信号の値に対し、変更また
    は同じとされた前記第１メイン受光部から出力される信号の値は、略９５〜１００％の値
    に設定され、
    前記規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められた
    ときに、前記規格化された第１サブ受光部から出力される信号の値に対し、変更された前
    記第１サブ受光部から出力される信号の値は、略１２０〜１６０％の値に設定されたこと
    、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  23. 請求項２０に記載の光ピックアップ装置において、
    規格化された第２メイン受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められたと
    きに、前記規格化された第２メイン受光部から出力される信号の値に対し、前記第２メイ
    ン受光部から出力される信号の値は、略１００％の値に設定され、
    規格化された第２サブ受光部から出力される信号の値が１００％の値と定められたとき
    に、前記規格化された第２サブ受光部から出力される信号の値に対し、前記第２サブ受光
    部から出力される信号の値は、略１００％の値に設定されたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  24. 請求項９に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項１３に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  25. 請求項９に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項１６に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  26. 請求項９に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項２０に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  27. 請求項１３に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項１６に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  28. 請求項１３に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項２０に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  29. 請求項９に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項１３に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項１６に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  30. 請求項９に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項１３に記載の光ピックアップ装置と、
    請求項２０に記載の光ピックアップ装置と、
    が合わせられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  31. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    前記回折格子の回折面部は、
    前記第１波長光を少なくとも前記第１メインビームと前記第１サブビームとに分ける回
    折面部と、
    前記第２波長光を少なくとも前記第２メインビームと前記第２サブビームとに分ける回
    折面部と、
    を兼ねたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  32. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    前記回折格子は、複数の領域部に分けられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  33. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    前記回折格子は、偶数の領域部に分けられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  34. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    前記回折格子は、第１領域部と、第２領域部と、第３領域部と、第４領域部と、の少な
    くとも４つに分けられたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  35. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    複数種類の波長光を出射可能な発光素子を備えること、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  36. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    前記第１波長光の波長は、略７６５〜８４０ｎｍとされ、
    前記第２波長光の波長は、略６３０〜６８５ｎｍとされたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  37. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    前記第１波長光の波長は、略６３０〜６８５ｎｍとされ、
    前記第２波長光の波長は、略３４０〜４５０ｎｍとされたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  38. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置において、
    複数の信号面部を有するメディアに対応可能とされたこと、
    を特徴とする光ピックアップ装置。
  39. 請求項１、２、３、９、１３、１６、又は２０の何れか１項に記載の光ピックアップ装
    置を少なくとも備えること、
    を特徴とする光ディスク装置。
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Families Citing this family (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
TW201021039A (en) 2008-10-30 2010-06-01 Sanyo Electric Co Optical pickup device and optical disc device equipped with same
US20130256286A1 (en) * 2009-12-07 2013-10-03 Ipg Microsystems Llc Laser processing using an astigmatic elongated beam spot and using ultrashort pulses and/or longer wavelengths
JP2012104179A (ja) * 2010-11-09 2012-05-31 Funai Electric Co Ltd 光ピックアップ
WO2013103057A1 (ja) * 2012-01-06 2013-07-11 三菱電機株式会社 光ヘッド装置及び光ディスク装置
CN103988259A (zh) * 2012-10-11 2014-08-13 松下电器产业株式会社 光信息装置、倾斜检测方法、计算机、播放机以及刻录机
CN110085533B (zh) * 2019-04-30 2022-01-21 歌尔光学科技有限公司 一种led光斑对称性的检测方法及检测装置
CN113885284B (zh) * 2021-09-27 2023-01-31 青岛海信激光显示股份有限公司 光源组件与投影设备

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003317280A (ja) * 2002-04-24 2003-11-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップ装置
JP2007334999A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップ装置及び光ディスク装置

Family Cites Families (16)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US6567355B2 (en) * 1999-12-03 2003-05-20 Hitachi, Ltd. Optical detector, optical pickup and optical information reproducing apparatus using optical pickup
JP3828740B2 (ja) * 1999-12-03 2006-10-04 株式会社日立製作所 光検出器、光ピックアップ及びそれを用いた光学的情報再生装置
JP4106208B2 (ja) * 2001-10-04 2008-06-25 シャープ株式会社 光ピックアップ装置
US7317672B2 (en) * 2002-09-06 2008-01-08 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. Optical head
JP2006004499A (ja) * 2004-06-16 2006-01-05 Hitachi Ltd 光ピックアップ装置および光ディスク装置
JP2006216106A (ja) * 2005-02-02 2006-08-17 Tdk Corp 回折格子、受光素子及びそれらを用いた光ヘッド並びに光記録再生装置
JP4859529B2 (ja) * 2005-10-17 2012-01-25 三洋電機株式会社 光ピックアップ装置および光ディスク装置
JP4645410B2 (ja) * 2005-10-25 2011-03-09 ソニー株式会社 光ピックアップ及び光ディスク装置
JP4841401B2 (ja) 2005-11-21 2011-12-21 三洋電機株式会社 光ピックアップ装置
JP4518009B2 (ja) 2005-11-29 2010-08-04 旭硝子株式会社 ３波長用回折素子、位相板付３波長用回折素子および光ヘッド装置
JP4630844B2 (ja) * 2006-05-29 2011-02-09 パナソニック株式会社 光ピックアップ装置
JP4106072B1 (ja) * 2006-12-18 2008-06-25 松下電器産業株式会社 光ピックアップ装置
JP4444977B2 (ja) * 2007-02-01 2010-03-31 パナソニック株式会社 光ピックアップ装置
JP2008204517A (ja) * 2007-02-19 2008-09-04 Hitachi Media Electoronics Co Ltd 光ヘッドおよび光学的情報記録再生装置
JP2009043383A (ja) * 2007-08-10 2009-02-26 Sanyo Electric Co Ltd 光ピックアップ装置
TW201021039A (en) 2008-10-30 2010-06-01 Sanyo Electric Co Optical pickup device and optical disc device equipped with same

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2003317280A (ja) * 2002-04-24 2003-11-07 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップ装置
JP2007334999A (ja) * 2006-06-15 2007-12-27 Matsushita Electric Ind Co Ltd 光ピックアップ装置及び光ディスク装置

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