CN110085533B - 一种led光斑对称性的检测方法及检测装置 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种LED光斑对称性的检测方法及检测装置，该检测方法包括以下步骤：S1，对待测LED通入第一电流，对待测LED拍照，得到第一光斑图片，计算得到所述第一光斑的中心位置的坐标P1；S2，对待测LED通入第二电流，对待测LED拍照，得到第二光斑图片，计算得出所述第二光斑的中心位置的坐标P2；S3，对比第一坐标P1和第二坐标P2，分别根据X坐标轴和Y坐标轴方向的数值大小，判断LED发光光斑的对称性，根据坐标P1和P2是否相同，判断LED发光光斑上下和左右对称性。现有技术相比，通过检测LED在不同电流下的光斑的对称性，判断LED发光光强分布均匀程度，简便快捷，适宜在工业产线中快速检测LED发光光斑的光强分布均匀性。

Description

一种LED光斑对称性的检测方法及检测装置
技术领域
本发明涉及LED检测技术领域，尤其涉及一种LED光斑对称性的检测方法及检测装置。
背景技术
发光二极管(LED)是一种将电能转化为光能的半导体电子元件，现已作为一种成熟的电子元件应用在指示灯、显示板、照明等多个方面。LED的光学参数主要有光通量、发光效率、光强分布、波长等。其各个参数的实验室检测手法也比较成熟，光斑的光强分布均匀性可以采用分布式光度计来检测LED在不同空间角度下光强的分布特性。但是，这些测试一般仅限于实验室测试，利用3～5个样品进行测试，测试时间长，费用高，无法实现工业产线中LED快速检测。因此，有必要提供一种能够在工业产线中快速检测LED发光光斑的光强分布均匀性的方法和检测装置。
发明内容
本发明的一个技术任务是解决现有技术的不足，设计提供一种能够在工业产线中快速检测LED发光光斑的光强分布均匀性的方法和检测装置。
为了实现上述目的，本发明采取的技术方案是：一种LED光斑对称性的检测方法，包括以下步骤：
S1：对待测LED通入第一电流，对待测LED拍照，得到第一光斑图片，计算得到所述第一光斑的中心位置的坐标P1(X1、Y1)；
S2：对待测LED通入第二电流，且所述第二电流值大于所述第一电流值，对待测LED拍照，得到第二光斑图片，计算得出所述第二光斑的中心位置的坐标P2(X2、Y2)；
S3：对比第一坐标P1(X1、Y1)和第二坐标P2(X2、Y2)，分别根据X坐标轴和Y坐标轴方向的数值大小，判断LED发光光斑的对称性。
优选地，当X1＝X2，Y1＝Y2，则LED发光光斑同时上下对称和左右对称；当Y1＝Y2，X1≠X2，则LED发光光斑为上下对称，左右不对称；当X1＝X2，Y1≠Y2，则LED发光光斑为左右对称，上下不对称。
优选地，当|X1-X2|≤d1，|Y1-Y2|≤d2，则LED发光光斑同时上下对称和左右对称；当|X1-X2|≤d1，|Y1-Y2|＞d2，则LED发光光斑左右对称，上下不对称；当|X1-X2|＞d1，|Y1-Y2|≤d2，则LED发光光斑上下对称，左右不对称。
优选地，步骤S1和S2中,通过将所述第一光斑图片和所述第二光斑图片放入直角坐标系中得到相应光斑中心位置的坐标P1(X1、Y1)和P2(X1、Y1)。
优选地，所述待测LED包括LED芯片和包裹所述LED芯片的封装；步骤S1中对待测LED通入第一电流，仅使所述封装正对所述芯片的部分透光，步骤S2中对待测LED通入第二电流，使所述封装整体透光。
优选地，所述LED芯片的形状为正多边形或者圆形，所述封装正对所述LED芯片的表面为正多边形或者圆形。
本发明的另一方面提供了一种LED光斑对称性的检测装置，包括LED固定座、电源和相机，所述电源与位于所述LED固定座上的待测LED电连接，所述相机高度可调节的设于所述LED固定座的上方，所述相机用于对通电后的待测LED进行拍照。
优选地，所述LED固定座设有高度可调的相机支撑架，所述相机设于所述相机支撑架上。
优选地，所述LED固定座与所述待测LED接触的表面设有正负极触点，所述LED固定座的表面还设有用于连接电源的正负极接线柱，所述正负极触点和所述正负极接线柱相应电连接。
优选地，所述LED固定座为可伸缩固定座，用于固定不同大小的LED。
本发明的技术效果：
与现有技术相比，本发明根据发光光斑的对称性与光强分布均匀程度的相关性，通过检测LED在不同电流下的光斑的对称性，判断LED发光光强分布均匀程度，简便快捷，适宜在工业产线中快速检测LED发光光斑的光强分布均匀性。
附图说明
图1为本发明检测方法中S1步骤中形成光斑及中心坐标状态图；
图2为本发明检测方法中S2步骤中形成光斑及中心坐标状态图；
图3为本发LED结构示意图；
图4为本发明LED光斑对称性的检测装置结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明，并不用与限定本发明。
一种LED光斑对称性的检测方法，包括以下步骤：
S1：如图1所示，对待测LED通入第一电流，对待测LED拍照，得到第一光斑图片，计算得到所述第一光斑的中心位置的坐标P1(X1、Y1)；
S2：如图2所示，对待测LED通入第二电流，且所述第二电流值大于所述第一电流值，对待测LED拍照，得到第二光斑图片，计算得出所述第二光斑的中心位置的坐标P2(X2、Y2)；
S3：对比第一坐标P1(X1、Y1)和第二坐标P2(X2、Y2)，分别根据X坐标轴和Y坐标轴方向的数值大小，判断LED发光光斑的对称性。。
其中，光斑中心坐标P1和P2的获取方式为现有的常规方法，此处不再赘述；LED发光光斑对称性越好，则LED发光光强帆布均匀性越好，本发明根据发光光斑的对称性与光强分布均匀程度的相关性，通过检测LED在不同电流下的光斑的对称性，判断LED发光光强分布均匀程度，本发明中判断LED发光光斑的对称性方法包括两种方式：
第一种：第一当X1＝X2，Y1＝Y2，则LED发光光斑同时上下对称和左右对称；当Y1＝Y2，X1≠X2，则LED发光光斑为上下对称，左右不对称；当X1＝X2，Y1≠Y2，则LED发光光斑为左右对称，上下不对称，当X1≠X2，Y1≠Y2，则说明LED发光光斑左右不对称，上下也不对称。当发光光斑同时上下对称、左右对称，则说明LED发光光强分布均匀，其余情况下LED发光强度分布不均匀，说明LED芯片在封装的过程中位置存在偏移。
第二种：当|X1-X2|≤d1，|Y1-Y2|≤d2，则LED发光光斑同时上下对称和左右对称；当|X1-X2|≤d1，|Y1-Y2|＞d2，则LED发光光斑左右对称，上下不对称；当|X1-X2|＞d1，|Y1-Y2|≤d2，则LED发光光斑上下对称，左右不对称。当发光光斑同时上下对称、左右对称，则说明LED发光光强分布均匀，其余情况下LED发光强度分布不均匀，说明LED芯片在封装的过程中位置存在偏移。其中，d1与d2可以是相同的数值，也可以是不同的数值。
其中，步骤S1和S2中,通过将所述第一光斑图片和所述第二光斑图片放入直角坐标系中得到相应光斑中心位置的坐标P1(X1、Y1)和P2(X1、Y1)。
其中，如图3所示，所述待测LED包括LED芯片1和包裹所述LED芯片1的封装2；步骤S1中对待测LED通入第一电流，仅使所述封装正2对所述芯片1的部分透光，即仅使芯片1在封装2上的正投影部分透光，步骤S2中对待测LED通入第二电流，使所述封装2整体透光。
如图1至图3共同所示，本实施例中LED芯片1为正方形，封装正对芯片1的表面为圆形。步骤S1中对待测LED通入第一电流，使LED芯片发光，仅使所述封装正2对所述芯片1的部分透光，从而形成方形光斑；步骤S2中对待测LED通入第二电流，使所述封装2整体透光，从而形成圆形光斑。当然，LED芯片的形状也可以是其他正多边形或者圆形，封装正对LED芯片的表面也可以是正多边形。
与现有技术相比，本发明根据发光光斑的对称性与光强分布均匀程度的相关性，通过检测LED在不同电流下的光斑的对称性，判断LED发光光强分布均匀程度，简便快捷，适宜在工业产线中快速检测LED发光光斑的光强分布均匀性。本发明的另一方面，还提供一种LED光斑对称性的检测装置，用于上述LED光斑对称性检测方法，如图4所示，该LED光斑对称性的检测装置包括LED固定座3、电源4和相机5，所述电源4与位于所述LED固定座3上的待测LED电连接，所述相机5高度可调节的设于所述LED固定座3的上方，所述相机5用于对通电后的待测LED进行拍照。
其中，所述LED固定座3设有高度可调的相机支撑架6，所述相机5设于所述相机支撑架6上。
其中，所述LED固定座3与所述待测LED接触的表面设有正负极触点，所述LED固定座3的表面还设有用于连接电源4的正负极接线柱，所述正负极触点和所述正负极接线柱相应电连接，即正极触点与正接线柱电连接，负极触点与负接线柱电连接。
其中，所述LED固定座3为可伸缩固定座，LED固定座可在水平方向上伸缩，用于固定不同大小的LED。
本发明的LED光斑对称性检测装置结构简单，便于操作，适宜在工业产线中快速检测LED发光光斑的光强分布均匀性。
综上所述仅为本发明较佳的实施例，并非用来限定本发明的实施范围。即凡依本发明申请专利范围的内容所作的等效变化及修饰，皆应属于本发明的技术范畴。

Claims (9)

1.一种LED光斑对称性的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：
S1：对待测LED通入第一电流，对待测LED拍照，得到第一光斑图片，计算得到所述第一光斑的中心位置的坐标P1（X1、Y1）；
S2：对待测LED通入第二电流，且所述第二电流值大于所述第一电流值，对待测LED拍照，得到第二光斑图片，计算得出所述第二光斑的中心位置的坐标P2（X2、Y2）；
S3：对比第一坐标P1（X1、Y1）和第二坐标P2（X2、Y2），分别根据X坐标轴和Y坐标轴方向的数值大小，判断LED发光光斑的对称性；
当|X1-X2|≤d1，|Y1-Y2|≤d2，则LED发光光斑同时上下对称和左右对称；当|X1-X2|≤d1，|Y1-Y2|＞d2，则LED发光光斑左右对称，上下不对称；当|X1-X2|＞d1，|Y1-Y2|≤d2，则LED发光光斑上下对称，左右不对称。
2.根据权利要求1所述的LED光斑对称性的检测方法，其特征在于， 当X1=X2，Y1=Y2，则LED发光光斑同时上下对称和左右对称；当Y1=Y2，X1≠X2，则LED发光光斑为上下对称，左右不对称；当X1=X2，Y1≠Y2，则LED发光光斑为左右对称，上下不对称。
3.根据权利要求1所述的LED光斑对称性的检测方法，其特征在于，步骤S1和S2中,通过将所述第一光斑图片和所述第二光斑图片放入直角坐标系中得到相应光斑中心位置的坐标P1（X1、Y1）和P2（X1、Y1）。
4.根据权利要求1所述的LED光斑对称性的检测方法，其特征在于，所述待测LED包括LED芯片和包裹所述LED芯片的封装；步骤S1中对待测LED通入第一电流，仅使所述封装正对所述芯片的部分透光，步骤S2中对待测LED通入第二电流，使所述封装整体透光。
5.根据权利要求4所述的LED光斑对称性的检测方法，其特征在于，所述LED芯片的形状为正多边形或者圆形，所述封装正对所述LED芯片的表面为正多边形或者圆形。
6.一种LED光斑对称性的检测装置，用于权利要求1至5任一权利要求所述的LED光斑对称性检测方法，其特征在于，包括LED固定座、电源和相机，所述电源与位于所述LED固定座上的待测LED电连接，所述相机高度可调节的设于所述LED固定座的上方，所述相机用于对通电后的待测LED进行拍照。
7.根据权利要求6所述的LED光斑对称性的检测装置，其特征在于，所述LED固定座设有高度可调的相机支撑架，所述相机设于所述相机支撑架上。
8.根据权利要求6所述的LED光斑对称性的检测装置，其特征在于，所述LED固定座与所述待测LED接触的表面设有正负极触点，所述LED固定座的表面还设有用于连接电源的正负极接线柱，所述正负极触点和所述正负极接线柱相应电连接。
9.根据权利要求6所述的LED光斑对称性检测装置，其特征在于，所述LED固定座为可伸缩固定座，用于固定不同大小的LED。
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