CN101603998A - Led光电参数测试系统 - Google Patents

Led光电参数测试系统 Download PDF

Info

Publication number
CN101603998A
CN101603998A CNA2008102421372A CN200810242137A CN101603998A CN 101603998 A CN101603998 A CN 101603998A CN A2008102421372 A CNA2008102421372 A CN A2008102421372A CN 200810242137 A CN200810242137 A CN 200810242137A CN 101603998 A CN101603998 A CN 101603998A
Authority
CN
China
Prior art keywords
circuit
constant
voltage
current
led
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CNA2008102421372A
Other languages
English (en)
Inventor
李艳
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Priority to CNA2008102421372A priority Critical patent/CN101603998A/zh
Publication of CN101603998A publication Critical patent/CN101603998A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00—Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50—Photovoltaic [PV] energy

Abstract

本发明涉及一种LED光电参数测试系统，用于对不同种类的LED灯的状态参数如电压、电流、光波波长以及电池工作状态进行测试，该LED光电参数测试系统包括供电模块、中央微处理器、恒流恒压电路、调解处理电路、探测电路、电源电路，光收探头，恒流恒压电路能够根据LED灯的特征调整电压和电流，从而根据不同的LED灯调节方便地对LED灯的工作电压、工作电流、光波长等信息进行准确地测量，实现对LED灯光电参数准确测量的目的。

Description

LED光电参数测试系统
技术领域
本发明涉及一种LED灯测试装置，尤指一种用于测试不同功率和工作电压的LED灯的光、电参数的LED光电参数测量系统。
背景技术
LED是英文light emitting diode(发光二极管)的缩写，它的基本结构是一块置于一个有引线的架子上电致发光的半导体材料，四周用环氧树脂密封成型，发光二极管核心部分由P型半导体和N型半导体组成的晶片，在P型半导体和N型半导体之间有一个P-N结过渡层，在该PN结加正向电压的时候，电流从LED阳极流向阴极时，少数载流子与多数载流子复合，多余的能量以光的形式释放出来，半导体晶体就发出从紫外到红外不同颜色的光线，光的强弱与电流有关从而把电能直接转换为光能，PN结加反向电压时，少数载流子难以注入，故不发光，LED灯的光电参数是衡量LED灯品质的重要数据，对优化设计LED灯有着重要的意义，为了能够对LED灯的各种光电参数进行测量，人们设计了很多种LED灯参数测量设备，在测试LED灯的各种光电参数，需要对该LED灯提供恒流和恒压源的负载，而所加入的恒流恒压源的电压和电流的大小，都会影响到对LED灯参数测量的效果，目前的大多数LED灯测量装置，往往只是提供一种电压和电流固定的恒流恒压源，这在对不同型号的LED灯进行测量时，不能同时实现较好的测量效果，影响了大部分测试的准确性。
发明内容
本发明的技术目的是为了提供一种能够根据不同LED灯的参数来调整所输出的恒流恒压源的电流和电压值，以实现对各种LED灯的多种参数准确测量的LED光电参数测试系统。
为实现上述的技术目的，本发明的LED光电参数测试系统，用于对不同种类的LED灯的状态参数如电压、电流、光波波长以及电池工作状态进行测试，该LED光电参数测试系统包括供电模块、中央微处理器、恒流恒压电路、调解处理电路、探测电路、电源电路，光收探头，其中
供电模块：包括电源和稳压电路，用作与各个功能模块连接并提供系统供电；
恒流恒压电路：该恒流恒压电路根据被测LED灯的基本参数调整到合适的电压后保持恒定，对LED灯供电并保持电流恒定；
探测电路：包括探测处理模块和光收探头，光收探头接受LED灯发出的光源信号，并将这些光源信号输送给探测处理模块，该探测处理模块对接收到的LED灯光的参数特征进行分析，并将分析得到的LED灯参数传递给调节处理电路；
调节处理电路：对探测电路送来的信号进行处理和调节，并根据探测电路送来的信号对恒流恒压电路的工作电流和工作电压进行调节，使恒流恒压电路输出到被测LED灯的电压和电流保持在合理范围内；
中央微处理器：该中央微处理器与上述的恒流恒压电路、探测电路和调解处理电路连接，用于对恒流恒压电路、探测电路和调解处理电路之间进行控制和协调。
上述的LED光电参数测试系统还包括有用于显示测量信息的显示器和显示电路，该显示电路分别与显示器和中央中央微处理连接。
上述的供电模块的电源为可充电的锂电池，该供电模块还包括有为该锂电池充电的充电电路，该充电电路分别与外接电源和锂电池连接。
有益效果：本发明的LED光电参数测试系统，内部采用专用的大功率LED驱动集成电路做恒流恒压源，可以根据不同的LED灯调节所加的恒流恒压源的电流值和电压值，以保证所测的LED灯的工作电压、工作电流、光波长灯信息的准确性，实现对不同型号的LED灯光电参数都能够准确地进行测量。
为便于说明和本发明有关的详细内容及技术，以下兹就配合附图进行说明。
附图说明
图1、为本发明的工作原理示意图；
图2、为本发明对LED灯参数进行测量的流程图。
具体实施方式
请参照图1所示，本发明的LED光电参数测试系统，对不同种类的LED灯的状态参数如电压、电流、光波波长以及电池工作状态进行测试，该LED光电参数测试系统包括供电模块、中央微处理器、恒流恒压电路、调解处理电路、探测电路、电源电路，光收探头，其中
供电模块：包括电源和稳压电路，用作与各个功能模块连接并提供系统供电；
恒流恒压电路：该恒流恒压电路根据被测LED灯的基本参数调整到合适的电压后保持恒定，对LED灯供电并保持电流恒定；
探测电路：包括探测处理模块和光收探头，光收探头接受LED灯发出的光源信号，并将这些光源信号输送给探测处理模块，该探测处理模块对接收到的LED灯光的参数特征进行分析，并将分析得到的LED灯参数传递给调节处理电路；
调节处理电路：对探测电路送来的信号进行处理和调节，并根据探测电路送来的信号对恒流恒压电路的工作电流和工作电压进行调节，使恒流恒压电路输出到被测LED灯的电压和电流保持在合理范围内；
中央微处理器：该中央微处理器与上述的恒流恒压电路、探测电路和调解处理电路连接，用于对恒流恒压电路、探测电路和调解处理电路之间进行控制和协调。
上述的LED光电参数测试系统还包括有用于显示测量信息的显示器和显示电路，该显示电路分别与显示器和中央中央微处理连接。
上述的供电模块的电源为可充电的锂电池，该供电模块还包括有为该锂电池充电的充电电路，该充电电路分别与外接电源和锂电池连接。
实施例1，针对不同功率的LED调节处理电路对可调恒流恒压源进行调节，一路输出稳定的源对LED进行供电，一路输出到显示器电路，同时调节处理电路从探测电路得到的信息进行分析处理，通过调节处理电路进行细化计算处理。并重新设定恒流恒压值。针对被测LED实际参数，达到测试结果准确，合理的目地。
首先对待测LED进行估量判断，或根据厂家提供的参数，然后调节一个合理的恒流恒压值，输出到测试探头。接着把待测的LED按正极对正极、负极对负极连接到测试探头上，同时把LED发出来的光正对着光收探头，光收探头把接收到的光信号转换成电信号，送到探测电路进行分析处理，并输出控制调节电路使恒流恒压电路输出到LED电流电压更为合理，同时测试结果通过显示屏直观的显示出来。
本发明的优越功效在于设计方法简单，易于实现，便于批量生产和降低成本，能较为容易地获取准确的测试结果，并且实现了成本低，可靠性高。

Claims (3)

1、一种LED光电参数测试系统，用于对不同种类的LED灯的状态参数如电压、电流、光波波长以及电池工作状态进行测试，该LED光电参数测试系统包括供电模块、中央微处理器、恒流恒压电路、调解处理电路、探测电路、电源电路，光收探头，其中，供电模块：包括电源和稳压电路，用作与各个功能模块连接并提供系统供电；恒流恒压电路：该恒流恒压电路根据被测LED灯的基本参数调整到合适的电压后保持恒定，对LED灯供电并保持电流恒定；探测电路：包括探测处理模块和光收探头，光收探头接受LED灯发出的光源信号，并将这些光源信号输送给探测处理模块，该探测处理模块对接收到的LED灯光的参数特征进行分析，并将分析得到的LED灯参数传递给调节处理电路；调节处理电路：对探测电路送来的信号进行处理和调节，并根据探测电路送来的信号对恒流恒压电路的工作电流和工作电压进行调节，使恒流恒压电路输出到被测LED灯的电压和电流保持在合理范围内；中央微处理器：该中央微处理器与上述的恒流恒压电路、探测电路和调解处理电路连接，用于对恒流恒压电路、探测电路和调解处理电路之间进行控制和协调。
2、如权利要求1所述的LED光电参数测试系统，其特征在于所述的LED光电参数测试系统还包括有用于显示测量信息的显示器和显示电路，该显示电路分别与显示器和中央微处理连接。
3、如权利要求1所述的LED光电参数测试系统，其特征在于所述供电模块的电源为可充电的锂电池，该供电模块还包括有为该锂电池充电的充电电路，该充电电路分别与外接电源和锂电池连接。
CNA2008102421372A 2008-12-31 2008-12-31 Led光电参数测试系统 Pending CN101603998A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2008102421372A CN101603998A (zh) 2008-12-31 2008-12-31 Led光电参数测试系统

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CNA2008102421372A CN101603998A (zh) 2008-12-31 2008-12-31 Led光电参数测试系统

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN101603998A true CN101603998A (zh) 2009-12-16

Family

ID=41469811

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CNA2008102421372A Pending CN101603998A (zh) 2008-12-31 2008-12-31 Led光电参数测试系统

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN101603998A (zh)

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102478638A (zh) * 2010-11-27 2012-05-30 西安博昱新能源有限公司 Led路灯电源综合测试系统
JP2014525227A (ja) * 2011-07-19 2014-09-25 アプライド マテリアルズ イタリア エス． アール． エル． 光電池デバイスを試験する方法及び装置
CN104655923A (zh) * 2015-02-09 2015-05-27 普天智能照明研究院有限公司 一种led颗粒功率自动测试仪
TWI633314B (zh) * 2017-12-06 2018-08-21 宏碁股份有限公司 應用在微型化發光裝置之檢測系統及相關檢測方法
CN110085533A (zh) * 2019-04-30 2019-08-02 歌尔股份有限公司 一种led光斑对称性的检测方法及检测装置
CN110749425A (zh) * 2019-10-31 2020-02-04 厦门大学 一种led多角度光学测试装置及测试方法

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN102478638A (zh) * 2010-11-27 2012-05-30 西安博昱新能源有限公司 Led路灯电源综合测试系统
JP2014525227A (ja) * 2011-07-19 2014-09-25 アプライド マテリアルズ イタリア エス． アール． エル． 光電池デバイスを試験する方法及び装置
CN104655923A (zh) * 2015-02-09 2015-05-27 普天智能照明研究院有限公司 一种led颗粒功率自动测试仪
TWI633314B (zh) * 2017-12-06 2018-08-21 宏碁股份有限公司 應用在微型化發光裝置之檢測系統及相關檢測方法
CN110085533A (zh) * 2019-04-30 2019-08-02 歌尔股份有限公司 一种led光斑对称性的检测方法及检测装置
CN110749425A (zh) * 2019-10-31 2020-02-04 厦门大学 一种led多角度光学测试装置及测试方法

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201289516Y (zh) Led光电参数测试装置
CN101603998A (zh) Led光电参数测试系统
CN203981380U (zh) 一种oled的光学特性测试装置
CN201622322U (zh) Oled光电性能综合测试装置
CN201096865Y (zh) 太阳能电池测试装置
CN108414914A (zh) 一种倒装led芯片收光测试机
CN202854290U (zh) 一种热电性能测量装置
CN202339395U (zh) 半导体发光器件的发光效率检测系统
CN207965045U (zh) 一种激光器参数测试仪
CN103092249A (zh) 一种太阳能电池最大功率点跟踪方法
CN204788900U (zh) 太阳模拟器辐照度、辐照均匀性和稳定性检测装置
CN207764347U (zh) 单芯片的测试装置
CN105527483A (zh) 一种电光独立调制的瞬态光电压测试系统
CN208188267U (zh) 一种倒装led芯片收光测试机
CN209946011U (zh) 电致发光材料的性能检测装置
CN204514471U (zh) 一种光照强度检测装置
CN202119874U (zh) 一种二极管热阻测量装置
CN103163443A (zh) 光电雪崩二极管（apd）自动参数测试仪
CN104090222B (zh) 一种原位多功能光电器件探针测试装置
CN207070015U (zh) 一种太阳能电池板组件便携式测试仪
CN106911304A (zh) 一种双面太阳能电池双光源测试设备
CN101266170A (zh) 测量多结光伏电池量子效率的方法和设备
CN206629032U (zh) 一种双面太阳能电池双光源测试设备
CN204206107U (zh) 一种太阳能电池性能测试仪
CN203811165U (zh) 一种太阳能双轴自动跟踪系统阳光检测电路

Legal Events

Date Code Title Description
C06 Publication
PB01 Publication
C10 Entry into substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
C02 Deemed withdrawal of patent application after publication (patent law 2001)
WD01 Invention patent application deemed withdrawn after publication

Open date: 20091216