JPWO2010004609A1 - 電力用半導体装置 - Google Patents
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Abstract
取り付け面積を小さくすることができる電力用半導体装置を得る。このため、第1の金属板がパワーチップの第1の電力端子に接続され、第1の金属板に対向する第2の金属板がパワーチップの第2の電力端子に接続されている。第1の金属板及び第2の金属板の外側から絶縁カバーがパワーチップを覆っている。パワーチップの信号端子に接続された信号用外部端子が絶縁カバーの上面から導出している。第1,第2の金属板は、絶縁カバーの下面から導出した第1,第2の電力用外部端子を有する。第1の電力用外部端子と第2の電力用外部端子は、それぞれ反対方向に折り曲げられている。第1の電力用外部端子又は第2の電力用外部端子の折り曲げられた方向において、絶縁カバーを挟んで第1の電力用外部端子の反対側には第2の電力用外部端子は存在せず、絶縁カバーを挟んで第2の電力用外部端子の反対側には第1の電力用外部端子は存在しない。
Description
本発明は、IGBT(Insulated Gate Bipolar Transistor)チップなどのパワーチップが搭載された電力用半導体装置に関し、特に取り付け面積を小さくすることができる電力用半導体装置に関するものである。
パワーチップを挟んだ2枚の金属板により、パワーチップへの電力供給とパワーチップからの放熱を行う電力用半導体装置が提案されている(例えば、特許文献1,2参照)。
複数の電力用半導体装置を接続することで電力システムが構成される。この際に、電力用半導体装置の取り付け面積を小さくして、小型の電力システムを構成することが求められている。
本発明は、上述のような課題を解決するためになされたもので、その目的は、取り付け面積を小さくすることができる電力用半導体装置を得るものである。
本発明は、第1の主面に第1の電力端子及び信号端子が形成され、前記第1の主面に対向する第2の主面に第2の電力端子が形成されたパワーチップと、前記パワーチップの前記第1の電力端子に接続された第1の金属板と、前記第1の金属板に対向するように配置され、前記パワーチップの前記第2の電力端子に接続された第2の金属板と、前記第1の金属板及び前記第2の金属板の外側から前記パワーチップを覆う絶縁カバーと、前記パワーチップの前記信号端子に接続され、前記絶縁カバーの上面から導出した信号用外部端子とを備え、前記第1の金属板は、前記絶縁カバーの下面から導出した第1の電力用外部端子を有し、前記第2の金属板は、前記絶縁カバーの下面から導出した第2の電力用外部端子を有し、前記第1の電力用外部端子と前記第2の電力用外部端子は、それぞれ反対方向に折り曲げられ、前記第1の電力用外部端子又は前記第2の電力用外部端子の折り曲げられた方向において、前記絶縁カバーを挟んで前記第1の電力用外部端子の反対側には前記第2の電力用外部端子は存在せず、前記絶縁カバーを挟んで前記第2の電力用外部端子の反対側には前記第1の電力用外部端子は存在しないことを特徴とする電力用半導体装置である。
本発明により、取り付け面積を小さくすることができる。これにより、小型の電力システムを構成することができる。
10 電力用半導体装置
12 絶縁カバー
16 信号用外部端子
18 第1の電力用外部端子
20 第2の電力用外部端子
26 IGBTチップ(パワーチップ)
26a エミッタ(第1の電力端子)
26b ゲート(信号端子)
26c コレクタ(第2の電力端子)
30 第1の金属板
30a,30b 凸部
30c,30d 弾性部
32 第2の金属板
58,60,66,68 応力緩和用金属板
74,84 絶縁ガイド
12 絶縁カバー
16 信号用外部端子
18 第1の電力用外部端子
20 第2の電力用外部端子
26 IGBTチップ(パワーチップ)
26a エミッタ(第1の電力端子)
26b ゲート(信号端子)
26c コレクタ(第2の電力端子)
30 第1の金属板
30a,30b 凸部
30c,30d 弾性部
32 第2の金属板
58,60,66,68 応力緩和用金属板
74,84 絶縁ガイド
図面を参照して本発明の実施の形態について説明する。図中、同一または相当する部分には同一の符号を付してその説明を簡略化ないし省略することがある。
実施の形態1.
図1は、本発明の実施の形態1に係る電力用半導体装置を示す斜視図であり、図2は上面図である。電力用半導体装置10の絶縁カバー12の上面から信号用外部端子14,16が導出し、絶縁カバー12の下面から第1,第2の電力用外部端子18,20が導出している。第1,第2の電力用外部端子18,20は、それぞれ反対方向に折り曲げられている。また、第1の電力用外部端子18又は第2の電力用外部端子20の折り曲げられた方向において、絶縁カバー12を挟んで第1の電力用外部端子18の反対側には第2の電力用外部端子20は存在せず、絶縁カバー12を挟んで第2の電力用外部端子20の反対側には第1の電力用外部端子18は存在しない。第1,第2の電力用外部端子18,20には、それぞれ取り付け穴22,24が形成されている。
図1は、本発明の実施の形態1に係る電力用半導体装置を示す斜視図であり、図2は上面図である。電力用半導体装置10の絶縁カバー12の上面から信号用外部端子14,16が導出し、絶縁カバー12の下面から第1,第2の電力用外部端子18,20が導出している。第1,第2の電力用外部端子18,20は、それぞれ反対方向に折り曲げられている。また、第1の電力用外部端子18又は第2の電力用外部端子20の折り曲げられた方向において、絶縁カバー12を挟んで第1の電力用外部端子18の反対側には第2の電力用外部端子20は存在せず、絶縁カバー12を挟んで第2の電力用外部端子20の反対側には第1の電力用外部端子18は存在しない。第1,第2の電力用外部端子18,20には、それぞれ取り付け穴22,24が形成されている。
図3は、図1の電力用半導体装置の内部を示す斜視図である。図4は、図3のA−A´における断面図である。図5は、図4の要部を拡大した断面図である。図6は、図1の電力用半導体装置の回路図である。
4つのIGBTチップ26と4つのフリーホイールダイオードチップ28が並列に接続されている。IGBTチップ26(パワーチップ)の第1の主面にエミッタ26a(第1の電力端子)及びゲート26b(信号端子)が形成され、第1の主面に対向する第2の主面にコレクタ26c(第2の電力端子)が形成されている。フリーホイールダイオードチップ28の第1の主面にアノード28aが形成され、第2の主面にカソード28bが形成されている。
第1の金属板30と第2の金属板32が対向するように配置されている。第1の金属板30の凸部30aはIGBTチップ26のエミッタ26aにはんだ34により接続され、第1の金属板30の凸部30bはフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aにはんだ36により接続されている。第2の金属板32は、IGBTチップ26のコレクタ26cとフリーホイールダイオードチップ28のカソード28bにそれぞれはんだ38,40により接続されている。信号用外部端子16は絶縁板42により第1の金属板30と隔離され、信号用外部端子16の凸部16aはIGBTチップ26のゲート26bにはんだ44により接続されている。
第1,第2の金属板30,32の外側からIGBTチップ26を樹脂製の絶縁カバー12が覆うことで、図1の電力用半導体装置10が形成される。第1,第2の金属板30,32は、それぞれ絶縁カバー12の下面から導出した第1,第2の電力用外部端子18,20を有する。
上記の構成であれば、IGBTチップ26に対するワイヤーボンディングが不要であるため、製造が容易となり、製造コストを低減することができる。また、IGBTチップ26から第1,第2の電力用外部端子18,20までの配線が簡単であり、第1,第2の金属板30,32が広い面積で電流を流すため、内部配線の抵抗および自己インダクタンスを低くできる。そして、第1,第2の金属板30,32が相互に対向し、電流を逆方向に流すため、相互インダクタンスも低くすることができる。
また、凸部30a,30bを設けたことでIGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30との接続が容易になる。また、機械的ストレスや熱ストレスに対する耐量を向上することができる。
図7は、図1の電力用半導体装置をヒートシンク上に搭載した状態の一例を示す斜視図である。冷却部材であるヒートシンク46上に、絶縁シート48a,48bを介して、パスバーなどの外部配線50,52がそれぞれ搭載されている。そして、取り付け穴22,24にそれぞれ挿入された絶縁性のネジ54a,54bにより、第1,第2の電力用外部端子18,20がそれぞれ外部配線50,52に電気的に接続され、かつヒートシンク46に固定されている。なお、図8に示すようにヒートシンク46上の全面に絶縁シート48を配置してもよい。
このように電力用半導体装置10はヒートシンク46の上面に対して垂直に立てて取り付けられるため、取り付け面積が小さい。また、信号用外部端子14,16は、絶縁カバー12の第1,第2の電力用外部端子18,20とは反対側から導出しているため、信号用外部端子14,16への接続が容易である。
図9は、図1の電力用半導体装置のレイアウトの一例を示す上面図である。4個の電力用半導体装置10を外部配線56を介して直列接続している。また、図10は、図1の電力用半導体装置のレイアウトの他の例を示す上面図である。3個の電力用半導体装置10を外部配線56を介して並列接続したものを2つ直列接続している。このように、一方の電力用半導体装置10の第1の電力用外部端子18と他方の電力用半導体装置10の第2の電力用外部端子20は重ならなようにしながら、2つの電力用半導体装置10を近接配置することができる。よって、特に直列接続において取り付け面積を小さくすることができる。これにより、小型の電力システムを構成することができる。
実施の形態2.
図11は、本発明の実施の形態2に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30の弾性部30cはIGBTチップ26のエミッタ26aにはんだ34により接続され、第1の金属板30の弾性部30dはフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aにはんだ36により接続されている。信号用外部端子16の弾性部16bはIGBTチップ26のゲート26bにはんだ44により接続されている。その他の構成は実施の形態1と同様である。
図11は、本発明の実施の形態2に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30の弾性部30cはIGBTチップ26のエミッタ26aにはんだ34により接続され、第1の金属板30の弾性部30dはフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aにはんだ36により接続されている。信号用外部端子16の弾性部16bはIGBTチップ26のゲート26bにはんだ44により接続されている。その他の構成は実施の形態1と同様である。
このように弾性部30c,30dを設けたことでIGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30との接続が容易になる。また、機械的ストレスや熱ストレスに対する耐量を向上することができる。
実施の形態3.
図12は、本発明の実施の形態3に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30に応力緩和用金属板58,60がはんだ62,64によりそれぞれ接続されている。第1の金属板30は、応力緩和用金属板58を介してIGBTチップ26のエミッタ26aにはんだ34により接続され、応力緩和用金属板60を介してフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aにはんだ36により接続されている。応力緩和用金属板58,60は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。その他の構成は実施の形態2と同様である。
図12は、本発明の実施の形態3に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30に応力緩和用金属板58,60がはんだ62,64によりそれぞれ接続されている。第1の金属板30は、応力緩和用金属板58を介してIGBTチップ26のエミッタ26aにはんだ34により接続され、応力緩和用金属板60を介してフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aにはんだ36により接続されている。応力緩和用金属板58,60は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。その他の構成は実施の形態2と同様である。
このようにIGBTチップ26と第1の金属板30の間に応力緩和用金属板58,60を挿入することで、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30との熱膨張係数の差による応力を緩和することができるため、機械的ストレスや熱ストレスに対する耐量を向上することができる。
実施の形態4.
図13は、本発明の実施の形態4に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第2の金属板32に応力緩和用金属板66,68がはんだ70,72により接続されている。第2の金属板32は、応力緩和用金属板66を介してIGBTチップ26のコレクタ26cにはんだ38により接続され、応力緩和用金属板68を介してフリーホイールダイオードチップ28のカソード28bにはんだ40により接続されている。応力緩和用金属板66,68は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第2の金属板32の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。その他の構成は実施の形態3と同様である。
図13は、本発明の実施の形態4に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第2の金属板32に応力緩和用金属板66,68がはんだ70,72により接続されている。第2の金属板32は、応力緩和用金属板66を介してIGBTチップ26のコレクタ26cにはんだ38により接続され、応力緩和用金属板68を介してフリーホイールダイオードチップ28のカソード28bにはんだ40により接続されている。応力緩和用金属板66,68は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第2の金属板32の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。その他の構成は実施の形態3と同様である。
このようにIGBTチップ26と第2の金属板32の間に応力緩和用金属板66,68を挿入することで、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第2の金属板32との熱膨張係数の差による応力も緩和することができるため、機械的ストレスや熱ストレスに対する耐量を実施の形態3よりも向上することができる。
実施の形態5.
図14は、本発明の実施の形態5に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図であり、図15は図14のB−B´における断面図である。
図14は、本発明の実施の形態5に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図であり、図15は図14のB−B´における断面図である。
IGBTチップ26及びフリーホイールダイオードチップ28を取り囲む絶縁ガイド74が、第1の金属板30と第2の金属板32の間に配置されている。そして、第1の金属板30と第2の金属板32は、絶縁ブッシュ76及びバネ材78を介してネジ80によりネジ止めされている。これにより、第1の金属板30の凸部30aはIGBTチップ26のエミッタ26aに圧接され、第1の金属板30の凸部30bはフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aに圧接されている。第2の金属板32は、IGBTチップ26のコレクタ26cとフリーホイールダイオードチップ28のカソード28bに圧接されている。信号用外部端子16の弾性部16bはIGBTチップ26のゲート26bに圧接されている。その他の構成は実施の形態1と同様である。
このようにはんだなどを用いずにIGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1,第2の金属板30,32を圧接するため、組立が容易である。また、絶縁ガイド74により、圧接時におけるIGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28の位置ずれを防ぐことができるため、信頼性の高い電力用半導体装置を実現することができる。
なお、本実施の形態ではネジ止めによる圧接構造について説明したが、これに限らず、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1,第2の金属板30,32を圧接できる他の構造でもよい。
実施の形態6.
図16は、本発明の実施の形態6に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30の弾性部30cはIGBTチップ26のエミッタ26aに圧接され、第1の金属板30の弾性部30dはフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aに圧接されている。その他の構成は実施の形態5と同様である。
図16は、本発明の実施の形態6に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30の弾性部30cはIGBTチップ26のエミッタ26aに圧接され、第1の金属板30の弾性部30dはフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aに圧接されている。その他の構成は実施の形態5と同様である。
このように弾性部30c,30dを設けたことでIGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30との接続が容易になる。また、機械的ストレスや熱ストレスに対する耐量を向上することができる。
実施の形態7.
図17は、本発明の実施の形態7に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第2の金属板32は、応力緩和用金属板66を介してIGBTチップ26のコレクタ26cに圧接され、応力緩和用金属板68を介してフリーホイールダイオードチップ28のカソード28bに圧接されている。応力緩和用金属板66,68は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第2の金属板32の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。圧接時における位置ずれを防ぐために、絶縁ガイド74が応力緩和用金属板66,68を取り囲んでいる。その他の構成は実施の形態5と同様である。
図17は、本発明の実施の形態7に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第2の金属板32は、応力緩和用金属板66を介してIGBTチップ26のコレクタ26cに圧接され、応力緩和用金属板68を介してフリーホイールダイオードチップ28のカソード28bに圧接されている。応力緩和用金属板66,68は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第2の金属板32の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。圧接時における位置ずれを防ぐために、絶縁ガイド74が応力緩和用金属板66,68を取り囲んでいる。その他の構成は実施の形態5と同様である。
このようにIGBTチップ26と第2の金属板32の間に応力緩和用金属板66,68を挿入することで、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第2の金属板32との熱膨張係数の差による応力を緩和することができるため、機械的ストレスや熱ストレスに対する耐量を向上することができる。
実施の形態8.
図18は、本発明の実施の形態8に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30は、応力緩和用金属板58を介してIGBTチップ26のエミッタ26aに圧接され、応力緩和用金属板60を介してフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aに圧接されている。応力緩和用金属板58,60は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。圧接時における位置ずれを防ぐために、絶縁ガイド84が応力緩和用金属板58,60を取り囲んでいる。その他の構成は実施の形態7と同様である。
図18は、本発明の実施の形態8に係る電力用半導体装置の内部を示す断面図である。第1の金属板30は、応力緩和用金属板58を介してIGBTチップ26のエミッタ26aに圧接され、応力緩和用金属板60を介してフリーホイールダイオードチップ28のアノード28aに圧接されている。応力緩和用金属板58,60は、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30の中間の熱膨張係数を持つMoなどの物質により形成されている。圧接時における位置ずれを防ぐために、絶縁ガイド84が応力緩和用金属板58,60を取り囲んでいる。その他の構成は実施の形態7と同様である。
このようにIGBTチップ26と第1の金属板30の間に応力緩和用金属板58,60を挿入することで、IGBTチップ26やフリーホイールダイオードチップ28と第1の金属板30との熱膨張係数の差による応力も緩和することができるため、機械的ストレスや熱ストレスに対する耐量を実施の形態7よりも向上することができる。
Claims (6)
- 第1の主面に第1の電力端子及び信号端子が形成され、前記第1の主面に対向する第2の主面に第2の電力端子が形成されたパワーチップと、
前記パワーチップの前記第1の電力端子に接続された第1の金属板と、
前記第1の金属板に対向するように配置され、前記パワーチップの前記第2の電力端子に接続された第2の金属板と、
前記第1の金属板及び前記第2の金属板の外側から前記パワーチップを覆う絶縁カバーと、
前記パワーチップの前記信号端子に接続され、前記絶縁カバーの上面から突出した信号用外部端子とを備え、
前記第1の金属板は、前記絶縁カバーの下面から突出した第1の電力用外部端子を有し、
前記第2の金属板は、前記絶縁カバーの下面から突出した第2の電力用外部端子を有し、
前記第1の電力用外部端子と前記第2の電力用外部端子は、それぞれ反対方向に折り曲げられ、
前記第1の電力用外部端子又は前記第2の電力用外部端子の折り曲げられた方向において、前記絶縁カバーを挟んで前記第1の電力用外部端子の反対側には前記第2の電力用外部端子は存在せず、前記絶縁カバーを挟んで前記第2の電力用外部端子の反対側には前記第1の電力用外部端子は存在しないことを特徴とする電力用半導体装置。 - 前記第1の金属板は、前記パワーチップの前記第1の電力端子に接続される凸部を有することを特徴とする請求項1記載の電力用半導体装置。
- 前記第1の金属板は、前記パワーチップの前記第1の電力端子に接続される弾性部を有することを特徴とする請求項1記載の電力用半導体装置。
- 前記パワーチップと前記第1の金属板との間及び前記パワーチップと前記第2の金属板との間の何れか一方又は両方に挿入された応力緩和用金属板を更に備え、
前記応力緩和用金属板は、前記パワーチップと前記第1,第2の金属板の中間の熱膨張係数を持つ物質により形成されていることを特徴とする請求項1に記載の電力用半導体装置。 - 前記第1の金属板と前記第2の金属板の間に配置され、前記パワーチップを取り囲む絶縁ガイドを更に備え、
前記パワーチップの前記第1の電力端子と前記第1の金属板は圧接され、
前記パワーチップの前記第2の電力端子と前記第2の金属板は圧接されていることを特徴とする請求項1〜4の何れか1項に記載の電力用半導体装置。 - 前記パワーチップを挟んで前記第1の金属板と前記第2の金属板がネジ止めされていることを特徴とする請求項5に記載の電力用半導体装置。
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