JPWO2009122700A1 - 試験装置および試験方法 - Google Patents
試験装置および試験方法 Download PDFInfo
- Publication number
- JPWO2009122700A1 JPWO2009122700A1 JP2010505375A JP2010505375A JPWO2009122700A1 JP WO2009122700 A1 JPWO2009122700 A1 JP WO2009122700A1 JP 2010505375 A JP2010505375 A JP 2010505375A JP 2010505375 A JP2010505375 A JP 2010505375A JP WO2009122700 A1 JPWO2009122700 A1 JP WO2009122700A1
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- test
- pattern
- pattern generation
- control unit
- unit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31903—Tester hardware, i.e. output processing circuits tester configuration
- G01R31/31907—Modular tester, e.g. controlling and coordinating instruments in a bus based architecture
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/317—Testing of digital circuits
- G01R31/3181—Functional testing
- G01R31/319—Tester hardware, i.e. output processing circuits
- G01R31/31917—Stimuli generation or application of test patterns to the device under test [DUT]
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Tests Of Electronic Circuits (AREA)
Abstract
Description
12/058,756 出願日 2008年03月30日
110 統合制御部
112 範囲情報格納部
120 試験モジュール
130 規格バス
140 試験セグメント
150 インターフェイス
160 群制御部
161 指示情報格納部
162 指示情報制御部
163 位置情報格納部
164 スイッチ
165 調停部
166 群内範囲情報格納部
167 フェイル・マッチ情報通知制御部
170 パターン生成部
171 指示情報一時格納部
172 基本パターンデータ格納部
173 パターン形成タイミング部
174 ドライバ
175 コンパレータ
176 比較部
177 結果格納部
180 内部バス
200 DUT
Claims (12)
- 被試験デバイスに与える試験パターンを生成する複数のパターン生成部のうち一群のパターン生成部を制御し、制御下にあるパターン生成部が発する信号を受けて制御信号を生成する群制御部と、
前記複数のパターン生成部のうち独立した一の被試験デバイスの試験に供されるパターン生成部の範囲を示す範囲情報を格納する範囲情報格納部と、
前記群制御部からの前記制御信号を受けて、前記信号を発した前記パターン生成部と共に前記一の被試験デバイスに前記試験パターンを与える他のパターン生成部を前記範囲情報に基づき判断し、前記制御信号に対する応答として、前記他のパターン生成部を制御する他の群制御部の動作を制御する統合制御部と、
を備えた試験装置。 - 前記パターン生成部は、前記試験パターンが前記被試験デバイスに与えられた場合に前記被試験デバイスからの出力として期待される期待値パターンと、前記試験パターンが与えられた前記被試験デバイスが実際に出力した出力パターンとを比較する比較部、を有し、
前記パターン生成部は、前記比較部における前記比較において前記期待値パターンと前記出力パターンとが一致しない場合に生成されるフェイル情報を前記信号として前記群制御部に通知し、
前記統合制御部は、前記群制御部からの前記制御信号としての前記フェイル情報を受けて、前記他の群制御部が制御する前記他のパターン生成部を停止させるよう前記他の群制御部を制御する、
請求項1に記載の試験装置。 - 前記フェイル情報を含む試験の結果を格納する、前記パターン生成部ごとの結果格納部を有し、
前記統合制御部は、前記群制御部からの前記フェイル情報を受けて、前記他の群制御部の制御下にあるパターン生成部に対応する前記結果格納部に前記フェイル情報を格納するよう前記他の群制御部を制御する、
請求項2に記載の試験装置。 - 前記統合制御部は、前記群制御部が制御する複数の前記パターン生成部の何れかが前記試験パターンを与える前記被試験デバイスの全てが試験を停止すべきである場合に、前記群制御部が制御するパターン生成部の全てを停止させるよう前記群制御部を制御する、
請求項2に記載の試験装置。 - 前記パターン生成部は、前記試験パターンに応答して前記被試験デバイスが出力した出力パターンが所定の条件を満足した場合に生成されるマッチ信号を前記信号として前記群制御部に通知し、
前記統合制御部は、前記群制御部からの前記マッチ信号を受けて、前記他の群制御部が制御する前記他のパターン生成部に前記所定の条件が満足された場合の所定の動作を実行させるよう前記他の群制御部を制御する、
請求項1に記載の試験装置。 - 前記群制御部の制御下にある前記パターン生成部のうち独立した他の被試験デバイスの試験に供されるパターン生成部の範囲を示す群内範囲情報を格納する群内範囲情報格納部をさらに備え、
前記群制御部は、前記パターン生成部からの前記信号を受けて、前記信号を発した前記パターン生成部と共に前記他の被試験デバイスに前記試験パターンを与える前記群制御部の制御下にある他のパターン生成部を前記群内範囲情報に基づき判断し、前記信号に対する応答として、前記群制御部の制御下にある前記他のパターン生成部を制御する、
請求項1に記載の試験装置。 - 複数のパターン生成部により、被試験デバイスに与える複数の試験パターンを生成するパターン生成段階と、
群制御部により、前記複数のパターン生成部のうち一群のパターン生成部を制御し、制御下にあるパターン生成部が発する信号を受けて制御信号を生成する群制御段階と、
前記複数のパターン生成部のうち独立した一の被試験デバイスの試験に供されるパターン生成部の範囲を示す範囲情報を格納する範囲情報格納段階と、
前記群制御段階で生成された前記制御信号を受けて、前記信号を発した前記パターン生成部と共に前記一の被試験デバイスに前記試験パターンを与える他のパターン生成部を前記範囲情報に基づき判断し、前記制御信号に対する応答として、前記他のパターン生成部を制御する他の群制御部の動作を制御する統括制御段階と、
を備えた試験方法。 - 前記パターン生成段階は、前記試験パターンが前記被試験デバイスに与えられた場合に前記被試験デバイスからの出力として期待される期待値パターンと、前記試験パターンが与えられた前記被試験デバイスが実際に出力した出力パターンとを比較する比較段階と、前記比較段階における前記比較において前記期待値パターンと前記出力パターンとが一致しない場合に生成されるフェイル情報を前記信号として前記群制御部に通知する段階と、を有し、
前記統括制御段階は、前記群制御段階における前記制御信号としての前記フェイル情報を受けて、前記他の群制御部が制御する前記他のパターン生成部を停止させるよう前記他の群制御部を制御する、
請求項7に記載の試験方法。 - 前記フェイル情報を含む試験の結果を格納する、前記パターン生成段階ごとの結果格納段階を有し、
前記統括制御段階は、前記群制御部からの前記フェイル情報を受けて、前記他の群制御部の制御下にあるパターン生成部に対応する結果格納部に前記フェイル情報を格納するよう前記他の群制御部を制御する、
請求項8に記載の試験方法。 - 前記統括制御段階は、前記群制御部が制御する複数の前記パターン生成部の何れかが前記試験パターンを与える前記被試験デバイスの全てが試験を停止すべきである場合に、前記群制御部が制御するパターン生成部の全てを停止させるよう前記群制御部を制御する、
請求項8に記載の試験方法。 - 前記パターン生成段階は、前記試験パターンに応答して前記被試験デバイスが出力した出力パターンが所定の条件を満足した場合に生成されるマッチ信号を前記信号として前記群制御部に通知し、
前記統括制御段階は、前記群制御部からの前記マッチ信号を受けて、前記他の群制御部が制御する前記他のパターン生成部に前記所定の条件が満足された場合の所定の動作を実行させるよう前記他の群制御部を制御する、
請求項7に記載の試験方法。 - 前記群制御部の制御下にある前記パターン生成部のうち独立した他の被試験デバイスの試験に供されるパターン生成部の範囲を示す群内範囲情報を群内範囲情報格納部に格納する段階をさらに備え、
前記群制御段階は、前記パターン生成部からの前記信号を受けて、前記信号を発した前記パターン生成部と共に前記他の被試験デバイスに前記試験パターンを与える前記群制御部の制御下にある他のパターン生成部を、前記群内範囲情報に基づき判断し、前記信号に対する応答として、前記群制御部の制御下にある前記他のパターン生成部を制御する、
請求項7に記載の試験方法。
Applications Claiming Priority (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
US12/058,756 | 2008-03-30 | ||
US12/058,756 US7779313B2 (en) | 2008-03-30 | 2008-03-30 | Testing apparatus and testing method |
PCT/JP2009/001426 WO2009122700A1 (ja) | 2008-03-30 | 2009-03-27 | 試験装置および試験方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPWO2009122700A1 true JPWO2009122700A1 (ja) | 2011-07-28 |
JP5279817B2 JP5279817B2 (ja) | 2013-09-04 |
Family
ID=41118980
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2010505375A Expired - Fee Related JP5279817B2 (ja) | 2008-03-30 | 2009-03-27 | 試験装置および試験方法 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US7779313B2 (ja) |
JP (1) | JP5279817B2 (ja) |
TW (1) | TWI385403B (ja) |
WO (1) | WO2009122700A1 (ja) |
Families Citing this family (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US20110184687A1 (en) * | 2010-01-25 | 2011-07-28 | Advantest Corporation | Test apparatus and test method |
CN112835759A (zh) * | 2021-02-01 | 2021-05-25 | 百度在线网络技术(北京)有限公司 | 测试数据处理方法、装置、电子设备以及存储介质 |
Family Cites Families (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4639919A (en) * | 1983-12-19 | 1987-01-27 | International Business Machines Corporation | Distributed pattern generator |
JPH09288153A (ja) * | 1996-04-19 | 1997-11-04 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
JPH10319089A (ja) | 1997-05-21 | 1998-12-04 | Advantest Corp | 半導体試験装置 |
US6028439A (en) * | 1997-10-31 | 2000-02-22 | Credence Systems Corporation | Modular integrated circuit tester with distributed synchronization and control |
US6320812B1 (en) | 2000-09-20 | 2001-11-20 | Agilent Technologies, Inc. | Error catch RAM for memory tester has SDRAM memory sets configurable for size and speed |
US7003697B2 (en) * | 2001-07-02 | 2006-02-21 | Nextest Systems, Corporation | Apparatus having pattern scrambler for testing a semiconductor device and method for operating same |
DE602004007498T2 (de) * | 2003-03-31 | 2008-03-13 | Advantest Corp. | Testemulationseinrichtung |
JP4486383B2 (ja) | 2004-03-08 | 2010-06-23 | 株式会社アドバンテスト | パターン発生器、及び試験装置 |
JP4568055B2 (ja) * | 2004-08-23 | 2010-10-27 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置及び試験方法 |
JP4167244B2 (ja) * | 2005-05-13 | 2008-10-15 | 株式会社アドバンテスト | 試験装置 |
-
2008
- 2008-03-30 US US12/058,756 patent/US7779313B2/en not_active Expired - Fee Related
-
2009
- 2009-03-27 JP JP2010505375A patent/JP5279817B2/ja not_active Expired - Fee Related
- 2009-03-27 WO PCT/JP2009/001426 patent/WO2009122700A1/ja active Application Filing
- 2009-03-30 TW TW098110476A patent/TWI385403B/zh not_active IP Right Cessation
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
WO2009122700A1 (ja) | 2009-10-08 |
TWI385403B (zh) | 2013-02-11 |
TW200951467A (en) | 2009-12-16 |
US20090249135A1 (en) | 2009-10-01 |
US7779313B2 (en) | 2010-08-17 |
JP5279817B2 (ja) | 2013-09-04 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US8201037B2 (en) | Semiconductor integrated circuit and method for controlling semiconductor integrated circuit | |
CN113167831A (zh) | 在已部署的汽车平台上执行自测的测试系统 | |
CN101923494B (zh) | 一种存储器控制器验证系统、方法及记分板 | |
JP5279818B2 (ja) | 試験モジュール、試験装置および試験方法 | |
GB2580830A (en) | Data verification device, data verification method, and data verification program | |
US7149944B2 (en) | Semiconductor integrated circuit device equipped with read sequencer and write sequencer | |
JP5279817B2 (ja) | 試験装置および試験方法 | |
JP4130811B2 (ja) | 試験装置及び試験方法 | |
CN111383704B (zh) | 一种存储器内建自测试电路和对存储器的测试方法 | |
JP5279816B2 (ja) | 試験モジュール、試験装置および試験方法 | |
JP2010175459A (ja) | 診断装置、診断方法および試験装置 | |
US20180039571A1 (en) | Semiconductor test apparatus for controlling tester | |
US20080082874A1 (en) | FBM generation device and FBM generation method | |
JP2007102940A (ja) | 試験装置、及び試験方法 | |
JP5860265B2 (ja) | 半導体メモリ装置及びそのテスト方法 | |
JPWO2012008319A1 (ja) | エミュレータ検証システム、エミュレータ検証方法 | |
JP2012113502A (ja) | 半導体集積回路の検証装置 | |
US20120029861A1 (en) | Semiconductor circuit, semiconductor circuit test method, and semiconductor circuit test system | |
CN117785756B (zh) | 存储器控制系统、方法、芯片及计算机可读存储介质 | |
US20060156090A1 (en) | Memory array manufacturing defect detection system and method | |
JP6133386B2 (ja) | 半導体メモリ装置 | |
CN117785756A (zh) | 存储器控制系统、方法、芯片及计算机可读存储介质 | |
JP2001101024A (ja) | 集積回路のテスト装置 | |
JP2006139878A (ja) | メモリテスト回路 | |
JP2001307500A (ja) | 組込み型自己試験回路 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
A621 | Written request for application examination |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A621 Effective date: 20111107 |
|
A131 | Notification of reasons for refusal |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A131 Effective date: 20121127 |
|
A521 | Written amendment |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A523 Effective date: 20130121 |
|
TRDD | Decision of grant or rejection written | ||
A01 | Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01 Effective date: 20130514 |
|
A61 | First payment of annual fees (during grant procedure) |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61 Effective date: 20130521 |
|
R150 | Certificate of patent or registration of utility model |
Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150 |
|
LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |