JPWO2007119556A1 - 圧電共振子及び圧電フィルタ - Google Patents

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Abstract

小型化及び薄型を図ることができ、共振周波数よりも高域側における圧電薄膜を伝搬するモードによるスプリアスが生じ難い、圧電共振子を得る。基板2により支持されている第1の薄膜部と、前記基板の第1の主面から浮かされて音響的に分離されている第2の薄膜部とを有する積層薄膜とを備え、前記積層薄膜の第2の薄膜部が、圧電薄膜5と、圧電薄膜の上面に設けられた第1の電極12と、前記圧電薄膜の下面に形成されており、第1の電極よりも大きく、かつ厚い第2の電極13とを有し、前記第1,第2の電極12,13が圧電薄膜5を介して重なり合っている圧電振動部の外周の外側の少なくとも一部において、前記第1の電極12の周囲に設けられた質量付加膜11をさらに備え、前記第2の電極13が、平面視した際に、前記圧電振動部を超えて前記質量付加膜11が設けられている領域に至るように形成されている、圧電共振子。

Description

本発明は、圧電薄膜を用いて構成された圧電共振子及び圧電フィルタに関し、より詳細には、圧電薄膜を有する圧電振動部が基板から浮かされた状態で配置されている構造を有する圧電共振子及び圧電フィルタに関する。
従来、圧電薄膜を用いて構成された薄い圧電振動部を有する圧電共振子や圧電フィルタが知られている。
例えば、下記の特許文献1には、図25に示す圧電フィルタが開示されている。圧電フィルタ501では、支持基板502の上面に凹部502a,502bが形成されている。凹部502aが形成されている領域において、凹部502a上に、圧電薄膜503と、上部電極504と下部電極505とからなる第1の圧電共振子506が設けられている。
同様に、凹部502b上においても圧電薄膜503と、上部電極507と下部電極508とからなる圧電共振子509が構成されている。
ここでは、圧電共振子506が直列腕共振子となるように、また圧電共振子509が並列腕共振子となるように、圧電共振子506,509が電気的に接続され、ラダー型回路構成の圧電フィルタ501が構成されている。また、直列腕共振子と並列腕共振子の共振周波数の差を設けるために、一方の圧電共振子506の下部電極505の厚みと、他方の圧電共振子509の下部電極508の厚みとが異ならされている。
また、下記の特許文献2には、厚み縦振動モードを利用したエネルギー閉じ込め型の圧電共振子が開示されている。この圧電共振子では、圧電基板を介して上部電極と下部電極とが重なり合っている部分において、エネルギー閉じ込め型の厚み縦振動モードを利用した圧電振動部が構成されている。そして、上部電極または下部電極の内の一方の電極の周囲に質量付加効果を有する質量付加膜が設けられている。質量付加膜により、圧電振動部の周囲に質量が付加される。それによって、厚み縦振動モードが圧電振動部に効果的に閉じ込められる。
特開2002−299980号公報 WO99/37023
特許文献1に記載の圧電フィルタ501は、厚みが薄い圧電薄膜503を用いて構成されている。従って、厚みが比較的厚い圧電板を用いた場合に比べて、圧電共振子506,509の共振周波数を高めることができる。すなわち、厚み縦振動モードを利用して、より高い周波数領域で用い得る圧電フィルタ501を構成することが可能とされている。
しかしながら、厚み縦振動モード以外に、圧電薄膜503の面方向に伝搬するラム波などの他のモードによるスプリアスが現れ、良好な共振特性やフィルタ特性が得られないことがあった。
本発明の目的は、上述した従来技術の現状に鑑み、比較的薄い圧電薄膜を用いて、より高い周波数領域で使用することが可能とされている、圧電共振子及び圧電フィルタにおいて、圧電薄膜の面方向に伝搬するスプリアスによる特性の劣化が生じ難い、圧電共振子及び圧電フィルタを提供することにある。
本発明によれば、第1,第2の主面を有する基板と、前記基板の第1の主面に固定されて前記基板により支持されている第1の薄膜部と、前記基板の第1の主面から浮かされて音響的に分離されている第2の薄膜部とを有する積層薄膜とを備え、前記積層薄膜の第2の薄膜部が、圧電薄膜と、圧電薄膜の一方主面に設けられた第1の電極と、前記圧電薄膜の他方主面に形成されており、第1の電極よりも大きい第2の電極とを有し、前記第1,第2の電極が圧電薄膜を介して重なり合っている部分により圧電振動部が構成されており、前記圧電振動部の外周に連なる外側の領域の少なくとも一部において、前記第1の電極の周囲に設けられた質量付加膜をさらに備え、前記第2の電極が、平面視した際に、前記圧電振動部を超えて前記質量付加膜が設けられている領域に至るように形成されている、圧電共振子が提供される。
本発明に係る圧電共振子のある特定の局面では、前記第1の電極上に、前記圧電振動部の外周に対して内側に間隔を隔てられて設けられている段差形成膜がさらに備えられている。この場合には、圧電振動部上に上記段差形成膜の存在により、段差形成膜の外周縁により段差が形成されることになるため、共振周波数以下の周波数域におけるスプリアスを抑制することが可能となる。
本発明に係る圧電共振子の他の特定の局面では、前記第1の電極の膜厚と、第2の電極の膜厚が異なっている。この場合、第1,第2の電極のいずれの膜厚が大きくともよい。もっとも、本発明の他の特定の局面では、第2の電極の膜厚が、第1の電極の膜厚よりも厚くされている。すなわち、質量付加膜が設けられていない第2の電極側の面において、第2の電極による質量付加効果が与えられる。そのため、圧電振動部の外側の領域において、両面から質量が付加されることになるため、圧電薄膜の面方向に沿う振動によるスプリアスをより効果的に抑圧することができる。
本発明に係る圧電フィルタでは、同一基板において、本発明の圧電共振子が複数構成されており、該複数の圧電共振子が電気的に接続されてフィルタ回路が構成されている。従って、圧電薄膜を用いて、各圧電共振子が構成されているので、高周波化及び薄型化を図ることができる。しかも、本発明により、第1の電極の周囲には質量付加膜が設けられており、かつ第2の電極が相対的に大きくされているので、質量付加膜と、第2の電極とによる質量付加作用によって、スプリアスを効果的に低減することが可能とされている。従って、良好なフィルタ特性を得ることができる。
本発明に係る圧電フィルタのある特定の局面では、前記複数の圧電共振子の内、少なくとも1つの圧電共振子が、残りの圧電共振子と異なるように構成されている。従って、異なる特性を持つ圧電共振子の共振特性を組み合わせることにより、様々なフィルタ特性を得ることができる。
本発明に係る圧電フィルタの他の特定の局面では、上記少なくとも1つの圧電共振子の第2の電極の膜厚と、残りの圧電共振子の第2の電極の膜厚とが異なっており、それによって、少なくとも1つの圧電共振子の共振周波数が、残りの圧電共振子の共振周波数とが異ならされている。従って、第2の電極の厚みが異なる少なくとも2種類の圧電共振子の一方、例えば直列腕共振子、他方例えば並列腕共振子として用いることにより、ラダー型フィルタを構成したり、上記のように共振周波数が異なる少なくとも2種類の圧電共振子を接続することにより、ラダー型回路に限らず、様々なフィルタを構成することができ、それによって、様々なフィルタ特性を実現することができる。
本発明に係る圧電フィルタのさらに他の特定の局面では、前記複数の圧電共振子の内、少なくとも1つの圧電共振子において、第1の電極の膜厚と、第2の電極の膜厚とが異ならされている。すなわち、第1,第2の電極の膜厚は異なっていてもよい。
そして、本発明に係る圧電フィルタのさらに他の特定の局面では、前記複数の圧電共振子の内、少なくとも1つの前記圧電共振子において、第2の電極の膜厚が、第1の電極の膜厚よりも厚くされている。この場合には、第2の電極の膜厚が厚くされていることにより、第2の電極による質量付加作用が高められ、スプリアスをより一層効果的に抑圧することができる。
(発明の効果)
本発明に係る圧電共振子では、圧電薄膜を有する積層薄膜にエネルギー閉じ込め型の圧電振動部が構成されている。従って、比較的薄い圧電薄膜を用いて圧電振動部が構成されているので、薄型化及び高周波化を図ることができる。しかも、質量付加膜が相対的に大きさの小さい第1の電極の周囲に設けられており、該質量付加膜により、圧電振動部の周囲に質量が付加される。他方、第2の電極は第1の電極よりも大きくされており、平面視した際に、圧電振動部を超えて質量付加膜が設けられている領域に至るように形成されている。従って、質量付加膜と、質量付加膜と対向する位置に設けられている第2の電極部分とにより圧電薄膜に質量が付加されることになる。よって、圧電薄膜の面方向を伝搬する振動のスプリアスを効果的に抑圧することができ、スプリアスが非常に小さい良好な共振特性を得ることができる。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る圧電フィルタの模式的正面断面図である。 図2は、第1の実施形態の圧電フィルタの一方の圧電共振子が構成されている部分の模式的平面図及び該圧電共振子の模式的部分切欠正面断面図である。 図3は、第1の比較例の圧電フィルタの模式的正面断面図である。 図4(a),(b)は、図3に示した第1の比較例の圧電フィルタの一方の圧電共振子及び他方の圧電共振子の共振特性を示すスミスチャート図である。 図5は、第1の比較例の圧電フィルタの一方の圧電共振子の質量付加膜の膜厚を600nmに増加させた場合の共振特性を示すスミスチャート図である。 図6は、第2の比較例の圧電フィルタの模式的正面断面図である。 図7(a),(b)は、第2の比較例の圧電フィルタの一方の圧電共振子及び他方の圧電共振子の共振特性を示すインピーダンススミスチャート図である。 図8は、第2の比較例の圧電フィルタの一方の圧電共振子における質量付加膜の厚みを増大させた場合の共振特性を示すインピーダンススミスチャート図である。 図9(a),(b)は、本発明の第1の実施形態に係る圧電フィルタの一方の圧電共振子及び他方の圧電共振子の共振特性を示すインピーダンススミスチャート図である。 図10(a)〜(c)は、第1の実施形態の圧電フィルタの一方の圧電共振子における質量付加膜の膜厚を240、260及び320nmに変化させた場合の共振特性を示すインピーダンススミスチャート図である。 図11(a),(b)は、第1の実施形態の圧電フィルタの一方の圧電共振子における質量付加膜の膜厚を420nm及び440nmに変化させた場合の共振特性を示すインピーダンススミスチャート図である。 図12は、様々な金属からなる電極を形成した場合のAlNからなる圧電薄膜の厚みと圧電共振子の電気機械結合係数k =π/4×fs(fp−fs)/fp×100(%)〔ただし、fsは共振周波数、fpは反共振周波数〕との関係を示す図である。 図13は、電極材料が、Ptを主体とする材料である変形例の圧電フィルタの一方の圧電共振子の共振特性を示すインピーダンススミスチャートを示す図である。 図14(a)〜(c)は、本発明のある変形例に係る圧電フィルタの製造方法を説明するための図であり、得られる圧電フィルタの一方の圧電共振子の要部を示す模式的平面図、(a)のC−C線及びD−D線に沿う各断面図である。 図15(a)〜(d)は、図14に示した変形例の圧電フィルタの製造工程を説明するための各模式的正面断面図である。 図16(a)〜(d)は、図14に示した変形例の圧電フィルタの製造工程を説明するための各模式的正面断面図である。 図17(a),(b)は、図14に示した変形例の圧電フィルタの製造工程を説明するための各模式的正面断面図である。 図18は、本発明の第2の実施形態に係る圧電フィルタの模式的正面断面図である。 図19は、本発明が適用される圧電フィルタの回路構成の一例としてのラティス型回路を示す回路図である。 図20は、本発明が適用される圧電フィルタの回路構成の一例としてのラダー型回路を示す回路図である。 図21は、本発明の第3の実施形態に係る圧電フィルタの模式的正面断面図である。 図22(a),(b)は、第3の実施形態の圧電フィルタの一方の圧電共振子及び他方の圧電共振子の共振特性を示すインピーダンススミスチャート図である。 図23は、本発明の圧電フィルタのさらに他の変形例を説明するための模式的正面断面図である。 図24は、本発明の圧電フィルタのさらに他の変形例を説明するための模式的正面断面図である。 図25は、本発明の圧電共振子の変形例を説明するための模式的正面断面図である。 図26は、本発明の圧電共振子の他の変形例を示す模式的正面断面図である。 図27は、本発明の圧電共振子の他の変形例を示す模式的正面断面図である。 図28は、本発明の圧電共振子の他の変形例を示す模式的正面断面図である。 図29は、本発明の圧電共振子の別の変形例の模式的平面図である。 図30は、図29のX1−X1線に沿う断面図である。 図31は、図29中のX2−X2線に沿う断面図である。 図32は、本発明の圧電共振子のさらに他の変形例を説明するための模式的平面図である。 図33は、本発明の圧電共振子の他の変形例を示す模式的正面断面図である。 図34は、図34に示した変形例の模式的側面断面図である。 図35は、本発明の圧電共振子の他の変形例を示す模式的正面断面図である。 図36は、図35に示した変形例の模式的側面断面図である。 図37は、従来の圧電フィルタの一例を示す模式的正面断面図である。
符号の説明
1…圧電フィルタ
2…基板
2a…上面
2b…下面
3…圧電共振子
3A〜3E…圧電共振子
4…圧電共振子
4A〜4E…圧電共振子
5…圧電薄膜
6…空隙
7…空隙
8…上部電極
9…下部電極
11…質量付加膜
12…上部電極
13…下部電極
10,14…周波数調整膜
以下、図面を参照しつつ本発明の具体的な実施形態を説明することにより、本発明を明らかにする。
図1は、本発明の第1の実施形態に係る圧電フィルタの正面断面図である。圧電フィルタ1は、基板2を有する。基板2は、第1の主面としての上面2aと、第2の主面としての下面2bとを有する。基板2は、後述する圧電共振子を支持するために設けられている。従って、基板2は、適宜の絶縁性セラミックスまたは絶縁性樹脂などの絶縁性材料により構成され得る。
本実施形態では、基板2は、Si系基板により構成されている。
基板2の上面2a上に、圧電共振子3,4が配置されている。圧電共振子3,4は、それぞれ、後述する圧電薄膜を用いた圧電薄膜共振子である。
すなわち、基板2の上面2a上において、圧電薄膜5が配置されている。圧電薄膜5は、圧電共振子3,4が形成されている部分において、空隙6,7を隔てて上方に浮かされた状態とされている。
圧電薄膜5は、空隙6,7が形成されている部分の周囲において、基板2の上面2a上に固定されている。
圧電共振子3が形成されている部分では、圧電薄膜5の上面に上部電極8が形成されており、圧電薄膜5の下面には上部電極8と圧電薄膜5を介して重なり合うように下部電極9が形成されている。下部電極9は、上部電極8よりも大きくされている。本発明の第1の電極が上部電極8であり、第2の電極が下部電極9に相当する。圧電共振子3においては、上記圧電薄膜5の上下に上部電極8及び下部電極9が積層されており、このような積層薄膜により圧電共振子3及び後述の圧電共振子4が形成されていることになる。
そして、上記積層薄膜は、基板2の上面2aに固定されている第1の薄膜部と、基板2の上面2aから浮かされて音響的に分離されている第2の薄膜部とを有することになり、この第2の薄膜部により、圧電共振子3及び後述の圧電共振子4が構成されている。
上部電極8と下部電極9とが圧電薄膜5を介して重なり合っている第2の薄膜部が、圧電振動部を構成している。圧電薄膜5は、本実施形態では、AlNからなり、その分極軸方向は厚み方向とされている。従って、上部電極8と下部電極9とから交流電圧を印加することにより、厚み縦振動モードを利用した共振特性を得ることができる。この場合、上部電極8と下部電極9とが圧電薄膜5を介して重なり合っている部分が、上記交流電圧の印加により駆動される、エネルギー閉じ込め型の圧電振動部である。上記圧電振動部は、厚みが0.1μm〜10μm程度の圧電薄膜5を用いて形成されている。すなわち、積層薄膜を用いて形成されているため、厚みが10μmより厚い圧電基板を用いた厚み縦振動モードを利用した圧電共振子に比べ、高周波域で利用することができる。
上部電極8及び下部電極9は、適宜の導電性材料からなる。本実施形態では、上部電極8は、Al電極層を主体とし、その下方にすなわち下地層としてTi空なる電極層が積層された積層金属膜により形成されている。
他方、下部電極9は、本実施形態では、Ptと、Tiと、Alと、Tiとを積層した構造を有する。この場合、Pt層が最外側に位置するように下部電極9が配置されている。
すなわち、下部電極9は、Alを主体とし、その両面にTi層が形成されており、かつ最外層にPt層を有する。
他方、上記圧電振動部においては、上部電極8上に、周波数調整膜10が積層されている。この周波数調整膜10は、圧電振動部において、上部電極8上に質量を付加し、共振周波数を調整するために設けられている。この周波数調整膜10は、必ずしも設けられずともよい。
もっとも、周波数調整膜10による質量付加作用を利用し、すなわち周波数調整膜10の厚みや材質を選択することにより、圧電共振子3の共振周波数を所望の共振周波数となるように高精度に調整することができる。
さらに、本実施形態では、上記周波数調整膜10は、第1の電極として上部電極8の外周から内側に間隔を設けられて配置されている。そして、この周波数調整膜の外周縁により、圧電振動部上に段差が形成されることになる。すなわち、上部電極8の上面と、周波数調整膜10の上面との間に、周波数調整膜10の外周縁による段差が形成される。この段差の形成により、共振周波数以下の周波数域におけるスプリアスを低減する効果も得ることができる。言い換えれば、周波数調整膜10は、本発明において、上記スプリアスを低減するための段差形成膜としても機能する。
好ましくは、上記周波数調整膜10の外周縁近傍の厚みを削ること等により、厚みを薄くして、上記スプリアスをより一層効果的に低減し得るように段差の大きさを調整してもよい。その場合には、より一層良好なフィルタ特性を得ることができる。
本実施形態では、周波数調整膜10は、SiOからなる。好ましくは、周波数調整膜10は、後述の質量付加膜11と同じ材料で形成される。その場合には、用意する材料の種類を少なくすることができる。
圧電振動部の外側の領域においては、圧電薄膜5の上面に質量付加膜11が配置されている。質量付加膜11は、圧電振動部の外周に連なる外側領域の一部に設けられている。本実施形態では、質量付加膜11は、圧電振動部の外周縁を囲むように環状の形状を有するように構成されている。この質量付加膜11を設けることにより、利用する厚み縦振動モードに対してスプリアスとなる圧電薄膜5の面方向に沿う振動によるスプリアスを効果的に抑圧することができる。
このような質量付加膜11を構成する材料は特に限定されないが、本実施形態では、質量付加膜11はSiOにより形成されている。
また、本実施形態では、上記質量付加膜11が形成されている領域の下方に、第2の電極としての下部電極9が至っている。言い換えれば、第2の電極9は圧電振動部の外側の領域に至るように形成されており、平面視したときに、圧電振動部を超えて上記質量付加膜11が設けられている領域に至っている。このように、第2の電極としての下部電極9が、圧電振動部の外側の質量付加膜11が設けられている領域に至っているので、本実施形態では、下部電極9の質量付加膜11が設けられている領域に至っている部分において、第2の電極9の質量付加作用によっても、上記スプリアスを効果的に抑圧することができる。この質量付加膜11及び第2の電極としての下部電極9における質量付加作用の効果については、後程具体的な実験例に基づき詳述する。
圧電共振子4側においても、圧電共振子3側と同様に、圧電薄膜5の上面に、上部電極12が設けられており、下面に下部電極13が設けられている。そして、第2の電極としての下部電極13は、第1の電極としての上部電極12よりも大きくされている。
また、上部電極12上には、周波数調整膜14が形成されている。上部電極12と下部電極13とが重なり合っている圧電振動部の外側の領域において、耐圧電振動部の周囲に沿うように、圧電薄膜5の上面に質量付加膜15が配置されている。そして、圧電共振子4においても、下部電極13は、質量付加膜15が設けられている領域に至るように形成されている。
もっとも、圧電共振子4においては、下部電極13の厚みが、上部電極12の厚みよりも厚くされている。
従って、圧電薄膜5に対する質量付加作用は、圧電共振子3における下部電極9に比べて、下部電極13の方が大きくなる。よって、同じ基板2及び圧電薄膜5を用いながら、共振周波数が異なる圧電共振子3,4を形成することができる。言い換えれば、圧電共振子4において、下部電極13の厚みや材質を工夫したり、周波数調整膜14の材質や厚みを工夫することにより、圧電共振子3と異なる共振特性を有する圧電共振子4を容易に形成することができる。この場合、周波数調整膜14を、周波数調整膜10と同じ材料を用いてほぼ同等の厚みとした場合であっても、下部電極13を下部電極9と異ならせることにより、容易に共振特性が異なる圧電共振子3,4を形成することできる。
なお、本実施形態では、上部電極12及び下部電極13を構成する電極材料は、圧電共振子3側の上部電極8及び下部電極9と同様とされている。もっとも、後述する実験例のように、圧電共振子4の上部電極12及び下部電極13を形成する各金属層の厚みについては、圧電共振子3における各金属層の厚みと異ならされている。
本実施形態の圧電フィルタ1では、上記のように、共振特性が異なる圧電共振子3,4が同一の基板2上において構成されており、かつ圧電共振子3,4が図示しない部分で電気的に接続され、フィルタ回路が構成されている。このようなフィルタ回路の例については、後述することとする。
なお、圧電共振子4においても、圧電薄膜5を用いた圧電振動部は空隙7を隔てて基板2から浮かされている。
このような空隙6,7により、圧電共振子3,4の圧電振動部が基板2から浮かされた状態とした構造は、様々な製造方法により実現することができる。
一例を挙げると、例えば基板2上に、溶剤により容易に除去される易溶剤除去性材料層を空隙6,7が形成される部分に設けておき、しかる後、上部電極8,12、下部電極9,13、圧電薄膜5などを含む積層薄膜を形成した後、これらの積層薄膜部分を除去しないが、易溶剤除去性材料層を除去し得る溶剤を用い、易溶媒除去性材料層を溶解し、除去する方法を用いることができる。この方法によれば、溶剤により、易溶剤除去性材料層が溶解されて除去され、空隙6,7が最後に形成されることになる。なお、質量付加膜11,15及び周波数調整膜10,14については、上記空隙6,7を形成する前に形成していてもよく、空隙6,7の形成後に形成してもよい。
なお、図1では、圧電共振子3,4の要部が正面断面図で示されているが、上部電極8,12及び下部電極9,13は、図1で示されている断面とは異なる断面部分で、圧電振動部外に引き出されている。これを、図2(a),(b)を参照して説明する。図2(a)は、圧電共振子3が構成されている部分の模式的平面図であり、図2(b)は図2(a)のB−B線に沿う部分の部分切欠断面図である。なお、図1における圧電共振子3は、図2(a)のA−Aに沿う部分の断面構造が図示されている。図2(a),(b)に示すように、圧電共振子3においては、上部電極8及び下部電極9は、圧電振動部外に至るように延ばされており、電極接続部8a,9aを有する。この電極接続部8a,9aにより、他の圧電共振子や、外部端子または他の電子部品素子に電気的に接続される。
なお、図2(a)では、圧電振動部の平面形状は正方形とされているが、圧電薄膜共振子をレイアウトする際のデバイスの面積を小さくし得るため、長方形とすることが望ましい。例えば、圧電薄膜共振子の電極の平面形状を長方形、特に長辺と短辺との比率が1対(1+√5)/2の比率で知られる黄金比の長方形とした場合には、複数の圧電薄膜共振子により構成されるフィルタの面積を容易に小さくすることができ、好ましい。もっとも、本発明において、下部電極と上部電極とが重なり合う圧電振動部の平面形状は、正方形や長方形の他、円形、楕円形、正方形以外の正多角形などの様々な形状に変更することができる。
次に、第1の実施形態に係る圧電フィルタにおいて、圧電共振子3,4の共振周波数よりも高い周波数に現れる、圧電薄膜5の面方向に沿う振動、例えばラム波(Lamb波)スプリアスを抑制し得ることを、より具体的な実験例に基づき説明する。
本願発明者らは、未だ公知ではないが、本発明を成す前に、図3に示す第1の比較例の圧電フィルタ51を開発した。この圧電フィルタ51は、圧電フィルタ1と同様に、同一の基板2上に圧電薄膜5を用いて圧電共振子53,54を構成した構造を有する。圧電フィルタ51が圧電フィルタ1と異なるところは、上述した圧電フィルタ1では、第2の電極としての下部電極9,13が、質量付加膜11,15と重なり合う領域まで至っているのに対し、図3に示されているように、第2の電極としての下部電極55,56が、上部電極8,12と同じ大きさとされていることにある。すなわち、下部電極55,56は、圧電振動部においてのみ配置されており、圧電振動部の周囲の領域には至っていない。また、上部電極12(図1参照)に対し、本比較例では、圧電共振子54において上部電極57の厚みがかなり厚くされている。その他の点については、圧電フィルタ51は、圧電フィルタ1と同様であるため、同一部分については同一の参照番号を付することにより、その詳細な説明を省略する。
いま、下記の表1に示すように各部分の膜厚及び材料を設定し、圧電フィルタ51を作製した。このようにして、設計共振周波数が圧電共振子53側において1883MHz、圧電共振子54の設計共振周波数が1822MHzである、ラダー型回路構成の圧電フィルタ51を作製した。
Figure 2007119556
上記圧電共振子53,54の共振特性を、図4(a)にインピーダンススミスチャートで示す。なお、インピーダンス−周波数特性ではなく、インピーダンススミスチャートで示すのは、スプリアスが高域側に現れる状態をより明確に示し得ることによる。
図4(a)は、圧電共振子53の共振特性を、図4(b)は圧電共振子54の共振特性を示す。
図4(a)及び図4(b)から明らかなように、圧電共振子54側においては、矢印Cで示すように、共振周波数以上の周波数において、大きなスプリアスが現れていることがわかる。このように、圧電共振子54側において、圧電共振子53に比べて大きなスプリアスが現れるのは、質量付加膜15による質量付加作用が十分ではないことによると考えられる。すなわち、圧電フィルタ51を設計した場合、圧電共振子53の共振特性を最適化した場合、圧電共振子54側においては、質量付加膜による質量付加作用が十分でなく、上記周波数よりも高い周波数に現れるスプリアスを効果的に抑制し得ないことがわかる。
本比較例では、圧電共振子53における圧電振動部周囲の質量差は、密度が2.69g/mであるAlの電極層の厚みの差、すなわち205−100=105nmの電極層によることとなる。これは、密度2.2g/mのSiOの場合には、128nmの厚みのSiOに相当する。しかしながら、圧電共振子54において、SiO膜からなる質量付加膜の厚みを480nmから600nmに変更したとしても、図5に示すように、共振周波数よりも高い周波数におけるスプリアスDを抑圧し得ないことが確かめられた。
これは、AlNからなる圧電薄膜が振動体の主材料であるのに対し、SiOが占める割合が増えたことにより、振動体のポアソン比が振動される圧電薄膜部分と、質量付加膜とで異なるので、ラム波が振動部外に伝搬しなくなることにあると考えられる。
上記のように、図3に示した第1の比較例においては、依然として、共振周波数よりも高い周波数域におけるスプリアスを抑制することができなかったことに鑑み、本願発明者は、図6に示す第2の比較例の圧電フィルタ61を検討した。
図6に示す圧電フィルタ61は、図3に示した圧電フィルタ51に対し、圧電共振子64,65における第2の電極としての下部電極62,63が圧電振動部外に至っている点において相違する。その他の点については、圧電フィルタ61は、圧電フィルタ51と同様に構成されている。
Figure 2007119556
圧電フィルタ61を、各部分の膜厚及び材料を下記の表2に示すように構成し、その他は第1の比較例の圧電フィルタ51と同様として、圧電フィルタ61を作製した。この圧電フィルタ61の圧電共振子64,65の共振特性を図7(a),(b)に示す。
図7(b)から明らかなように、圧電共振子65においては、矢印Eで示すように、共振周波数よりも高域側において、スプリアスが現れ、該スプリアスが抑制されていないことがわかる。
圧電共振フィルタ装置61において、圧電共振子65の共振特性が十分でないのは、圧電共振子65に応じた質量付加がなされていないことにある。従って、圧電フィルタ51と同様に、圧電共振子65側において、SiOからなる質量付加膜15の厚みを320μmから440nmに増加させた場合の圧電共振子65の共振特性を図8に示す。
図8から明らかなように、質量付加膜の厚みを400nmとすることにより、質量付加作用が高まり、共振周波数よりも高域側において、スプリアスが抑制されていることがわかる。
しかしながら、このような構造では、圧電共振子64と、圧電共振子65とにおいて、異なる質量付加膜を用意しなければならない。従って、プロセスが煩雑となり、コストが高くつかざるを得ない。
これに対して、本実施形態の圧電フィルタ1では、圧電共振子3及び圧電共振子4において使用する質量付加膜11,15の材料及び膜厚を等しくすることができる。従って、このような工程数の増加を招くことはない。しかも、圧電共振子4側において、共振周波数よりも高域側のスプリアスを効果的に抑圧することができる。これを、図9(a),(b)を参照して説明する。
いま、上記実施形態の圧電フィルタ1における各薄膜部分の材料及び厚みを下記の表3に示すように設定し、圧電フィルタ1を作製した。
Figure 2007119556
このようにして製作された圧電フィルタ1の圧電共振子3及び圧電共振子4の共振特性をインピーダンススミスチャートで図9(a),(b)に示す。
図9(a)から明らかなように、圧電共振子3側及び圧電共振子4側のいずれにおいても、共振周波数よりも高い周波数領域において、スプリアスが抑制されていることがわかる。これは、以下の理由による。すなわち、圧電フィルタ1では、圧電共振子3を最適化し、圧電共振子3におけるスプリアスをまず抑圧する。その場合、圧電共振子4側においてスプリアスが現れがちとなるが、本実施形態では、平面視したとき質量付加膜15と重なり合う位置に第2の電極としての下部電極13が至っており、しかも下部電極13の膜厚が、上部電極12よりも厚くされているため、十分な質量付加作用が下部電極13の外周近傍部分により得られることになる。そのため、共振周波数よりも高域側におけるスプリアスを効果的に抑圧することができる。
また、上記実施形態では、SiOからなる質量付加膜11,15の厚みを320μmとしたが、この質量付加膜の厚みを変化させることにより、共振特性に現れるスプリアスを抑圧することができる。
図10(a)〜(c)及び図11(a),(b)は、第1の実施形態における圧電共振子3側において、質量付加膜11の厚みを240nm、260nm、320nm、420nm及び440nmと変化させた場合の圧電共振子3の共振特性の変化を示すスミスチャートである。
図10及び図11から明らかなように、質量付加膜11の厚みを変化させることにより、共振特性上に現れるスプリアスの抑制度合いが変化することがわかる。特に、質量付加膜11の厚みが、260〜420nmの場合、スプリアスを効果的に抑圧し得ることがわかる。これは、スプリアスの原因となるラム波を振動部内に閉じ込めずに、振動部外へ逃すことに成功しているためと考えられる。
上記実施形態では、表3に示したように、上部電極として、Al層とTi層とをそれぞれの膜厚が100nm及び10nmとされている積層金属膜を用い、下部電極9についてはPt/Ti/Al/Tiの積層構造において、膜厚を、10nm/10nm/100nm/10nmとした。これに対して、本願発明者は、下記の表4に示すように圧電薄膜としてのAlN膜及び電極を含む他の薄膜の膜厚及び材料を設定した場合に、図13にスミスチャートで示すように、共振周波数−反共振周波数においてスプリアスがない、より一層良好な共振特性の得られることを見出した。
Figure 2007119556
図12に示すように、AlNからなる圧電膜を用い、電極材料をAl、Cu、Mo、PtまたはPt/Al合金とした場合、電気機械結合係数Kが、AlNの膜厚に応じて変化することが知られている。そして、大きな比帯域を得たい場合には、図12から明らかなように、Ptなどの密度が相対的に大きい電極材料を用いることが望ましい。そして、密度の大きな電極材料を用いた場合、圧電薄膜の厚みを薄くすることができ、それによって必要なインピーダンスを得るための電極面積を小さくすることができる。従って、圧電共振子や圧電フィルタの小型化を進めることが可能となる。
もっとも、密度の大きい金属により電極を形成した場合、スプリアスが抑制された高いQの共振子を得るには、圧電振動部の周囲への質量付加を大きくする必要がある。
これに対して、上記実施形態では、質量付加膜11,15により圧電振動部の周囲に質量が付加され、加えて下部電極9,13が、圧電振動部外に至っており、下部電極9,13の一部によっても質量が付加される。従って、Ptのような密度の大きな電極材料を積層金属膜を構成する材料の主要部分として用いることにより、帯域幅の拡大及び素子の小型化を図ることができる。
よって、本発明においては、好ましくは、第1,第2の電極としての上部電極及び下部電極は、密度が比較的大きいPtを主たる電極層として含む電極材料により構成されることが望ましい。なお、上記実施形態では、質量付加膜がSiOにより構成されていたが、質量付加膜は、AlNあるいはZnOなどの様々な誘電体材料あるいは絶縁性材料により構成することができる。
また、周波数調整膜についても、SiOの他、質量を付加して共振周波数を微妙に調整することが可能である適宜の誘電体材料もしくは絶縁性材料を用いることができる。
なお、第1の実施形態では、複数の圧電共振子3,4を有する圧電フィルタ1について説明したが、上記圧電共振子4のように、第2の電極としての下部電極13を圧電振動部外に至るように設け、かつ第2の電極としての下部電極13の厚みを第1の電極12よりも厚くすることにより、大きな質量付加効果を第2の電極13でもたせることができる。従って、このような圧電共振子もまた、本発明の一実施形態であることを指摘しておく。
次に、上記実施形態の変形例に係る圧電共振子の製造方法の一例を説明する。
上記実施形態では、前述したように、圧電フィルタ1において、圧電共振子3,4は、それぞれ、空隙6,7を隔てて基板2から浮かされた状態で形成されていた。このような製造方法の一例については、易溶剤除去材料を用いた製造方法を前述したが、図14〜図17を参照して、より具体的な製造方法の一例を説明する。
本変形例では、図14(a)において、圧電共振子3Aの要部を模式的平面図で示す。そして、図14(b),(c)は、図14(a)のF−F線及びG−G線に沿う断面図である。本変形例の圧電共振子3Aでは、第1の実施形態の圧電共振子3と同様に、基板2上において、積層薄膜からなる圧電共振子部分が空隙6を隔てて浮かされた状態で配置されている。圧電共振子3Aの製造方法を、図15〜図17を参照して説明する。
まず、図15(a)に示すように、基板2上に、空隙を形成するための材料としてZnOからなるZnO犠牲層31を形成する。このZnO犠牲層31は、例えばウェットエッチングなどの適宜の方法で形成することができる。本変形例では、ZnO犠牲層31は、1000nmの厚みとなるようにウェットエッチングにより成膜した。
次に、図15(b)に示すように、ZnO犠牲層31を覆うように、下地層としての保護膜32を形成した。保護膜32は、SiO膜を100nmの厚みとなるように薄膜形成法により形成した。
しかる後、保護膜32上に、Ti/Pt/Au/Pt/Ti=10/30/60/10/10nmの各厚みとなるように、これらの積層金属膜を形成し、しかる後フォトリソグラフィによりパターニングして、下部電極9を形成した。
次に、下部電極9上を覆うように、AlNからなる圧電薄膜を、厚み1584nmとなるようにスパッタリングにより成膜した。図15(c)に示すように、パターニングを行い、下部電極9の一部を露出させた。このようにして、圧電薄膜5を成膜した。
しかる後、図15(d)に示すように、圧電薄膜5上に、上部電極8を形成した。上部電極8は、Ti/Pt/Au/Pt/Tiが10/10/60/30/10nmの厚みとなるようにこれらの各金属層をスパッタリングにより積層し、リフトオフ法によりパターニングすることにより形成した。
しかる後、図16(a)に示すように、圧電薄膜5上において、圧電振動部の周囲に、AlNからなる質量付加膜11を厚み680nmとなるように成膜し、パターニングし、質量付加膜11を形成した。
次に、図16(b)に示すように、厚膜電極33を上部電極8に電気的に接続されるようにCuを成膜することにより形成した。この厚膜電極33の厚みは500nmとした。
次に、図16(c)に示すように、SiOからなる周波数調整膜10を厚み100nmとなるように上面の全面に成膜した。
次に、図16(d)に示すように、周波数調整膜10の上面をドライエッチングし、段差10aを形成した。すなわち、周波数調整膜10の外周部分を厚みが20nm薄くなるようにドライエッチングにより研磨した。
しかる後、図17(a)に示すように、電極パッド23を形成し、しかる後、質量付加膜11の周囲において、SiO膜をドライエッチングにより除去した。また、図17(b)に示すように、ZnO犠牲層31をウェットエッチングにより除去し、空隙6を形成した。
このようにして、図14(a)〜(c)に示した圧電共振子3Aを作製した。
図25〜図36に、上記実施形態の圧電共振子の変形例を示す。
図25〜図36において、図14(a)〜(c)に示した圧電共振子の構造と同一部分については同一の参照番号を付することにより、その詳細な説明を省略することとする。
図25に示す圧電共振子では、質量付加膜11Aが、傾斜面部11aを有する。傾斜面部11aは、質量付加膜11Aにおいて、上部電極8と下部電極9とが対向している部分側に向かって質量付加膜11Aの厚みが薄くなるように傾斜されている傾斜面部である。
また、図26に示す変形例の圧電共振子では、質量付加膜11Bは、傾斜面部11aに加えて、圧電振動部とは反対側の端縁に向かって厚みが徐々に薄くなる傾斜面部11bをさらに有する。
上記傾斜面部11aを設けたり、傾斜面部11a,11bを設けたりすることにより、傾斜面部における質量付加効果が圧電振動部から離れるにつれて穏やかに変化することとなる。そのため、質量付加膜11A,11Bを形成する際のフォトリソグラフィ工程やエッチング工程における位置ずれ等が生じたとしても、特性の変化を小さくすることができる。それによって、製品の歩留りを高めることができる。
また、図27に示した変形例のように、質量付加膜11Cの一部が、上部電極8と下部電極9とが対向している圧電振動部に至っていてもよい。ここでは、質量付加膜11Cの一部が、常態的に大きさの小さい上部電極8の上面の一部に至るように形成されている。このように、質量付加膜11Cを圧電振動部に至るように形成した場合には、質量付加膜11Cにより抑制されるべき不要振動が、質量付加膜11Cに伝搬しやすくなる。また、質量付加膜11Cを形成する際のフォトリソグラフィ工程やエッチング工程における質量付加膜11Cの形成位置の位置ずれが生じたとしても、特性の変化が生じ難い。
なお、2GHz帯の圧電共振子を設計する場合には、上記質量付加膜11Cの圧電振動部への重なり幅は5μm程度以下が望ましく、該重なり幅は圧電共振子に分ける厚み縦振動の設計周波数に反比例する。逆に、圧電振動部から質量付加膜が離れて形成される場合には、質量付加膜と圧電振動部との間の距離は1μm程度以下が望ましく、この距離は、厚み縦振動の設計周波数にやはり反比例する。
また、図28に示す変形例のように、圧電振動部に至っている質量付加膜11Dがさらに傾斜面部11aを有していてもよい。
図29は、上記実施形態の圧電共振子のさらに他の変形例を説明するための平面図であり、図30は図29のX1−X1線に沿う部分の断面図であり、図31は、X2−X2線に沿う部分の断面図である。
本変形例の圧電共振子では、図29〜図31に示すように、圧電振動部を囲んでいる矩形枠状の質量付加膜11Eの一部に切り込み11cが設けられていてもよい。この場合、質量付加膜11Eの形成に際しリフトオフ法を用いた場合、フォトレジストを溶解するための溶液が質量付加膜11Eが形成される領域内に入り込みやすく、リフトオフを容易に行うことができる。従って、製造工程の簡略化を果たすことができる。
また、図14及び図29に示した圧電共振子では、上部電極8及び下部電極9は、圧電振動部において重なり合っているが、圧電振動部から上部電極8や下部電極9が引き出されている部分の幅方向寸法は圧電振動部における上部電極8や下部電極9の幅よりも狭くされていた。しかしながら、図32に示すように、圧電振動部において重なり合っている上部電極8及び下部電極9は、その幅のまま、圧電振動部外に引き出されていてもよい。この場合には、配線幅を太くすることができ、配線抵抗を小さくすることができる。図32は、このような変形例の圧電共振子の模式的平面図である。
図33及び図34は、本発明の圧電共振子のさらに他の変形例を示す模式的部分正面図及び側面断面図である。図33に示した変形例の圧電共振子では、周波数調整膜、質量付加膜、上部電極、圧電薄膜及び下部電極と、下方のSiO膜の膜厚及び材料が、下記の表5に示すように形成されている。すなわち、ここでは、圧電薄膜5がAlNからなり、その厚みが1135nmと薄くされており、他方、上部電極8及び下部電極9が、下記の表5に示す積層金属膜からなり、比較的厚く形成されている。このように、圧電薄膜を、厚みの薄いAlN膜で形成することにより、圧電共振子のより一層の薄型化を図ることができる。
Figure 2007119556
図35,36は、図33,34に示した変形例の圧電共振子のさらに他の変形例を示す部分切欠正面断面図及び側面断面図である。ここでは、図33,34とは異なり、周波数調整膜としてのSiO膜が単一の層からなり、段差を有するように2層構造とされていない。すなわち、表5に示したように、図33及び図34に示した構造では、周波数調整膜は、100nmの厚みのSiO膜を形成した後、外周部を20nm薄くし、周波数調整膜に段差が設けられていた。これに対して、図35及び図36に示すように、100nmの厚みのSiO膜を形成し、段差を有しない周波数調整膜を設けてもよい。図35及び図36に示した圧電共振子は、上記周波数調整膜を除いては、表5に示した材料及び厚みに形成されている。この場合においても、圧電薄膜の厚みが薄くされるので、薄型化を図ることができる。加えて、周波数調整膜としてのSiO膜の外周縁を薄くする必要がないため、工程を削減することができ、コストを低減することができる。
なお、本発明における圧電共振子の製造方法は上記製造方法に限定されるものではない。
図18は、本発明の第2の実施形態に係る圧電フィルタの模式的正面断面図である。第2の実施形態の圧電フィルタ71では、同一の基板2を用いて、圧電共振子3B,4Bが形成されている。第1の実施形態の圧電フィルタ1と異なるところは、第1の実施形態における空隙6と空隙7とが連ねられていることにある。すなわち、圧電薄膜5は、圧電共振子3B,4Bが形成されている領域全体に渡り空隙72により浮かされた状態とされている。このように、複数の圧電共振子3B,4Bは、共通の空隙72により基板2から浮かされていてもよい。その他の構造については、圧電フィルタ71は圧電フィルタ1と同様に構成されている。
なお、第1の実施形態では、圧電共振子3と圧電共振子4とがラダー型回路を構成するように電気的に接続されている旨を説明したが、本発明に係るフィルタ装置では、複数の圧電共振子は、様々なフィルタ回路を構成するように電気的に接続され得る。このようなフィルタ回路の一例を図19に示す。図19は、ラティス型回路構成のフィルタ装置の回路図である。
なお、このラティス型のフィルタ81を複数段接続してもよく、それによって、フィルタ特性の急峻性及び減衰特性をさらに高めることができる。
図20は、ラダー型フィルタ回路の一例を示す回路図である。
図21は、本発明の第3の実施形態に係る圧電フィルタを示す模式的正面断面図である。圧電フィルタ91では、構造は圧電フィルタ1と同様である。従って、同一部分については同一の参照番号を付することにより、その詳細な説明を省略する。もっとも、第3の実施形態の圧電フィルタ91では、下記の表6に示すように圧電共振子3,4を構成している材料及び膜厚が設定されている。
Figure 2007119556
そして、圧電共振子3の共振周波数は1882MHz、反共振周波数は1936MHz、圧電共振子4の共振周波数は1821MHz、反共振周波数は1873MHzとされている。
第3の実施形態の圧電フィルタ91における圧電共振子3,4の共振特性をスミスチャートで図22(a),(b)に示す。
図22から明らかなように、共振周波数の高域側において、スプリアスを効果的に抑圧し得ることがわかる。
また、本実施形態では、密度の高い電極材料を用いて下部電極9,13が形成されているため、第1の実施形態の場合に比べて、圧電振動部の面積を16%低減することができ、それによって小型化を図ることが可能とされている。
図23は、本発明の第4の実施形態に係る圧電フィルタの模式的正面断面図である。図23に示すように、本実施形態の圧電フィルタ92では、圧電共振子3D,4Dにおいて、上部電極8,12が、圧電振動部を超えて質量付加膜11,15と平面視した際に重なる領域に至っている。他方、圧電共振子4Dにおいては、上部電極12の厚みが下部電極13の厚みより厚くされている。そして、下部電極9,13は、圧電振動部に設けられており、相対的に上部電極8,12よりも小さくされている。
すなわち、本実施形態の圧電フィルタ71では、相対的に径の大きな第2の電極が上部電極8,12であり、相対的に小さい第1の電極が下部電極9,13である。
このように、本発明においては、圧電薄膜の上面に形成する電極及び下面に形成される電極の内いずれが第1の電極または第2の電極であってもよい。
圧電フィルタ71においても、第2の電極としての上部電極8,12が、圧電振動部外に至っており、かつ圧電共振子4Dにおいて、上部電極12の厚みが厚くされているので、第1の実施形態と同様に、十分な質量付与効果が得られ、共振周波数よりも高域側における所望でないスプリアスを効果的に抑圧することが可能とされている。
図24は、本発明の圧電フィルタのさらに他の変形例を説明するための模式的断面図である。ここでは、基板2上に、圧電薄膜5が空隙6,7を隔てて浮かされて圧電振動部3E,4Eが形成されている。もっとも、圧電薄膜5自体が基板2に固定されず、圧電振動部の周囲に設けられた質量付加膜11A,15Aが、圧電振動部外において基板2の上面2aに固定されている。すなわち、圧電振動部3Eにおいては、圧電薄膜5の上面に、第2の電極としての上部電極8Aが、下面に第1の電極として相対的に小さい下部電極9Aが形成されている。この圧電振動部の周囲であって、圧電薄膜5の下面に、質量付加膜11が形成されている。この質量付加膜11は、圧電振動部の周囲からさらに外側に至り、基板2の上面2aに固定されている。
上部電極8Aの上面には、周波数調整膜10が設けられている。
同様に、圧電共振子4Eにおいても、相対的に大きな第2の電極としての上部電極12Aが圧電薄膜5の上面に形成されており、上部電極12A上に周波数調整膜14が形成されている。圧電薄膜5の下面には、相対的に小さい第1の電極としての下部電極13Aが形成されている。そして、下部電極13Aの周囲に設けられた質量付加膜15Aが圧電振動部の周囲からさらにその外側に位置しており、上記質量付加膜11Aと連ねられている。
本変形例のように、質量付加膜は、圧電共振子を構成している圧電薄膜の下面側に配置されていてもよい。その場合には、質量付加膜を利用して圧電薄膜を含む積層薄膜を、基板2に固定してもよい。また、相対的に大きな第2の電極は、圧電薄膜の上面及び下面のいずれに形成してもよい。

Claims (9)

  1. 第1,第2の主面を有する基板と、
    前記基板の第1の主面に固定されて前記基板により支持されている第1の薄膜部と、前記基板の第1の主面から浮かされて音響的に分離されている第2の薄膜部とを有する積層薄膜とを備え、
    前記積層薄膜の第2の薄膜部が、圧電薄膜と、圧電薄膜の一方主面に設けられた第1の電極と、前記圧電薄膜の他方主面に形成されており、第1の電極よりも大きい第2の電極とを有し、前記第1,第2の電極が圧電薄膜を介して重なり合っている部分により圧電振動部が構成されており、
    前記圧電振動部の外周に連なる外側の領域の少なくとも一部において、前記第1の電極の周囲に設けられた質量付加膜をさらに備え、
    前記第2の電極が、平面視した際に、前記圧電振動部を超えて前記質量付加膜が設けられている領域に至るように形成されている、圧電共振子。
  2. 前記第1の電極上に、前記圧電振動部の外周に対して内側に間隔を隔てられて設けられている段差形成膜をさらに備えることを特徴とする、請求項1に記載の圧電共振子。
  3. 前記第1の電極の膜厚と、第2の電極の膜厚とが異なっている、請求項1または2に記載の圧電共振子。
  4. 前記第2の電極の膜厚が、前記第1の電極の膜厚よりも厚くされている、請求項3に記載の圧電共振子。
  5. 同一基板において、請求項1〜4のいずれか1項に記載の複数の圧電共振子が構成されており、該複数の圧電共振子が電気的に接続されてフィルタ回路が構成されている、圧電フィルタ。
  6. 前記複数の圧電共振子の内、少なくとも1つの圧電共振子が、残りの圧電共振子と異なるように構成されている、請求項5に記載の圧電フィルタ。
  7. 前記少なくとも1つの圧電共振子の第2の電極の膜厚と、残りの圧電共振子の第2の電極の膜厚とが異ならされており、それによって、少なくとも1つの圧電共振子の共振周波数と、残りの圧電共振子の共振周波数とが異ならされている、請求項6に記載の圧電フィルタ。
  8. 前記複数の圧電共振子の内、少なくとも1つの圧電共振子において、第1の電極の膜厚と、第2の電極の膜厚とが異ならされている、請求項5〜7のいずれか1項に記載の圧電フィルタ。
  9. 前記複数の圧電共振子の内、少なくとも1つの前記圧電共振子において、第2の電極の膜厚が、第1の電極の膜厚よりも厚くされている、請求項8に記載の圧電フィルタ。
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