JPWO2007043476A1 - マグネトロンスパッタ装置 - Google Patents
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Abstract
Description
2 柱状回転軸
3 螺旋状板磁石群
4 固定外周板磁石
5 外周常磁性体
6 バッキングプレート
7 ハウジング
8 通路
9 絶縁材
10 被処理基板
11 処理室内空間
12 フィーダ線
13 カバー
14 外壁
15 常磁性体
16 グランドプレート
本発明の第1の実施の形態を、図面を参照して詳細に説明をする。
本発明の第2の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。
本発明の第3の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。
本発明の第4の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。
本発明の第5の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。
本発明の第6の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。本実施の形態は、図1に示す構造における問題点の改善を図るものである。すなわち、本発明者等は、図1に示す構造を採用した場合、固定外周磁石4からの磁束がターゲット1の内側部分だけでなくターゲットの外側にもほぼ等しい強度で流れ出して、ターゲットの外側にもプラズマを発生させること、このプラズマはスパッタに寄与しない余分なエネルギを消費するものであるばかりか、ターゲット外の部材を浸食するという問題があるとの知見を得た。これを防止するため、図15に示す実施の態様では固定外周磁石の形状とそれを覆う固定外周常磁性体の構成に工夫を加えている。
本発明の第7の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。本実施例においては、図19に示すように、ターゲット1501の、前記螺旋状板磁石群1503の反対側すなわち被処理基板が設置される側の面に、螺旋状板磁石群の軸方向と同じ方向に対向して伸びて開口している電気的に接地された部材1901がターゲット1501の端部を覆いかつターゲット1501から隔離するように処理室壁1902に接続して設けられ、ターゲット1501を開口するスリット1903を形成している。すなわち、グランドプレート1901によりスリットが形成されている。スリット1903の幅1904および長さが、被処理基板を固定して、かつ螺旋状板磁石群を一定周波数で回転させた時に、スリットが無い場合に被処理基板に単位時間に成膜される最大膜厚の80%以下である領域を遮蔽するように設定されている。本実施例において、ターゲット材質は純アルミニウムである。図20を用いてより詳細に説明する。図20は、ターゲット表面に対向して30mm離れた位置にシリコン基板を設置した場合の、柱状回転軸の軸に垂直な方向の成膜レート分布である。前記スリット幅1904が114mmと60mmの場合について示しており、中央の最大成膜レートで規格化している。スリット1903を形成するグランドプレート1901はターゲット表面から26mm離れた位置に厚さ2mmのステンレス板で形成している。ターゲット幅は102mmであるため、スリット幅114mmの場合は実質的に飛散したターゲット粒子はスリット板で遮断されることなくシリコン基板へ到達して成膜される。一方、スリット幅60mmの場合、最大成膜レートの80%以下部分を遮蔽することになる。また、図21に、ターゲット表面における、水平磁場分布の等高線図を示す。これは柱状回転軸がある位相の場合であるが、実質的に全ての位相について時間平均を取ると、最大平均水平磁場強度は392Gであり、スリット幅を60mmとすることで、被成膜基板からみて、最大平均水平磁場強度の75%である295G以下の領域を遮蔽することとなる。スリット幅を60mmとすることで、被処理基板に成膜される際、プラズマに照射されると同時に、速やかにアルミニウム原子が成膜されて金属膜となるため、被処理基板の帯電を防ぐことが可能である。このことより、チャージアップダメージを回避することが可能である。図22と図23を用いてより詳細に説明する。図22は、アンテナ比を10から100万まで変化させたアンテナMOSキャパシター(酸化膜厚4nm)が搭載された200mm径ウェーハ上にアルミニウムを成膜した際の歩留まりのアンテナ比依存性を示している。アンテナ比とは、MOSキャパシターのゲート電極(アンテナ電極)の面積とゲート面積の比であり、アンテナ電極が大きいほど、よりプラズマの電荷を集めるため、ゲート絶縁膜に過剰な電界がかかりリーク電流の増加や絶縁破壊を起こす。シリコン基板はターゲット表面より30mm離れた位置に設置され、スリットの長手方向と垂直方向に基板を毎秒1cmでウェーハの全ての領域にスリット開口部の下を通過するように1往復運動をさせた。1往復したことより、ウェーハの全領域で2回スリット開口部を通過することになる。成膜条件は、圧力80mTorr、RFパワー1000W、DCパワー1000Wである。図から分かるように、スリット幅が114mmの場合にはアンテナ比が10万からチャージアップダメージが入り歩留まりが劣化しているのに対し、スリット幅を60mmとすることで、アンテナ比100万までダメージが発生していないことが分かった。次に、図23にアンテナ比が1万であり、アンテナ形状が櫛状になっているアンテナMOSに同様の成膜を行い歩留まりを調べた結果を示す。櫛のライン幅が0.2um、0.4umにおいて、ライン:スペースの比率を1:1、1:2、1:3と変化させている。櫛状アンテナにおいても、スリット幅114mmの場合は全ての条件においてチャージアップダメージが発生して歩留まりが80%前後になっているのに対し、スリット幅60mmの場合は全くダメージが発生していないことが分かった。
本発明の第8の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。本発明による回転マグネットスパッタ装置は、図4に示すように、往復移動型成膜装置として使用した場合に特に好適である。
本発明の第9の実施の形態を、以下の図面を参照して詳細に説明をする。なお、前述の実施の形態と重複する部分は、便宜上説明を省略する。本発明による回転マグネットスパッタ装置を図25に示す。柱状回転軸、回転磁石群および固定外周板磁石は実施例7と同じ寸法・構造をしている。被処理基板2502は、200mm径の半導体ウェーハであり、ターゲット表面に対向して設置される回転運動が可能なステージの上に設置される。柱状回転軸を回転させ、ターゲット表面に時間平均で均一なプラズマを生成すると同時に、前記ステージを回転させることで、ウェーハ2502上に成膜を行った。スリット開口部2501は、ウェーハ中心付近のスリット幅を狭めると、よりウェーハ上に均一な成膜が可能となる。また、図26に示すように、スリット開口部2601は長方形とし、被処理基板2602の中心を、前記スリット開口部の中心からずらすことにより、成膜分布の均一化を図ることも可能である。
Claims (28)
- 被成膜基板と被成膜基板に対向して設置されたターゲットと、ターゲットの被処理基板とは反対側に設置された磁石とを有し、この磁石によってターゲット表面に磁場を形成することによりターゲット表面にプラズマを閉じ込めるマグネトロンスパッタ装置であって、
前記磁石は、複数の板磁石が柱状回転軸に設けられた回転磁石群と、回転磁石群の周辺にターゲット面と平行に設置されかつターゲット面と垂直方向に磁化した固定外周板磁石とを含み、
前記回転磁石群を前記柱状回転軸とともに回転させることにより、前記ターゲット表面の磁場パターンが時間と共に動くように構成したことを特徴とするマグネトロンスパッタ装置。 - 前記回転磁石群は、前記柱状回転軸の軸方向に隣り合う板磁石同士が互いに異なる磁極を有するように、かつ前記柱状回転軸の軸方向に垂直な面の外周において隣り合う板磁石が互いに異なる磁極となる部分を有するように、前記柱状回転軸の外周に複数の板磁石を設置して構成され、
前記固定外周板磁石は、ターゲット側にN極又はS極のいずれか一方の磁極を形成していることを特徴とする請求項1に記載のマグネトロンスパッタ装置。 - 前記回転磁石群は、前記柱状回転軸に板磁石を螺旋状に設置することにより複数の螺旋を形成し、前記柱状回転軸の軸方向に隣り合う螺旋同士が前記柱状回転軸の径方向外側に互いに異なる磁極であるN極とS極を形成している螺旋状板磁石群であり、
前記固定外周板磁石はターゲット側からみて前記回転磁石群を囲んだ構造を成し、かつターゲット側にN極又はS極の磁極を形成していることを特徴とする請求項1に記載のマグネトロンスパッタ装置。 - 前記回転磁石群は、前記柱状回転軸の外周に板磁石をリング状に設置しかつ該リングを前記柱状回転軸の軸方向に複数設けることにより構成され、前記柱状回転軸の軸方向に隣り合うリング同士が互いに異なる磁極を有するように、かつ前記柱状回転軸の径方向角度が変化するに従い各リングにおける板磁石の前記柱状回転軸の軸方向における位置が変化するように構成され、
前記固定外周板磁石はターゲット側からみて前記回転磁石群を囲んだ構造を成し、かつターゲット側にN極又はS極の磁極を形成していることを特徴とする請求項1に記載のマグネトロンスパッタ装置。 - 前記柱状回転軸の少なくとも一部が常磁性体であることを特徴とする請求項1から4のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記固定外周板磁石の前記ターゲットとは反対側の面に、前記固定外周板磁石と隣接して固定外周常磁性体が設置されていることを特徴とする請求項1から5のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記固定外周板磁石から前記ターゲットの外側に向かう磁束が前記固定外周板磁石から前記ターゲットの内側に向かう磁束よりも弱まるような手段を設けたことを特徴とする請求項1から6のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記手段は、前記固定外周板磁石の表面のうち、前記ターゲット側からみて外側の側面と前記ターゲット側の面の一部とを連続して覆うように設けられた常磁性体部材を含むことを特徴とする請求項7に記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記手段は、前記固定外周板磁石の表面のうち前記ターゲット側の表面が前記ターゲットの内側に向かって突き出るように前記固定外周板磁石を構成することを含むことを特徴とする請求項7または8に記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記マグネトロンスパッタ装置はさらに、前記ターゲットの端部を覆うように前記ターゲットから離隔してかつ前記螺旋状板磁石群に対して反対側に設けられ電気的に接地される遮蔽部材を具備し、前記遮蔽部材は前記柱状回転軸の軸方向と同じ方向に延在して前記ターゲットを前記被処理基板に対して開口するスリットを構成し、該スリットの幅および長さを、前記板磁石群を一定周波数で回転させた時の、ターゲット表面に形成される磁場のうちターゲット面と平行な成分の磁場強度の時間平均分布において、最大値の75%以上である領域を、被処理基板からみて開口するような幅および長さに設定したことを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記マグネトロンスパッタ装置はさらに、前記ターゲットの端部を覆うように前記ターゲットから離隔してかつ前記螺旋状板磁石群に対して反対側に設けられ電気的に接地される遮蔽部材を具備し、前記遮蔽部材は前記柱状回転軸の軸方向と同じ方向に延在してその間に前記ターゲットを前記被処理基板に対して開口するスリットを構成し、該スリットの幅および長さを、被処理基板を固定しかつ前記板磁石群を一定周波数で回転させた時に、前記ターゲットの端部が遮蔽されない場合に被処理基板に単位時間に成膜される最大膜厚の80%以下である領域を遮蔽するように設定したことを特徴とする請求項1から9のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記固定外周常磁性体の一部が連続して壁面を構成し、前記柱状回転軸及び板磁石群を、前記ターゲット側以外の部分について覆う構造をなし、さらに前記柱状回転軸に隣接する部分まで延長され、磁性流体を介して前記柱状回転軸の磁性体部分に隣接し、前記回転磁石群と前記固定外周板磁石との間に磁気抵抗の低い磁気回路が形成されていることを特徴とする請求項1から11のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記回転磁石群は、前記柱状回転軸に板磁石をリング状に貼り付けて複数のリング状板磁石群が形成されており、柱状回転軸の軸方向に隣り合う前記リング状板磁石群同士が前記柱状回転軸の径方向外側に互いに異なる磁極であるN極とS極を形成しているリング状板磁石群であり、前記柱状回転軸の径方向角度が変化するに従い各リング状板磁石群の軸方向の位置が連続的に同じ変位量で変化することを特徴とする請求項1に記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記リング状板磁石群は、前記柱状回転軸の径方向角度が180度変化したときに隣接するリング状板磁石の軸方向位置に変化し、さらに180度変化したときに元の軸方向位置に戻るように形成され、前記固定外周板磁石はターゲット側からみて前記回転磁石群を囲んだ構造をなし、かつ前記ターゲット側にN極又はS極の磁極を形成していることを特徴とする請求項13に記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記柱状回転軸の少なくとも一部が常磁性体であることを特徴とする請求項13又は14に記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記固定外周板磁石の前記ターゲットとは反対側の面に前記固定外周板磁石と隣接して固定外周常磁性体が設置されていることを特徴とする請求項13から15のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記固定外周常磁性体の一部が連続して壁面を構成し、前記柱状回転軸及び回転板磁石群を、前記ターゲット側以外の部分について覆う構造をなし、さらに前記柱状回転軸に隣接する部分まで延長され、磁性流体を介して前記柱状回転軸の磁性体部分に隣接し、前記回転磁石群と前記固定外周板磁石との間に磁気抵抗の低い磁気回路が形成されていることを特徴とする請求項13から16のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記リング状板磁石群は、前記柱状回転軸の径方向角度が180度変化したときに隣接するリング状板磁石の軸方向位置に変化し、さらに180度変化したときに元の軸方向位置に戻るように形成され、
前記固定外周板磁石は前記ターゲット側からみて前記回転磁石群の片側に隣接して前記ターゲット表面側にN極又はS極の磁極を形成して設置された1つ目の板磁石と、ターゲット側から見て前記リング状回転磁石群と前記1つ目の板磁石とを囲んだ構造を成し、かつ前記ターゲット側に前記1つ目の板磁石とは反対の磁極をもつ板磁石が設置されていることを特徴とする請求項13に記載のマグネトロンスパッタ装置。 - 前記リング状板磁石群は、前記柱状回転軸の径方向角度が180度変化したときに隣接するリング状板磁石の軸方向位置に変化し、さらに180度変化したときに元の軸方向位置に戻るように形成され、前記固定外周板磁石は前記ターゲット側からみて前記回転磁石群を囲んだ構造をなし、かつ前記ターゲット側にN極又はS極の磁極を形成していることを特徴とする請求項18に記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記柱状回転軸の少なくとも一部が常磁性体であることを特徴とする請求項18又は19に記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記固定外周板磁石の前記ターゲットとは反対側の面に前記固定外周板磁石と隣接して固定外周常磁性体が設置されていることを特徴とする請求項18から20のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記固定外周常磁性体の一部が連続して壁面を構成し、前記柱状回転軸及び回転板磁石群を、前記ターゲット側以外の部分について覆う構造をなし、さらに前記柱状回転軸に隣接する部分まで延長され、磁性流体を介して前記柱状回転軸の磁性体部分に隣接し、前記回転磁石群と前記固定外周板磁石との間に磁気抵抗の低い磁気回路が形成されていることを特徴とする請求項19から21のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記回転磁石群と、前記固定外周板磁石とが、ターゲット表面と垂直方向に可動することを特徴とする請求項1から22のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記回転磁石群と、前記固定外周板磁石とが、ターゲット材とターゲット材が貼り付けられているバッキングプレート及びバッキングプレート周辺から連続して設置された壁面により囲まれた空間内に設置され、前記空間が減圧可能であることを特徴とする請求項1から23のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 前記柱状回転軸の軸方向に交わる方向に前記被処理基板を相対的に移動させる手段を有することを特徴とする請求項1から24のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置。
- 請求項1から25のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置を、前記柱状回転軸の軸方向に平行に複数備え、前記柱状回転軸の軸方向に交わる方向に前記被処理基板を相対的に移動させる手段を有することを特徴とするマグネトロンスパッタ装置。
- 請求項1から26のいずれかに記載のマグネトロンスパッタ装置を用いて、前記柱状回転軸を回転させつつ被処理基板に前記ターゲットの材料を成膜することを特徴とするスパッタ方法。
- 請求項27に記載のスパッタ方法を用いて被処理基板にスパッタ成膜する工程を含むことを特徴とする電子装置の製造方法。
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