JPWO2005011069A1 - ソケット、及び試験装置 - Google Patents
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Abstract
Description
特願2003−282139 出願日 平成15年7月29日
【請求項1】
ボールコンタクトを有するBGAユニットと電気的に接続するソケットであって、
前記BGAユニットと対向する表面の前記ボールコンタクトに対応する位置に、前記ボールコンタクトの直径より大きい直径を有する貫通孔が設けられたハウジングと、
前記貫通孔に設けられ、対応する前記ボールコンタクトの側部と接触するピンコンタクトと
を備え、
前記ハウジングは、前記ボールコンタクトと接続する接続方向において、前記ピンコンタクトを遊動可能に保持し、
前記ハウジングの裏面を覆うように固定され、前記ピンコンタクトに対応する位置に開口部が設けられた係止シートを更に備え、
前記ピンコンタクトは、前記開口部の幅より大きい幅の凸片部を有し、前記ピンコンタクトの前記凸片部より下部の領域の幅は、前記開口部の幅より小さい
ソケット。
【請求項2】
前記BGAユニットは、複数の前記ボールコンタクトを有し、
前記ハウジングは、前記複数のボールコンタクトに対応した複数の前記貫通孔を有し、
前記ソケットは、前記複数の貫通孔に設けられた複数の前記ピンコンタクトを備える
請求項1に記載のソケット。
【請求項3】
前記ピンコンタクトは、
前記ハウジングの裏面に係止される係止部と、
前記ボールコンタクトと接触する曲面を有する曲面部と、
前記係止部から前記曲面部まで延伸して設けられ、弾性復元力を有する弾性部と
を有する請求項1に記載のソケット。
【請求項4】
前記ハウジングの表面と平行な面内における、前記係止部から前記曲面部に向かう延伸方向が、前記複数の貫通孔の配列方向に対して斜めになるように前記ピンコンタクトを設けた
請求項3に記載のソケット。
【請求項5】
隣接する前記貫通孔に設けられた前記ピンコンタクトのそれぞれの前記延伸方向が、互いに逆向きとなるように前記複数のピンコンタクトを設けた
請求項4に記載のソケット。
【請求項6】
前記曲面部の頂点の、前記ハウジングから前記BGAユニットに向かう方向における高さは、前記ハウジングの表面より低い
請求項3に記載のソケット。
【請求項7】
前記貫通孔の側面と一体に設けられ、前記係止部側から前記弾性部と接触することにより、前記ピンコンタクトが前記ボールコンタクトと接触していない状態における前記弾性部の角度を規定するコンタクト保持部を更に備える
請求項3に記載のソケット。
【請求項8】
前記ピンコンタクトは、前記係止部のうち前記ハウジングの裏面と略平行な領域の底面に設けられ、前記BGAユニットと電気的に接続されるべき外部のボードと電気的に接触するボード側接触部を更に有する
請求項3に記載のソケット。
【請求項9】
前記ハウジングは、前記ピンコンタクトの一部が挿入される嵌合溝が、裏面に設けられ、
前記ピンコンタクトは、
一部が前記嵌合溝に挿入される係止部と、
前記ボールコンタクトと接触する曲面を有する曲面部と、
前記係止部から前記曲面部まで延伸して設けられ、弾性復元力を有する弾性部と
を有し、
前記係止部のうち前記嵌合溝に挿入される領域の上部に前記凸片部が設けられ、前記係止部の他の領域の幅は、前記開口部の幅より小さい
請求項1に記載のソケット。
【請求項10】
前記係止シートは、前記係止部に対応する位置に、前記係止部より長い範囲で、前記開口部が設けられ、
前記係止部は、前記嵌合溝に挿入される領域と、前記ハウジングの裏面に略平行な領域とを有し、
前記ピンコンタクトは、前記係止部のうち前記ハウジングの裏面と略平行な領域の底面に設けられ、前記BGAユニットと電気的に接続されるべき外部のボードと電気的に接触するボード側接触部を更に有する
請求項9に記載のソケット。
【請求項11】
前記ハウジングは、前記ピンコンタクトの一部が挿入される嵌合溝が、裏面に設けられ、前記嵌合溝の下部に、前記ピンコンタクトの方向に突出する突起部を有し、
前記ピンコンタクトは、
前記嵌合溝に挿入される係止部と、
前記係止部に設けられ、前記突起部の方向に突出する係止爪と
を有する請求項8に記載のソケット。
【請求項12】
複数のボールコンタクトを有する電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスと電気的に接続されるソケットと、
前記電子デバイスに供給する試験パターンを生成し、前記ソケットを介して前記電子デバイスに前記試験パターンを供給するパターン発生部と、
前記試験パターンに応じて前記電子デバイスが出力する出力信号を前記ソケットを介して受け取り、前記出力信号に基づいて前記電子デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記ソケットは、
前記電子デバイスと対向する表面の前記複数のボールコンタクトに対応する位置に、前記ボールコンタクトの直径より大きい直径を有する複数の貫通孔が設けられたハウジングと、
前記複数の貫通孔に設けられ、対応する前記ボールコンタクトの側部と接触する複数のピンコンタクトと
を有し、
前記ハウジングは、前記ボールコンタクトと接続する接続方向において、前記ピンコンタクトを遊動可能に保持し、
前記ソケットは前記ハウジングの裏面を覆うように固定され、前記ピンコンタクトに対応する位置に開口部が設けられた係止シートを更に備え、
前記ピンコンタクトは、前記開口部の幅より大きい幅の凸片部を有し、前記ピンコンタクトの前記凸片部より下部の領域の幅は、前記開口部の幅より小さい
試験装置。
【請求項13】
前記ソケットの背面に接続され、前記電子デバイスと前記試験装置との間の信号の授受を行うソケットボードを更に備え、
前記ピンコンタクトは、前記ソケットボードと電気的に接触するボード側接触部を有する
請求項12に記載の試験装置。
【請求項14】
前記ピンコンタクトは、前記ハウジングの裏面に係止される係止部を更に有し、
前記ボード側接触部は、前記係止部のうち前記ハウジングの裏面と接触する領域の底面に設けられ、前記ソケットボードと電気的に接触する
請求項13に記載の試験装置。
特願2003−282139 出願日 平成15年7月29日
Claims (16)
- ボールコンタクトを有するBGAユニットと電気的に接続するソケットであって、
前記BGAユニットと対向する表面の前記ボールコンタクトに対応する位置に、前記ボールコンタクトの直径より大きい直径を有する貫通孔が設けられたハウジングと、
前記貫通孔に設けられ、対応する前記ボールコンタクトの側部と接触するピンコンタクトと
を備えるソケット。 - 前記BGAユニットは、複数の前記ボールコンタクトを有し、
前記ハウジングは、前記複数のボールコンタクトに対応した複数の前記貫通孔を有し、
前記ソケットは、前記複数の貫通孔に設けられた複数の前記ピンコンタクトを備える
請求項1に記載のソケット。 - 前記ピンコンタクトは、
前記ハウジングの裏面に系止される系止部と、
前記ボールコンタクトと接触する曲面を有する曲面部と、
前記系止部から前記曲面部まで延伸して設けられ、弾性復元力を有する弾性部と
を有する請求項1に記載のソケット。 - 前記ハウジングの表面と平行な面内における、前記系止部から前記曲面部に向かう延伸方向が、前記複数の貫通孔の配列方向に対して斜めになるように前記ピンコンタクトを設けた
請求項3に記載のソケット。 - 隣接する前記貫通孔に設けられた前記ピンコンタクトのそれぞれの前記延伸方向が、互いに逆向きとなるように前記複数のピンコンタクトを設けた
請求項4に記載のソケット。 - 前記曲面部の前記頂点の、前記ハウジングから前記BGAユニットに向かう方向における高さは、前記ハウジングの表面より低い
請求項3に記載のソケット。 - 前記貫通孔の側面と一体に設けられ、前記系止部側から前記弾性部と接触することにより、前記ピンコンタクトが前記ボールコンタクトと接触していない状態における前記弾性部の角度を規定するコンタクト保持部を更に備える
請求項3に記載のソケット。 - 前記ピンコンタクトは、前記系止部のうち前記ハウジングの裏面と略平行な領域の底面に設けられ、前記BGAユニットと電気的に接続されるべき外部のボードと電気的に接触するボード側接触部を更に有する
請求項3に記載のソケット。 - 前記ハウジングは、前記ボールコンタクトと接続する接続方向において、前記ピンコンタクトを遊動可能に保持する
請求項1に記載のソケット。 - 前記ハウジングの裏面を覆うように固定され、前記ピンコンタクトに対応する位置に開口部が設けられた系止シートを更に備え、
前記ピンコンタクトは、前記開口部の幅より大きい幅の凸片部を有し、前記ピンコンタクトの前記凸片部より下部の領域の幅は、前記開口部の幅より小さい
請求項9に記載のソケット。 - 前記ハウジングは、前記ピンコンタクトの一部が挿入される嵌合溝が、裏面に設けられ、
前記ピンコンタクトは、
一部が前記嵌合溝に挿入される系止部と、
前記ボールコンタクトと接触する曲面を有する曲面部と、
前記系止部から前記曲面部まで延伸して設けられ、弾性復元力を有する弾性部と
を有し、
前記系止部のうち前記嵌合溝に挿入される領域の上部に前記凸片部が設けられ、前記系止部の他の領域の幅は、前記開口部の幅より小さい
請求項10に記載のソケット。 - 前記系止シートは、前記系止部に対応する位置に、前記系止部より長い範囲で、前記開口部が設けられ、
前記系止部は、前記嵌合溝に挿入される領域と、前記ハウジングの裏面に略平行な領域とを有し、
前記ピンコンタクトは、前記系止部のうち前記ハウジングの裏面と略平行な領域の底面に設けられ、前記BGAユニットと電気的に接続されるべき外部のボードと電気的に接触するボード側接触部を更に有する
請求項11に記載のソケット。 - 前記ハウジングは、前記ピンコンタクトの一部が挿入される嵌合溝が、裏面に設けられ、前記嵌合溝の下部に、前記ピンコンタクトの方向に突出する突起部を有し、
前記ピンコンタクトは、
前記嵌合溝に挿入される系止部と、
前記系止部に設けられ、前記突起部の方向に突出する系止爪と
を有する請求項8に記載のソケット。 - 複数のボールコンタクトを有する電子デバイスを試験する試験装置であって、
前記電子デバイスと電気的に接続されるソケットと、
前記電子デバイスに供給する試験パターンを生成し、前記ソケットを介して前記電子デバイスに前記試験パターンを供給するパターン発生部と、
前記試験パターンに応じて前記電子デバイスが出力する出力信号を前記ソケットを介して受け取り、前記出力信号に基づいて前記電子デバイスの良否を判定する判定部と
を備え、
前記ソケットは、
前記電子デバイスと対向する表面の前記複数のボールコンタクトに対応する位置に、前記ボールコンタクトの直径より大きい直径を有する複数の貫通孔が設けられたハウジングと、
前記複数の貫通孔に設けられ、対応する前記ボールコンタクトの側部と接触する複数のピンコンタクトと
を有する試験装置。 - 前記ソケットの背面に接続され、前記電子デバイスと前記試験装置との間の信号の授受を行うソケットボードを更に備え、
前記ピンコンタクトは、前記ソケットボードと電気的に接触するボード側接触部を有する
請求項14に記載の試験装置。 - 前記ピンコンタクトは、前記ハウジングの裏面に系止される系止部を更に有し、
前記ボード側接触部は、前記系止部のうち前記ハウジングの裏面と接触する領域の底面に設けられ、前記ソケットボードと電気的に接触する
請求項15に記載の試験装置。
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