JPWO2003036707A1 - アルミニウム/モリブデン積層膜のエッチング方法 - Google Patents

アルミニウム/モリブデン積層膜のエッチング方法 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2003036707A1
JPWO2003036707A1 JP2003539095A JP2003539095A JPWO2003036707A1 JP WO2003036707 A1 JPWO2003036707 A1 JP WO2003036707A1 JP 2003539095 A JP2003539095 A JP 2003539095A JP 2003539095 A JP2003539095 A JP 2003539095A JP WO2003036707 A1 JPWO2003036707 A1 JP WO2003036707A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
acid
weight
etching method
metal film
aluminum
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP2003539095A
Other languages
English (en)
Inventor
南場 哲
哲 南場
阿部 久起
久起 阿部
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Original Assignee
Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Mitsubishi Gas Chemical Co Inc filed Critical Mitsubishi Gas Chemical Co Inc
Publication of JPWO2003036707A1 publication Critical patent/JPWO2003036707A1/ja
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/16Acidic compositions
    • C23F1/20Acidic compositions for etching aluminium or alloys thereof
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L21/00Processes or apparatus adapted for the manufacture or treatment of semiconductor or solid state devices or of parts thereof
    • H01L21/02Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof
    • H01L21/04Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer
    • H01L21/18Manufacture or treatment of semiconductor devices or of parts thereof the devices having potential barriers, e.g. a PN junction, depletion layer or carrier concentration layer the devices having semiconductor bodies comprising elements of Group IV of the Periodic Table or AIIIBV compounds with or without impurities, e.g. doping materials
    • H01L21/30Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26
    • H01L21/302Treatment of semiconductor bodies using processes or apparatus not provided for in groups H01L21/20 - H01L21/26 to change their surface-physical characteristics or shape, e.g. etching, polishing, cutting
    • H01L21/306Chemical or electrical treatment, e.g. electrolytic etching
    • H01L21/3063Electrolytic etching
    • CCHEMISTRY; METALLURGY
    • C23COATING METALLIC MATERIAL; COATING MATERIAL WITH METALLIC MATERIAL; CHEMICAL SURFACE TREATMENT; DIFFUSION TREATMENT OF METALLIC MATERIAL; COATING BY VACUUM EVAPORATION, BY SPUTTERING, BY ION IMPLANTATION OR BY CHEMICAL VAPOUR DEPOSITION, IN GENERAL; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL
    • C23FNON-MECHANICAL REMOVAL OF METALLIC MATERIAL FROM SURFACE; INHIBITING CORROSION OF METALLIC MATERIAL OR INCRUSTATION IN GENERAL; MULTI-STEP PROCESSES FOR SURFACE TREATMENT OF METALLIC MATERIAL INVOLVING AT LEAST ONE PROCESS PROVIDED FOR IN CLASS C23 AND AT LEAST ONE PROCESS COVERED BY SUBCLASS C21D OR C22F OR CLASS C25
    • C23F1/00Etching metallic material by chemical means
    • C23F1/10Etching compositions
    • C23F1/14Aqueous compositions
    • C23F1/16Acidic compositions
    • C23F1/26Acidic compositions for etching refractory metals

Landscapes

  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Chemical Kinetics & Catalysis (AREA)
  • General Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Materials Engineering (AREA)
  • Mechanical Engineering (AREA)
  • Metallurgy (AREA)
  • Organic Chemistry (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • ing And Chemical Polishing (AREA)
  • Internal Circuitry In Semiconductor Integrated Circuit Devices (AREA)

Abstract

本発明のエッチング方法においては、少なくとも一のアルミニウム系金属膜と少なくとも一のモリブデン系高融点金属膜とを含む積層膜を、リン酸、硝酸、有機酸およびカチオン生成成分を含有する水溶液からなるウェットエッチング液を用いてエッチングする。ウェットエッチング液の水分含量を10〜30重量%に維持することによって、積層膜を良好な順テーパ形状にウエットエッチングすることが出来る。

Description

技術分野
本発明は、液晶表示装置等の、信号配線に用いる積層配線の形成方法に関し、更に詳しくは、基板上のアルミニウム系金属層とモリブデン等の高融点金属層との積層膜のエッチング方法に関し、信頼性の高い積層配線の形成方法に関する。
背景技術
ガラス基板上に、ITO(Indium Tin Oxide)等の透明画素電極をマトリクス状に配列し、これをTFT(Thin Film Transition)で駆動するアクティブマトリクス型の液晶表示装置においては、TFTを駆動するためのゲート電極、およびこのゲート電極から延在するゲート配線やデータ配線等を同じガラス基板上に形成したTFTパネル構造が採用される。
最も一般的な逆スタガ型のTFTパネル構造の概略を図1に示した断面図を参照して説明する。
ガラス基板1上にゲート電極2を順テーパ状に形成し、ゲート絶縁膜3およびi型半導体層4、n型半導体層5を介してソース電極6とドレイン電極7をゲート電極2と対向して配置することにより、TFTが形成される。通常i型半導体層4はノンドープのa−Siから、n型半導体層5はn型不純物を含むna−Siから形成される。ゲート電極2はAl系金属等からなり、この上層に形成されるi型半導体層4のステップカバレッジを確保したり、ゲート絶縁膜3の絶縁耐性を向上するためにその側面は順テーパ状に加工されている。
従来よりAl系金属等からなるゲート電極2やここから延在するゲート配線を順テーパ状に加工するためにはガラス基板1上全面にAl系金属層をスパッタリング等で成膜し、この上にレジストパターンを選択的に形成後、このレジストパターンをマスクとして等方的にウエットエッチングする方法が採用されている。
ところで、近年のTFTパネルにおいては、Al系金属配線とITO膜とのコンタクトを形成したり、Al系金属配線のヒロック防止するために図2の様に、低抵抗のAl系金属配線(Al系ゲート電極)21の上層に、モリブデン(Mo)等の高融点金属配線(Mo系ゲート電極)22を積層した積層配線構造、あるいは図3の様に、低抵抗のAl系金属配線21の上層、下層の両面に、Mo等の高融点金属配線22を積層した積層配線構造が多く採用されるようになり、この場合もMo等の高融点金属配線22の側面を順テーパ状に加工することにより絶縁耐性を向上することが出来る。
従来、Al系金属膜のウエットエッチング液としては、燐酸、硝酸、酢酸を混合した混酸が使用されている(特開平7−176500号公報、特開平7−176525号公報、特開平9−127555号公報)。しかし、上記、混酸を使用した場合には、Al系金属膜と高融点金属膜との積層構造を順テーパ状に加工することは、Alと積層する金属の標準電極電位が異なるため、エッチング工程で電池反応が起こるなどの理由により極めて困難である。
しかしながら、特開平6−104241号公報には、Mo/Al系積層膜を上記の混酸を使用して、ウエットエッチングを行う場合の手段として、積層膜の膜厚比を制御することが記載されているが、根本的な解決には至っていない。
以上の状況から、上記積層膜を良好な順テーパ形状にエッチングすることができる優れたエッチング方法が要望されている。
発明の開示
本発明の目的は、上記従来技術における種々の問題点を解決し、アルミニウム系金属膜、特に、アルミニウム系金属膜とモリブテン等の高融点金属膜との積層膜を良好な順テーパ形状にウエットエッチングする方法を提供することである。
本発明者等は、上記目的を達成すべく鋭意検討した結果、少なくとも一のアルミニウム系金属膜と少なくとも一のモリブデン系高融点金属膜とを含む積層膜をリン酸、硝酸、有機酸および陽イオン成分を含有する水溶液からなるエッチング液を使用してエッチングする際に、エッチング液中の水分含有量を、10〜30重量%の間に維持することにより良好な順テーパ形状にエッチングすることが出来ることを見出し、本発明を完成させるに至った。
発明を実施するための最良の形態
本発明に使用されるウエットエッチング液は、リン酸、硝酸、有機酸、および陽イオン成分を含有する水溶液である。
リン酸の濃度はウエットエッチング液の50〜80重量%、好ましくは60〜75重量%である。リン酸は、主にAl系金属膜のエッチングに寄与するものであり、50重量%未満であると、Al系金属膜のエッチング速度が遅くなり、また80重量%を超えるとAl系金属膜のエッチング速度が速くなり過ぎ好ましくない。なお、本発明において、「Al系金属膜」とはアルミニウム膜およびアルミニウム含量が80重量%以上のアルミニウム合金の膜をいう。合金元素としてはNd、Zr、Cu、Si等が挙げられる。
硝酸の濃度は、ウエットエッチング液の0.5〜10重量%、好ましくは1〜8重量%である。硝酸は、主にMo系高融点金属膜のエッチングに寄与するものであり、0.5重量%未満では、Mo系高融点金属膜のエッチング速度が遅くなり、10重量%を超えるとMo系高融点金属膜のエッチング速度が速くなり過ぎ好ましくない。なお、本発明において、「Mo系高融点金属膜」とはモリブデン膜およびモリブデン含量が80重量%以上のモリブデン合金の膜をいう。合金元素としてはW等が挙げられる。
有機酸としては、ギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸等のモノカルボン酸類;シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、マレイン酸、フマル酸、フタル酸等のジカルボン酸類;トリメリット酸等のトリカルボン酸類;ヒドロキシ酢酸、乳酸、サリチル酸等のオキシモノカルボン酸類;リンゴ酸、酒石酸等のオキシジカルボン酸;クエン酸等のオキシトリカルボン酸類;アスパラギン酸、グルタミン酸等のアミノカルボン酸類が挙げられる。
有機酸の濃度は、ウエットエッチング液の0.5〜10重量%、好ましくは5〜8重量%である。有機酸の濃度はリン酸、硝酸の濃度、あるいはエッチングの条件等により、適宜決定すれば良い。
カチオン生成成分としては、アンモニア;水酸化アンモニウムなどのアンモニウム塩;メチルアミン、ジメチルアミン、トリメチルアミン、エチルアミン、ジエチルアミン、トリエチルアミン、プロピルアミン、ジプロピルアミン、トリプロピルアミン、ブチルアミン、ジブチルアミン、トリブチルアミン等の脂肪族アミン類;モノエタノールアミン、ジエタノールアミン、トリエタノールアミン等のアルカノールアミン類;エチレンジアミン、プロピレンジアミン、トリメチレンジアミン、テトラメチレンジアミン等のポリアミン類;ピロール、ピロリン、ピロリジン、モルホリン等の環式アミン類;およびテトラメチルアンモニウム水酸化物、テトラエチルアンモニウム水酸化物、トリメチル(2−ヒドロキシエチル)アンモニウム水酸化物等の、第四級アンモニウム水酸化物が挙げられる。また、上記アンモニア、アミン、第四級アンモニウム水酸化物の他に、水酸化ナトリウム、水酸化カリウム等のアルカリ金属の塩もカチオン生成成分として用いられる。上記カチオン生成成分のうち、アンモニウム塩が特に好ましい。
上記、カチオン生成成分の濃度はウエットエッチング液の0.1〜20重量%、好ましくは1〜10重量%である。0.1重量%未満では、エッチング液の寿命が短くなり、さらに20重量%を超えると、Mo系金属膜、Al系金属膜のエッチング速度が遅くなり好ましくない。
本発明において、ウエットエッチング液の最適な水分含有量は、エッチングする金属膜の種類、組成により固有の範囲となるため、実際に使用する金属膜ごとに適宜決定する必要があるが、通常10〜30重量%の範囲が好ましい。例えば、Mo等の高融点金属膜/Al系金属膜をウエットエッチングする場合の水分含量は、15〜20重量%、好ましくは16〜19重量%であり、Mo等の高融点金属膜/Al系金属膜/Mo等の高融点金属膜をウエットエッチングする場合の水分含量は、18〜23重量%、好ましくは19〜22重量%である。
エッチング条件は特に限定されず、従来公知の条件を採用することが出来る。例えば、常温(20〜25℃)〜50℃で0.5〜3分間金属膜をウエットエッチング液に接触させることにより行われるが、エッチング条件は、使用される積層膜の種類、厚さ等から、勘案して、適宜決定すれば良い。
実施例1
図4(a)〜(c)を用いて、詳細に説明する。まず、、アルミニウム合金(99.1重量%Al、0.9重量%Zr)、ついでモリブデン合金(85重量%Mo、15重量%W)をスパッタし、TFTガラス基板1上にモリブデン合金膜22(750Å)/アルミニウム合金膜21(750Å)の積層膜を形成した(図4(a))。モリブデン合金/アルミニウム合金積層膜上に、フォトレジスト23を塗布し、あらかじめ用意したパターンマスクを通して露光後、現像し所望のフォトレジストパターンを形成した(図4(b))。
上記図4(b)の基板を用いて、
(1)リン酸65重量%、硝酸9重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分19重量%、
(2)リン酸66重量%、硝酸9重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分18重量%、
(3)リン酸67重量%、硝酸9重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分17重量%、および
(4)リン酸68重量%、硝酸9重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分16重量%、
の4種類のエッチング液で45℃でジャストエッチまでエッチングを行い、水でリンス後、乾燥し、さらにアミン系剥離液でフォトレジスト23を剥離した後、電子顕微鏡(SEM)で観察を行った。その結果、図4(c)に示す様な、良好な順テーパー状のモリブデン合金/アルミニウム合金積層膜が得られた。
比較例1
前記、図4(b)の基板を用いて、
(5)リン酸62重量%、硝酸9重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分22重量%、および
(6)リン酸71重量%、硝酸9重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分13重量%、
の2種類のエッチング液で45℃でジャストエッチまでエッチングを行い、水でリンス後、乾燥し、さらにアミン系剥離液でフォトレジスト23を剥離した後、電子顕微鏡(SEM)で観察を行った。その結果、図5に示す様な非テーパー状の積層膜となり、図4(c)に示すような順テーパー状のモリブデン合金/アルミニウム合金積層膜は得られなかった。
実施例2
図6(a)〜(c)を用いて詳細に説明する。まず、モリブデン合金(85重量%Mo、15重量%W)、アルミニウム合金(99.1重量%Al、0.9重量%Zr)、ついでモリブデン合金(85重量%Mo、15重量%W)をスパッタし、TFTガラス基板1上にモリブデン合金膜22(750Å)/アルミニウム合金膜21(1500Å)/モリブデン合金膜22(750Å)の積層膜を形成した(図6(a))。積層膜上に、フォトレジスト23を塗布し、あらかじめ用意したパターンマスクを通して露光後、現像して所望のフォトレジストパターンを形成した(図6(b))。
上記図6(b)の基板を用いて、
(7)リン酸64重量%、硝酸7重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分22重量%、
(8)リン酸65重量%、硝酸7重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分21重量%、
(9)リン酸66重量%、硝酸7重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分20重量%、および
(10)リン酸67重量%、硝酸7重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分19重量%、
の4種類のエッチング液で45℃でジャストエッチまでエッチングを行い、水でリンス後、乾燥し、さらにアミン系剥離液でフォトレジスト23を剥離した後、電子顕微鏡(SEM)で観察を行った。その結果、図6(c)に示す様な、良好な順テーパー状のモリブデン合金/アルミニウム合金/モリブデン合金積層膜が得られた。
実施例3
上記図6(b)の基板を用いて、
(11)リン酸63重量%、硝酸8重量%、プロピオン酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分22重量%、
(12)リン酸64重量%、硝酸8重量%、プロピオン5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分21重量%、
(13)リン酸65重量%、硝酸8重量%、プロピオン5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分20重量%、
(14)リン酸66重量%、硝酸8重量%、プロピオン5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分19重量%、
の4種類のエッチング液で45℃でジャストエッチまでエッチングを行い、水でリンス後、乾燥し、さらにアミン系剥離液でフォトレジスト23を剥離した後、電子顕微鏡(SEM)で観察を行った。その結果、図6(c)に示す様な、良好な順テーパー状のモリブデン合金/アルミニウム合金/モリブデン合金積層膜が得られた。
実施例4
上記図6(b)の基板を用いて、
(15)リン酸62重量%、硝酸8重量%、酢酸5重量%、水酸化ナトリウム3重量%、水分22重量%、
(16)リン酸63重量%、硝酸8重量%、酢酸5重量%、水酸化ナトリウム3重量%、水分21重量%、
(17)リン酸64重量%、硝酸8重量%、酢酸5重量%、水酸化ナトリウム3重量%、水分20重量%、および
(18)リン酸65重量%、硝酸8重量%、酢酸5重量%、水酸化ナトリウム3重量%、水分19重量%、
の4種類のエッチング液で45℃でジャストエッチまでエッチングを行い、水でリンス後、乾燥し、さらにアミン系剥離液でフォトレジスト23を剥離した後、電子顕微鏡(SEM)で観察を行った。その結果、図6(c)に示す様な、良好な順テーパー状のモリブデン合金/アルミニウム合金/モリブデン合金積層膜が得られた。
比較例2
上記図6(b)の基板を用いて、
(19)リン酸61重量%、硝酸7重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分25重量%、
(20)リン酸70重量%、硝酸7重量%、酢酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分16重量%、
の2種類のエッチング液で45℃でジャストエッチまでエッチングを行い、水でリンス後、乾燥し、さらにアミン系剥離液でフォトレジスト23を剥離した後、電子顕微鏡(SEM)で観察を行った。その結果、図7に示す様な非テーパー状の積層膜となり、図6(c)に示す様な順テーパー状のモリブデン合金/アルミニウム合金/モリブデン合金積層膜は得られなかった。
比較例3
上記図6(b)の基板を用いて、
(21)リン酸60重量%、硝酸8重量%、プロピオン酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分25重量%、
(22)リン酸69重量%、硝酸8重量%、プロピオン酸5重量%、水酸化アンモニウム2重量%、水分16重量%、
の2種類のエッチング液で45℃でジャストエッチまでエッチングを行い、水でリンス後、乾燥し、さらにアミン系剥離液でフォトレジスト23を剥離した後、電子顕微鏡(SEM)で観察を行った。その結果、図7に示す様な非テーパー状の積層膜となり、図6(c)に示す様な順テーパー状のモリブデン合金/アルミニウム合金/モリブデン合金積層膜は得られなかった。
産業上の利用の可能性
本発明のエッチング方法を使用することにより、アルミニウム系金属膜、特に、アルミニウム系金属膜とモリブテン系高融点金属膜との積層膜を良好な順テーパ形状にウエットエッチングすることが出来る。
【図面の簡単な説明】
図1は、一般的な逆スタガ型のTFTパネル構造の概略断面図である。
図2は、低抵抗のAl系金属配線の上層に、高融点金属配線を積層した積層構造を示す概略図である。
図3は、低抵抗のAl系金属配線の上層、下層の両面に、Mo系高融点金属配線を積層した積層構造を示す概略図である。
図4は、順テーパー状のAl系金属配線/Mo系高融点金属配線積層構造を形成する様子を示す工程図である。
図5は、非テーパー状のAl系金属配線/Mo系高融点金属配線積層構造を示す概略図である。
図6は、順テーパー状のMo系高融点金属配線/Al系金属配線/Mo系高融点金属配線積層構造を形成する様子を示す工程図である。
図7は、非テーパー状のMo系高融点金属配線/Al系金属配線/Mo系高融点金属配線積層構造を示す概略図である。

Claims (11)

  1. 基板上に形成した、少なくとも一のアルミニウム系金属膜と少なくとも一のモリブデン系高融点金属膜とを含む積層膜を、リン酸、硝酸、有機酸およびカチオン生成成分を含有する水溶液からなるウェットエッチング液に、水分含有量を10〜30重量%に維持しながら接触させることを特徴とするエッチング方法。
  2. 前記積層膜が、基板上に形成したアルミニウム系金属膜および該アルミニウム系金属膜上に形成したモリブデン系高融点金属膜からなることを特徴とする請求項1記載のエッチング方法。
  3. 前記水分含量が15〜20重量%であることを特徴とする請求項2記載のエッチング方法。
  4. 前記積層膜が、基板上に形成したモリブデン系高融点金属膜、該モリブデン系高融点金属膜上に形成したアルミニウム系金属膜、および該アルミニウム系金属膜上に形成したモリブデン系高融点金属膜からなることを特徴とする請求項1記載のエッチング方法。
  5. 前記水分含量が18〜23重量%であることを特徴とする請求項4記載のエッチング方法。
  6. 前記リン酸の濃度が、ウエットエッチング液の50〜80重量%であることを特徴とする請求項1〜5のいずれかに記載のエッチング方法。
  7. 硝酸の濃度が、ウエットエッチング液の0.5〜10重量%であることを特徴とする請求項1〜6のいずれかに記載のエッチング方法。
  8. 前記有機酸がギ酸、酢酸、プロピオン酸、酪酸、シュウ酸、マロン酸、コハク酸、グルタル酸、アジピン酸、ピメリン酸、マレイン酸、フマル酸、フタル酸、トリメリット酸、ヒドロキシ酢酸、乳酸、サリチル酸、リンゴ酸、酒石酸、クエン酸、アスパラギン酸、およびグルタミン酸かならなる群より選ばれた少なくとも一の酸であることを特徴とする請求項1〜7のいずれかに記載のエッチング方法。
  9. 前記有機酸の濃度が、ウエットエッチング液の0.5〜10重量%であることを特徴とする請求項1〜8のいずれかに記載のエッチング方法。
  10. 前記カチオン生成成分が、アンモニア、アンモニウム塩、脂肪族アミン類、アルカノールアミン類、ポリアミン類、環式アミン類、第四級アンモニウム水酸化物、アルカリ金属塩かならなる群より選ばれた少なくとも一の化合物であることを特徴とする請求項1〜9のいずれかに記載のエッチング方法。
  11. 前記カチオン生成成分の濃度が、ウエットエッチング液の0.1〜20重量%であることを特徴とする請求項1〜10のいずれかに記載のエッチング方法。
JP2003539095A 2001-10-22 2002-10-21 アルミニウム/モリブデン積層膜のエッチング方法 Pending JPWO2003036707A1 (ja)

Applications Claiming Priority (3)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2001324146 2001-10-22
JP2001324146 2001-10-22
PCT/JP2002/010871 WO2003036707A1 (fr) 2001-10-22 2002-10-21 Procede de gravure pour film lamine en aluminium-molybdene

Publications (1)

Publication Number Publication Date
JPWO2003036707A1 true JPWO2003036707A1 (ja) 2005-02-17

Family

ID=19140921

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2003539095A Pending JPWO2003036707A1 (ja) 2001-10-22 2002-10-21 アルミニウム/モリブデン積層膜のエッチング方法

Country Status (5)

Country Link
JP (1) JPWO2003036707A1 (ja)
KR (1) KR100944300B1 (ja)
CN (1) CN100350570C (ja)
TW (1) TWI304615B (ja)
WO (1) WO2003036707A1 (ja)

Families Citing this family (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR20040029289A (ko) * 2003-11-14 2004-04-06 동우 화인켐 주식회사 알루미늄 또는 알루미늄 합금층을 함유한 다층막 및단일막 식각액 조성물
KR101131832B1 (ko) * 2004-10-15 2012-07-17 동우 화인켐 주식회사 알루미늄 또는 알루미늄 합금, 및/또는 몰리브덴 또는몰리브덴 합금으로 이루어진 단일막 및 다층막 식각액조성물
KR101171175B1 (ko) * 2004-11-03 2012-08-06 삼성전자주식회사 도전체용 식각액 및 이를 이용한 박막 트랜지스터표시판의 제조 방법
US7547627B2 (en) 2004-11-29 2009-06-16 Semiconductor Energy Laboratory Co., Ltd. Method for manufacturing semiconductor device
JP4741343B2 (ja) * 2004-11-29 2011-08-03 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
KR101216651B1 (ko) * 2005-05-30 2012-12-28 주식회사 동진쎄미켐 에칭 조성물
CN100376721C (zh) * 2005-09-21 2008-03-26 中国海洋大学 用于钼的化学蚀刻溶液
JP4855968B2 (ja) * 2007-02-16 2012-01-18 株式会社 日立ディスプレイズ パターン形成方法及びこのパターン形成方法を用いた液晶表示装置の製造方法
KR101393599B1 (ko) * 2007-09-18 2014-05-12 주식회사 동진쎄미켐 Tft-lcd용 금속 배선 형성을 위한 식각액 조성물
JP2009103732A (ja) 2007-10-19 2009-05-14 Sony Corp 表示装置およびその製造方法
JP5484853B2 (ja) * 2008-10-10 2014-05-07 株式会社半導体エネルギー研究所 半導体装置の作製方法
WO2011019222A2 (ko) * 2009-08-13 2011-02-17 동우 화인켐 주식회사 구리 배선의 형성을 위한 식각액 조성물
KR101728553B1 (ko) * 2010-12-21 2017-04-20 동우 화인켐 주식회사 오믹 컨택층용 식각액 조성물
CN102392248B (zh) * 2011-10-18 2013-08-21 绵阳艾萨斯电子材料有限公司 Oled用含钼和/或铝金属膜的蚀刻液及其制备方法
CN103409753B (zh) * 2013-07-23 2015-08-19 苏州羽帆新材料科技有限公司 金属蚀刻剂及其制备方法
KR102665340B1 (ko) 2018-09-18 2024-05-14 삼성전자주식회사 식각 조성물 및 이를 이용한 반도체 소자의 제조 방법
CN117867501B (zh) * 2024-03-12 2024-06-11 芯越微电子材料(嘉兴)有限公司 一种钼铝兼用蚀刻液以及基板图案化金属层的制备方法

Family Cites Families (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS5334484A (en) * 1976-09-10 1978-03-31 Toshiba Corp Forming method for multi layer wiring
JP2673460B2 (ja) * 1990-02-26 1997-11-05 キヤノン株式会社 液晶表示素子
JP3199404B2 (ja) * 1991-09-24 2001-08-20 松下電器産業株式会社 薄膜トランジスタの製造方法
JPH10335303A (ja) * 1997-05-28 1998-12-18 Matsushita Electric Ind Co Ltd 半導体装置の製造方法
JP2001166336A (ja) * 1999-12-09 2001-06-22 Hitachi Ltd 液晶表示装置の製造方法、及び液晶表示装置の配線形成方法
KR100315648B1 (ko) * 2000-01-21 2001-11-29 정지완 액정표시장치의 게이트 전극용 식각액
KR20010077228A (ko) * 2000-02-01 2001-08-17 한의섭 몰리브덴-알루미늄합금-몰리브덴 삼중층 금속막용 에칭 용액
JP3785900B2 (ja) * 2000-04-28 2006-06-14 株式会社日立製作所 液晶表示装置とその製造方法

Also Published As

Publication number Publication date
KR100944300B1 (ko) 2010-02-24
CN1575509A (zh) 2005-02-02
WO2003036707A1 (fr) 2003-05-01
CN100350570C (zh) 2007-11-21
KR20040045819A (ko) 2004-06-02
TWI304615B (ja) 2008-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20050190322A1 (en) Etching composition for laminated film including reflective electrode and method for forming laminated wiring structure
JPWO2003036707A1 (ja) アルミニウム/モリブデン積層膜のエッチング方法
TWI405336B (zh) 使用鋁合金之低接觸電性阻抗型電極及其之製造方法以及顯示裝置
TWI495761B (zh) 蝕刻劑成分以及使用其製造金屬圖樣及薄膜電晶體陣列面板之方法
KR101346976B1 (ko) 박막트랜지스터의 제조방법, 및 상기 방법에 이용되는식각액 조성물
JP2005277402A (ja) 反射電極膜を含む積層膜のエッチング組成物および積層配線構造の形成方法
JP2006339635A (ja) エッチング組成物
KR20040051502A (ko) 구리 몰리브덴막에서 몰리브덴 잔사를 제거할 수 있는식각용액 및 그 식각 방법
KR101348474B1 (ko) 은 박막의 식각액 조성물 및 이를 이용한 금속 패턴형성방법
KR102265890B1 (ko) 식각액 조성물 및 액정표시장치용 어레이 기판의 제조방법
CN110867458A (zh) 金属氧化物半导体薄膜晶体管阵列基板及制作方法
CN110644003B (zh) 银薄膜蚀刻液组合物及利用其的蚀刻方法和金属图案的形成方法
KR101926199B1 (ko) 은 박막의 식각액 조성물 및 이를 이용한 금속 패턴의 형성방법
JP4596109B2 (ja) エッチング液組成物
JP2008300618A (ja) エッチング液およびそれを用いたエッチング方法
KR20080045403A (ko) 식각액 조성물 및 이를 이용한 식각방법
JP4956461B2 (ja) 液晶表示装置及びその製造方法
KR101348046B1 (ko) 박막트랜지스터의 제조방법, 및 상기 방법에 이용되는식각액 조성물
CN105226016A (zh) 阵列基板及其制作方法
JP2792550B2 (ja) エッチング剤
KR102282955B1 (ko) 인듐산화막 식각액 조성물 및 이를 이용한 액정 표시 장치용 어레이 기판의 제조방법
JPH11233791A (ja) 薄膜トランジスタ及びアクティブマトリクス型表示装置
CN110295367B (zh) 银膜蚀刻液组合物、用它的蚀刻方法及金属图案形成方法
CN111172541B (zh) 银薄膜蚀刻液组合物、蚀刻方法及金属图案的形成方法
KR20230118059A (ko) 은 함유 박막 식각액 조성물 및 이를 이용한 표시장치용 어레이기판의 제조방법