JPWO2002035612A1 - 発光又は受光用半導体デバイス及びその製造方法 - Google Patents

発光又は受光用半導体デバイス及びその製造方法 Download PDF

Info

Publication number
JPWO2002035612A1
JPWO2002035612A1 JP2002538487A JP2002538487A JPWO2002035612A1 JP WO2002035612 A1 JPWO2002035612 A1 JP WO2002035612A1 JP 2002538487 A JP2002538487 A JP 2002538487A JP 2002538487 A JP2002538487 A JP 2002538487A JP WO2002035612 A1 JPWO2002035612 A1 JP WO2002035612A1
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor
light
diffusion layer
semiconductor element
type
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP2002538487A
Other languages
English (en)
Other versions
JP3938908B2 (ja
Inventor
中田 仗祐
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Individual
Original Assignee
Individual
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Individual filed Critical Individual
Publication of JPWO2002035612A1 publication Critical patent/JPWO2002035612A1/ja
Application granted granted Critical
Publication of JP3938908B2 publication Critical patent/JP3938908B2/ja
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/12Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof structurally associated with, e.g. formed in or on a common substrate with, one or more electric light sources, e.g. electroluminescent light sources, and electrically or optically coupled thereto
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L25/00Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof
    • H01L25/03Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes
    • H01L25/04Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers
    • H01L25/075Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00
    • H01L25/0753Assemblies consisting of a plurality of individual semiconductor or other solid state devices ; Multistep manufacturing processes thereof all the devices being of a type provided for in the same subgroup of groups H01L27/00 - H01L33/00, or in a single subclass of H10K, H10N, e.g. assemblies of rectifier diodes the devices not having separate containers the devices being of a type provided for in group H01L33/00 the devices being arranged next to each other
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/02Details
    • H01L31/0216Coatings
    • H01L31/02161Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/02167Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells
    • H01L31/02168Coatings for devices characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier for solar cells the coatings being antireflective or having enhancing optical properties for the solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0352Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
    • H01L31/035272Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/035281Shape of the body
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/0248Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies
    • H01L31/0352Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions
    • H01L31/035272Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by their semiconductor bodies characterised by their shape or by the shapes, relative sizes or disposition of the semiconductor regions characterised by at least one potential jump barrier or surface barrier
    • H01L31/03529Shape of the potential jump barrier or surface barrier
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/042PV modules or arrays of single PV cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L31/00Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L31/04Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices
    • H01L31/06Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers
    • H01L31/068Semiconductor devices sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof adapted as photovoltaic [PV] conversion devices characterised by potential barriers the potential barriers being only of the PN homojunction type, e.g. bulk silicon PN homojunction solar cells or thin film polycrystalline silicon PN homojunction solar cells
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L33/00Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof
    • H01L33/02Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies
    • H01L33/20Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate
    • H01L33/24Semiconductor devices having potential barriers specially adapted for light emission; Processes or apparatus specially adapted for the manufacture or treatment thereof or of parts thereof; Details thereof characterised by the semiconductor bodies with a particular shape, e.g. curved or truncated substrate of the light emitting region, e.g. non-planar junction
    • HELECTRICITY
    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L2924/00Indexing scheme for arrangements or methods for connecting or disconnecting semiconductor or solid-state bodies as covered by H01L24/00
    • H01L2924/0001Technical content checked by a classifier
    • H01L2924/0002Not covered by any one of groups H01L24/00, H01L24/00 and H01L2224/00
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy
    • Y02E10/547Monocrystalline silicon PV cells

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • Power Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Sustainable Development (AREA)
  • Manufacturing & Machinery (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
  • Sustainable Energy (AREA)
  • Photovoltaic Devices (AREA)
  • Led Devices (AREA)
  • Light Receiving Elements (AREA)

Abstract

この受光機能のある半導体デバイス(10)は、例えばp形のシリコン単結晶からなる半導体素子(1)、第1,第2の平坦面(2,7)、n形の拡散層(3)とそのpn接合(4)、再結晶層(8)、反射防止膜(6a)、負電極(9a)及び正電極(9b)などを有する。半導体素子(1)の代わりに円柱状の半導体素子を適用してもよい。

Description

技術分野
本発明は、1対の平坦面を形成した球状又は円柱状の半導体にpn接合と1対の電極を形成した発光又は受光用半導体デバイスとその製造方法に関する。この発光又は受光用半導体デバイスは、太陽電池、発光デバイス、半導体光触媒など種々の用途に適用可能なものである。
背景技術
従来、p形又はn形の半導体からなる小径の球状の半導体素子の表面部に拡散層を介してpn接合を形成し、それら多数の球状の半導体素子を共通の電極に並列接続して、太陽電池や半導体光触媒に活用する技術が研究されている。
米国特許第3,998,659号公報には、n形の球状半導体の表面にp形拡散層を形成し、多数の球状半導体の拡散層を共通の膜状の電極(正極)に接続するとともに多数の球状半導体のn形コア部を共通の膜状の電極(負極)に接続して太陽電池を構成する例が開示されている。
米国特許第4,021,323号公報には、p形の球状半導体素子やn形の球状半導体素子をマトリックス状に配置して、それら半導体を共通の膜状の電極に接続するとともに、それら半導体素子の拡散層を共通の電解液に接触させて、太陽光を照射して電解液の電気分解を起こさせる太陽エネルギーコンバータが開示されている。また、米国特許第4,100,051号公報や第4,136,436号公報にも、前記とほぼ同様の太陽エネルギーコンバータが開示されている。
一方、本発明の発明者は、WO98/15983やWO99/10935号国際公開公報に示すように、p形半導体やn形半導体からなる球状の半導体に拡散層、pn接合、1対の電極を形成した粒状の発光又は受光用の半導体素子を提案し、その多数の半導体素子を直列接続したり、直列接続体を並列接続して、太陽電池、水の電気分解等に供する光触媒装置、種々の発光デバイス、カラーディスプレイなどに適用可能な半導体デバイスを提案した。
この半導体デバイスに用いる半導体素子は、直径が1〜2mm程度の小粒のものであり、1対の電極は、球状半導体の中心を挟んで位置する1対の頂部に形成されている。しかし、これら国際公開公報に開示した半導体素子の製作段階において、次のような種々の問題が残っている。
球状の半導体素子に1対の電極(正極と負極)を形成する際に、電極形成位置を特定するのが難しく、また、球状の半導体は転がり易く取扱いが面倒であり、複数の半導体素子を整列させることが容易ではない。
また、1対の電極を形成したとしても、何れの電極が正極で、何れの電極が負極であるか判別できないので、複数の半導体素子を整列して直列接続する際に正極、負極の判別が難しく、熟練を要し、作業能率が低下する、正極、負極の判別を間違うと欠陥品が発生してしまう。
本発明の目的は、1対の平行な平坦面を有する転がりにくい球状の発光又は受光用半導体デバイスを提供することである。本発明の別の目的は、1対の平行な平坦面に1対の電極を形成した球状または円柱状の発光又は受光用半導体デバイスを提供することである。本発明の他の目的は、識別可能な1対の電極を設けた球状または円柱状の発光又は受光用半導体デバイスを提供することである。本発明の他の目的は、前記のような発光又は受光用半導体デバイスの製造方法を提供することである。
発明の開示
本発明の発光又は受光用半導体デバイスは、p形又はn形の半導体からなるほぼ球状の半導体素子であって、その中心の両側の1対の頂部に平行な第1,第2の平坦面を形成した半導体素子と、第1の平坦面を含む半導体素子の表層部に形成された拡散層およびこの拡散層を介して形成されたほぼ球面状のpn接合と、前記第1,第2の平坦面に夫々設けられ且つ前記pn接合の両端に接続された第1,第2の電極とを備えたことを特徴とするものである(第1項)。
ここで、好ましくは、前記第1,第2の平坦面の平均直径が両平坦面間の距離よりも小さく形成される(第2項)。好ましくは、前記第1,第2の平坦面は異なる直径に形成される(第3項)。好ましくは、前記半導体素子は真球状の半導体素子から製作される(第4項)。
本発明の別の発光又は受光用半導体デバイスは、p形又はn形の半導体からなる円柱状の半導体素子であって、その1対の端部に軸心と直交する平行な第1,第2の平坦面を形成した半導体素子と、前記第1の平坦面を含む半導体素子の表層部に形成した拡散層およびこの拡散層を介して形成さたたpn接合と、前記第1,第2の平坦面に夫々設けられ且つ前記pn接合の両端に接続された第1,第2の電極とを備えたことを特徴とするものである(第5項)。
ここで、好ましくは、前記第1,第2の平坦面の直径が両平坦面間の距離よりも小さく形成される(第6項)。
第2項又は第6項の半導体デバイスにおいて、好ましくは、次のような構成が採用される。前記半導体素子が単結晶半導体で構成される(第7項)。前記半導体素子がシリコン半導体で構成される(第8項)。前記半導体素子がシリコンとゲルマニウムの混晶の半導体で構成される(第9項)。前記半導体素子が、砒化ガリウム(GaAs)、隣化インジウム(InP)、隣化ガリウム(GaP)、窒化ガリウム(GaN)、セレン化インジウム・銅(InCuSe)のうちの何れかの化合物半導体で構成される(第10項)。前記半導体素子がp形半導体で構成され、前記拡散層がn形拡散層で構成され、前記第2の平坦面にp形拡散層が形成され、このp形拡散層の表面に第2の電極が設けられる(第11項)。前記半導体素子がn形半導体で構成され、前記拡散層がp形拡散層で構成され、前記第2の平坦面にn形拡散層が形成され、このn形拡散層の表面に第2の電極が設けられる(第12項)。
本発明に係る発光又は受光用半導体デバイスの製造方法は、p形又はn形の球状の半導体素子を製作する第1工程と、前記半導体素子の頂部に第1の平坦面を形成する第2工程と、前記第1の平坦面を含む半導体素子の表層部に、半導体素子と異なる導電形の拡散層を形成すると共にこの拡散層を介してほぼ球面状のpn接合を形成する第3工程と、前記半導体素子のうちの第1の平坦面と反対側の頂部に第1の平坦面と平行な第2平坦面であって拡散層を除去した第2の平坦面を形成する第4工程と、前記第1,第2の平坦面に前記pn接合の両端に夫々接続された第1,第2の電極を形成する第5工程とを備えたことを特徴とするものである(第13項)。
本発明に係る別の発光又は受光用半導体デバイスの製造方法は、p形半導体からなる球状の半導体素子を製作する第1工程と、前記半導体素子の中心の両側の1対の頂部に平行な第1,第2の平坦面を形成する第2工程と、前記第1,第2の平坦面を含む半導体素子の表層部に、n形の拡散層を形成すると共にこの拡散層を介してほぼ球面状のpn接合を形成する第3工程と、前記第1,第2の平坦面に前記pn接合の両端に夫々接続された第1,第2の電極を形成する第4工程とを備えたことを特徴とするものである(第14項)。
ここで、好ましくは、前記第4工程において、第2の平坦面にAl、AuGa、AuBの何れかの小片を接触させて加熱溶融し、拡散層を貫通するp形の再結晶層とそれに連なる第2の電極を形成する(第15項)。
本発明に係る別の発光又は受光用半導体デバイスの製造方法は、p形又はn形の半導体からなる円柱状の半導体素子を製作すると共に、この半導体素子の1対の端部に軸心と直交する平行な第1,第2の平坦面を形成する第1工程と、前記半導体素子の表層部に半導体素子と異なる導電形の拡散層を形成すると共にこの拡散層を介してpn接合を形成する第2工程と、前記第1,第2の平坦面に前記pn接合の両端に接続された第1,第2の電極を形成する第3工程とを備えたことを特徴とするものである(第16項)。ここで、好ましくは、前記第3工程において、第2の平坦面にAl、AuGa、AuBの何れかの小片を接触させて加熱溶融し、拡散層を貫通するp形又はn形の再結晶層とそれに連なる第2の電極を形成する(第17項)。
発明の最良の実施の形態
以下、本発明の実施の形態について図面に基づいて説明する。
最初に、本発明の半導体デバイスの構造について説明する。
図1〜図6は、太陽電池に好適な受光用半導体デバイス10の製造方法を示すものであり、図6はその受光用半導体デバイス10の断面図である。
図6に示すように、受光用半導体デバイス10は、例えばp形半導体からなる半導体素子1と、n形の拡散層3と、pn接合4と、1対の電極9a,9b(負電極9a、正電極9b)と、p形の半導体からなる拡散層8と、反射防止膜6aとを備えている。半導体素子1は、p形のシリコン単結晶からなる例えば直径1.5mmの真球状の半導体素子1a(図1参照)から製作したものである。半導体素子1の中心の両側の1対の頂部には、平行な第1,第2の平坦面2,7が形成されている。第1の平坦面2は例えば直径0.6mm、第2の平坦面7は例えば直径0.8mmである。第1,第2の平坦面2,7の平均直径が両平坦面2,7間の距離よりも小さい。
拡散層3は、第1の平坦面2を含む半導体素子1の表層部に形成され、第2の平坦面7にはn形の拡散層3が形成されておらず、p形拡散層8が形成されている。この拡散層3はリンを拡散させた厚さ0.4〜0.5μmのn形拡散層である。この拡散層3を介してほぼ球面状のpn接合4(正しくは、pn接合)が形成されている。
第1の平坦面2において拡散層3の表面には、銀ペーストを焼成した薄膜状の第1電極9aが設けられ、第2の平坦面7においてp形の拡散層8の表面には、銀ペーストを焼成した薄膜状の第2電極9bが設けられている。シリコン酸化膜6からなる反射防止膜6aは、第1,第2の平坦面2,7を除いて拡散層3の表面に形成されている。尚、以下に説明する半導体デバイス10の製造方法の記載からも、半導体デバイス10の構造が一層明瞭となろう。
この半導体デバイス10においては、ほぼ球面状のpn接合4に光電変換機能があり、太陽光を受けて光電変換し約0.6ボルトの起電力を発生する。第1,第2の平坦面2,7を形成したので、半導体デバイス10が転がりにくくなり、挟持しやすく取扱い易くなった。しかも、第1,第2の平坦面2,7の大きさが異なるため、負電極9aと正電極9bをセンサや目視にて容易に判別できるようになり、多数の半導体デバイス10を半導体モジュールに組み立てる際の作業能率を高めることができる。
次に、前記の半導体デバイス10を製造する方法について、図1〜図6を参照して説明する。最初に、図1に示すように、例えば直径1.5mmで、抵抗率が1Ωm程度のp形シリコン単結晶からなる真球状の球状半導体素子1aを製作する。このような球状半導体素子1aは、本発明者が既に特開平10−33969号公報や国際公開公報WO98/15983号公報において提案した方法で製造することができる。その方法においては、落下チューブを採用し、原料としてのシリコン粒を落下チューブの上端側の内部で溶融して自由落下させながら表面張力の作用で真球状を保持しつつ凝固させて真球状のシリコン単結晶を製作する。但し、機械的な研磨などにより球状半導体を作ることもできる。
次に、図2に示すように、球状の半導体素子1aの表面の一部を機械的化学的研磨法により加工して直径0.6mm程度の第1の平坦面2を形成する。次に、図3に示すように、公知の方法によりリンを全面に拡散してn形の拡散層3を形成し、球状半導体1の表面から深さ0.4〜0.5μm程度に位置するほぼ球面状のpn接合4を形成する。リンを拡散する工程で生じた表面のシリコン酸化膜5を一旦エッチングで除去し、再度酸素雰囲気中で加熱してシリコン酸化膜6(反射防止膜6a)を形成する。
次に、図4に示すように、第1の平坦面2と反対側を機械的化学的研磨方法により加工して直径0.8mm程度でp形シリコン単結晶が露出した第2の平坦面7を形成する。この第1,第2平坦面2,7は球の中心の両側の1対の頂部に平行に形成される。この第2の平坦面7の直径を第1の平坦面2の直径と異なるように形成し、後述のリードフレームの接続工程において負電極9aと正電極9bの判別を容易に行えるようにする。
次に、図5に示すように、第1,第2の平坦面2,7を有する半導体素子1において、シリコン酸化膜6でマスクした状態で、第2の平坦面7に露出したp形シリコン単結晶の表面に公知の方法によりボロンを拡散させて、厚さ0.2〜0.3μmのp形の拡散層8を設ける。ボロンは、第2の平坦面7のp形層に拡散して、第2の平坦面7の縁辺でn形の拡散層3と接するp接合8aがシリコン酸化膜6の内側に形成され、p接合8aの表面がシリコン酸化膜6で保護された状態となる。
次に、図6に示すように、第1の平坦面2における拡散層3の表面及び第2の平坦面7の拡散層8の表面に夫々銀ペーストを設け、それら銀ペーストを酸化性雰囲気中で600〜800℃の温度範囲で加熱焼成し、pn接合4の両端に接続された負電極9a,正電極9bであって、拡散層3、p形拡散層8と夫々低抵抗接続した負電極9a、正電極9bを形成する。こうして、太陽電池として好適の粒状の受光用半導体デバイス10が完成する。
尚、上記の製造方法は1例に過ぎず、n形拡散層3、エッチング、電極形成、反射防止膜形成の工程などは、公知の方法の中から選択できる技術であり、使用する材料も上記のものに限定されず、従来から利用されている他の材料で製造してもよい。また、反射防止膜としては、上記のシリコン酸化膜の他酸化チタン膜など公知の反射防止膜を用いてもよい。
次に、上記のように製作した太陽電池としての半導体デバイス10を用いて大量生産に適した安価な樹脂モールド形受光用半導体モジュール20の構造と製造方法について説明する。最初に、その構造について、図13〜図16を参照して説明する。
この受光用半導体モジュール20は、例えば25個の半導体デバイス10と、これら25個の半導体デバイス10を電気的に接続する導電接続機構であって6本のリードフレーム29からなる導電接続機構と、光透過部材31と、正極端子33及び負極端子34を備えている。
前記25個の粒状の半導体デバイス10は、導電方向を揃えた状態で複数行複数列(本実施形態では、5行5列)に配置され、導電接続機構により各列の複数の半導体デバイス10が電気的に直列接続されると共に、各行の複数の半導体デバイス10が電気的に並列接続されている。前記導電接続機構は、6本の金属製のリードフレーム29で構成され、各行の半導体デバイス10と隣接する行の半導体デバイス10の間にリードフレーム29が装着されて両側の電極9a,9bに電気的に接続され、下端側の負極端子34と一体のリードフレーム29は第1行目の半導体デバイス10の電極9aを電気的に並列接続し、上端側の正極端子33と一体のリードフレーム29は第5行目の半導体デバイス10の電極9bを電気的に並列接続している。これら25個の半導体デバイス10と導電接続機構は、例えばアクリル樹脂やポリカーボネートなどの透明な合成樹脂からなる光透過部材31内に埋め込んだ状態にして覆われ、光透過部材31には、各列の半導体デバイス10に両側から外来光を導入させる部分円筒レンズ部31aが形成されている。この部分円筒レンズ部31aは、各列の半導体デバイス10へ外来光を効率的に導入する為のものであり、平坦面に形成する場合に比べて、広い指向性があり採光性、集光性、導光性に優れる。
以上説明した太陽電池パネルとしての受光用半導体モジュール20に等価な電気回路は、図16に示すようになる。25個の半導体デバイス10は5行5列のマトリックス状に配置され、各列の半導体デバイス10は6つのリードフレーム29を介して電気的に直列接続され、各行の半導体デバイス10はリードフレーム29を介して電気的に並列接続されている。
この半導体モジュール20では、何れかの半導体デバイス10が故障して機能停止した場合でも、その故障した半導体デバイス10による光起電力が発生しないだけで、その他の故障してない半導体デバイス10は、正常に作動して光起電力を発生させ、その光起電力が正極端子33と負極端子34に確実に出力されるから、信頼性と耐久性に優れる受光用半導体モジュール20となる。
次に、以上説明した受光用半導体モジュール20(太陽電池モジュール)を製造する方法について、図7〜図12を参照して説明する。
最初に、前記半導体デバイス10を製作する。そして、図7に示すように、鉄ニッケル合金(Fe56%、Ni42%)の薄板(厚さ0.3mm程度)の表面に厚さ3μm程度の銀メッキしたものを金型でパンチングして、4つの開口部27a,27bを有するリードフレーム板21〜26を製作する。これらリードフレーム板21〜26には、幅が広い(4mm程度)外枠部28と互いに平行な幅が狭い(1.5mm)3本のリードフレーム29を形成する。尚、上下両側の2枚のリードフレーム板21,26では、両端部を予め直角に折り曲げてあり、中間の4枚のリードフレーム板22〜25は平板状に形成されている。
次に、図7〜図9に示すように、リードフレーム板21〜25のリードフレーム29の上に、夫々、導電性接着剤30a(例えば、銀エポキシ樹脂)を用いて半導体デバイス10を5個ずつ一定のピッチで負電極9aを下にして接着する。
次に、リードフレーム29の上の半導体デバイス10の正電極9bの上に導電性接着剤30bを塗る。次に、図8に示すように、最下段の15個(5個×3)の半導体デバイス10の正極9bの上にリードフレーム板22のリードフレーム29を重ねる。同様に、順々にリードフレーム板23〜26を重ね、各組の25個の半導体デバイス10が共通の鉛直面内で5行5列の規則正しいマトリックス配置となるように整列させる。次に、各半導体デバイス10の正電極9bと負電極9aが上下のリードフレーム29に電気的に接続するように、最も上側のリードフレーム板26上に所定の重さのウェイト(図示略)を載せて160〜180℃程度の温度で加熱し接着剤を硬化させる。
こうして、6枚のリードフレーム板21〜26を介して各組(各モジュール)の25個の半導体デバイス10が電気的に接続され、3組の合計75個の半導体デバイス10が6枚のリードフレーム板21〜26のリードフレーム29の間に規則正しく収められ、各組の25個の半導体デバイス10において、各列の半導体デバイス10がリードフレーム29により電気的に直列接続されるとともに各行の半導体デバイス10がリードフレーム29により電気的に並列接続された状態となる。図9は、半導体デバイス10とその上下両側のリードフレーム29の拡大断面図である。
図10〜図12に示すように、75個の半導体デバイス10と6枚のリードフレーム板21〜26との組立て体30を成形金型(図示略)に収容し、透明合成樹脂(例えば、アクリル樹脂やポリカーボネイトなど)を用いて成形し、前記の透明合成樹脂からなる光透過部材31内に5行5列の半導体デバイス10とそれに対応するリードフレーム29を埋め込んで光透過部材31で覆った状態にする。こうして、太陽電池パネルとしての3組の受光用半導体モジュール20が同時に成形される。光透過部材31には、各列の半導体デバイス10に両側から外来光を集中させる部分円筒レンズ部31aが形成されている。
最後に、3組の受光用半導体モジュール20を切り離す。この場合、先ず、中間のリードフレーム板22〜25においては、リードフレーム29が光透過部材31から外へ伸びた両端の切断部32で成形金型により切断する。上下両側のリードフレーム板21,26においては、そのリードフレーム29がそのままの幅で光透過部材31外へ延びるように切断部を切断し外枠部28から分離する。
次に、前記実施形態を部分的に変更した種々の変更形態について説明する。
1〕変更形態1・・・(図17参照)
図17に示す半導体デバイス10Aは、第2の平坦面7にアルミニウムボールをボンディングした正電極9cが形成されている。尚、前記のp形の拡散層8は省略されている。この半導体デバイス10を製造する場合、半導体デバイス10の製造方法における図1〜図4と同様の工程を実行してから、負電極9aをハンダ11にてリードフレーム29に接合した状態で、第2の平坦面7の中心部に、直径0.3〜0.4mmのアルミニウムボールを超音波と熱を加えながらボンディングし、バンプ状の正電極9cを形成する。
ここで、前記アルミニウムボールの代わりに金のボールを用いてもよい。このような、ボールボンディングによる電極は、狭いスペースに正確に電極を形成するのに適しており、拡散や合金化する場合よりも低い温度で低抵抗接触を形成できる。
この正電極9cの高さを大きくすることができるため、リードフレーム29との間の間隔、或いは半導体デバイス同士を直列接続する場合における半導体デバイスの電極との間の間隔を大きくとることができるため、正電極9cにのみ導電性接着剤を塗るのに適している。尚、前記の半導体デバイス10にも、この正電極9cを適用してもよい。尚、以上説明した半導体デバイス10Aも、前記半導体デバイス10の代わりに、半導体モジュール20に適用可能である。
2〕変更形態2・・・(図18〜図21参照)
最初に、半導体デバイス10Bを製造する方法について、図18〜図21に基づいて説明する。最初に、図18に示すように、前記実施形態と同様に、p形シリコン単結晶(抵抗率が1Ωm)からなる真球状の半導体素子1a(直径1.5mm)の中心の両側の1対の頂部に平行な第1,第2の平坦面2,7bを形成した半導体素子1Bを作る。第1,第2の平坦面2,7bの直径は夫々0.6mm,0.8mm程度であり、第1,第2の平坦面2,7bの平均直径は第1,第2の平坦面2,7b間の距離よも小さい。次に、図19に示すように、半導体素子1Bの全表層部にn形ドーピング不純物としてリンを拡散させて、厚さ0.4〜0.5μm程度のn形の拡散層3を形成し、この拡散層3を介してほぼ球面状のpn接合4bを形成する。
次に、図20に示すように、リンを拡散させる際に生じたシリコン酸化膜をエッチング処理して除去する。次に、図21に示すように、第1の平坦面2の中心部に銀ペーストを直径0.4mm、厚み0.2mm程度にドット状に印刷し、この銀ペーストを酸化性ガスあるいは不活性ガス雰囲気中で、600〜800℃の温度で加熱焼成し、拡散層3と低抵抗接続された負電極9aを形成する。次に、第2の平坦面7bの表面に直径0.4mm、厚み0.3mm程度でドット状のアルミニウムを載せ、不活性ガス雰囲気又は真空中で750〜850℃の温度まで急速加熱しその後直ちに冷却する。その結果、アルミニウムとシリコンの共晶反応によって溶けたシリコンがシリコン単結晶を種にして図示のようにアルミニウムがドープされたp形の再結晶層8bが成長する。これは、合金型pn接合という技術である。
前記の再結晶層8bが拡散層3を貫通するため、表面に残ったアルミニウムは、p形の再結晶層8bを介してp形シリコン単結晶の部分と低抵抗接触した負電極9dを形成する。尚、pn接合4bは、p接合4dに接続されている。その後、半導体素子1Bの表面に反射防止膜(図示略)を形成する。
この半導体素子1Bでは、前記の半導体デバイス10のようにボロンの拡散を行う必要がなく、p形の再結晶層8bの形成と正電極9dの形成とを同時に行うことができる。正電極9dの高さが大きくなるため、再結晶層8bの表面を汚すことなく、導電性の接着剤の塗布を行うことができる。
ここで、前記のアルミニウムの代わりに、原子比で金99%、ボロン1%程度の金(AuB)、又は、原子比で金99%、ガリウム1%程度の金(AuGa)を用いて再結晶層8bの形成と正電極9dの形成とを同時に行うことができる。尚、この半導体デバイス10Bも、前記半導体デバイス10の代わりに、半導体モジュール20に適用可能である。
3〕変更形態3・・・(図22〜図30参照)
図27に示すように、太陽電池として好適の受光用半導体デバイス10Cは、円柱状の半導体素子41と、その第1,第2の平坦面42,43と、n形の拡散層44と、pn接合45と、p形の拡散層47と、反射防止膜としてのシリコン酸化膜46と、負電極49a及び正電極49bなどを有するものである。この半導体デバイス10Cは、短い円柱状に形成されており、前記半導体デバイス10と形状は異なるものの、同様の構造のものであるので、簡単に説明する。
半導体素子41は、p形のシリコン単結晶からなる円柱状の半導体素子であって、1対の端部に軸心と直交する平行な第1,第2の平坦面42,43を形成したものである。拡散層44は、半導体素子41の第1の平坦面42と外周面の表層部に形成され、この拡散層44を介して半導体素子41の表層部にはpn接合45が形成されている。第2の平坦面42の拡散層44は機械的化学的研磨法により除去され、第2の平坦面43にはp形の拡散層47が形成されている。
第1の平坦面42において拡散層44の表面に負電極49aが設けられ、第2の平坦面43において拡散層47の表面に正電極49bが形成されている。尚、拡散層44、pn接合45、拡散層47、正電極49a及び負電極49bなどは前記半導体デバイス10のものと同様のものである。
次に、前記の円柱状の半導体デバイス10Cの製造方法について図22〜図27を参照して説明する。先ず、図22、図23に示すように、抵抗率が1Ωm程度のp形シリコン単結晶からなる直径1.5mmの細長い円柱状の半導体素材40を製作し、その円柱半導体素材40を軸心方向の長さが1.6mmとなるように切断して、両端に軸心と直交する互いに平行な第1,第2平坦面42,43を有する短い円柱状(つまり、粒状)の半導体素子41を製作する。
尚、p形シリコン単結晶からなる前記の円柱状半導体素材40は、例えばグラファイト製のルツボの底に開けたノズル状の穴から<111>方位の種結晶とルツボ内シリコン融液を接触させて下方に引き出すことにより単結晶を成長させることで製造することができる。細長い円柱状に形成できるため加工に伴うロスが少なく経済的である。尚、円柱状半導体素材40の直径は1.5mmに限定されるものではなく、1〜3mm程度の直径でもよい。
次に、図24に示すように、円柱状の半導体素子41の全面からリンを拡散して深さ0.4〜0.5μmのn形拡散層44を設け、この拡散層44を介して半導体素子41の第1の平坦面42と外周面の表層部にpn接合45を形成する。
次に、図24、図25に示すように、リン拡散の際に表面に形成されたシリコン酸化膜を一旦フッ酸水溶液を用いて除去し、半導体素子41を酸素雰囲気中で加熱してシリコン酸化膜46(反射防止膜)を全表面に形成する。その後、第2の平坦面43を機械的化学的研磨法により研磨してn形拡散層44を除去してシリコン単結晶を露出させた第2平坦面43を形成する。
次に、図26に示すように、第2の平坦面43のシリコン酸化膜を除去してから第2の平坦面43にボロンを拡散し、深さ0.1〜0.2μmのp形の拡散層47を設ける。これにより、p接合48が形成され、その終端はシリコン酸化膜46の内側にでき、外部と遮断される。
次に、図27に示すように、第1,第2の平坦面42,43の中心部に直径0.5mm、厚さ0.2mm程度の銀ペーストをドット状に印刷し、前記半導体デバイス10と同様に焼成し、拡散層44、拡散層47と夫々低抵抗接触した負電極49a、正電極49bを設ける。これで、ソーラーセルに好適の円柱状の半導体デバイス10Cとなる。尚、この半導体デバイス10Cにおいても、前記図18〜図21に示したのと同様の方法で、負極と正極を形成してもよい。
この半導体デバイス10Cは、球状ソーラセルよりもセルの製造が容易であり、全方向ではないが半導体素子の半径方向に対しては均一な指向性を持ち、平面状のセルよりも採光能力が高く優れた光電変換性能が得られる。
前記半導体モジュール20における半導体デバイス10の代わりに、この半導体デバイス10Cを適用して図28〜図30に示すように、前記半導体モジュール20とほぼ同様の半導体モジュール20Aを構成することができる。この半導体モジュール20Aにおけるリードフレーム29A、負極端子34A、正極端子35A、光透過部材31Aなどは、前記半導体モジュール20のものと同様であるので、同様の符号を付して説明を省略する。
4〕変更形態4・・・(図31〜図34参照)
次に、前記半導体デバイス10を適用した受光機能のある半導体モジュール20Bの構造と製造方法について説明する。図33、図34に示すように、この半導体モジュール20Bは、受光機能のある例えば72個(12個×6)の粒状の半導体デバイス10と、金属製の8つの環状リードフレーム51〜57を含む導電機構50と、光透過部材58とを有する。72個の半導体デバイス10は、導電方向を揃えた状態で12列に区分されて周方向に等間隔おきにリング状に配置されて12列をなしている。
導電接続機構50は、最下段の負極端子51a付きの環状リードフレーム51と、中段の環状リードフレーム52〜56と、最上段の正極端子57a付きの環状リードフレーム57とを有する。環状リードフレーム52〜56は、前記実施形態のリードフレーム板(21〜26)と同様の材質の同様の板厚のもので、幅1.5mmの環状に形成されている。環状リードフレーム51,57は、前記リードフレーム板(21〜26)と同様の材質で約1.0mmの板厚のものである。
環状リードフレーム51,57には4つの負極端子51a、4つの正極端子57aが夫々一体形成されている。この導電接続機構50は、各列の6個の半導体デバイス10を電気的に直列接続すると共に各リングの12個の半導体デバイス10を電気的に並列接続している。
円筒状の光透過部材58は、アクリルやポリカーボネートなどの透明合成樹脂で厚肉の円筒状に形成されている。リング状に配設された12列の半導体デバイス10は、光透過部材58の周壁58a内に埋め込まれている。光透過部材58の周壁58aの内周面にはその周壁58aを透過した光を半導体デバイス10の方へ乱反射させる乱反射面58bが形成されている。この乱反射面58bは小形の多数のピラミッド面である。
この半導体モジュール20Bを製造する方法について説明する。
図31、図32に示すように、最初に、環状リードフレーム51〜57と、72個の半導体デバイス10を製作して準備する。次に、前記半導体モジュール20を製作したのとほぼ同様に、環状リードフレーム51の上面に12個の半導体デバイス10を負電極9aが下となるように配置して導電性接着剤で接着する。次に、その12個の半導体デバイス10の正電極9bに導電性接着剤を塗ってから、その上に環状リードフレーム52を載せて接着し、これを順々に繰り返して、図32のように組み立て、その後環状リードフレーム57の上に所定のウェイトを載せた状態で、加熱して接着剤を硬化させる。
つまり、複数の環状リードフレーム51〜57の間に72個の半導体デバイス10を導電方向を揃えた状態で組み込んで12列に区分し、周方向に等間隔おきにリング状に配置した12列に整列させ、各列の6個の半導体デバイス10を環状リードフレーム51〜57を介して直列接続すると共に各リングの12個の半導体デバイス10を環状リードフレーム51〜57を介して並列接続する。その結果、図31、図32に示す組み立て体60となる。
次に、その組み立て体60を所定の成形用金型内に収容し、透明合成樹脂を注入することにより、図33、図34に示す透明合成樹脂製の厚肉の円筒体のような光透過部材58を成形し、12列の半導体デバイス10を透明合成樹脂製の円筒状の光透過部材58の周壁58a内に埋め込む。
この半導体モジュール20Bによれば、全体として円筒状に形成されているため、外来光が全周360度のどの方向からくる場合でも、確実に受光して光電変換し、負極端子51aと正極端子57a間に約3.6ボルト程度の起電力を発生する。光透過部材58の内周面に乱反射面58bを形成したので、光電変換の効率も高くなる。そして、光透過部材58の外径と内径の差により入射角が大きい光は周壁58a内を周回するように導光されて離れた位置の半導体デバイス10に達する。
次に、前記実施形態に適用可能な種々の変更例について説明する。
(1)前記半導体素子1,41を構成する半導体としては、シリコンの代わりに、他の半導体、例えば、SiとGeの混晶半導体、あるいは多層構造の半導体を適用したり、GaAs、InP、GaP、GaN、InCuSeなどの何れかの半導体を適用してもよいし、また、その他の半導体を適用してもよい。
(2)半導体素子1,41の導電形はp形に限定される訳ではなく、n形でもよく、この場合p形拡散層を形成するものとする。
(3)化学的気相成長法(CVD)など他の半導体薄膜生成法を用いて前記拡散層3,44とpn接合4,45を形成することも可能である。
(4)反射防止膜6a、46は、シリコン酸化膜以外の酸化チタンなど他の絶縁膜で構成してもよい。また、電極9a,9b、49a,49bを形成する際に、銀ペースト以外の金属ペースト、アルミニウム、金などの電極材料を適用することも可能である。半導体デバイス10をリードフレーム29に接着する為に、導電性樹脂の代わりにハンダを適用してもよい。
(5)半導体モジュール20,20Aにおける光透過部材の代わりに、半導体モジュールの両面に強化ガラスを装着し、その強化ガラスの間に透明なエチレンビニルアセテート(EVA)樹脂等を充填し、端部を枠材で封止した構造を採用してもよい。
(6)半導体モジュール20,20A,20Bに半導体デバイス10の代わりに、半導体デバイス10A,10B,10Cの何れかを適用可能である。
半導体モジュール20,20A,20Bに装着する半導体デバイスの数や配置形態は、前記実施形態のものに限定される訳ではなく、自由に設定することができる。
(7)前記の半導体モジュールは、受光機能のある半導体モジュールを例にして説明したが、本発明の半導体モジュールは発光機能のある半導体モジュールにも同様に適用可能である。但し、この場合、半導体デバイスとして発光機能のある半導体デバイス(球状の半導体デバイス、円柱状の半導体デバイス、あるいは粒状の半導体デバイス)を適用する必要がある。
このような発光機能のある半導体デバイスとしては、例えば、WO98/15983号公報やWO99/10935号公報に、本発明の発明者が提案した種々の球状の発光ダイオードを適用することができるし、その他の種々の構造の発光ダイオードを適用してもよい。
このような発光機能のある半導体モジュールは、面発光形の照明装置、モノクロやカラーのディスプレイ或いは種々の表示装置、などに適用可能である。
(8)その他、当業者であれば、本発明の趣旨を逸脱することなく、前記の実施形にその他の種々の変更を付加した形態で実施可能であり、本発明は、前記実施形態に開示した種々の形態だけに限定されるものではない。
【図面の簡単な説明】
図1〜図16は最初の実施形態を示す図であり、図1は球状半導体素子の断面図であり、図2は第1の平坦面を形成した半導体素子の断面図であり、図3は拡散層とpn接合を形成した半導体素子の断面図であり、図4は第2の平坦面を形成した半導体素子の断面図であり、図5は拡散層を形成した半導体素子の断面図であり、図6は半導体デバイスの断面図である。
図7はリードフレーム板の平面図であり、図8は半導体デバイスとリードフレーム板を組み合わせた組立て体の縦断側面図であり、図9は半導体デバイスとリードフレームの拡大断面図であり、図10は3組の半導体モジュールとリードフレーム板の平面図であり、図11は半導体モジュールとリードフレーム板の縦断面であり、図12は半導体モジュールとリードフレーム板の縦断面であり、図13は半導体モジュールの平面図であり、図14は半導体モジュールの縦断面図であり、図15は半導体モジュールの側面図であり、図16は半導体モジュールの等価回路の図である。
図17は変更形態1における半導体デバイスの断面図である。図18〜図21は変更形態2を示す図であり、図18は第1,第2の平坦面を形成した半導体素子の断面図であり、図19は拡散層を形成した半導体素子の断面図であり、図20は負電極を設けた半導体素子の断面図であり、図21は半導体デバイスの断面図である。
図22〜図30は変更形態3を示す図であり、図22は円柱状半導体素材と半導体素子を示す図であり、図23は図22のXXIII−XXIII線断面図であり、図24は拡散層を形成した半導体素子の断面図であり、図25は第の平坦面を除去した半導体素子の断面図であり、図26は拡散層を形成した半導体素子の断面図であり、図27は半導体デバイスの断面図であり、図28は半導体モジュールの平面図であり、図29は図28のXXVIIII−XXVIIII線断面図であり、図30は半導体デバイスとリードフレームの要部拡大断面図である。
図31〜図34は変更形態4を示す図であり、半導体モジュール製造途中の組み立て体の平面図であり、図32は前記組み立て体の正面図であり、図33は半導体モジュールの平面図であり、図34は半導体モジュールの断面図である。

Claims (17)

  1. p形又はn形の半導体からなるほぼ球状の半導体素子であって、その中心の両側の1対の頂部に平行な第1,第2の平坦面を形成した半導体素子と、
    前記第1の平坦面を含む半導体素子の表層部に形成された拡散層およびこの拡散層を介して形成されたほぼ球面状のpn接合と、
    前記第1,第2の平坦面に夫々設けられ且つ前記pn接合の両端に接続された第1,第2の電極と、
    を備えたことを特徴とする発光又は受光用半導体デバイス。
  2. 前記第1,第2の平坦面の平均直径が両平坦面間の距離よりも小さいことを特徴とする請求の範囲第1項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  3. 前記第1,第2の平坦面は異なる直径に形成されたことを特徴とする請求の範囲第2項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  4. 前記半導体素子は、真球状の半導体素子から製作されたことを特徴とする請求の範囲第2項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  5. p形又はn形の半導体からなる円柱状の半導体素子であって、その1対の端部に軸心と直交する平行な第1,第2の平坦面を形成した半導体素子と、
    前記第1の平坦面を含む半導体素子の表層部に形成した拡散層およびこの拡散層を介して形成されたpn接合と、
    前記第1,第2の平坦面に夫々設けられ且つ前記pn接合の両端に接続された第1,第2の電極と、
    を備えたことを特徴とする発光又は受光用半導体デバイス。
  6. 前記第1,第2の平坦面の直径が両平坦面間の距離よりも小さいことを特徴とする請求の範囲第5項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  7. 前記半導体素子が単結晶半導体で構成されたことを特徴とする請求の範囲第2項又は第6項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  8. 前記半導体素子がシリコン半導体で構成されたことを特徴とする請求の範囲第2項又は第6項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  9. 前記半導体素子がシリコンとゲルマニウムの混晶の半導体で構成されたことを特徴とする請求の範囲第2項又は第6項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  10. 前記半導体素子が、砒化ガリウム(GaAs)、隣化インジウム(InP)、隣化ガリウム(GaP)、窒化ガリウム(GaN)、セレン化インジウム・銅(InCuSe)のうちの何れかの化合物半導体で構成されたことを特徴とする請求の範囲第2項又は第6項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  11. 前記半導体素子がp形半導体で構成され、前記拡散層がn形拡散層で構成され、前記第2の平坦面にp形拡散層が形成され、このp形拡散層の表面に第2の電極が設けられたことを特徴とする請求の範囲第2項又は第6項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  12. 前記半導体素子がn形半導体で構成され、前記拡散層がp形拡散層で構成され、前記第2の平坦面にn形拡散層が形成され、このn形拡散層の表面に第2の電極が設けられたことを特徴とする請求の範囲第2項又は第6項に記載の発光又は受光用半導体デバイス。
  13. p形又はn形の半導体からなる球状の半導体素子を製作する第1工程と、
    前記半導体素子の頂部に第1の平坦面を形成する第2工程と、
    前記第1の平坦面を含む半導体素子の表層部に、半導体素子と異なる導電形の拡散層を形成すると共にこの拡散層を介してほぼ球面状のpn接合を形成する第3工程と、
    前記半導体素子のうちの第1の平坦面と反対側の頂部に第1の平坦面と平行な第2平坦面であって拡散層を除去した第2の平坦面を形成する第4工程と、
    前記第1,第2の平坦面に前記pn接合の両端に夫々接続された第1,第2の電極を形成する第5工程と、
    を備えたことを特徴とする発光又は受光用半導体デバイスの製造方法。
  14. p形の半導体からなる球状の半導体素子を製作する第1工程と、
    前記半導体素子の中心の両側の1対の頂部に平行な第1,第2の平坦面を形成する第2工程と、
    前記第1,第2の平坦面を含む半導体素子の表層部に、n形の拡散層を形成すると共にこの拡散層を介してほぼ球面状のpn接合を形成する第3工程と、
    前記第1,第2の平坦面に前記pn接合の両端に夫々接続された第1,第2の電極を形成する第4工程と、
    を備えたことを特徴とする発光又は受光用半導体デバイスの製造方法。
  15. 前記第4工程において、第2の平坦面にAl、AuGa、AuBの何れかの小片を接触させて加熱溶融し、拡散層を貫通するp形の再結晶層とそれに連なる第2の電極を形成することを特徴とする請求の範囲第14項に記載の発光又は受光用半導体デバイスの製造方法。
  16. p形又はn形の半導体からなる円柱状の半導体素子を製作すると共に、この半導体素子の1対の端部に軸心と直交する平行な第1,第2の平坦面を形成する第1工程と、
    前記半導体素子の表層部に、半導体素子と異なる導電形の拡散層を形成すると共にこの拡散層を介してpn接合を形成する第2工程と、
    前記第1,第2の平坦面に前記pn接合の両端に夫々接続された第1,第2の電極を設ける第3工程と、
    を備えたことを特徴とする発光又は受光用半導体デバイスの製造方法。
  17. 前記第3工程において、第2の平坦面にAl、AuGa、AuBの何れかの小片を接触させて加熱溶融し、拡散層を貫通するp形又はn形の再結晶層とそれに連なる第2の電極を形成することを特徴とする請求の範囲第16項に記載の発光又は受光用半導体デバイスの製造方法。
JP2002538487A 2000-10-20 2000-10-20 発光又は受光用半導体デバイス及びその製造方法 Expired - Lifetime JP3938908B2 (ja)

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
PCT/JP2000/007359 WO2002035612A1 (en) 2000-10-20 2000-10-20 Light-emitting or light-receiving semiconductor device and method for fabricating the same

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPWO2002035612A1 true JPWO2002035612A1 (ja) 2004-03-04
JP3938908B2 JP3938908B2 (ja) 2007-06-27

Family

ID=11736611

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2002538487A Expired - Lifetime JP3938908B2 (ja) 2000-10-20 2000-10-20 発光又は受光用半導体デバイス及びその製造方法

Country Status (11)

Country Link
US (1) US6744073B1 (ja)
EP (2) EP1253649B1 (ja)
JP (1) JP3938908B2 (ja)
KR (1) KR100549249B1 (ja)
CN (1) CN1182590C (ja)
AU (1) AU773312B2 (ja)
CA (1) CA2393219C (ja)
DE (2) DE60039545D1 (ja)
HK (1) HK1084237A1 (ja)
TW (1) TW469655B (ja)
WO (1) WO2002035612A1 (ja)

Families Citing this family (47)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
AU2001277778B2 (en) * 2001-08-13 2005-04-07 Sphelar Power Corporation Light-emitting or light-receiving semiconductor module and method of its manufacture
AU2001277779B2 (en) 2001-08-13 2005-04-07 Sphelar Power Corporation Semiconductor device and method of its manufacture
KR100619614B1 (ko) * 2001-10-19 2006-09-01 죠스케 나카다 발광 또는 수광용 반도체 모듈 및 그 제조 방법
WO2003056633A1 (fr) * 2001-12-25 2003-07-10 Josuke Nakata Appareil semi-conducteur d'emission et de reception de lumiere
WO2003094248A1 (en) * 2002-05-02 2003-11-13 Josuke Nakata Light-receiving panel or light-emitting panel, and manufacturing method thereof
AU2002313256B8 (en) * 2002-06-21 2006-11-02 Sphelar Power Corporation Light-receiving or light-emitting device and its production method
US7387400B2 (en) * 2003-04-21 2008-06-17 Kyosemi Corporation Light-emitting device with spherical photoelectric converting element
CA2523544A1 (en) * 2003-04-30 2004-11-18 Cree, Inc. High powered light emitter packages with compact optics
US7005679B2 (en) 2003-05-01 2006-02-28 Cree, Inc. Multiple component solid state white light
US6953760B2 (en) * 2003-06-04 2005-10-11 Saint-Gobain Ceramics & Plastics, Inc. Ceramic component containing inclusions
WO2004109890A1 (ja) 2003-06-09 2004-12-16 Kyosemi Corporation 発電システム
CA2537476A1 (en) * 2003-09-05 2005-03-17 Adrian Kitai Sphere-supported thin film phosphor electroluminescent devices
CN1771608A (zh) * 2003-10-24 2006-05-10 京半导体股份有限公司 受光或发光模块板及其制造方法
US7534633B2 (en) * 2004-07-02 2009-05-19 Cree, Inc. LED with substrate modifications for enhanced light extraction and method of making same
JP4827471B2 (ja) * 2005-09-09 2011-11-30 シャープ株式会社 バイパス機能付き太陽電池およびその製造方法
EP1969633B1 (en) 2005-12-22 2018-08-29 Cree, Inc. Lighting device
JP4948423B2 (ja) * 2006-01-11 2012-06-06 京セミ株式会社 受光又は発光用半導体モジュール
CA2640083A1 (en) * 2006-02-06 2007-08-16 Kyosemi Corporation Light receiving or emitting semiconductor module
JP2009534866A (ja) * 2006-04-24 2009-09-24 クリー, インコーポレイティッド 横向き平面実装白色led
JP4976388B2 (ja) 2006-06-14 2012-07-18 京セミ株式会社 ロッド形半導体デバイス
AU2012227357C1 (en) * 2006-06-14 2014-08-07 Kyosemi Corporation Semiconductor device module
JP4948535B2 (ja) 2006-07-04 2012-06-06 京セミ株式会社 パネル形半導体モジュール
AU2006345848B2 (en) 2006-07-07 2010-09-02 Energy Related Devices, Inc. Panel-shaped semiconductor module
JP5108766B2 (ja) 2006-08-07 2012-12-26 京セミ株式会社 発電又は発光用半導体モジュール
US20100224890A1 (en) * 2006-09-18 2010-09-09 Cree, Inc. Light emitting diode chip with electrical insulation element
US20080197369A1 (en) * 2007-02-20 2008-08-21 Cree, Inc. Double flip semiconductor device and method for fabrication
MX2009013770A (es) * 2007-07-18 2010-02-01 Kyosemi Corp Celda solar.
US9431589B2 (en) * 2007-12-14 2016-08-30 Cree, Inc. Textured encapsulant surface in LED packages
JP5180306B2 (ja) * 2008-08-08 2013-04-10 京セミ株式会社 採光型太陽電池モジュール
AU2008360294B2 (en) * 2008-08-08 2014-08-07 Sphelar Power Corporation See-through type solar battery module
UA111585C2 (uk) * 2010-01-08 2016-05-25 Трай Альфа Енерджи, Інк. Перетворення високоенергетичних фотонів в електрику
US9859348B2 (en) * 2011-10-14 2018-01-02 Diftek Lasers, Inc. Electronic device and method of making thereof
US9224851B2 (en) * 2011-10-14 2015-12-29 Diftek Lasers, Inc. Planarized semiconductor particles positioned on a substrate
US9455307B2 (en) * 2011-10-14 2016-09-27 Diftek Lasers, Inc. Active matrix electro-optical device and method of making thereof
US9209019B2 (en) 2013-09-05 2015-12-08 Diftek Lasers, Inc. Method and system for manufacturing a semi-conducting backplane
TWI506801B (zh) 2011-12-09 2015-11-01 Hon Hai Prec Ind Co Ltd 太陽能電池組
CN103165690B (zh) 2011-12-16 2015-11-25 清华大学 太阳能电池
CN103165719B (zh) 2011-12-16 2016-04-13 清华大学 太阳能电池
CN103187453B (zh) * 2011-12-29 2016-04-13 清华大学 太阳能电池
CN103187476B (zh) 2011-12-29 2016-06-15 清华大学 太阳能电池的制备方法
CN103187456B (zh) 2011-12-29 2015-08-26 清华大学 太阳能电池
US8927964B2 (en) * 2012-11-20 2015-01-06 Nokia Corporation Photodetection
CN104241262B (zh) 2013-06-14 2020-11-06 惠州科锐半导体照明有限公司 发光装置以及显示装置
US20160380126A1 (en) * 2015-06-25 2016-12-29 David Aaron Randolph Barkhouse Multi-layer barrier for metallization
US10312310B2 (en) 2016-01-19 2019-06-04 Diftek Lasers, Inc. OLED display and method of fabrication thereof
US10790426B2 (en) * 2016-04-01 2020-09-29 Nichia Corporation Method of manufacturing light emitting element mounting base member, method of manufacturing light emitting device using the light emitting element mounting base member, light emitting element mounting base member, and light emitting device using the light emitting element mounting base member
KR102177476B1 (ko) * 2019-02-28 2020-11-11 (주)소프트피브이 직렬 연결이 용이한 태양 전지 모듈

Family Cites Families (18)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS516686A (ja) 1974-07-08 1976-01-20 Hitachi Ltd
US4021323A (en) * 1975-07-28 1977-05-03 Texas Instruments Incorporated Solar energy conversion
US4037241A (en) * 1975-10-02 1977-07-19 Texas Instruments Incorporated Shaped emitters with buried-junction structure
JPH0750807B2 (ja) * 1984-03-28 1995-05-31 東北大学長 接合型半導体発光素子
US4691076A (en) * 1984-09-04 1987-09-01 Texas Instruments Incorporated Solar array with aluminum foil matrix
DE3700792C2 (de) * 1987-01-13 1996-08-22 Hoegl Helmut Photovoltaische Solarzellenanordnung und Verfahren zu ihrer Herstellung
GB2203894B (en) * 1987-03-03 1990-11-21 Fumio Inaba Surface emission type semiconductor light-emitting device
JPH01179374A (ja) * 1988-01-05 1989-07-17 Res Dev Corp Of Japan 接合型半導体発光素子
JPH04199887A (ja) * 1990-11-29 1992-07-21 Matsushita Electric Ind Co Ltd pn接合素子及びその製造方法並びに青色発光ダイオード素子
JPH0536997A (ja) * 1991-07-26 1993-02-12 Sanyo Electric Co Ltd 光起電力装置
US5437736A (en) * 1994-02-15 1995-08-01 Cole; Eric D. Semiconductor fiber solar cells and modules
JPH08125210A (ja) * 1994-10-24 1996-05-17 Jiyousuke Nakada 受光素子及び受光素子アレイ並びにそれらを用いた電解装置
JPH09162434A (ja) 1995-12-05 1997-06-20 Hitachi Ltd 太陽電池およびその製造方法
US6204545B1 (en) * 1996-10-09 2001-03-20 Josuke Nakata Semiconductor device
US5925897A (en) * 1997-02-14 1999-07-20 Oberman; David B. Optoelectronic semiconductor diodes and devices comprising same
CA2269632C (en) * 1997-08-27 2003-09-02 Josuke Nakata Spherical semiconductor device and method of manufacturing same
JP3091846B1 (ja) * 1999-11-26 2000-09-25 株式会社三井ハイテック 太陽電池を含む球状半導体及びそれを用いた球状半導体装置
US6355873B1 (en) * 2000-06-21 2002-03-12 Ball Semiconductor, Inc. Spherical shaped solar cell fabrication and panel assembly

Also Published As

Publication number Publication date
JP3938908B2 (ja) 2007-06-27
EP1253649A4 (en) 2005-11-16
EP1646090A1 (en) 2006-04-12
DE60039545D1 (de) 2008-08-28
WO2002035612A1 (en) 2002-05-02
AU773312B2 (en) 2004-05-20
HK1084237A1 (en) 2006-07-21
CA2393219C (en) 2007-01-09
EP1253649A1 (en) 2002-10-30
KR20020069349A (ko) 2002-08-30
KR100549249B1 (ko) 2006-02-03
CN1182590C (zh) 2004-12-29
EP1253649B1 (en) 2008-07-16
CA2393219A1 (en) 2002-05-02
CN1373907A (zh) 2002-10-09
AU7953300A (en) 2002-05-06
DE60039535D1 (de) 2008-08-28
US6744073B1 (en) 2004-06-01
EP1646090B1 (en) 2008-07-16
TW469655B (en) 2001-12-21

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JP3938908B2 (ja) 発光又は受光用半導体デバイス及びその製造方法
JP4307834B2 (ja) 発光又は受光用半導体モジュール
JP3904558B2 (ja) 発光又は受光用半導体モジュール及びその製造方法
JP4113118B2 (ja) 半導体デバイス及びその製造方法
JP5017459B2 (ja) 太陽電池モジュール及びその製造方法
JP4422132B2 (ja) フォトトランジスタ

Legal Events

Date Code Title Description
TRDD Decision of grant or rejection written
A01 Written decision to grant a patent or to grant a registration (utility model)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A01

Effective date: 20070322

A61 First payment of annual fees (during grant procedure)

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: A61

Effective date: 20070326

R150 Certificate of patent or registration of utility model

Ref document number: 3938908

Country of ref document: JP

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R150

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20110406

Year of fee payment: 4

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20120406

Year of fee payment: 5

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130406

Year of fee payment: 6

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313113

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20130406

Year of fee payment: 6

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

FPAY Renewal fee payment (event date is renewal date of database)

Free format text: PAYMENT UNTIL: 20140406

Year of fee payment: 7

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

S111 Request for change of ownership or part of ownership

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R313111

R350 Written notification of registration of transfer

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R350

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250