JPS6427647U - - Google Patents

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JPS6427647U
JPS6427647U JP12293687U JP12293687U JPS6427647U JP S6427647 U JPS6427647 U JP S6427647U JP 12293687 U JP12293687 U JP 12293687U JP 12293687 U JP12293687 U JP 12293687U JP S6427647 U JPS6427647 U JP S6427647U
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infrared
turntable
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  • Investigating Or Analysing Materials By Optical Means (AREA)

Description

【図面の簡単な説明】
第1図はオートサンプラーの一部分解斜視図、
第2図は同上部位置決めカム部の正面図、第3図
は使用状態の正面図、第4図はNujol法、L
iquid film法に使用するKBrウイン
ドーの斜視図、第5図はKBrウインドー抑えの
斜視図、第6図は第5図のKBrウインドー抑え
を使用したセツト状態を示す要部の断面図、第7
図はネジ構造のKBrウインドー抑えの斜視図、
第8図は第7図のKBrウインドー抑えを使用し
たセツト状態を示す要部の断面図、第9図はKB
r錠剤法に使用するKBrデイスクの斜視図、第
10図は同上セツト状態を示す要部の断面図、第
11図は従来のNujol法、および、Liqu
id film法に使用するKBrウインドーの
ホルダーの正面図である。 11……フレーム、12……モータ、13……
駆動軸、14……凹部、15……位置決めカム盤
、16……マイクロスイツチ、17……オンオフ
作用片、18……ターンテーブル、19……凹所
、20……小孔、21……中心軸、22……係合
ピン、23……筒軸、24……係合孔、25……
制御装置、26……メインスイツチ、27……マ
ニアル送りスイツチ、28……電源回路、29…
…フーリエ赤外測定装置に接続される回路、30
……KBrウインドー、31a,31b……ウイ
ンドー抑え、31c……デイスク抑え、32……
KBrデイスク、33……試料室。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. 内部雰囲気が除湿された乾燥空気によつて管理
    される試料室内に、赤外測定完了信号により設定
    角度づつ間欠回転するターンテーブルを交換可能
    に設け、該ターンテーブルの外周に等間隔毎に、
    KBr錠剤法、Nujol法、および、liqu
    id film法から選択された1種、または、
    任意の複数種の方法に使用する検体がセツトしう
    る多数の凹所を等間隔毎に形成するとともに、各
    凹所内の検体を検体抑えにて保持するようにした
    ことを特徴とする汎用赤外測定用オートサンプラ
    ー。
JP12293687U 1987-08-10 1987-08-10 Expired - Lifetime JPH0524204Y2 (ja)

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JP12293687U JPH0524204Y2 (ja) 1987-08-10 1987-08-10

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP12293687U JPH0524204Y2 (ja) 1987-08-10 1987-08-10

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Publication Number Publication Date
JPS6427647U true JPS6427647U (ja) 1989-02-17
JPH0524204Y2 JPH0524204Y2 (ja) 1993-06-21

Family

ID=31371329

Family Applications (1)

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JP12293687U Expired - Lifetime JPH0524204Y2 (ja) 1987-08-10 1987-08-10

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JP (1) JPH0524204Y2 (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011137778A (ja) * 2010-01-04 2011-07-14 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61270642A (ja) * 1985-05-25 1986-11-29 Japan Spectroscopic Co 拡散反射オ−トサンプラ−
JPS6297944U (ja) * 1985-12-11 1987-06-22

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS61270642A (ja) * 1985-05-25 1986-11-29 Japan Spectroscopic Co 拡散反射オ−トサンプラ−
JPS6297944U (ja) * 1985-12-11 1987-06-22

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011137778A (ja) * 2010-01-04 2011-07-14 Hitachi High-Technologies Corp 分光光度計

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0524204Y2 (ja) 1993-06-21

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