JPS6399508A - 軟磁性膜 - Google Patents

軟磁性膜

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Publication number
JPS6399508A
JPS6399508A JP24492986A JP24492986A JPS6399508A JP S6399508 A JPS6399508 A JP S6399508A JP 24492986 A JP24492986 A JP 24492986A JP 24492986 A JP24492986 A JP 24492986A JP S6399508 A JPS6399508 A JP S6399508A
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JP
Japan
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film
magnetic
soft magnetic
thin film
magnetic thin
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Pending
Application number
JP24492986A
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English (en)
Inventor
Kazuhiko Hayashi
和彦 林
Masatoshi Hayakawa
正俊 早川
Kenji Katori
健二 香取
Koichi Aso
阿蘇 興一
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Sony Corp
Original Assignee
Sony Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気ヘッドのコア材等として使用される軟磁
性膜に関するものである。
〔発明の概要〕
本発明は、Fe−A11−Ge系合金材料を主体とする
軟磁性膜において、 酸化物磁性薄膜を中間層として用い、Fe−Al −G
 e系軟磁性薄膜と酸化物磁性薄膜とを積層することに
より、 単層膜では実現されない低保持力化、高透磁率化等の軟
磁気特性の向上を図ろうとするものである。
〔従来の技術〕
例えばVTR(ビデオテープレコーダ)等の磁気記録再
生装置においては、記録信号の高密度化や高周波数化等
が進められており、この高記録密度化に対応して、磁気
記録媒体として磁性粉にFe、Co、Nt等の強磁性金
属の粉末を用いた、いわゆるメタルテープや、強磁性金
属材料を蒸着法等の手法によりベースフィルム状に被着
した、いわゆる蒸着テープ等が実用化されつつある。
この種の磁気記録媒体は高い抗磁力を有するので、記録
再生に用いる磁気ヘッドのヘッド材料には、高飽和磁束
密度を有することが要求される。
例えば、従来ヘッド材料として多用されているフェライ
ト材では、飽和磁束密度が低く、この高抗磁力化に対処
することができない。
そこで従来、これら高抗磁力磁気記録媒体に対応するた
めに、セラミックス等の非磁性の基板やフェライト等の
磁性基板上に高飽和磁束密度を有する軟磁性膜を被着し
、これら軟磁性合金膜を突き合わせて磁気ギャップを構
成するようにした複合型の磁気ヘッドや軟磁性膜や導体
膜を絶縁膜を介して多層積層構造とした薄膜磁気へ・7
ド等が提案されている。
そして、上記複合型の磁気ヘッドや薄膜磁気ヘッドに用
いられる軟磁性膜としては、熱的に安定で、かつ高飽和
磁束密度を有するIr e −A 7!−Si系合金磁
性膜が知られており、さらに本願出願人は先に特願昭6
0−77337号、特願昭60−218736号等にお
いて、これをしのぐ軟磁気特性を示ずFe−AR−Ge
系合金磁性膜を提案した。
ところで、このFe−Al−Ge系合金磁性膜は合金材
料であるため、高周波数帯域、特にメガヘルツ域では渦
電流損失によりその磁気特性(例えば透磁率)が劣化す
るという欠点を有する。この高周波数帯域の磁気特性の
劣化は、高密度記録即ち短波長記録という必然性にfP
Ahで、極めて不利であると言わざるを得ない。
−・般に、軟磁性合金膜の高周波数帯域における磁気特
性を改善する手法の一つとして、軟磁性合金膜を絶縁膜
を介して多層積層構造とすることが知られている。しか
しながらこの手法による軟磁性膜でtitl、磁束の流
れる向きによっては磁気抵抗が非常に大きくなり、積層
化することによりかえってその磁気特性を劣化させるこ
とになる。
また、軟磁性合金膜を絶縁膜を介して多層積層構造とす
ることにより、FeA6−Ge系軟磁性膜の一層当たり
の膜厚が減少し、積層体としての透磁率が高周波帯域に
おいて上讐することになるものの、保磁力は増大するこ
とが予想され、従って積層化の場合、各々の膜厚の最適
化が非常に重要な意義を持つことになる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
上述の従来の技術からも明らかなように、高飽和磁束密
度を有するFe  Al−Gt3系軟系外磁性膜いては
、特に高周波数帯域における透磁率。
保磁力等各種磁気特性の一層の改善が要望される。
そこで本発明は、かかる状況に鑑みて提案されたもので
、単層膜では実現されない低保持力化。
高i3磁率化を達成することが可能な軟磁性膜を提供す
ることを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明等は、上述の目的を達成せんものと鋭意研究の結
果、主体となる磁性膜にF e−A 7!−Ge系軟磁
性薄膜を用い、これに酸化物磁性薄膜を積層することが
磁気特性の改善等に有効であることを見出し本発明を完
成するに至ったものであって、Fe−AA−Ge系軟磁
性薄膜と酸化物磁性薄膜を積層したことを特徴とするも
のである。
本発明において、主体となるFe−Al−Ge系軟磁性
薄膜に含まれるFe、Aff、Geの組成範囲としては
、AA含有量が1〜31重量%、Geの含有量が1〜3
1重景%、残部がFeであることが好ましい。すなわち
、上記F e−A e−Ge系軟磁性薄膜を F e a A e b G e c (a、b、cは各成分の重量比を表す。)としたときに
、その組成範囲が 68≦a≦84 1≦b≦31 1≦C≦31 a+b−1−c=lQQ であることが望ましい。上記A7!やGCが少なずぎて
も、また逆に多ずぎても磁気特性が劣化してしまう。
また、上記Feの一部をCoT:l換することも可能で
ある。上記Feの一部をCoで置換するごとにより、飽
和磁束密度を上げることができる。
このCoの置換量としては、Feに対して0〜20重景
%の範囲内とすることが好ましい。
さらに、上述のF e  A 7!−G e系軟磁性薄
膜には、耐摩耗性や軟磁気特性を一層改善するために各
種元素を添加剤として加えてもよい。上記添加剤として
使用される元素としては、Ti、Cr。
Mn、Zr、Nb、Mo、Ta、W、Ru、Os。
Ir、Re、Ni、Pd、Pt、Hf、Vのうち1種ま
たは2種以上を組み合わせて0.5〜6.0重量%の範
囲で添加する。すなわち上記添加剤をMとし、Fe−A
n−Ge系軟磁性薄膜を式%式% (a、b、c、dは各成分の重量比を表す。)で表わし
たときに、その組成範囲が 68≦a+b≦84 0≦b≦15 1≦C≦31 1≦d≦31 0.5≦e≦6.0 を満足することが望ましい。上記添加剤の添加量が所定
の範囲を越えると磁気特性を劣化してしまう。
なお、上述した各組成式中、ANの一部がGaで置換さ
れていてもよく、またGeの一部がStで置換されてい
てもよい。
一方、中間膜として積層される酸化物磁性薄膜の材料と
しては、Cu−Znフェライト、Mg−Znnフェライ
l’+Mg−’zn−AAフェライト。
Mn−Znフェライト、Ni−Znフェライト。
M g −M nフェライト、Cu−Mgフェライト等
の、いわゆるソフトフェライトが用いられる。
上記Fe−Al−Ge系軟磁性fiI膜と酸化物磁性薄
膜とは、スパンタリング、真空蒸着、イオンブレーティ
ング等の真空薄膜形成技術によって交互に積層形成され
、本発明の軟磁性膜を構成する。
積層形成の方法としては、例えば第6図に示すようなス
パッタ装置を使用すればよい。このスパッタ装置は、真
空チャンバ(図示は省略する。)内に、略円盤状の基台
(11)を設置するとともに、この基台(11)の下面
側に基板(12)を取付け、さらに前記基台(11)の
中心部分を仕切り板(13)によって仕切り、左右両側
にFe−Al−Ge系軟磁性合金の合金ターゲット(1
4)と酸化物磁性材料ターゲ7 ) (15)を設置し
てなるもので、上記合金ターゲット(14)と酸化物磁
性材料ターゲラ) (15)の両ターゲットに同時にプ
ラズマを生じさせておき、基台(11)を回転させるこ
とによって基板(12)を移動させ各々のターケント上
での基板(12)の滞在時間を調整することによって所
望の膜厚を有する膜を形成するというものである。なお
、積層数は基台(11)の回転回数によって決定する。
積層するFe−A/!−Ge系軟磁性薄膜と酸化物磁性
薄膜の各膜厚は、各々100〜10000人、20〜5
000人の範囲内とし、積層膜の総膜厚は0.3〜30
μmとすることが好ましく、Fe−Aβ−Ge系軟磁性
薄膜と酸化物磁性薄膜の膜厚の比は任意に設定すればよ
い。
上記膜厚の範囲を外れると積層膜とした効果が期待でき
なくなる虞がある。
C作用〕 本発明においては、Fe−/’7!−Ge系軟磁性薄膜
と酸化物磁性薄膜とを積層しているので、Fe−An−
Ge系軟磁性薄膜の一層当たりの膜厚が減少して高周波
数帯域での軟磁気特性、特に透磁率が向上する。
このとき、Fe−An−Ge系軟磁性薄膜が中間膜であ
る酸化物磁性薄膜を介して磁気的に結合され、膜厚方向
の磁気抵抗の増大が抑えられ、同時に単層膜で得られる
以上の軟磁気特性が達成される。
〔実施例〕
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本
発明がこれら実施例に限定されるものではないことはい
うまでもない。
先ず、Fe5aAlzGeq合金(組成は原子%)及び
Mn−Znフェライトをターゲットとして用い、第6図
に示すような2元スパッタ装置によりスパッタリングを
行い、第1図に示すように、円盤状のガラスセラミック
(CaTiO3)基板(1)上にFe−/’l1−ce
系軟磁性薄膜(2)及び酸化物磁性薄膜(3)を積層し
た。このときFe−AA−ce系軟磁性薄膜(2)の膜
厚は、1300人とし、Mn−Znフェライト層の厚み
を0.50,90゜120.500人と変化させ、Fe
−An−Ge系軟磁性薄膜(2)とMn−Znフェライ
ト層(3)を各50層交互に積層し軟磁性膜を作成した
−4−述のようにして作成した軟磁性膜のスパッタリン
グ後の保磁力を測定した。結県を第2図に示す。この第
2図からは、スパッタリング後の保磁力とM n−Z 
nフェライト層の厚みとの間に特に関係性が見られなか
った。
続いて、上記軟磁性膜を560℃で1時間熱処理し、得
られた軟磁性膜についてMn−Znフェライト層(2)
の各厚めについて保磁力を測定したところ第3図に示す
ような結果が得られた。これより、熱処理を加えた場合
には、Mn−Znフェライト層(2)の各厚みによって
顕著な差がみられ、Mn−Znフェライト層(2)が5
0人の時に保磁力がもっとも低く、500人の時が最も
大きな値となり、略比例関係にあることがわかった。
以上の結果を考慮して次のような軟磁性膜を作成した。
F e IIoA 7!++G e q合金(組成ハ原
子%)及ヒMn−Znフェライトをターゲットとじて用
い、第6図に示すような2元スバンタ装置によりアルゴ
ン分圧5 ×10−’Torr、投入電力300Wでス
パッタリングを行い、第1図に示すよ・うに、円盤状の
ガラスセラミック(CaTi(1+)基板(1)上(7
こF e−AA−Ge系軟磁性薄膜(2)及び酸化物磁
性薄膜(3)を積層した後、350℃で1時間熱処理し
て軟磁性膜とした。なお、F e  A /+  G 
e系軟磁性薄膜(2)の膜厚は1500人、中間層とな
る酸化物磁性薄膜(3)は30人とし、その積層数はF
e−Ap−Ge系軟磁性薄膜(2)と酸化物磁性薄膜(
3)の積層膜を−・層として50JIとした。
上述のようにしてスパッタリングを行い、得られた軟(
〃性膜について、磁化曲線(M−4I曲線)を測定した
。結果を第4図に示す。
この第4図より、上記軟磁性膜の保磁力を求めたところ
、0.5 (Oe)と極めて小さな値を示した。
なお、スパッタリング後、熱処理前の保磁力は2゜8 
(Oe)であった。
また、F e IIoA 7!zG Cq合金(組成は
原子%。
膜厚0.2μm)及びM n −Z nフェライト(膜
厚100人)を5ON重ね、総厚1oμmとした積層体
を2元スパッタにより得、350 ’cで1時間熱処理
して軟磁性膜としたものと、FeaoAβ1゜Ge、の
膜厚10μmの単層膜をスバ・7タリングによって得、
550℃で1時間熱処理して軟磁性膜としたものについ
て、各周波数における透磁率の値を測定した。その結果
を第5図に示す。なお、図中aはFeA7!Ge合金と
Mn−Znフェライトを積層した軟磁性膜を表し、bは
膜厚10μmのFeA7!Gcの単層膜の特性を表して
いる。この結果より、単層膜は周波数が高くなるに従い
透磁率が急激に低下しているのに対して、軟磁性膜は周
波数の高低にあまり影響されず広い範囲で良好な透磁率
を有していることがわかる。また、軟磁性膜は単層膜よ
り周波数の低い所では透磁率がやや低いものの、周波数
の高い部分、すなわち5M)Izにおいて略等しい値と
なり、さらに高周波数域100 MHzでは単層膜より
もがなり良好な透磁率を示しCいる。したがって、本発
明にががる軟磁性膜ば、高周波数に対する特性に優れて
いることがわかる。
〔発明の効果〕
以上の説明からも明らかなように、本発明の軟磁性膜は
F e  A A  G e系軟磁性薄膜と酸化物磁性
薄膜を積層した構造としているので、特に高周波数帯域
での高透磁率化が達成される等、良好な軟磁気特性が得
られる。
また、中間膜を酸化物−膜としているので、膜厚方向で
の磁気抵抗が抑えられると同時に、保磁力も極めて小さ
くすることができる。特に積層する各膜の膜厚を最適化
することにより、非常に優れた軟磁気特性が低温処理で
得られる。
したがって、高記録密度化に対応可能な磁気ヘッド材料
の提供が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明を適用した転磁p膜の構成例を示す要部
拡大断面図である。 第2図はFe−AA−Ge系軟磁性薄膜を主体とする軟
磁性積層膜において中間層であるMn −Znフェライ
トの厚さを変えたときの熱処理前の保磁力の変化を示す
特性図であり、第3図は熱処理後の保磁力の変化を示す
特性図である。 第4図は本発明を適用した軟磁性膜のM−H曲線を示す
特性図、第5図は本発明を適用した軟磁性膜の透磁率の
周波数依存性をFe−A7!−Ge系軟磁性薄膜の単層
膜のそれと比べて示す特性図である。 第6図は積層膜を作成する際に用いるスパッタリング装
置の一例を示す概略構成図である。 1・・・基板  。 2・・・Fe−AR−Ge系軟磁性薄膜3・・・酸化物
磁性薄膜 特許出願人   ソニー株式会社 代理人  弁理士  手漉  晃 岡   円柱 榮−

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. Fe−Al−Ge系軟磁性薄膜と酸化物磁性薄膜を積層
    したことを特徴とする軟磁性膜。
JP24492986A 1986-10-15 1986-10-15 軟磁性膜 Pending JPS6399508A (ja)

Priority Applications (1)

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JP24492986A JPS6399508A (ja) 1986-10-15 1986-10-15 軟磁性膜

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JP24492986A JPS6399508A (ja) 1986-10-15 1986-10-15 軟磁性膜

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JPS6399508A true JPS6399508A (ja) 1988-04-30

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ID=17126065

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JP24492986A Pending JPS6399508A (ja) 1986-10-15 1986-10-15 軟磁性膜

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