JPS6399507A - 軟磁性膜 - Google Patents

軟磁性膜

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JPS6399507A
JPS6399507A JP24492886A JP24492886A JPS6399507A JP S6399507 A JPS6399507 A JP S6399507A JP 24492886 A JP24492886 A JP 24492886A JP 24492886 A JP24492886 A JP 24492886A JP S6399507 A JPS6399507 A JP S6399507A
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和彦 林
Masatoshi Hayakawa
正俊 早川
Kenji Katori
健二 香取
Koichi Aso
阿蘇 興一
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、磁気ヘッドのコア材等として使用される軟磁
性膜に関するものである。
〔発明の概要〕
本発明は、Fe−Ga−3t系合金材料を主体とする軟
磁性薄膜において、 酸化物磁性薄膜を中間層として用い、Fe−Ga−3t
系軟磁性薄膜と酸化物磁性薄膜とを積層することにより
、 単層膜では実現されない低保持力化、高透磁率化等の軟
磁気特性の向上を図ろうとするものである。
〔従来の技術〕
例えばVTR(ビデオテープレコーダ)等の磁気記録再
生装置においては、記録信号の高密度化や高周波数化等
が進められており、この高記録密度化に対応して、磁気
記録媒体として磁性粉にFe、Co、Ni等の強磁性金
属の粉末を用いた、いわゆるメタルテープや、強磁性金
属材料を蒸着法等の手法によりベースフィルム状に被着
した、いわゆる蒸着テープ等が実用化されつつある。
この種の磁気記録媒体は高い抗磁力を有するので、記録
再生に用いる磁気ヘッドのヘッド材料には、高飽和磁束
密度を有することが要求される。
例えば、従来ヘッド材料として多用されているフエ与イ
ト材では、飽和磁束密度が低く、この高抗磁力化に対処
することができない。
そこで従来、これら高抗磁力磁気記録媒体に対応するた
めに、セラミックス等の非磁性の基板やフェライト等の
磁性基板上に高飽和磁束密度を有する軟磁性膜を被着し
、これら軟磁性合金膜を突き合わせて磁気ギャップを構
成するようにした複合型の磁気ヘッドや、軟磁性膜や導
体薄膜を絶縁膜を介して多層積層構造とした薄膜磁気ヘ
ッド等が提案されている。
そして、上記磁気ヘッドや薄膜磁気ヘッドに用いられる
軟磁性膜としては、熱的に安定で、かつ高飽和磁束密度
を有するFe−Al!−Si系合金磁性膜が知られてお
り、さらに本願出願人は先に特願昭60−77338号
、特願昭60−218737号等においてこれをしのぐ
軟磁気特性を示ずFe−Ga−Si系合金磁性膜を提案
した。
ところで、このFe−Ga−Si系合金磁性膜は、合金
材料であるが故に高周波数帯域、特にメガヘルツ域では
渦電流損失により、その磁気特性(例えば透磁率)が劣
化するという欠点を有する。
この高周波数帯域の磁気特性の劣化は、高密度記録即ち
短波長記録という必然性に鑑みて極めて不利であると言
わざるを得ない。
一般に、軟磁性合金膜の高周波数帯域における磁気特性
を改善する手法の−っとして、軟磁性合金膜を絶縁膜を
介して多層積層構造とすることが知られている。しかし
ながらこの手法による軟磁性膜では、磁束の流れる向き
によっては磁気抵抗が非常に大きくなり、積層化するこ
とによりかえってその磁気特性を劣化させることになる
また、軟磁性合金膜を絶縁膜を介して多層積層構造とす
ることにより、Fe−Ga−8i系軟磁性膜の一層当た
りの膜厚が減少し、積層体としての透磁率が高周波帯域
において上昇することになるものの、保磁力は増大する
ことが予想され、従って積層化の場合、各々の膜厚の最
適化が非常に重要な意義を持つことになる。
〔発明が解決しようとする問題点〕
−1−述の従来の技術からも明らかなように、高飽和磁
束密度を有するFe−Ga−Si系軟磁性膜においては
、特に高周波数帯域における透磁率。
保磁力等各種磁気特性の一層の改善が要望される。
そこで本発明は、かかる状況に鑑みて提案されたもので
、単層膜では実現されない低保持力化。
高透磁率を達成することが可能な軟磁性膜を提供するこ
とを目的とする。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明等は、」二速の目的を達成せんものと鋭意研究の
結果、主体となる磁性膜にFe−Ga−Si系軟磁性薄
膜を用い、これに酸化物磁性薄膜を積層することが磁気
特性の改善等に有効であることを見出し本発明を完成す
るに至ったものであって、Fe−Ga−3t系軟磁性薄
膜と酸化物磁性薄膜を積層したことを特徴とするもので
ある。
本発明において、主体となるFe−GaSi系軟磁性薄
膜に含まれるFe、Ga、Siの組成範囲としては、G
a含有量が1〜23重量%、Siの含有量が9〜31重
景%、残部がFeであることが好ましい。すなわち、上
記Fe−Ga−Si系軟磁性薄膜を Fe * G a b S 1( (a、b、cは各成分の重量比を表す。)としたときに
、その組成範囲が 68≦a≦84 1≦b≦23 9≦C≦31 a −1−b 十c = l Q Q であることが望ましい。上記GaやSiが少なずぎでも
、また逆に多ずぎても磁気特性が劣化してしまう。
また、」二足Feの一部をCoで置換することも可能で
ある。上記Feの−・部をCoで置換することにより、
飽和磁束密度を上げることができる。
このCoの置換量としては、Feに対してO〜20重景
%の範囲内とすることが好ましい。
さらに、上述のFc−Ga−Si系軟磁性薄膜には、耐
摩耗性や軟磁気特性を一層改善するために各種元素を添
加剤として加えてもよい。−1−記添加剤として使用さ
れる元素としては、Ti、Cr。
Mn、Zr、Nb、Mo、Ta、W、Ru、Os。
Ir、Re、Ni、Pd、Pt、Hf、Vのうち1種ま
たは2種以上をくみあわせて0.5〜6.0重量%の範
囲で添加する。すなわち上記添加剤をMとし、Fe−G
a−Si系軟磁性薄膜を式%式% (a、b、c、dは各成分の重量比を表す6)で表した
ときに、その組成範囲が 68≦a≦84 0≦b≦15 1≦C≦23 6≦d≦31 0.5≦e≦6.0 を満足することが望ましい。上記添加剤の添加量が所定
の範囲を越えると磁気特性を劣化してしまう。
なお、上述した各組成式中、Gaの一部がAj2で置換
されていてもよく、またStの一部がGeで置換されて
いてもよい。
一方、中間膜として積層される酸化物磁性薄膜の材料と
しては、Cu−Znフェライト、Mg−Znフェライト
、Mg−Zn−Aj!フェライト5M n −Z nフ
ェライト、Ni−Znフェライト。
M g −M nフェライト、Cu−Mgフェライト等
の、いわゆるソフトフェライトが用いられる。
上記Fe−Ga−Si系軟磁性曹膜と酸化物磁性薄膜と
は、スパンタリング、真空蒸着、イオンブレーティング
等の真空薄膜形成技術によって交互に積層形成され、本
発明の軟磁性膜を構成する。
積層形成の方法としては、例えば第6図に示すようなス
パッタ装置を使用すればよい。このスパッタ装置は、真
空チャンバ(図示は省略する。)内に略円盤状の基台(
11)を設置するとともに、この基台(11)の下面側
に基板(12)を取付け、さらに、前記基台(11)の
中心部分を仕切り板(13)によって仕切り、左右両側
にFe−Ga−Si系軟磁性合金の合金ターゲラ) (
14)と酸化物磁性材料ターゲット(15)を設置して
なるもので、上記合金ターゲラ) (14)と酸化物磁
性材料ターゲラ) (15)の両ターゲットに同時にプ
ラズマを生じさせておき、基台(11)を回転させるこ
とによって基板(12)を移動させ各々のターゲット上
での基板(12)の滞在時間を調整することによって所
望の膜厚を有する膜を形成するというものである。なお
、積層数は基台(11)の回転回数によって決定する。
積層するFe−Ga−Si系軟磁性薄膜と酸化物磁性薄
膜の各膜厚は、各々100〜10000人、20〜50
00人の範囲内とし、積層膜の総膜厚は0.3〜30μ
mとすることが好ましく、Fe−Ga−Si系軟磁性薄
膜と酸化物磁性薄膜の膜厚の比は任意に設定すればよい
上記膜厚の範囲を外れると積層膜とした効果が期待でき
なくなる虞がある。
〔作用〕
本発明においては、Fe−Ga−3t系軟磁性薄膜と酸
化物磁性薄膜とを積層しているので、Fe−Ga−5i
系軟磁性膜の一層当たりの膜厚が減少して高周波数帯域
での軟磁気特性、特に透磁率が向上する。
このとき、Fe−Ga−5i系軟磁性薄膜が中間膜であ
る酸化物磁性薄膜を介して磁気的に結合され、膜厚方向
の磁気抵抗の増大が抑えられ、同時に単層膜で得られる
以上の軟磁気特性が達成される。
〔実施例〕
以下、本発明の具体的な実施例について説明するが、本
発明がこれら実施例に限定されるものではないことはい
うまでもない。
先ず、Fe、aRu4Gas S I+a合金(組成は
原子%)及びMn−Znフェライトをターゲットとして
用い、第6図に示すような2元スパッタ装置によりスパ
ッタリングを行い、第1図に示すように、円盤状のガラ
スセラミック(CaTiOs)基板(1)上にFe−G
a−Si系軟磁性薄膜(2)及び酸化物磁性薄膜(3)
を積層した。このときFe−Ga−5i系軟磁性薄膜(
2)の膜厚は、1600人とし、Mn−Znフェライト
層の厚みを0.50゜90.120.500人と変化さ
せ、Fe−Qa−Si系軟磁性薄膜(2)とMn−Zn
フェライト層(3)を各50層交互に積層し軟磁性膜を
作成した。
上述のようにして作成した軟磁性膜のスパッタリング後
の保磁力を測定した。結果を第2図に示す。この第2図
からスパッタリング後の保磁力とMn−Znフェライト
層の厚みとの間に特に関係性が見られなかった。
続いて、上記軟磁性膜を560°Cで1時間熱処理し、
得られた軟磁性膜についてMn−Znフェライト層(2
)の各厚みについて保磁力を測定したところ第3図に示
すような結果が得られた。これより、熱処理を加えた場
合には、Mn−Znフェライト層(2)の各厚みによっ
て顕著な差がみられ、M n −Z nフェライト層(
2)が50人の時に保磁力がもっとも低く、500人の
時が最も大きな値となり、略比例関係にあることがわか
った。
以上の結果を考慮して次のような軟磁性膜を作成した。
F e74Ru4 Ga8S i 14合金(組成は原
子%)及びMn−Znフェライトをターゲットとして用
い、第6図に示すような2元スパッタ装置によりアルゴ
ン分圧5 X I 0−1Torr、投入電力300W
の条件でスパッタリングを行い、第1図に示すように、
円盤状のガラスセラミック(CaTiOs)&板(1)
上にFc−Ga−3t系軟磁性薄膜(2)及び酸化物磁
性薄膜(3)を積層した後、350°Cで1時間熱処理
して軟磁性膜とした。なお、Fe  G a −Si系
軟磁性薄膜(2)の膜厚は1600人、中間層となる酸
化物磁性薄膜(3)は50人とし、その積層数はFe−
Ga−Si系軟磁性薄膜(2)と酸化物磁性薄膜(3)
の積層膜を一層として50層とした。
上述のようにしてスパッタリングを行い、得られた軟磁
性膜について、磁化曲線(M−H曲線)を測定した。結
果を第4図に示す。
この第4図より、上記軟磁性膜の保磁力を求めたところ
、0.4 (Oe)と極めて小さな値を示した。
なお、スパッタリング後、熱処理前の保磁力は3゜2 
(Oe)であった。
また、F et4RIJ4 GaB S i14合金(
組成は原子%、膜厚1600人)及びMn−Znフェラ
イト(膜厚50人)を50層交互に重ね、総厚10メt
mとした積層体を2元スパッタにより得、350°Cで
1時間熱処理して軟磁性膜としたものと、Fe、、Ru
4Gas S i+nの膜厚5. 10. 1571 
mの単層膜をスパッタリングによって得、550℃で1
時間熱処理して軟磁性膜としたものについて、各周波数
における透磁率の値を測定した。
その結果を第5図に示す。なお、図中aはFeRuGa
Si合金とM n −Z nフェライトを積層した軟磁
性膜を表し、bは膜厚5μmのFeRuGaSiの単層
膜、Cは膜厚10μmのFeRuGaSiの単層膜、d
は膜厚15μmのFeRuGaSiの単層膜の特性を表
している。この結果より、単層膜は周波数が高くなるに
従い透磁率が急激に低下しているのに対して、軟磁性膜
は周波数の高低にあまり影響されず広い範囲で良好な透
磁率を有していることがわかる。また、層厚の等しい軟
磁性膜aと単層膜Cを比較すると、軟磁性膜は、単層膜
より周波数の低い所では透磁率がやや低いものの、周波
数の高い部分、すなわち20Mtlzにおいて略等しい
値となり、さらに高周波数域100 MHzでは単層膜
よりもかなり良好な透磁率を示している。したがって、
本発明にかかる軟磁性膜は、高周波数に対する特性に優
れていることがわかる。
〔発明の効果〕
以上の説明からも明らかなように、本発明の軟磁性膜は
Fe−Ga−Si系軟磁性薄膜と酸化物磁性薄膜を積層
した構造としているので、特に高周波数帯域での高透磁
率化が達成される等、良好な軟磁気特性が得られる。
また、中間膜を酸化膜−膜としているので、膜厚方向で
の磁気抵抗が抑えられると同時に、保磁力も極めて小さ
なものとすることができる。特に、積層する各膜の膜厚
を最適化することにより、非常に優れた軟磁気特性が低
温処理で得られる。
したがって、高記録密度化に対応可能な磁気へノド材料
の提供が可能となる。
【図面の簡単な説明】 第1図は本発明を適用した軟磁性膜の構成例を示す要部
拡大断面図である。 第2図はFe−Ga−Si系軟磁性薄膜を主体とする軟
磁性膜において中間層であるMnZnフェライトの厚さ
を変えたときの熱処理前の保磁力の変化を示す特性図で
あり、第3図は熱処理後の保磁力の変化を示す特性図で
ある。 第4図は本発明を適用した軟磁性膜のM−H曲線を示す
特性図、第5図は本発明を適用した軟磁性膜の透磁率の
周波数依存性をFe−Ga−Si系軟磁性膜の単層膜の
それと比べて示す特性図である。 第6図は積層膜を作成する際に用いるスパッタリング装
置の一例を示す概略構成図である。 ■・・・基板 2・・・Fe−Ga−Si系軟磁性薄膜3・・・酸化物
磁性薄膜 特許出願人   ソニー株式会社 代理人  弁理士  手漉  晃 同   円相 榮− 第4図 to’ 0J0 杆 颯    。 槽 「         \」

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. Fe−Ga−Si系軟磁性薄膜と酸化物磁性薄膜を積層
    したことを特徴とする軟磁性膜。
JP24492886A 1986-10-15 1986-10-15 軟磁性膜 Expired - Fee Related JPH0766889B2 (ja)

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