JPS6395194A - 化合物単結晶製造方法 - Google Patents

化合物単結晶製造方法

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JPS6395194A
JPS6395194A JP24263686A JP24263686A JPS6395194A JP S6395194 A JPS6395194 A JP S6395194A JP 24263686 A JP24263686 A JP 24263686A JP 24263686 A JP24263686 A JP 24263686A JP S6395194 A JPS6395194 A JP S6395194A
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JP
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crucible
single crystal
raw material
volatile
pulling
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JP24263686A
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Masahiro Nakagawa
中川 正広
Koji Tada
多田 紘二
Masami Tatsumi
雅美 龍見
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Sumitomo Electric Industries Ltd
Original Assignee
Sumitomo Electric Industries Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (7)技術分野 この発明は、化合物単結晶の製造方法に関する。
特に化合物を合成し、単結晶を合成した原料から引上げ
る方法に関する。
ここで化合物というのは、GaAs%Inp1GaP。
InAs%GaSb、 InSbなどのm−v族化合物
やZn5e。
CdTeなどのn−Vl族化合物を指している。
合成というのは、単体の元素を反応させて化合物を作る
事である。
引上げ法というのは、原料をるつぼの中で融液とし、種
結晶を漬けて種付けし、回転しながら引上げる事によっ
て単結晶を引上げるものである。
チョクラルスキー法(Czochralski )と呼
ばれる事もある。
液体封止剤を使って原料融液を覆い高圧を加える方法も
ある。これは液体カプセル法LEC(LiquidEn
capsulated Czochralski)と呼
ばれる。
(イ)従来技術 ■−v族化合物の単結晶を引上げ法で製造する場合は、
液体カプセル法(LEC)が使われる。
液体カプセル法は比較的新しい方法であるが、現在では
、殆どこの方法が用いられるといってよい。円形の単結
晶が得られるし、0、Cr、 Feなどをドープしなく
ても半絶縁性の単結晶が製造できるという点で、水平ブ
リッジマン法(HB)より優れた点もある。
液体カブナル法を簡単に説明する。
るつぼの中に化合物原料として多結晶又は単結晶を入れ
る。必要であれば不純物固体をドープすることもある。
原料は既に化合物である。単体元素の原料ではない。
原料の上に、液体カプセル剤としてB2O3を入れる。
るつぼを下軸にとり付けたサセプタにセットする。
上軸に種結晶を取付ける。
容器を閉じる。真空に引いてから、窒素又はアルゴンガ
スなと不活性な気体を充填する。ヒータにより原料と液
体カプセル剤を融かす。
V族元素P1Asなとは、原料の融点の近くでの解離圧
が高いので、原料融液や結晶の表面から揮散しやすい。
不活性気体によって液体カプセル剤に高圧を加えている
から、V族元素の揮散を防ぐことができる。
現在、最も有力な方法であり、化合物単結晶の引上げ法
として広く使われている。不活性気体雰囲気での引上げ
である。
しかし、V族ガス雰囲気での引上げ法も過去に於て、数
多く提案されており、それなりに長所もある。以下、い
くつかの種類について説明する。
(つ)直接合成法 液体カブナル法が有力な方法として認識される以前は、
V族元素の雰囲気で単結晶を引上げる、という方法が用
いられた。
るつぼには、Y族元素を入れず■族元素のみを入れる。
不純物をドープする場合は、不純物も入れる。
V族元素は、るつぼの斜下方の、温度の低い空間に置く
。この空間の温度を制御するためのヒータが独立に設け
られる。V族元素の温度を制御する事によって、V族元
素の蒸気圧を制御する事ができる。
そして、気体のV族元素はるつぼ内の■族元素と反応し
、nt−v化合物となる。るつぼ内の全ての■族元素が
V族元素と反応し、原料融液の全体がm−v化合物とな
る。
この後、種結晶を漬けて引上げを開始するが、V族元素
の蒸気圧を制御しながら、V族元素の雰囲気で引上げが
行なわれる。従ってストイキオメトリツクな単結晶が引
上る。
この方法は、例えば米国特許3,496,118号(1
970年2月17日特許)などに説明されている。
しかし、このような方法は現在使われていない。
前記の方法は、GaAsを合成する場合、例えばGaを
100 g、Asを117g使う。極めて少量でなけれ
ばならない、という事がある。少量であるから、ASが
ガス化してるつぼ内のGaと反応するのである。
時間も短かくてよいし、過不足なく反応する。
これは、原料化合物を、単体元素から直接に合成するか
ら、直接合成法のカテゴリーに属する。
またV族雰囲気中で引上げるものである。
研究用の場合は200g程度の単結晶であってもよいが
、工業用の場合、4kgの多結晶原料を使い3kg以上
の単結晶を引上げなければならない。
このような場合、前述の方法では、GaとAsが1:1
に反応するのに時間がかかりすぎるし、又1:1に反応
しているのかどうか明らかでない。
やはり、GaAsの多結晶から出発する方が良い、と考
えられる。
に) V族雰囲気引上げ法(2重容器)縦型石英管の中
に、m−v族多結晶を封入し、■−v族単結晶を引上げ
る、という方法も古くから用いられた。石英管の底部は
サセプタで支持し、これを下軸に付けて回転させる。種
結晶を付けた上軸は、石英管の上部開口から石英管の内
部へ挿入する。
気密を保つため、上部開口はB2O3によって液体シー
ルしである。
石英管の周囲にヒータがあり、さらにその外側に、全体
を覆うべき容器がある。
これは、容器が2重になっているから、2重容器法とよ
ぶこともある。
原料融液はB2O3で覆われていない。■−v族化合物
が加熱されると、V族元素が解離するので、解離したV
族元素の雰囲気下にある。原料融液がV族元素の雰囲気
にあるといっても、、m−vの多結晶からV族が抜けた
ものであるから、原料融液の組成がストイキオメトリツ
クでない。またV族雰囲気の圧力を自在に制御する事が
できない。
さらに、V原ガスだけでなく、m−v族分子のガスも融
液から抜けて、空間を満す。
2重容器法を改良したものが特公昭59−13480号
である。これはB2O3で原料融液を覆ったものである
。B2O3を用いると、原料融液からの■−■分子の抜
けを防ぎ、V原ガスだけの雰囲気となる。
こうして、石英管内壁のくもりを防ぎ、観察を容易とし
たのである。
上軸と石英管の間がB2O3でシールされているから、
液体シール2重容器法という事もある。
これは、多結晶から出発する。またV族の圧力を制御で
きない。
Gf)v族雰囲気引上げ法(−型容器)LEC法が発明
される以前に、最も広く用いられていたものは、液体シ
ールチョクラルスキー法(Liquid−5eal C
zochralski )である。
例えば John K、 Kennedy & Worth P
、 A11red″5TUDYCZOCHRALSKI
  LIQUID−5EAL CRYSTAL GRO
WINGTECHNIQUE”  Rome Air 
Development Center AirFor
ce Systems Corrmand Griff
iss Air Force Ba5e。
New York 13441 (1979年4月)に
詳しい説明がある。液体シールというのは、上軸と容器
の間のシールにB2O3を用いるという事で、前節のも
のと同じである。液体カプセルとは違う。
この方法は、m−v族の原料融液をB2O3で覆わず、
容器内にV族のガスを外部から通すようにしたものであ
る。V族雰囲気で引上げを行なう。V原ガスの圧力は制
御可能である。
直接合成はできない。
a)不活性気体V族気体雰囲気引上げ法(二重容器)二
重容器法で、より巧妙な手法を使った引上げ法がある。
特開昭60−264390 (s60.12.27公開
)。
内容器には、B2O3で覆われた原料融液を入れたるつ
ぼを備える。内容器を上下で貫く上軸と下軸は、B2O
3で液体シールされる。B2O3を気体が通る事がある
そこで、内容器には不活性ガスを充填し、さらにV族の
固体を入れる。V原ガスと不活性ガスの混合雰囲気にな
る。内容器のV原ガスの分圧Qoは、その温度のV族元
素の屏離圧Qdより小さくない。
すなわち Qo≧Qd        (1) である。
外容器には不活性気体のみを入れる。その圧力をP、と
する。
Po+Q≧P 、      (2) とする。つまり内容器の圧力の方が外容器の圧力よりも
高くする。
これも、V族気体雰囲気引上げ法のカテゴリーに入る。
しかし、通常のV族気体雰囲気引上げの場合、不活性気
体が共存していないから、常にQo = Qd    
     (3)でなければならなかった。
前節までに説明した方法は全て、(3)式が成立するよ
うにQoを制御しなければならなかった。
ところが、この方法は、(1)の不等式を満せばよいよ
うになるから、圧力制御が容易になる。
しかし、この方法も原料の直接合成はできない。
(ホ)発明が解決すべき問題点 多結晶原料を出発原料とする場合、高純度のものが得難
いという事がある。予め他の炉で、高純度の■族元素、
V族元素を加熱反応させて■−v族の化合物とする。
これを冷却して炉から取り出す。この多結晶を引上げの
原料に使う。合成から単結晶の引上げまでに、いくつか
の工程があり、時間的にも離れているから、不純物が付
いたり、混入したり、酸化したりすることがある。
原料融液は、■族とV族の単体元素から直接に合成した
方が、高純度のものが得られる。
また、V族雰囲気で引上げるのと、不活性気体雰囲気で
引上げるのとでは、前者の方が転位の密度が低くなる、
という事がいわれている。
低転位結晶は、品質のそろった電子デバイスを作るため
に不可欠のものである。
不活性気体は高圧であるから、熱による対流も著しく、
引上げられた単結晶を急速に冷却するから、転位が多く
なるのである。
従来技術について詳しく説明したように、原料を直接合
成し、しかもV族雰囲気で引上げることのできる実用的
な方法は、従来存在しなかった。
本発明は、m−v族の他に■−■族にも適用できる。
そこで原料融液を構成する2種類の元素の内、高温(融
点近傍)で揮発しやすい元素(たとえばP、 Aaなど
)を揮発性元素と呼ぶ。これに対し、揮発し難い元素を
不揮発性元素と呼ぶ。
ψ)  目     的 原料を直接合成し、揮発性元素の雰囲気中で単結晶成長
を行なう工業的な単結晶引上げ法を提供する事が本発明
の目的である。
ケ)本発明の方法 第1図によって本発明の詳細な説明する。
まず装置の各部について述べる。
るつぼ1は下軸11の上端に取り付けられており、下軸
11によって回転し昇降する事ができる。
るつぼはサセプタによって保持され、下軸はサセプタを
支持するようになっている事が多いが、ここではサセプ
タの図示を略している。るつぼはPBN 、石英、・・
・などである。
るつぼ1の外周にはヒータ9が設けられる。これはるつ
ぼの中の原料と、液体封止剤8とを加熱するものである
るつぼ1の上方には上軸7が回転、昇降自在に垂下され
ている。
これまでの構成は、一般的な引上げ装置と同じである。
以下の構成に於て、本発明は、従来のものと異なってい
る。
上軸7に懸架された無底の有頭円筒6が設けられる。こ
れはるつぼ1の開口部より僅かに狭い円筒底部を持って
おり、るつぼ1の原料融液と液体封止剤8とを殆ど覆う
事ができる。るつぼのフタであるから、単にフタロと言
うことにする。
フタロの上方の頚部14は、上軸7の相対回転を許容し
、しかも気体の流通を阻止するため液体封止剤17が充
填されている。このような液体シールはよく用いられる
手段である。
フタロは回転しない。上軸7と、下軸11は回転する。
フタロの斜上方には、リザーバ3が設けられる。
リザーバ3は揮発性成分元素4を収容する容器である。
リザーバ3の下端にはパイプ5が連通している。
パイプ5はフタロの斜壁を貫いて、内部空間に入る。こ
れは、るつぼ1内の底面近くにまで延長している。
リザーバ3の周囲には揮発性成分加熱ヒータ13が設け
られている。
パイプ5と、フタロの挿入口の間は気密が保持されてい
る。
リザーバ3と、ヒータ13はフタロによって支持され、
フタロとともに昇降する。
これらの装置の全体が、圧力容器12によって包囲され
ている。
このような装置を用い、次の手順で、原料の直接合成、
単結晶引上げを行なう。
るつぼ1の中に不揮発性成分元素と、液体封止剤8のみ
を入れる。
揮発性成分は、リザーバ3に収容しておく。上軸7には
種結晶16を取付ける。
このような準備の後、圧力容器12を閉じる。
圧力容器12の内部をいったん真空に引く。
ヒータ9によりるつぼ1の不揮発性成分(In。
Gaなと)元素を加熱し液状とする。液体封止剤も液状
としてもよい。
上軸7を下げ、フタロを液体となった不揮発性成分元素
の中へ漬ける。
不活性気体を圧力容器12の内部へ導入する。
これはLEC法ではなく、液体封止剤に圧力を加えるの
が目的ではないから、低い圧力でよい。1気圧程度でよ
い。
揮発性成分加熱ヒータ13に通電する。リザーバ3内の
揮発性成分が気化する。気体はパイプ5を下降し、るつ
ぼ1の不揮発性成分融液の中へ入る。
るつぼ1の中で揮発性成分と不揮発性成分が化学反応す
る。こうして化合物の原料融液2ができる。
揮発性成分は不揮発性成分より原子比にして、より多く
リザーバ3に収容しておく。両者が1:1に反応しても
、揮発性成分の一部はリザーバ3に残留している。
フタロの内部空間Sは揮発性成分によって満される。内
部空間Sの不活性気体の圧力P。は0である。内部空間
の揮発性成分の圧力Q。は、内部空間の全圧に等しい。
外部空間Tでは、不活性気体が殆どである。揮発性成分
の分圧Q1は極めて小さい。これは、フタロとるつぼ1
の隙間から逃げた揮発性成分が容器全体に拡散したもの
で、僅かなものである。外部での不活性気体圧力PIは
、Qoとほぼつりあっているようにする。
すなわち、分圧に関して、 P 1 ; Qo(4) Po;0           (5)Q+;、0  
         (6)という関係が成立つようにす
る。(4)の条件はるつぼ1内の液面がフタロの内外に
於てあまり異ならないようにするためのもので、絶対的
な条件ではない。
種結晶16を下げて、原料融液2に漬け、回転させなが
ら引上げる。すると単結晶10が引上げられる。
単結晶10はフタの内部空間Sに於て成長する。
内部空間Sは不活性気体雰囲気ですく、揮発性成分雰囲
気Q。である。
しかも、この圧力Q。は、制御可能である。揮発性成分
用ヒータ13のパワーを調節する事により、過剰の揮発
性成分の原料融液2中での濃度を制御できる。
この濃度変化により、揮発性成分の内部空間に於ける圧
力Q。を制御できる。間に液体封止剤8をはさんでいる
が、高圧が加わっていないので、揮発性成分はこれを容
易に通過する。液体封止剤は、化合物分子が内部空間S
へ飛ぶのを防止しているのである。
単結晶の引上げが終ると、内部空間Sの中で結−晶を冷
却する。
こうして、原料化合物が直接合成でき、単結晶は揮発性
成分雰囲気で引上げられることになる。
(ロ)効 果 引上げ装置の中で、原料化合物を直接合成するから、高
純度の原料融液を得ることができる。つまり、育成した
単結晶の不純物濃度が低くなる。
さらに、揮発性成分のガスの中で引上げを行なうから、
転位の少い単結晶を得ることができる。
つまり、高純度、低転位の化合物単結晶が得られる。
(ロ)実施例 アンドープGaAs単結晶を本発明の方法で合成、成長
させた。出発原料はいずれも99.9999%の純度の
GaとAsである。
こうして得られた円柱状の単結晶インゴットを軸と直角
な面で切ってウエノ・とじ、転位密度とキャリヤ濃度と
を測定した。
転位密度は   300crn−2 キャリヤ濃度は  3X10”am’ であった。これは極めて低い転位密度であり、キャリヤ
濃度である。
比較のため、従来のLEC法でもGaAs単結晶を成長
させた。出発原料はGaAsの多結晶である。従来法に
よる転位密度は約lX10’cIn−2であった。キャ
リヤ濃度は約5X10”cm−3であった。本発明のも
のは、転位密度で約/3o1キャリヤ濃度で約/100
0になっている。不純物が少なく転位も少ないという事
である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の引上げ方法を実施するための単結晶引
上げ装置の縦断面図。 1・・・・・・・・・・・・る つ ぼ2・・・・・・
・・・・・・原料融液 3・・・・・・・・・・・・リザーバ 4・・・・・・・・・・・・揮発性成分元素5・・・・
・・・・・・・・パ イ プロ・・・・・・・・・・・
・フ   タフ・・・・・・・・・・・・上   軸8
・・・・・・・・・・・・液体封止剤9・・・・・・・
・・・・・ヒ − タ10・・・・・・・・・・・・単
 結 晶11・・・・・・・・・・・・下   軸12
・・・・・・・・・・・・圧力容器13・・・・・・・
・・・・・揮発性成分加熱ヒータ14・・・・・・・・
・・・・頚   部16・・・・・・・・・・・・種 
結 晶17・・・・・・・・・・・・液体封止剤S・・
・・・・・・・・・・内部空間 T・・・・・・・・・・・・外部空間 発明者 中用正広 多  1) 紘  二 龍見雅美

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)原料融液を収容すべきるつぼ1と、原料融液を加
    熱すべきヒータ9と、種結晶16を垂下するための上軸
    7と、全体を囲む圧力容器12とを有する単結晶引上げ
    装置を用い、揮発性成分と不揮発性成分の化合物である
    単結晶を製造する方法であつて、るつぼ1の上方の開口
    をほぼ被蓋する事ができ上軸7に懸架されて昇降できる
    有頸円筒状のフタ6と、揮発性成分4を収容するための
    リザーバ3と、リザーバ3に連通しフタ6を貫き先端が
    るつぼ1の底部近くに至るパイプ5と、リザーバ3の揮
    発性成分を加熱すべき揮発性成分加熱ヒータ13とを設
    け、るつぼ1には不揮発性成分元素と必要であれば不純
    物を収容し、ヒータ9によつてるつぼ1内の不揮発性成
    分を融液とし、揮発性成分加熱ヒータ13によつてリザ
    ーバ3から揮発性成分をるつぼ1内に導き、不揮発性成
    分と揮発性成分を反応させて化合物原料を合成し、これ
    を加熱して原料融液2とし、フタ6の内部空間Sを揮発
    性成分雰囲気とし、揮発性成分の圧力Q_0を揮発性成
    分加熱ヒータ13によつて制御しながら、種結晶16を
    原料融液2に漬け、回転しながら引上げる事によつて単
    結晶10を引上げるようにした事を特徴とする化合物単
    結晶製造方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US5493985A (en) * 1993-02-26 1996-02-27 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Process and apparatus for controlled synthesis and in-situ single crystal growth of phosphorus compounds and the crystals therefrom
JP2001342094A (ja) * 2000-05-31 2001-12-11 Komatsu Electronic Metals Co Ltd 砒素ドーピングが確実に行われるcz法単結晶引上げ装置及び方法

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US5493985A (en) * 1993-02-26 1996-02-27 The United States Of America As Represented By The Secretary Of The Air Force Process and apparatus for controlled synthesis and in-situ single crystal growth of phosphorus compounds and the crystals therefrom
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