JPS638413B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、被写界を複数の領域に分割して測光
し、該複数の領域に対応した複数の光電出力か
ら、画面全体の適正露出を決定するための適正測
光出力を演算抽出するマルチ測光装置に関する。

従来この種の測光装置として、複数の光電出力
のうち最大値と最小値との相加平均値を適正測光
出力とするもの（実公昭51−9271号）や、該最大
値と最小値との中間値を撮影者が手動によつて抽
出し、この中間値を適正測光出力とするもの（特
開昭53−17725号）がある。

ところが、これら従来装置には次のような欠点
がある。すなわち、前者においては相加平均値に
より露出を決定しているので、例えば逆光状態や
主要被写体が雪上にいる状態のような特殊な被写
界条件のときには主要被写体が露出アンダーある
いはオーバーになつてしまうことがある。また後
者においても前述の特殊な被写界条件のときに中
間値を適正露出となるように設定するには熟練を
要するのみならず、設定操作が手動であるので操
作性の低下を免れない。

本発明の目的は、光電出力に基づいて被写界の
状況を分析し、前述のような特殊な条件下の被写
界に対しても適正測光出力が得られるように成し
たマルチ測光装置を提供することである。

本発明によれば、被写界を複数の領域に分割し
て測光するとともに該複数の測光出力から平均的
な出力を算出し、該平均的な出力に相当する第１
の出力と、該平均的な出力よりも高い第２の出力
と、該平均的な出力よりも低い第３の出力のうち
のいずれかを、被写界を類別した出力により選択
して適正露出に関する信号となるマルチ測光装置
が提供される。そして第１の出力は平均的な輝度
の被写体に対し適正となり得るものであり、第２
の出力は高輝度側に主要被写体があるときに適正
となり得るものであり、第３の出力は低輝度側に
主要被写体があるときに適正となり得るものであ
るから、上述の如く第１〜第３の出力のいずれか
を選択すれば、どのような被写体に対してもほぼ
適正露出が得られる。また本発明装置は被写界を
類別する処理の結果として第１〜第３の出力のい
ずれかを適正測光出力として選択すればよいの
で、簡単な構成で適正露出を得る確率の高い測光
装置を得ることができる。以下、被写界（以下、
画面と称す。）を底面とし、画面の各部の輝度を
高さ（縦軸）として、画面と画面の各部の輝度と
を立体図形として表わした第１図によつて本発明
の基本的考え方を述べる。第１ａ図において、底
面S₀に示すような画面を考えたとき、画面の輝度
はひとつの曲面S₁を決定する。実際には、有限個
の光電素子で測光するので、促え得る曲面は光電
素子と同数以下の平面の集合になる。例えば、４
個の光電素子で画面を上下、左右に分割した場
合、画面の輝度を示す曲面は第１ｂ，ｃ図に量子
化面S₂〜S₄で示されるように量子化されて段階状
になる。量子化面S₂とS₄とを比較した場合、量子
化面を構成している輝度の絶対レベルは同一であ
るがそれらの画面上での位置は異なるので、どの
輝度に対して適正露出を得るかの判断も異なる。
また、量子化面S₂とS₃とを比較した場合、隣り合
う輝度間のレベル差は等しいが、両量子化面間の
輝度の絶対値が異なるので、適正露出を得る判断
も異なつてくる。今、あらゆる条件のもとにおけ
る撮影画面を輝度に関する情報と位置に関する情
報とにより複数のカテゴリーに類別し、その各々
のカテゴリーにおいてどの輝度に対して露出制御
を行なえば全体として適正露出が得られるかの対
応をつける。すると、ある条件下の画面におい
て、露出制御を行なうべき輝度を、輝度に関する
情報と位置に関する情報とから得ることができる
ようになる。

事実、種々の条件下の画面について上記対応づ
けを行なつた結果、適正露出の写真を得るために
露光制御を行なうべき輝度が次のような３つのレ
ベルに収束するということが判明した。即ち、第
１の輝度レベルは、複数の測光出力のうち最大値
と、これら測光出力の平均的な値との間に存在
し、第２の輝度レベルはこれら測光出力の平均的
な値とほぼ一致するレベルであり、また第３の輝
度レベルはこれらの測光出力の最小値とこれら測
光出力の平均的な値との間に存在することが判明
した。この平均的な値は、平均値、中央値、ある
いは最頻度で近似することができる。

以上のことから、複数の光電出力の平均的な値
と各光電出力とを比較して、各分割された画面に
おける輝度を規格化すれば各画面の位置の情報と
輝度の情報を同時に得ることができるようにな
る。従つて、この規格化出力に基づきパターン分
析して画面の状態を検出し、この検出結果と上記
３つの輝度レベルとを実験的あるいは経験的に対
応させれば種々の条件下の画面に対する露出制御
すべき輝度レベルを選択することができる。

一方、パターン分析とは無関係に露出制御すべ
き輝度レベルが定まることがある。それは最大輝
度と最小輝度との差が所定の範囲内にあつて、画
面内の輝度のバラツキが少なく、かつ最大輝度が
所定の範囲内に存在し、画面内に太陽を含む明る
い光源や、スポツトライトのような人工光源が存
在していないと判断できる場合である。このとき
には上記第２の輝度レベルに対して露出調節を行
なうと良好な結果が得られることが判明してい
る。尚、上述した複数の光電出力の規格化とは、
複数の光電出力の平均的な値に対して、該複数の
光電出力の大小関係を検出し、その大小に応じて
各光電出力を特定の信号に置換することである。

以下、本発明を実施例に基づき説明する。第２
図は本発明の実施例を示すブロツク図である。同
図において；測光回路１０は被写界を複数に分割
した各領域を測光するための光電変換素子を含
み、被写界の各領域に対応した独立のアナログ光
電出力P₀〜P_o-1を出力する。この光電出力P₀〜
P_o-1は対数圧縮されているものとし、従つて光電
出力はBV値で表わされる。最大値検出回路１１
は光電出力P₀〜P_o-1を入力とし、これらの中から
最大値P_naxを検出する。平均的値検出回路１２は
光電出力P₀〜P_o-1を入力とし、これらの平均的
値、例えば、平均値P_neaoを検出する。最小値検
出回路１３は、光電出力P₀〜P_o-1を入力とし、こ
れらの中から最小値P_nioを検出する。演算回路１
４は最大値P_naxと平均値P_neaoとを入力として第
１の測光出力PH（BV）、即ち、 PH＝K₁P_nax＋（１−K₁）P_neao ……(1) を発生する。演算回路１５は第２の測光出力PM
（BV）、即ち、 PM＝P_neao ……(2) を発生するが、実際上平均的値検出回路１２と兼
用できる。演算回路１６は最小値P_nioと平均値
P_neaoとを入力として第３の測光出力PL（BV）、
即ち、 PL＝K₂P_nio＋（１−K₂）P_neao ……(3) を発生する。以上に述べた回路１１〜１６は適正
測光出力発生回路を構成する。

２値化回路１７は規格化を行なう部分であり、
光電出力P₀〜P_o-1と平均値P_neaoとを入力とし、
平均値P_neaoに基づいて発生された基準出力と測
光出力P₀〜P_o-1とを比較して、各光電出力を論理
出力に変換する。具体的には、実施例において、
ｉ番目の位置の出力P_iと平均値P_neaoの比較を行
ない、P_i≧P_neaoであれば１、P_i＜P_neaoであれば
０としている。規格化出力が１であれば、ｉ番目
の位置が平均より明るい部分であることを示し、
０であれば暗い部分であることを示すことにな
る。すなわち、前述の規格化は２値化の形をとつ
ている。

又、次のようにすることも出来る。全体の明る
さを、明るい部分、暗い部分、中間の部分に分け
るために平均値P_neaoに基づく基準出力として
P_neao＋δH、P_neao−δLを設定し、この２つの基
準レベルに対して、それぞれ２値化を行なう方法
である。すなわち、 P_i＞P_neao＋δHが成り立つときが１、 P_i≦P_neao＋δHが成り立つときが０、また P_i≧P_neao−δLのとき１、 P_i＜P_neao−δLのとき０とする。この場合ｉ番
目の位置の２値化出力は２つ（2bit）になる。

P_neao＋δH、P_neao−δLの比較の順に出力を並
べたとき、出力が11ならば明るい部分を示し、00
ならば暗い部分を示し、01ならば中間の平均値に
近い部分を示す（10の場合は存在しない）。この
ようにその位置の明るさを３段階に分けることに
より、より高度なパターン分析が可能となる。

もちろん、２値化回路を４段階以上に分けるも
のとすることも可能であるし、位置に応じて分け
方を変えてもよい。

次に第１の判定回路１８は最大値P_naxを入力と
して、 Pα≦P_nax≦Pβ（但しPα、Pβは定数） ……(4) の判定を行ない、その判定結果を表わす論理出力
を発生する。もちろん、第１の判定回路１８は
Pα、Pβに対応した基準出力を発生する回路を含
む。この判定動作は最大値P_naxが太陽を含む明る
い光源あるいはスポツトライトのような人工光源
によるものかを識別するために行なわれる。第２
の判定回路１９は最大値P_naxと最小値P_nioを入力
として、 ΔP＝P_nax−P_nio ……(5) の演算を行ない、それから α≦ΔP≦β（但しα、βは定数） ……(6) の判定を行ない、その判定結果を表わす論理出力
を発生する。もちろん、定数α、βに対応した基
準出力を発生する回路は第２の判定回路１９に含
まれている。この判定動作は、画面内の輝度分布
を判定し、例えば輝度分布が大きいときに低輝度
側に主要被写体があるといつて低輝度側に露出を
合せると高輝度側がとんだり、またその逆に高輝
度側に主要被写体があるといつて高輝度側に露出
を合せると低輝度側がつぶれるといつた現象を防
止するために行なわれる。

類別回路２０は、回路１７，１８，１９からの
論理出力を入力として、これら論理出力の組合わ
せ論理が所定のカテゴリーのいずれに属するかを
決定する、即ち類別する。この所定のカテゴリー
は３つに分けられ、各カテゴリーに対応した制御
出力が選択的に発生される。回路１４，１５，１
６とアペツクス演算回路２４との間にそれぞれ接
続されたアナログスイツチ２１，２２，２３は、
類別回路２０の制御出力によつて、第１ないし第
３の測光出力のうちから、類別されたカテゴリー
に対応した出力を選択し、アペツクス演算回路２
４に伝達する。

アペツクス演算回路２４は、選択された測光出
力と情報設定部２７からの他の露出因子とによつ
て適正露出値（シヤツタ速度や、絞り値）に対応
した出力を発生し、これを公知の露出制御回路２
５及び露出表示回路２６に印加する。

次に、動作と共に類別回路２０による類別の態
様を、画面を３分割及び５分割して測光した場合
について説明する。第３ａ，ｂ図は画面の分割状
況と、分割された各領域の光電出力を示す。

(1) 第３ａ図において画面は６×６判のカメラを
想定して中央領域Dc、上方領域Du、下方領域
Dlに分割され、各々の光電出力がP₀〜P₂で表
わされている。

各光電出力P₀〜P₂は、平均値P_neao｛＝（P₀＋
P₁＋P₂）／３｝と比較され、各領域はP₀〜P₂
≧P_neaoのときには論理値１で表わされ、また
P₀〜P₂＜P_neaoのときには論理値０で表わされ
る。類別回路２０は、この論理値の組合わせ
が、(i)中央領域Dcが０のとき、又は下方領域
Dlが０のとき（このとき主要被写体は領域Dc
又はDlに存在する可能性が高いので）、アナロ
グスイツチ２３をオンにして第３の測光出力
PLをアペツクス演算回路２４に伝達する。(ii)
中央領域Dcが１のとき、（このとき主要被写体
は領域Dcに存在する可能性が高いので）、アナ
ログスイツチ２１をオンにして第１の測光出力
PHをアペツクス演算回路２４に伝達する。

一方、第１の判定回路１８はPα≦P_nax≦Pβ
のときには論理値１の出力を、またこれ以外の
ときには論理値０の出力を発生する。第２の判
定回路１９はα≦ΔP≦βのときには論理値１
の出力を、これ以外のときには論理値０の出力
を発生する。そして、第１、第２の判定回路１
８，１９から論理値１の印加があつたときに、
類別回路２０は画面が上記(i)、(ii)の状態にあつ
ても、これに優先して、アナログスイツチ２２
をオンにして第２の測光出力PMをアペツクス
演算回路２４に伝達する。

(2) 第３ｂ図において、画面はライカ判のカメラ
を想定して、中央領域Dc、右上方領域Dru、
左上方領域Dlu、左下方領域Dllに分割され、
各々の光電出力がP₀〜P₂で表わされている。
各光電出力P₀〜P₂は、上述同様に平均値P_neao
と比較され、各領域は論理値１又は０で表わさ
れる。

類別回路２０はこの組合わせが、(i)中央領域
Dcが０のとき、または左右下方領域Dll、及び
Drlが０のとき、又は左上方領域Dluと左下方
領域Dllとが０のとき、又は右上方領域Druと
右下方領域Drlとが０のとき、（これらのとき
主要被写体は０の領域に存在する可能性が高い
ので）、アナログスイツチ２３をオンにして第
３の測光出力PLをアペツクス演算回路２４に
伝達する。これ以外は(1)の項で述べた動作と同
じである。この５分割の例はライカ判のカメラ
のように縦と横の撮影位置があることを考慮し
ている。

このようにして演算抽出された測光出力はアペ
ツクス演算されて露出制御回路２５、露出表示回
路２６に印加される。尚、本実施例ではアペツク
ス演算を、測光出力抽出後に行なつているが、こ
れに限定されるものではなく、光電出力を直ちに
アペツクス演算して回路１１〜１３，１７に伝達
するようにしてもよい。このとき複数の光電出力
をアペツクス演算した後の出力のレベルは変化す
るが、各レベルの大小関係は変化しないので、前
述同様の動作を行なうことができる。そして第１
〜第３の測光出力はBV値からTV値あるいはAV
値を表わすようになる。

更に、本実施例では第１〜第３の測光出力を演
算し、その演算結果を抽出しているが、例えば(1)
〜(3)式の演算公式を選択するようにしても同様の
ことが達成できる。それは、結果的に第１〜第３
の測光出力のうちいずれか１つを選択すればよい
からである。

又、規格化は光電出力を２つのレベルに置換す
るものに限定されるものではなく、例えば平均値
付近に基準レベルを２つ設け、各光電出力をそれ
ぞれの基準レベルについて２値化することによ
り、平均値近傍の光電出力をもうひとつ別のレベ
ルに置換してもよい。

以下、各ブロツクの構成について説明する。

第４図は光電素子の一例で、複数個の光電素子
が並んでおり、フオト・ダイオード・アレイある
いはCCD等によつて構成することが出来る。た
だし、必ずしもマトリツクス状になつている必要
はない。この光電素子の出力の合成によつて上述
の分割領域における光電出力が得られる。

第５図は、受光光学系の一例である。３１は第
４図に示した複数個の光電素子であり、３２は撮
影レンズ、３３はミラー、３４はフイルム面、３
５はフアインダー・スクリーン、３６はフアイン
ダー・スクリーンに結像した被写体像を受光素子
面に再結像させるためのレンズである。

以上の構成により、撮影するシーンの各部の明
るさを測定することが出来、独立な複数の測光情
報を取り出せる。

第６ａ図は最大値検出回路１１の回路例を、ま
た第６ｂ図は最小値検出回路１３の回路例をそれ
ぞれ示す。これらの回路はOPアンプと理想ダイ
オードとを使用した、それ自体公知の回路であ
る。

第７図は、抵抗ｒ、ｒ／ｎとOPアンプA₁とで
平均値検出回路１２を構成したもので、OPアン
プの出力として（P₁＋P₂……P_o-1）／ｎ＝P_neao
なる出力が得られる。

第８図は、演算回路１４，１５，１６の回路例
であり、フオロワーA₁₀〜A₁₂と分圧抵抗R₁〜R₄
とから構成され、第１〜第３の測光出力PH，
PM，PLは分圧比の調整によつて、前記(1)、(2)、
(3)式を満足すべく得ることができる。

第９図は、２値化回路１７、類別回路２０の回
路例である。同図は画面を第３ｂ図のように５分
割した場合の実施例である。

コンパレータC₁の同相入力端子には定数Pαに
対応する入力が、またコンパレータC₂の反転入
力端子には定数Pβに対応する入力がそれぞれ印
加されている。一方、コンパレータC₃の同相入
力端子には、定数αに対応する入力が、またコン
パレータC₄の反転入力端子には定数βに対応す
る入力がそれぞれ印加されている。光電出力P₀
〜P₄を同相入力とするコンパレータC₇〜C₁₁の反
転入力にはP_neao−δL相当の基準入力が印加され
ている。このδL相当のレベルダウンは光電出力
P₀〜P₄の低輝度側についての２値化をより確実
に行なうためのものである。光電出力P₀を同相
入力とするコンパレータC₆の反転入力にはP_neao
＋δH相当の基準入力が印加されている。このδH
相当のレベルアツプは光電出力P₀の高輝度側に
ついての２値化をより確実にするためのものであ
る。

最大値P_naxはコンパレータC₁の反転入力端子と
コンパレータC₂の同相入力端子に入力する。輝
度差ΔPはコンパレータC₃の反転入力端子とコン
パレータC₄の同相入力端子に入力する。コンパ
レータC₁〜C₄の出力は、アンドゲートAND₁に入
力する。アンドゲートAND₁の出力が１になると
きはコンパレータC₁〜C₄の出力が皆１を示すと
きで、 Pα≦P_nax≦Pβ ……(7)(a)、 且つ α≦ΔP≦β ……(7)(b) が成り立つときである。アンドゲートAND₁の出
力をＭフラグとする。Ｍフラグが１のときオアゲ
ートOR₁の出力は１になり、アナログスイツチ２
２をオンして第２の測光出力PMが選択される。
というのは(7)ｂ式が成立つことは、或る程度輝度
差があることを示しているが、(7)ａ式が成り立つ
場合、すなわち最大値が或る範囲におさまつてい
るときは、逆光状態になく、平均値付近に適正露
出レベルが存在するからである。光電出力P₀は
コンパレータC₆とC₇の同相入力端子に入力し、
以下光電出力P₁，P₂，P₃およびP₄はコンパレー
タC₈，C₉，C₁₀およびC₁₁の同相入力端子に入力す
る。又、コンパレータC₆の反転入力端子には平
均値を一定値レベルアツプした出力P_neao＋δHが
入力する。コンパレータC₆の出力が１になるの
は中央領域Dcの光電出力P₀が平均値P_neaoより識
別できる位（δHだけ）高い場合で、撮影画面の
中央部が明部になつていることを示している。一
方、コンパレータC₇〜C₁₁の反転入力端子には平
均値を一定値レベルダウンした出力P_neao−δLが
入力している。コンパレータC₇〜C₁₁の出力が０
になるときは、光電出力P₀〜P₄が平均値P_neaoよ
り識別できる位（δLだけ）低い場合で、光電出
力P₀〜P₄の対応する画面が暗部になつているこ
とを示している。

なお、コンパレータC₆、C₇から明らかなよう
に、P₀については平均値付近の２つの基準レベ
ルについて、それぞれ２値化を行なつて規格化を
していることになる。

アンドゲートAND₂にはコンパレータC₆，C₉，
C₁₀の出力とＭフラグのインバータINV₁によつて
反転された出力が入力する。

アンドゲートAND₂の出力が１になるのは、 P₀＞P_neao＋δH（中央の領域Dcが明部） P₂≧P_neao−δL（下半分の領域Drl、 Dllが暗部でない） P₄≧P_neao−δL ……(8) が成立ち、Ｍフラグが０のときである。このよう
な状態は、中央領域Dcが明るく、上半分の領域
Dru、Dluが暗い場合で、スポツトライト的な状
態である。それ故、(8)式が主要被写体が明部にあ
ることを判断する条件になる。アンドゲート
AND₂の出力をＨフラグとする。今、Ｈフラグが
１のとき、即ちコンパレータC₉，C₁₀が１を出力
し、インバータINV₁が１を出力しているときに
はアナログスイツチ２１がオンされて第１の測光
出力PHが抽出される。

C₇の出力はインバータINV₃に入る。今、 P₀＜P_neao−δL（中央の領域Dcが暗部） ……(9) が成り立つ場合、コンパレータC₇の出力は０で
インバータINV₃の出力は１になる。又、コンパ
レータC₈とC₉の出力はノアゲートNOR₁に入る。

P₁＜P_neao−δL（左半分の領域Dlu、 Dllが暗部） P₂＜P_neao−δL ……(10) が成り立つ場合、コンパレータC₈，C₉の出力は
共に０で、ノアゲートNOR₁の出力は１になる。
以下同様に P₂＜P_neao−δL（下半分の領域Drl、 Dllが暗部） P₄＜P_neao−δL ……(11) および P₃＜P_neao−δL（左半分の領域Dru、 Drlが暗部） P₄＜P_neao−δL ……(12) が成立つ場合、それぞれノアゲートNOR₂，
NOR₃の出力は１になる。インバータINV₃およ
びノアゲートNOR₁〜NOR₃の出力はオアゲート
OR₃に入力し、いずれかの出力が１であればオア
ゲートOR₃の出力は１となる。すなわち、(9)〜(12)
式のいずれかが成り立てばオアゲートOR₃の出力
は１になるということである。(9)式が成り立つ場
合は、主要被写体がある確率の高い画面中央部が
暗部になつている場合であり、低輝度側に露出を
合せた方がよい。しかし、逆に画面中央部が明る
くても、バツクの明るさによる場合も多く、必ず
しも主要被写体が明部にあるとは判断出来ない。
むしろ、逆光のような場合、主要被写体の明るさ
は画面下側の部分の明るさに近くなる。依つて、
(11)式が成り立つ場合、主要被写体が暗部にあると
判断し、第３の測光出力PLを選択した方がよい。
(10)、(12)式が成り立つ場合は、カメラを縦位置に構
えて撮影した場合と考えられる。以上のように、
(9)〜(12)式のそれぞれが主要被写体が暗部にあるこ
とを判断する条件になる。そしてこのときオアゲ
ートOR₃の出力が１になる。このときアンドゲー
トAND₁のＭフラグが０であれば、即ち、(7)(a)、
(b)式を満足しなければインバータINV₁は１を出
力する。そのためアンドゲートAND₃は１を出力
し、アナログスイツチ２３をオンにして第３の測
光出力PLを抽出する。

ノアゲートNOR₄にはＨ、Ｌフラグが入力し、
いずれも０の場合１になる。それは、主要被写体
が明部にあるとも暗部にあるとも判別されなかつ
た場合である。このときオアゲートOR₁の出力は
１となり、第２の測光出力PMが選択される。

尚、上記実施例においては、第２図の要素１１
が最大値検出手段を、要素１３が最小値検出手段
を、要素１２，１５が第１の出力手段を、要素１
４が第２の出力手段を、要素１６が第３の出力手
段を、要素１７〜２０が輝度分布検出手段を、要
素２１〜２３が適正露出信号発生手段をそれぞれ
構成している。

以上詳述した如く本件発明によれば、撮影しよ
うとするシーンがどのような輝度分布であつて
も、３つの出力信号、すなわち複数の測光出力の
平均的な値に関する第１の出力信号、平均的な値
と最大値との間に存する所定値に関する第２の出
力信号、平均的な値と最小値との間に存する所定
値に関する第３の出力信号のいずれかを適正露出
に関する信号として出力することにより、ほとん
どの場合、自動的にほぼ適正な露出を得ることが
できる。もちろん逆光やスポツトライト照明のよ
うな特殊な被写界条件においても適正な露出を得
ることは可能である。そして本件発明は撮影しよ
うとする１つのシーンに対して上述の如く３つの
出力信号を出力できるように構成し、そのいずれ
かを適正露出に関する信号として出力するもので
あるから、適正露出に関する信号を得るための処
理が極めて簡単である。

【図面の簡単な説明】

第１図は被写界（画面）の各部の輝度とを立体
図形で表わした図、第２図は本発明の実施例を示
すブロツク図、第３図は図面の分割状況の実施例
を示す図、第４図は光電素子アレイの例を示す
図、第５図は受光光学系の例を示す図、第６図は
最大値及び最小値検出回路の例を示す図、第７図
は平均値検出回路の例を示す図、第８図は演算回
路の例を示す図及び第９図は類別回路の例を示す
図である。 ［主要部分の符号の説明］、測光回路……１０、
適正測光出力発生回路……１１〜１６、規格化回
路（２値化回路）……１７、類別・抽出回路……
２０〜２３。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ 被写界を複数の領域に分割して測光し該複数
   の領域にそれぞれ対応した複数の測光出力を発生
   する測光手段を備えたマルチ測光装置において、 前記複数の測光出力のうちから最大値を検出す
   る最大値検出手段と、 前記複数の測光出力のうちから最小値を検出す
   る最小値検出手段と、 前記複数の測光出力の平均的な値を求め該平均
   的な値を第１出力信号として出力する第１の出力
   手段と、 前記平均的な値と前記最大値との間に存し該平
   均的な値と該最大値とに依存して変化する所定値
   を第２出力信号として出力する第２の出力手段
   と、 前記平均的な値と前記最小値との間に存し該平
   均的な値と該最小値とに依存して変化する所定値
   を第３出力信号として出力する第３の出力手段
   と、 前記複数の測光出力に基づいて被写界の輝度分
   布状態を検出する輝度分布検出手段と、 前記輝度分布状態に基づいて前記第１乃至第３
   出力信号のいずれかを適正露出に関する信号とし
   て選択し出力する適正露出信号発生手段とを有す
   ることを特徴とするマルチ測光装置。