JPS637331B2 - - Google Patents
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- JPS637331B2 JPS637331B2 JP54023020A JP2302079A JPS637331B2 JP S637331 B2 JPS637331 B2 JP S637331B2 JP 54023020 A JP54023020 A JP 54023020A JP 2302079 A JP2302079 A JP 2302079A JP S637331 B2 JPS637331 B2 JP S637331B2
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
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- G01J1/00—Photometry, e.g. photographic exposure meter
- G01J1/42—Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
Description
本発明は被写界を複数の領域に分割して測光
し、該複数の領域に対応した複数の光電出力から
適正露出を決定するための適正測光出力を抽出す
るマルチ測光装置に関する。 従来この種の測光装置として、複数の光電出力
のうち最大値と最小値との相加平均値を適正測光
出力とするもの（実公昭51―9271号）や、該最大
値と算小値との中間値を撮影者が手動によつて抽
出し、この中間値を適正測光出力するもの（特開
昭53―17725号）がある。 ところが、これら従来装置には次のような欠点
がある。すなわち前者においては相加平均値が常
に適正測光出力とされているので、逆光撮影や雪
山での撮影のような特殊な被写界条件のときには
露出オーバー、アンダーになつてしまうという欠
点がある。また後者においては前述の特殊な被写
界条件のときに中間値を設定するには熟練を要す
るのみならず、設定操作が手動なのでこれをカメ
ラに装備したときには操作性の低下を免れない。 さらに、光電出力の最大値と最小値の差がある
値を超えたか否かにより、露出決定のモードを変
換するもの（特開昭52―12828号）があるが、単
に画面内の輝度差だけでは被写体の状態の判断は
不可能であることが多い。例えば太陽が写し込ま
れる逆光シーンと、スポツトライトの舞台写真で
は、画面内の輝度差は同程度でも、露出決定方式
を異ならしめなければ適正露出は得られない。こ
の時は画面内の最大輝度値を判断の材料に用い、
その高輝度がどのような種類の被写体によつて生
じているのかを判断する必要がある。 本発明の目的は、複数の光電出力に基づいて被
写界の状況を分析して特殊な被写界条件と一般的
な被写界条件とを識別し、特に一般的な被写界条
件に適した適正露光を得るための適正測光出力を
自動的に抽出するよう成したマルチ測光装置を提
供することである。 本発明によれば、被写界を複数の領域に分割し
て測光して複数の光電出力を発生し、前記複数の
光電出力の最大値をPnax、前記最小値をPnioとし
たときに、Pα≦Pnax≦Pβ（但しPα、Pβは定数）
とα≦Pnax−Pnio≦β（但し、α、βは定数）と
を満足したときに前記光電出力の平均的な値に対
応した測光出力を演算抽出することを特徴とする
マルチ測光装置が提供される。 以下、被写界（以下、画面と称す。）を底面と
し、画面の各部の輝度を高さ（縦軸）として、画
面と画面の各部の輝度とを立体図形として表わし
た第１図によつて本発明の基本的考え方を述べ
る。 第１ａ図において、底面S0に示すような画面を
考えたとき、画面の輝度はひとつの曲面S1を決定
する。実際には、有限個の光電素子で測光するの
で捉え得る曲面は、光電素子と同数以下の平面の
集合になる。例えば、４個の光電素子で画面を上
下、左右に分割した場合、画面の輝度を示す曲面
は第１ｂ、ｃ図に量子化面S2〜S4で示されるよう
に量子化されて段階状になる。量子化面S2とS4と
を比較した場合、量子化面を構成している輝度の
絶対レベルは同一であるがそれらの画面上での位
置は異なるので、どの輝度に対して適正露出を得
るかの判断も異なる。また、量子化面S2とS3とを
比較した場合、隣り合う輝度間のレベル差は等し
いが、両量子化面間の輝度の絶対値が異なるの
で、適正露出を得る判断も異なつてくる。今、あ
らゆる条件のもとにおける撮影画面を輝度に関す
る情報と位置に関する情報とにより複数のカテゴ
リーに類別し、その各々のカテゴリーにおいてど
の輝度に対して露出制御を行えば全体として適正
露出が得られるかの対応をつける。すると、ある
条件下の画面において、露出制御を行うべき輝度
を、輝度に関する情報と位置に関する情報とから
得ることができるようになる。 事実、種々の条件下の画面について上記対応づ
けを行つた結果、適正露出の写真を得るために露
光制御を行うべき輝度が次のような３つのレベル
に収束するということが判明した。即ち、第１の
輝度レベルは、複数の測光出力のうち最大値とこ
れら測光出力の平均的な値との間に存在し、第２
の輝度レベルはこれら測光出力の平均的な値とほ
ぼ一致するレベルであり、また第３の輝度レベル
はこれらの測光出力の最小値とこれら測光出力の
平均的な値との間に存在することが判明した。こ
の平均的な値は、平均値、中央値あるいは最頻値
で近似することができる。 以上のことから、複数の光電出力の平均的な値
と各光電出力とを比較して各分割された画面にお
ける輝度を規格化すれば各画面の位置の情報と輝
度の情報を同時に得ることができるようになる。
従つてこの規格化出力に基づきパターン分析して
画面の状態を検出し、この検出結果と上記３つの
輝度レベルとを実験的あるいは経験的に対応させ
れば種々の条件下の画面に対する露出制御すべき
輝度レベルを選択することができる。 一方、パターン分析とは無関係に露出制御すべ
き輝度レベルが定まることがある。それは最大輝
度と最小輝度との差が所定の範囲内にあつて、画
面内の輝度のバラツキが少なく、かつ最大輝度が
所定の範囲内に存在し、画面内に太陽を含む明る
い光源やスポツトライトのような人工光源が存在
していないと判断できる場合である。このときに
は上記第２の輝度レベルに対して露出調節を行う
と良好な結果が得られることが判明している。 以下、本発明を実施例に基づき説明する。第２
図は本発明の実施例を示すブロツク図である。同
図において；測光回路１０は被写界を複数に分割
した各領域を測光するための光電変換素子を含
み、被写界の各領域に対応した独立のアナログ光
電出力P0〜Po-1を出力する。この光電出力P0〜
Po-1は対数圧縮されているものとし、従つて光電
出力はBV値で表わされる。最大値検出回路１１
は光電出力P0〜Po-1を入力とし、これらの中から
最大値Pnaxを検出する。平均的値検出回路１２は
光電出力P0〜Po-1を入力とし、これらの平均的
値、例えば平均値Pneaoを検出する。最小値検出
回路１３は光電出力P0〜Po-1を入力とし、これら
の中から最小値Pnioを検出する。演算回路１４は
最大値Pnaxと平均値Pneaoとを入力として第１の
測光出力PH（BV）、即ち PH＝k1Pnax＋（１−k1）Pneao ……(1) を発生する。演算回路１５は第２の測光出力PM
（BV）、即ち PM＝Pneao ……(2) を発生するが、実際上平均的値検出回路１２と兼
用できる。演算回路１６は最小値Pnioと平均値
Pneaoとを入力として第３の測光出力PL（BV）、
即ち PL＝k2Pnio＋（１−k2）Pneao ……(3) を発生する。 以上に述べた回路１１〜１６は適正測光出力発
生回路を構成する。 ２値化回路１７は規格化を行う部分であり、光
電出力P0〜Po-1と平均値Pneaoとを入力とし、平
均値Pneaoに基づいて発生された基準出力と測光
出力P0〜Po-1とを比較して各光電出力を論理出力
に変換する。ここで規格化とは複数の光電出力の
平均的な値に対しての各光電出力の大小関係を検
出し、その大小に応じて各光電出力を特定の信号
に置換することである。 具体的には、実施例においてｉ番目の位置の出
力Piと平均値Pneaoの比較を行ない、Pi≧Pneaoで
あれば１、Pi＜Pneaoであれば０としている。規
格化出力が１であれば、ｉ番目の位置が平均より
明るい部分であることを示し、０であれば暗い部
分であることを示すことになる。すなわち、前述
の規格化は２値化の形をとつている。 又、次のようにすることも出来る。全体の明る
さを、明るい部分、暗い部分、中間の部分に分け
るために平均値Pneaoに基づく基準出力として
Pneao＋δH、Pneao−δLを設定し、この２つの基準
レベルに対して、それぞれ２値化を行なう方法で
ある。すなわち、 Pi＞Pneao＋δHが成り立つときが１、 Pi≦Pneao＋δHが成り立つときが０、またPi≧
Pneao−δLのとき１、Pi＜Pneao−δLのとき０とす
る。この場合ｉ番目の位置の２値化出力は２つ
（2bit）になる。 Pneao＋δH、Pneao−δLの比較の順に出力を並べ
たとき、出力が１１ならば明るい部分を示し、０
０ならば暗い部分を示し、０１ならば中間の平均
値に近い部分を示す（１０の場合は存在しない）。
このようにその位置の明るさを３段階に分けるこ
とにより、より高度なパターン分析が可能とな
る。 もちろん２値化回路を４段階以上に分けるもの
とすることも可能であるし、位置に応じて分け方
を変えてもよい。 次に第１の判定回路１８は最大値Pnaxを入力と
して、Pα≦Pnax≦Pβ（但し、Pα、Pβは定数） の判定を行い、その判定結果を表す論理出力を発
生する。もちろん第１の判定回路１８はPα、Pβ
に対応した基準出力を発生する回路を含む。この
判定動作は最大値Pnaxが太陽を含む明るい光源あ
るいはスポツトライトのような人工光源によるも
のかを識別するために行われる。すなわち最大値
Pnaxが太陽等のような高輝度ではなく、人工光源
等によつて照明されたシーンのような低い輝度の
ものでもないことを判別する。第２の判定回路１
９は最大値Pnaxと最小値Pnioを入力として、 ΔP＝Pnax−Pnio ……(5) の演算を行い、それから α≦ΔP≦β（但し、α、βは定数） ……(6) の判定を行い、その判定結果を表わす論理出力を
発生する。もちろん定数α、βに対応した基準出
力を発生する回路は第２の判定回路１９に含まれ
ている。この判定動作は、画面内の輝度分布を判
定し、例えば輝度分布が大きいときに低輝度側に
主要被写体があるといつて低輝度側に露出を合わ
せると高輝度側がとんだり、またその逆に高輝度
側に主要被写体があるといつて高輝度側に露出を
合わせると低輝度側がつぶれるといつた現象を防
止するために行われる。すなわちαとβの値を適
当に設定することによつて高輝度部分と低輝度部
分の濃淡をともに表現できる輝度差であるか否か
を判別している。 類別回路２０は、回路１７，１８，１９からの
露理出力を入力として、これら論理出力の組合わ
せ論理が所定のカテゴリーのいずれに属するかを
決定する。即ち類別する。この所定のカテゴリー
は３つに分けられ、各カテゴリーに対応した制御
出力が選択的に発生される。回路１４，１５，１
６とアペツクス演算回路２４との間にそれぞれ接
続されアナログスイツチ２１，２２，２３は類別
回路２０の制御出力によつて第１ないし第３の測
光出力のうちから類別されたカテゴリーに対応し
た出力を選択し、アペツクス演算回路２４に伝達
する。 アペツクス演算回路２４は選択された測光出力
と情報設定部２７からの他の露出因子とによつて
適正露出値（シヤツタ速度や絞り値）に対応した
出力を発生し、これを公知の露出制御回路２５及
び露出表示回路２６に印加する。 次に動作と共に類別回路２０による類別の態様
を、画面を３分割及び５分割して測光した場合に
ついて説明する。第３ａ，ｂ図は画面の分割状況
と、分割された各領域の光電出力とを示す。 (1) 第３ａ図において画面は６×６判のカメラを
想定して中央領域Dc、上方領域Du、下方領域
Dlに分割され、各々の光電出力がP0〜P2で表
わされている。 各光電出力P0〜P2は平均値Pneao（＝（P0＋P1
＋P2）／３）と比較され、各領域はP0〜P2≧
Pneaoのときには論理値１で表わされ、またP0
〜P2＜Pneaoのときには論理値０で表わされる。
類別回路２０はこの論理値の組合わせが、(i)中
央領域Dcが０のとき、又は下方領域Dlが０の
とき（このとき主要被写体は領域Dc又はDlに
存在する可能性が高いので）アナログスイツチ
２３をオンにして第３の測光出力PLをアペツ
クス演算回路２４に伝達する。(ii)中央領域Dc
が１のとき（このとき主要被写体は領域Dcに
存在する可能性が高いので）アナログスイツチ
２１をオンにして第１の測光出力PHをアペツ
クス演算回路２４に伝達する。 一方、第１の判定回路１８は Pα≦Pnax≦Pβのときには論理値１の出力を、
またこれ以外のときには論理値０の出力を発生
する。第２の判定回路１９はα≦ΔP≦βのと
きには論理値１の出力を、これ以外のときには
論理値０の出力を発生する。そして第１、第２
の判定回路１８，１９から論理値１の印加があ
つたときに、類別回路２０は画面が上記(i)，(ii)
の状態にあつても、これに優先して、アナログ
スイツチ２２をオンにして第２の測光出力PM
をアペツクス演算回路２４に伝達する。 (2) 第３ｂ図において、画面はライカ判のカメラ
を想定して、中央領域Dc、右上方領域Dru、左
上方領域Dlu、右下方領域Drl、左下方領域Dllに
分割され、各々の光電出力がP0〜P4で表わさ
れている。各光電出力P0〜P4は上述同様に平
均値Pneaoと比較され、各領域は論理値１又は
０で表わされる。類別回路２０は、この組合わ
せが(i)中央領域Dcが０のとき、又は左右下方
領域Dll、Drlが０のとき、又は左上方領域Dluと
左下方領域Dllとが０のとき、又は右上方領域
Druと右下方領域Drlとが０のとき、（このとき
主要被写体は０の領域に存在する可能性が高い
ので）アナログスイツチ２３をオンにして第３
の測光出力PLをアペツクス演算回路２４に伝
達する。これ以外は(1)の項で述べた動作と同じ
である。この５分割の例はライカ判のカメラの
ように縦と横の撮影位置があることを考慮して
いる。 このようにして抽出された測光出力はアペツ
クス演算されて露出制御回路２５、露出表示回
路２６に印加される。尚、本実施例ではアペツ
クス演算を、測光出力抽出後に行つているが、
これに限定されるものではなく、光電出力を直
ちにアペツクス演算して回路１１〜１３、１７
に伝達するようにしてもよい。この時複数の光
電出力をアペツクス演算した後の出力レベルは
変化するが、各レベルの大小関係は変化しない
ので、前述同様の動作を行うことができる。そ
して第１〜第３の測光出力はBV値からTV値
あるいはAV値を表わすようになる。 更に、本実施例では第１〜第３の測光出力を
演算し、その演算結果を抽出しているが、例え
ば(1)〜(3)式の演算公式を選択するようにしても
同様のことが達成できる。それは、結果的に第
１〜第３の測光出力のうちいずれかひとつを選
択すればよいからである。 又、規格化は光電出力を２つのレベルに置換
するものに限定されるものではなく、例えば平
均値付近に基準レベルを２つ設け、各光電出力
をそれぞれの基準レベルについて２値化するこ
とにより平均値近傍の光電出力をもうひとつ別
のレベルに設定してもよい。 以下、各ブロツクの構成について説明する。 第４図は光電素子の一例で、複数個の光電素子
が並んでおり、フオト・ダイオード・アレイある
いはCCD等によつて構成することが出来る。た
だし必ずしもマトリツクス状になつている必要は
ない。この光電素子の出力の合成によつて上述の
分割領域における光電出力が得られる。 第５図は受光学系の一例である。３１は第４図
に示した複数個の光電素子であり、３２は撮影レ
ンズ、３３はミラー、３４はフイルム面、３５は
フアインダースクリーン、３６はフアインダー・
スクリーンに結像した被写体像を受光素子面に再
結像させるためのレンズである。 以上の構成により、撮影するシーンの各部の明
るさを測定することが出来、独立な複数の測光情
報をとりだせる。 第６ａ図は最大値検出回路１１の回路例を、ま
た第６ｂ図は最小値検出回路１３の回路例をそれ
ぞれ示す。これらの回路はOPアンプと理想ダイ
オードとを使用したそれ自体公知の回路である。 第７図は、抵抗ｒ、ｒ／ｎとOPアンプA1とで
平均値検出回路１２を構成したもので、OPアン
プの出力として（P1＋P2……Po-1）／ｎ＝Pneao
なる出力が得られる。 第８図は、演算回路１４，１５，１６の回路例
であり、フオロワーA10〜A12と分圧抵抗R1〜R4
とから構成され、第１〜第３の測光出力PH、PM、
PLは分圧比の調整によつて前記(1)、(2)、(3)式を
満足すべく得ることができる。 第９図は２値化回路１７、類別回路２０の回路
例である。同図は画面を第３ｂ図のように５分割
した場合の実施例である。 コンパレータC1の同相入力端子には定数P2に
対応する入力が、またコンパレータC2の反転入
力端子には定数Pβに対応する入力がそれぞれ印
加されている。一方、コンパレータC3の同相入
力端子には定数αに対応する入力が、またコンパ
レータC4の反転入力端子には定数βに対応する
入力がそれぞれ印加されている。光電出力P0〜
P4を同相入力とするコンパレータC7〜C11の反転
入力にはPneao−δL相当の基準入力が印加されて
いる。このδL相当のレベルダウンは光電出力P0〜
P4の低輝度側についての２値化をより確実に行
うためのものである。光電出力P0を同相入力と
するコンパレータC6の反転入力にはPneao＋δH相
当の基準入力が印加されている。このδH相当のレ
ベルアツプは光電出力P0の高輝度側についての
２値化をより確実にするためのものである。 最大値PnaxはコンパレータC1の反転入力端子と
コンパレータC2の同相入力端子に入力する。輝
度差ΔPはコンパレータC3の反転入力端子とコン
パレータC4の同相入力端子に入力する。コンパ
レータC1〜C4の出力はアンドゲートAND１に入
力する。アンドゲートAND１の出力が１になる
ときはコンパレータC1〜C4の出力が皆１を示す
ときで、 Pα≦Pnax≦Pβ ……(7)(a) かつ、 α≦ΔP≦β ……(7)(b) が成立つ時である。アンドゲートAND１の出力
をＭフラグとする。Ｍフラグが１のときオアゲー
トOR１の出力は１になり、アナログスイツチ２
２をオンして第２の測光出力PMが選択される。
というのは(7)(b)式が成立つことはある程度輝度差
があることを示しているが、(7)(a)式が成立つ場
合、すなわち最大値がある範囲におさまつている
ときは、逆光状態になく、平均値付近に適正露出
レベルが存在するからである。 光電出力P0はコンパレータC6とC7の同相入力
端子に入力し、以下光電出力P1，P2，P3および
P4はコンパレータC8，C9，C10、およびC11の同
相入力端子に入力する。又コンパレータC6の反
転入力端子には平均値を一定値レベルアツプした
出力Pneao＋δHが入力する。コンパレータC6の出
力が１になるのは中央領域Dcの光電出力P0が平
均値Pneaoより識別出来る位（δHだけ）高い場合
で、撮影画面の中央部が明部になつていることを
示している。一方コンパレータC7〜C11の反転入
力端子には平均値を一定値レベルダウンした出力
Pneao−δLが入力している。コンパレータC7〜C11
の出力が０になるときには、光電出力P0〜P4が
平均値Pneaoより識別出来る位（δLだけ）低い場
合で、光電出力P0〜P4の対応する画面が暗部に
なつていることを示している。なお、コンパレー
タC6，C7から明らかなように、P0については平
均値付近の２つの基準レベルについて、それぞれ
２値化を行つて規格化していることになる。 アンドゲートAND２にはコンパレータC6，
C9，C10の出力とＭフラグのインバータINV１に
よつて反転された出力が入力する。アンドゲート
AND２の出力が１になるのは、
し、該複数の領域に対応した複数の光電出力から
適正露出を決定するための適正測光出力を抽出す
るマルチ測光装置に関する。 従来この種の測光装置として、複数の光電出力
のうち最大値と最小値との相加平均値を適正測光
出力とするもの（実公昭51―9271号）や、該最大
値と算小値との中間値を撮影者が手動によつて抽
出し、この中間値を適正測光出力するもの（特開
昭53―17725号）がある。 ところが、これら従来装置には次のような欠点
がある。すなわち前者においては相加平均値が常
に適正測光出力とされているので、逆光撮影や雪
山での撮影のような特殊な被写界条件のときには
露出オーバー、アンダーになつてしまうという欠
点がある。また後者においては前述の特殊な被写
界条件のときに中間値を設定するには熟練を要す
るのみならず、設定操作が手動なのでこれをカメ
ラに装備したときには操作性の低下を免れない。 さらに、光電出力の最大値と最小値の差がある
値を超えたか否かにより、露出決定のモードを変
換するもの（特開昭52―12828号）があるが、単
に画面内の輝度差だけでは被写体の状態の判断は
不可能であることが多い。例えば太陽が写し込ま
れる逆光シーンと、スポツトライトの舞台写真で
は、画面内の輝度差は同程度でも、露出決定方式
を異ならしめなければ適正露出は得られない。こ
の時は画面内の最大輝度値を判断の材料に用い、
その高輝度がどのような種類の被写体によつて生
じているのかを判断する必要がある。 本発明の目的は、複数の光電出力に基づいて被
写界の状況を分析して特殊な被写界条件と一般的
な被写界条件とを識別し、特に一般的な被写界条
件に適した適正露光を得るための適正測光出力を
自動的に抽出するよう成したマルチ測光装置を提
供することである。 本発明によれば、被写界を複数の領域に分割し
て測光して複数の光電出力を発生し、前記複数の
光電出力の最大値をPnax、前記最小値をPnioとし
たときに、Pα≦Pnax≦Pβ（但しPα、Pβは定数）
とα≦Pnax−Pnio≦β（但し、α、βは定数）と
を満足したときに前記光電出力の平均的な値に対
応した測光出力を演算抽出することを特徴とする
マルチ測光装置が提供される。 以下、被写界（以下、画面と称す。）を底面と
し、画面の各部の輝度を高さ（縦軸）として、画
面と画面の各部の輝度とを立体図形として表わし
た第１図によつて本発明の基本的考え方を述べ
る。 第１ａ図において、底面S0に示すような画面を
考えたとき、画面の輝度はひとつの曲面S1を決定
する。実際には、有限個の光電素子で測光するの
で捉え得る曲面は、光電素子と同数以下の平面の
集合になる。例えば、４個の光電素子で画面を上
下、左右に分割した場合、画面の輝度を示す曲面
は第１ｂ、ｃ図に量子化面S2〜S4で示されるよう
に量子化されて段階状になる。量子化面S2とS4と
を比較した場合、量子化面を構成している輝度の
絶対レベルは同一であるがそれらの画面上での位
置は異なるので、どの輝度に対して適正露出を得
るかの判断も異なる。また、量子化面S2とS3とを
比較した場合、隣り合う輝度間のレベル差は等し
いが、両量子化面間の輝度の絶対値が異なるの
で、適正露出を得る判断も異なつてくる。今、あ
らゆる条件のもとにおける撮影画面を輝度に関す
る情報と位置に関する情報とにより複数のカテゴ
リーに類別し、その各々のカテゴリーにおいてど
の輝度に対して露出制御を行えば全体として適正
露出が得られるかの対応をつける。すると、ある
条件下の画面において、露出制御を行うべき輝度
を、輝度に関する情報と位置に関する情報とから
得ることができるようになる。 事実、種々の条件下の画面について上記対応づ
けを行つた結果、適正露出の写真を得るために露
光制御を行うべき輝度が次のような３つのレベル
に収束するということが判明した。即ち、第１の
輝度レベルは、複数の測光出力のうち最大値とこ
れら測光出力の平均的な値との間に存在し、第２
の輝度レベルはこれら測光出力の平均的な値とほ
ぼ一致するレベルであり、また第３の輝度レベル
はこれらの測光出力の最小値とこれら測光出力の
平均的な値との間に存在することが判明した。こ
の平均的な値は、平均値、中央値あるいは最頻値
で近似することができる。 以上のことから、複数の光電出力の平均的な値
と各光電出力とを比較して各分割された画面にお
ける輝度を規格化すれば各画面の位置の情報と輝
度の情報を同時に得ることができるようになる。
従つてこの規格化出力に基づきパターン分析して
画面の状態を検出し、この検出結果と上記３つの
輝度レベルとを実験的あるいは経験的に対応させ
れば種々の条件下の画面に対する露出制御すべき
輝度レベルを選択することができる。 一方、パターン分析とは無関係に露出制御すべ
き輝度レベルが定まることがある。それは最大輝
度と最小輝度との差が所定の範囲内にあつて、画
面内の輝度のバラツキが少なく、かつ最大輝度が
所定の範囲内に存在し、画面内に太陽を含む明る
い光源やスポツトライトのような人工光源が存在
していないと判断できる場合である。このときに
は上記第２の輝度レベルに対して露出調節を行う
と良好な結果が得られることが判明している。 以下、本発明を実施例に基づき説明する。第２
図は本発明の実施例を示すブロツク図である。同
図において；測光回路１０は被写界を複数に分割
した各領域を測光するための光電変換素子を含
み、被写界の各領域に対応した独立のアナログ光
電出力P0〜Po-1を出力する。この光電出力P0〜
Po-1は対数圧縮されているものとし、従つて光電
出力はBV値で表わされる。最大値検出回路１１
は光電出力P0〜Po-1を入力とし、これらの中から
最大値Pnaxを検出する。平均的値検出回路１２は
光電出力P0〜Po-1を入力とし、これらの平均的
値、例えば平均値Pneaoを検出する。最小値検出
回路１３は光電出力P0〜Po-1を入力とし、これら
の中から最小値Pnioを検出する。演算回路１４は
最大値Pnaxと平均値Pneaoとを入力として第１の
測光出力PH（BV）、即ち PH＝k1Pnax＋（１−k1）Pneao ……(1) を発生する。演算回路１５は第２の測光出力PM
（BV）、即ち PM＝Pneao ……(2) を発生するが、実際上平均的値検出回路１２と兼
用できる。演算回路１６は最小値Pnioと平均値
Pneaoとを入力として第３の測光出力PL（BV）、
即ち PL＝k2Pnio＋（１−k2）Pneao ……(3) を発生する。 以上に述べた回路１１〜１６は適正測光出力発
生回路を構成する。 ２値化回路１７は規格化を行う部分であり、光
電出力P0〜Po-1と平均値Pneaoとを入力とし、平
均値Pneaoに基づいて発生された基準出力と測光
出力P0〜Po-1とを比較して各光電出力を論理出力
に変換する。ここで規格化とは複数の光電出力の
平均的な値に対しての各光電出力の大小関係を検
出し、その大小に応じて各光電出力を特定の信号
に置換することである。 具体的には、実施例においてｉ番目の位置の出
力Piと平均値Pneaoの比較を行ない、Pi≧Pneaoで
あれば１、Pi＜Pneaoであれば０としている。規
格化出力が１であれば、ｉ番目の位置が平均より
明るい部分であることを示し、０であれば暗い部
分であることを示すことになる。すなわち、前述
の規格化は２値化の形をとつている。 又、次のようにすることも出来る。全体の明る
さを、明るい部分、暗い部分、中間の部分に分け
るために平均値Pneaoに基づく基準出力として
Pneao＋δH、Pneao−δLを設定し、この２つの基準
レベルに対して、それぞれ２値化を行なう方法で
ある。すなわち、 Pi＞Pneao＋δHが成り立つときが１、 Pi≦Pneao＋δHが成り立つときが０、またPi≧
Pneao−δLのとき１、Pi＜Pneao−δLのとき０とす
る。この場合ｉ番目の位置の２値化出力は２つ
（2bit）になる。 Pneao＋δH、Pneao−δLの比較の順に出力を並べ
たとき、出力が１１ならば明るい部分を示し、０
０ならば暗い部分を示し、０１ならば中間の平均
値に近い部分を示す（１０の場合は存在しない）。
このようにその位置の明るさを３段階に分けるこ
とにより、より高度なパターン分析が可能とな
る。 もちろん２値化回路を４段階以上に分けるもの
とすることも可能であるし、位置に応じて分け方
を変えてもよい。 次に第１の判定回路１８は最大値Pnaxを入力と
して、Pα≦Pnax≦Pβ（但し、Pα、Pβは定数） の判定を行い、その判定結果を表す論理出力を発
生する。もちろん第１の判定回路１８はPα、Pβ
に対応した基準出力を発生する回路を含む。この
判定動作は最大値Pnaxが太陽を含む明るい光源あ
るいはスポツトライトのような人工光源によるも
のかを識別するために行われる。すなわち最大値
Pnaxが太陽等のような高輝度ではなく、人工光源
等によつて照明されたシーンのような低い輝度の
ものでもないことを判別する。第２の判定回路１
９は最大値Pnaxと最小値Pnioを入力として、 ΔP＝Pnax−Pnio ……(5) の演算を行い、それから α≦ΔP≦β（但し、α、βは定数） ……(6) の判定を行い、その判定結果を表わす論理出力を
発生する。もちろん定数α、βに対応した基準出
力を発生する回路は第２の判定回路１９に含まれ
ている。この判定動作は、画面内の輝度分布を判
定し、例えば輝度分布が大きいときに低輝度側に
主要被写体があるといつて低輝度側に露出を合わ
せると高輝度側がとんだり、またその逆に高輝度
側に主要被写体があるといつて高輝度側に露出を
合わせると低輝度側がつぶれるといつた現象を防
止するために行われる。すなわちαとβの値を適
当に設定することによつて高輝度部分と低輝度部
分の濃淡をともに表現できる輝度差であるか否か
を判別している。 類別回路２０は、回路１７，１８，１９からの
露理出力を入力として、これら論理出力の組合わ
せ論理が所定のカテゴリーのいずれに属するかを
決定する。即ち類別する。この所定のカテゴリー
は３つに分けられ、各カテゴリーに対応した制御
出力が選択的に発生される。回路１４，１５，１
６とアペツクス演算回路２４との間にそれぞれ接
続されアナログスイツチ２１，２２，２３は類別
回路２０の制御出力によつて第１ないし第３の測
光出力のうちから類別されたカテゴリーに対応し
た出力を選択し、アペツクス演算回路２４に伝達
する。 アペツクス演算回路２４は選択された測光出力
と情報設定部２７からの他の露出因子とによつて
適正露出値（シヤツタ速度や絞り値）に対応した
出力を発生し、これを公知の露出制御回路２５及
び露出表示回路２６に印加する。 次に動作と共に類別回路２０による類別の態様
を、画面を３分割及び５分割して測光した場合に
ついて説明する。第３ａ，ｂ図は画面の分割状況
と、分割された各領域の光電出力とを示す。 (1) 第３ａ図において画面は６×６判のカメラを
想定して中央領域Dc、上方領域Du、下方領域
Dlに分割され、各々の光電出力がP0〜P2で表
わされている。 各光電出力P0〜P2は平均値Pneao（＝（P0＋P1
＋P2）／３）と比較され、各領域はP0〜P2≧
Pneaoのときには論理値１で表わされ、またP0
〜P2＜Pneaoのときには論理値０で表わされる。
類別回路２０はこの論理値の組合わせが、(i)中
央領域Dcが０のとき、又は下方領域Dlが０の
とき（このとき主要被写体は領域Dc又はDlに
存在する可能性が高いので）アナログスイツチ
２３をオンにして第３の測光出力PLをアペツ
クス演算回路２４に伝達する。(ii)中央領域Dc
が１のとき（このとき主要被写体は領域Dcに
存在する可能性が高いので）アナログスイツチ
２１をオンにして第１の測光出力PHをアペツ
クス演算回路２４に伝達する。 一方、第１の判定回路１８は Pα≦Pnax≦Pβのときには論理値１の出力を、
またこれ以外のときには論理値０の出力を発生
する。第２の判定回路１９はα≦ΔP≦βのと
きには論理値１の出力を、これ以外のときには
論理値０の出力を発生する。そして第１、第２
の判定回路１８，１９から論理値１の印加があ
つたときに、類別回路２０は画面が上記(i)，(ii)
の状態にあつても、これに優先して、アナログ
スイツチ２２をオンにして第２の測光出力PM
をアペツクス演算回路２４に伝達する。 (2) 第３ｂ図において、画面はライカ判のカメラ
を想定して、中央領域Dc、右上方領域Dru、左
上方領域Dlu、右下方領域Drl、左下方領域Dllに
分割され、各々の光電出力がP0〜P4で表わさ
れている。各光電出力P0〜P4は上述同様に平
均値Pneaoと比較され、各領域は論理値１又は
０で表わされる。類別回路２０は、この組合わ
せが(i)中央領域Dcが０のとき、又は左右下方
領域Dll、Drlが０のとき、又は左上方領域Dluと
左下方領域Dllとが０のとき、又は右上方領域
Druと右下方領域Drlとが０のとき、（このとき
主要被写体は０の領域に存在する可能性が高い
ので）アナログスイツチ２３をオンにして第３
の測光出力PLをアペツクス演算回路２４に伝
達する。これ以外は(1)の項で述べた動作と同じ
である。この５分割の例はライカ判のカメラの
ように縦と横の撮影位置があることを考慮して
いる。 このようにして抽出された測光出力はアペツ
クス演算されて露出制御回路２５、露出表示回
路２６に印加される。尚、本実施例ではアペツ
クス演算を、測光出力抽出後に行つているが、
これに限定されるものではなく、光電出力を直
ちにアペツクス演算して回路１１〜１３、１７
に伝達するようにしてもよい。この時複数の光
電出力をアペツクス演算した後の出力レベルは
変化するが、各レベルの大小関係は変化しない
ので、前述同様の動作を行うことができる。そ
して第１〜第３の測光出力はBV値からTV値
あるいはAV値を表わすようになる。 更に、本実施例では第１〜第３の測光出力を
演算し、その演算結果を抽出しているが、例え
ば(1)〜(3)式の演算公式を選択するようにしても
同様のことが達成できる。それは、結果的に第
１〜第３の測光出力のうちいずれかひとつを選
択すればよいからである。 又、規格化は光電出力を２つのレベルに置換
するものに限定されるものではなく、例えば平
均値付近に基準レベルを２つ設け、各光電出力
をそれぞれの基準レベルについて２値化するこ
とにより平均値近傍の光電出力をもうひとつ別
のレベルに設定してもよい。 以下、各ブロツクの構成について説明する。 第４図は光電素子の一例で、複数個の光電素子
が並んでおり、フオト・ダイオード・アレイある
いはCCD等によつて構成することが出来る。た
だし必ずしもマトリツクス状になつている必要は
ない。この光電素子の出力の合成によつて上述の
分割領域における光電出力が得られる。 第５図は受光学系の一例である。３１は第４図
に示した複数個の光電素子であり、３２は撮影レ
ンズ、３３はミラー、３４はフイルム面、３５は
フアインダースクリーン、３６はフアインダー・
スクリーンに結像した被写体像を受光素子面に再
結像させるためのレンズである。 以上の構成により、撮影するシーンの各部の明
るさを測定することが出来、独立な複数の測光情
報をとりだせる。 第６ａ図は最大値検出回路１１の回路例を、ま
た第６ｂ図は最小値検出回路１３の回路例をそれ
ぞれ示す。これらの回路はOPアンプと理想ダイ
オードとを使用したそれ自体公知の回路である。 第７図は、抵抗ｒ、ｒ／ｎとOPアンプA1とで
平均値検出回路１２を構成したもので、OPアン
プの出力として（P1＋P2……Po-1）／ｎ＝Pneao
なる出力が得られる。 第８図は、演算回路１４，１５，１６の回路例
であり、フオロワーA10〜A12と分圧抵抗R1〜R4
とから構成され、第１〜第３の測光出力PH、PM、
PLは分圧比の調整によつて前記(1)、(2)、(3)式を
満足すべく得ることができる。 第９図は２値化回路１７、類別回路２０の回路
例である。同図は画面を第３ｂ図のように５分割
した場合の実施例である。 コンパレータC1の同相入力端子には定数P2に
対応する入力が、またコンパレータC2の反転入
力端子には定数Pβに対応する入力がそれぞれ印
加されている。一方、コンパレータC3の同相入
力端子には定数αに対応する入力が、またコンパ
レータC4の反転入力端子には定数βに対応する
入力がそれぞれ印加されている。光電出力P0〜
P4を同相入力とするコンパレータC7〜C11の反転
入力にはPneao−δL相当の基準入力が印加されて
いる。このδL相当のレベルダウンは光電出力P0〜
P4の低輝度側についての２値化をより確実に行
うためのものである。光電出力P0を同相入力と
するコンパレータC6の反転入力にはPneao＋δH相
当の基準入力が印加されている。このδH相当のレ
ベルアツプは光電出力P0の高輝度側についての
２値化をより確実にするためのものである。 最大値PnaxはコンパレータC1の反転入力端子と
コンパレータC2の同相入力端子に入力する。輝
度差ΔPはコンパレータC3の反転入力端子とコン
パレータC4の同相入力端子に入力する。コンパ
レータC1〜C4の出力はアンドゲートAND１に入
力する。アンドゲートAND１の出力が１になる
ときはコンパレータC1〜C4の出力が皆１を示す
ときで、 Pα≦Pnax≦Pβ ……(7)(a) かつ、 α≦ΔP≦β ……(7)(b) が成立つ時である。アンドゲートAND１の出力
をＭフラグとする。Ｍフラグが１のときオアゲー
トOR１の出力は１になり、アナログスイツチ２
２をオンして第２の測光出力PMが選択される。
というのは(7)(b)式が成立つことはある程度輝度差
があることを示しているが、(7)(a)式が成立つ場
合、すなわち最大値がある範囲におさまつている
ときは、逆光状態になく、平均値付近に適正露出
レベルが存在するからである。 光電出力P0はコンパレータC6とC7の同相入力
端子に入力し、以下光電出力P1，P2，P3および
P4はコンパレータC8，C9，C10、およびC11の同
相入力端子に入力する。又コンパレータC6の反
転入力端子には平均値を一定値レベルアツプした
出力Pneao＋δHが入力する。コンパレータC6の出
力が１になるのは中央領域Dcの光電出力P0が平
均値Pneaoより識別出来る位（δHだけ）高い場合
で、撮影画面の中央部が明部になつていることを
示している。一方コンパレータC7〜C11の反転入
力端子には平均値を一定値レベルダウンした出力
Pneao−δLが入力している。コンパレータC7〜C11
の出力が０になるときには、光電出力P0〜P4が
平均値Pneaoより識別出来る位（δLだけ）低い場
合で、光電出力P0〜P4の対応する画面が暗部に
なつていることを示している。なお、コンパレー
タC6，C7から明らかなように、P0については平
均値付近の２つの基準レベルについて、それぞれ
２値化を行つて規格化していることになる。 アンドゲートAND２にはコンパレータC6，
C9，C10の出力とＭフラグのインバータINV１に
よつて反転された出力が入力する。アンドゲート
AND２の出力が１になるのは、
【表】
が成立ち、Ｍフラグが０のときである。このよう
な状態は、中央領域Dcが明るく、上半分の領域
Dru、Dluが暗い場合で、スポツトライト的な状態
である。それ故、(8)式が主要被写体が明部にある
ことを判断する条件になる。アンドゲートAND
２の出力をＨフラグとする。今Ｈフラグが１のと
き即ちコンパレータC9，C10が１を出力しインバ
ータINV１が１を出力しているときにはアナロ
グスイツチ２１がオンされて第１の測光出力PH
が抽出される。 アンドゲートAND２の出力をＨフラグとする。
Ｈフラグが１のときにはアナログスイツチ２１が
オンされて、第１の測光出力PHが選択される。
C7の出力はインバータINV３に入る。今、 P0＜Pneao−δL（中央の領域Dcが暗部） ……(9) が成立つ場合コンパレータC7の出力は０でイン
バータINV３の出力は１になる。 又、コンパレータC8とC9の出力はノアゲート
NOR１に入る。
な状態は、中央領域Dcが明るく、上半分の領域
Dru、Dluが暗い場合で、スポツトライト的な状態
である。それ故、(8)式が主要被写体が明部にある
ことを判断する条件になる。アンドゲートAND
２の出力をＨフラグとする。今Ｈフラグが１のと
き即ちコンパレータC9，C10が１を出力しインバ
ータINV１が１を出力しているときにはアナロ
グスイツチ２１がオンされて第１の測光出力PH
が抽出される。 アンドゲートAND２の出力をＨフラグとする。
Ｈフラグが１のときにはアナログスイツチ２１が
オンされて、第１の測光出力PHが選択される。
C7の出力はインバータINV３に入る。今、 P0＜Pneao−δL（中央の領域Dcが暗部） ……(9) が成立つ場合コンパレータC7の出力は０でイン
バータINV３の出力は１になる。 又、コンパレータC8とC9の出力はノアゲート
NOR１に入る。
【表】
が成立つ場合、コンパレータC8，C9の出力は共
に０でノアゲートNOR１の出力は１になる。以
下同様に
に０でノアゲートNOR１の出力は１になる。以
下同様に
【表】
および
【表】
が成立つ場合、それぞれノアゲートNOR２、
NOR３の出力は１になる。インバータINV３お
よびノアゲートNOR１〜NOR３の出力はオアゲ
ートOR３に入力し、いずれかの出力が１であれ
ばオアゲートOR３の出力は１となる。すなわ
ち、(9)〜(12)式のいずれかが成立てばオアゲート
OR３の出力は１になるということである。(9)式
が成立つ場合は、主要被写体がある確率の高い画
面中央部が暗部になつている場合であり、低輝度
側に露出を合わせた方がよい。 しかし逆に画面中央部が明るくても、バツクの
明るさによる場合も多く、必らずしも主要被写体
が明部にあるとは判断出来ない。むしろ逆光のよ
うな場合、主要被写体の明るさは画面下側の部分
の明るさに近くなる。よつて(11)式が成り立つ場
合、主要被写体が暗部にあると判断し、第３の測
光出力PLを選択した方がよい。(10)，(12)式が成立
つ場合は、カメラを縦位置に構えて撮影した場合
と考えられる。以上のように(9)〜(12)式のそれぞれ
が主要被写体が暗部にあることを判断する条件に
なる。そしてこのときオアゲートOR３の出力が
１になる。このときアンドゲートAND１のＭフ
ラグが０であれば、即ち７(a)(b)式を満足しなけれ
ばインバータINV１は１を出力する。そのため
アンドゲートAND３は１を出力しアナログスイ
ツチ２３をオンにして第３の測光出力PLを抽出
する。 ノアゲートNOR４には、Ｈ、Ｌフラグが入力
し、いずれも０の場合１になる。それは、主要被
写体が明部にあるとも暗部にあるとも判別されな
かつた場合である。このときオアゲートOR１の
出力は１となりアナログスイツチ２２をオンして
第２の測光出力PMが選択される。 上述の実施例において、要素１１は検出手段
を、要素１８は判別手段を、要素１５は平均出力
発生手段を、要素２０，２２は測光出力発生手段
をそれぞれ構成している。 以上詳述した如く本発明は、複数の光電出力の
最大値Pnaxが或る所定値Pβともうひとつの所定
値Pαとの間の所定の範囲にあることを判別する
ことにより、複数の光電出力の平均的な値PMを
測光出力として出力して露出を制御するものであ
る。したがつて本発明はこれにより昼間の一般的
な野外の撮影シーンを判別し、このシーンに対す
る適正露出を自動的に得ることができる。 尚、実施例の如く、複数の光電出力の最大値と
最小値との差ΔPが或る所定値βともうひとつの
所定値αとの間の所定範囲にあることをさらに判
別し、この判別と上述した最大値が所定範囲に存
在することの判別とがなされた場合に、前記平均
的な値PMを測光出力として出力するように構成
すれば、上記撮影シーンに存在する高輝度部分及
び低輝度部分のいずれに関してもその濃淡を表現
することが可能となる。
NOR３の出力は１になる。インバータINV３お
よびノアゲートNOR１〜NOR３の出力はオアゲ
ートOR３に入力し、いずれかの出力が１であれ
ばオアゲートOR３の出力は１となる。すなわ
ち、(9)〜(12)式のいずれかが成立てばオアゲート
OR３の出力は１になるということである。(9)式
が成立つ場合は、主要被写体がある確率の高い画
面中央部が暗部になつている場合であり、低輝度
側に露出を合わせた方がよい。 しかし逆に画面中央部が明るくても、バツクの
明るさによる場合も多く、必らずしも主要被写体
が明部にあるとは判断出来ない。むしろ逆光のよ
うな場合、主要被写体の明るさは画面下側の部分
の明るさに近くなる。よつて(11)式が成り立つ場
合、主要被写体が暗部にあると判断し、第３の測
光出力PLを選択した方がよい。(10)，(12)式が成立
つ場合は、カメラを縦位置に構えて撮影した場合
と考えられる。以上のように(9)〜(12)式のそれぞれ
が主要被写体が暗部にあることを判断する条件に
なる。そしてこのときオアゲートOR３の出力が
１になる。このときアンドゲートAND１のＭフ
ラグが０であれば、即ち７(a)(b)式を満足しなけれ
ばインバータINV１は１を出力する。そのため
アンドゲートAND３は１を出力しアナログスイ
ツチ２３をオンにして第３の測光出力PLを抽出
する。 ノアゲートNOR４には、Ｈ、Ｌフラグが入力
し、いずれも０の場合１になる。それは、主要被
写体が明部にあるとも暗部にあるとも判別されな
かつた場合である。このときオアゲートOR１の
出力は１となりアナログスイツチ２２をオンして
第２の測光出力PMが選択される。 上述の実施例において、要素１１は検出手段
を、要素１８は判別手段を、要素１５は平均出力
発生手段を、要素２０，２２は測光出力発生手段
をそれぞれ構成している。 以上詳述した如く本発明は、複数の光電出力の
最大値Pnaxが或る所定値Pβともうひとつの所定
値Pαとの間の所定の範囲にあることを判別する
ことにより、複数の光電出力の平均的な値PMを
測光出力として出力して露出を制御するものであ
る。したがつて本発明はこれにより昼間の一般的
な野外の撮影シーンを判別し、このシーンに対す
る適正露出を自動的に得ることができる。 尚、実施例の如く、複数の光電出力の最大値と
最小値との差ΔPが或る所定値βともうひとつの
所定値αとの間の所定範囲にあることをさらに判
別し、この判別と上述した最大値が所定範囲に存
在することの判別とがなされた場合に、前記平均
的な値PMを測光出力として出力するように構成
すれば、上記撮影シーンに存在する高輝度部分及
び低輝度部分のいずれに関してもその濃淡を表現
することが可能となる。
第１図は被写界（画面）の各部の輝度分布を示
す図、第２図は本発明の実施例を示すブロツク
図、第３図は画面の分割状況を示す図、第４図は
光電素子アレイの例を示す図、第５図は受光光学
系の例を示す図、第６図は最大値と最小値検出回
路の例を示す図、第７図は平均値検出回路の例を
示す図、第８図は演算回路の例を示す図、及び第
９図は２値化回路と類別回路の例を示す図であ
る。 主要部分の符号の説明、測光回路……１０、適
正測光出力発生回路……１１〜１６、規格化（２
値化）回路……１７、類別・抽出回路……２０〜
２３。
す図、第２図は本発明の実施例を示すブロツク
図、第３図は画面の分割状況を示す図、第４図は
光電素子アレイの例を示す図、第５図は受光光学
系の例を示す図、第６図は最大値と最小値検出回
路の例を示す図、第７図は平均値検出回路の例を
示す図、第８図は演算回路の例を示す図、及び第
９図は２値化回路と類別回路の例を示す図であ
る。 主要部分の符号の説明、測光回路……１０、適
正測光出力発生回路……１１〜１６、規格化（２
値化）回路……１７、類別・抽出回路……２０〜
２３。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １ 被写界を複数の領域に分割して測光し各領域
の輝度にそれぞれ対応した複数の光電出力を得る
とともに、該複数の光電出力から１つの測光出力
を導き出し該測光出力を露出制御を行なう為に出
力するマルチ測光装置において、 前記複数の光電出力のうちの最大値（例えば、
Pnax）を検出する検出手段（例えば、１１）と、 前記最大値が、大きな輝度値を示す第１の所定
値（例えば、Pβ）と該大きな輝度値よりも所定
量小さい輝度値（例えば、Pα）を示す第２の所
定値との間にあることを判別し、判別出力を発す
る判別手段（例えば、１８）と、 前記複数の光電出力より該複数の光電出力の平
均的な値（例えば、PM）を発生する平均出力発
生手段（例えば、１５）と、 前記判別手段の判別出力により、前記平均的な
値を測光出力として出力する測光出力発生手段
（例えば、２０，２２）と を有することを特徴とするマルチ測光装置。
Priority Applications (5)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2302079A JPS55114916A (en) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | Multi-photometry unit |
| FR8004477A FR2462692A1 (fr) | 1979-02-28 | 1980-02-28 | Dispositif de mesure multiple du champ objet d'un appareil de prise de vues |
| GB8006723A GB2047415B (en) | 1979-02-28 | 1980-02-28 | Photometric multi-metering device |
| DE3007575A DE3007575C2 (de) | 1979-02-28 | 1980-02-28 | Berechnungsvorrichtung für einen optimalen Belichtungswert |
| US06/391,864 US4476383A (en) | 1979-02-28 | 1982-06-24 | Photometering device for obtaining exposure information |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP2302079A JPS55114916A (en) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | Multi-photometry unit |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS55114916A JPS55114916A (en) | 1980-09-04 |
| JPS637331B2 true JPS637331B2 (ja) | 1988-02-16 |
Family
ID=12098793
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP2302079A Granted JPS55114916A (en) | 1979-02-28 | 1979-02-28 | Multi-photometry unit |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS55114916A (ja) |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5317725A (en) * | 1976-08-03 | 1978-02-18 | Minolta Camera Co Ltd | Exposure meter |
-
1979
- 1979-02-28 JP JP2302079A patent/JPS55114916A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5317725A (en) * | 1976-08-03 | 1978-02-18 | Minolta Camera Co Ltd | Exposure meter |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS55114916A (en) | 1980-09-04 |
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