JPS6239366B2 - - Google Patents

Info

Publication number
JPS6239366B2
JPS6239366B2 JP2302179A JP2302179A JPS6239366B2 JP S6239366 B2 JPS6239366 B2 JP S6239366B2 JP 2302179 A JP2302179 A JP 2302179A JP 2302179 A JP2302179 A JP 2302179A JP S6239366 B2 JPS6239366 B2 JP S6239366B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
output
circuit
outputs
photoelectric
brightness
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP2302179A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS55114919A (en
Inventor
Tooru Fukuhara
Takashi Saegusa
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Nikon Corp
Original Assignee
Nippon Kogaku KK
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Nippon Kogaku KK filed Critical Nippon Kogaku KK
Priority to JP2302179A priority Critical patent/JPS55114919A/ja
Priority to DE3007575A priority patent/DE3007575C2/de
Priority to FR8004477A priority patent/FR2462692A1/fr
Priority to GB8006723A priority patent/GB2047415B/en
Publication of JPS55114919A publication Critical patent/JPS55114919A/ja
Priority to US06/391,864 priority patent/US4476383A/en
Publication of JPS6239366B2 publication Critical patent/JPS6239366B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01JMEASUREMENT OF INTENSITY, VELOCITY, SPECTRAL CONTENT, POLARISATION, PHASE OR PULSE CHARACTERISTICS OF INFRARED, VISIBLE OR ULTRAVIOLET LIGHT; COLORIMETRY; RADIATION PYROMETRY
    • G01J1/00Photometry, e.g. photographic exposure meter
    • G01J1/42Photometry, e.g. photographic exposure meter using electric radiation detectors

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
  • Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】
本発明は、被写界を複数の領域に分割して測光
し、該領域に対応した複数の光電出力から画面全
体の適正露出を決定するための適正測光出力を抽
出するマルチ測光装置の改良に関する。 被写界を複数の領域に分割して測光する理由と
しては、逆光状態での撮影においても適正露出を
得ることがあげられる。しかし画面内に太陽等の
高輝度部が入り込むと、従来装置ではかなり露出
アンダーな写真になつていた。それは高輝度部が
画面一部分にしかないとしても主要被写体よりも
輝度の絶対量が大きく、両者の輝度を平均しても
主要被写体の輝度よりその平均値はかなり大きく
なつてしまうからである。 一方、複数の領域に対応する複数の光電出力を
得る場合、画面の一部は測光下限以下であるが、
残りの部分については測光可能なことがある。例
えば、被写体がスポツトライトで照明されている
ような場合である。これに対して従来装置はほと
んど無力であつた。 更に、画面内のコントラストが高い場合に、高
輝度部あるいは低輝度部に対して露出を制御する
と、低輝度部あるいは高輝度部がつぶれた写真が
できてしまい観賞上不快感を与えるという欠点も
ある。 本発明の目的は、光電出力に基づいて被写界の
状況を分析し、前述のような特殊な条件下特に画
面のコントラストが高いときの被写界に対しても
適正測光出力が得られるように成つたマルチ測光
装置を提供することである。 本発明によれば被写界を複数の領域に分割して
測光し、該複数の領域に対応した複数の光電出力
を発生する測光回路と、 該複数の光電出力の最大値をPmax、平均的な
値をPmean、最小値をPminとしたとき、Pmax>
PH>Pmeanなる第1の測光出力PHと、Pmean≒
PMなる第2の測光出力PMと、Pmean>PL>
Pminなる第3の測光出力PLと、PHM=(PH+
PM)/2なる第4の測光出力PHMと、PLM=
(PM+PL)/2なる第5の測光出力PLMを発生
する適正測光出力発生回路と; 前記平均的な値に基づき、前記複数の光電出力
を規格化するための規格化回路と; 前記最大値と最小値とを入力としPmax−Pmin
≦(但しγは定数)を満足したときに出力を発生
する判定回路と; 前記規格化回路の出力の組合せ論理を、少なく
とも前記第1の測光出力を抽出する第1のカテゴ
リーと、前記第3の測光出力を抽出する第2のカ
テゴリーとに類別すると共に、前記判定回路の出
力を入力として、前記組合せ論理が第1のカテゴ
リーに類別されたときに前記判定回路の出力が入
力されると、前記第4の測光出力を演算抽出し、
また前記組合せ論理が第2のカテゴリーに類別さ
れたときに前記判定回路の出力が入力されると前
記第5の測光出力を演算抽出する抽出回路とを含
むことを特徴とするマルチ測光装置が得られる。 これによつて、画面のコントラストが高い場合
において、高輝度側又は低輝度側がつぶれない良
好な写真を得ることができるようになる。尚、こ
こで規格化とは、複数の光電出力の平均的な値、
例えば平均値に対する各光電出力の大小関係を検
出し、その大小に応じて各光電出力を特定の信号
に置換することである。そしてこの規格化によつ
て画面のどの位置に主要被写体があるのかを判別
することが可能になる。 以下、被写界(以下画面と称す。)を底面と
し、画面の各部の輝度を高さ(縦軸)として、画
面と画面の各部の輝度とを立体図形として表わし
た第1図によつて本発明の基本的考え方を述べ
る。第1a図において、底面S0に示すような画面
を考えたとき、画面の輝度はひとつの曲面S1を決
定する。実際には、有限側の光電素子で測光する
ので、捉え得る曲面は光電素子と同数以下の平面
の集合になる。例えば、4個の光電素子で画面を
上下、左右に分割した場合、画面の輝度を示す曲
面は第1b,c図に量子化面S2〜S4で示されるよ
うに量子化されて段階状になる。量子化面S2とS4
とを比較した場合、量子化面を構成している輝度
の絶対レベルは同一であるがそれらの画面上での
位置は異なるので、どの輝度に対して適正露出を
得るかの判断も異なる。また、量子化面S2とS3
を比較した場合、隣り合う輝度間のレベル差は等
しいが、両量子化面間の輝度の絶対値が異なるの
で、適正露出を得る判断も異なつてくる。今、あ
らゆる条件のもとにおける撮影画面を輝度に関す
る情報と位置に関する情報とにより複数のカテゴ
リーに類別し、その各々のカテゴリーにおいてど
の輝度に対して露出制御を行えば全体として適正
露出が得られるかの対応をつける。すると、ある
条件下の画面において、露出制御を行うべき輝度
を輝度に関する情報と位置に関する情報とから得
ることができるようになる。 事実、種々の条件下の画面について上記対応づ
けを行つた結果、適正露出の写真を得るために露
光制御を行うべき輝度が次のような3つのレベル
に収束するということが判明した。即ち、第1の
輝度レベルは、複数の測光出力のうち最大値とこ
れら測光出力の平均的な値との間に存在し、第2
の輝度レベルはこれら測光出力の平均的な値とほ
ぼ一致するレベルであり、また第3の輝度レベル
はこれらの測光出力の最小値とこれら測光出力の
平均的な値との間に存在することが判明した。こ
の平均的な値は、平均値、中央値あるいは最頻値
で近似することができる。 以上のことから、複数の光電出力の平均的な値
と各光電出力とを比較して、各分割された画面に
おける輝度を規格化すれば各画面の位置の情報と
輝度の情報を同時に得ることができるようにな
る。従つてこの規格化出力に基づきパターン分析
して画面の状態を検出し、この検出結果と上記3
つの輝度レベルとを実験的あるいは経験的に対応
させれば種々の条件下の画面に対する露出制御す
べき輝度レベルを選択することができる。 一方、パターン分析とは無関係に露出制御すべ
き輝度レベルが定まることがある。それは最大輝
度と最小輝度との差が所定の範囲内にあつて、画
面内の輝度のバラツキが少なく、かつ最大輝度が
所定の範囲内に存在し、画面内に太陽を含む明る
い光源スポツトライトのような人工光源が存在し
ていないと判断できる場合である。このときには
上記第2の輝度レベルに対して露出調節を行うと
良好な結果が得られることが判明している。 又、画面内に太陽に代表される高輝度部や測光
下限以下の低輝度部がある場合、上述の第1〜第
3の輝度レベルのレベル設定に際して高輝度部に
対応する最大値と、測光下限以下の低輝度部に対
応する最小値を無視し、又はこれら最大値、最小
値を画面内に存在する他の輝度に置換すれば極端
な高低輝度に影響されない適正露出な測光情報が
得られる。 更に、第1,第3の輝度レベルに露出を合せる
に際して最高輝度と最小輝度との差が所定値以上
あるときには両輝度レベルを第2の輝度レベルの
方へと補正を加えることにより、高輝度部あるい
は低輝度部がつぶれた写真ができないようにする
こともできる。 以下本発明を実施例に基づき説明する。第2図
は本発明の実施例を示すブロツク図である。同図
において、測光回路10は被写界を複数に分割し
た各領域を測光するための光電変換素子を含み、
被写界の各領域に対応した独立のアナログ光電出
力P0〜Po-1を出力する。この光電出力P0〜Po-1
はフイルム感度(SV)の情報と共に対数圧縮さ
れているものとし、従つて光電出力はEV値で表
わされる。第1の最大値検出回路100は光電出
力P0〜Po-1の中から最大値Pmaxoriginalを検出
する。また第1の最小値検出回路99は同じくP0
〜Po-1の中から最小値Pminoriginalを検出す
る。また、阻止回路101,102の説明のとこ
ろで後述するように、第2の最大値検出回路11
はアナログスイツチ103,104を介して光電
出力P0〜Po-1のうち閾値レベルをこえないもの
を入力とし、これらの中から最大値Pmaxを検出
する。平均的値検出回路12はアナログスイツチ
105,106を介して光電出力P0〜Po-1のう
ち複数の閾値レベルの間にあるものを入力とし、
これらの平均的値、例えば平均値Pmeanを検出
する。第2の最小値検出回路13はアナログスイ
ツチ107,108を介して光電出力P0〜Po-1
のうち閾値レベルをこえるものを入力とし、これ
らの中から最小値Pminを検出する。演算回路1
4は最大値Pmaxと平均値Pmeanとを入力として
第1の測光出力PH(EV)、即ち PH=k1Pmax+(1−k1)Pmean …(1) を発生する。演算回路15は第2の測光出力PM
(EV)、即ち PM=Pmean …(2) を発生するが、実際上平均的値検出回路12と兼
用できる。演算回路16は最小値Pminと平均値
Pmeanとを入力として第3の測光出力PL
(EV)、即ち PL=k2Pmin+(1−k2)Pmean …(3) を発生する。以上に述べた回路11〜16は適正
測光出力発生回路を構成する。演算回路110は
回路14と15から測光出力PHとPMとを印加さ
れ、第4の測光出力、即ちPHM=w1・PH+w2
PM(但し、w1,w2は測定出力の重みづけ定数)
を出力する。演算回路111は回路15と16と
から測光出力PMとPLとを印加され、第5の測光
出力、即ち、PLM=w3・PM+w4・PL(但し、
w3,w4は測光出力の重みづけ定数)を出力す
る。2値化回路17は規格化を行なう部分であり
光電出力P0〜Po-1と平均値Pmeanとを入力と
し、平均値Pmeanに基づいて発生された基準出
力と測光出力P0〜Po-1とを比較して各光電出力
を論理出力に変換する。具体的には、実施例にお
いて、i番目の位置の出力Piと平均値Pmeanの比
較を行ない、Pi≧Pmeanであれば1、Pi<Pmean
であれば0としている。規格化出力が1であれ
ば、i番目の位置が平均より明るい部分であるこ
とを示し、0であれば暗い部分であることを示す
ことになる。すなわち、前述の規格化は2値化の
形をとつている。 又、次のようにすることも出来る。全体の明る
さを、明るい部分、暗い部分、中間の部分に分け
るために平均値Pmeanに基づく基準出力として
Pmean+δH、Pmean−δLを設定し、この2
つの基準レベルに対して、それぞれ2値化を行な
う方法である。すなわち、Pi>Pmean+δHが成
り立つときが1、Pi≦Pmean+δHが成り立つと
きが0、またPi≧Pmean−δLのとき1、Pi<
Pmean−δLのとき0とする。この場合i番目
の位置の2値化出力は2つ(2bit)になる。
Pmean+δH、Pmean−δLの比較の順に出力
を並べたとき、出力が11ならば明るい部分を示
し、00ならば暗い部分を示し、01ならば中間の平
均値に近い部分を示す(10の場合は存在しな
い)。このようにその位置の明るさを3段階に分
けることにより、より高度なパターン分析が可能
となる。 もちろん2値化回路を4段階以上に分けるもの
とすることも可能であるし、位置に応じて分け方
を変えてもよい。 次に第1の判定回路18は最大値Pmaxを入力
として、 Pα≦Pmax≦Pβ …(4) (但し、Pα,Pβは定数) の判定を行い、その判定結果を表す論理出力を発
生する。もちろん、第1の判定回路18はPα,
Pβに対応した基準出力を発生する回路を含む。
この判定動作は最大値Pmaxが太陽を含む明るい
光源あるいはスポツトライトのような人工光源に
よるものかを識別するために行われる。 第2の判定回路19は最大値Pmaxと最小値
Pminを入力として、 ΔP=Pmax−Pmin …(5) の演算を行い、それから α≦ΔP≦β …(6) (但し、α,βは定数) の判定を行い、その判定結果を表わす論理出力を
発生する。もちろん、定数α,βに対応した基準
出力を発生する回路は第2の判定回路19に含ま
れている。この判定動作は、画面の輝度分布を判
定し、例えば輝度分布が大きいときに低輝度側に
主要被写体があるといつて、低輝度側に露出を合
わせる高輝度側がとんだり、またその逆に高輝度
側に主要被写体があるといつて高輝度側に露出を
合わせると低輝度側がつぶれるといつた現象を防
止するために行われる。 類別回路20は、回路17,18,19からの
論理出力、後述の第3の判定回路170からのn
フラグ及び後述の第2の阻止回路102からのl
フラグを入力として、これら論理出力の組合せ論
理が所定のカテゴリーのいずれに属するかを決定
する。即ち類別する。この所定のカテゴリーは5
つに分けられ、各カテゴリーに対応した制御出力
が選択的に発生される。回路14,15,16,
110,111とアペツクス演算回路24との間
にそれぞれ接続されたアナログスイツチ21,2
2,23,112,113は類別回路20の制御
出力によつて第1ないし第5の測光出力のうちか
ら類別されたカテゴリーに対応した出力を選択
し、アペツクス演算回路24に伝達する。 アペツクス演算回路24は選択された測光出力
と情報設定部27からの他の露出因子とによつて
適正露出値(シヤツタ速度や絞り値)に対応した
出力を発生し、これを公知の露出制御回路25及
び露出表示回路26に印加する。 第1の最小値検出回路99、第1の最大値検出
回路100は光電出力P0〜Po-1を入力とし、こ
れらの中から最小値Pminoriginal最大値
Pmaxoriginalをそれぞれ検出する。第3の判定回
路170は最大値Pmaxoriginal第1の最小値検出
回路99からPminoriginalを入力として Pmaxoriginal−Pminoriginal≦γ (但し、γは定数) の判定を行う。もちろんこの判定回路170は、
定数γに対応した基準出力を発生する回路と、比
較回路を含む。この判定動作は第4又は第5の測
光出力を抽出するか否かを判定するためのもので
ある。この回路の出力はnフラグとして類別回路
20に印加される。 第1の阻止回路101は光電出力P0〜Po-1
入力として2つの閾値レベルと比較する。第1の
閾値レベルPth1は昼間の太陽が画面に存在するこ
とを想定して約16EV相当に設定され、また第2
の閾値レベルPth2は夕暮れの太陽が画面に存在す
ることを想定して約15EV相当に設定されてい
る。そしてまず閾値レベルPth1以上の光電出力が
あると、アナログスイツチ103を制御してその
光電出力の回路11,12,13への伝達を阻止
する。しかし、すべての光電出力が閾値レベル
Pth1以上のときにはいずれかひとつの光電出力を
次段の回路に伝達できるようにアナログスイツチ
103を制御する。その理由は後述される。次に
閾値レベルPth2以上の光電出力があるとアナログ
スイツチ103を制御してその光電出力の回路1
1,12,13への伝達を阻止するが、その阻止
数は一定数以下に抑えられている。これは、夕暮
の撮影の場合には太陽そのものが撮影の対象とな
ることがあり、その情報をすべて阻止してしまう
と撮影者の意図が反映されないことがあるからで
ある。 第2の阻止回路102は光電出力P0〜Po-1
入力とし、測光下限に相当する閾値レベルPth0
比較する。そしてPth0以下の光電出力があると、
アナログスイツチ104を制御してその光電出力
の回路11,12,13への伝達を阻止する。そ
して、この阻止数が一定値以上か以下かを表わす
lフラグを発生して類別回路20に印加する。 第1,第2の阻止回路101,102によつて
次段の回路への伝達阻止数は平均的値検出回路1
2に伝達され、平均値算出の際には、これらのセ
ルは計算の対象から除外される。 次に、動作と類別回路20の類別態様とを画面
を3分割及び5分割した場合について説明する。
第3a,b図は画面の分割状況と、分割された各
領域の光電出力とを示す。 (1) 第3a図において、画面は6×6判のカメラ
を想定して中央領域Dc、上方領域Du、下方領
域Dlに分割され、各々の光電出力がP0〜P2
表わされている。 各光電出力P0〜P2は平均値Pmean=(P0+P1
+P2)/3と比較され、各領域はP0〜P2
Pmeanのときには論理値1で表わされ、また
P0〜P2<Pmeanのときには論理値0で表わさ
れる。類別回路20はこの論理値の組合せが、
(i)中央領域Dcが0のとき、又は下方領域Dlが
0のとき(このとき主要被写体は領域Dc又は
Dlに存在する可能性が高いので)アナログス
イツチ23をオンにして第3の測光出力PLを
アペツクス演算回路24に伝達する。(ii)中央領
域Dcが1のとき(このとき主要被写体は領域
Dcに存在する可能性が高いので)アナログス
イツチ21をオンにして第1の測光出力PHを
アペツクス演算回路24に伝達する。(iii)nフラ
グが1のとき、即ちPmaxoriginal−
Pminoriginal≦γのときには、画面が(i)の状態
であれば第3の測光出力PLの代りに第5の測
光出力PLMを抽出すべくアナログスイツチ1
13をオンにし、また画面が(ii)の状態であれば
第1の測光出力PHの代りに第4の測光出力
PHMを抽出すべくアナログスイツチ112を
オンにする。 これは、第1あるいは第3の測光出力を抽出
するような状態のときに、光電出力の最大値
Pmaxと最小値Pminとの差が小さいとき、即ち
輝度が比較的一様な被写体の場合は平均値の方
へ補正をした方が好ましい写真となることが多
いからである。 一方、第1の判定回路18はPα≦Pmax≦
Pβのときには論理値1の出力を、またこれ以
外のときには論理値0の出力を発生する。第2
の判定回路19はα≦ΔP≦βのときには論理
値1の出力を、これ以外のときには論理値0の
出力を発生する。そして第1,第2の判定回路
18,19から論理値1の印加があつたときに
類別回路20は画面が上記(i),(ii)の状態にあつ
ても、これに優先して、アナログスイツチ22
をオンにして第2の測光出力PMをアペツクス
演算回路24に伝達する。 (2) 第3b図において、画面はライカ判のカメラ
を想定して、中央領域Dc、右上方領域Dru、左
上方領域Dlu、右下方領域Drl、左下方領域Dll
の分割され、各々の光電出力がP0〜P4で表わさ
れている。各光電出力P0〜P4は上述同様に平均
値Pmeanと比較され、各領域は論理値1又は
0で表わされる。類別回路20はこの組合せが
(i)中央領域Dcが0のとき、左右下方領域Dll、
Drlが0のとき、左上方領域Dluと左下方領域
Dllとが0のとき、右上方領域Druと右下方領
域Drlとが0のとき、(このとき主要被写体は0
の領域に存在する可能性が高いので)アナログ
スイツチ23をオンにして第3の測光出力PL
をアペツクス演算回路24に伝達する。(ii),
(iii),(iv)は(1)の項で述べた動作と同じである。こ
の5分割の例はライカ判のカメラのように縦と
横の撮影位置があることを考慮している。 さて、上述の(1),(2)項において、画面内のある
領域に閾値レベルPth1以上の高輝度部があると、
その領域の光電出力例えばP1は阻止され平均値
は、Pmean′=(P0+P2)/2あるいはPmean′=
(P0+P2+P3+P4)/4となる。従つて、この平均
値を用いて回路17、演算回路14,15,16
は動作することになる。すなわち回路17はこの
新しい平均値Pmean′に基づき各光電出力を論理
出力に変換し、演算回路14,15,16はこの
Pmean′に基づき、修正された測光出力PH,
PM,PLを発生する。この修正された測光出力が
上述同様にして類別回路20により選択的に抽出
される。 ところで、画面全体が高輝度のときで同一の輝
度、例えば、雲を撮影するような場合には光電出
力の最大値Pmaxがひとつだけ回路11,12,
13に印加される。すると、最大値、平均値、最
小値は共にPmaxに一致する。このとき、画面の
状態は上述の(1),(2)項における(iii)の状態となり、
第2の測光出力PMを選択するがPM=Pmaxであ
るために高輝度に対して露出制御が行われるよう
になる。 次に、閾値レベルPth2以上の光電出力は一定数
以内で回路11,12,13への伝達を阻止され
平均値Pmeanもこの阻止数に応じて一定の平均
値Pmean″まで低下する。そして、この平均値
Pmean″に基づき前段同様に動作する。 以上のようにして高輝度部の存在に対する測光
出力発生に際しての補正が施される。 一方、閾値レベルPth2以下の光電出力が存在す
る場合、この光電出力例えばP1は、回路11,1
2,13への伝達を阻止されるから平均値の絶対
レベルは上昇し、Pmean=(P0+P2)/2ある
いはPmean=(P0+P2+P3+P4)/4となる。
そのため、測光下限以下の光電出力を無視した新
たな第1〜第5の測光出力PH,PM,PL,
PHM,PLMが得られる。この測光出力は類別回
路20によつて上述同様に選択される。このよう
にして、画面内に低輝度部が存在するときの補正
が行われる。 以下、各ブロツクの構成について説明する。 第4図は光電素子の一例で、複数個の光電素子
が並んでおり、フオト・ダイオード・アレイある
いはCCD等によつて構成することが出来る。た
だし、必ずしもマトリツクス状になつている必要
はない。この光電素子の出力の合成によつて上述
の分割領域における光電出力が得られる。 第5図は受光光学系の一例である。31は第4
図に示した複数個の光電素子であり、32は撮影
レンズ、33はミラー、34はフイルム面、35
はフアインダースクリーン、36はフアインダ
ー・スクリーンに結像した被写体像を受光素子面
に再結像させるためのレンズである。 以上の構成により、撮影するシーンの各部の明
るさを測定することが出来、独立な複数の測光情
報をとりだせる。 第6a図は最大値検出回路11,100の回路
例を、また第6b図は最小値検出回路13の回路
例をそれぞれ示す。これらの回路はOPアンプと
理想ダイオードとを使用したそれ自体公知の回路
である。 第7図は、抵抗r,r/nとOPアンプA1とで
平均値検出回路12を構成したもので、OPアン
プの出力として(P0+P1……Po-1)/n=
Pmeanなる出力が得られる。 第8図は、演算回路14,15,16の回路例
であり、フオロワーA10〜A12と、分圧抵抗R1
R4とから構成され、第1〜第5の測光出力PH,
PM,PL,PHM,PLMは分圧比の調整によつて
前記(1),(2),(3)式を満足すべく得ることができ
る。 第9図は第1の阻止回路の回路例を示し、前述
の阻止数を2としてある。同図においてコンパレ
ータC100、アンドゲートAND100、AND
101、フリツプフロツプFF10,FF11,ダ
イオードD100,抵抗R100、アナログスイ
ツチAS100から成る回路ブロツクは光電出力
の数に対応して用意されている。ここでは光電出
力P0〜P4に対応して5ブロツクが用意されてお
り、ブロツクB1で代表して示してある。但し、
アンドゲートAND99,AND97,フリツプフ
ロツプFF12,FF13はブロツクB1専用であ
る。 さて、リングカウンタRCは一定周期のクロツ
クパルスを印加され、出力端子q0,q1,q3,q5
q7,q9,q10にクロツクパルス数に応じて順次出
力を発生する。端子q1〜q9の間は1ビツトおきに
設けられていて各出力間に1ビツト分のタイムラ
グを設けている。バイナリーカウンタBC1はリ
ングカウンタRCのq0出力を入力とし、Q出力と
q0出力はAND118でANDがとられ、q0出力の
2周期毎のパルスが発生する。そして、Q出力が
1のとき出力は0を出力してトランジスタTr
をオフにして、各ブロツクのコンパレータの反転
入力端子に上述の閾値レベルPth1に対応した電圧
を印加する。またQ出力が0のときには出力が
1となり、トランジスタTrがオンして各ブロツ
クのコンパレータの反転入力端子には上述の閾値
レベルPth2に対応した電圧が印加される。これら
コンパレータはPN>Pth(但し、PNは各光電出
力、PthはPth1又はPth2)のとき1を出力する。次
に動作を述べる。 a○ バイナリーカウンタBC1のQ出力が1のと
き;このときはPN>Pth1を検出するモードで
ある。オアゲートOR110の出力は1である
からブロツクB1のアンドゲートAND100は
リングカウンタRCのq1出力を受けたときに、
コンパレータC100の出力をフリツプフロツ
プFF10のS入力に印加する。ここで、P0
Vth1であればコンパレータC100は1を出
力するから、フリツプフロツプFF10はQ出
力に1を出力する。同時にフリツプフロツプ
FF11はQ出力に1を出力し、アナログスイ
ツチAS100をオフにしてP0を次段の回路へ
伝達しない。この動作は、リングカウンタRC
のq1〜q9出力によつて時分割されて光電出力P4
を入力としているブロツク側へと順次移動して
ゆく。その結果、PN>Pth1の光電出力を入力
としているブロツクからは光電出力は次段の回
路、即ち前述の第2の最大値検出回路11、平
均的値検出回路12、第2の最小値検出回路1
3へは伝達されない。一方アンドゲートAND
100のa0出力はリングカウンタRCのq1出力
を入力としているアンドゲートAND110に
入力され、a0出力とq1出力とが共に1のとき、
アンドゲートAND110は1を出力し、オア
ゲートOR111を介してバイナリーカウンタ
BC2に入力される。同様にして、各ブロツク
のアンドゲートのa1,a2,a3,a4出力はq3
q5,q7,q9出力にそれぞれ同期して、バイナリ
ーカウンタBC2に入力される。従つてバイナ
リーカウンタBC2はa0〜a4出力の1を計数す
る。 しかしながら、バイナリカウンタBC1のQ
出力は1であるからオアゲートOR110の出
力はカウンタBC2の計数値とは無関係に1で
ある。従つて、P0〜P4>Pth1のときにはすべて
の光電出力が次段回路への伝達を阻止されるこ
とになるが、バイナリーカウンタBC2の計数
値が5、即ちバイナリーコードで“101”のと
きにはバイナリーカウンタBC2のQ10出力と
Q12出力とが1となり、アンドゲートAND98
が1を出力し、フリツプフロツプFF12のセ
ツト入力に1が入り、出力Qは1になり、フリ
ツプフロツプFF13のセツト入力に1が入
り、出力Qは1になりは0になる。(リセツ
トのタイミング関係はFF10,FF11と同
様) このため、アンドゲートAND99の出力を
0にしてアナログスイツチAS100をオンに
する。その結果、光電出力P0が次段の回路に伝
達される。ここで、ダイオードD100のアノ
ード端子を可変抵抗R100によつてPth2相当
電圧からダイオードによる低下分だけ高くして
おけば、光電出力P0がPth2相当電圧に制限され
る。これは、画面全体が高輝度のときにはかえ
つて露出オーバーにした方が、より現実的な写
真が撮れるという配慮に基づいている。尚、バ
イナリーカウンタBC2の計数値が5以下のと
きにはノアゲートNOR100の出力は1であ
り、アンドゲートAND99はフリツプフロツ
プFF12のQ出力をそのアナログスイツチAS
100に伝える。 また、バイナリーカウンタBC2の計数値が
2以上になるとQ11出力、Q12出力あるいはア
ンドゲートAND115の出力が1となり、こ
のときノアゲートNOR100は0を出力す
る。するとアンドゲートAND116はリング
カウンタRCのq10出力が1になつた時点でバイ
ナリーカウンタBC1をリセツトするから、q1
出力が再び1になつた時点でQ出力は1とな
り、その結果、PN>Pth2を検出するモードへ
は移行しない。 b○ バイナリーカウンタBC1のQ出力が0のと
き;このときは、PN>Pth2を検出するモード
である。ノアゲートNOR100の出力が1の
ときにオアゲートOR110の出力は1とな
る。つまり、バイナリーカウンタBC2の計数
値が2以下のとき、即ち、Q10出力が1あるい
はQ11出力が1のときである。 いまカウンタBC2の計数値が0とすると、
ノアゲートNOR100、オアゲートOR110
は1を出力するから、各ブロツクのコンパレー
タは閾値レベルPth2と光電出力P0〜P4とをそれ
ぞれ比較する。そして、Pth2以上の光電出力が
あるとき、例えばP0,P1,P2>Pth2のとき、
a0,a1,a2出力が1となる。そしてq1,q3,q5
出力の印加によつて各アンドゲートAND11
0〜AND112は1を出力し、これをカウン
タBC2が計数する。従つて、Q10,Q11出力は
1となるからアンドゲートAND115は1を
出力しノアゲートNOR100、オアゲートOR
110は0を出力する。その結果、光電出力を
2個以上阻止するとそれ以上阻止しないように
なる。つまり時系列的に後続して動作するブロ
ツクは阻止動作を行わない。尚、阻止動作の制
限により、Pth2以上の光電出力が次段の回路に
伝達される可能があるが、これはダイオードD
100〜D104と抵抗R100〜R104の
作用によつてPth2相当電圧に制限されるので問
題とはならない。 尚、アンドゲートAND117とAND118
はフリツプフロツプFF10,FF11のリセツ
トパルスを発生するものでAND117が出力
1を発生した後にAND118が出力1を発生
するようにして、FF10、FF11のリセツト
のタイミングを調定している。 第10図は第2の阻止回路の回路例を示し、前
述の一定の阻止数3に設定してある。同図におい
て;閾値レベルPth0に相当する電圧は抵抗R20
0によつて発生され、コンパレータC200〜C
204の同相入力端子に印加されている。コンパ
レータC200〜C204の反転入力端子には光
電出力P0〜P4が印加され、各コンパレータはPN
<Pth0(但し、PNは任意のP0〜P4)を満足したと
きに出力1を発生する。各コンパレータに対応し
て設けられたアナログスイツチAS200〜AS2
04は対応するコンパレータの出力1で光電出力
の次段の回路へ伝達を阻止する。アナログスイツ
チAS200〜AS204にはそれぞれ第図で述べ
た各ブロツクのアナログスイツチAS100〜AS
104(AS101〜AS104については第9図
では省略されている。)が直列に接続されてい
る。アナログスイツチのブロツクB10,B11は第2
図の回路103,105,107と回路104,
106,108にそれぞれ対応する。 リングカウンタRC200はクロツクパルスの
印加によつて順次、q0,q1,q3,q5,q9,q10
力を発生する。q1〜q9出力はカウンタの1ビツト
分のタイムラグをもつて出力される。さて、リン
グカウンタRC200のq0出力が1となるとバイ
ナリカウンタBC3はリセツトされる。q1出力が
1になるとアンドゲートAND200のゲートは
開き、コンパレータC200の出力をオアゲート
OR200に伝達する。このときコンパレータC
200の出力1(P0<Pth0)であればバイナリー
カウンタBC3はこの出力1を計数する。以下、
リングカウンタRC200のq1〜q9出力が順次1
になるにつれて同様の動作がアンドゲートAND
201〜AND204へと移行し、光電出力P1
P4のうち、PN<Pth0を満足するものがあればそ
の数だけバイナリーカウンタBC3は計数を進め
る。そして、バイナリーカウンタBC3の計数値
が3になるとQ20出力、Q21出力が共に1とな
り、アンドゲートAND205の出力は1とな
り、オアゲートOR201の出力1によつてフリ
ツプフロツプFF20のQ出力、即ちlフラグは
1となる。同様にバイナリーカウンタBC3の計
数値が4,5のときにもlフラグは1である。 動作が進んでリングカウンタRC200のq10
力が1になると、バイナリーカウンタBC3の計
数値が3以上のときには、インバータINV200
より出力0を印加されているアンドゲートAND
206の出力は0であるからフリツプフロツプ
FF20はリセツトされず、lフラグは1を維持
する。そして、次の周期で阻止数が2以下ならイ
ンバータINV200の出力が1であるからlフラ
グは0となる。 尚、バイナリーカウンタBC3のQ20出力、Q22
出力が共に1のときには阻止数は5となり、画面
全体が測光下限以下である。従つて、これをアン
ドゲートAND207で検出すれば、発光ダイオ
ードLEDを点灯することにより撮影不可能を表
示することができる。 第11図は平均的値検出回路の回路例を示す。
同図において;第1の阻止回路による阻止動作
(高輝度側)と、第2の阻止回路による阻止動作
(低輝度側)とは通常の撮影状態では同時には起
こり得ないので加算回路40はオアゲートで構成
した。 電界効果トランジスタFETはそれぞれゲート
が1のとき導通する。 阻止数が0のとき全ゲートが1でFETは全部
導通するので合成フイードバツク抵抗Rはr/5 1/R=2/r+2/r+1/r=5/r,R=r/
5 すなわち (P/r+P/r+…+P/r)・r/5=P
all/5=Pmean 但し、Pallは阻止されていない光電出力の総和で
ある。 阻止数が1のとき、FET0が非導通になり、 阻止数が2のとき、FET1が非導通になり、 阻止数が3のとき、FET0,1が非導通になり、 阻止数が4のとき、FET1,2非導通になり、 第12図は類別回路20の回路例である。同図
は画面を第3b図のように5分割した場合の実施
例である。 コンパレータC1の同相入力端子には定数Pα
に対する入力が、またコンパレータC2の反転入
力端子には定数Pβに対応する入力がそれぞれ印
加されている。一方コンパレータC3の同相入力
端子には定数αに対応する入力が、またコンパレ
ータC4の反転入力端子には定数βに対応する入
力がそれぞれ印加されている。コンパレータC5
の同相入力端子には定数γに対応する入力が印加
されている。光電出力P0〜P4を同相入力とするコ
ンパレータC7〜C11の反転入力端子には
Pmean−δL相当の基準入力が印加されてい
る。このδL相当のレベルダウンは光電出力P0
P4の低輝度側についての2値化をより確実に行う
ためのものである。光電出力P0を同相入力とする
コンパレータC6の反転入力にはPmean+δH
相当の基準入力が印加されている。このδH相当
のレベルアツプは光電出力P0の高輝度側について
の2値化をより確実にするためのものである。 最大値PmaxはコンパレータC1の反転入力端
子とコンパレータC2の同相入力端子に入力す
る。輝度差ΔPはコンパレータC3の反転入力端
子とコンパレータC4の同相入力端子に入力す
る。コンパレータC1〜C4の出力はアンドゲー
トAND1に入力する。アンドゲートAND1の出
力が1になるときはコンパレータC1〜C4の出
力が皆1を示すときで Pα≦Pmax≦Pβ …(7)(a) かつ、 α≦ΔP≦β …(7)(b) が成立つ時である。アンドゲートAND1の出力
をMフラグとする。Mフラグが1のときオアゲー
トOR1の出力は1になり、アナログスイツチ2
2をオンして第2の測光出力PMが選択される。
というのは(7)(b)式が成立つことは、ある程度輝度
差があることを示しているが、(7)(a)式が成立つ場
合、すなわち最大値がある範囲におさまつている
ときは、逆光状態になく、平均値付近に適正露出
レベル存在するからである。尚、このことは高輝
度側あるいは低輝度側の光電出力が阻止されてい
ても成立する。光電出力P0はコンパレータC6と
C7の同相入力端子に入力し、以下光電出力P1
P2,P3およびP4はコンパレータC8,C9,C1
0およびC11の同相入力端子に入力する。又コ
ンパレータC6の反転入力端子には平均値を一定
値レベルアツプに出力Pmean+δHが入力す
る。コンパレータC6の出力が1になるのは中央
領域Dcの光電出力P0が平均値Pmeanより識別出
来る位(δHだけ)高い場合で、撮影画面の中央
部が明部になつていることを示している。一方コ
ンパレータC7〜C11の反転入力端子には平均
値を一定値レベルダウンした出力Pmean−δL
が入力している。コンパレータC7〜C11の出
力が0になるときは、光電出力P0〜P4が平均値
Pmeanより識別出来る位(δLだけ)低い場合
で、光電出力P0〜P4の対応する画面が暗部になつ
ていることを示している。 なお、コンパレータC6,C7から明らかなよう
に、P0については平均値付近の2つの基準レベル
についてそれぞれ2値化を行なつて規格化をして
いることになる。 アンドゲートAND2にはコンパレータC6,
C9,C10の出力とMフラグのインバータINV
1によつて反転された出力が入力する。アンドゲ
ートAND2の出力が1になるのは、
【表】 が成立ち、Mフラグが0のときである。このよう
な状態は、中央領域Dcが明るく、上半分の領域
Dru,Dluが暗い場合で、スポツトライト的な状
態である。 それ故、(8)式が主要被写体が明部にあることを
判断する条件になる。アンドゲートAND2の出
力をHフラグとする。Hフラグが1のときにはア
ナログスイツチ21がオンされて、第1の測光出
力PHが選択される。 C7の出力はインバータINV3に入る。今、 P0<Pmean−δL ……(9) (中央の領域Dcが暗部) が成立つ場合、コンパレータC1の出力は0でイ
ンバータINV3の出力は1になる。 又、コンパレータC8とC9の出力はノアゲー
トNOR1に入る。 (左半分の領域Dlu,Dllが暗部) が成立つ場合、コンパレータC8,C9の出力は
共に0でノアゲートNOR1の出力は1になる。
以下同様に (下半分の領域Drl,Dllが暗部) および (右半分の領域Dru,Drlが暗部) が成立つ場合、それぞれノアゲートNOR2,
NOR3の出力は1になる。インバータINV3およ
びノアゲートNOR1〜NOR3の出力はオアゲー
トOR3に入力し、いずれかの出力が1であれば
オアゲートOR3の出力は1となる。すなわち、
(9)〜(12)式のいずれかが成立てばオアゲートOR3
の出力は1になるということである。(9)式が成り
立つ場合は、主要被写体がある確率の高い団面中
央部が暗部になつている場合であり、低輝度側に
露出を合せた方がよい。しかし逆に画面中央部が
明るくても、バツクの明るさによる場合も多く、
必らずしも主要被写体が明部にあるとは判断出来
ない。むしろ逆光のような場合、主要被写体の明
るさは画面下側の部分の明るさに近くなる。よつ
て(11)式が成り立つ場合、主要被写体が暗部にある
と判断し、第3の測光出力PLを選択した方がよ
い。(10),(12)式が成立つ場合は、カメラを縦位置に
構えて撮影した場合と考えられる。以上のように
(9)〜(12)式のそれぞれが主要被写体が暗部にあるこ
とを判断する条件になる。そしてこのときオアゲ
ートOR3の出力が1になる。 測光下限以下の光電出力が一定数以上あるとl
フラグが1になる。するとオアゲートOR2の出
力は1になり第1の測光出力PHを選択する。と
いうのは、測光下限以下の出力を示す光電出力が
多いときには、光電素子の一部の明暗によつて測
光可能になつている確率が高く、高輝度側を選択
した方がよいからである。 ΔP′即ち、Pmaxoriginal.Pminoriginalはコン
パレータC5の反転入力端子に入力し、 ΔP′<γ …(13) (但し、γは定数) が成立つときコンパレータC5の出力が1にな
る。これは測光した輝度差が比較的小さい場合で
あり、平均値側へ補正した方が適正露出に近くな
る。 コンパレータC5の出力はインバータINV2で
反転される。インバータINV2の出力とHフラグ
がアンドゲートAND3に入力する。アンドゲー
トAND3の出力が1になるので、(13)式が成立た
ないで、Hフラグが1のときである。すなわち、
高輝度側が選択され、かつ輝度差が大きいときで
あり、オアゲートOR2の出力は1になり第1の
測光出力PHが選択される。 lフラグはインバータINV4に入力して反転さ
れ、インバータINV4とコンパレータC5の出力
とHフラグがアンドゲートAND4に入力する。
アンドゲートAND4の出力が1になるのは(13)式
が成立ち、Hフラグが1でlフラグが0のときで
ある。すなわち、高輝度側が選択され輝度差が小
さい場合で、第4の測光出力PHM、例えばw1
w2=0.5のときは(PH+PM)/2が選択され
る。 アンドゲートAND7にはオアゲートOR3、イ
ンバータINV1、INV4の出力が入力する。アン
ドゲートAND7の出力が1になるのは、l,M
フラグが0でオアゲートOR3の出力が1のとき
である。すなわち低輝度側が選択された場合であ
る。今、アンドゲートAND7の出力をLフラグ
とする。 アンドゲートAND5にはLフラグとコンパレ
ータC5の出力が入力し、低輝度側が選択され、
輝度差が小さいときに出力は1となり、第5の測
光出力PLM、例えばw3=w4=0.5のときは(PM
+PL)/2が選択される。 アンドゲートAND6にはLフラグとインバー
タINV2の出力が入力し、低輝度側が選択され、
輝度差が大きいときに、出力が1になり、第3の
測光出力PLが選択される。 ノアゲートNOR4には、M,L,lフラグが
入力し、いずれも0の場合1になる。それは、主
要被写体が明部にあるとも暗部にあるとも判別さ
れなかつた場合である。このとき、オアゲート
OR1の出力は1となり、第2の測光出力PMが選
択される。
【図面の簡単な説明】
第1図は被写界(画面)の輝度分布を示す図、
第2図は本発明の実施例を示すブロツク図、第3
図は画面の分割状況を示す図、第4図は光電素子
アレイの例を示す図、第5図は受光光学系の例を
示す図、第6図は最大値と最小値検出回路の例を
示す図、第7図は平均値検出回路の例を示す図、
第8図は演算回路の例を示す図、第9図は第1の
阻止回路の例を示す図、第10図は第2の阻止回
路の例を示す図、第11図は平均的値検出回路の
例を示す図、及び第12図は類別回路の例を示す
図である。 主要部分の符号の説明、測光回路…10、適正
測光出力発生回路…11〜16、規格化回路…1
7、判定回路…18,19,170、抽出回路…
20。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 被写界を複数の領域に分割して測光し、該複
    数の領域に対応した複数の光電出力を発生する測
    光回路と、 該複数の光電出力の最大値をPmax、平均的な
    値をPmean、最小値をPminとしたとき、Pmax>
    PH>Pmeanなる第1の測光出力PHと、Pmean=
    PHなる第2の測光出力PMと、Pmean>PL>
    Pminなる第3の測光出力PLと、PHM=w1・PH
    +w2.PM(w1,w2は重みづけ定数)なる第4の
    測光出力PHMと、PLM=w3・PH+w4・PL
    (w3,w4は重みづけ定数)なる第5の測光出力
    PLMを発生する適正測光出力発生回路と; 前記複数の光電出力を規格化するための規格化
    回路と; 前記最大値と最小値とを入力としPmax−Pmin
    ≦γ(但しγは定数)を満足したときに出力を発
    生する判定回路と; 前記規格化回路の出力の組合せ論理を、少なく
    とも前記第1の測光出力を抽出する第1のカテゴ
    リーと、前記第3の測光出力を抽出する第2のカ
    テゴリーとに類別すると共に、前記判定回路の出
    力を入力として、前記組合せ論理が第1のカテゴ
    リーに類別されたときに前記判定回路の出力が入
    力されると前記第4の測光出力を演算抽出し、ま
    た前記組合せ論理が第2のカテゴリーに類別され
    たときに前記判定回路の出力が入力されると前記
    第5の測光出力を演算抽出する抽出回路とを含む
    ことを特徴とするマルチ測光装置。
JP2302179A 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit Granted JPS55114919A (en)

Priority Applications (5)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2302179A JPS55114919A (en) 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit
DE3007575A DE3007575C2 (de) 1979-02-28 1980-02-28 Berechnungsvorrichtung für einen optimalen Belichtungswert
FR8004477A FR2462692A1 (fr) 1979-02-28 1980-02-28 Dispositif de mesure multiple du champ objet d'un appareil de prise de vues
GB8006723A GB2047415B (en) 1979-02-28 1980-02-28 Photometric multi-metering device
US06/391,864 US4476383A (en) 1979-02-28 1982-06-24 Photometering device for obtaining exposure information

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP2302179A JPS55114919A (en) 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit

Related Child Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP19217186A Division JPS6296827A (ja) 1986-08-19 1986-08-19 マルチ測光装置

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS55114919A JPS55114919A (en) 1980-09-04
JPS6239366B2 true JPS6239366B2 (ja) 1987-08-22

Family

ID=12098823

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP2302179A Granted JPS55114919A (en) 1979-02-28 1979-02-28 Multi-photometry unit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS55114919A (ja)

Families Citing this family (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS56155820A (en) * 1980-05-02 1981-12-02 Fuji Photo Film Co Ltd Photometric arithmetic system
US4937610A (en) * 1985-09-09 1990-06-26 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Exposure control device for a camera
US5017957A (en) * 1985-09-09 1991-05-21 Minolta Camera Kabushiki Kaisha Exposure control device for a camera

Also Published As

Publication number Publication date
JPS55114919A (en) 1980-09-04

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US4476383A (en) Photometering device for obtaining exposure information
US5016039A (en) Camera system
CN107948538B (zh) 成像方法、装置、移动终端和存储介质
JPH0772781B2 (ja) カメラ
US4412730A (en) Metering device
CN114494068A (zh) 一种数字孪生场景感光设定方法
JPH0317636A (ja) カメラ
JPS6239366B2 (ja)
JP3777643B2 (ja) 閃光発光可能なカメラ
JPS6031026A (ja) マルチ測光装置
US6314241B1 (en) Camera
JPS6011475Y2 (ja) マルチ測光装置
JP5549813B2 (ja) 撮像装置、撮像装置の制御方法およびプログラム
JPH0310494Y2 (ja)
JPH04538B2 (ja)
JP2004173251A (ja) カメラ
JPS637330B2 (ja)
JPH0428087B2 (ja)
JPS637331B2 (ja)
JPS638413B2 (ja)
JP2913686B2 (ja) カメラの発光制御装置
JP3834377B2 (ja) ストロボ装置
JP2949766B2 (ja) カメラの露出制御装置
JP2590834B2 (ja) カメラの自動日中シンクロシステム
JPH035569B2 (ja)