JPS6375845A - Ｒａｓ回路の試験方式 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔概　要〕 ＲＡ　Ｓ　（Ｒｅｌｉａｂｉｌｉｔｙ　Ａｖａｉｌａｂ
ｉｌｉｔｙ　ａｎｄ　５ｅｒｖｉｃｅａｂｉｌｉｔｙ）
回路の試験方式であって、同一の回路基板が複数実装さ
れているシステムのＲＡＳ回路の機能を試験する場合、
試験データ格納手段に格納されたデータを試験するため
の試験信号に変換して、同一回路判定手段で判定された
同−ＲＡＳ回路ごとに試験信号を入力することにより、
一括してＲＡＳ回路の機能試験をすることができ、試験
に要する時間とデータ量が低減される。

〔産業上の利用分野〕

本発明は、例えば、電子計算機において、回路基板内部
のＲＡＳ回路の機能を試験するときのＲＡＳ回路の試験
方式に関するものである。

〔従来の技術〕

現在の電子計算機は、数々のハードウェアおよびソフト
ウェアの要素が複雑に関係して動作しており、電子計算
機を効率よく信頬性の高いシステムとして維持していく
ために個々の回路基板ごとにＲＡＳ回路を持っている。

第４図に従来の構成図、第５図に従来の動作説明図を示
す。回路基板ａ４５０にはＲＡＳ回路Ａ４５１、ＲＡＳ
Ａ３回路Ａ４５３路基板ｂ４６０にはＲＡＳ回路Ａ４６
１．ＲＡＳＡ３回路Ａ４６３路基板ｃ４７０にはＲＡＳ
回路Ａ４７１’、ＲＡＳ　＋０１路Ｃ４７３が含まれて
いる。

それぞれのＲＡＳ回路の機能を試験しようとする場合、
処理部４１１は、各ＲＡＳ回路毎に試験を行なう。

処理部４１１は、囲路基板ａ用試験データ４３０内の試
験データＡ４３１を読み込み（ステップ５１１）　、デ
ータ変換プログラム４２３を実行して、回路基＋Ｈａ４
５０内のＲＡＳ回路Ａ４５１に入力するための試験信号
に変換する（ステップ５１２）。

そして、試験プログラム４２５を実行して、上記ステッ
プ５１２にて変換された信号をＲＡＳ回路Ａ４５１に入
力する（ステップ５１３）。

入力が終わると、試験回路の動作を進めて（ステップ５
１４）、出力信号を得る（ステップ５１５）。得られた
出力信号によってＲＡＳ回路の機能が正常かどうかを判
定する（ステップ５１６）。

以上のような一連の動作が終了すると、試験未実施の他
のＲＡＳ回路があるか否かが判定される（ステップ５１
７）。他にもＲＡＳ回路がある場合は、ステップ５１１
〜ステツプ５１６が繰り返される。回路基板ａ４５０内
のＲＡＳ回路Ａ４５１に続いて、回路基板ａ４５０内の
ＲＡＳＡ３回路Ａ４５３路基板ｂ４６０内のＲＡＳ回路
Ａ４６１、ＲＡＳＡ３回路Ａ４６３路基板ｃ４７０内の
ＲＡＳ回路Ａ４７１．ＲＡＳ回路Ｃ４７３が順次試験さ
れる。

試験データとしては、それぞれのＲＡＳ回路に１対ｌに
対応した試験データＢ４３３．試験データＡ４４１．試
験データＢ４４３．試験データＡ４８１および試験デー
タＣ４８３が用意されている。

全てのＲＡＳ回路についての判定が終わると、機能試験
が終了する。

〔発明が解決しようとする問題点〕

ところで、上述した従来方式にあっては、回路基板ａ４
５０と回路基板ｂ４６０は内部が同一構成であり、それ
ぞれのＲＡＳ回路も共通であるにもかかわらず、回路基
板ａ４５０内のＲＡＳ回路、Ａ　４５１には試験データ
Ａ４３１、回路基板ｂ４６０内（７）ＲＡＳｒＡ路Ａ　
４６１　ニは試験データＡ４４１、また回路基板ａ４５
０内のＲＡＳＡ３回路Ａ４５３試験データＢ４３３、回
路基板ｂ４６０内のＲＡＳＡ３回路Ａ４６３試験データ
Ｂ４４３というように、同一のＲＡＳ回路に対して、そ
の数に対応したデータを用意していた。

また、機能試験の試験信号の入力（ステップ５１３）、
試験回路の動作の推進（ステップ５１４）および出力信
号の取り出しくステップ５１５）を全てのＲＡＳ回路毎
に行なっていた。

以上のことより、従来方式では用意するデータ量が膨大
になり、しかも機能試験に多くの時間を費やすという問
題点があった。

本発明は、このような点にかんがみて創作されたもので
あり、ＲＡＳ回路についての試験データの格納と試験回
路の動作の推進を個々に行なわないで、機能試験に要す
る時間とデータ量を低減するようにしたＲＡＳ回路の試
験方式を提供することを目的としている。

〔問題点を解決するための手段〕

第１図は、本発明のＲＡＳ回路の試験方式の原理ブロッ
ク図である。

図において、試験データ変換手段１１３は、試験データ
格納手段１３１に格納されたデータからＲＡＳ回路の機
能を試験するための試験信号を作成する。

同一回路判定手段１１１は、実装データ格納手段１４１
に格納されたデータを基にして、同一種類のＲＡＳ回路
の実装状態を調べる。

データ割り振り手段１１５は、同一回路判定手段１１１
で判定された同一のＲＡＳ回路ごとに、試験データ変換
手段１１３で得られた試験信号を入力する。

回路試験手段１１７は、ＲＡＳ回路の試験を行ない、結
果を出力する。

従って、全体として、複数のＲＡＳ回路の中から同一の
ＲＡＳ回路を選別し、一括して機能試験ができるように
構成されている。

〔作　用〕

実装データ格納手段１４１には、構成されている回路基
板の実装情報が格納されている。同一回路判定手段１１
１は、実装データ格納手段１４１のデータを基にして、
同一種類のＲＡＳ回路の実装状態を調べる。

また、試験データ格納手段１３１には、ＲＡＳの機能試
験に必要なデータが格納されている。試験データ変換手
段１１３は、試験データ格納手段１３１のデータを、試
験するＲＡＳ回路に入力する信号に変換する。

そして、データ割り振り手段１１５は、同一回路判定手
段１１１で得られたＲＡＳ回路の実装状態に従って、試
験データ変換手段１１３で変換された試験信号を入力す
る。

回路試験手段１１７は、一括してＲＡＳ回路の試験を行
ない、結果を出力する。

本発明にあっては、実装データ格納手段１４１の情報を
基にして、試験信号の入力を行ない、一括して試験の実
行を行なうことにより、機能試験に要する時間とデータ
量が低減できる。

〔実施例〕

以下、図面に基づいて本発明の実施例について詳細に説
明する。

第２図は、本発明の一実施例におけるＲＡＳ回路の試験
方式の構成を示す。

ＬＪＪｉ　　と　１図との対応　係 ここで、本発明の実施例と第１図との対応関係を示して
おく。

同一回路判定手段１１１は、処理部２１１．実装判定プ
ログラム２２１に相当する。

試験データ変換手段１１３は、処理部２１１゜データ変
換プログラム２２３に相当する。

データ割り振り手段１１５は、処理部２１１゜試験プロ
グラム２２５に相当する。

回路試験手段１１７は、処理部２１１．試験プログラム
２２５に相当する。

試験データ格納手段１３１は、試験データ部２３０に相
当する。

実装データ格納手段１４１は、実装データ格納手段２４
１に相当する。

ニー尖施■■構虞 以上のような対応関係があるものとして、以下本発明の
実施例について説明する。

第２図において、回路基板、ｆ２５０．回路基板ｂ２６
０および回路基板Ｃ２７０は電子計算機に使用されてい
る３枚の回路基板である。これらの回路基板によって電
子計算機本来の処理を行なうための主制御部、メモリな
どが形成されている。

また、回路基板ａ２５０にはＲＡＳ回路Ａ２５１、ＲＡ
Ｓｌｔｌｌ路Ｂ２５３、ｌｏ回路基基板２６０にはＲＡ
Ｓ回路Ａ２６１．ＲＡＳ回路Ｂ２６３、回路基板Ｃ２７
０にはＲＡＳ回路Ｃ２７１，ＲＡＳ回路回路７３が含ま
れている。ここで、回路基板ａ２５０と回路基板ｂ２６
０は、全く同じ構成の回路基板である。従ってＲＡＳ回
路Ａ２５１とＲＡＳ回路Ａ２６１、ＲＡＳ回路Ｂ２５３
とＲＡＳ回路８２６３も全く同じ構成のＲＡＳ回路であ
る。

そして、これらのＲＡＳ回路には、ＲＡＳ回路の機能を
試験するための処理部２１１が接続されており、処理部
２１１は実装判定プログラム２２１、データ変換プログ
ラム２２３．試験プログラム２２５．実装データ格納手
段２４１．試験データ部２３０を管理している。試験デ
ータ部２３０は試験データＡ２３１．試験データＢ２３
３．試験データＣ２３５，試験データＤ２３７から成っ
ている。

浬−」（％側４１児乍 第３図は、本発明の実施例によるＲＡＳ回路の試験方式
の動作手順を示す。

以下、第２図、第３図を参照する。

いま、電子計算機の３枚の回路基板内のＲＡＳ回路の機
能が正常に働くか否かを試験する場合を考える。

実装データ格納手段２４１には、予め全ての回路基板の
ＲＡＳ回路の実装状態を表すデータが格納されているも
のとする。

試験を開始すると、処理部２１１は、実装判定プログラ
ム２２１を実行して、実装データ格納手段２４１のデー
タから回路基板のＲＡＳ回路の実装状態を調査する（ス
テップ３１１）。

次に、個々のＲＡＳ回路について、試験信号の入力を行
なう。まず最初に処理部２１１は、データ変換プログラ
ム２２３を実行して、試験データ部２３０を読み込む（
ステップ３１２）。対象としている回路は、ＲＡＳ回路
回路あるから、試験データＡ２３１を試験信号に変換す
る（ステップ３１３）。そして、その試験信号をＲＡＳ
回路Ａ２５１に入力する（ステップ３１４）。

処理部２１１は、ＲＡＳ回路Ａ２５１への試験信号の入
力が終わると、同じ構成のＲＡＳ回路が他に無いか否か
を判断する（ステップ３１５）。

ＲＡＳ回路Ａ２６１は、ＲＡＳ回路Ａ２５１と同じ構成
の回路であるので、否定判断されステップ３１４に戻る
。そして、ステップ３１３で作成された試験信号をＲＡ
Ｓ回路Ａ２６１に入力する（ステップ３１４）。

ステップ３１５では、他には同じ構成のＲＡＳ回路が無
いので肯定判断され、処理が次のステップに進む。

次に、処理部２１１は、試験信号の入力が済んでいない
ＲＡＳ回路が他に無いか否かを判断する（ステップ３１
６）。この場合は、ＲＡＳ回路Ｂ２５３、ＲＡＳ回路Ｂ
２６．３．ＲＡＳ回路Ｃ２７１、ＲＡＳ回路回路７３へ
の試験信号の入力が済んでいないので否定判断され、ス
テップ３１２に戻る。ステップ３１２〜ステツプ３１６
は、全てのＲＡＳ回路に試験信号の入力が終了するまで
繰り返される。

対象とするＲＡＳ回路が無くなると、処理部２１１は、
全てのＲＡＳ回路の動作を進める（ステップ３１７）。

そして、出力を取り出しくステップ３１８）、機能が正
常に働いているかどうかが判定される（ステップ３１９
）。

■、　施仔１のまとめ このように、実装データ格納手段２４１でＲＡＳ回路の
実装状態を調べ、試験データ部２３０から対象としてい
る回路のデータを選択して、試験信号への変換を行なう
。

そして、共通のＲＡＳ回路に対しての試験信号の入力を
一括して行ない、全てのＲＡＳ回路についての試験信号
の人力が終了した後に、回路の動作を進めて、出力を得
て、判定を行なう。

従って、複数の同−ＲＡＳ回路の機能試験が一括して行
なえ、時間とデータ量が低減される。

１の・ンヒ袈 なお、上述した本発明の実施例にあっては、回路基板ａ
　２５０．回路基板ｂ　２６０．回路基板Ｃ２７０を、
電子計算機の回路基板と考えたが、この他にもＲＡＳ回
路を持った機器に本発明は適用できる。

また、「１．実施例と第１図との対応関係」においては
、第１図と本発明との対応関係を説明しておいたが、こ
れに限られることはなく、各種の変形態様があることは
当業者であれば容易に推考できるであろう。

〔発明の効果〕

上述したように、本発明によれば、試験データ格納手段
に格納されたデータを、試験するための試験信号に変換
して、同一回路判定手段で判定された同−ＲＡＳ回路ご
とに試験信号を入力することにより、一括してＲＡＳ回
路の機能試験をすることができるので、実用的には極め
て有用である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明のＲＡＳ回路の試験方式の原理ブロック
図、 第２図は本発明の一実施例によるＲＡＳ回路の試験方式
の構成ブロック図、 第３図は本発明の実施例の動作説明図、第４図は従来例
の構成図、 第５図は従来例の動作説明図である。 図において、 １１１は同一回路判定手段、 １１３は試験データ変換手段、 １１５はデータ割り振り手段、 １１７は回路試験手段、 １３１は試験データ格納手段、 １４１は実装データ格納手段、 ２１】は処理部、 ２２１は実装判定プログラム、 ２２３はデータ変換プログラム、 ２２５は試験プログラム、 ２３０は試験データ部、 ２３１は試験データＡ１． ２３３は試験データＢ１ ２３５は試験データＣ１ ２３７は試験データＤ。 ２４１は実装データ格納手段、 ２５０は回路基板ａ１ ２５１はＲＡＳ回路Ａ１ ２５３はＲＡＳ回路Ｂ１ ２６０は回路基板ｂ、 ２６１はＲＡＳ回路Ａ１ ２６３はＲＡＳＩ川路Ｂ用 ２７０は回路基板Ｃ１ ２７１はＲＡＳＮ路Ｃ１ ２７３はＲＡＳ回路りである。 本全Ｂ目の原ぞ！プ０．７９邑 第１図 兜曳りｊめ構成図 第２図 ５ミ斑づ例　の　を力　１１ミ１ｖ汗ジ　哨　間第３図 従来例の橋蕎図 第４図

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 試験データ格納手段（１３１）に格納されたデータから
   、ＲＡＳ回路の機能を試験するための試験信号を作成す
   る試験データ変換手段（１１３）と、 実装データ格納手段（１４１）に格納されたデータを基
   にして、同一のＲＡＳ回路の実装状態を調べる同一回路
   判定手段（１１１）と、 同一回路判定手段（１１１）で判定された同一のＲＡＳ
   回路ごとに、試験データ変換手段（１１３）で得られた
   試験信号を入力するデータ割り振り手段（１１５）と、 ＲＡＳ回路の試験を行ない、結果を出力する回路試験手
   段（１１７）と、 を具え、複数のＲＡＳ回路の中から同一のＲＡＳ回路を
   選別し、一括して機能試験ができるように構成したこと
   を特徴とするＲＡＳ回路の試験方式。