JPS6370594A - フレキシブル回路 - Google Patents
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は可視性を有する基材材料上のプリント回路に対
応する[フレキシブル回路Jに関するものである[例え
ば「回路基板技術ハンドブック(Handbuck
der Ieiterplattentechnik
)J−1f’−Lシタ−6ヘルマン(G Llnthe
r Herrman)、レンゼーベルラル(L enz
e−V erlag)、第2版(1982)、51頁参
照]。
応する[フレキシブル回路Jに関するものである[例え
ば「回路基板技術ハンドブック(Handbuck
der Ieiterplattentechnik
)J−1f’−Lシタ−6ヘルマン(G Llnthe
r Herrman)、レンゼーベルラル(L enz
e−V erlag)、第2版(1982)、51頁参
照]。
サブトラフ) (subtractive)技術により
銅箔積層フィルムからのフレキシブル回路、例えばフラ
ット・リボン・リード(flat ribbon
1ead)、電子カメラにおける回路、接続部品に対す
るケーブル・ル−ム(loo鶴)、自動車にお(する装
置パネルワイヤー類、データ処理装置、飛行磯及ゾロケ
ットにおけるフラット・リード及びケーブル・ルームの
製造は公知である。
銅箔積層フィルムからのフレキシブル回路、例えばフラ
ット・リボン・リード(flat ribbon
1ead)、電子カメラにおける回路、接続部品に対す
るケーブル・ル−ム(loo鶴)、自動車にお(する装
置パネルワイヤー類、データ処理装置、飛行磯及ゾロケ
ットにおけるフラット・リード及びケーブル・ルームの
製造は公知である。
公知のサブトラクト法は不経済である欠点ばかりでなく
、エツチング工程において伝導路(conduetin
g rath)のアンダーカッティング(under
cuLting)を生じる欠、αも有する。このアンダ
ーカッティング効果により、200μ騰より小さい伝導
路中及び伝導路間隔を有する極めて微細な伝導路を製造
するためにサブトラクト法を用いることはできない。
、エツチング工程において伝導路(conduetin
g rath)のアンダーカッティング(under
cuLting)を生じる欠、αも有する。このアンダ
ーカッティング効果により、200μ騰より小さい伝導
路中及び伝導路間隔を有する極めて微細な伝導路を製造
するためにサブトラクト法を用いることはできない。
上記の欠7αを避けるために、いわゆるセミアディティ
ブ(sewiadditive)法及びフルアディティ
ブ(fullyadditive)法を開発する試みが
従来なされてきた。これらの方法に行うために、薄い、
堅固に接着する、電導性金属コート(coat)が非常
に重要である。
ブ(sewiadditive)法及びフルアディティ
ブ(fullyadditive)法を開発する試みが
従来なされてきた。これらの方法に行うために、薄い、
堅固に接着する、電導性金属コート(coat)が非常
に重要である。
これに関して、通常の堅い基材材料に対する堅固に接着
する金属コートの析出は入念な前処理を必要とする。例
えば、プラスマット強化されたエポキシ樹脂または紙強
化されたフェノール性樹脂製の基材材料は回路基板を製
造するために最初に粘着層を与え、続いて、このように
前処理されたボーにをイオン性またはコロイド状の1!
を金属溶液で活性化しマスキングしそして市販の金属化
浴中で金属化する萌に、酸化液、好ましくはクロモ硫酸
(chro+*osulfuric acid)で処
理しなければならない。
する金属コートの析出は入念な前処理を必要とする。例
えば、プラスマット強化されたエポキシ樹脂または紙強
化されたフェノール性樹脂製の基材材料は回路基板を製
造するために最初に粘着層を与え、続いて、このように
前処理されたボーにをイオン性またはコロイド状の1!
を金属溶液で活性化しマスキングしそして市販の金属化
浴中で金属化する萌に、酸化液、好ましくはクロモ硫酸
(chro+*osulfuric acid)で処
理しなければならない。
多くの工程を必要とするこれらの方法に加えて、この技
術は同伴されるクロムイオンが浴を不可逆的に被毒し、
そして得られる回路基板が不満足な電気特性を有する欠
点を有する。
術は同伴されるクロムイオンが浴を不可逆的に被毒し、
そして得られる回路基板が不満足な電気特性を有する欠
点を有する。
従って次の工程である化学的金属化のために汁金属アミ
ン錯体生成または塩化バラノウムを基にした溶液または
ラッカー(lacquer)を用いて、酸化的に前処理
せずに、基板例えばプリント基板の支持基板の非伝導性
表面を活性化することが既に提案されている(例えばそ
れぞれ米国特許出願第3.560,257号及び同第4
,248,032号に対応するドイツ国特許出i第1,
696,603号及び同第2,116.389号参照)
。
ン錯体生成または塩化バラノウムを基にした溶液または
ラッカー(lacquer)を用いて、酸化的に前処理
せずに、基板例えばプリント基板の支持基板の非伝導性
表面を活性化することが既に提案されている(例えばそ
れぞれ米国特許出願第3.560,257号及び同第4
,248,032号に対応するドイツ国特許出i第1,
696,603号及び同第2,116.389号参照)
。
また、これらの活性化法は物質に対して温和な効果を有
するが、これらは比較的大量のけ金属を必要とし、そし
てこれらの貴金属被覆は電子工業において必要とされる
高い規格の耐摩耗性が得られないため、これ*″CC実
施るには致らながった、この理由により、少なくとも前
者の特許出願はエツチング剤を用いる追加の表面処理を
推奨している(第6欄、48行目参照)。
するが、これらは比較的大量のけ金属を必要とし、そし
てこれらの貴金属被覆は電子工業において必要とされる
高い規格の耐摩耗性が得られないため、これ*″CC実
施るには致らながった、この理由により、少なくとも前
者の特許出願はエツチング剤を用いる追加の表面処理を
推奨している(第6欄、48行目参照)。
基板材料の表面が
a) 0.015乃至0,045ctmコ/、2の面
積比全細孔容積、 b) o、os乃至12.0μmの細孔平均直径及び e) 0.05乃至12.0μ−の細孔平均深さに特
徴を有する場合に、通常の活性剤系を用いるセミアディ
ティブまたはフルアディティブ技術により、簡単な方法
で、即ちエツチングなしにこれらの欠点を除去すること
ができ、そして高品質のフレキシブル回路が得られるこ
とが見出された。
積比全細孔容積、 b) o、os乃至12.0μmの細孔平均直径及び e) 0.05乃至12.0μ−の細孔平均深さに特
徴を有する場合に、通常の活性剤系を用いるセミアディ
ティブまたはフルアディティブ技術により、簡単な方法
で、即ちエツチングなしにこれらの欠点を除去すること
ができ、そして高品質のフレキシブル回路が得られるこ
とが見出された。
好適な面積比全細孔容積は0.020乃至0.040
dva3/ m2の間、殊に望ましくは0.023乃至
0.038dlコ/饋2の間である。
dva3/ m2の間、殊に望ましくは0.023乃至
0.038dlコ/饋2の間である。
好適な細孔平均直径は0.5〜5μ■、殊に望ましくは
1〜2μ働である。
1〜2μ働である。
好適な細孔平均深さは0.1〜4.0μm1殊に望まし
くは0.5〜2.5μ曽である。
くは0.5〜2.5μ曽である。
本発明によるフレキシブル回路の製造方法は」二元の表
面構造を有する基板材料を特定のタイプの有機金属活性
剤系で処理し、場合によっては還元剤で増感し、かくて
得られる半加工品を全面積にわたるか、または部分的;
こ湿式−化学的金属化洛中で金属化し、続いて回路基板
をセミアディティブ又はフルアディティブ技術の公知の
原理により完了させることを特徴とする。
面構造を有する基板材料を特定のタイプの有機金属活性
剤系で処理し、場合によっては還元剤で増感し、かくて
得られる半加工品を全面積にわたるか、または部分的;
こ湿式−化学的金属化洛中で金属化し、続いて回路基板
をセミアディティブ又はフルアディティブ技術の公知の
原理により完了させることを特徴とする。
本発明による方法の具体的において、かくて処理された
フィルム基板を50℃から分解範囲の温度、好ましくは
軟化、αの領域の温度で熱処理することにより工程の信
頼性が増す。
フィルム基板を50℃から分解範囲の温度、好ましくは
軟化、αの領域の温度で熱処理することにより工程の信
頼性が増す。
本発明による表面構造を生成させるために、物理的方法
[例えば特定のサンドプラス) (sand−blas
ting)技術、ブラシ法(brushiB met
hod)またはレーザー照射]ばかりでなく、化学的工
程(例えば選択的溶媒を用いる処理)も使用できる。こ
れらの表面を製造する他の方法は金属積層された基材か
らレドックス(redox)浴中での化学的方法による
か[例えばG・ベルマン(Herr+*ann)ら、「
回路基板の製造及び処理(Leiterplatten
、 HersLellung und Verar
beitung)J、103−108頁、G−ロイゼ・
ベルラグ(Leuze Verlag)、サウル〃つ
/ヴイルト(S au1gau/ Wtirtt)、1
978参照]または電気接触腐食的に(electro
galvanically)その積層物を除去すること
からなり、その際に本発明に従った表面構造が自動的に
確立されるようになる。
[例えば特定のサンドプラス) (sand−blas
ting)技術、ブラシ法(brushiB met
hod)またはレーザー照射]ばかりでなく、化学的工
程(例えば選択的溶媒を用いる処理)も使用できる。こ
れらの表面を製造する他の方法は金属積層された基材か
らレドックス(redox)浴中での化学的方法による
か[例えばG・ベルマン(Herr+*ann)ら、「
回路基板の製造及び処理(Leiterplatten
、 HersLellung und Verar
beitung)J、103−108頁、G−ロイゼ・
ベルラグ(Leuze Verlag)、サウル〃つ
/ヴイルト(S au1gau/ Wtirtt)、1
978参照]または電気接触腐食的に(electro
galvanically)その積層物を除去すること
からなり、その際に本発明に従った表面構造が自動的に
確立されるようになる。
使用し得る基板材料は種々の重合体、例えばポリテトラ
フルオロエチレン(Tetlon)、ポリ7ツ化ビニリ
デン及びポリ7フ化ビニル(Tedlar)kたは芳香
族及び/もしくは脂肪族ポリエステル、ポリイミド、ポ
リアミドイミド、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリ
スルホン例えばUdel、ビフェノールA及び4.4′
−ジクロロジフェニルスルホンをベースとする重縮合体
、例えばノ7工二ルエーテルの塩化スルホニルの重縮合
により?!4!!されるポリエーテルスルホン ポリベンゾオキサノンシオン、ポリフェニレンスルフィ
ド並びにポリフェニレンオキシド例えばボ17ー2.6
−ノメチルフエニレンオキサイドである。
フルオロエチレン(Tetlon)、ポリ7ツ化ビニリ
デン及びポリ7フ化ビニル(Tedlar)kたは芳香
族及び/もしくは脂肪族ポリエステル、ポリイミド、ポ
リアミドイミド、ポリカーボネート、ポリアミド、ポリ
スルホン例えばUdel、ビフェノールA及び4.4′
−ジクロロジフェニルスルホンをベースとする重縮合体
、例えばノ7工二ルエーテルの塩化スルホニルの重縮合
により?!4!!されるポリエーテルスルホン ポリベンゾオキサノンシオン、ポリフェニレンスルフィ
ド並びにポリフェニレンオキシド例えばボ17ー2.6
−ノメチルフエニレンオキサイドである。
勿論また本発明による方法を行なうために上記物質のグ
ラフト重合体、共重合体及1混合した重合体を用いるこ
ともできる.原理的に、電子工業の特定の応用分野に適
するいずれかのフィルム物質を用いることができる.そ
のはんだ浴安定性に特徴がある重合体が特に有用である
ことが従来外っている。これに関して、芳香族ポリイミ
ド、ポリアミドイミド、ポリエステル及1テフロン(T
eflOn)フィルムに注目し得る。
ラフト重合体、共重合体及1混合した重合体を用いるこ
ともできる.原理的に、電子工業の特定の応用分野に適
するいずれかのフィルム物質を用いることができる.そ
のはんだ浴安定性に特徴がある重合体が特に有用である
ことが従来外っている。これに関して、芳香族ポリイミ
ド、ポリアミドイミド、ポリエステル及1テフロン(T
eflOn)フィルムに注目し得る。
用いるフィルムの厚さは本発明の本質に対して重要なこ
とではなく、そして約20〜250μ浦の範囲であり得
る。極端な場合には上記範囲により薄いか、または厚い
基材も用いることができる。
とではなく、そして約20〜250μ浦の範囲であり得
る。極端な場合には上記範囲により薄いか、または厚い
基材も用いることができる。
勿論また種々のフィルムの物質を種々の方法で相互に結
合することができる.例えばポリイミドフィルムは片側
または両側上にテフロン屑を含有し得る.唯一の前提条
件はこの塗布された層が担体フィルムに十分堅固に結合
させられ、そして塗布されているが必要な粗さを許容し
得ることだけである。
合することができる.例えばポリイミドフィルムは片側
または両側上にテフロン屑を含有し得る.唯一の前提条
件はこの塗布された層が担体フィルムに十分堅固に結合
させられ、そして塗布されているが必要な粗さを許容し
得ることだけである。
フィルム物質は強化材例えばプラス、鉱物、炭素及びア
ラミドamまたはマット並びにその混合物で強化し得る
。同様に、種々の理由のために無8!質フイラー(fi
lter)をフィルム中に配合し得る。
ラミドamまたはマット並びにその混合物で強化し得る
。同様に、種々の理由のために無8!質フイラー(fi
lter)をフィルム中に配合し得る。
殊に好適なベース物質は芳香族ポリエステル(例えばポ
リエチレンテレフタレート及びポリブチレンテレフタレ
ート)並びに例えばドイツ国特許出i第1,202,9
81号(米国特許第3,287゜311号に対応)に記
載され、次式を有するポリイミドからなる; モしてR’=7リーレン基、例えば 好適な方法により基板材料上に特徴的な表面を生成させ
るために、可撓性を有する担体は金属箔を用いて該担体
の片側または両側上に積層される。
リエチレンテレフタレート及びポリブチレンテレフタレ
ート)並びに例えばドイツ国特許出i第1,202,9
81号(米国特許第3,287゜311号に対応)に記
載され、次式を有するポリイミドからなる; モしてR’=7リーレン基、例えば 好適な方法により基板材料上に特徴的な表面を生成させ
るために、可撓性を有する担体は金属箔を用いて該担体
の片側または両側上に積層される。
この金属箔は次の工程で剥離される。
金属積層物を剥離するために、酸ばかりでなく、中性及
びアルカリ性のレドックス浴も適している。
びアルカリ性のレドックス浴も適している。
例えばH2O2、C10,−及びFe3+をベースとし
、そして塩酸または硫酸を含むレドックス系並びに塩化
ナトリウム及び過硫酸アンモニウムを含むアンモニウム
性レドックス系がある。またプラスチック表面が用いる
レドックス浴により攻vlされないことを条件に、本発
明による方法を行うために金属層をエツチングする他の
レドックス系を用いることができる。この理由のために
、殊に基板材料の物理特性を損なうため、クロモ硫酸を
ベースとする通常の攻撃的なプラスチック酸洗浄(pi
ckling)浴は理想的には避けるべきである。
、そして塩酸または硫酸を含むレドックス系並びに塩化
ナトリウム及び過硫酸アンモニウムを含むアンモニウム
性レドックス系がある。またプラスチック表面が用いる
レドックス浴により攻vlされないことを条件に、本発
明による方法を行うために金属層をエツチングする他の
レドックス系を用いることができる。この理由のために
、殊に基板材料の物理特性を損なうため、クロモ硫酸を
ベースとする通常の攻撃的なプラスチック酸洗浄(pi
ckling)浴は理想的には避けるべきである。
最適の表面構造は電気めっきにより生成される金属箔で
積Nされた回路板材料から出発することにより得られる
。
積Nされた回路板材料から出発することにより得られる
。
このことは、かかる金属箔が高分子基板材料上に積層さ
れる際に決定的に基板材料の特定の表面構造を生成させ
る特定の多孔性を有するためである。 金属箔表面上の
粗さの形成は、電気めっき俗にアンチモン、カドミウム
、鉄、セレン及びテルルをベースとする錯体化合物を加
えるが、または続いて化学的または機械的方法より電解
質金属箔を粗すことにより高め得る。
れる際に決定的に基板材料の特定の表面構造を生成させ
る特定の多孔性を有するためである。 金属箔表面上の
粗さの形成は、電気めっき俗にアンチモン、カドミウム
、鉄、セレン及びテルルをベースとする錯体化合物を加
えるが、または続いて化学的または機械的方法より電解
質金属箔を粗すことにより高め得る。
多孔表面構造[トポグラフィ−(topography
)]によって特徴づけられるかかる金属(好ましくは銅
)箔の製造はしばしば文献に記載されでいる。これニ関
して犬のものを挙げ得る二「メタロベルクレッへ(Mc
tallober41iiche)J第31巻(12)
、563(1977)、第38巻(10)、439以下
(1984)及び第38巻(3)、103以下(198
4)並びに次の特許文献:ドイツ国特許出H第2,23
5.522号、同第2,249,796号、同第2゜5
00.160号、ドイツ国特許出願公告(B)第1.4
96,748号、米国特許第3,220,897号、同
第3,328,275号、同第3,580゜010号及
び同第3,227,636号。上記の最後の米国特許明
細書の方法により、金属箔の多孔性側の面が殊に活性金
J14/金属酸化物構造を有するような多孔性金属(銅
)箔を得ることができる。
)]によって特徴づけられるかかる金属(好ましくは銅
)箔の製造はしばしば文献に記載されでいる。これニ関
して犬のものを挙げ得る二「メタロベルクレッへ(Mc
tallober41iiche)J第31巻(12)
、563(1977)、第38巻(10)、439以下
(1984)及び第38巻(3)、103以下(198
4)並びに次の特許文献:ドイツ国特許出H第2,23
5.522号、同第2,249,796号、同第2゜5
00.160号、ドイツ国特許出願公告(B)第1.4
96,748号、米国特許第3,220,897号、同
第3,328,275号、同第3,580゜010号及
び同第3,227,636号。上記の最後の米国特許明
細書の方法により、金属箔の多孔性側の面が殊に活性金
J14/金属酸化物構造を有するような多孔性金属(銅
)箔を得ることができる。
適当な金属箔は原理的にすべての通常の電気めっ外回能
な金属、例えばCo、Ni、Pt、 Pd、 Ag、A
1及び殊にAu、特にCu並びにその混合物から誘導さ
れる(例えば[ブレーティング(P fating)J
、L玄、228〜232(1965)参照)。
な金属、例えばCo、Ni、Pt、 Pd、 Ag、A
1及び殊にAu、特にCu並びにその混合物から誘導さ
れる(例えば[ブレーティング(P fating)J
、L玄、228〜232(1965)参照)。
金属積層物をエツチング除去した後、高分子担体材料は
その形状において本発明に用いる基板材料に対応する表
面構造を残している。
その形状において本発明に用いる基板材料に対応する表
面構造を残している。
サンドブラストにより本発明の表面を生成させるために
は、粉末状物質は0.1〜10μ鶴、好ましくは5〜7
μ−の平均粒径を有すべきである。
は、粉末状物質は0.1〜10μ鶴、好ましくは5〜7
μ−の平均粒径を有すべきである。
石英、鋼玉(corundu論)及びグイヤモンドをベ
ースとする粉末物質が本性を行う際に高度に適している
。高分子基板材料のいずれかの化学的劣化を避けるため
に、サンドブラストは不活性がス雰囲気下でも勿論行い
得る。
ースとする粉末物質が本性を行う際に高度に適している
。高分子基板材料のいずれかの化学的劣化を避けるため
に、サンドブラストは不活性がス雰囲気下でも勿論行い
得る。
好ましくは、本発明による方法を行う際に適する多孔性
表面構造は公知の膜(meIsbrane)製造法によ
り製造し得る(例えばドイツ国特許出@!#2,431
.071号、米国特許第4,286テ015号、ドイツ
国特許出g第3,205,289号及び英国特許第2,
030,843号参照)、ここに公知のように、高分子
基板材料を、その化学特性に関して基板材料と同一であ
り、種々の揮発分の溶媒混合物の状態でありそしてまた
場合によっては膨潤剤及び細孔形成剤を含有するプリポ
リマーまたは重合体の溶液で湿潤させる。高度に揮発性
の溶媒を部分的に蒸発させ、続いて凝集または沈澱剤を
例えば真空下で重合体マトリックスから引き抜く。
表面構造は公知の膜(meIsbrane)製造法によ
り製造し得る(例えばドイツ国特許出@!#2,431
.071号、米国特許第4,286テ015号、ドイツ
国特許出g第3,205,289号及び英国特許第2,
030,843号参照)、ここに公知のように、高分子
基板材料を、その化学特性に関して基板材料と同一であ
り、種々の揮発分の溶媒混合物の状態でありそしてまた
場合によっては膨潤剤及び細孔形成剤を含有するプリポ
リマーまたは重合体の溶液で湿潤させる。高度に揮発性
の溶媒を部分的に蒸発させ、続いて凝集または沈澱剤を
例えば真空下で重合体マトリックスから引き抜く。
「表面比(area−specific)全細孔容積」
は基板材料の地金細孔容積(am)/g)及び単位面積
当りの重量(g/−”)の積、即ち [cms/gl ・[g/m21= [cm’/m21
または[10−’ ・dm’/m2]である。
は基板材料の地金細孔容積(am)/g)及び単位面積
当りの重量(g/−”)の積、即ち [cms/gl ・[g/m21= [cm’/m21
または[10−’ ・dm’/m2]である。
固体表面の地金編孔容積の定義はアンデバンドウチ・ヘ
ミ−(AngeIChem、)84.331−336頁
(1972)にある。
ミ−(AngeIChem、)84.331−336頁
(1972)にある。
「細孔平均深さ」及び「細孔平均直径」は走査型電子顕
微鏡により測定された、細孔の大きさの平均値(がウス
標準分布を基として)を意味するものとして理解される
。
微鏡により測定された、細孔の大きさの平均値(がウス
標準分布を基として)を意味するものとして理解される
。
適当な活性剤は有機系のみでなく無fi系のものであり
得る1本発明に用いる有機活性剤は、例えばドイツ国特
許出願第3,025,307号、同第3.150.98
5号及び同第3,324,767号に記載の、それ自体
公知の貴金属化合物例えばジエンのPt−及びPd−錯
体、高分子錯化剤並びにα。
得る1本発明に用いる有機活性剤は、例えばドイツ国特
許出願第3,025,307号、同第3.150.98
5号及び同第3,324,767号に記載の、それ自体
公知の貴金属化合物例えばジエンのPt−及びPd−錯
体、高分子錯化剤並びにα。
β−不飽和ケトンである。
好適なものは金属を結合するに必要な基に加えて少なく
とも更に1個の官能基を含む有機金属化金物、好ましく
はΩ−錯体化合物(Ω−0゜よIex c。
とも更に1個の官能基を含む有機金属化金物、好ましく
はΩ−錯体化合物(Ω−0゜よIex c。
1、。unds)である。かかる化合物は公知であり、
且つドイツ国特許出願第3,148,280号iこ記載
されている。
且つドイツ国特許出願第3,148,280号iこ記載
されている。
更に官能基は基材表面に極めて堅固な結合する原因とな
り、この接着が基体表面との化学反応または吸着を基と
され得る。
り、この接着が基体表面との化学反応または吸着を基と
され得る。
基材表面に対する活性剤の化学的結合に殊に適するもの
は、官能基たとえばカルボン酸基、ハロゲン化カルボニ
ル基、無水カルボン酸基、カルボン酸エステル基、カル
ボキシアミド及びカルボキシイミド基、アルデヒド及び
ケトン基、エーテル基、スルホンアミド基、スルホン酸
基及びスルホネート基、ハロゲン化スルホニル基、スル
ホン酸エステル基、ハロゲン含有複素環式基例えばクロ
ロチアジニル、クロロピラノニル、クロロピリミジニル
もしくはクロロキ7キサリニル基、ビニルスルホル酸ま
たはアクリルll誘導体の場合の如き活性化された二重
結合、アミ7基、ヒドロキシル基、インシアネート基、
オレフィン基及びアセチレン基並びにメルカプト基であ
る。
は、官能基たとえばカルボン酸基、ハロゲン化カルボニ
ル基、無水カルボン酸基、カルボン酸エステル基、カル
ボキシアミド及びカルボキシイミド基、アルデヒド及び
ケトン基、エーテル基、スルホンアミド基、スルホン酸
基及びスルホネート基、ハロゲン化スルホニル基、スル
ホン酸エステル基、ハロゲン含有複素環式基例えばクロ
ロチアジニル、クロロピラノニル、クロロピリミジニル
もしくはクロロキ7キサリニル基、ビニルスルホル酸ま
たはアクリルll誘導体の場合の如き活性化された二重
結合、アミ7基、ヒドロキシル基、インシアネート基、
オレフィン基及びアセチレン基並びにメルカプト基であ
る。
更に具体例において、錯体化される配位子及びイオンま
たは分子を「ゲスト/ホストJ(guest/ h。
たは分子を「ゲスト/ホストJ(guest/ h。
st)相互作用させる貴金属錯体化合物が用いられる。
適当な選択性錯体配位子は、その化学的及び/または物
理的特性によりホスト分子であるか、または錯体化され
るイオン性もしくは中性化合物の存在下で錯体または付
加(adduct)生成に必要な形態をとる、環式また
は非環式化合物であり、その際に錯体化される媒質の存
在下において極性部分はこのものに向かって配向する。
理的特性によりホスト分子であるか、または錯体化され
るイオン性もしくは中性化合物の存在下で錯体または付
加(adduct)生成に必要な形態をとる、環式また
は非環式化合物であり、その際に錯体化される媒質の存
在下において極性部分はこのものに向かって配向する。
文献には、アルカリ金属またはアルカリ土類金属例えば
Li”、Na”、K中、Ca2+またはNH,+[E。
Li”、Na”、K中、Ca2+またはNH,+[E。
ウニ/(−(weber)、「コンタクチ(Konta
kte月(グームスタッ1″)1、(1981)及びJ
、G、シンドラ−(S bindler)、「生物電気
化学的膜電極(BioelekLrochewiscb
e Membranalektroden)J77−
104頁、ウオルター・デ・グルイタ−・ベルラグ(W
elter de G ruyter V er
lag)、ベルリン/ニューヨーク(1983)参照]
、または重金属イオン例えばCo”、Ni”、Feコ+
、Cci2+及びAg+並びにまた陰イオン例えばCj
−及びSO4”−(上記のJ、G、シンドラ−1104
〜112頁参照)、並びにまた中性配位子または化合物
との選択的デストーホスト錯体を生成し得る多数の選択
的ホスト分子が記載されている。
kte月(グームスタッ1″)1、(1981)及びJ
、G、シンドラ−(S bindler)、「生物電気
化学的膜電極(BioelekLrochewiscb
e Membranalektroden)J77−
104頁、ウオルター・デ・グルイタ−・ベルラグ(W
elter de G ruyter V er
lag)、ベルリン/ニューヨーク(1983)参照]
、または重金属イオン例えばCo”、Ni”、Feコ+
、Cci2+及びAg+並びにまた陰イオン例えばCj
−及びSO4”−(上記のJ、G、シンドラ−1104
〜112頁参照)、並びにまた中性配位子または化合物
との選択的デストーホスト錯体を生成し得る多数の選択
的ホスト分子が記載されている。
活性化を行う際に適するものはその鎖の中にヘテロ原子
(0、N及びS)を含むすべてのホスト錯体配位子であ
る。商度に適するものはクラウンエーテル(crown
ethers)、クリプタンド(cryptand
S)及びボタンド(podants)並びにその誘導体
、及び環式ペプチド、更に例えば輸送調節剤として生物
学的系に公知であるテトラヒドロフラン含有の、エーテ
ル結合されたマクロライ) (macrolide)、
並びにヘテロ原子例えばS及びNをベースとする同族化
合物である。
(0、N及びS)を含むすべてのホスト錯体配位子であ
る。商度に適するものはクラウンエーテル(crown
ethers)、クリプタンド(cryptand
S)及びボタンド(podants)並びにその誘導体
、及び環式ペプチド、更に例えば輸送調節剤として生物
学的系に公知であるテトラヒドロフラン含有の、エーテ
ル結合されたマクロライ) (macrolide)、
並びにヘテロ原子例えばS及びNをベースとする同族化
合物である。
「クラウンエーテル」、「クリプタンド」及び「ボタン
ド」なる用語の定義はF・ヴエク)ル(VdgNe)、
「コンタクチ」(ゲームスタッド)(1977)及び(
1978)、E・ウニバー、[コンタクチJ(ゲームス
タッド)(1984)並びにヴエグトル[ヘミケ/l、
’7アイトウング(Chemikerzeitung
)J97 。
ド」なる用語の定義はF・ヴエク)ル(VdgNe)、
「コンタクチ」(ゲームスタッド)(1977)及び(
1978)、E・ウニバー、[コンタクチJ(ゲームス
タッド)(1984)並びにヴエグトル[ヘミケ/l、
’7アイトウング(Chemikerzeitung
)J97 。
600〜(310(1973)による検索に見い出し得
る。
る。
殊に好適なものは、その環系中に更にヘテロ原子例えば
N及びSを含有し得る環式または非環式クラウンエーテ
ルをベースとする置換及び未置換のホスト配位子により
与えられる。かかる化合物はドイツ国特許出願第2,8
42,862号及ゾヨーロッパ特許出H第10,615
号に記載される。
N及びSを含有し得る環式または非環式クラウンエーテ
ルをベースとする置換及び未置換のホスト配位子により
与えられる。かかる化合物はドイツ国特許出願第2,8
42,862号及ゾヨーロッパ特許出H第10,615
号に記載される。
活性化工程を行う際の他の変法において、上記のホスト
分子は供給結合的に高分子性またはオリゴマー性化合物
中に結合され、次に所望の活性化媒質と錯体化する。か
かるオリゴマー性または高分子性の系は公知であり、そ
して例えば「重合体骨格において巨大複素環式(クラウ
ンエーテル)vt造を有する新規なポリウレタン[No
νel Po!yurethanes with
Macroheteroeyclic(Crown
Ether)S truetures in t
he P olywer B ackb。
分子は供給結合的に高分子性またはオリゴマー性化合物
中に結合され、次に所望の活性化媒質と錯体化する。か
かるオリゴマー性または高分子性の系は公知であり、そ
して例えば「重合体骨格において巨大複素環式(クラウ
ンエーテル)vt造を有する新規なポリウレタン[No
νel Po!yurethanes with
Macroheteroeyclic(Crown
Ether)S truetures in t
he P olywer B ackb。
nelJ、J−E・バーウェー (Herweh)、ジ
ャーナル・オブ・ポリマー・サイエンス:ポリマー・ケ
ミストリー・エディジョン(J、 of Po1y+
5erScience:Polymer Chem
istry Edition)、 第21巻、3
101(1983)に記載されでいる。
ャーナル・オブ・ポリマー・サイエンス:ポリマー・ケ
ミストリー・エディジョン(J、 of Po1y+
5erScience:Polymer Chem
istry Edition)、 第21巻、3
101(1983)に記載されでいる。
ホスト/ゲスト分子の無機部分は好ましくは式%式%
放物から生成される。Pd化合物が好ましい。
無機活性剤は待に金属性Pd、 PL、 Au、及びA
8のコロイド系のものであり、これらは随時更に周期表
の第3及V4主族並びに第二次族の元素(例えばSi、
Ti、Ta、Zn、Sn、Zr及びAI)の加水分解可
能な化合物を含有し得る。
8のコロイド系のものであり、これらは随時更に周期表
の第3及V4主族並びに第二次族の元素(例えばSi、
Ti、Ta、Zn、Sn、Zr及びAI)の加水分解可
能な化合物を含有し得る。
かかる活性系はある場合には市販品として得られ、そし
てその他はしばしば文献に記載されている[例えば「プ
ラスチ・ンクの電気めっき(K unstst。
てその他はしばしば文献に記載されている[例えば「プ
ラスチ・ンクの電気めっき(K unstst。
rfgalvanisierung)J、R0ウエイン
ズ(Weines)、オイデレ・レンズ・ベルラフ(E
ugen Lerz Verlag)、サウル〃ツ
/ブルテンプルグ(S au1gau/ WLIrtt
emburg)(1979)、 180−209
頁参照]。
ズ(Weines)、オイデレ・レンズ・ベルラフ(E
ugen Lerz Verlag)、サウル〃ツ
/ブルテンプルグ(S au1gau/ WLIrtt
emburg)(1979)、 180−209
頁参照]。
好適なものはPd及びPd/Snj”;で与えられる。
活性剤は0,001g/l(貴金属を基準として)から
特定の溶解度の限界までの範囲の濃度で使用し得る。こ
れらの物質0.1〜3.08712を用いて行うことが
好ましい。
特定の溶解度の限界までの範囲の濃度で使用し得る。こ
れらの物質0.1〜3.08712を用いて行うことが
好ましい。
その高い照点安定性(ある場合には数週間の貯蔵後でも
溶液に曇りがない)並びに紫外及び/または可視スペク
トルにおけるその高い吸収性により、これらのものは高
度計を用いる連続的濃度監視に極めて適する。
溶液に曇りがない)並びに紫外及び/または可視スペク
トルにおけるその高い吸収性により、これらのものは高
度計を用いる連続的濃度監視に極めて適する。
加えて、本発明に用いる錯体化合物の吸収特性は特定の
置換基(特に−NO2、−NR,、−8o、H及び−C
N)を導入する二とにより更に増大させ得る。
置換基(特に−NO2、−NR,、−8o、H及び−C
N)を導入する二とにより更に増大させ得る。
活性剤または金B4Nの剥離(pee l −of f
)抵抗を増加させるために、該ホスト分子に更に官能
基を得る。
)抵抗を増加させるために、該ホスト分子に更に官能
基を得る。
基材表面への活性剤の化学的結合に殊に適するものは官
能基たとえばカルボン酸基、ハロゲン化カルボニル基、
無水カルボン酸基、カルボン酸エステル基、カルボキシ
アミド及びカルボキシイミド基、アルデヒド及びケトン
基、エーテル基、スルホンアミド基、スルホン酸基及び
スルホネート基、ハロゲン化スルホニル基、スルホン酸
エステル基、ハロゲン含有複素環式基例えばクロロチア
ゾニル、クロロビラノニル、クロロビリミノニルもしく
はクロロキノキサリニル基、ビニルスルホル酸またはア
クリル酸誘導体の場合の如き活性化された二重結合、ア
ミ7基、ヒドロキシル基、イソシアネート基、オレフィ
ン基及びアセチレン基並びにメルカプトまたはCaから
のアルケニル基、殊にオレイン、リルン、ステアリンも
しくはパルミチン基である。
能基たとえばカルボン酸基、ハロゲン化カルボニル基、
無水カルボン酸基、カルボン酸エステル基、カルボキシ
アミド及びカルボキシイミド基、アルデヒド及びケトン
基、エーテル基、スルホンアミド基、スルホン酸基及び
スルホネート基、ハロゲン化スルホニル基、スルホン酸
エステル基、ハロゲン含有複素環式基例えばクロロチア
ゾニル、クロロビラノニル、クロロビリミノニルもしく
はクロロキノキサリニル基、ビニルスルホル酸またはア
クリル酸誘導体の場合の如き活性化された二重結合、ア
ミ7基、ヒドロキシル基、イソシアネート基、オレフィ
ン基及びアセチレン基並びにメルカプトまたはCaから
のアルケニル基、殊にオレイン、リルン、ステアリンも
しくはパルミチン基である。
化学反応を通して結合が起こらない場合、基材表面上で
の有機−&属活性剤の吸着による接着が生じ、例えば水
素結合またはファン・デル・ワールス力による吸着が生
じる。
の有機−&属活性剤の吸着による接着が生じ、例えば水
素結合またはファン・デル・ワールス力による吸着が生
じる。
特定の基材に対して吸着を生じさせる官能基を用いるこ
とが有利である0例えば、活性剤分子中の&4iフルキ
ルまたはアルケニル基はポリエチレンまたはポリプロピ
レン製の基材に対する接着を改善する。他方、ポリアミ
ド−またはポリエステル−ベースの製品を金属化するた
めに、例えば追加のカルボニルまたはスルホン基を有す
る活性剤が殊に有利である。
とが有利である0例えば、活性剤分子中の&4iフルキ
ルまたはアルケニル基はポリエチレンまたはポリプロピ
レン製の基材に対する接着を改善する。他方、ポリアミ
ド−またはポリエステル−ベースの製品を金属化するた
めに、例えば追加のカルボニルまたはスルホン基を有す
る活性剤が殊に有利である。
@着により基材表面への活性剤の結合に殊に適するもの
はカルボン酸基及び無水カルボン酸基の如き官能基であ
る。
はカルボン酸基及び無水カルボン酸基の如き官能基であ
る。
実際には、適当な有機溶媒中の選択された金属錯体の溶
液で金属化するために基板支持体を湿潤させ、溶媒を除
去し、そして場合によっては適当な還元剤で増感するこ
とにより一般に活性化を行う、その後、このように前処
理された支持体を通常の金属化浴中で金属化し得る。
液で金属化するために基板支持体を湿潤させ、溶媒を除
去し、そして場合によっては適当な還元剤で増感するこ
とにより一般に活性化を行う、その後、このように前処
理された支持体を通常の金属化浴中で金属化し得る。
増感に適する還元剤はアミノボラン、次亜リン酸アルカ
リ金属、水素化アルキルボラン、ヒドラノン水素化物及
びホルマリンである。基体の湿潤の噴霧、プリティング
、飽和化(saturat iB)または含浸により行
い得る。
リ金属、水素化アルキルボラン、ヒドラノン水素化物及
びホルマリンである。基体の湿潤の噴霧、プリティング
、飽和化(saturat iB)または含浸により行
い得る。
支持体表面に対する金属層の接着を増大させるために、
特に好適なものは金属化されるプラスチック表面を少々
溶解させるか、または膨潤させる溶媒または溶媒混合物
を用いることである。
特に好適なものは金属化されるプラスチック表面を少々
溶解させるか、または膨潤させる溶媒または溶媒混合物
を用いることである。
この方法を行うのに特に高度に適するものは中性溶媒例
えば1,1.1−)リクロロエタン、塩化メチレン、ト
リクロロメタン、パークロロエチレン及びトルエンであ
る。更にQ、1〜20g/l、好ましくは0.1〜3g
/L殊に好ましくは0.1〜2g/lの量でチタン、ア
ルミニツムもしくはジルコニウム、またはケイ素もしく
はタンタルの加水分解可能な有機金属化合物を含む、本
発明による、活性系が好適に用いられる。
えば1,1.1−)リクロロエタン、塩化メチレン、ト
リクロロメタン、パークロロエチレン及びトルエンであ
る。更にQ、1〜20g/l、好ましくは0.1〜3g
/L殊に好ましくは0.1〜2g/lの量でチタン、ア
ルミニツムもしくはジルコニウム、またはケイ素もしく
はタンタルの加水分解可能な有機金属化合物を含む、本
発明による、活性系が好適に用いられる。
湿潤された支持体からの溶媒の除去は蒸発によるか、ま
たは比較的高沸、腓の化合物の場合には抽出により簡単
に行われる。
たは比較的高沸、腓の化合物の場合には抽出により簡単
に行われる。
好適な別の方法において、有機活性浴は検出器として光
度計を用いて監視する。
度計を用いて監視する。
活性化の殊に好適な具体例において、金属化浴中での還
元は無電流金属化(currentless met
allizat ion )に用いると同様の還元剤を
初めから用いて行われる。
元は無電流金属化(currentless met
allizat ion )に用いると同様の還元剤を
初めから用いて行われる。
この具体例はアミ/ボラン含有ニッケル浴またはホルマ
リン含有銅浴に殊に適する。
リン含有銅浴に殊に適する。
本発明による方法に用いるのに適する金属化浴は商業的
に通常である温浴及び冷浴でありまたはニッケル塩、コ
バルト塩、銅塩、金及び銀塩またはその混合物であり、
Ca浴が極めて殊に好ましν1゜ いずれかの電気めっきに用いる際に適する金属はNi%
Co、 Cu、 Ag、 AX、C「及びAuである。
に通常である温浴及び冷浴でありまたはニッケル塩、コ
バルト塩、銅塩、金及び銀塩またはその混合物であり、
Ca浴が極めて殊に好ましν1゜ いずれかの電気めっきに用いる際に適する金属はNi%
Co、 Cu、 Ag、 AX、C「及びAuである。
好適なものはCuSAu及びNiであり、極めて殊に好
適なものはCuである。
適なものはCuである。
必要に応じて本発明によるプラスチック表面上に析出さ
れた金属層の接着性を増加させ、そして100%の工程
信頼性を確実なものとするために、熱処理を行い得る。
れた金属層の接着性を増加させ、そして100%の工程
信頼性を確実なものとするために、熱処理を行い得る。
熱処理温度は50℃から高分子ベース物質の特定の分解
温度範囲までの広い範囲内で変えることができ、その際
にポリアミドフィルムの好適な温度は例えノr125〜
250℃、殊に140〜180℃である。ポリエステル
フィルムに適する温度は例えば125〜180℃、好ま
しくは140〜170℃である。熱処理時間は5分乃至
10時間の間で変えることができ、好ましい時間は10
〜60分間である。ベース物質のいがなる劣化をも避け
るために、熱処理は不活性がス下で行い得る。
温度範囲までの広い範囲内で変えることができ、その際
にポリアミドフィルムの好適な温度は例えノr125〜
250℃、殊に140〜180℃である。ポリエステル
フィルムに適する温度は例えば125〜180℃、好ま
しくは140〜170℃である。熱処理時間は5分乃至
10時間の間で変えることができ、好ましい時間は10
〜60分間である。ベース物質のいがなる劣化をも避け
るために、熱処理は不活性がス下で行い得る。
勿i!!1また、金属層を所望の層の厚さに電気めっき
するかまたは化学的に促進した後に熱処理を行うことが
できる。
するかまたは化学的に促進した後に熱処理を行うことが
できる。
驚くべきことに活性化によりこれらのフィルムから得ら
れる先駆体及びこのものから生成されるフレキシブル回
路は次の良好な特性を有する:(1)これらのものは空
気中にて湿気及び天候並びに熱効果に安定である。
れる先駆体及びこのものから生成されるフレキシブル回
路は次の良好な特性を有する:(1)これらのものは空
気中にて湿気及び天候並びに熱効果に安定である。
(2) これらの活性剤層は7オトレジス)(pl+。
toresist)層の塗布及び現像中に表面から除去
されない、これらのものは公知の表面分析法、例えばE
SCAにより容易に検出し得る。
されない、これらのものは公知の表面分析法、例えばE
SCAにより容易に検出し得る。
(3)DIN 53,494に定義される金属層の剥
離抵抗は少なくと615、好ましくは30〜35N/2
5mmまたはそれ以上である。
離抵抗は少なくと615、好ましくは30〜35N/2
5mmまたはそれ以上である。
(4)増感または金属化の過程で、金属化浴または増#
、浴の被毒は生じない。
、浴の被毒は生じない。
この方法は極めて微細な伝導路を有するフレキシブル回
路に殊に高度に適している。
路に殊に高度に適している。
この方法によれば種々の応用分野に用途を見い出し得る
適当な構造を与えるフィルム上に薄い(〈10μm)と
して極薄金属被[(0,3〜5μm)を生成させること
もできる。
適当な構造を与えるフィルム上に薄い(〈10μm)と
して極薄金属被[(0,3〜5μm)を生成させること
もできる。
所望の厚さに依存するが、これらの薄い被覆は化学的金
属析出または化学的金属析出及び電気めっきにより製造
し得る。
属析出または化学的金属析出及び電気めっきにより製造
し得る。
本発明による方法は、シート、キーボード、フンタクト
・マット、センサー、デジタイザー、多層板、スクリー
ンなどを!i!遺する際に有利である。
・マット、センサー、デジタイザー、多層板、スクリー
ンなどを!i!遺する際に有利である。
またこの方法で製造されるフレキシブル回路は射出成形
機中にそ裏面に射出することにより3次元回路を製造す
る際に使用し得る。
機中にそ裏面に射出することにより3次元回路を製造す
る際に使用し得る。
実施例 1
片側が銅箔で被覆された市販の、例えばクレンペノ呟シ
ュツッツ〃ルト(KrempelSStuttgart
)(西ドイツ)製のポリイミドフィルムをアルカリ性の
15.7%の塩化ナトリウム溶液(pH−12)中にて
エツチングし、H2Oで洗浄し次にメタノールで洗浄し
、そして乾燥することに上り銅箔層を除去した。得られ
たものは多孔性表面を有し、0゜025 da”/ w
r2の面積比全細孔容積、2.0μ蹟の細孔平均直径及
び2.5μ蹟の細孔平均深さを有するフィルムであった
。このフィルムを続いてn−3−ヘプテン−2−オンパ
ラジウムクロライド0.5g及び1,1.1−)リクロ
ロエタン1 to OOmlを含む溶液中で5分間活性
化し、乾燥し、次に蒸留した820 750ml、ジメ
チルアミノボラン1.5g及び(固体)NaOH1,7
5gからなる溶液中で増感し、商業的に通常のtR温浴
中銅メッキ、水で洗浄し、そして乾燥器中にて170℃
で1時間熱処理した。かくて堅固に接着した電導性金属
層を与えられた試料を(約200μ鶴の空白のない(b
lankfree)格子状回路を残して)、スクリーン
印刷によりポリブタジェンベースのラッカーで被覆し、
次にラッカーで被覆されていない金属表面を約35μ簡
の厚さに電気銅めっきした0次にこのフィルムからメチ
ルエチルケトン中にてマスク(+5ask)を除去し、
そしてその下の化学的に析出した銅層をH2O2含有硫
酸溶液中でエツチングした。得られたものは巾約200
μm及V厚さ約32μ論の伝導路を有する電気回路であ
った。金属層は基材表面に極めて堅固に接着し、そして
常法によりはんだ付けすることができた。
ュツッツ〃ルト(KrempelSStuttgart
)(西ドイツ)製のポリイミドフィルムをアルカリ性の
15.7%の塩化ナトリウム溶液(pH−12)中にて
エツチングし、H2Oで洗浄し次にメタノールで洗浄し
、そして乾燥することに上り銅箔層を除去した。得られ
たものは多孔性表面を有し、0゜025 da”/ w
r2の面積比全細孔容積、2.0μ蹟の細孔平均直径及
び2.5μ蹟の細孔平均深さを有するフィルムであった
。このフィルムを続いてn−3−ヘプテン−2−オンパ
ラジウムクロライド0.5g及び1,1.1−)リクロ
ロエタン1 to OOmlを含む溶液中で5分間活性
化し、乾燥し、次に蒸留した820 750ml、ジメ
チルアミノボラン1.5g及び(固体)NaOH1,7
5gからなる溶液中で増感し、商業的に通常のtR温浴
中銅メッキ、水で洗浄し、そして乾燥器中にて170℃
で1時間熱処理した。かくて堅固に接着した電導性金属
層を与えられた試料を(約200μ鶴の空白のない(b
lankfree)格子状回路を残して)、スクリーン
印刷によりポリブタジェンベースのラッカーで被覆し、
次にラッカーで被覆されていない金属表面を約35μ簡
の厚さに電気銅めっきした0次にこのフィルムからメチ
ルエチルケトン中にてマスク(+5ask)を除去し、
そしてその下の化学的に析出した銅層をH2O2含有硫
酸溶液中でエツチングした。得られたものは巾約200
μm及V厚さ約32μ論の伝導路を有する電気回路であ
った。金属層は基材表面に極めて堅固に接着し、そして
常法によりはんだ付けすることができた。
実施例 2
37% HCj!5sl及1/5uCj!22.5gの
を含む蒸留水溶液12を46゛Cにてメタノール性に2
PLCj!s溶液(約1.75重1%のpt含有iH5
gに加えた。これに続いて45分間攪拌し、暗い色調の
均一な活性化溶液を得た。この溶液を実施例1により細
孔を与えられたポリイミドフィルムを5分間処理するた
めに用いた。かくて活性化されたフィルムを12当り2
0mlのNH2−NH2及び12ll1eの25%N
Hコを含む増感浴中にて7.5分間増感し、次に商業的
に通常の銅メツキ浴中にて80℃で45分間金属化し、
次に150℃で90分間熱処理した。得られたものは堅
固に接触した、〜3μ熱の厚さのCu層を有するフィル
ムであり、商業的に得られたフォトレノストで部分的マ
スキングし、マスキングしていない部分を電気めっきし
、続いてそのフィルム表面から7オトレノストを除去し
、そして最後に異なったエツチング法で下の銅層をエツ
チングした後の該フィルムははんだ付は可能なフレキシ
ブルを製造する工程に適したものである。
を含む蒸留水溶液12を46゛Cにてメタノール性に2
PLCj!s溶液(約1.75重1%のpt含有iH5
gに加えた。これに続いて45分間攪拌し、暗い色調の
均一な活性化溶液を得た。この溶液を実施例1により細
孔を与えられたポリイミドフィルムを5分間処理するた
めに用いた。かくて活性化されたフィルムを12当り2
0mlのNH2−NH2及び12ll1eの25%N
Hコを含む増感浴中にて7.5分間増感し、次に商業的
に通常の銅メツキ浴中にて80℃で45分間金属化し、
次に150℃で90分間熱処理した。得られたものは堅
固に接触した、〜3μ熱の厚さのCu層を有するフィル
ムであり、商業的に得られたフォトレノストで部分的マ
スキングし、マスキングしていない部分を電気めっきし
、続いてそのフィルム表面から7オトレノストを除去し
、そして最後に異なったエツチング法で下の銅層をエツ
チングした後の該フィルムははんだ付は可能なフレキシ
ブルを製造する工程に適したものである。
かくてm製されたフレキシブル回路は通常のはんだ付工
程で容易にはんだ付けでき、そして工業的に通常の温度
サイクル(cycling)試験に合格した。
程で容易にはんだ付けでき、そして工業的に通常の温度
サイクル(cycling)試験に合格した。
実施例 3
例えばクレンベル(K rempe l )(西ドイツ
)91の市販の箔を積層したポリエステルフィルムから
37% HC450ml、 H20t60wi及び’H
2O5Q半加工生成物であった。
)91の市販の箔を積層したポリエステルフィルムから
37% HC450ml、 H20t60wi及び’H
2O5Q半加工生成物であった。
0鰺2からなるレドックス溶液中で銅M層を除去した。
得られたものは、0.024dm’/m2の面積比全細
孔容積及び2.5μmの細孔平均直径または3゜0μ−
の細孔最大深さの細孔性表面を有するフィルムであった
。このフィルムを7七トン2001、蒸留水800at
及び(/ジチルオキシド)パラン9ムクロライド0.8
gからなる溶液中で3分間にわたって活性化させた。そ
の後このフィルムをH20/メタノール混合物(s o
:s o容量%)12中のジメチル7ミ/ボラン5g
の溶液中で5分間処理した。短時間すすいだ後、厚さ約
0.2μ通の銅層を化学銅浴中で化学メッキした。化学
的に銅めっきしたこのフィルムを実施例4に示すように
更に処理した。得られたものは極めて堅固な金属a着を
有するフレキシブル回路であった6 実施例 4
孔容積及び2.5μmの細孔平均直径または3゜0μ−
の細孔最大深さの細孔性表面を有するフィルムであった
。このフィルムを7七トン2001、蒸留水800at
及び(/ジチルオキシド)パラン9ムクロライド0.8
gからなる溶液中で3分間にわたって活性化させた。そ
の後このフィルムをH20/メタノール混合物(s o
:s o容量%)12中のジメチル7ミ/ボラン5g
の溶液中で5分間処理した。短時間すすいだ後、厚さ約
0.2μ通の銅層を化学銅浴中で化学メッキした。化学
的に銅めっきしたこのフィルムを実施例4に示すように
更に処理した。得られたものは極めて堅固な金属a着を
有するフレキシブル回路であった6 実施例 4
Claims (10)
- 1.セミアディティブ技術又はフルアディティブ技術の
原理に従つて活性剤系を用いて湿式で化学的に応用され
た可撓性の基材と回路図形から本質的になるフレキシブ
ル回路であって、該基材の表面が、 a)面積比全細孔体積が0.015乃至0.045dm
^3/m^2であり、 b)細孔平均直径が0.05乃至12.0μmであり、 c)細孔平均深さが0.05乃至12.0μmであるこ
とを特徴とするフレキシブル回路。 - 2.a)面積比全細孔体積が0.2乃至0.4dm^3
/m^2であり b)細孔平均直径が1乃至2μmであり c)細孔平均深さが0.5乃至2.5μmであることを
特徴とする特許請求の範囲第1項記載のフレキシブル回
路。 - 3.使用される活性剤が白金、パラジウム、金、銀およ
び/又はロジウムの群からなる有機金属化合物であるこ
とを特徴とする特許請求の範囲第1項記載のフレキシブ
ル回路。 - 4.活性化に対して貴金属のゲスト/ホスト錯体化合物
を用いることを特徴とする特許請求の範囲第1項記載の
フレキシブル回路。 - 5.活性化が有機金属錯体化合物によりもたらされ、該
化合物は金属を結合するために必要とされる基に加えて
前記基材表面への接着性を改良するために更に少なくと
も1個の官能基を有することを特徴とする特許請求の範
囲第1項記載のフレキシブル回路。 - 6.特許請求の範囲第1項により特徴づけられた表面組
織を有する基材を有機金属活性剤系により処理し、場合
によって増感し、こうして得られた半完成品をその全面
積又は一部の面積にわたり湿式化学的に金属化し、回路
基板を常法にて完成させることを特徴とするフレキシブ
ル回路の製造方法。 - 7.基材の両面上に金属箔を積層し、該積層物をレドツ
クス浴中で化学的に分離し、又は電気接触腐食的(el
ectrogalvanically)に分離し、この
ように処理した該基材を貴金属の有機化合物で活性化し
、場合によっては増感し、そしてセミアディティブ技術
又はフルアディティブ技術を用いることにより、金属性
回路図形をこうして得られた半完成品に応用することを
特徴とするフレキシブル回路の製造方法。 - 8.前記使用される金属箔が電気めっきにより製造され
た銅箔又はアルミニウム箔であることを特徴とする特許
請求の範囲第7項記載の方法。 - 9.金属層の密着性を改善するために、金属化された前
記基材を加熱処理することを特徴とする特許請求の範囲
第6又は7項記載の方法。 - 10.シートキーボード、コンタクトマット、センサー
、デジタイザー、多層板及びスクリーンに対する出発物
質としての特許請求の範囲第1項記載の、又は特許請求
の範囲第6及び7項記載の方法により得られる、フレキ
シブル回路の使用。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
DE3631011.5 | 1986-09-12 | ||
DE19863631011 DE3631011A1 (de) | 1986-09-12 | 1986-09-12 | Flexible schaltungen |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6370594A true JPS6370594A (ja) | 1988-03-30 |
Family
ID=6309406
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62223188A Pending JPS6370594A (ja) | 1986-09-12 | 1987-09-08 | フレキシブル回路 |
Country Status (4)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4847139A (ja) |
EP (1) | EP0259754A3 (ja) |
JP (1) | JPS6370594A (ja) |
DE (1) | DE3631011A1 (ja) |
Families Citing this family (27)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2538043B2 (ja) * | 1989-04-05 | 1996-09-25 | 松下電器産業株式会社 | パタ―ン形成用材料とそれを用いたパタ―ン形成基板の作製方法 |
NL194941C (nl) * | 1990-02-15 | 2003-08-04 | Cordis Corp | Werkwijze voor het aanbrengen van een fysiologisch actieve verbinding op een substraatoppervlak. |
US5141829A (en) * | 1990-09-10 | 1992-08-25 | General Electric Company | Method of preparing a photo-mask for imaging three-dimensional objects |
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