JP2000286531A - プリント配線板の製造方法 - Google Patents
プリント配線板の製造方法Info
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Abstract
(57)【要約】
【課題】 絶縁基板1の表面にメッキ触媒2を付与した
後、無電解メッキを行って絶縁基板1の表面に第一金属
皮膜3を形成し、次いで、その第一金属皮膜3の表面の
うち、回路の形成を予定する部分を除く部分にレジスト
被膜4を形成した後、メッキを行って、第一金属皮膜3
が露出する部分の表面に第二金属皮膜5を形成し、次い
で、レジスト被膜4を除去した後、第二金属皮膜5の表
面の一部及び第一金属皮膜3をエッチング除去して製造
するセミアディティブ法で製造するプリント配線板の製
造方法であって、回路形状が優れたプリント配線板が得
られる、プリント配線板の製造方法を提供する。 【解決手段】 第二金属皮膜5の表面の一部及び第一金
属皮膜3をエッチング除去するエッチング液が、化学反
応律速型のエッチング液である。
後、無電解メッキを行って絶縁基板1の表面に第一金属
皮膜3を形成し、次いで、その第一金属皮膜3の表面の
うち、回路の形成を予定する部分を除く部分にレジスト
被膜4を形成した後、メッキを行って、第一金属皮膜3
が露出する部分の表面に第二金属皮膜5を形成し、次い
で、レジスト被膜4を除去した後、第二金属皮膜5の表
面の一部及び第一金属皮膜3をエッチング除去して製造
するセミアディティブ法で製造するプリント配線板の製
造方法であって、回路形状が優れたプリント配線板が得
られる、プリント配線板の製造方法を提供する。 【解決手段】 第二金属皮膜5の表面の一部及び第一金
属皮膜3をエッチング除去するエッチング液が、化学反
応律速型のエッチング液である。
Description
【0001】
【発明の属する技術分野】本発明は、電気・電子機器等
に使用されるプリント配線板の製造方法に関するもので
ある。
に使用されるプリント配線板の製造方法に関するもので
ある。
【0002】
【従来の技術】表面に回路を形成したプリント配線板
が、電子部品や半導体素子等を実装するために広く用い
られている。そして、近年の電子機器の小型化、高機能
化の要求に伴い、プリント配線板には、回路の高密度化
や薄型化が望まれている。
が、電子部品や半導体素子等を実装するために広く用い
られている。そして、近年の電子機器の小型化、高機能
化の要求に伴い、プリント配線板には、回路の高密度化
や薄型化が望まれている。
【0003】この高密度なプリント配線板を製造する方
法として、セミアディティブ法と呼ばれる方法が検討さ
れており、例えば以下のような工程でプリント配線板が
製造されている。
法として、セミアディティブ法と呼ばれる方法が検討さ
れており、例えば以下のような工程でプリント配線板が
製造されている。
【0004】図1(a)に示すような、絶縁基板1を用
いる。そして、図1(b)に示すように、絶縁基板1の
表面にパラジウム化合物等のメッキ触媒2を付与した
後、そのメッキ触媒2を核として無電解メッキを行い、
図1(c)に示すように、絶縁基板1の表面全体に、厚
みの薄い第一金属皮膜3を形成する。
いる。そして、図1(b)に示すように、絶縁基板1の
表面にパラジウム化合物等のメッキ触媒2を付与した
後、そのメッキ触媒2を核として無電解メッキを行い、
図1(c)に示すように、絶縁基板1の表面全体に、厚
みの薄い第一金属皮膜3を形成する。
【0005】次いで、図1(d)に示すように、第一金
属皮膜3の表面のうち、回路の形成を予定する部分を除
く部分にレジスト被膜4を形成した後、電気メッキを行
って、第一金属皮膜3が露出する部分の表面に、図1
(e)に示すように、第二金属皮膜5を形成する。
属皮膜3の表面のうち、回路の形成を予定する部分を除
く部分にレジスト被膜4を形成した後、電気メッキを行
って、第一金属皮膜3が露出する部分の表面に、図1
(e)に示すように、第二金属皮膜5を形成する。
【0006】次いで、図1(f)に示すように、レジス
ト被膜4を除去した後、図1(g)に示すように、第一
金属皮膜3をエッチング除去する。なおこの際に、第二
金属皮膜5の表面も、第一金属皮膜3の厚み程度エッチ
ングされて、厚みが薄くなる。次いで、必要に応じて、
第二金属皮膜5の表面にニッケルメッキや金メッキを行
って、プリント配線板は製造されている。このようにセ
ミアディティブ法は、厚みの薄い金属皮膜(第一金属皮
膜3)をエッチングして製造するため、厚みの厚い金属
箔をエッチングして回路を形成するサブトラクティブ法
と呼ばれる方法と比較して、微細な回路を精度良く形成
することが可能となっている。
ト被膜4を除去した後、図1(g)に示すように、第一
金属皮膜3をエッチング除去する。なおこの際に、第二
金属皮膜5の表面も、第一金属皮膜3の厚み程度エッチ
ングされて、厚みが薄くなる。次いで、必要に応じて、
第二金属皮膜5の表面にニッケルメッキや金メッキを行
って、プリント配線板は製造されている。このようにセ
ミアディティブ法は、厚みの薄い金属皮膜(第一金属皮
膜3)をエッチングして製造するため、厚みの厚い金属
箔をエッチングして回路を形成するサブトラクティブ法
と呼ばれる方法と比較して、微細な回路を精度良く形成
することが可能となっている。
【0007】
【発明が解決しようとする課題】このセミアディティブ
法で製造する場合、第一金属皮膜3をエッチング除去し
ても、図1(g)に示すように、絶縁基板1の表面にメ
ッキ触媒2が残留しやすく、得られるプリント配線板の
絶縁性が低下しやすいという問題があった。そのため、
エッチング能力の高いエッチング液を用いて第一金属皮
膜3をエッチング除去することにより、絶縁基板1の表
面のメッキ触媒2をも同時に除去することが行われてい
る。
法で製造する場合、第一金属皮膜3をエッチング除去し
ても、図1(g)に示すように、絶縁基板1の表面にメ
ッキ触媒2が残留しやすく、得られるプリント配線板の
絶縁性が低下しやすいという問題があった。そのため、
エッチング能力の高いエッチング液を用いて第一金属皮
膜3をエッチング除去することにより、絶縁基板1の表
面のメッキ触媒2をも同時に除去することが行われてい
る。
【0008】しかし、このエッチング能力の高いエッチ
ング液を用いて第一金属皮膜3をエッチング除去した場
合、絶縁基板1の面内位置による第二金属皮膜5のエッ
チング量のバラツキが生じ、図3(b)に示すように、
回路のトップ部分の幅が狭くなり、回路形状が悪くなる
という問題があった。そのため、回路形状が優れたプリ
ント配線板が得られる、プリント配線板の製造方法が望
まれている。
ング液を用いて第一金属皮膜3をエッチング除去した場
合、絶縁基板1の面内位置による第二金属皮膜5のエッ
チング量のバラツキが生じ、図3(b)に示すように、
回路のトップ部分の幅が狭くなり、回路形状が悪くなる
という問題があった。そのため、回路形状が優れたプリ
ント配線板が得られる、プリント配線板の製造方法が望
まれている。
【0009】本発明は、上記問題点を改善するために成
されたもので、その目的とするところは、セミアディテ
ィブ法で製造するプリント配線板の製造方法であって、
回路形状が優れたプリント配線板が得られる、プリント
配線板の製造方法を提供することにある。
されたもので、その目的とするところは、セミアディテ
ィブ法で製造するプリント配線板の製造方法であって、
回路形状が優れたプリント配線板が得られる、プリント
配線板の製造方法を提供することにある。
【0010】
【課題を解決するための手段】本発明に係るプリント配
線板の製造方法は、絶縁基板の表面にメッキ触媒を付与
した後、無電解メッキを行って絶縁基板の表面に第一金
属皮膜を形成し、次いで、その第一金属皮膜の表面のう
ち、回路の形成を予定する部分を除く部分にレジスト被
膜を形成した後、メッキを行って、第一金属皮膜が露出
する部分の表面に第二金属皮膜を形成し、次いで、レジ
スト被膜を除去した後、第一金属皮膜をエッチング除去
して製造するプリント配線板の製造方法において、第一
金属皮膜をエッチング除去するエッチング液が、化学反
応律速型のエッチング液であることを特徴とする。
線板の製造方法は、絶縁基板の表面にメッキ触媒を付与
した後、無電解メッキを行って絶縁基板の表面に第一金
属皮膜を形成し、次いで、その第一金属皮膜の表面のう
ち、回路の形成を予定する部分を除く部分にレジスト被
膜を形成した後、メッキを行って、第一金属皮膜が露出
する部分の表面に第二金属皮膜を形成し、次いで、レジ
スト被膜を除去した後、第一金属皮膜をエッチング除去
して製造するプリント配線板の製造方法において、第一
金属皮膜をエッチング除去するエッチング液が、化学反
応律速型のエッチング液であることを特徴とする。
【0011】なお、本発明に係る化学反応律速型のエッ
チング液とは、エッチング液のスプレー圧の強弱等に関
わらず、エッチング液に接した部分の金属皮膜を均一に
溶解するエッチング液を表す。
チング液とは、エッチング液のスプレー圧の強弱等に関
わらず、エッチング液に接した部分の金属皮膜を均一に
溶解するエッチング液を表す。
【0012】上記化学反応律速型のエッチング液は、硫
酸を2〜6w/v%含有し、過酸化水素を2〜4w/v
%含有し、銅イオンを30〜60g/L含有する水溶
液、又は、塩化第二銅を0.25〜3mol/L含有
し、塩酸を1〜4mol/L含有する水溶液であると好
ましい。また、上記第一金属皮膜をエッチング除去する
際に第二金属皮膜の表面がエッチング除去される量は、
2〜5μmであると好ましい。
酸を2〜6w/v%含有し、過酸化水素を2〜4w/v
%含有し、銅イオンを30〜60g/L含有する水溶
液、又は、塩化第二銅を0.25〜3mol/L含有
し、塩酸を1〜4mol/L含有する水溶液であると好
ましい。また、上記第一金属皮膜をエッチング除去する
際に第二金属皮膜の表面がエッチング除去される量は、
2〜5μmであると好ましい。
【0013】また、メッキ触媒を付与する絶縁基板が、
その表面に半硬化状態の樹脂層を備える絶縁基板である
と共に、第一金属皮膜をエッチング除去する工程の後
に、絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層を除去して絶
縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除去する工程をも
有すると好ましい。また、上記絶縁基板の表面の半硬化
状態の樹脂層を除去して絶縁基板の表面に残留するメッ
キ触媒を除去する方法は、過マンガン酸カリウム溶液又
はクロム酸カリウム溶液を、絶縁基板に接触させる方法
であると好ましい。
その表面に半硬化状態の樹脂層を備える絶縁基板である
と共に、第一金属皮膜をエッチング除去する工程の後
に、絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層を除去して絶
縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除去する工程をも
有すると好ましい。また、上記絶縁基板の表面の半硬化
状態の樹脂層を除去して絶縁基板の表面に残留するメッ
キ触媒を除去する方法は、過マンガン酸カリウム溶液又
はクロム酸カリウム溶液を、絶縁基板に接触させる方法
であると好ましい。
【0014】また、絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂
層を除去して絶縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除
去する工程の後に、絶縁基板の表面に残留するメッキ触
媒を不活性化した後、第二金属皮膜の表面に第三金属皮
膜を形成する工程をも有すると好ましい。
層を除去して絶縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除
去する工程の後に、絶縁基板の表面に残留するメッキ触
媒を不活性化した後、第二金属皮膜の表面に第三金属皮
膜を形成する工程をも有すると好ましい。
【0015】
【発明の実施の形態】本発明に係るプリント配線板の製
造方法を図面に基づいて説明する。図1及び図2は、本
発明に係るプリント配線板の製造方法の一実施の形態を
説明する断面図である。また、図3は、回路の形状を説
明する図であり、(a)は本発明に係るプリント配線板
の製造方法で得られる回路を示す断面図、(b)は従来
の製造方法で得られる回路を示す断面図である。
造方法を図面に基づいて説明する。図1及び図2は、本
発明に係るプリント配線板の製造方法の一実施の形態を
説明する断面図である。また、図3は、回路の形状を説
明する図であり、(a)は本発明に係るプリント配線板
の製造方法で得られる回路を示す断面図、(b)は従来
の製造方法で得られる回路を示す断面図である。
【0016】本発明に係るプリント配線板の製造方法の
一実施の形態は、図1(a)に示すような、絶縁基板1
を用いる。そして、図1(b)に示すように、絶縁基板
1の表面にメッキ触媒2を付与する。
一実施の形態は、図1(a)に示すような、絶縁基板1
を用いる。そして、図1(b)に示すように、絶縁基板
1の表面にメッキ触媒2を付与する。
【0017】メッキ触媒2は、銅やニッケル等の無電解
メッキの触媒として働くものであれば、特に限定するも
のではなく、そのメッキ触媒2の周囲に金属を析出する
ことによりメッキ触媒2間を接続して絶縁部に金属皮膜
を形成するものや、絶縁部に沈着することにより絶縁部
に導電性を与え、その導電性を用いて絶縁部に金属皮膜
を形成する、一般にダイレクトプレーティング(直接メ
ッキ)と呼ばれる方法に用いられる導電性を有するもの
が挙げられ、例えばパラジウムを含有するものや、パラ
ジウム及びスズを含有するものや、カーボン、グラファ
イト等の炭素を含有するものや、銅の錯体を含有するも
のや、導電性ポリマーを含有するもの等が挙げられる。
なお、パラジウム−スズコロイドが、一般に広く用いら
れており、入手面・価格面で好ましい。
メッキの触媒として働くものであれば、特に限定するも
のではなく、そのメッキ触媒2の周囲に金属を析出する
ことによりメッキ触媒2間を接続して絶縁部に金属皮膜
を形成するものや、絶縁部に沈着することにより絶縁部
に導電性を与え、その導電性を用いて絶縁部に金属皮膜
を形成する、一般にダイレクトプレーティング(直接メ
ッキ)と呼ばれる方法に用いられる導電性を有するもの
が挙げられ、例えばパラジウムを含有するものや、パラ
ジウム及びスズを含有するものや、カーボン、グラファ
イト等の炭素を含有するものや、銅の錯体を含有するも
のや、導電性ポリマーを含有するもの等が挙げられる。
なお、パラジウム−スズコロイドが、一般に広く用いら
れており、入手面・価格面で好ましい。
【0018】本発明に用いる絶縁基板1としては、絶縁
性の板であれば特に限定するものではなく、例えば、エ
ポキシ樹脂系、フェノール樹脂系、ポリイミド樹脂系、
不飽和ポリエステル樹脂系、ポリフェニレンエーテル樹
脂系等の熱硬化性樹脂や、これらの熱硬化性樹脂に無機
充填材等を配合したものの板や、ガラス等の無機質繊維
やポリエステル、ポリアミド、木綿等の有機質繊維のク
ロス、ペーパー等の基材を、上記熱硬化性樹脂等で接着
した板や、セラミックの板等が挙げられる。なお、この
絶縁基板1の内部には、導体回路や、スルホール等を有
していても良い。
性の板であれば特に限定するものではなく、例えば、エ
ポキシ樹脂系、フェノール樹脂系、ポリイミド樹脂系、
不飽和ポリエステル樹脂系、ポリフェニレンエーテル樹
脂系等の熱硬化性樹脂や、これらの熱硬化性樹脂に無機
充填材等を配合したものの板や、ガラス等の無機質繊維
やポリエステル、ポリアミド、木綿等の有機質繊維のク
ロス、ペーパー等の基材を、上記熱硬化性樹脂等で接着
した板や、セラミックの板等が挙げられる。なお、この
絶縁基板1の内部には、導体回路や、スルホール等を有
していても良い。
【0019】次いで、メッキ触媒2を核として無電解メ
ッキを行い、図1(c)に示すように、絶縁基板1の表
面全体に、厚みの薄い第一金属皮膜3を形成する。この
第一金属皮膜3としては、後の工程で容易にエッチング
されるものが好ましく、銅やニッケルの皮膜が挙げられ
るが、銅の皮膜の場合、導電性が優れるため、第二金属
皮膜5を形成する際に供給する電流の通電性が優れ好ま
しい。
ッキを行い、図1(c)に示すように、絶縁基板1の表
面全体に、厚みの薄い第一金属皮膜3を形成する。この
第一金属皮膜3としては、後の工程で容易にエッチング
されるものが好ましく、銅やニッケルの皮膜が挙げられ
るが、銅の皮膜の場合、導電性が優れるため、第二金属
皮膜5を形成する際に供給する電流の通電性が優れ好ま
しい。
【0020】なお、第一金属皮膜3の厚みとしては、
0.25〜2μmが好ましい。2μmを越える場合、後
工程で第二金属皮膜5の表面をエッチング除去する際の
エッチング量が増えるため、回路の形状が悪くなる場合
がある。また、0.25μm未満の場合、後工程で第二
金属皮膜5を形成する際に供給する電気の流れが悪くな
るため、絶縁基板1の面内位置による、第二金属皮膜5
の厚みバラツキが生じやすくなる。
0.25〜2μmが好ましい。2μmを越える場合、後
工程で第二金属皮膜5の表面をエッチング除去する際の
エッチング量が増えるため、回路の形状が悪くなる場合
がある。また、0.25μm未満の場合、後工程で第二
金属皮膜5を形成する際に供給する電気の流れが悪くな
るため、絶縁基板1の面内位置による、第二金属皮膜5
の厚みバラツキが生じやすくなる。
【0021】次いで、図1(d)に示すように、第一金
属皮膜3の表面のうち、回路の形成を予定する部分を除
く部分にレジスト被膜4を形成した後、第一金属皮膜3
に通電して電気メッキを行って、第一金属皮膜3が露出
する部分の表面に、図1(e)に示すように、第二金属
皮膜5を形成する。なお、このとき形成する第二金属皮
膜5の厚みは、レジスト被膜4の厚みより厚くても良
く、薄くても良い。また、電気メッキに代えて、無電解
メッキにより第二金属皮膜5を形成するようにしても良
い。
属皮膜3の表面のうち、回路の形成を予定する部分を除
く部分にレジスト被膜4を形成した後、第一金属皮膜3
に通電して電気メッキを行って、第一金属皮膜3が露出
する部分の表面に、図1(e)に示すように、第二金属
皮膜5を形成する。なお、このとき形成する第二金属皮
膜5の厚みは、レジスト被膜4の厚みより厚くても良
く、薄くても良い。また、電気メッキに代えて、無電解
メッキにより第二金属皮膜5を形成するようにしても良
い。
【0022】本発明に用いるレジスト被膜4としては、
第二金属皮膜5を形成するメッキ液に耐え、このメッキ
を行ったときに、その表面に第二金属皮膜5が形成され
にくいものであれば特に限定するものではなく、例え
ば、液状の樹脂をスクリーン印刷法で回路の形成を予定
する部分を除く部分に塗布した後、固化して形成したも
のや、液状又はシート状の感光性樹脂を第一金属皮膜3
の表面全体に形成した後、回路形状に露光し、次いで、
回路の形成を予定する部分の感光性樹脂を除去して形成
したもの等が挙げられる。また、第一金属皮膜3として
は、導電性の面より、銅の皮膜が好ましい。
第二金属皮膜5を形成するメッキ液に耐え、このメッキ
を行ったときに、その表面に第二金属皮膜5が形成され
にくいものであれば特に限定するものではなく、例え
ば、液状の樹脂をスクリーン印刷法で回路の形成を予定
する部分を除く部分に塗布した後、固化して形成したも
のや、液状又はシート状の感光性樹脂を第一金属皮膜3
の表面全体に形成した後、回路形状に露光し、次いで、
回路の形成を予定する部分の感光性樹脂を除去して形成
したもの等が挙げられる。また、第一金属皮膜3として
は、導電性の面より、銅の皮膜が好ましい。
【0023】次いで、図1(f)に示すように、レジス
ト被膜4を除去した後、図1(g)に示すように、第一
金属皮膜3をエッチング除去する。なおこの際に、第二
金属皮膜5の表面も、第一金属皮膜3の厚み程度エッチ
ングされて、厚みが薄くなる。
ト被膜4を除去した後、図1(g)に示すように、第一
金属皮膜3をエッチング除去する。なおこの際に、第二
金属皮膜5の表面も、第一金属皮膜3の厚み程度エッチ
ングされて、厚みが薄くなる。
【0024】なお、この第一金属皮膜3及び第二金属皮
膜5の表面をエッチング除去するエッチング液は、化学
反応律速型のエッチング液であることが重要である。こ
の化学反応律速型のエッチング液とは、エッチング液の
スプレー圧の強弱等に関わらず、エッチング液に接した
部分の金属皮膜(第一金属皮膜3及び第二金属皮膜5)
を均一に溶解するエッチング液を表す。この化学反応律
速型のエッチング液を用いた場合、第一金属皮膜3が除
去される程度エッチングしても、第二金属皮膜5の表面
がほぼ均一にエッチングされるため、図3(a)に示す
ように、回路形状はほぼ矩形を保つことができ、形状が
優れた回路を得ることが可能になる。
膜5の表面をエッチング除去するエッチング液は、化学
反応律速型のエッチング液であることが重要である。こ
の化学反応律速型のエッチング液とは、エッチング液の
スプレー圧の強弱等に関わらず、エッチング液に接した
部分の金属皮膜(第一金属皮膜3及び第二金属皮膜5)
を均一に溶解するエッチング液を表す。この化学反応律
速型のエッチング液を用いた場合、第一金属皮膜3が除
去される程度エッチングしても、第二金属皮膜5の表面
がほぼ均一にエッチングされるため、図3(a)に示す
ように、回路形状はほぼ矩形を保つことができ、形状が
優れた回路を得ることが可能になる。
【0025】それに対し、従来用いられているエッチン
グ液を用いた場合、エッチング液のスプレーが強く当た
る部分やエッチング液が流れやすい部分は多くエッチン
グされ、エッチング液のスプレーが弱い部分やエッチン
グ液が流れにくい部分はエッチングされにくいため、図
3(b)に示すように、コーナー部分が多くエッチング
されてトップ部分(頂面部分)の幅がボトム部分(底面
部分)と比べて狭い回路となり、回路形状が劣下してし
まう。
グ液を用いた場合、エッチング液のスプレーが強く当た
る部分やエッチング液が流れやすい部分は多くエッチン
グされ、エッチング液のスプレーが弱い部分やエッチン
グ液が流れにくい部分はエッチングされにくいため、図
3(b)に示すように、コーナー部分が多くエッチング
されてトップ部分(頂面部分)の幅がボトム部分(底面
部分)と比べて狭い回路となり、回路形状が劣下してし
まう。
【0026】なお、化学反応律速型のエッチング液とし
ては、硫酸を2〜6w/v%含有し、過酸化水素を2〜
4w/v%含有し、銅イオンを30〜60g/L含有す
る硫酸−過酸化水素系の水溶液や、塩化第二銅を0.2
5〜3mol/L含有し、塩酸を1〜4mol/L含有
する比較的濃度の低い塩化第二銅系の水溶液が挙げられ
る。これらの組成から外れた場合、回路形状が劣下しや
すいが、本発明の目的を損なわない程度であれば、これ
らの組成から多少外れてもかまわない。
ては、硫酸を2〜6w/v%含有し、過酸化水素を2〜
4w/v%含有し、銅イオンを30〜60g/L含有す
る硫酸−過酸化水素系の水溶液や、塩化第二銅を0.2
5〜3mol/L含有し、塩酸を1〜4mol/L含有
する比較的濃度の低い塩化第二銅系の水溶液が挙げられ
る。これらの組成から外れた場合、回路形状が劣下しや
すいが、本発明の目的を損なわない程度であれば、これ
らの組成から多少外れてもかまわない。
【0027】この化学反応律速型のエッチング液でエッ
チングする量は、第一金属皮膜3が除去され、且つ第二
金属皮膜5が残留する厚みであれば特に限定するもので
はないが、第二金属皮膜5の表面が2〜5μmエッチン
グ除去される程度エッチングすると、特に形状が優れた
回路を得ることができ好ましい。2μm未満の場合、第
一金属皮膜3にエッチング除去されない部分が生じて、
回路間の絶縁劣化が生じる場合があり、5μmを越える
場合、回路形状が劣下したり、回路の導電性が低下する
場合がある。
チングする量は、第一金属皮膜3が除去され、且つ第二
金属皮膜5が残留する厚みであれば特に限定するもので
はないが、第二金属皮膜5の表面が2〜5μmエッチン
グ除去される程度エッチングすると、特に形状が優れた
回路を得ることができ好ましい。2μm未満の場合、第
一金属皮膜3にエッチング除去されない部分が生じて、
回路間の絶縁劣化が生じる場合があり、5μmを越える
場合、回路形状が劣下したり、回路の導電性が低下する
場合がある。
【0028】次いで、図2(a)に示すように、絶縁基
板1の表面に残留するメッキ触媒2を除去する。このよ
うに絶縁基板1の表面に残留するメッキ触媒2を除去す
ると、回路間の絶縁性が向上するため、特に信頼性が優
れたプリント配線板となり好ましい。
板1の表面に残留するメッキ触媒2を除去する。このよ
うに絶縁基板1の表面に残留するメッキ触媒2を除去す
ると、回路間の絶縁性が向上するため、特に信頼性が優
れたプリント配線板となり好ましい。
【0029】この絶縁基板1の表面に残留するメッキ触
媒2を除去する方法としては、メッキ触媒2を溶解可能
な溶液に浸漬して除去する方法や、絶縁基板1の表面部
分を除去して絶縁基板1の表面に残留するメッキ触媒2
を同時に除去する方法等が挙げられる。なお、メッキ触
媒2を溶解可能な溶液に浸漬して除去する方法の場合、
その除去の際に、第二金属皮膜5の表面がエッチングさ
れて、回路形状が劣下する場合があるため、絶縁基板1
の表面部分を除去する方法により絶縁基板1の表面に残
留するメッキ触媒2を除去すると好ましい。
媒2を除去する方法としては、メッキ触媒2を溶解可能
な溶液に浸漬して除去する方法や、絶縁基板1の表面部
分を除去して絶縁基板1の表面に残留するメッキ触媒2
を同時に除去する方法等が挙げられる。なお、メッキ触
媒2を溶解可能な溶液に浸漬して除去する方法の場合、
その除去の際に、第二金属皮膜5の表面がエッチングさ
れて、回路形状が劣下する場合があるため、絶縁基板1
の表面部分を除去する方法により絶縁基板1の表面に残
留するメッキ触媒2を除去すると好ましい。
【0030】この絶縁基板1の表面部分を除去して絶縁
基板1の表面に残留するメッキ触媒2を同時に除去する
方法としては、例えば、スプレーしたり浸漬して、過マ
ンガン酸カリウム溶液又はクロム酸カリウム溶液を、絶
縁基板1に接触させる方法が挙げられる。この過マンガ
ン酸カリウム溶液やクロム酸カリウム溶液は、プリント
配線板の加工工程に有するスルホール穴あけ後のスミア
除去工程で一般的に広く使用されているため、廃液処理
等の新たな設備が不要となり好ましい。
基板1の表面に残留するメッキ触媒2を同時に除去する
方法としては、例えば、スプレーしたり浸漬して、過マ
ンガン酸カリウム溶液又はクロム酸カリウム溶液を、絶
縁基板1に接触させる方法が挙げられる。この過マンガ
ン酸カリウム溶液やクロム酸カリウム溶液は、プリント
配線板の加工工程に有するスルホール穴あけ後のスミア
除去工程で一般的に広く使用されているため、廃液処理
等の新たな設備が不要となり好ましい。
【0031】なお、この絶縁基板1の表面部分を除去す
る方法を実施する場合には、メッキ触媒2を付与する絶
縁基板1の表面に、半硬化状態(メッキの工程には耐え
る程度には硬化しているが、加熱すると更に硬化が進行
する状態)の熱硬化性樹脂の樹脂層や、熱可塑性樹脂の
樹脂層を形成しておき、この比較的除去が容易な半硬化
状態又は熱可塑性樹脂の樹脂層を除去するようにする
と、メッキ触媒2の除去が容易にでき好ましいと共に、
第二金属皮膜5の表面がエッチングされにくい樹脂層除
去液を選定しやすいため、特に回路形状が優れたプリン
ト配線板が得られ好ましい。なお、絶縁基板1の表面
に、半硬化状態の樹脂層を形成した場合には、メッキ触
媒2を除去した後、加熱して半硬化状態の樹脂層の硬化
を進行させると、得られるプリント配線板の信頼性が高
まり好ましい。
る方法を実施する場合には、メッキ触媒2を付与する絶
縁基板1の表面に、半硬化状態(メッキの工程には耐え
る程度には硬化しているが、加熱すると更に硬化が進行
する状態)の熱硬化性樹脂の樹脂層や、熱可塑性樹脂の
樹脂層を形成しておき、この比較的除去が容易な半硬化
状態又は熱可塑性樹脂の樹脂層を除去するようにする
と、メッキ触媒2の除去が容易にでき好ましいと共に、
第二金属皮膜5の表面がエッチングされにくい樹脂層除
去液を選定しやすいため、特に回路形状が優れたプリン
ト配線板が得られ好ましい。なお、絶縁基板1の表面
に、半硬化状態の樹脂層を形成した場合には、メッキ触
媒2を除去した後、加熱して半硬化状態の樹脂層の硬化
を進行させると、得られるプリント配線板の信頼性が高
まり好ましい。
【0032】この絶縁基板1の表面に、半硬化状態又は
熱可塑性樹脂の樹脂層を形成する方法としては、樹脂フ
ィルムを加圧積層する方法や、液状樹脂を印刷法、カー
テンコーター法等で塗布する方法が挙げられる。なお、
液状の熱硬化性樹脂を塗布する方法の場合、塗布後の加
熱処理の温度や時間を容易に設定できるため、任意の半
硬化状態の樹脂層を絶縁基板1の表面に形成することが
でき、絶縁層及びメッキ触媒2を除去する条件設定のた
めの検討が容易になり好ましい。特にエポキシ樹脂を用
いると、このような塗布後の加熱処理の温度や時間を容
易に設定できる点で優れると共に、価格面で優れ好まし
い。
熱可塑性樹脂の樹脂層を形成する方法としては、樹脂フ
ィルムを加圧積層する方法や、液状樹脂を印刷法、カー
テンコーター法等で塗布する方法が挙げられる。なお、
液状の熱硬化性樹脂を塗布する方法の場合、塗布後の加
熱処理の温度や時間を容易に設定できるため、任意の半
硬化状態の樹脂層を絶縁基板1の表面に形成することが
でき、絶縁層及びメッキ触媒2を除去する条件設定のた
めの検討が容易になり好ましい。特にエポキシ樹脂を用
いると、このような塗布後の加熱処理の温度や時間を容
易に設定できる点で優れると共に、価格面で優れ好まし
い。
【0033】次いで、必要に応じて、図2(b)に示す
ように、無電解ニッケルメッキや無電解金メッキを行っ
て、第二金属皮膜5の表面に第三金属皮膜8を形成して
プリント配線板を製造する。
ように、無電解ニッケルメッキや無電解金メッキを行っ
て、第二金属皮膜5の表面に第三金属皮膜8を形成して
プリント配線板を製造する。
【0034】なお、上記のような工程を経て、絶縁基板
1の表面に残留するメッキ触媒2を除去しても、絶縁基
板1の表面にメッキ触媒2が多少残留する場合があるた
め、第三金属皮膜8を形成する場合には、絶縁基板1の
表面に残留するメッキ触媒2を不活性化した後、第三金
属皮膜8を形成すると、回路間の絶縁部分に生じる無電
解ニッケルメッキや無電解金メッキの析出を防止するこ
とができるため、得られるプリント配線板の信頼性が高
まり好ましい。
1の表面に残留するメッキ触媒2を除去しても、絶縁基
板1の表面にメッキ触媒2が多少残留する場合があるた
め、第三金属皮膜8を形成する場合には、絶縁基板1の
表面に残留するメッキ触媒2を不活性化した後、第三金
属皮膜8を形成すると、回路間の絶縁部分に生じる無電
解ニッケルメッキや無電解金メッキの析出を防止するこ
とができるため、得られるプリント配線板の信頼性が高
まり好ましい。
【0035】このメッキ触媒2を不活性化する方法とし
ては、例えば、硫化物水溶液に浸漬してメッキ触媒2を
処理することにより、メッキ触媒2を硫化物に変化させ
てメッキの触媒としての作用を停止させる方法が挙げら
れる。
ては、例えば、硫化物水溶液に浸漬してメッキ触媒2を
処理することにより、メッキ触媒2を硫化物に変化させ
てメッキの触媒としての作用を停止させる方法が挙げら
れる。
【0036】
【実施例】(実施例1)エポキシ樹脂両面銅張り積層板
の表面の銅箔を全面エッチングした板の表面に、エポキ
シ樹脂をカーテンコーター法で塗布した後、150℃で
1時間加熱して、表面に樹脂層を有する絶縁基板を得
た。なお、この加熱後、樹脂層をサンプリングしてDS
C法によりガラス転移温度を測定したところ、145℃
であった。また、この150℃で1時間加熱した絶縁基
板を、更に170℃で2時間加熱した後、同様にしてガ
ラス転移温度を測定したところ、185℃であり、15
0℃で1時間加熱したときの絶縁基板の表面の樹脂層
は、半硬化状態であることが確認された。
の表面の銅箔を全面エッチングした板の表面に、エポキ
シ樹脂をカーテンコーター法で塗布した後、150℃で
1時間加熱して、表面に樹脂層を有する絶縁基板を得
た。なお、この加熱後、樹脂層をサンプリングしてDS
C法によりガラス転移温度を測定したところ、145℃
であった。また、この150℃で1時間加熱した絶縁基
板を、更に170℃で2時間加熱した後、同様にしてガ
ラス転移温度を測定したところ、185℃であり、15
0℃で1時間加熱したときの絶縁基板の表面の樹脂層
は、半硬化状態であることが確認された。
【0037】次いで、上記150℃で1時間加熱して形
成した、表面に半硬化状態の樹脂層を有する絶縁基板
を、過マンガン酸カリウム溶液に浸漬して、樹脂層の表
面を粗面化して、無電解メッキの密着性を向上させる処
理を行った。次いで、その樹脂層の表面に、パラジウム
−スズコロイド型のメッキ触媒を付与した後、無電解銅
メッキを行い、絶縁基板の表面に、厚み0.5μmの銅
製第一金属皮膜を形成した。
成した、表面に半硬化状態の樹脂層を有する絶縁基板
を、過マンガン酸カリウム溶液に浸漬して、樹脂層の表
面を粗面化して、無電解メッキの密着性を向上させる処
理を行った。次いで、その樹脂層の表面に、パラジウム
−スズコロイド型のメッキ触媒を付与した後、無電解銅
メッキを行い、絶縁基板の表面に、厚み0.5μmの銅
製第一金属皮膜を形成した。
【0038】次いで、第一金属皮膜の表面に感光性樹脂
シートを熱圧着した後、回路形状に露光した。なお回路
形状としては、50μmの絶縁間隔を設けて形成した回
路幅50μmの櫛型電極の形状に露光した。次いで、回
路の形成を予定する部分の感光性樹脂を除去して、第一
金属皮膜の表面のうち、回路の形成を予定する部分を除
く部分にレジスト被膜を形成した後、電気銅メッキを行
って、第一金属皮膜が露出する部分の表面に、厚み25
μmの銅製第二金属皮膜を形成し、次いで、レジスト被
膜を剥離して除去した。
シートを熱圧着した後、回路形状に露光した。なお回路
形状としては、50μmの絶縁間隔を設けて形成した回
路幅50μmの櫛型電極の形状に露光した。次いで、回
路の形成を予定する部分の感光性樹脂を除去して、第一
金属皮膜の表面のうち、回路の形成を予定する部分を除
く部分にレジスト被膜を形成した後、電気銅メッキを行
って、第一金属皮膜が露出する部分の表面に、厚み25
μmの銅製第二金属皮膜を形成し、次いで、レジスト被
膜を剥離して除去した。
【0039】次いで、硫酸及び過酸化水素を含有するエ
ッチング液(三菱瓦斯化学株式会社製、品番SE−0
7)を水と混合して、硫酸を4w/v%含有し、過酸化
水素を2.5w/v%含有し、銅イオンを50g/L含
有するように調整した化学反応律速型のエッチング液を
作成した後、絶縁基板の表面にスプレーすることによ
り、第一金属皮膜及び第二金属皮膜をエッチングした。
なお、第二金属皮膜の表面のエッチング量が3μmにな
るように調整してエッチングを行った。
ッチング液(三菱瓦斯化学株式会社製、品番SE−0
7)を水と混合して、硫酸を4w/v%含有し、過酸化
水素を2.5w/v%含有し、銅イオンを50g/L含
有するように調整した化学反応律速型のエッチング液を
作成した後、絶縁基板の表面にスプレーすることによ
り、第一金属皮膜及び第二金属皮膜をエッチングした。
なお、第二金属皮膜の表面のエッチング量が3μmにな
るように調整してエッチングを行った。
【0040】次いで、過マンガン酸カリウム溶液に絶縁
基板を浸漬して、絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層
を除去すると共に、絶縁基板の表面に残留するメッキ触
媒を除去した後、170℃で2時間加熱して、半硬化状
態の樹脂層を完全硬化させた。
基板を浸漬して、絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層
を除去すると共に、絶縁基板の表面に残留するメッキ触
媒を除去した後、170℃で2時間加熱して、半硬化状
態の樹脂層を完全硬化させた。
【0041】次いで、奥野製薬株式会社製、ICPプリ
ディップ溶液に10分浸漬して絶縁基板の表面に残留す
るメッキ触媒を不活性化した後、無電解ニッケルメッキ
を行って、第二金属皮膜の表面に厚み5μmのニッケル
製第三金属皮膜を形成した後、無電解金メッキを行っ
て、ニッケル製第三金属皮膜の表面に厚み0.1μmの
金製第三金属皮膜を形成してプリント配線板を得た。
ディップ溶液に10分浸漬して絶縁基板の表面に残留す
るメッキ触媒を不活性化した後、無電解ニッケルメッキ
を行って、第二金属皮膜の表面に厚み5μmのニッケル
製第三金属皮膜を形成した後、無電解金メッキを行っ
て、ニッケル製第三金属皮膜の表面に厚み0.1μmの
金製第三金属皮膜を形成してプリント配線板を得た。
【0042】(実施例2)エポキシ樹脂両面銅張り積層
板の表面の銅箔を全面エッチングした板の表面に、エポ
キシ樹脂をカーテンコーター法で塗布した後、170℃
で2時間加熱して形成した、表面に樹脂層を有する絶縁
基板を用いたこと、及び、過マンガン酸カリウム溶液に
絶縁基板を浸漬した後の加熱を行わないこと以外は、実
施例1と同様にしてプリント配線板を得た。なお、17
0℃で2時間加熱した後の樹脂層のガラス転移温度を、
実施例1と同様にして測定したところ185℃であり、
この絶縁基板の表面の樹脂層は、完全硬化状態であるこ
とが確認された
板の表面の銅箔を全面エッチングした板の表面に、エポ
キシ樹脂をカーテンコーター法で塗布した後、170℃
で2時間加熱して形成した、表面に樹脂層を有する絶縁
基板を用いたこと、及び、過マンガン酸カリウム溶液に
絶縁基板を浸漬した後の加熱を行わないこと以外は、実
施例1と同様にしてプリント配線板を得た。なお、17
0℃で2時間加熱した後の樹脂層のガラス転移温度を、
実施例1と同様にして測定したところ185℃であり、
この絶縁基板の表面の樹脂層は、完全硬化状態であるこ
とが確認された
【0043】(実施例3)化学反応律速型のエッチング
液として、塩化第二銅を1mol/L含有し、塩酸を2
mol/L含有する水溶液を用いたこと以外は、実施例
1と同様にしてプリント配線板を得た。
液として、塩化第二銅を1mol/L含有し、塩酸を2
mol/L含有する水溶液を用いたこと以外は、実施例
1と同様にしてプリント配線板を得た。
【0044】(実施例4)第一金属皮膜をエッチング除
去する際に、第二金属皮膜の表面のエッチング量が6μ
mになるように調整してエッチングを行ったこと以外
は、実施例1と同様にしてプリント配線板を得た。
去する際に、第二金属皮膜の表面のエッチング量が6μ
mになるように調整してエッチングを行ったこと以外
は、実施例1と同様にしてプリント配線板を得た。
【0045】(実施例5)ICPプリディップ溶液に浸
漬せずに、無電解ニッケルメッキを行ったこと以外は、
実施例1と同様にしてプリント配線板を得た。
漬せずに、無電解ニッケルメッキを行ったこと以外は、
実施例1と同様にしてプリント配線板を得た。
【0046】(比較例1)エッチング液として、塩化第
二銅を5mol/L含有し、塩酸を6mol/L含有す
る、化学反応律速型でない水溶液を用いたこと以外は、
実施例1と同様にしてプリント配線板を得た。
二銅を5mol/L含有し、塩酸を6mol/L含有す
る、化学反応律速型でない水溶液を用いたこと以外は、
実施例1と同様にしてプリント配線板を得た。
【0047】(比較例2)エッチング液として、塩化第
二銅を5mol/L含有し、塩酸を6mol/L含有す
る、化学反応律速型でない水溶液を用いたこと、及び、
エッチングを行った後に、過マンガン酸カリウム溶液に
絶縁基板を浸漬して絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂
層を除去する工程を行わないこと以外は、実施例1と同
様にしてプリント配線板を得た。
二銅を5mol/L含有し、塩酸を6mol/L含有す
る、化学反応律速型でない水溶液を用いたこと、及び、
エッチングを行った後に、過マンガン酸カリウム溶液に
絶縁基板を浸漬して絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂
層を除去する工程を行わないこと以外は、実施例1と同
様にしてプリント配線板を得た。
【0048】(評価、結果)各実施例及び各比較例で得
られたプリント配線板の、回路形状及び絶縁性を評価し
た。回路形状は、形成した櫛型電極の形状の回路のう
ち、回路幅50μmに露光した部分の回路幅を顕微鏡で
観察して、トップの部分とボトムの部分の幅を求め、そ
の差を回路形状の代用値とした。
られたプリント配線板の、回路形状及び絶縁性を評価し
た。回路形状は、形成した櫛型電極の形状の回路のう
ち、回路幅50μmに露光した部分の回路幅を顕微鏡で
観察して、トップの部分とボトムの部分の幅を求め、そ
の差を回路形状の代用値とした。
【0049】絶縁性は、形成した櫛型電極の形状の回路
のうち、50μmの絶縁間隔を有して導通しない回路間
の、絶縁抵抗を求めた。
のうち、50μmの絶縁間隔を有して導通しない回路間
の、絶縁抵抗を求めた。
【0050】その結果は、表1に示すように、各実施例
で得られたプリント配線板は各比較例で得られたプリン
ト配線板と比べて、回路のトップの部分とボトムの部分
の幅の差が小さく、回路形状が優れていることが確認さ
れた。なお、第一金属皮膜をエッチング除去する際に、
第二金属皮膜の表面がエッチング除去される量が、2〜
5μmの範囲内である実施例1〜3及び5は、実施例4
と比べて、特に回路形状が優れていることが確認され
た。
で得られたプリント配線板は各比較例で得られたプリン
ト配線板と比べて、回路のトップの部分とボトムの部分
の幅の差が小さく、回路形状が優れていることが確認さ
れた。なお、第一金属皮膜をエッチング除去する際に、
第二金属皮膜の表面がエッチング除去される量が、2〜
5μmの範囲内である実施例1〜3及び5は、実施例4
と比べて、特に回路形状が優れていることが確認され
た。
【0051】また、メッキ触媒を付与する絶縁基板が、
その表面に半硬化状態の樹脂層を備える絶縁基板である
と共に、第一金属皮膜をエッチング除去する工程の後
に、絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層を除去して絶
縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除去する工程をも
有する実施例1,3,4は、実施例2と比べて、絶縁性
に優れていることが確認された。
その表面に半硬化状態の樹脂層を備える絶縁基板である
と共に、第一金属皮膜をエッチング除去する工程の後
に、絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層を除去して絶
縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除去する工程をも
有する実施例1,3,4は、実施例2と比べて、絶縁性
に優れていることが確認された。
【0052】また、絶縁基板の表面に残留するメッキ触
媒を不活性化した実施例1〜4は、実施例5と比べて、
絶縁性に優れていることが確認された。なお、実施例5
で得られたプリント配線板の回路間を顕微鏡で観察した
ところ、回路間に無電解金メッキが析出していたが、実
施例1〜4で得られたプリント配線板には観察されなか
った。
媒を不活性化した実施例1〜4は、実施例5と比べて、
絶縁性に優れていることが確認された。なお、実施例5
で得られたプリント配線板の回路間を顕微鏡で観察した
ところ、回路間に無電解金メッキが析出していたが、実
施例1〜4で得られたプリント配線板には観察されなか
った。
【0053】
【表1】
【0054】
【発明の効果】本発明に係るプリント配線板の製造方法
は、第一金属皮膜をエッチング除去するエッチング液
が、化学反応律速型のエッチング液であるため、回路形
状が優れたプリント配線板を得ることが可能になる。
は、第一金属皮膜をエッチング除去するエッチング液
が、化学反応律速型のエッチング液であるため、回路形
状が優れたプリント配線板を得ることが可能になる。
【0055】本発明の請求項5及び請求項7に係るプリ
ント配線板の製造方法は、上記の効果に加え、絶縁性に
優れたプリント配線板を得ることが可能になる。
ント配線板の製造方法は、上記の効果に加え、絶縁性に
優れたプリント配線板を得ることが可能になる。
【図1】本発明に係るプリント配線板の製造方法の一実
施の形態を説明する断面図である。
施の形態を説明する断面図である。
【図2】本発明に係るプリント配線板の製造方法の一実
施の形態を説明する断面図である。
施の形態を説明する断面図である。
【図3】回路の形状を説明する図であり、(a)は本発
明に係るプリント配線板の製造方法で得られる回路を示
す断面図、(b)は従来の製造方法で得られる回路を示
す断面図である。
明に係るプリント配線板の製造方法で得られる回路を示
す断面図、(b)は従来の製造方法で得られる回路を示
す断面図である。
1 絶縁基板 2 メッキ触媒 3 第一金属皮膜 4 レジスト被膜 5 第二金属皮膜 8 第三金属皮膜
───────────────────────────────────────────────────── フロントページの続き (72)発明者 高木 光司 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 平田 勳夫 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 金谷 大介 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 (72)発明者 井原 清暁 大阪府門真市大字門真1048番地松下電工株 式会社内 Fターム(参考) 4K057 WA10 WB03 WB04 WE03 WE25 WE30 WN01 5E339 BD03 BD08 BE13 BE17 5E343 AA17 BB23 BB24 BB44 BB67 CC47 CC48 CC71 DD33 DD43 DD76 EE37 ER26 ER32 GG08 GG14
Claims (7)
- 【請求項1】 絶縁基板の表面にメッキ触媒を付与した
後、無電解メッキを行って絶縁基板の表面に第一金属皮
膜を形成し、次いで、その第一金属皮膜の表面のうち、
回路の形成を予定する部分を除く部分にレジスト被膜を
形成した後、メッキを行って、第一金属皮膜が露出する
部分の表面に第二金属皮膜を形成し、次いで、レジスト
被膜を除去した後、第一金属皮膜をエッチング除去して
製造するプリント配線板の製造方法において、第一金属
皮膜をエッチング除去するエッチング液が、化学反応律
速型のエッチング液であることを特徴とするプリント配
線板の製造方法。 - 【請求項2】 化学反応律速型のエッチング液が、硫酸
を2〜6w/v%含有し、過酸化水素を2〜4w/v%
含有し、銅イオンを30〜60g/L含有する水溶液で
あることを特徴とする請求項1記載のプリント配線板の
製造方法。 - 【請求項3】 化学反応律速型のエッチング液が、塩化
第二銅を0.25〜3mol/L含有し、塩酸を1〜4
mol/L含有する水溶液であることを特徴とする請求
項1記載のプリント配線板の製造方法。 - 【請求項4】 第一金属皮膜をエッチング除去する際に
第二金属皮膜の表面がエッチング除去される量が、2〜
5μmであることを特徴とする請求項1から請求項3の
いずれかに記載のプリント配線板の製造方法。 - 【請求項5】 メッキ触媒を付与する絶縁基板が、その
表面に半硬化状態の樹脂層を備える絶縁基板であると共
に、第一金属皮膜をエッチング除去する工程の後に、絶
縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層を除去して絶縁基板
の表面に残留するメッキ触媒を除去する工程をも有する
ことを特徴とする請求項1から請求項4のいずれかに記
載のプリント配線板の製造方法。 - 【請求項6】 絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層を
除去して絶縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除去す
る方法が、過マンガン酸カリウム溶液又はクロム酸カリ
ウム溶液を、絶縁基板に接触させる方法であることを特
徴とする請求項5記載のプリント配線板の製造方法。 - 【請求項7】 絶縁基板の表面の半硬化状態の樹脂層を
除去して絶縁基板の表面に残留するメッキ触媒を除去す
る工程の後に、絶縁基板の表面に残留するメッキ触媒を
不活性化した後、第二金属皮膜の表面に第三金属皮膜を
形成する工程をも有することを特徴とする請求項5又は
請求項6記載のプリント配線板の製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9111999A JP2000286531A (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | プリント配線板の製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP9111999A JP2000286531A (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | プリント配線板の製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2000286531A true JP2000286531A (ja) | 2000-10-13 |
Family
ID=14017646
Family Applications (1)
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---|---|---|---|
JP9111999A Pending JP2000286531A (ja) | 1999-03-31 | 1999-03-31 | プリント配線板の製造方法 |
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Country | Link |
---|---|
JP (1) | JP2000286531A (ja) |
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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