JPS6369962A - マスクスパツタ法 - Google Patents

マスクスパツタ法

Info

Publication number
JPS6369962A
JPS6369962A JP21248786A JP21248786A JPS6369962A JP S6369962 A JPS6369962 A JP S6369962A JP 21248786 A JP21248786 A JP 21248786A JP 21248786 A JP21248786 A JP 21248786A JP S6369962 A JPS6369962 A JP S6369962A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
mask
holes
substrate
pattern
sputtering method
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP21248786A
Other languages
English (en)
Other versions
JPH0586471B2 (ja
Inventor
Osamu Shimizu
治 清水
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
Priority to JP21248786A priority Critical patent/JPS6369962A/ja
Publication of JPS6369962A publication Critical patent/JPS6369962A/ja
Publication of JPH0586471B2 publication Critical patent/JPH0586471B2/ja
Granted legal-status Critical Current

Links

Landscapes

  • Physical Deposition Of Substances That Are Components Of Semiconductor Devices (AREA)
  • Physical Vapour Deposition (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (発明の分野) 水元用はマスクスパッタ法に関し、特に詳細には比較的
Il!厚が大きい場合にも所定のパターンに正確に成膜
することのできるマスクスパッタ法に関するものである
(従来の技術) 周知のように、基板上の特定の部分のみに薄膜を形成す
るための方法としては、基板の全面に薄膜を成膜した後
にエツチングを行なう方法、リフトオフ法、およびマス
クスパッタ法等が知られている。中でも基板上に所定の
パターンの透孔が形成されてなるマスクを載置し、該マ
スク側からスパッタリングを行なうことにより基板上に
透孔のパターンに応じたRIOを形成するマスクスパッ
タ法は、最も工程が簡単であり、またエツチングやリフ
トオフ法の適用が困難な、膜厚数十μmといった比較的
厚い膜を形成する際にも適用することが可能であるとい
った利点を有している。
(発明が解決しようとする問題点) しかしながら、上記マスクスパッタ法においては、成膜
される薄膜の膜厚が厚くなるにつれてマスクの受ける応
力が大きくなり、マスクが徐々に反り返ってしまい、そ
の結果膜材料がマスクの裏面に回り込んで基板上に付着
し、所望の形状に薄膜を正しく形成することができな(
なるという問題がある。このマスクの反り返りを防ぐた
めにはマスクの厚さを大きくしていくことも考えられる
が、反り返りを防止するのに十分な程マスクの厚さを大
き(増加させると、パターンの輪郭部分への膜形成が不
十分となる、いわゆるシャドウィングが大きくなるため
、特にパターンが微細なものである場合には好ましくな
い。
そこで本発明は上記問題に鑑み、マスクの厚さを大きく
増大させることな(マスクの反り返りを防ぎ、形成され
る膜の厚さが大きい場合にもパターンに応じた正確な成
膜を行なうことのできるマスクスパッタ法を提供するこ
とを目的とするものである。
(問題点を解決するための手段) 本発明のマスクスパッタ法はほぼ同一パターンの透孔を
有するマスク材を少なくとも2枚重ねてマスクとして用
いることを特徴とするものである。
なおマスク材を重ねるとは同一のパターンが重なり合う
ように重ねることを意味し、また各マスク材は透孔のパ
ターンが互いにほぼ同一であれば、マスク材全体の形状
がそれぞれ多少異なっているものでもよい。
(作  用) 上記のようにマスク材を2枚以上重ねてスパッタリング
を行なえば、スパッタリングにより応力を受けることに
より反り返るマスク材は表面の1枚のみとなり、反り返
ったマスク材の裏面には膜材料が回り込むが、このマス
ク材と基板の間には少なくとも1枚のマスク材が介在し
ているので、回り込んだ膜材料はこのマスク材に付着し
、膜材料が基板の所定の部分以外に付着するといった不
都合は生じなくなる。従って形成される薄膜の膜厚が比
較的大きい場合にも、マスクの厚さを大きくすることな
く所定のパターンに正しく薄膜を形成することができる
(実 施 例) 以下、図面を参照して本発明の実施例について説明する
第1図は本発明の一実施例によるマスクスパッタ法に用
いられるマスク材の平面図であり、第2図はこのマスク
材を用いたマスクスパッタ法を説明する断面図である。
第1図に示すように、−例として円形のマスク材1は、
スリット状の複数の透孔2を有しているものであり、本
実施例においては、第2図(a )に示すように2枚の
前記マスク材1が互いの透孔が重なるように重ね合わせ
られ、マスク10として基板3上の薄膜形成面3a上に
配されるようになっている。マスク10が配された基板
3は下方から膜材料がスパッタリングされ、薄膜形成面
3aの、透孔2と重なっている部分にのみ膜材料が付着
して、透孔2のパターンに応じた*膜が形成される。
ところで第2図(a )のようにマスク10を配した後
、下方からスパッタリングを行なっていくと、マスク1
0のうち、下側のマスク材1は応力を受けて反り返り、
この応力は形成される膜厚が大きくなる程大きいものと
なる。例えば本実施例は、各マスク材1がフォトセラム
よりなり、その厚さが各々1ssであり、スパッタリン
グにより50μmの厚さに5iOzlを形成するもので
あるが、この場合下側のマスク材1は第2図(b)に示
すように反った状態となる。また比較のため前記マスク
材1を第3図(a )に示すように1枚だけ基板3の薄
膜形成面3a上に配して厚さ50μmの5iOz層4を
形成したところ、このマスク材1は第3図(b)に示す
ように反り返り、Singは薄膜形成面3aから離れた
マスク材、の裏面から回り込んでR[形成部分以外の場
所にも付着し形成されたS!Oz層のパターンは不正確
なものとなった。
これに対して本実施例においてはマスク10は2枚のマ
スク材1からなっているので第2図(b)に示すように
下側のマスク材1み反り、5iOzが下側のマスク材の
裏面に回り込んでも、回り込んだ5to2は上側のマス
ク材1の表面に付着し、基板3に付着することはない。
また上側のマスク材1はスパッタリングによる応力をほ
とんど受けないため、基板3と常に隙間な(接し、簿膜
形成面3a上には上方のマスク材1の透孔のパターンに
応じたS!Oz層が正しく形成される。また、この場合
問題となるようなシャドウィングは生じなかった。なお
、1枚のマスク材の厚さを2倍(2MR)として、この
マスク材を1枚だけ基板上に載置してスパッタリングを
行なった場合には、第3図(b)と同様にマスク材には
反りが生じ、正確な薄膜形成は行なえなかった。
このように本発明のマスクスパッタ法によれば複数のマ
スク材を重ねてマスクとして基板上に配回することによ
り、マスクがスパッタリング時に応力を受けても基板上
に形成される簿膜のパターンが不正確になることがない
。また本方法はマスクを複数のマスク材からなるものと
したことにより基板の7tII膜形成部分以外に膜材料
が付着することを防止するものであるから、各マスク材
の厚さはそれぞれ比較的薄いものであっても支障はなく
、マスク全体の厚さを著しく大きいものとしてシャドウ
ィングを招くことなく、正確な薄膜形成を行なうことが
できる。
なお、本方法に用いられるマスクを構成するマスク材は
3枚以上であってもよく、また各マスク材は透孔のパタ
ーンが略等しいものであれば輪郭形状等は異なっていて
もよい。さらに各マスク材の厚さも互いに買なっていて
もよい。またマスク材の形状、材質、透孔の形状も上記
実施例において示したものに限られるものでないことは
言うまでもない。
(発明の効果) 以上説明したように本発明のマスクスパッタ法によれば
、複数のマスク材を重ねてマスクとして用いたことによ
り、スパッタリング時に外側のマスク材が反り返っても
内側のマスク材は基板に隙間なく接しているので、所定
のパターンに応じた薄膜を正しく形成することができる
。またマスクの厚さを著しく増大させる必要もないため
、シャドウィングが生じてしまうという不都合も生じな
い。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例によるマスクスパッタ法に用
いられるマスク材の平面図、 第2図(a)、(b)は上記マスクスパッタ法を説明す
る断面図、 第3図(a)、(b)はマスク材を1枚だけ使用してス
パッタリングを行なう比較例を示す断面図である。 1 ・・・マ  ス  り  材    2・・・透 
        孔3・・・基     板  4・・
・5fOz層10・・・マ  ス  り 第1図 第2図    第3図 (b)  3(b) fft    ftt

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板上に所定のパターンの透孔部が形成されてなるマス
    クを配し、該マスク側からスパッタリングを行なうこと
    により前記基板上に前記透孔部のパターンに応じた薄膜
    を形成するマスクスパッタ法において、ほぼ同一パター
    ンの透孔部を有するマスク材を少なくとも2枚重ねて前
    記マスクとして用いるこを特徴とするマスクスパッタ法
JP21248786A 1986-09-09 1986-09-09 マスクスパツタ法 Granted JPS6369962A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21248786A JPS6369962A (ja) 1986-09-09 1986-09-09 マスクスパツタ法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21248786A JPS6369962A (ja) 1986-09-09 1986-09-09 マスクスパツタ法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6369962A true JPS6369962A (ja) 1988-03-30
JPH0586471B2 JPH0586471B2 (ja) 1993-12-13

Family

ID=16623463

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP21248786A Granted JPS6369962A (ja) 1986-09-09 1986-09-09 マスクスパツタ法

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPS6369962A (ja)

Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008004594A1 (fr) * 2006-07-07 2008-01-10 Canon Anelva Corporation Plateau de substrat et appareil de formation de film
JP2012124127A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Canon Inc 蒸着マスクおよびそれを用いた有機el表示パネルの製造方法
JP2015209574A (ja) * 2014-04-28 2015-11-24 トヨタ自動車株式会社 表面に膜を有する部材を製造する方法
WO2020095787A1 (ja) * 2018-11-07 2020-05-14 東京エレクトロン株式会社 成膜方法及び半導体製造装置

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4727897U (ja) * 1971-04-15 1972-11-29

Patent Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS4727897U (ja) * 1971-04-15 1972-11-29

Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2008004594A1 (fr) * 2006-07-07 2008-01-10 Canon Anelva Corporation Plateau de substrat et appareil de formation de film
JP2012124127A (ja) * 2010-12-10 2012-06-28 Canon Inc 蒸着マスクおよびそれを用いた有機el表示パネルの製造方法
JP2015209574A (ja) * 2014-04-28 2015-11-24 トヨタ自動車株式会社 表面に膜を有する部材を製造する方法
WO2020095787A1 (ja) * 2018-11-07 2020-05-14 東京エレクトロン株式会社 成膜方法及び半導体製造装置
JP2020077751A (ja) * 2018-11-07 2020-05-21 東京エレクトロン株式会社 成膜方法及び半導体製造装置

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0586471B2 (ja) 1993-12-13

Similar Documents

Publication Publication Date Title
JPS5835149B2 (ja) 記録装置用多心−電極装置の製作方法
JPS6369962A (ja) マスクスパツタ法
US4528071A (en) Process for the production of masks having a metal carrier foil
JPH01292829A (ja) 半導体装置の製造方法
JP2943283B2 (ja) 固体撮像素子の製造方法
JPH04238094A (ja) 印刷用メタルマスクの製造方法
JPS6017334Y2 (ja) スクリ−ン印刷用マスク
JPS5849018B2 (ja) 電極パタ−ンの形成方法
JPS58161346A (ja) 金属突起電極の形成方法
JPH02125684A (ja) 半導体レーザの製造方法
JPS63291428A (ja) 転写用バンプの形成方法
JPH0348498B2 (ja)
JPS6347638B2 (ja)
JPS63110656A (ja) 配線層の形成方法
JPH07276838A (ja) 二重構造スクリーン版
JPS60224227A (ja) レジスト膜のパタ−ン形成方法
JPH07107828B2 (ja) 薄板鋼板のエッチング貫通孔形成方法
JPH03260654A (ja) ドライフィルムレジストのパターン形成方法
JPS5951157B2 (ja) 薄膜パタ−ンの製造方法
JPH0619122A (ja) ブランクスの構造とフォトマスクの製造方法
JPS63288020A (ja) 電極作成方法
JPH07183443A (ja) リードフレームのバンプの形成方法
JPH04128761A (ja) 厚膜印刷用スクリーンの製造方法
JPS6295286A (ja) 厚膜ペ−ストの形成方法
JPS63888B2 (ja)

Legal Events

Date Code Title Description
R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

R250 Receipt of annual fees

Free format text: JAPANESE INTERMEDIATE CODE: R250

EXPY Cancellation because of completion of term