JPS6366237A - シリコ−ン系被膜の表面処理方法 - Google Patents

シリコ−ン系被膜の表面処理方法

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JPS6366237A
JPS6366237A JP21059886A JP21059886A JPS6366237A JP S6366237 A JPS6366237 A JP S6366237A JP 21059886 A JP21059886 A JP 21059886A JP 21059886 A JP21059886 A JP 21059886A JP S6366237 A JPS6366237 A JP S6366237A
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JP
Japan
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silicone
film
gas
silicone based
oxygen
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Pending
Application number
JP21059886A
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English (en)
Inventor
Muneo Nakayama
中山 宗雄
Akira Uehara
植原 晃
Akira Hashimoto
晃 橋本
Toshihiro Nishimura
西村 俊博
Isamu Hijikata
土方 勇
Mitsuaki Minato
湊 光明
Eiichi Kashiwagi
柏木 栄一
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
Original Assignee
Tokyo Ohka Kogyo Co Ltd
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Publication date
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Priority to US07/092,485 priority patent/US4868096A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はシリコーン系被膜の表面処理方法に関し、さら
に詳しくは、特に電子材料として有用なシリコーン系被
膜表面の密着性を改善するとともに、クランクなどのな
い均一なシリコーン系被膜を得るだめの表面処理方法に
関する。
〔従来の技術〕
有機性または無機性の各種被膜上に他層を積層する場合
、両層間の密着性を向」ニさせる処理として、該被膜表
面をサンドペーパー捷たはホーニング処理などによりそ
の表面を川面化する方法や、コロナ放電、紫外線照射、
プラズマ処理などによる表面活性化する方法が行われて
いる。各種被膜の中でも、シリコーン系被膜は絶縁性、
耐熱性、安定性に優れているため、電子材料分野で広く
用いられている。例えば、超LSIなどの半導体素子の
製造分野では多層配線プロセスにおける層間絶縁膜(特
公昭60−46826号公報)、寸だ液晶表示素子の製
造分野においては、配向膜(特開昭6’0−25851
号公報)などに利用されることが多い。ところで、これ
らのシリコーン系被膜上にホトレジスト、CVD。
PVD被膜や他の塗布被膜を密着性よく形成させる場合
、あるいは液晶表示素子の張り合わせ工程における接着
強度を増強させる場合には、シリコーン系被膜の表面を
酸素プラズマ処理することによって酸化ケイ素化するこ
とが有力な手段である。しかし々から、シリコーン系被
膜は、このような処理を行うとその被膜にクラックが入
シ易く満足できる手段とはいいがたい。
これを解決するために、例えば、シリコーン系被膜の一
種であるポリシルセスキオキサン上にSiO□捷だはA
l2O3を積層することで密着性を改善する方法(特開
昭57−111046号公報)などがある。しかしなが
ら、この方法はシリコーン系被膜上に、さらにもう一つ
の被膜を形成しなければならないため、作業が複雑でコ
ストもかかり実用的な方法ではない。
〔発明が解決しようとする問題点〕
本発明は、複雑な作業を必要とせずにシリコーン系被膜
の密着性、す々わちシリコーン系被膜と他の被膜との密
着性を向上させるとともに、シリコーン系被膜のクラッ
クや剥膜を生じさせない均一な処理方法を提供すること
を目的としてなされたものである。
〔問題点を解決するだめの手段〕
本発明者らは、上記目的を達成すべく鋭意研究を重ねた
結果、シリコーン系被膜を120 ℃以下の処理温度で
酸素を主成分とするガスによりプラズマ処理することで
その目的が達成されることを見い出し本発明をなすに至
った。
すなわち本発明はシリコーン系被膜表面を酸素を主成分
とするガスを用い、かつ1.20℃以下の温度でプラズ
マ処理することを特徴とする表面密着性に優れた シリ
コーン系被膜の表面処理方法である。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明の方法は酸素を主成分とするガスを用い、120
℃以下の温度でプラズマ処理することを特徴とするから
、この条件でプラズマ処理が行えるプラズマ処理装置を
使用する。かかる処理装置としては特に好ましいもの5
として、プラズマ放電部と反応処理部が設けられた、い
わゆる誘導型プラズマ処理装置を挙げることができる。
この誘導型プラズマ処理装置は同一チャンバー内にプラ
ズマ放電部と反応処理部を設けた構造を有するため処理
温度を低くすることができる。
また一般にプラズマ処理においては、プラズマ処理時間
が長くなると、反応処理部内の温度が上昇するため、複
数枚の被処理基板を同時に処理する、いわゆるバッチ式
のプラズマ処理装置は好ましくなく、一枚づつ処理する
枚葉式のプラズマ処理装置が好ましい。しかし本発明方
法では120℃以下の温度でプラズマ処理できるもので
あれば上記した構造のプラズマ処理装置に限定されない
本発明で使用されるシリコーン系被膜としては、シリコ
ーン系樹脂から成るものであり、特にその種類は限定さ
れるものではないが、塗布液として調製され、ベーキン
グすることでシリコーン系被膜を形成できるものが好ま
しい。使用するシリコーン系樹脂は樹脂中のSi原子が
主鎖に含まれたもの、側鎖に含まれるものおよび主鎖と
側鎖に含まれるもののいずれでもよく、具体的にはポリ
シロキサン、ポリラダーオルガノシロキサン、ポリシラ
ザン、ポリシラン、ポリシルシラン、ポリシルメチレン
、ポリシリルフェニレン、ポリフェニレンオキシシロキ
サン、ポリシルセスキオキサン、ポリ(p−)リメチル
シリルスチレン)、ポリ(トリメチルビニルシラン)、
フェニル・トリフェニルシロキシシランジオール−ビス
フェノール共重合体などのシリコーン系樹脂を単独また
は2種以上混合して有機溶剤に溶解して調製した塗布液
、アルコキシシランを有機溶剤に溶解したものを加水分
解して得られるオルガノシラノール系のシリコーン系被
膜を形成する塗布液、2ジアミノポリシロキサン、有機
ジアミンおよびテトラカルボン酸から成る混合物の反応
生成物であるポリイミド−シリコーン系樹脂を有機溶剤
に溶解して得られる塗布液などを挙げることができる。
このような塗布液の調製に用いる有機溶剤とシテハメチ
ルアルコール、エチルアルコール、プロピルアルコール
、フチルアルコールのヨウナブルコール類、アセトン、
メチルエチルケトン、アセチルアセトンのようなケトン
類、酢酸メチル、酢酸エチル、酢酸ブチルのようなエス
テル類、エチレングリコール、グリセリン、ジエチレン
クリコール、エチレングリコールモノメチルエーテル、
エチレングリコールモノエチルエーテル、エチレングリ
コールモノブチルエーテル、プロピレングリコールのよ
うな多価アルコールおよびそのエーテル類などを挙げる
ことができる。これらは単独で用いても2種以上混合し
て用いてもよい。
上記塗布液はスピンナー法、浸漬引上げ法、スプレー法
、スクリーン印刷法、ロールコータ−法、刷毛塗布法な
どの慣用されている塗布法により塗布され、空気中また
は不活性ガス中で150℃以上、好ましくは300℃以
上でベーキングすることによりシリコーン系被膜が形成
される。
本発明の方法に用いる酸素を主成分とするガスとしては
具体的には酸素を80容量係以上含有したものが好捷し
く、他にCHF3、C2F6、C3F8、C5RIo−
C4F gなどのフッ素系ガスが混合されてもよい。
本発明の方法におけるプラズマ処理温度は120℃以下
であり、120℃を超えるとシリコーン系被膜にクラッ
クが生じやすくなるため好ましくない。また処理温度の
下限は特に限定できないが、実用的には室温であり、特
に好捷しい処理温度範囲としては50〜100℃である
。本発明でいう処理温度とは被処理基板の載置台の温度
として測定されるものである。
次に本発明の表面処理方法の具体例として多層配線板の
製造について例示する。
半導体素子基板上にアルミニウムなどの金属より成る所
定パターンの導電配線層を形成し、その上にシリコーン
系被膜を全面に形成する。
次いで通常のホトエツチング法によりシリコーン系被膜
をエツチングしてコンタクトホールを開ける。そしてプ
ラズマ処理装置を使用し、酸素を主成分とするガスを用
い、プラズマ処理を行うことによシリコーン系樹脂のエ
ツチングの際にマスクとなったレジスト膜を除去すると
ともに、シリコーン系被膜表面を処理する。次いで表面
処理が行われたシリコーン系被膜上に再度アルミニウム
を蒸着し、通常のホトエツチング法によって、所定パタ
ーンの導電配線層が= 7− 形成される。その後全面に表面安定化膜を形成すること
で多層配線板が作製される。
〔実施例〕
実施例1 シリコーン系被膜形成用塗布液である0CDType−
7≠51R(東京応化工業社製)をシリコンウェハー上
にスピンナー塗布し、400℃、30分間不活性ガス雰
囲気中でベーキングすることにより約1μmのシリコー
ン系被膜を得た。
次いでプラズマ放電部と反応処理部を設けた構造を有す
る誘導型プラズマ処理装置であるTCA=2300 (
東京応化工業社製)を用いて02ガスを導入出力250
W、圧力0.8 Torrおよび処理温度60℃の条件
でシリコーン系被膜表面を90秒間プラズマ処理した。
このときシリコーン系被膜はクラックの々い均一な表面
であった。
次いでこの上にポジ型ホトレジストである0FPR−8
00(東京応化工業社製)を塗布し、110℃で90秒
間乾燥したのち、通常のホトリソグラフィ法によシバタ
ーニングし、これをマスフとして露出しだシリコーン系
被膜をプラズマエツチング装置OAPM−400(東京
応化工業社製)を用い、02:CF、(97容量係:3
容量係)の混合ガスによシエソチングしたところ、レジ
スト膜のシリコーン系樹脂からのハガレはなく原画マス
クに忠実なパターンが得られた。
比較例1 実施例1で用いたプラズマ処理条件のうち、処理温度を
150℃とした以外は実施例1と同様の方法で行ったと
ころ、同じ時間を要してプラズマ処理しだにもかかわら
ず、被膜全面に無数のクラックが確認された。
比較例2 混合ガスの配合容量割合を02=CI−■F3−50:
50とした以外は実施例1と同様に処理しだが、得られ
た被膜とその上層のホトレジストとの密着性が増強され
ることがなく、マスクとしての機能を発揮することがで
きなかった。
比較例3 実施例1と同様にシリコーン系被膜を形成し、これをバ
ッチ型プラズマ処理装置OPM−A、1200(東京応
化工業社製)に入れて、酸素ガス95容量係とテトラフ
ルオロメタン5容量係とからなる混合ガスを導入して、
圧力1.8Torr、250〜300℃のプラズマ条件
で3分間処理したところ、シリコーン系被膜には無数の
クラックが確認された。
〔発明の効果〕
本発明のシリコーン系被膜の表面処理方法ではシリコー
ン系被膜表面を120℃以下の温度と、酸素を主成分と
するガスでプラズマ処理することによりシリコーン系被
膜表面上に積層される他層に対する密着性を向上でき、
しかもシリコーン系被膜にはクラックなどを発生させな
いため、シリコーン系被膜を用いる電子部品の製造の歩
留りを高めることができ、また本発明の表面処理方法は
プラズマ処理装置が使用されるため、プロセスの自動化
も可能であり、極めて実用的な方法である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. シリコーン系被膜表面を酸素を主成分とするガスを用い
    、かつ120℃以下の温度でプラズマ処理することを特
    徴とするシリコーン系被膜の表面処理方法
JP21059886A 1986-09-09 1986-09-09 シリコ−ン系被膜の表面処理方法 Pending JPS6366237A (ja)

Priority Applications (2)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP21059886A JPS6366237A (ja) 1986-09-09 1986-09-09 シリコ−ン系被膜の表面処理方法
US07/092,485 US4868096A (en) 1986-09-09 1987-09-03 Surface treatment of silicone-based coating films

Applications Claiming Priority (1)

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JP21059886A JPS6366237A (ja) 1986-09-09 1986-09-09 シリコ−ン系被膜の表面処理方法

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JPS6366237A true JPS6366237A (ja) 1988-03-24

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ID=16591976

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Cited By (5)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2008539102A (ja) * 2005-04-29 2008-11-13 ビーエーエスエフ ソシエタス・ヨーロピア 複合要素、特にウィンドウガラス
WO2009008310A1 (ja) * 2007-07-11 2009-01-15 Seiko Epson Corporation 接合膜付き基材、接合方法および接合体
WO2009008309A1 (ja) * 2007-07-11 2009-01-15 Seiko Epson Corporation 接合膜付き基材、接合方法および接合体
WO2009008308A1 (ja) * 2007-07-11 2009-01-15 Seiko Epson Corporation 接合体および接合方法
CN111408287A (zh) * 2020-04-24 2020-07-14 常州大学 一种采用旋涂法在疏水介孔有机硅表面制备无缺陷微孔有机硅膜的方法

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