JPS6365847A - セクタスキヤンctスキヤナ - Google Patents

セクタスキヤンctスキヤナ

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JPS6365847A
JPS6365847A JP61210991A JP21099186A JPS6365847A JP S6365847 A JPS6365847 A JP S6365847A JP 61210991 A JP61210991 A JP 61210991A JP 21099186 A JP21099186 A JP 21099186A JP S6365847 A JPS6365847 A JP S6365847A
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JP
Japan
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sector scan
image
projection data
data
scanner
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Pending
Application number
JP61210991A
Other languages
English (en)
Inventor
正司 藤井
修 辻井
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Toshiba Corp
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp filed Critical Toshiba Corp
Priority to JP61210991A priority Critical patent/JPS6365847A/ja
Publication of JPS6365847A publication Critical patent/JPS6365847A/ja
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  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [発明の目的コ (産業上の利用分野) 本発明は、セクタスキャンRtut部を持ったCTスキ
ャナの改良に係わり、特に途中段階で逐次再構成画像を
作成して表示可能としたセクタス↓ヤンCVスキャ±に
関する。
(も1来の技術) 従来のこの種のCTスキャノ−にJ5いては、敢!)1
線発生器/)11ら照射されるファン状敢q4線のファ
ン角に合ぜて放射線検出器のチャンネル数を決定すると
としに、これらの各チャンネルは一般的には密接配置さ
れている。
しかし、例えばチャンネル酸が少ないために放射線検出
器の幅が放射線のファン角よりし小さい場合、あるいは
コストの低下を図る観点から故01線のファン角内でそ
れぞれのチャンネル間に空間を設けて散在配置させた場
合、更には高1ネルギー検出用放射線検出器のように各
ヂi・ンネル相η[tlに非上渉材となるセパレート部
材を介在させて各チャンネル間の干渉を回避する構成と
した場合、チャンネルの不足部分あるいは各チャンネル
の間では放)1線発生器から被検査物を透過して出力さ
れる放射線吸収データを放射線検出器により検出するこ
とができない。
以FのようなC丁スギャナにおいては、tJ文Qj腺検
出器にセクタスキャン(4構を設け、このセクタスニv
t−ンBM tMを用いてセクタスキャン動作を行い/
rがら敢qJ線発生器/)11う放射線を照射し、この
とき被検査物を通って出力されるtJ!1IJ4線吸収
データを放射線検出器で検出し、かつ、この検出データ
をデータ収集部で収束してディジタルデータに変換し、
さらに前処理部において適宜な補正処理を行って投影デ
ータを1′:Iた後、データメ七りに格納する。放射線
検出器のチャンネル不足分あるいは各ブトンネル間の空
間部分についてはセクタスキャンFA+gによりセクタ
スキャンを11ってデータを補っている。そして、セク
タスキャンを含めて全スキャンが終了した後、前記投影
データを用いて画像再構成処理を行って再構成画像を1
9、この画像を画像表示部に表示している。
しかし、以上のようなセクタスキャンCTスキャナは、
全スキャンが終了しなければ再構成画像を得ることがで
きず、このため被検査物の良否を判断できるまでに長時
間を要し、検査目的および検査精度等によってはそれが
無駄時間となり、検査作業の能率低下を招く欠点があっ
た。
(発明が解決しようとする問題点) 従って、以上のようなセクタスキャンCTスキャナは、
検査目的、検査精度および欠陥内容により、スキャンの
途中段階までのデータで充分であるにも拘らず、長時間
にわたってスキャン動作を行ってすべての投影データを
得た後、画像再構成処理を行って再構成画像を得るもの
であった。
このため、被検査物の良否を知るまでに長時間を要して
無駄時間が多くなり、かつ、検査作業の能率低下は否め
ず、これを解決して迅速に検査結果を得ることが要望さ
れていた。
本発明は上記実情に塔みてなされたもので、各セクタス
キャンの段階で再構成画像処理を行って再構成画像を得
ることにより、スキャン動作の途中の段階で検査結果を
知り(qるようにし、検査時間の無駄を省き、途中経過
の状態を速やかに把握でき、検査作業の能率を高め得る
セクタスキャンCTスキャナを提供することを目的とす
る。
[発明の構成] (問題点を解決するための手段) 本発明によるセクタスキャンCTスギャナ(よ、被検査
物を挟んで放射線発生器と対向する様に配置された放射
線検出器のセクタスキャン動作を行うセクタス:11r
ン81 構部と、このセクタスキャン閏購部によるセク
タスキャンごとに被検査物を通って取17される投影デ
ータを一時的にデータメモリに格納する投影データ格納
丁段と、この投影j−り格納手段によって格納された各
セクタスキャンごとの1?影データを用いて画像再構成
を行って再構成画像を(する画像作成手段とを備え、各
セクタスキャンごとに作成された再構成画像を画像表示
部に表示するものである。
(作用) 従って、以上のような手段とすることにより、各セクタ
スキャンごとに取得された投影データを用いて順次画像
再構成処理を行って再構成画像を176とともに、その
セクタスキャンごとの再構成画像を画像表示部で表示す
るようにしたので、スキャンの途中の段階で被検査1カ
の検査画像が得られ、スキャンの途中軽過の状態を把握
でき、比較的迅速に検査結果を知ることができる。
(実施例) 以下、本発明の一実施例について第1図ないし第3図を
参照して説明する。第1図は本発明に係わるセクタスキ
ャンCTスキャナのシステム構成図、第2図は本発明C
Tスキャナの動作を説明するフロチャート、第3図は第
1回目のセクタスキャンにより取得された投影データを
データメモリに格納している状態を示す図である。第1
図において11は例えばxIiil管等の放l31i線
発生器であって、この放射線発生器11と対向する位置
に多チャンネルの放射線検出器12が配置されている。
この放1)11検出器12は、例えば各チャンネル間に
空間が形成されており、このためセクタスキャン機構部
13を用いて図示矢印方向に所定の回転角度ずつセクタ
スキャン動作を行ってチャンネルの不足分を補うように
している。ざらに、前記放射線発生器11と放射線検出
器12どの間に被検査物u、@用アーブル14が設胃さ
れ、このテーブル14はローテーション機構部15によ
り所定角度ずつ回転されるように設けられている。
16は人為的またはプログラムデータに基づいて所定の
タイミングで指令を与えて各構成要素を制御するコンソ
ールであって、これには放射機制御部172機構制御部
18およびデータ処理用プログラムデータに3;4づい
てデータ処理を行うCPU 19等が)3騎されている
。前記放射線制御部17はコンソール16からの指令を
受けて例えば敢(ト)線発生器11がX線管の場合に(
、L高電圧発生器20へ、放射線発生器11が放射線?
1≦1の場合には高電圧発生器20に代るシャッタ機構
部(図示せず)へ駆動制御信号を送出し、/it剣線発
牛鼎11よりファン状放射線21を照射させるものであ
る。義構制御部18はコンソール1Gから指令を受けて
セクタスキャン機構部13に駆動側i3!l信号を与え
てセクタスキャン動作を行い、引き続き、ローテーショ
ン機構部15へ駆動制御信号を与えてローテートスキト
ン動作を行わせるしのである。
前記放射線検出器12の出力側には該検出器12のチャ
ンネルごとの検出データを取り込んで所要の処理を行い
、かつ、ディジタルデータに変換するデータ収集部22
を介して前処理部23が接続されている。24はデータ
メモリであって、これはCPL119で制御され、前処
理部23によって処理された各セクタスキャンごとの投
影データを一時的に格納する機能を有するもので、サイ
ノブラムとして動作する。25は投影データを用いて画
像再構成処理を行って再構成画像を作成する画像再構成
処理部、26は再構成画像を記憶し、かつ、加算用メモ
リとして使用される画像メモリである。27は両像メモ
リ26から読出された再構成画像を表示する画像表示部
、31は後述する第3の実施例で説明される内挿演算部
である。
次に、以上のように構成されたCTスキャナの動作を説
明する。先ず、ステップS1に示す如く予めまたはコン
ソール16からの指令を受けて門構制御部18が1il
劇線検出器12を初期位置に設定する。この時の位置が
ステップS2に示す第1回目のセクタ位置となる。この
状態においてコンソール16から動作指令信号を出力す
ると、放射線制御部17および機構制御部18はそれぞ
れ所定の駆動制御信号を出力し、これによりローテーシ
ョン機構部15はテーブル14を所定の回転角度ずつ回
転させながらステップS3に示すようにローテートスキ
ャン動作を行うとともに、放射線発生器11からファン
状放射線21を照射し、かつ、このとき被検査物を透過
して放射線検出器12で得られた検出データはデータ収
集部22によりチャンネルごとに収集された後、ステッ
プS4に示す如く前処理部23で補正迅理をiテって投
影データを得、これをデータメモリ24に一時的に格納
する(ステップS5)。従って、第1回目のセクタスキ
セン動作後、ローテートスキャン動作を行って1qられ
た投影データは第3図に示すようにデータメモリ24の
NOlに属するサイノブラムの上側から下側つまりプロ
ジエツクション方向へ順次格納されていく。その他の部
分は図示されていないが例えば「0」データが格納され
ている。このようにして第1回目のセクタスキャン動作
後、ローテート機構部15により被検査物を例えばほぼ
1回転させて投影データを取17すると、CPU19は
ステップ86.S7で示す如く第1回目のセクタスキャ
ンによる投影データをデータメモリ24から読出して従
来周知の画像再構成処理部25により画像再構成処理を
行い、ここで(りられた再構成画像を画像メモリ26に
格納した後、画像表示部27に表示する(ステップ88
)。従って、オペレータはこの両Ig!表示部27の画
像から検査物の検査結果を知ることができる。
次に、ステップS9に移行し、ここでセクタ規定回数か
否かを判断し、規定回数にjヱしていない場合にはステ
ップS10で「1」をプラ・スし、第2回目のセクタス
キャン動作を行う(ステップ511)。この第2回目の
セクタスキャン動作後の制御およびデータ処理は第1回
目のセクタスキャン動作およびローア−トスキャン動作
の時と同様であり、かつ、得られた投影データは第3図
に示すNO2の系列に属するサイノブラムに順次格納さ
れていいく。そして、第2回目のセクタスキャンによる
投影データを用いて画像再構成処理を行い、この処理に
よって得られた再構成画像を画像メモリ26に格納し、
これら第1回目および第2回目のセクタスキャンによっ
て得られた再構成画像を加算し、これらの加算画像デー
タを読出して画像表示部27に表示する。この結果、第
1回目と比較し、更に正確な検査結果が得られることに
なる。
以上のようにして規定回数例えば4回にわたってセクタ
スキャン動作を行い、全部のスキャンが終了した時には
従来と同様な最終的な再構成画像を得ることができる。
従って、以上のような実施例の構成によれば、第1回目
のセクタスキャン動作によって得られた投影データから
被検査物の再構成画像を得、これを画像表示部27に表
示するようにしたので、途中の段階で検査結果を知るこ
とができ、かつ、この段階で被検査物に欠陥があればそ
れを確認することができる。また、各セクタスキャンご
との再構成画像を加算して順次表示するので、途中経過
の状況を知ることができ、従来のように長時間を持たず
に被検査物の良否を判定でき、検査作業の能率化に貢献
する。
次に、本発明に係わるセクタスキャンCTスキャナの第
2の実施例について第4図および第5図を参照して説明
する。この実施例は、第1回目のセクタスキャン動作の
後のローテートスキャン動作によって19られた投影デ
ータ(第4図a)を用いて画像再構成処理を行って再構
成画像を17、画像表示部27に表示する。次に、第2
回目のセクタスキャン動作の後のローテートスキャン動
作により1!1られた投影データをNO2にBlるサイ
ノブラムに格納した後、これら前記第1回目および第2
回目のセクタスキャン動作後の合成投影データ(第4回
目)を用いて画像再構成処理を行って再(8成画像を得
、この画像を画像メモリ26に記憶した後、同(藁に画
像表示部27に表示する。第3回目および第4回目のセ
クタスキ1?ン動作においても同1薯な処理を行う。従
って、各セクタスキャンによりスキャン途中の再構成画
像が得られ、かつ、セクタスキャンの規定回数が4回で
ある場合には第4回目のセクタスキャン動作によって最
終的な再構成画像を得ることができる。
次に、本発明に係わるセクタスキャンCTスキャナの第
3の実施例について第6図および第7図を参照して説明
する。即ち、この実施例は、第1および第2の実施例に
よって得られた前処理後の投影データを用い、かつ、投
影データの取得されていないレイ方向の不足エリアに第
1図に示す内挿演算部31を用いて第6図のステップ8
20に示す如く既に取得した投影データを用いて例えば
スプライン補間法等の内挿法により内挿演算を行って第
7図に示す如く内挿エリアに補間データを補間した後、
画像再構成処理部25を用いて画像再構成処理により再
構成画他を(q、この画仙データを画像メモリ26に記
憶した後、画像表示部27に表示する。以上のようなデ
ータ処理は、第6図に示すように各セクタスキャンごと
に行うものである。従って、この実施例においても第1
の実流例と同様にすべてのスキャンが終了する前の途中
段階で逐次検査結果を知ることができる。
なお、第2の実施例では各セクタスキャンごとの投影f
−タの合成をCP LJ 19で行うものであるが、前
処理部23に同様な鵬能を持たせれば該前処理部23で
行ってもよいものである。また、従来周知の如く種々の
内挿法があるが、これらの何れを用いるかは任意である
。その池、本発明はその要旨を逸脱しない範囲で種々変
形して実施できる。
[発明の効果] 以」−詳記したように本発明によれば、各セクタスキャ
ンの途中段階で11られた投影データを用いて再構成画
像を得るようにしたので、途中の段階で検査結果を知り
19、よって、検査時間の無駄を省き、途中経過の状況
を把握でき、検査作業の能率を高め17るセクタスキャ
ンC[スキャナを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図ないし第3図は本発明に係わるセクタスキャンC
Tスキャナの第1の実施例を説明するために示したもの
で、第1図は本発明によるCTスキャナのシステムブロ
ック図、第2図は動作を説明するフローチャート、第3
図は第1回目のセクタスキャンによって1qられた投影
データのデータメモリでの格納状態を示す図、第4図お
よび第5図は本発明の第2の実施例を説明するために示
したもので、第4図は第1回目および第2回目の投影デ
ータを合成した合成投影データの格納状態図、第5図は
投影データの合成を説明する模式図、第6図および第7
図は本発明の第3の実施例を説明すために示したもので
、第6図は第3の実施例の動作を説明するフローチャー
ト、第7図は内挿法によるデータ格納状態を説明する図
である。 11・・・放射線発生器、12・・・放射線検出器、1
3・・・セクタスキャン機構部、15・・・ローテーシ
ョン機構部、16・・・コンソール、17・・・放射線
制御部、1日・・・機構制御部、19・・・CPU、2
2・・・データ収集部、23・・・前処理部、24・・
・データメモリ、25・・・画像再構成処理部、26・
・・画像メモリ、27・・・画像表示部、31・・・内
挿演算部。 出願人代理人 弁理士 鈴 江 武 彦第2図 しイ方向 第3図 第4図(a) 第4図(b) 第5図 しイ方向 第7図

Claims (4)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)被検査物を挟んで放射線発生器と対向する様に配
    置された放射線検出器のセクタスキャン動作を行うセク
    タスキャン機構部と、このセクタスキャン機構部による
    セクタスキャンごとに被検査物を通って取得された投影
    データを一時的にデータメモリに格納する投影データ格
    納手段と、この投影データ格納手段により格納された各
    セクタスキャンごとの投影データを用いて画像再構成処
    理を行って再構成画像を得る画像作成手段とを備えたこ
    とを特徴とするセクタスキャンCTスキャナ。
  2. (2)画像作成手段は、セクタスキャンごとの投影デー
    タから作成された再構成画像を画像メモリに格納すると
    ともに、各セクタスキャンごとの再構成画像を順次前記
    画像メモリ上で加算しながら再構成画像を作成するよう
    にした特許請求の範囲第1項記載のセクタスキャンCT
    スキャナ。
  3. (3)画像作成手段は、各セクタスキャンごとの投影デ
    ータを合成し、この合成投影データを用いて画像再構成
    処理を行って再構成画像を得るものである特許請求の範
    囲第1項記載のセクタスキャンCTスキャナ。
  4. (4)画像作成手段は、各セクタスキャンごとに投影デ
    ータの無いレイ方向の不足エリアに既にセクタスキャン
    で取得された投影データを用いて内挿法により内挿し、
    前記既に取得された投影データと前記内挿法で得られた
    データを用いて画像再構成処理を行って再構成画像を得
    るものである特許請求の範囲第1項記載のセクタスキャ
    ンCTスキャナ。
JP61210991A 1986-09-08 1986-09-08 セクタスキヤンctスキヤナ Pending JPS6365847A (ja)

Priority Applications (1)

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JP61210991A JPS6365847A (ja) 1986-09-08 1986-09-08 セクタスキヤンctスキヤナ

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JP61210991A JPS6365847A (ja) 1986-09-08 1986-09-08 セクタスキヤンctスキヤナ

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JPS6365847A true JPS6365847A (ja) 1988-03-24

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ID=16598512

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JP61210991A Pending JPS6365847A (ja) 1986-09-08 1986-09-08 セクタスキヤンctスキヤナ

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JP (1) JPS6365847A (ja)

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2004347384A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Hitachi Ltd X線ct装置及びx線ct装置による画像作成方法
JP2018008049A (ja) * 2016-06-30 2018-01-18 東芝メディカルシステムズ株式会社 X線ct装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2004347384A (ja) * 2003-05-21 2004-12-09 Hitachi Ltd X線ct装置及びx線ct装置による画像作成方法
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