JPS6356732B2 - - Google Patents

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JPS6356732B2
JPS6356732B2 JP55015317A JP1531780A JPS6356732B2 JP S6356732 B2 JPS6356732 B2 JP S6356732B2 JP 55015317 A JP55015317 A JP 55015317A JP 1531780 A JP1531780 A JP 1531780A JP S6356732 B2 JPS6356732 B2 JP S6356732B2
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JP
Japan
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transmission
transmission device
optical
section
signal
Prior art date
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Application number
JP55015317A
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English (en)
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JPS56112134A (en
Inventor
Sadao Mizokawa
Hitoshi Fushimi
Seiichi Yasumoto
Masakazu Okada
Masahiro Takahashi
Takushi Hamada
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication of JPS6356732B2 publication Critical patent/JPS6356732B2/ja
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    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/27Arrangements for networking
    • HELECTRICITY
    • H04ELECTRIC COMMUNICATION TECHNIQUE
    • H04BTRANSMISSION
    • H04B10/00Transmission systems employing electromagnetic waves other than radio-waves, e.g. infrared, visible or ultraviolet light, or employing corpuscular radiation, e.g. quantum communication
    • H04B10/27Arrangements for networking
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computing Systems (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Electromagnetism (AREA)
  • Computer Networks & Wireless Communication (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Dc Digital Transmission (AREA)
  • Small-Scale Networks (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Transmission In General (AREA)
  • Optical Communication System (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は送信と受信機能を有する信号伝送装置
に係り、特に該伝送装置の動作を、試験、確認す
る手段に関する。
本発明に関する送受信機能を有するところの信
号伝送装置については、信号伝送装置間の信号を
伝える媒介としては、電気、光、音等のうち、い
ずれであるかを問わない。
但し、分かり易くするため、以下の説明に於て
は光伝送装置の場合について、述べるものとす
る。
第1図に従来の光信号伝送装置(以下、単に伝
送装置と略称する)を示す。
伝送装置は、受信側伝送路50と送信側伝送路
51とに接続され、これら伝送路に対し、信号の
やりとりをする送受信部80と、該送受信部80
と、伝送装置に接続され動作するデバイス部60
との間に位置し、送受信信号のバツフアリングや
信号のやりとりを行なう制御部70とから成る。
伝送装置と伝送装置間でデーター伝送を行なう
場合、受信側伝送路50を介して送られてきた光
信号は切換部90を介し実線にて示すスイツチの
状態に於て、受光素子9に入力され、受光素子9
により電気信号に変換された後、受信器7によ
り、増巾整形される。その後受信回路5に入力さ
れ、データの再生が行なわれる。伝送路が長いと
か、ビツトタイミング情報の必要性等により、伝
送路上の信号を、伝送装置に接続されて、動作す
るデバイスとの間に使用される信号の表現形式か
ら、変復調してやりとりすることが必要となる場
合があるが、この様な場合の復調機能は受信回路
5に変調機能は送信回路6に含まれている。受信
回路5からの信号をバツフア3に受け、受信デー
タの内容により、制御回路2で判断し、デバイス
部60へデータを渡す制御を行なう。
デバイス部60からの送信データは、制御回路
2の制御に従いながら、バツフア4に転送され、
送信回路6、送信器8を介し、発光素子10に
て、電気信号を光信号に変換し切換部90を経て
送信側の伝送路51へ出力する。
この様な伝送装置を複数台接続し、データを送
受信するシステムに於て、個々の伝送装置を試験
し、不具合箇所を分離解析したり、保守する様な
場合、以下の様な事項が要求される。
(1) 試験される伝送装置だけで試験できること。
(2) 不具合箇所の分離が容易なこと。
(3) 遠方からの指令により、試験操作が可能なこ
と。
(4) 複数の伝送装置が組合されてシステムを構成
している場合、供試伝送装置を試験している間
システムへ与える擾乱を少なくすること。
(5) 伝送レベルに対し、供試伝送装置に要求され
る伝送能力範囲内での動作を確認できること。
(6) 伝送レベルマージンを測定し、劣化の度合を
知れること。
(7) 前述した諸々の要求項目を、伝送装置の実装
状態に極力近い形のままで行えること。
等の多くの項目の要求が考えられる。
これらに対し、先に説明した第1図により従来
の伝送装置を試験する場合の方式例についてのべ
る。
第1図に於て切換部90を破線にて示す状態に
動作させ送受信部80の受信側の伝送路50と送
信側の伝送路51を送受信部80から切り離し伝
送路50と伝送路51を伝送路52によりバイパ
スさせる。さらに、同じ伝送装置の送受信部80
の送信側と受信側を接続する新たな伝送路55を
取りつける。この状態に於て、伝送装置に接続さ
れるデバイス部60からあらかじめ決められたデ
ータを送出し、伝送装置自身の送受信を接続する
伝送路55にて形成された自己ループを介し、受
信した受信データと先に送出した規定の送信デー
タとを照合チエツクすることにより、供試伝送装
置の動作を確認する。
先に列記した要求項目に対し、(1)項の供試伝送
装置だけで試験はできること及び、(3)、(4)項につ
いては満しているが、他の項目については、伝送
装置内の故障箇所の分離ができない。伝送余裕、
能力の試験ができない等の問題がある。
光伝送等の様に、電気と異なつた媒介を利用す
る場合、不具合発生の場所が、データを電気で表
現した部分か、光に関連した部分かを知ることは
保守する上で、非常に有効な情報となる。例え
ば、データを光で表現した部分では、光パワーメ
ータが必要である等の測定器をあらかじめ限定し
て選ぶことができる。又、不具合要因の解析を行
なう場合、例えば不具合の部分が、光に関連した
部分であれば、光信号接続場所のホコリとか、傷
が原因でないか、発光素子の劣化はないか等、不
具合の箇所により、解析の着目点が異なつてくる
為、これらの箇所を分離できることは保守を容易
にし、かつ迅速に行なうことができる。
本発明の目的は、伝送路に接続された他の光信
号伝送装置に悪影響を与えることなく、光信号伝
送装置1台で送受信動作の診断ができる光信号伝
送装置を提供することにある。
本発明の特徴は、入、出力伝送路を伝送装置か
らバイパスさせた状態で、光―電変換手段および
電―光変換手段を含む送受信の閉ループを形成さ
せ、送受信動作の診断を行なわせるようにしてい
ることである。
本発明の実施例を第2図に示す。伝送装置は、
制御部71と送受信部81、及び切換部91とか
ら構成され、他の伝送装置から伝送路50を介し
て送られてくるデータを受信し、該伝送装置に接
続されるデバイス部61へ受信データを渡す。
又、デバイス部61から他の伝送装置に接続され
る別のデバイス部へデータを送る場合、デバイス
部61からの送信データは該伝送装置の制御部7
1へ入力され、送受信部81、切換部91を経
て、送信側伝送路51へ送信信号を送り出し、伝
送路51に接続される別の伝送装置へデータを送
信する。この様に、通常他の伝送装置とデータを
送受信する場合、切換部91の切換機構は実線に
て示す状態を選択されるところのデータ伝送モー
ドを有する。これとは別に制御部71、送受信部
81、切換部91から成る伝送装置と、該伝送装
置に接続されるデバイス部61を、伝送路50,
51から切り離しこれら伝送路50,51とをバ
イパスした状態に於て、切り離した伝送装置を単
独で試験するモードを有するところの伝送装置に
ついてはすべで述べた。すなわち試験モード時伝
送装置の送受信端を接続し、試験される伝送装置
単独で診断用自己ループを形成し、伝送装置に接
続されるデバイス部61の送信側からあらかじめ
規定されたデータを送信し、これを同一の伝送装
置で受信した後、送信データと比較することによ
り該伝送装置が正常か否かを試験するものであ
る。
この試験モードに於ける伝送装置の動作を説明
する前に、第2図における伝送装置の各部の構成
と機能について述べる。
切換部91は、伝送路50及び伝送路51を送
受信部81へ接続するところの第2図中、実線に
て表わす状態と、伝送路50,51を伝送路52
によりバイパスし、かつ、送受信部81の送受信
端を減衰器56を介して接続するところの、第2
図中破線にて表わす状態をデバイス部61の計算
機21からの指令信号21aにより選択する機能
を有する。さらに、減衰器56は計算機21から
の指令信号21eにより、その減衰量を可変でき
る。
送受信部81は、受光素子9、受信器7と受信
回路5からなる受信部と、送信回路6と送信器
8、発光素子10からなる送信部および切換回路
11より構成される。切換回路11は、受信器7
と受信回路5の間に位置し、受信器7の出力と送
信器8の入力信号のいずれか一方の信号を計算機
21からの指令信号21bにより選択する。
制御部71は制御回路2、受信バツフア3、送
信バツフア4および切換回路12から構成されて
いる。各々のバツフアは送受信部81とデバイス
部61の間のデータの表現の変換、例えばシリア
ルなデータと、パラレルなデータの変換や、又、
データ転送速度の変換等を制御回路2の制御に従
い行なう。切換回路12は受信部にあり、受信回
路5の出力か送信回路6の入力信号のいずれか一
方を計算機21からの指令信号21cにより選択
し、受信バツフア3へ信号を入力する。
デバイス部61は第2図に於ては、計算機21
が伝送装置に接続される例について示してある。
計算機21のデータ受信側に切換回路13を有し
受信バツフア3の出力と送信バツフア4の入力信
号のうち、いずれか一方を選択する。
ところで、伝送装置単独で診断用自己ループを
構成し、試験する場合、試験される伝送装置に対
し、これに接続されるデバイス部から、あらかじ
め規定されたデータを送り、それを受信し比較す
ることは従来例として述べた。伝送装置に接続さ
れるデバイス部として第2図に示すごとく計算機
21が接続される場合、この様な試験動作は計算
機のプログラミングにより容易に実現できる。単
なる入出力装置が伝送装置に接続される場合は、
前述の試験動作は行なえないが、この場合には、
入出力装置のかわりに、同一のインタフエースを
もつところのテスター装置を接続することによ
り、伝送装置の試験を容易に行なうことができ
る。
以上の構成と機能を有する伝送装置を伝送路か
ら切り離し単独で試験する場合の動作フローを以
下に詳細に述べる。
先ず、信号21aにより、切換部91を動作さ
せ、伝送路50,51を伝送路52によりバイパ
スし、かつ、送受信部81の送受信端を減衰器5
6を介して接続する。(破線の状態)この時、切
換回路11,12,13は全て受信側を選択す
る。計算機21から、送信されるところの、あら
かじめ規定されたデータは、バツフア4、送信回
路6、送信器8、発光素子10を経て、減衰器5
6を通り、受光素子9、受信器5、バツフア3を
通る自己ループを介しデータを送受信し、受信し
たデータと規定された送信データを比較照合する
ことにより、動作を試験する。規定された期間動
作が正常であれば、減衰器56の設定減衰量をあ
らかじめ規定された量だけ増加させ、同様の診断
動作を繰返す。漸次、減衰量を増加させ、その
各々の時点での動作を確認することにより、伝送
能力を知ることができる。当然ながら、減衰器5
6の減衰量として、伝送装置に要求される減衰量
を固定して設定しておく方法も考えられる。
減衰器56の減衰量が伝送装置に要求される減
衰量よりも少ない値に於て診断動作の結果、送受
信データの内容が異なつた場合、試験される伝送
装置のいずれかの部分が不具合であると判断され
る。伝送装置内のどの部分が不具合であるかを、
分離するため、先の切換回路11,12,13を
切り離し、より小さな自己ループを構成しながら
同様に、あらかじめ規定されたデータを送信し、
自己ループを介して受信したデータとを比較照合
する診断動作を行なう。
減衰器56を介した自己ループ診断により不合
格と判定された場合、計算機21からの指令21
bにより切換回路11を切りかえ、送信器8の入
力信号を選択する。これにより、計算機21の送
信側、バツフア4、送信回路6、受信回路5、バ
ツフア3、計算機21の受信機から構成されると
ころの先の減衰器56を介した自己ループより小
さな自己ループを構成する。この状態に於て前と
同じくあらかじめ規定されたデータを送受信し送
信データと受信データを比較照合する診断動作を
行なう。
その結果、再たび、不合格と判定されたなら
ば、診断ループ内のいずれかの部位の不具合が想
定されるため、次に切換回路12により、送信回
路6の入力を選択し、より小さな自己ループを構
成し、同様な診断を行なう。さらに、切換回路1
3により送信バツフア4の入力を選択し自己ルー
プを小さくできる。
以上の様な動作により不具合箇所を分離する。
すなわち、減衰器56を介した自己ループでの動
作が不合格で、かつ送信器8の入力を選択した自
己ループでの動作が合格ならば、送受信部81の
送信器8、発光素子10、受光素子9、受信器7
の不具合か、又は切換部91の動作の不具合が想
定され、送信回路6、受信回路5及び制御部7
1、デバイス部61の動作は異常なしと判断され
る。
以上、説明した診断機能を有する伝送装置を伝
送路によりループ状に接続した一例が第3図であ
る。
第3図は、伝送装置100〜103がそれぞれ
切換部92〜95および伝送路30〜41を介し
てループを形成しているものである。
伝送装置100からの指令により伝送装置10
2へ自己診断を開始させる場合について考える
と、指令を受信解読した伝送装置102は切換部
94を実線で示す様に切換え、伝送路35,36
からなる診断用の自己ループを形成するととも
に、伝送路34と伝送路37をバイパスし接続す
る。これにより伝送装置102が自己診断中も、
他の伝送装置100,101,103は互いに接
続され動作可能状態となつている。
伝送装置102において診断が終了した場合
は、切換部94を破線で示すごとく切換え、この
結果を伝送装置100に報告する。
伝送装置102が異常の場合、診断結果を正常
に伝送できない場合もあるが、診断を指示した伝
送装置100により報告のタイムアウト監視をす
ることにより、この検知はできる。
このように本発明によれば、伝送路に接続され
た他の光信号伝送装置に悪影響を与えることな
く、光信号伝送装置1台で送受信動作の診断がで
きる。
【図面の簡単な説明】
第1図は従来の信号伝送装置を示す図、第2図
第3図はそれぞれ本発明の実施例を示すものであ
る。 11…切換回路、91…切換部。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 入力伝送路からの光信号を電気信号に変換す
    る光―電変換手段と、変換された電気信号を処理
    する受信部と、電気信号として出力する送信部お
    よび該送信部からの電気信号を光信号に変換し出
    力伝送路に出力する電―光変換手段を有する光信
    号伝送装置において、入、出力伝送路を該伝送装
    置より切り離しバイパスさせる手段と、バイパス
    時に該伝送装置の光―電変換手段の入力部と電―
    光変換手段の出力部を可変光減衰器を介して接続
    する手段を持つた切換機構を有し、入、出力伝送
    路をバイパスした状態で、伝送装置内で該可変光
    減衰器を介在させて送受信の閉ループを形成させ
    該可変光減衰器の減衰量を可変させながら送受信
    動作の診断を行うようにしていることを特徴とす
    る光信号伝送装置。
JP1531780A 1980-02-08 1980-02-08 Optical signal transmission device Granted JPS56112134A (en)

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JP1531780A JPS56112134A (en) 1980-02-08 1980-02-08 Optical signal transmission device

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JP1531780A JPS56112134A (en) 1980-02-08 1980-02-08 Optical signal transmission device

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP4937826B2 (ja) * 2007-04-26 2012-05-23 パナソニック株式会社 配電システム

Citations (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS537148A (en) * 1976-07-09 1978-01-23 Toshiba Corp Multiplex loop bus system

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS537148A (en) * 1976-07-09 1978-01-23 Toshiba Corp Multiplex loop bus system

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