JPS6352341A - 光ヘツド装置 - Google Patents
光ヘツド装置Info
- Publication number
- JPS6352341A JPS6352341A JP61194092A JP19409286A JPS6352341A JP S6352341 A JPS6352341 A JP S6352341A JP 61194092 A JP61194092 A JP 61194092A JP 19409286 A JP19409286 A JP 19409286A JP S6352341 A JPS6352341 A JP S6352341A
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- JP
- Japan
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- objective lens
- light beam
- optical element
- lens side
- optical
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- 230000005855 radiation Effects 0.000 claims abstract description 5
- 201000009310 astigmatism Diseases 0.000 abstract description 5
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 7
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 2
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 2
- 241000270281 Coluber constrictor Species 0.000 description 1
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- 241001389010 Tuta Species 0.000 description 1
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Landscapes
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は、CD、光ビデオディスクや記録再生光ディス
ク等光ディスクと総称されるものの光学系に関するもの
である。
ク等光ディスクと総称されるものの光学系に関するもの
である。
(従来の技術)
従来の光ディスクに用いられている光学系を第2図に示
す。半導体レーザ1から出射した光ビームは、コリメー
トレンズ2で略平行光線とされ、ウェッジプリズム8に
入射する。ウェッジプリズムは、出射した光ビームの非
点収差をなくし、かつ光分布形状を補正するために用い
られる。第2図では、2つのウェッジプリズムを用いた
例を示す。ウェッジプリズムを透過した光ビームは、ビ
ームスグリツタ−9を透過し、対物レンズ4に入射する
。対物レンズで収束された光ビームは、ディスク5の基
板を透過して情報記録再生層に到達する。情報記録再生
層で反射さ江た光ビームは、往路を逆にたどり、ビーム
スプリッタ〜9で反射分岐されて、レンズ群6を通過し
、ディテクター7に入射する。レンズ群6を単凸レンズ
及びシリンドリカルレンズの組合せとすれば、いわゆる
非点収差方式と呼ばれる一般的なフォーカシングサーボ
信号を得ることができる。又ディテクター出力を適当な
回路を用いて取シ出せはトラノキングサーデ信号を得る
ことができる。これらのサーブ信号を用いて対物レンズ
4を二次元的に駆動し、ディスク5に入射する光ビーム
を一定のトラック上に収束させるようにサーボを行なう
ことができるが、本発明とは直接係わシがないため詳し
い説明は省略する。
す。半導体レーザ1から出射した光ビームは、コリメー
トレンズ2で略平行光線とされ、ウェッジプリズム8に
入射する。ウェッジプリズムは、出射した光ビームの非
点収差をなくし、かつ光分布形状を補正するために用い
られる。第2図では、2つのウェッジプリズムを用いた
例を示す。ウェッジプリズムを透過した光ビームは、ビ
ームスグリツタ−9を透過し、対物レンズ4に入射する
。対物レンズで収束された光ビームは、ディスク5の基
板を透過して情報記録再生層に到達する。情報記録再生
層で反射さ江た光ビームは、往路を逆にたどり、ビーム
スプリッタ〜9で反射分岐されて、レンズ群6を通過し
、ディテクター7に入射する。レンズ群6を単凸レンズ
及びシリンドリカルレンズの組合せとすれば、いわゆる
非点収差方式と呼ばれる一般的なフォーカシングサーボ
信号を得ることができる。又ディテクター出力を適当な
回路を用いて取シ出せはトラノキングサーデ信号を得る
ことができる。これらのサーブ信号を用いて対物レンズ
4を二次元的に駆動し、ディスク5に入射する光ビーム
を一定のトラック上に収束させるようにサーボを行なう
ことができるが、本発明とは直接係わシがないため詳し
い説明は省略する。
第3図は、従来例のもう1つの例である。この例では、
第2図の例のウェッジプリズムとビームスプリッタ−を
まとめた形で一体化したりトロ−一ヒとムスf+)ツタ
−10が使用されている。第3図の例では光学部品点数
は少くなり、光学系の組立性等は第2図の例に比べ格段
に向上していると言える。
第2図の例のウェッジプリズムとビームスプリッタ−を
まとめた形で一体化したりトロ−一ヒとムスf+)ツタ
−10が使用されている。第3図の例では光学部品点数
は少くなり、光学系の組立性等は第2図の例に比べ格段
に向上していると言える。
(発明が解決しようとする問題点)
第2図のような従来例では光学部品点数が多くなり、光
軸調整や組立性を考慮すると複雑でかつコストパフォー
マンスも悪い。この欠点ヲ補ったのが第3図の従来例で
あるが、しかしこの構成から明らかなように、同一面を
透過及び反射面としているために透過光と反射光を分離
するための手段として蒸着膜を多数形成する必要がある
など技術的にも困難な点がある。又IJ )ロービーム
スグリツタ−10の反射面で光ビームのレターデーショ
ンが発生して直線偏光の入射光が一般に楕円偏光となる
という欠点を有している。このレターデーションの発生
は、特に光磁気記録再生方式と呼ばれる記録膜材料のカ
ー効果を利用す6技術において著しい信号の劣化を招く
。
軸調整や組立性を考慮すると複雑でかつコストパフォー
マンスも悪い。この欠点ヲ補ったのが第3図の従来例で
あるが、しかしこの構成から明らかなように、同一面を
透過及び反射面としているために透過光と反射光を分離
するための手段として蒸着膜を多数形成する必要がある
など技術的にも困難な点がある。又IJ )ロービーム
スグリツタ−10の反射面で光ビームのレターデーショ
ンが発生して直線偏光の入射光が一般に楕円偏光となる
という欠点を有している。このレターデーションの発生
は、特に光磁気記録再生方式と呼ばれる記録膜材料のカ
ー効果を利用す6技術において著しい信号の劣化を招く
。
本発明では、上述の三方式の欠点を克服し、かつ簡単で
レターデーションの発生しにくい方式を提供する。
レターデーションの発生しにくい方式を提供する。
(問題点を解決するための手段)
以上のように従来例で見られる問題点を解決するために
、本発明では、従来のウェッジプリズムとビームスプリ
ッタ−の組合せの代りに一枚のウェッジプリズムを使用
する。この−枚のウェッジプリズムを光ビームが透過す
る際に、ビーム形状補正及び非点収差の補正が可能であ
る。又このウェッジプリズムをビームスプリッタ−とし
て利用し、その−面の表面反射光を取り出す。このよう
にすることで、第2図の従来例であげられた光学部品点
数が多いという問題点を解消し、かつ第3図の従来例で
発生するレターデーションを回避できる。
、本発明では、従来のウェッジプリズムとビームスプリ
ッタ−の組合せの代りに一枚のウェッジプリズムを使用
する。この−枚のウェッジプリズムを光ビームが透過す
る際に、ビーム形状補正及び非点収差の補正が可能であ
る。又このウェッジプリズムをビームスプリッタ−とし
て利用し、その−面の表面反射光を取り出す。このよう
にすることで、第2図の従来例であげられた光学部品点
数が多いという問題点を解消し、かつ第3図の従来例で
発生するレターデーションを回避できる。
(作用)
本発明によれば、光学部品の削減を図り、光ヘッドの光
軸取りや組立性を容易にし、また部品の削減によって信
頼性の向上も図ることができる。
軸取りや組立性を容易にし、また部品の削減によって信
頼性の向上も図ることができる。
ビームスシリツタ−として表面反射を利用するので、光
ビームに発生するレターデーションヲ少くすることが容
易となシ、特に微小な偏光状態の差を利用して清報信号
の記録再生を行なう方式において非常に侑利となる。
ビームに発生するレターデーションヲ少くすることが容
易となシ、特に微小な偏光状態の差を利用して清報信号
の記録再生を行なう方式において非常に侑利となる。
(実施例)
本発明の一実施例を、第1図を用いて説明する。
放射光源としての半導体レーザ1から出射した光ビーム
は、コリメートレンズ2により略平行光線となる。光ビ
ームは、ウェッソビームスプリッタ−3に入射角αで入
射する。このαの値は、半導体レーデの非点収差距離及
び半導体レーザの接合方向に平行な放射半値全角θ11
と接合方向に垂直な放射半値全角θ工の比である半導体
レーデの楕円率に依存する。ウェッジプリズムを出射す
る角度をβとすると、ウェッジプリズムの前後での光ビ
ームの楕円率はm倍となる。この時ビーム拡大率mは で与えられる。ここでnは屈折率である。この関係ml
iα〉βであれが常にm>1となる。通常の半導体レー
ザではθ11ThlQ’θエユ25°程度であるが、光
学系の楕円補正率は必ずしも光ビームが等方的となるよ
うにする必要はなく、むしろ光ビームの伝達効率を考え
ると、m=l。5〜20程度とする方が望ましい。即ち
、本発明では、45°ぐ〈α〈75゜を満足するように
α、βを設定する。
は、コリメートレンズ2により略平行光線となる。光ビ
ームは、ウェッソビームスプリッタ−3に入射角αで入
射する。このαの値は、半導体レーデの非点収差距離及
び半導体レーザの接合方向に平行な放射半値全角θ11
と接合方向に垂直な放射半値全角θ工の比である半導体
レーデの楕円率に依存する。ウェッジプリズムを出射す
る角度をβとすると、ウェッジプリズムの前後での光ビ
ームの楕円率はm倍となる。この時ビーム拡大率mは で与えられる。ここでnは屈折率である。この関係ml
iα〉βであれが常にm>1となる。通常の半導体レー
ザではθ11ThlQ’θエユ25°程度であるが、光
学系の楕円補正率は必ずしも光ビームが等方的となるよ
うにする必要はなく、むしろ光ビームの伝達効率を考え
ると、m=l。5〜20程度とする方が望ましい。即ち
、本発明では、45°ぐ〈α〈75゜を満足するように
α、βを設定する。
ウニツノビームスプリッタ−3を透過した光ビームl−
i、 対物レンズ4にょシディスク5の基板を透過して
清報記録再生層に入射する。情報記録再生層で反射され
た光ビームは、再び対物レンズ4を透過してウェッジビ
ームスプリッタ−3に入射角βで入射する。ウェッジビ
ームス7’ リッター3で反射された光ビームは、レン
ズ群6を通り、ディテクター7に入射する。ディテクタ
ー7の出力より従来例の項で説明したようにフォーカシ
ング及びトラッキング信号、情報再生信号を得ることが
できるが、本発明には他の公知のサーボ信号検出方式を
用いることもできるので詳細な説明は省略する。
i、 対物レンズ4にょシディスク5の基板を透過して
清報記録再生層に入射する。情報記録再生層で反射され
た光ビームは、再び対物レンズ4を透過してウェッジビ
ームスプリッタ−3に入射角βで入射する。ウェッジビ
ームス7’ リッター3で反射された光ビームは、レン
ズ群6を通り、ディテクター7に入射する。ディテクタ
ー7の出力より従来例の項で説明したようにフォーカシ
ング及びトラッキング信号、情報再生信号を得ることが
できるが、本発明には他の公知のサーボ信号検出方式を
用いることもできるので詳細な説明は省略する。
本発明の場合、ウェッジビームスグリツタ−3のビーム
拡大率mを15〜2.0とすることで、ディスク5上の
光ビームの高次回折光を少くし、隣接トラックからのク
ロストークを軽減させる方向に使用するのが得策である
。即ち第1図で、紙面の上下方向にディスクの半径方向
がくるようにして光学系を設定することによシ実用上良
好な再生信号特性を得ることができる。
拡大率mを15〜2.0とすることで、ディスク5上の
光ビームの高次回折光を少くし、隣接トラックからのク
ロストークを軽減させる方向に使用するのが得策である
。即ち第1図で、紙面の上下方向にディスクの半径方向
がくるようにして光学系を設定することによシ実用上良
好な再生信号特性を得ることができる。
(発明の効果)
以上のように、不発明によれば、光学部品点数を削減し
てなお同等以上の性能が得られる。また非平行なウェノ
・ゾ状のビームスプリッタ−の表面反射を利用して再生
及びサーボ信号を得るためにレターデーションを少くす
ることができ、特に光磁気等の微少な偏光状態の差を検
出する方式に対して有効となる。本発明を用いると、他
に波及効果として光軸の調整や光ヘッドの組立性を向上
させることができる。これは、例えば第3図のりドロー
ビームスプリッタ−10を用いるような場合と比較して
も、反射面を基準とした設計が容易であシ、反射光の光
路も幾何学的に単純であり、その効果は従来のものに比
べ犬なるものがある。
てなお同等以上の性能が得られる。また非平行なウェノ
・ゾ状のビームスプリッタ−の表面反射を利用して再生
及びサーボ信号を得るためにレターデーションを少くす
ることができ、特に光磁気等の微少な偏光状態の差を検
出する方式に対して有効となる。本発明を用いると、他
に波及効果として光軸の調整や光ヘッドの組立性を向上
させることができる。これは、例えば第3図のりドロー
ビームスプリッタ−10を用いるような場合と比較して
も、反射面を基準とした設計が容易であシ、反射光の光
路も幾何学的に単純であり、その効果は従来のものに比
べ犬なるものがある。
第1図は、本発明の一実施例の構成図、第2図は、第1
の従来例でウェッジプリズムとビームスプリッタ−を組
合せた最も基本的な構成を示す図、第3図は、第2の従
来例で、リトロ−ビームスグリツタ−10を使用した構
成を示す図である。 1・・・半導体レーデ、2・・・コリメートレンズ、3
ウエツヅビームプリンター、4・・・対物レンズ、5・
・・ディスク、6・・・レンズ群、7・・・ディテクタ
ー。 第1図 1−千4休レーサ°。 2、−コリメートしン六゛ 4、一対物しン刃 5−す“Iスフ 6−、レンズ群 7、テ°イテクター 第2図 8− ワユ・ソシ′アリス′△ 9−4ご゛°−△久アリ ・ツタ− 第3図 スアリソタ−
の従来例でウェッジプリズムとビームスプリッタ−を組
合せた最も基本的な構成を示す図、第3図は、第2の従
来例で、リトロ−ビームスグリツタ−10を使用した構
成を示す図である。 1・・・半導体レーデ、2・・・コリメートレンズ、3
ウエツヅビームプリンター、4・・・対物レンズ、5・
・・ディスク、6・・・レンズ群、7・・・ディテクタ
ー。 第1図 1−千4休レーサ°。 2、−コリメートしン六゛ 4、一対物しン刃 5−す“Iスフ 6−、レンズ群 7、テ°イテクター 第2図 8− ワユ・ソシ′アリス′△ 9−4ご゛°−△久アリ ・ツタ− 第3図 スアリソタ−
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 放射光源から出射する光ビームを受けて略平行ビームと
するコリメートレンズと、光ビームを記録担体上に収束
させる対物レンズと、前記コリメートレンズと対物レン
ズの間に配置した非平行な二面を有する光学素子と、前
記記録担体上で反射し再び前記対物レンズを透過した光
ビームを、前記光学素子の前記対物レンズ側の面で反射
させ光検出器に入射させる光路とを有し、前記光学素子
の前記コリメートレンズ側の入射角をα、前記対物レン
ズ側の入射角をβとするとき 45°<β<α<75° であることを特徴とする光ヘッド装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61194092A JPH083906B2 (ja) | 1986-08-21 | 1986-08-21 | 光ヘツド装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61194092A JPH083906B2 (ja) | 1986-08-21 | 1986-08-21 | 光ヘツド装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6352341A true JPS6352341A (ja) | 1988-03-05 |
JPH083906B2 JPH083906B2 (ja) | 1996-01-17 |
Family
ID=16318816
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61194092A Expired - Lifetime JPH083906B2 (ja) | 1986-08-21 | 1986-08-21 | 光ヘツド装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH083906B2 (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0352132A (ja) * | 1989-07-19 | 1991-03-06 | Pioneer Electron Corp | 光ヘッド |
EP0881635A2 (en) * | 1997-05-30 | 1998-12-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | An optical head and an optical disk apparatus |
EP1083554A2 (en) * | 1999-09-03 | 2001-03-14 | Lg Electronics Inc. | Optical pickup apparatus with reduced astigmatic aberration |
KR100606689B1 (ko) * | 1999-02-09 | 2006-07-31 | 엘지전자 주식회사 | 비점수차 보정 기능을 갖는 광픽업장치 |
-
1986
- 1986-08-21 JP JP61194092A patent/JPH083906B2/ja not_active Expired - Lifetime
Cited By (9)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0352132A (ja) * | 1989-07-19 | 1991-03-06 | Pioneer Electron Corp | 光ヘッド |
EP0881635A2 (en) * | 1997-05-30 | 1998-12-02 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | An optical head and an optical disk apparatus |
EP0881635A3 (en) * | 1997-05-30 | 1999-01-20 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | An optical head and an optical disk apparatus |
US6084845A (en) * | 1997-05-30 | 2000-07-04 | Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. | Optical head and an optical disk apparatus |
KR100606689B1 (ko) * | 1999-02-09 | 2006-07-31 | 엘지전자 주식회사 | 비점수차 보정 기능을 갖는 광픽업장치 |
EP1083554A2 (en) * | 1999-09-03 | 2001-03-14 | Lg Electronics Inc. | Optical pickup apparatus with reduced astigmatic aberration |
EP1083554A3 (en) * | 1999-09-03 | 2002-03-06 | Lg Electronics Inc. | Optical pickup apparatus with reduced astigmatic aberration |
KR100348883B1 (ko) * | 1999-09-03 | 2002-08-17 | 엘지전자주식회사 | 비점수차 방지 광픽업 장치 |
US6611383B1 (en) | 1999-09-03 | 2003-08-26 | Lg Electronics Inc. | Optical pickup apparatus having wedge-shaped beam splitter(s) |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH083906B2 (ja) | 1996-01-17 |
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