JPS6347635A - 粒子解析装置 - Google Patents
粒子解析装置Info
- Publication number
- JPS6347635A JPS6347635A JP61191906A JP19190686A JPS6347635A JP S6347635 A JPS6347635 A JP S6347635A JP 61191906 A JP61191906 A JP 61191906A JP 19190686 A JP19190686 A JP 19190686A JP S6347635 A JPS6347635 A JP S6347635A
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- Japan
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- Investigating Or Analysing Biological Materials (AREA)
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［産業上の利用分野］
本発明は、フローサイトメータ等に使用され、照射ビー
ムを走査する場合に、照射ビームの形状を特定し、測定
を高精度で実施できる粒子解析装置に関するものである
。
ムを走査する場合に、照射ビームの形状を特定し、測定
を高精度で実施できる粒子解析装置に関するものである
。
［従来の技術］
フローサイトメータとは、高速で流れる細胞浮遊溶液、
即ちサンプル液に例えばレーザー光を照射し、その散乱
光・蛍光による光電信号を検出し、細胞の性質・構造を
解明する装置であり、細胞化学、免疫学、血液学、腫瘍
学、遺伝学等の分野で使用されている。
即ちサンプル液に例えばレーザー光を照射し、その散乱
光・蛍光による光電信号を検出し、細胞の性質・構造を
解明する装置であり、細胞化学、免疫学、血液学、腫瘍
学、遺伝学等の分野で使用されている。
このフローサイトメータ等に用いられる従来の粒子解析
装置では、フローセルの中央部の例えば２００ ｐｍＸ
２００ ｇｍの微小な四角形断面を有する流通部内を
、シース液に包まれて通過する血球細胞などの被検粒子
にレーザー光等の照射光を照射し、その結果として生ず
る前方及び側方散乱光により、被検粒子の形状・大きさ
・屈折率等の粒子的性質を得ることが可１指である。ま
た、蛍光剤により染色され得る被検粒子に対しては、照
射光とほぼ直角方向の側方散乱光から被検粒子の蛍光を
検出することにより、被検粒子を解析するための重要な
情報を求めることができる。
装置では、フローセルの中央部の例えば２００ ｐｍＸ
２００ ｇｍの微小な四角形断面を有する流通部内を
、シース液に包まれて通過する血球細胞などの被検粒子
にレーザー光等の照射光を照射し、その結果として生ず
る前方及び側方散乱光により、被検粒子の形状・大きさ
・屈折率等の粒子的性質を得ることが可１指である。ま
た、蛍光剤により染色され得る被検粒子に対しては、照
射光とほぼ直角方向の側方散乱光から被検粒子の蛍光を
検出することにより、被検粒子を解析するための重要な
情報を求めることができる。
従来においては、固定された光ビーム内を被検粒子を通
過させるようにしているが、通常では照射ビームがレー
ザー光の場合にはガウス強度分布を持つので、サンプル
流の移動やサンプル流中の被検粒子の流れる位置のばら
つきにより、必ずしもガウス強度分布のピーク位置を被
検粒子が通過するとは限らず、各被検粒子に照射される
エネルギが異なることによる測定値の変動、ばらつきが
生ずる問題点がある。
過させるようにしているが、通常では照射ビームがレー
ザー光の場合にはガウス強度分布を持つので、サンプル
流の移動やサンプル流中の被検粒子の流れる位置のばら
つきにより、必ずしもガウス強度分布のピーク位置を被
検粒子が通過するとは限らず、各被検粒子に照射される
エネルギが異なることによる測定値の変動、ばらつきが
生ずる問題点がある。
［発明の目的］
本発明の目的は、上述の従来例の欠点を除去するために
、照射光を走査し、その走査方向に被検粒子の流れ中に
おける位置にばらつきがあっても、同じ光強度を被検粒
子に与えることのできる粒子解析装置を提供することに
ある。
、照射光を走査し、その走査方向に被検粒子の流れ中に
おける位置にばらつきがあっても、同じ光強度を被検粒
子に与えることのできる粒子解析装置を提供することに
ある。
［発明の概要］
上述の目的を達成するための本発明の要旨は、流体中の
被検粒子に対して光を照射し被検粒子の性状を解析する
装置において、被検粒子を走査する結像ビームの形状を
液体の流れ方向に長径を有する略楕円形状とする光発生
手段を有することを特徴とする粒子解析装置である。
被検粒子に対して光を照射し被検粒子の性状を解析する
装置において、被検粒子を走査する結像ビームの形状を
液体の流れ方向に長径を有する略楕円形状とする光発生
手段を有することを特徴とする粒子解析装置である。
［発明の実施例］
本発明を図示の実施例に基づいて詳細に説明する。
第１図（ａ）は実施例の平面方向から見た構成図、（ｂ
）は側面方向から見たフローセル内の光路図である。フ
ローセル１の被検粒子Ｓを含むサンプル流が通過する流
通部１ａと直交する方向にレーザー光源２が配置され、
このレーザー光源２から出射されたレーザー光はＡ／Ｏ
光偏向器３、シリンドリカルレンズ４．５を介してフロ
ーセル１に集光するようになっている。シリドリカルレ
ンズ４はサンプル流の流れ方向にのみ居折力を有し、シ
リドリカルレンズ５はサンプル流の流れと直交する平面
内でＡ／Ｏ光偏向器２の中心に焦点を有するようにされ
ている。また、フローセル１の反対側には、ストッパ６
、集光レンズ７、光検出器８が配列されている。
）は側面方向から見たフローセル内の光路図である。フ
ローセル１の被検粒子Ｓを含むサンプル流が通過する流
通部１ａと直交する方向にレーザー光源２が配置され、
このレーザー光源２から出射されたレーザー光はＡ／Ｏ
光偏向器３、シリンドリカルレンズ４．５を介してフロ
ーセル１に集光するようになっている。シリドリカルレ
ンズ４はサンプル流の流れ方向にのみ居折力を有し、シ
リドリカルレンズ５はサンプル流の流れと直交する平面
内でＡ／Ｏ光偏向器２の中心に焦点を有するようにされ
ている。また、フローセル１の反対側には、ストッパ６
、集光レンズ７、光検出器８が配列されている。
レーザー光源２を出射したレーザー光は、Ａ／Ｏ光偏向
器３により走査されながら、シリドリカルレンズ４．５
によりフローセル１の流通部ｌａ内に集光される。そし
て、被検粒子Ｓからの散乱光は、集光レンズ７により光
検出器８に集光され検出される。なお、ストッパ６はこ
のときの直接光をカー７トする作用を果している。また
、Ａ／Ｏ光偏向器３の中心付近をシリドリカルレンズ５
の前側の焦点位置におくことにより、テレセントリック
な状態で被検粒子Ｓにレーザー光をＸ方向に走査して照
射可能であり、そのために被検粒子Ｓは常に一定の光量
で照射されることになる。
器３により走査されながら、シリドリカルレンズ４．５
によりフローセル１の流通部ｌａ内に集光される。そし
て、被検粒子Ｓからの散乱光は、集光レンズ７により光
検出器８に集光され検出される。なお、ストッパ６はこ
のときの直接光をカー７トする作用を果している。また
、Ａ／Ｏ光偏向器３の中心付近をシリドリカルレンズ５
の前側の焦点位置におくことにより、テレセントリック
な状態で被検粒子Ｓにレーザー光をＸ方向に走査して照
射可能であり、そのために被検粒子Ｓは常に一定の光量
で照射されることになる。
第１図（ａ） 、 （ｂ）では、シリドリカルレンズ４
．５の作用により被検粒子Ｓに当たる光束のＦ値が異な
るので、結像ビームＬの形状は第２図に示すように楕円
状になる。また第２図において、Ａ、Ｂはそれぞれの結
像ビームＬの中心断面での強度分布である。
．５の作用により被検粒子Ｓに当たる光束のＦ値が異な
るので、結像ビームＬの形状は第２図に示すように楕円
状になる。また第２図において、Ａ、Ｂはそれぞれの結
像ビームＬの中心断面での強度分布である。
第３図は流通部１ａを流れる被検粒子Ｓと走査ビーム形
状との関係図に示している。第３図（ａ）は静止してい
る被検粒子Ｓを走査した場合、又は流れ方向Ｙの速度に
対して走査速度が速い場合に相当する。それに対して、
第３図（ｂ）はｔｌ、 ｔ２、ｔ３と時間が過ぎていく
に従って流れ方向Ｙで光ビームに当たる位置が異なって
いる。
状との関係図に示している。第３図（ａ）は静止してい
る被検粒子Ｓを走査した場合、又は流れ方向Ｙの速度に
対して走査速度が速い場合に相当する。それに対して、
第３図（ｂ）はｔｌ、 ｔ２、ｔ３と時間が過ぎていく
に従って流れ方向Ｙで光ビームに当たる位置が異なって
いる。
従って、結像ビームＬの形状を第２図に示すようにサン
プル流の流れ方向Ｙに長くしておけば、流れ方向Ｙでの
光強度の変化はＢに示すように少ないので、被検粒子Ｓ
に当たるエネルギ分布の変化が少ない、このように、結
像ビームＬの形状を楕円形にすることにより、被検粒子
Ｓの流れが速くても、１走査問に流れの方向に対してほ
ぼ同じ強度の光エネルギが被検粒子Ｓに照射され、精度
の高い計測が可能となる。
プル流の流れ方向Ｙに長くしておけば、流れ方向Ｙでの
光強度の変化はＢに示すように少ないので、被検粒子Ｓ
に当たるエネルギ分布の変化が少ない、このように、結
像ビームＬの形状を楕円形にすることにより、被検粒子
Ｓの流れが速くても、１走査問に流れの方向に対してほ
ぼ同じ強度の光エネルギが被検粒子Ｓに照射され、精度
の高い計測が可能となる。
なお、結像ビームＬの形状は正規の楕円ではなく、略楕
円形であてえもよいことは勿論である。
円形であてえもよいことは勿論である。
［発明の効果］
以上説明したように本発明に係る粒子解析装置は、走査
する結像ビームの形状をサンプル流の流れ方向に長径を
有する略楕円形状とすることにより、精度の高い被検粒
子の解析ができる。
する結像ビームの形状をサンプル流の流れ方向に長径を
有する略楕円形状とすることにより、精度の高い被検粒
子の解析ができる。
図面は本発明に係る粒子解析装置の実施例を示すもので
あり、第１図（ａ）はその構成図、（ｂ）は（ａ）と直
交する方向から見た光路図、第２図は結像ビーム形状と
強度分布の関係図、第３図（ａ）、（ｂ）は結像ビーム
の形状と被検粒子の関係の説明図である。 符号１はフローセル、１ａは流通部、２はレーザー光源
、３は光偏向器、４．５はシリドリカルレンズ、６はス
トッパ、７は集光レンズ、８は光検出器である。
あり、第１図（ａ）はその構成図、（ｂ）は（ａ）と直
交する方向から見た光路図、第２図は結像ビーム形状と
強度分布の関係図、第３図（ａ）、（ｂ）は結像ビーム
の形状と被検粒子の関係の説明図である。 符号１はフローセル、１ａは流通部、２はレーザー光源
、３は光偏向器、４．５はシリドリカルレンズ、６はス
トッパ、７は集光レンズ、８は光検出器である。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 １、流体中の被検粒子に対して光を照射し被検粒子の性
状を解析する装置において、被検粒子を走査する結像ビ
ームの形状を液体の流れ方向に長径を有する略楕円形状
とする光発生手段を有することを特徴とする粒子解析装
置。 ２、前記結像ビームの形状はシリドリカルレンズにより
楕円とした特許請求の範囲第１項に記載の粒子解析装置
。 ３、前記結像ビームはＡ／Ｏ光偏向器による走査手段に
より走査するようにした特許請求の範囲第１項に記載の
粒子解析装置。 ４、前記走査手段はテレセントリック光学系とした特許
請求の範囲第３項に記載の粒子解析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61191906A JPS6347635A (ja) | 1986-08-16 | 1986-08-16 | 粒子解析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61191906A JPS6347635A (ja) | 1986-08-16 | 1986-08-16 | 粒子解析装置 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6347635A true JPS6347635A (ja) | 1988-02-29 |
| JPH0560541B2 JPH0560541B2 (ja) | 1993-09-02 |
Family
ID=16282414
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61191906A Granted JPS6347635A (ja) | 1986-08-16 | 1986-08-16 | 粒子解析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6347635A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002373385A (ja) * | 2001-06-15 | 2002-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 盗難防止装置および盗難防止システム |
-
1986
- 1986-08-16 JP JP61191906A patent/JPS6347635A/ja active Granted
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2002373385A (ja) * | 2001-06-15 | 2002-12-26 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 盗難防止装置および盗難防止システム |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0560541B2 (ja) | 1993-09-02 |
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