JPS6340218A - 異方導電膜とその製造方法 - Google Patents
異方導電膜とその製造方法Info
- Publication number
- JPS6340218A JPS6340218A JP18393086A JP18393086A JPS6340218A JP S6340218 A JPS6340218 A JP S6340218A JP 18393086 A JP18393086 A JP 18393086A JP 18393086 A JP18393086 A JP 18393086A JP S6340218 A JPS6340218 A JP S6340218A
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- base material
- insulating base
- micropores
- seed layer
- metal seed
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 title claims description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 claims description 36
- 239000002184 metal Substances 0.000 claims description 32
- 229910052751 metal Inorganic materials 0.000 claims description 32
- 229910000679 solder Inorganic materials 0.000 claims description 8
- 238000007772 electroless plating Methods 0.000 claims description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 claims description 5
- 239000011148 porous material Substances 0.000 claims description 4
- 239000000758 substrate Substances 0.000 claims 1
- 239000010408 film Substances 0.000 description 24
- ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 2-Butanone Chemical compound CCC(C)=O ZWEHNKRNPOVVGH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 9
- 239000004020 conductor Substances 0.000 description 9
- 238000000034 method Methods 0.000 description 9
- 239000006082 mold release agent Substances 0.000 description 9
- RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N Copper Chemical compound [Cu] RYGMFSIKBFXOCR-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 7
- 229910052802 copper Inorganic materials 0.000 description 6
- 239000010949 copper Substances 0.000 description 6
- 239000007788 liquid Substances 0.000 description 5
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 5
- 238000007747 plating Methods 0.000 description 5
- 239000004417 polycarbonate Substances 0.000 description 5
- 238000004544 sputter deposition Methods 0.000 description 5
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 5
- PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N Nickel Chemical compound [Ni] PXHVJJICTQNCMI-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 4
- 239000004820 Pressure-sensitive adhesive Substances 0.000 description 3
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 3
- XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N Argon Chemical compound [Ar] XKRFYHLGVUSROY-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 2
- 238000001755 magnetron sputter deposition Methods 0.000 description 2
- 238000000465 moulding Methods 0.000 description 2
- 229910052759 nickel Inorganic materials 0.000 description 2
- 239000002245 particle Substances 0.000 description 2
- 229920000139 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 2
- 239000005020 polyethylene terephthalate Substances 0.000 description 2
- PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N Alumina Chemical compound [O-2].[O-2].[O-2].[Al+3].[Al+3] PNEYBMLMFCGWSK-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 239000000853 adhesive Substances 0.000 description 1
- 230000001070 adhesive effect Effects 0.000 description 1
- 229910052786 argon Inorganic materials 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000003486 chemical etching Methods 0.000 description 1
- 239000011889 copper foil Substances 0.000 description 1
- 238000005520 cutting process Methods 0.000 description 1
- 238000007598 dipping method Methods 0.000 description 1
- 238000005553 drilling Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000005401 electroluminescence Methods 0.000 description 1
- 239000003822 epoxy resin Substances 0.000 description 1
- LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N haloperidol Chemical compound C1CC(O)(C=2C=CC(Cl)=CC=2)CCN1CCCC(=O)C1=CC=C(F)C=C1 LNEPOXFFQSENCJ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 238000005304 joining Methods 0.000 description 1
- 239000007791 liquid phase Substances 0.000 description 1
- 239000012528 membrane Substances 0.000 description 1
- QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N octadecanoic acid Chemical compound CCCCCCCCCCCCCCCCCC(O)=O QIQXTHQIDYTFRH-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 229920000515 polycarbonate Polymers 0.000 description 1
- 229920000647 polyepoxide Polymers 0.000 description 1
- 229920001225 polyester resin Polymers 0.000 description 1
- 239000004645 polyester resin Substances 0.000 description 1
- -1 polyethylene terephthalate Polymers 0.000 description 1
- 238000005476 soldering Methods 0.000 description 1
- 239000002904 solvent Substances 0.000 description 1
- 238000000992 sputter etching Methods 0.000 description 1
- 229920003002 synthetic resin Polymers 0.000 description 1
- 239000000057 synthetic resin Substances 0.000 description 1
- 229920001169 thermoplastic Polymers 0.000 description 1
- 229920002803 thermoplastic polyurethane Polymers 0.000 description 1
- 229920001187 thermosetting polymer Polymers 0.000 description 1
- 239000004416 thermosoftening plastic Substances 0.000 description 1
- 238000007740 vapor deposition Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Non-Insulated Conductors (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野]
本発明は、電気抵抗が極めて小さい異方導電膜とその製
造方法に関する。
造方法に関する。
[従来の技術]
従来、異方導電性シートとして、例えば第3図に示すよ
うなものが知られている。これは、シート状マトリック
ス7とこのマトリックス7の厚さ方向に長さのほぼ等し
い多数の線状導電体8を配向させてなる異方導電性シー
トであり、概略、次のような工程によって製造されてい
る。
うなものが知られている。これは、シート状マトリック
ス7とこのマトリックス7の厚さ方向に長さのほぼ等し
い多数の線状導電体8を配向させてなる異方導電性シー
トであり、概略、次のような工程によって製造されてい
る。
■磁性を有するフィラメント状導電体を切断し、長さの
ほぼ等しい短い線状導電体を作ること。
ほぼ等しい短い線状導電体を作ること。
■上記線状導電体を電気的に絶縁特性を有するマトリッ
クス液中に分散させること。
クス液中に分散させること。
■この混合液を線状導電体の長さと同等の間隔をもつ二
千面間に充填し、このようにしてシート状に保持された
混合液に対し、厚さ方向の均一磁界を作用させて線状導
電体をシート状混合液の厚さ方向に配向させること。
千面間に充填し、このようにしてシート状に保持された
混合液に対し、厚さ方向の均一磁界を作用させて線状導
電体をシート状混合液の厚さ方向に配向させること。
■線状導電体が配向した状態でマトリックス液を固化さ
せること。
せること。
しかしながら、このような方法て作成された異方導電性
シートは線状導電体の末端のシート面からの露出が不完
全になりやすく、そのため接触抵抗が高く、且つ不安定
てあり、導通に必要な挟持圧が大きくなる等の欠点を有
している。
シートは線状導電体の末端のシート面からの露出が不完
全になりやすく、そのため接触抵抗が高く、且つ不安定
てあり、導通に必要な挟持圧が大きくなる等の欠点を有
している。
[問題点を解決するための手段]
本発明は上記した従来技術の欠点に鑑みなされたものて
、接触抵抗が極めて小さく、且つ導通の安定性に優れた
異方導電膜とその製造方法を提供することを目的とする
。
、接触抵抗が極めて小さく、且つ導通の安定性に優れた
異方導電膜とその製造方法を提供することを目的とする
。
そして、その目的は、本発明によれば、微細孔か厚さ方
向に穿設されている絶縁性基材の該微細孔中に金属物質
を充填させると共に、該金属物質は前記絶縁性基材の両
面にバンプ状の突出物を形成することを特徴とする異方
導電膜、及び下記■〜■の工程、あるいは更に■を付加
した工程から成る異方導電膜の製造方法、により達成さ
れる。
向に穿設されている絶縁性基材の該微細孔中に金属物質
を充填させると共に、該金属物質は前記絶縁性基材の両
面にバンプ状の突出物を形成することを特徴とする異方
導電膜、及び下記■〜■の工程、あるいは更に■を付加
した工程から成る異方導電膜の製造方法、により達成さ
れる。
■絶縁性基材の厚さ方向に微細孔を穿設する。
■金属種層を前記絶縁性基材の少なくとも片面上及び絶
縁性基材中の微細孔の孔壁に形成する。
縁性基材中の微細孔の孔壁に形成する。
■前記絶縁性基材上に形成された金属種層を除去する。
■微細孔壁にのみ金属種層か付着されている絶縁性基材
を無電解メッキ浴中に浸すことにより、該金属種層を成
長させW!廁孔を充填する。
を無電解メッキ浴中に浸すことにより、該金属種層を成
長させW!廁孔を充填する。
■前記金属種層が所定厚さに到達後、絶縁性基材をハン
ダ浴中に浸すことにより、微細孔内を充填し、絶縁性基
材表面にバンプ状の突出物を形成する。
ダ浴中に浸すことにより、微細孔内を充填し、絶縁性基
材表面にバンプ状の突出物を形成する。
[実施例]
以下、本発明を図に示す実施例に基いて更に詳細に説明
する。
する。
第1図及び第2図は本発明の異方導電膜とその製造方法
の実施例を示すものである。
の実施例を示すものである。
第1図(A)及び(B)はともに本発明の異方導電膜の
一部拡大模式断面図であり、第2図はその製造方法を示
している。
一部拡大模式断面図であり、第2図はその製造方法を示
している。
上記工程■に係る基材加工(微細孔の穿設)は、レーザ
ー加工、光加工、荷電粒子の照射あるいは化学エツチン
グ等によって行われる。基材としては絶縁特性を有する
ものであれば、その種類は制限されず、具体的にはセラ
ミックス、あるいはポリエステル系樹脂、エポキシ系樹
脂、ウレタン系樹脂など熱硬化性および熱可塑性の合成
樹脂などが用いられる。
ー加工、光加工、荷電粒子の照射あるいは化学エツチン
グ等によって行われる。基材としては絶縁特性を有する
ものであれば、その種類は制限されず、具体的にはセラ
ミックス、あるいはポリエステル系樹脂、エポキシ系樹
脂、ウレタン系樹脂など熱硬化性および熱可塑性の合成
樹脂などが用いられる。
また、絶縁性基材4の表面には離型剤6を塗布すること
が好ましい。
が好ましい。
この場合、微細孔中に離型剤6を入れないため、他のフ
ィルム表面に表面に一旦塗布した#型剤6を転写する方
法(第2図(B))、また穴を穿設する前に、基材に離
型剤6(レジストのようなもの)を塗布してから、レー
ザー等で穴を穿設しても良い(第2図(A))。
ィルム表面に表面に一旦塗布した#型剤6を転写する方
法(第2図(B))、また穴を穿設する前に、基材に離
型剤6(レジストのようなもの)を塗布してから、レー
ザー等で穴を穿設しても良い(第2図(A))。
次に、工程■においては、第2図(C)に示すように、
離型剤6を塗布した面からスパッタリング、蒸着等の真
空薄膜作製技術、又は液相メッキ技術などを用いて、金
属の種層を基材4の微細孔の孔壁と離型剤6上に形成す
る。
離型剤6を塗布した面からスパッタリング、蒸着等の真
空薄膜作製技術、又は液相メッキ技術などを用いて、金
属の種層を基材4の微細孔の孔壁と離型剤6上に形成す
る。
次いて、工程@では離型剤6上に形成された金属薄膜を
除去する。
除去する。
金属薄膜の除去方法としては、基材4を溶剤中に浸すこ
とによって離型剤6を溶かし、同時に金属薄膜を除去す
る方法、あるいは感圧性粘着テープを金属薄膜上に貼付
し、引きはかす方法等が用いられる。この結果、微細孔
壁にのみ金属種層1か残ることになる。(第2図(D)
参照)工程■においては、以上のように処理された絶縁
性基材4を無電解メッキ浴中に浸すことにより、微細孔
壁に残っている金属種層1の上に金属層2を成長させる
。
とによって離型剤6を溶かし、同時に金属薄膜を除去す
る方法、あるいは感圧性粘着テープを金属薄膜上に貼付
し、引きはかす方法等が用いられる。この結果、微細孔
壁にのみ金属種層1か残ることになる。(第2図(D)
参照)工程■においては、以上のように処理された絶縁
性基材4を無電解メッキ浴中に浸すことにより、微細孔
壁に残っている金属種層1の上に金属層2を成長させる
。
この場合、第1図の(B)のように、工程■の無電解メ
ッキによって微細孔を金属層2にて充填し、基材4表面
に金属層2をバンプ状の突出物として形成することが可
能である。一方、工程■において、微細孔中の金属層2
の成長をある程度に抑える場合(第2図(E)参照)に
は1次の工程■においてハンダ付けの操作を行うことに
なる。
ッキによって微細孔を金属層2にて充填し、基材4表面
に金属層2をバンプ状の突出物として形成することが可
能である。一方、工程■において、微細孔中の金属層2
の成長をある程度に抑える場合(第2図(E)参照)に
は1次の工程■においてハンダ付けの操作を行うことに
なる。
即ち、工程■においては、工程■を経て得られた基材4
をハンダ浴中に浸漬することによりハンダ3か微細孔内
に入りこみ、基材4の表面にバンプ状の突出物を形成す
る。その結果、第1図(A)および第2図(F)のよう
な異方導電膜が形成されるのである。尚、上記の“ハン
ダ状の突出物”とは、こぶ状の突出物をいい、先端部が
丸みを帯びた形状をしているものである。
をハンダ浴中に浸漬することによりハンダ3か微細孔内
に入りこみ、基材4の表面にバンプ状の突出物を形成す
る。その結果、第1図(A)および第2図(F)のよう
な異方導電膜が形成されるのである。尚、上記の“ハン
ダ状の突出物”とは、こぶ状の突出物をいい、先端部が
丸みを帯びた形状をしているものである。
このように形成された異方導電膜は、第1図(A)のタ
イプは導電回路5.5の間に挟み、加熱してハンダ3を
融着することによって、又、第1図(B)のタイプは接
着剤あるいは機械的に固定することにより、導電回路間
の接続材料として使用される。
イプは導電回路5.5の間に挟み、加熱してハンダ3を
融着することによって、又、第1図(B)のタイプは接
着剤あるいは機械的に固定することにより、導電回路間
の接続材料として使用される。
次に、本発明の具体的な実施結果を説明する。
(実施例1)
厚さが50JLのアルミナセラミックスフィルムに、レ
ジストをスピンコーターて塗布する。次いてYAGレー
ザーで直径約30ルの微細孔を穿設する。銅をレジスト
を塗布した側からスパッタリングし、銅のQ膜層を作成
する。銅層は厚い方が良いか、レジストの耐熱性に制限
があるため、DCマグネトロンスパッタリングで電流を
2アンペア、スパッタリング時間を60秒とした。この
後レジスト層はメチルエチルケトンで溶解される。
ジストをスピンコーターて塗布する。次いてYAGレー
ザーで直径約30ルの微細孔を穿設する。銅をレジスト
を塗布した側からスパッタリングし、銅のQ膜層を作成
する。銅層は厚い方が良いか、レジストの耐熱性に制限
があるため、DCマグネトロンスパッタリングで電流を
2アンペア、スパッタリング時間を60秒とした。この
後レジスト層はメチルエチルケトンで溶解される。
次にニッケルの無電解メッキを行う。メッキ浴温度は9
0°Cで、少なくとも数分のメッキ時間が必要である。
0°Cで、少なくとも数分のメッキ時間が必要である。
最後に溶融したハンダの中に浸し、異方導電膜か作成さ
れた。
れた。
電気抵抗を測定すると12 m m X 3 m mの
チップて0.23Ωであり、一方、40ルの厚みをもっ
た1インチ角の銅箔が0.14Ωてあった。
チップて0.23Ωであり、一方、40ルの厚みをもっ
た1インチ角の銅箔が0.14Ωてあった。
(実施例2)
厚さ10戸のPC(ポリカーボネート)基板に荷電粒子
を照射し、更に化学エツチングを施して微細孔を形成す
る。厚さ50ルのPET (ポリエチレンテレフタレー
ト)フィルムを約450cm2はどIC5(インセチル
ステアレート)/MEK(メチルエチルケトン)1wt
%溶液中に浸し、それを引きあげて、乾燥させる。PC
膜をこのICS膜の上に置いて転写を行う。このICS
は離型剤である。
を照射し、更に化学エツチングを施して微細孔を形成す
る。厚さ50ルのPET (ポリエチレンテレフタレー
ト)フィルムを約450cm2はどIC5(インセチル
ステアレート)/MEK(メチルエチルケトン)1wt
%溶液中に浸し、それを引きあげて、乾燥させる。PC
膜をこのICS膜の上に置いて転写を行う。このICS
は離型剤である。
次にスパッタリングを行うが、スパッタエツチングは必
要である。銅の種層はアルゴン圧3mTorr、スパッ
タリング電流1アンペアで形成される。スパッタリング
時間は1〜3分てあり、DCマグネトロンスパッタリン
グである。
要である。銅の種層はアルゴン圧3mTorr、スパッ
タリング電流1アンペアで形成される。スパッタリング
時間は1〜3分てあり、DCマグネトロンスパッタリン
グである。
この後、PC膜表面の銅層は、PSA(感圧性接着剤)
を塗布したテープを貼り付け、それを引きはがすことに
よって、離型剤であるIC3とPC膜表面の間での引き
はがしか行われる。よって最後には微細孔壁に銅の種層
が残る。
を塗布したテープを貼り付け、それを引きはがすことに
よって、離型剤であるIC3とPC膜表面の間での引き
はがしか行われる。よって最後には微細孔壁に銅の種層
が残る。
その後、実施例1と同一の条件て30分間無電解ニッケ
ルメッキを行い、微細孔をふさぎ、異方導電膜を作成し
た。
ルメッキを行い、微細孔をふさぎ、異方導電膜を作成し
た。
5mm角の膜を用いて12g/am2の荷重をかけてM
、気抵抗を測定したところ、46mΩであった。
、気抵抗を測定したところ、46mΩであった。
[発明の効果]
以上説明したように、本発明の異方導電膜とその製造方
法によれば、導電回路間の接触が金属自体によって行わ
れるため電気抵抗か小さく、従って、EL(エレクトロ
ルミネッセンス)素子の如き電流駆動型素子の接合に極
めて好適に利用できるという利点かある。また、異方導
電膜の微細孔内の金属物質か絶縁性基材の両面から突出
しているので、導電回路間の接触か安定である。
法によれば、導電回路間の接触が金属自体によって行わ
れるため電気抵抗か小さく、従って、EL(エレクトロ
ルミネッセンス)素子の如き電流駆動型素子の接合に極
めて好適に利用できるという利点かある。また、異方導
電膜の微細孔内の金属物質か絶縁性基材の両面から突出
しているので、導電回路間の接触か安定である。
第1図(A)及び(B)はともに本発明に係る異方導電
膜の実施例を示す概略断面図、第2図は本発明゛の異方
導電膜の製造方法の一実施例を模式的に示す断面図、第
3図は従来の異方導電膜の一例を示す斜視図である。 1・・・種層、2・・・金属層、3・・・ハンダ、4・
・・基材、5・・・導電回路、6・・・離型剤、7・・
・シート状マトリックス、8・・・線状導電体。
膜の実施例を示す概略断面図、第2図は本発明゛の異方
導電膜の製造方法の一実施例を模式的に示す断面図、第
3図は従来の異方導電膜の一例を示す斜視図である。 1・・・種層、2・・・金属層、3・・・ハンダ、4・
・・基材、5・・・導電回路、6・・・離型剤、7・・
・シート状マトリックス、8・・・線状導電体。
Claims (3)
- (1)微細孔が厚さ方向に穿設されている絶縁性基材の
該微細孔中に金属物質を充填させると共に、該金属物質
は前記絶縁性基材の両面にバンプ状の突出物を形成する
ことを特徴とする異方導電膜。 - (2)以下の[a]〜[d]の工程から成ることを特徴
とする異方導電膜の製造方法。 [a]絶縁性基材の厚さ方向に微細孔を穿設する。 [b]金属種層を前記絶縁性基材の少なくとも片面上及
び絶縁性基材中の微細孔の孔壁に形成する。 [c]前記絶縁性基材上に形成された金属種層を除去す
る。 [d]微細孔壁にのみ金属種層が付着されている絶縁性
基材を無電解メッキ浴中に浸すことにより、該金属種層
を成長させ微細孔を充填し、絶縁性基材表面にバンプ状
の突出物を形成する。 - (3)以下の[a]〜[e]の工程から成ることを特徴
とする異方導電膜の製造方法。 [a]絶縁性基材の厚さ方向に微細孔を穿設する。 [b]金属種層を前記絶縁性基材の少なくとも片面上及
び絶縁性基材中の微細孔の孔壁に形成する。 [c]前記絶縁性基材上に形成された金属種層を除去す
る。 [d]微細孔壁にのみ金属種層が付着されている絶縁性
基材を無電解メッキ浴中に浸すことにより、該金属種層
を成長させる。 [e]前記金属種層が所定厚さに到達後、絶縁性基材を
ハンダ浴中に浸すことにより、微細孔内を充填し、絶縁
性基材表面にバンプ状の突出物を形成する。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18393086A JPS6340218A (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | 異方導電膜とその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18393086A JPS6340218A (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | 異方導電膜とその製造方法 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6340218A true JPS6340218A (ja) | 1988-02-20 |
Family
ID=16144295
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18393086A Pending JPS6340218A (ja) | 1986-08-05 | 1986-08-05 | 異方導電膜とその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6340218A (ja) |
Cited By (7)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63205006A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | 株式会社 潤工社 | 異方性導電材料 |
EP0433996A1 (en) * | 1989-12-19 | 1991-06-26 | Nitto Denko Corporation | Anisotropic conductive film and process for producing same |
JPH03155008A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-03 | Sekisui Chem Co Ltd | 異方導電性セラミックス複合体の製造方法 |
JPH03266306A (ja) * | 1989-12-19 | 1991-11-27 | Nitto Denko Corp | 異方導電フィルムの製造方法 |
JPH04109510A (ja) * | 1990-08-30 | 1992-04-10 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 異方導電膜の製造方法 |
US5438223A (en) * | 1992-03-13 | 1995-08-01 | Nitto Denko Corporation | Anisotropic electrically conductive adhesive film and connection structure using the same |
JP2010062103A (ja) * | 2008-09-06 | 2010-03-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 接続部材、その形成方法,接続構造およびその形成方法 |
-
1986
- 1986-08-05 JP JP18393086A patent/JPS6340218A/ja active Pending
Cited By (10)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS63205006A (ja) * | 1987-02-20 | 1988-08-24 | 株式会社 潤工社 | 異方性導電材料 |
JPH03155008A (ja) * | 1989-11-10 | 1991-07-03 | Sekisui Chem Co Ltd | 異方導電性セラミックス複合体の製造方法 |
JP2512570B2 (ja) * | 1989-11-10 | 1996-07-03 | 積水化学工業株式会社 | 異方導電性セラミックス複合体の製造方法 |
EP0433996A1 (en) * | 1989-12-19 | 1991-06-26 | Nitto Denko Corporation | Anisotropic conductive film and process for producing same |
JPH03266306A (ja) * | 1989-12-19 | 1991-11-27 | Nitto Denko Corp | 異方導電フィルムの製造方法 |
US5136359A (en) * | 1989-12-19 | 1992-08-04 | Nitto Denko Corporation | Anisotropic conductive film with through-holes filled with metallic material |
EP0433996B1 (en) * | 1989-12-19 | 1997-06-04 | Nitto Denko Corporation | Process for producing an anisotropic conductive film |
JPH04109510A (ja) * | 1990-08-30 | 1992-04-10 | Shin Etsu Polymer Co Ltd | 異方導電膜の製造方法 |
US5438223A (en) * | 1992-03-13 | 1995-08-01 | Nitto Denko Corporation | Anisotropic electrically conductive adhesive film and connection structure using the same |
JP2010062103A (ja) * | 2008-09-06 | 2010-03-18 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 接続部材、その形成方法,接続構造およびその形成方法 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
US5284287A (en) | Method for attaching conductive balls to a substrate | |
US5208068A (en) | Lamination method for coating the sidewall or filling a cavity in a substrate | |
JPS6142993A (ja) | 樹脂への導体層形成方法 | |
JPS6340218A (ja) | 異方導電膜とその製造方法 | |
GB2096834A (en) | Process for the manufacture of substrates to interconnect electronic components and articles made by said process | |
JP3352705B2 (ja) | 異方導電性接着フィルムを用いた実装構造 | |
JPH0487213A (ja) | 異方性導電膜およびその製造方法 | |
JP2004119606A (ja) | 半導体基板の貫通孔埋め込み方法および半導体基板 | |
JPS60246695A (ja) | 印刷配線板の製造方法 | |
TW200803661A (en) | Circuit substrate and method of manufacture | |
JP4123637B2 (ja) | フィルムキャリアの製造方法 | |
JP2916287B2 (ja) | メッキ用治具 | |
JP2001053191A (ja) | 電極突起を導出した基板及びその製造方法 | |
JPS6246080B2 (ja) | ||
JPS6235595A (ja) | 転写シ−トの製造方法 | |
JP3015709B2 (ja) | フィルムキャリア、それを用いてなる半導体装置ならびに半導体素子の実装方法 | |
JPH11102937A (ja) | 両面配線tab用テープ | |
JPH05198901A (ja) | プリント回路基板およびその製造方法 | |
JPS61288488A (ja) | 成形回路基板の製造方法 | |
JP2622163B2 (ja) | 半導体素子実装用基板 | |
JPS6372189A (ja) | 回路板の製造方法 | |
JPS6267898A (ja) | 電子回路基板のスル−ホ−ル接続部形成方法 | |
JPS58115886A (ja) | プリント配線板の製造方法 | |
JPH0521538A (ja) | フイルムキヤリア装置 | |
JPS6340217A (ja) | 異方導電性フイルム |