JPS633475A - 反射型光結合素子 - Google Patents

反射型光結合素子

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Publication number
JPS633475A
JPS633475A JP61146545A JP14654586A JPS633475A JP S633475 A JPS633475 A JP S633475A JP 61146545 A JP61146545 A JP 61146545A JP 14654586 A JP14654586 A JP 14654586A JP S633475 A JPS633475 A JP S633475A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
light
emitting element
light emitting
receiving elements
optical coupling
Prior art date
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Pending
Application number
JP61146545A
Other languages
English (en)
Inventor
Akihiko Doi
土肥 昭彦
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Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Toshiba Corp
Toshiba Intelligent Technology Co Ltd
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Publication date
Application filed by Toshiba Corp, Toshiba Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Toshiba Corp
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Publication of JPS633475A publication Critical patent/JPS633475A/ja
Priority to US07/259,399 priority patent/US4900910A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の目的〕 (産業上の利用分野) この発明は、基板上に、発光素子及び少なくとも2つの
受光素子を配設し、前記発光素子からの光が対象物で反
射した光を前記受光素子で受光し、これら受光した光の
光量差に基づき対象物の位置を検出する反射型光結合素
子に関する。
(従来の技術) 第7図および第8図に従来の反射型光結合素子の一例を
示す。
この従来素子では、基板1上の略中央部にL E D 
(light EIitting Diode)等の発
光素子2を配設し、その両側に2つの受光素子3a、3
bを配設し、これら発光素子2および受光素子3a。
3bの上からエポキシ樹脂などの保護膜4をコーティン
グするようにしている。
この反射型光結合素子は、該素子に対向する物体の位置
検出に用いられている。すなわち、上記光結合素子を所
定位置に固定し、この素子に対向して平行に移動する対
象物にミラー等の光反射体を固着したとすると、光結合
素子の発光素子から照射された光は前記対象物に固着さ
れたミラーで反射した後、前記発光素子両側に設けられ
た受光素子3a、3bに入射されることになる。この際
、受光素子3a、3bに夫々入射される光の光量はミラ
ーの位置すなわち対象物の変化に応じて変動する。した
がって、これら受光素子3a、3bの各入射光量の差分
を取ることにより、対象物の位置を検出することができ
る。
このような光結合素子は、例えば光デイスク装置の光学
ヘッド内に設けられた対物レンズの位置検出に用いられ
ている。
(発明が解決しようとする問題点) ところで、このような対象物の位置検出に用いられる従
来の光結合素子においては、発光素子2の無指向性によ
って発光素子2から出た光の殆どが対象物上の反射体以
外のところへ分散してしまい、受光素子3a、3bに対
しては受層の光しか入射されなかった。このため従来装
置においては、前記受光素子3a、3bの出力信号はそ
のS/N比が極端に悪く、対象物の位置に対応する信号
を正確かつ精度良く取り出せないという問題点があった
。なお、前記発光素子2に供給する電流を増加すること
によって発光出力を増大さぜることは可能であるが、こ
の場合電源容量が大きくなり、装置の小形化に支障をき
たすという問題点がある。
したがって、かかる従来の光結合素子を前記光デイスク
装置の光学ヘッドの対物レンズの位置検出に用いる場合
には、前述した原因によって対物レンズの位置を正確に
検出することが難しく、このためアクセスの際トラッキ
ング方向への動きが生じてトラックずれの原因となった
り、また信号処理に時間がかかるため高速アクセスへの
妨げとなっていた。
〔発明の構成〕
(問題点を解決するための手段) この発明では、発光素子の上側に発光素子からの光を収
光する収光体を配備するようにして上記問題点を解消す
るようにする。
(作用) 発光素子から発せられた光は、前記収光体によってその
光量が抑えられ指向性が良くなった光が対向配置された
対象物に入射され、その反射光が受光素子に入射される
ようになり、受光素子に対する入射光量が増大する。
(実施例) 第1図および第2図に本発明にかかる反射型光結合素子
の一実施例を示す。
この第1図および第2図に示す実施例ではガラス表面を
エポキシコーティングした基板1上の略中央部に、例え
ばLED等の発光素子2を設けるとともに、その両側に
2@の受光素子3a、3bを配設するようにしている。
また、発光素子2と受光素子3a、3bとの間に支持体
5a、5bを設け、これら支持体5a、5bで光透過型
収光体6を架設支持し、これらの上からエポキシ樹脂等
の保護膜4をコーティングするようにしている。
ここで、発光素子2の上部に配設した収光体6は、例え
ばシリンドリカルレンズ、球面レンズあるいは凸レンズ
等の光学レンズであり、発光素子2から発せられた光を
2次元方向のうちの少なくとも1方向について収光する
作用をなし発光素子2から発せられた光の発散を抑止す
る。また、支持体5a、5bは前記光層折体6を支持す
るとともに、発光素子2から受光素子3a、3bに直接
あるいは保護膜4で反射されて1.入射される光の遮光
体としての役目を持っている。この支持体5a。
5bはプラスチック等の絶縁体で構成するか、あるいは
ステンレス等の導体で構成した場合は、その表面を絶縁
膜コーティングするかして、他の部品すなわち受光素子
3a、3b、基板1と接゛する部分に絶縁材を界在させ
るようにしている。また、この支持体5a、5bの発光
素子2側の各表面は精度良く研磨されており、これによ
り光の乱反射を防止するようにしている。尚、基板1は
プリント配線基板であり、基板上の発光素子2、受光素
子3a、3bを回路接続する電気的結線が行なわれてい
る。
かかる実施例によれば、発光素子2の前面に収光年用を
なす収光体6を設け、発光素子2から出た光の発散を抑
止するようにしたので、発光素子2から出た光の大部分
が対向配置した対象物の反射体に入射するようになり、
これにより受光素子3a、3bに入射される信号成分が
増加し、受光素子3a、3bの出力信号のS/N比を向
上させることができる。
また、前記支持体5a、5bは遮光体としても働くので
、発光素子2から受光素子3a、3bへの直接入射およ
びエポキシ4表面での反射による受光素子3a、3bへ
の入射を適格に防止することができ、これによりバイア
ス分のない良質の信号を取出すことができるようになる
次に、第3図に本発明の他の実施例を示す。この実施例
においては、発光素子2の四りに4個の受光素子3a、
3b、3cおよび3dを配設し、該光結合素子に対向配
置した対象物のX方向およびY方向の2方向の位置検出
を行なえるようにした。すなわち、この実施例素子にお
いては、受光素子3aおよび3Cの各出力の和Qacと
受光素子3bおよび3dの各出力の和Gbdとの差分値
(Ga、−G、、)に基づき対象物のX方向の位置を検
出し、また受光素子3aおよび3bの各出力の和Gab
と受光素子3Cおよび3dの各出力の和G との差分値
(Gab−Gcd)に基づき対象物のd Y方向の位置を検出するようにしている。この実施例に
おいても、発光素子2と受光素子3a〜3dとの間に円
柱状の遮光体5を設け、この遮光体5で発光素子2の前
面に設けた収光体6(この場合2次元全方向に収光性を
持つ凸レンズとする)を支持する構成とし、受光素子3
a〜3dの出力信号のS/N比を向上させるようにして
いる。
次に、かかる第3図に示す実施例素子を光ディスク装買
の光ピツクアップ部分の対物レンズ位置検出に適用した
場合について説明する。
最初に、第4図に従って光デイスク装置の信号検出の原
理について説明する。
第4図において、円盤状のディスク10の表面には長方
形の穴(ピット)が同心円状あるいはら旋状に並んでお
り、このピットの有無により1と0との区別する。
半導体レーザー11から発せられたレーザー光束りはコ
リーメートレンズ12およびハーフプリズム13を順次
通過した後対物レンズ14によって情報記憶媒体(ディ
スク)10上に集束される。
また、このディスク10から反射されたレーザー光束り
は再び対物レンズ14を通過してハーフプリズム13に
戻される。そして、このハーフプリズム13で反射され
たレーザー光束りは集光レンズ15およびシリンドリカ
ルレンズ16を順次介して光検出器17上に照射される
。そして、該光検出器17で電気信号に変換された光の
濃淡信号はその後図示しない復調回路および信号処理回
路を介することにより情報再生のための信号として送出
されることになる。すなわち、光デイスク装置では、光
が対物レンズ14により、ピットに照射された時、ピッ
トのエツジの部分に当った光は乱反射または拡散され、
ピット外の平らな所で正反射される光に比べ光量が減少
する。この光量差を光検出器17で電気信号に変換し、
情報を再生する。
次に、上記対物レンズ14をディスク10の径方向即ち
トラッキング方向および光軸方向すなわちフォー力ツシ
ング方向に移動させる対物レンズ駆動装置20に前記第
3図に示した実施例素子を設け、対物レンズ14のトラ
ッキング方向およびフォーカツシング方向の位置検出を
行うようにしたものを第5図および第6図に示す。
第5図および第6図に示すように、対物レンズ14は保
持枠21に保持され、この保持枠21は一端が固定され
た一対の平行板ばね22,22の他端に取付けられてい
る。したがって、対物レンズ14は、矢印Aで示すよう
に、その径方向すなわちトラッキング方向に変位可能と
なっている。
また、上記保持枠21には可動磁性体23が設けられて
おり、この可動磁性体23の近傍にはこれを取囲む状態
でこの可動磁性体23と共動する一対のヨーク24.2
4および一対の永久磁石25゜25が固定的に配設され
ている。また、ヨーク24.24にはコイル26.26
が巻回されている。そして、コイル26.26にトラッ
クずれに対応した電流を流すことによって対物レンズ1
4をその径方向に所定量だけ移動させることができるよ
うになっている。
また、前記平行板ばね22.22の他端は中枠27に固
定されている。この中枠27は一対の渦巻状はね28.
28を介して外枠2つに支持され、これにより対物レン
ズ14は、矢印Bで示すように、光軸方向に変位自在と
なっている。さらに、中枠27にはシリンダ30を介し
てコイル31が装着され、−方、外枠29には上記コイ
ル31と共動する永久磁石32およびヨーク33.33
が取付けられている。そして、コイル31にフォーカス
ずれに対応した電流を流すことにより対物レンズ14を
その光軸方向に所定量だけ移動させることができるよう
になっているJ ところで、この対物レンズ駆vJ装置20のフレーム4
0は、前記対物レンズのトラッキング方向Aおよびフォ
ー力ツシング方向Bの位置が検知されるべく、前記可v
J!a性体23の表面に固着されたミラー42に対向す
る部分41が取り除かれており、この部分41に第3図
に示す光結合素子の基板1を固着するようにする。この
光結合素子は前述したように、発光素子2.4つの受光
素子3a〜3d、保311!ii!4、支持体5および
収光体6で構成されており、発光素子2から照射された
光は吸光体6で収光された後コイル表面に配設されたミ
ラー42で反射し、その後4個の受光素子3a〜3dに
入射されることになる。前記可動磁性体23は対物レン
ズ14と一体となってトラッキング方向Aおよびフォー
力ッシング方向Bへ移動されるため、4つの受光素子3
a〜3dの出力を前述した態様で差分処理することによ
り対物レンズ14のトラッキング方向Aおよびフ4−カ
ッシング方向Bの位置を検出することができる。この光
結合素子には、前述のごとく、収光性を持つ透明収光体
6が発光素子2の前面に配設されているため、発光素子
2から出た光の大部分がミラー4に入射し、受光素子3
a〜3dの出力信号の信号成分を増大させることができ
る。また、この光結合素子の支持体5は前述した如く、
遮光体となっており、受光素子3a〜3dの出力からは
バイアス分のない良質の信号が得られる。このような構
成となっているため、この実施例装置においては対物レ
ンズの正確な位置検出を行なうことができるとともに、
該検出出力に基づき前記トラッキング方向およびフォー
力ツシング方向の移動機構を駆動することにより、トラ
ッキング動作およびフォー力ツシング動作を安定かつ正
確になし得るようになる。
〔発明の効果〕
以上説明したように、この発明にかかる反射型光結合素
子によれば、発光素子の上側に、発光素子からの光を収
光する吸光体を設けるようにしたので、発光素子から発
せられた大部分が対象物に入射するようになり、受光素
子の出力信号の信号成分が増加し、S/N比を向上させ
ることができる。また、前記収光体を支持する支持体を
遮光体とするようにすれば、発光素子からの直接光およ
び保護膜表面での反射光が受光素子に入射されるのを確
実に遮断することができ、これにより受光素子の出力信
号に現れるバイアス分を抑制し、信号のみの良質な受光
出力を青ることができるようになる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明にかかる反射型光結合素子の一実施例を
示す平面図、第2図は同断面図、第3図(a)および(
b)は本発明の他の実施例を示す平面図および断面図、
第4図は光デイスク装置の光学ヘッドを概略的に示す構
成図、第5図は本発明が適用される対物レンズ駆IIJ
装置の一例を示す平面図、第6図は同断面図、第7図は
従来の反射型光結合素子の一例を示す平面図、第8図は
同断面図である。 1・・・基板・・・2・・・発光素子、3・・・受光素
子、4・・・保護膜、5・・・支持体、6・・・収光体
、10・・・情報記録媒体、11・・・レーザー、12
・・・コリーメートレンズ、13・・・ハーフプリズム
、14・・・対物レンズ、15・・・集光レンズ、16
・・・シリンドリカルレンズ、17・・・光検出器、2
0・・・対物レンズ駆動装置、42・・・ミラー。 第2図 3.03い (G’) 第3図 第5図 第6図 第8図

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基板上に発光素子を配設するとともに、該基板上
    の前記発光素子の囲りに少なくとも2つの受光素子を配
    設し、これら発光素子及び受光素子を所定の保護膜でコ
    ーティングし、前記発光素子の照射光が対象物で反射し
    た光を前記少なくとも2つの受光素子で受光することに
    より前記対象物の位置を検出する反射型光結合素子にお
    いて、前記発光素子の上側に、発光素子からの光を収光
    する収光体を配備するようにした反射型光結合素子。
  2. (2)前記収光体は基板上の発光素子と受光素子との間
    に設けられた支持体によって支持され、この支持体は前
    記発光素子からの光を遮断する遮光体である特許請求の
    範囲第(1)項記載の反射型光結合素子。
JP61146545A 1985-11-28 1986-06-23 反射型光結合素子 Pending JPS633475A (ja)

Priority Applications (3)

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JP61146545A JPS633475A (ja) 1986-06-23 1986-06-23 反射型光結合素子
DE19863640660 DE3640660A1 (de) 1985-11-28 1986-11-28 Vorrichtung zur bestimmung der stellung eines objektivs
US07/259,399 US4900910A (en) 1985-11-28 1988-10-18 System for detecting the position of an objective lens

Applications Claiming Priority (1)

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JP61146545A JPS633475A (ja) 1986-06-23 1986-06-23 反射型光結合素子

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JPS633475A true JPS633475A (ja) 1988-01-08

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ID=15410075

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JP61146545A Pending JPS633475A (ja) 1985-11-28 1986-06-23 反射型光結合素子

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JP (1) JPS633475A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002531936A (ja) * 1998-11-27 2002-09-24 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 光電子構造ユニット

Cited By (1)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002531936A (ja) * 1998-11-27 2002-09-24 ドクトル・ヨハネス・ハイデンハイン・ゲゼルシヤフト・ミツト・ベシユレンクテル・ハフツング 光電子構造ユニット

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