JPS633455A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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JPS633455A
JPS633455A JP61147561A JP14756186A JPS633455A JP S633455 A JPS633455 A JP S633455A JP 61147561 A JP61147561 A JP 61147561A JP 14756186 A JP14756186 A JP 14756186A JP S633455 A JPS633455 A JP S633455A
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Akinaga Yamamoto
晃永 山本
Masaharu Muramatsu
雅治 村松
Hitoshi Asai
浅井 仁
Mitsuaki Kageyama
光昭 影山
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    • H01ELECTRIC ELEMENTS
    • H01LSEMICONDUCTOR DEVICES NOT COVERED BY CLASS H10
    • H01L27/00Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate
    • H01L27/14Devices consisting of a plurality of semiconductor or other solid-state components formed in or on a common substrate including semiconductor components sensitive to infrared radiation, light, electromagnetic radiation of shorter wavelength or corpuscular radiation and specially adapted either for the conversion of the energy of such radiation into electrical energy or for the control of electrical energy by such radiation
    • H01L27/144Devices controlled by radiation
    • H01L27/1446Devices controlled by radiation in a repetitive configuration

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  • Transforming Light Signals Into Electric Signals (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、プラズマ結合袋N(Plasma Coup
ledDevice;以下、PCDという。)による半
導体光検出装面に関し、特に半導体基板上に構成し、撮
像装置、位置検出装置、あるいは光学式文字読み取り装
置に使用される集積化された固体撮像装置に関する。
(従来の技術) 従来から、複数の光電変換素子、およびPCDによる走
査回路を半導体基板上に集積化して構成した固体撮像装
置は公知である。
例えば、第4図は従来技術によるPCDの基板構造の一
例を示す構造図である。第4図において、101はN形
シリコン半導体基板、102はN+形半導体層によるベ
ース、103はP形半導体層によるエミッタ、104は
npnp)ランジスタの中間P層を構成するP形半導体
層、105はnpnpl−ランジスタのコレクタを構成
するN+形半導体層、106はN+形半専体層による細
長いベースを形成する共通領域、107は前述ベース1
02.106に直流電圧を加えるための直流電源、10
8〜110はそれぞれエミッタ103へクロックφ1〜
φ3を与えるための抵抗器である。
第4図において、共通の細長いベース106と、島状の
エミッタ103と、フック付コレクタ105によって単
位要素となるセルが構成される。第5図は、第4図に示
すPCDの単位要素の等価回路を示す説明図である。第
5図において、111はP形半導体層103と、N形半
導体基板101と、P形半導体層104とによって構成
されたpnp)ランジスタ、112はN形半導体基板1
01と、P形半導体層”1i104と、N”形半導体層
105とによって構成されたnpn)ランジスタである
上記単位要素となるセルはフック構造をもつ単接合トラ
ンジスタをラテラル形にしたもので、ベース・コレクタ
間に定電圧源Vbcを接続した状態では、エミッタ10
3とコレクタ105との間に第6図に示すような負性抵
抗特性が現れる。負性抵抗が始まる点の電圧をピーク点
電圧Vpと呼ぶ、負性抵抗のオン状態、すなわち低抵抗
状態ではエミッタ103とコレクタ105との間に多数
の電子・正孔対によるプラズマが存在するが、この場合
のようにラテラル構造で、コレクタ面積が十分に小さい
ときにはプラズマはコレクタ電極のまわりに蓄積され、
その周辺に広がる。
いま、クロックφ1の信号源に接続された1番目の要素
のエミッタ103にVpよりも大きな電圧を加えてオン
状態にしておき、クロックφ2の信号源に接続された2
番目の要素の電流対電圧特性を測定すると、ピーク点電
圧Vpが第6図のv plによって示すように減少する
。これは、1番目の要素に形成された電子・正孔対プラ
ズマの伝導度変調によるもので、プラズマ結合効果と呼
ばれる。
したがって、2番目の要素をあらかじめ■p′より大き
く、Vpより小さくなるようにバイアスしておけば、最
初にオフ状態であったものを、1番目の要素をオンにす
ることによって同様にオン状態にさせることができる。
この状態で1番目の要素の電圧を低下させてオフにすれ
ば、結果的にオン状態が1番目から2番目に移ったこと
になる。
第4図に示すように、3相のシフトパルス電圧φ1〜φ
3をPCDに加えると、オン状態が左の要素から右の要
素へと順次転送される。
上記が、PCDの基本となる3相形シフトレジスタの動
作である。第7図は、このようなPCDによるシフトレ
ジスタを使用して構成した固体撮像装置の斜視図である
第7図において、第4図と同じ要素には同じ番号が付し
である。第7図において、113はN++半導体層、1
15はP形半導体層、116はN++半導体層、117
はN++半導体層、118はP形半導体層である。N+
形半導体層116およびP形半導体層115,118に
よってアドレススイッチ11が構成されている。N形半
導体基板101とP形半導体層118とによってホトダ
イオード12が形成され、ホトダイオード12の出力は
アドレススイッチ11を介して出力される。
第7図に示すPCDによるシフトレジスタ10の構造は
、第4図に示したものとほぼ同様である。
しかし、固体撮像装置として用いる場合には、走査出力
はコレクタ領域105の近傍に形成されたN1形半導体
層113により、コレクタ105の近傍の電位変化とし
て取り出される。単位素子セルがオフの状態にあれば、
ベース106とコレクタ105との間の直流バイアス電
圧は、逆バイアスを与えるフックとコレクタ105との
間に加えられるので、N+形形溝導体層113電位はベ
ース106 (あるいは半導体基板101)の電位にほ
ぼ等しい。単位素子がオン状態になると、コレクタ10
5の近傍の伝導度変調によってN+形形溝導体層113
電位は低下し、コレクタ105の電位に近づく。
この電位の変化をアドレス信号として光検出部に伝達し
、アドレススイッチをオンさせることができる。
上述のように固体撮像装置の各画素には1個のホトダイ
オードと、1個のスイッチと、1段の走査回路とがそれ
ぞれ対応しており、第7図の断面構造からも明らかなよ
うに、PCD形固体撮像装置はN形半導体基板101上
にP形、およびN形の不純物領域が形成されているだけ
で、他のバイポーラデバイスのような分離領域や埋込み
領域などの複雑な製造プロセスは必要ない。
(発明が解決しようとする問題点) 上述した従来技術によれば、PCDによるシフトレジス
タは基本的にはプラズマ結合効果によって動作する。し
たがって、分離領域や埋込み領域が必要ではない為に、
集積度が向上できたり、あるいはプロセスが容易になる
などの利点がある。
反面、素子間に分離がないために、PCDによるシフト
レジスタのうちの任意の1段がオンになり、その段の走
査電極の電位が低下しているときには、プラズマ結合効
果による電気的なりロストークが生じる結果として、そ
の両側の段の走査電極の電位も低下し、結局、数個のア
ドレススイッチを同時にオンしてしまい、信号の純度が
低下するという欠点がある。
このとき、クロストークを防止しようとしてPCDによ
るシフトレジスタに分離領域を形成すれば、プラズマ結
合効果が不十分になり、転送動作がスムーズに行われな
くなる。
さらに、上記従来技術によれば、PCDによるシフトレ
ジスタでは、単位素子セルを配列するピンチによってエ
ミッタ、コレクタ、ならびにベースの大きさと配置とが
決定されてしまう度合が強く、PCDによるシフトレジ
スタの走査電極をそのまま光検出部のアドレススイッチ
に結線しても、アドレススイッチを開閉するための駆動
能力が不十分で、スイッチング動作が効率よく行われな
いという欠点がある。
本発明の目的は、PCDによるシフトレジスタとアドレ
ススイッチとの間に一体化して集積化した複合トランジ
スタによるスイッチ手段を設けることにより上記欠点を
除去し、上記スイッチ手段の採用によって単位素子セル
間に生ずる不要の結合を減するとともにスイッチング動
作を確保することができるように構成した固体撮像装置
を提供することにある。
(問題点を解決するための手段) 本発明による固体撮像装置は第1の導電形を有する半導
体基板上に第2の導電形により形成され、入射光により
発生した信号電荷を蓄積するための受光部と、信号電荷
を読み出すためのアドレススイッチとを備えた光電変換
素子を1次元、あるいは2次元状に配置し、かつ、アド
レススイッチを時間順次的に選択するためのプラズマ結
合装置による走査回路を備えて構成したものの改良であ
る。
本発明においては、走査回路の各段においてプラズマ結
合装置の後段に複合スイッチトランジスタを設け、スイ
ッチトランジスタの出力を光電変換素子のアドレススイ
ッチに加えることができるように構成したものである。
(実施例) 本発明を図面等を参照して、さらに詳しく説明する。
第1図は、本発明による固体撮像装置の主要部分の一実
施例を示す構成図である。第1図において、第4図〜第
7図と同様な作用をする要素には同様な番号を付しであ
る。第1図において、1はP形半導体層、2はN形半導
体層、3はP形半導体層、4はN“形半導体層、5はN
++半導体層。
6はN++半導体層による分離領域、7は電源電圧■3
を与える電源端子、13は本発明を特徴づける複合トラ
ンジスタ、すなわちスイッチ手段13である。
第2図は、第1図に示すPCDによるレジスタ10およ
びスイッチ手段13の等価回路を示す説明図である。第
2図において、トランジスタ111.112はそれぞれ
第5図に示すトランジスタ111.112と同様な作用
をする。
p’npトランジスタ8は、第1図におけるP形半導体
層1と、N形半導体層2と、P形半導体層3とによって
形成されるものである。−方、npnトランジスタ9は
N+形半導体層5に対して電気的に接続された半導体基
板101の内部領域と、P形半導体層3と、N+形形溝
導体層4によって形成されるものである。
第1図において、pnp)ランジスタ8の電源端子7に
は適当なりCバイアス電圧、あるいはシフトパルスの周
波数に等しい周波数の方形波を加え、npn)ランジス
タ9のエミッタ4は接地電位に保つよう、共通接続して
おく。シフトレジスタ10は従来と同様な方法で駆動し
、PCDによるシフトレジスタ10からのアドレス信号
をpnpトランジスタ8のベースに加える。したがって
、シフトレジスタ10の走査出力が低レベルに下がった
ときpnpトランジスタ8がオンになり、npn)ラン
ジスタ9のベースに正孔が注入され、npnトランジス
タ9をオンにする。
npnトランジスタ9のコレクタ領域の近傍にはN+不
純物拡散をしたN+形半導体層5が配置されていて、n
pn)ランジスタ9がオン状態のときにはコレクタ領域
の直下で半導体基板101の電位が低下する。そこで、
半導体基板101がN形であるため、N+形半導体層5
の電位も低下し、この電位変化がアドレス信号として光
検出部に伝達され、アドレススイッチ11をオンにする
上記構造を採用することにより、PCDによるシフトレ
ジスタ10では素子セル間を分離することができる。す
なわち、シフトレジスタ10の後段に設けられたラテラ
ルpnpトランジスタ8とパーティカルnpn )ラン
ジスタ9とにより複合トランジスタ13を構成し、この
複合トランジスタによって素子間を分離することができ
る。よって、pnp トランジスタ8のエミッタ1に加
えられる電圧VsO高レベル値を適当な値に設定すれば
、複合トランジスタ13より成るスイッチN+形半導体
層5に発生するアドレスパルスにはクロストークを含ま
ない。したがって、得られたアドレスパルスをアドレス
スイッチ11に加えれば、信号の純度を高めることがで
きる。
第1図に示す実施例においては、PCDによるシフトレ
ジスタ10の後段の複合トランジスタ13によりアドレ
スパルスが再生され、駆動能力を大きくでき、アドレス
スイッチ11の開閉を効率よく行うことができる。
第3図は、第1図に示す固体撮像装置を改良して構成し
た他の実施例を示す平面図である。
第3図に示す固体撮像装置の各単位素子セルは、それぞ
れ第1図に示すものと同様であるが、第3図では千鳥状
の配置を採用している。第3図においては、千鳥状のセ
ル配置により、複合トランジスタおよび分離領域の設計
の余裕度を高めている。
したがって、第1図に示す素子のセル配置より素子間の
分離を完全に行うことができ、複合トランジスタ13自
身の大きさや配置も比較的自由に選択することが可能と
なり、駆動能力を太き(でき、さらにアドレススイッチ
11の開閉を効率よく行うことができる。
(発明の効果) 本発明は以上説明したように、PCDによるシフトレジ
スタとアドレススイッチとの間に一体化して集積化した
複合トランジスタによるスイッチ手段を設けることによ
り、上記スイッチ手段の採用によって単位素子セル間に
生ずる不要な結合を減するとともにスイッチング動作を
確保できるため、得られた光信号の解像度を著しく向上
できるとともに、不要なノイズ成分のレベルを著しく低
くすることができると言う効果がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本発明による固体撮像装置の一実施例を部分
的に示す構造図である。 第2図は、第1図に示す固体撮像装置のシフトレジスタ
およびスイッチ手段の等価回路を示す説明図である。 第3図は、本発明による固体撮像装置の他の実施例を部
分的に示す平面図である。 第4図は、従来技術による半導体プラズマ結合装置(P
CD)の−例を示す構造図である。 第5図は、第4図に示すPCDの等価回路を示す説明図
である。 第6図は、第4図に示すPCDの基本要素の電流対電圧
特性の一例を示す説明図である。 第7図は、従来技術により構成したPCDによる固体撮
像装置の一例を示す斜視図である。 1.3,103,104,115,118・・・・・・
・・・P形半導体層 2.4,5,101,102,105,106113.
116,117 ・・・・・・・・・N形半導体層 7・・・・・・・・・・・・端子 10・・・・・・・・・シフトレジスタ11・・・・・
・・・・アドレススイッチ12・・・・・・・・・ホト
ダイオード13・・・・・・・・・スイッチ手段 107・・・・−・電源 108〜110・・・・・・抵抗器 111.112・・・・・・トランジスタ特許出願人 
浜松ホトニクス株式会社 代理人 弁理士  井 ノ ロ  壽 才2図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 第1の導電形を有する半導体基板上に第2の導電形によ
    り形成され、入射光により発生した信号電荷を蓄積する
    ための受光部と、前記信号電荷を読み出すためのアドレ
    ススイッチとを備えた光電変換素子を1次元、あるいは
    2次元状態に配置し、かつ、前記アドレススイッチを時
    間順次的に選択するためのプラズマ結合装置による走査
    回路を備えて構成した固体撮像装置において、前記走査
    回路の各段において前記プラズマ結合装置の後段に複合
    スイッチトランジスタを設け、前記スイッチトランジス
    タの出力を前記光電変換素子の前記アドレススイッチに
    加えることができるように構成したことを特徴とする固
    体撮像装置。
JP61147561A 1986-06-24 1986-06-24 固体撮像装置 Expired - Fee Related JPH0763088B2 (ja)

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