JPS6333671A - コネクタ試験装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はコネクタ試験装置に関する。

〔従来の技術〕

従来、この種のコネクタ試験装置は、コネクタの隣接端
子間、対向端子間の絶縁試験、耐圧試験及び対向端子間
の接触部の接触抵抗値測定を行う場合、コネクタ端子を
一対ずつ測定器の測定棒にて測定していた。

〔発明が解決しようとする問題点〕

上述した従来のコネクタ試験装置では、コネクタの隣接
端子間、対向端子間の絶縁試験、耐圧試験及び対向端子
間の接触部の接触抵抗値測定を行う場合、人手によりコ
ネクタ端子を一対ずつ測定器の測定棒にて測定していた
ので、不注意による測定誤りが発生し正確な試験結果が
得られず、かつ、コネクタ端子数が多いと計測時間と労
力を必要とするという欠点がある。

本発明の目的は、正確な計測が短時間に容易にできるコ
ネクタ試験装置を提供することにある。

〔問題点を解決するための手段〕

本発明のコネクタ試験装置は、測定コネクタのコネクタ
端子間を短絡する短絡板と該短絡板の上下駆動機構を搭
載した支持台とを備える測定コネクタ治具と、電圧計、
接触抵抗計、絶縁計及び耐圧計の各種測定器を備える計
測部と、前記コネクタ端子を走査するコネクタ端子スキ
ャナと前記各種測定器の測定端子を走査する測定器スキ
ャナと前記コネクタ端子スキャナ及び前記測定器スキャ
ナを制御するスキャナ制御部とを備える走査部と、前記
上下駆動機構と前記走査部とを制御し前記計測部から計
測データを収集する計測制御部とを含んで構成される。

〔実施例〕

次に、本発明の実施例について図面を参照して説明する
。

第１図は本発明の一実施例のブロック図である。

第１図に示すように、本実施例は計測制御部１と、測定
器スキャナ２１とコネクタ端子スキャナ２２と走査制御
部２３とを備える走査部２と、測定コネクタ３３のコネ
クタ端子間を短絡する短絡板３１と短絡板３１の上下駆
動機構３２とそれらを搭載する支持台３４とを備える測
定コネクタ治具３と、電圧計４１と接触抵抗計４２と絶
縁計４３と耐圧計４４との各種測定器を備える計測部４
とを含む。

第２図は第１図の実施例で計測される測定コネクタの斜
視図である。

第２図に示すように、モールド部５から上方及び下方に
１０本の端子Ｒ，〜Ｒ５及びし１〜Ｌ５が突出し、かつ
、列Ｒ及びＬの２列に配列されている。なお、第２図に
示す測定コネクタはコネクタ端子の端子数が１０ビンの
場合であるが、試験可能な対象コネクタのコネクタ端子
数には特に制限はない。

第３図は第２図に示す測定コネクタを測定試験する場合
の第１図の測定コネクタの各コネクタ端子とコネクタ端
子スキャナとの接続を示す回路図である。

第３図に示すように、測定コネクタ３３のコネクタ端子
の接続は、列りの奇数番目の端子Ｌｌ。

Ｌ、、Ｌ、と列Ｒの偶数番目の端子Ｒ２，Ｒ４からそれ
ぞれ導線を２本ずつ配線し、その先はコネクタ端子スキ
ャナ２２のスイッチ部へ接続する。

列りの偶数番目の端子Ｌ２．Ｌ、と列Ｒの奇数番目の端
子Ｒ，，Ｒ，，Ｒ，は、端子Ｒ８→Ｌ２→Ｒ３→Ｌ４→
Ｒ５の順に接続され、端子Ｒ１及びＲ５からそれぞれ導
線１本ずつをコネクタ端子スキャナ２２の内部へ接続す
る。

この配線によってできた回路は、測定コネクタ３３の対
向端子−、即ち、端子Ｌｉ　（１≦ｉ≦５の整数）と端
子Ｒｉの閏の接触抵抗値測定時の四端子測定法を考慮し
ている。又、コネクタ端子スキャナ２２のスイッチＳＷ
ｌはスイッチＳＷｌと５ＷＩ２とから成り、スイッチＳ
ＷｌとＳＷｌ、は同時に接又は断となる。

スイッチＳＷ２〜ＳＷＳも同様にそれぞれスイッチＳＷ
２．・５Ｗ２２〜５Ｗ５Ｋ・５Ｗ５２から成る・第４図
は第１図の測定コネクタ治具の短絡板の斜視図である。

第４図において、短絡板３１は絶縁体であり、底面には
良導体の短絡橋３１１が測定コネクタ３３の端子Ｌｉ及
びＲｉを短絡できるように５明記列される。短絡板３１
は第１図に示す上下駆動機構３２により上下駆動し、上
下駆動の制御は計測制御部１からの制御信号によって行
われる。

この短絡方法は接触抵抗値測定を行ううえでの基本的な
形態であり、例えば、測定コネクタがプラグコネクタの
場合には、短絡板３１の代りに、そのプラグコネクタの
ソケットコネクタを使用することにより、プラグコネク
タとソケットコネクタ間の接触抵抗値を測定することが
できる。

次に、各種試験動作について説明する。

第５図は第１図の実施例により絶縁抵抗値を測定する場
合の回路図である。

第５図に示すように、コネクタ端子スキャナ２２のスイ
ッチＳＷｌ〜ＳＷ５を第１図に示す計測制御部１からの
制御信号により、走査制御部２３を介してすべて接にし
、計測部４の絶縁計４３を接続する。

スイッチＳＷ１〜ＳＷ５を同時に接とすることによって
、絶縁試験と耐圧試験を行う時に使用する隣接対向端子
兼用配線となる。この隣接対向端子兼用配線により、端
子り、とＬ２のような各隣接端子間の絶縁試験と端子Ｌ
ｌとＲ１のような各対向端子間の絶縁試験が同時に１度
で行われる。

絶縁計４３で測定した絶縁抵抗値は、絶縁計４３に設け
られているデータ出力端子により第１図に示す測定器ス
キャナ２１を通して電圧計４１にて読取られ計測制御部
１に転送される。なお、絶縁計４３の代りに耐圧計４４
を接続することにより、同様に隣接及び対向端子間の耐
圧試験を行うことができる。

第６図は第１図の実施例により接触抵抗値を測定する場
合の回路図である。

第６図に示すように、コネクタ端子スキャナ２２のスイ
ッチＳＷ１を第１図に示す計測制御部１からの制御信号
により走査制御部２３を介して接とし、計測部４の接触
抵抗計４２を接続している。

第６図において、端子り、とＲ，どの間を第４図に示す
短絡板３１を用いて短絡すると、対向する端子ＬｌとＲ
，間の短絡橋３１１との接触部の接触抵抗値を測定する
ことができる。

第７図は第６図の等価回路図である。

第７図において、端子Ｌ１とＲ１どの間の抵抗３１２は
端子Ｌ１とＲ１の短絡橋３１１との接触部の接触抵抗骨
である。第３図を用いて前述したように、測定コネクタ
３３のコネクタ端子の結線は、各端子１本につき２本ず
つ導線が配線されているので四端子測定法が成立する。

現在、接となっているスイッチＳＷ１を断とし、次にス
イッチＳＷ２を接とするといった具合にスイッチを順次
切換えて行くことにより、各対向端子間の接触抵抗を測
定することができる。接触抵抗計４２で測定した接触抵
抗値は接触抵抗計４２に設けられているデータ出力端子
で、第１図に示す測定器スキャナ２１を通して電圧計４
１にて読取られ計測制御部１に転送される。

〔発明の効果〕

以上説明したように本発明のコネクタ試験装置は、絶縁
試験、耐圧試験は隣接対向端子兼用配線を用いてそれぞ
れ１度で試験し、接触抵抗値はコネクタ端子スキャナに
より測定コネクタの各端子を走査して測定するという動
作を計測制御部にて自動的に行うことにより、人為的な
計測誤りの発生が無く正確かつ容易に短時間で各種計測
ができるという効果がある。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例のブロック図、第２図は第１
図の実施例で計測される測定コネクタの斜視図、第３図
は第１図の測定コネクタとコネクタ端子スキャナとの接
続を示す回路図、第４図は第１図の測定コネクタ治具の
短絡板の斜視図、第５図は第１図の実施例により絶縁抵
抗値を測定する場合の回路図、第６図は第１図の実施例
により接触抵抗値を測定する場合の回路図、第７図は第
６図の等価回路図である。 １・・・計測制御部、２・・・走査部、３−・・測定コ
ネクタ治具、４・・・計測部、５・・・モールド部、２
１・・・測定器スキャナ、２２・・・コネクタ端子スキ
ャナ、２３・・・走査制御部、３１・・・短絡板、３２
・・・上下駆動機構、３３・・・測定コネクタ、３４・
・・支持部、４１・・・電圧計、４２・・・接触抵抗計
、４３・・・絶縁計、４４・・・耐圧計、３１１・・・
短絡橋、３１２・・・抵抗、第２図 惨３　回 第５　図 第　７　面

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. 測定コネクタのコネクタ端子間を短絡する短絡板と該短
   絡板の上下駆動機構とそれらを搭載した支持台とを備え
   る測定コネクタ治具と、電圧計、接触抵抗計、絶縁計及
   び耐圧計の各種測定器を備える計測部と、前記コネクタ
   端子を走査するコネクタ端子スキャナと前記各種測定器
   の測定端子を走査する測定器スキャナと前記コネクタ端
   子スキャナ及び前記測定器スキャナを制御するスキャナ
   制御部とを備える走査部と、前記上下駆動機構と前記走
   査部とを制御し前記計測部から計測データを収集する計
   測制御部とを含むことを特徴とするコネクタ試験装置。