JPS633272B2 - - Google Patents

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は例えばクロツクを計数して時間を測
定する際に、そのクロツク周期に対する端数を拡
大して測定する場合に適用される時間測定装置に
関する。

例えば第１図Ａに示すように被測定時間T_Xの
間、第１図Ｂに示す周期T₀のクロツクパルスを
ゲートして第１図Ｃに示すゲート出力を得て、そ
のゲートされたクロツクパルスの数Ｎを計数する
と共に第１図Ｄに示すように被測定時間T_Xの始
めからその直後のクロツクパルスまでの間隔△
T₁、また第１図Ｅに示すように被測定時間T_Xの
終りからその直後のクロツクパルスまでの間隔△
T₂をそれぞれ作り、これ等△T₁、△T₂を第１図
Ｂのクロツクパルスよりも十分高い周波数のクロ
ツクパルスで測定し、或は△T₁及び△T₂をそれ
ぞれ時間伸張してそれぞれ測定し、これ等の測定
値からＮ＋△T₁−△T₂を求めて被測定時間T_Xと
して高い精度の測定値が得られる。

この場合△T₁及び△T₂はそれぞれ非常に短か
いため、時間幅を伸張して測定することによつて
安価な構成で高い精度の測定を行なうことができ
る。しかし△T₁及び△T₂は０からT₀の間の値を
取り、０に近い非常に小さな時間の場合には、時
間幅の伸張に用いられる時間電圧変換器の変換特
性における非直線部分に入るおそれがあつた。ま
た時間電圧変換器の変換特性が周囲温度の影響を
受ける。これらの点より第１図Ｆに示すように例
えば端数時間△T₁の測定に当つて一定時間T₀を
付加した時間△T₁＋nT₀（図はｎ＝１の場合）の
パルスと、その一定時間nT₀よりも大きい一定時
間（ｎ＋１）T₀のパルスと、更に前記付加した
一定時間nT₀のパルスとの三つのパルスを作り、
これら三つのパルスを時間幅伸張してそれぞれの
時間を測定し、その測定結果より次式を演算して △T₁＋nT₀−nT₀／（ｎ＋１）T₀−nT₀×10^K……(1
) （Ｋは時間幅伸率で決る倍率指数）△T₁を測定
することが既に提案されている。この従来装置に
おいては第２図のようにして時間幅伸張を行なつ
ていた。即ち△T₁＋nT₀、（ｎ＋１）T₀、nT₀の
それぞれについて、その時間の間第１積分器１１
で一定電圧を積分し、その積分電圧をホールド回
路１５，１６，１７にそれぞれホールドさせ、そ
の後その第１積分器１１よりも積分速度が遅い第
２積分器２１で一定電圧を積分し、各ホールド回
路１５，１６，１７のホールド電圧及び第２積分
器２１の出力を電圧比較器１９で比較し、両者が
一致した時点で第２積分器２１の積分を停止させ
る。このとき第２積分器２１の積分期間が入力に
対する伸張された時間となる。このようにして△
T₁＋nT₀、（ｎ＋１）T₀、nT₀のそれぞれについ
て時間伸張される。時間伸張された測定結果を基
に上記した第(1)式を演算する。第(1)式によれば測
定時間の比が求められる。このように時間の比を
求めることにより積分器等のアナログ回路の温度
変動に伴うドリフト等の影響を除去することがで
きる。

＜従来の欠点＞ このように従来の時間測定装置は一つの時間を
測定するのに三つの時間△T₁＋nT₀、（ｎ＋１）
T₀、nT₀及び△T₂＋nT₀、（ｎ＋１）T₀、nT₀を
それぞれ拡大測定しなければならないことと、上
記した第(1)式を演算しなければならないため測定
に時間が掛る欠点がある。

つまり第(1)式の演算は時間の比を求めてアナロ
グ回路の温度変化に伴うドリフト等による影響を
除去するための割算である。割算動作は周知のよ
うに多くの減算動作によつて実行されるため演算
結果が出るまでに時間が掛る欠点がある。

端数時間の測定に時間が掛ることから従来の時
間測定装置では測定できる時間間隔の分解能は良
くても100ピコ秒程度が限界となる。

＜発明の目的＞ この発明は測定できる時間間隔の分解能を10ピ
コ秒程度の高分解能とすることができる時間測定
装置を提供しようとするものである。

＜発明の実施例＞ 第３図はこの発明による時間測定装置の要部で
ある時間幅伸張部の一例を示す。時間幅伸張部に
は第１積分器２５と第２積分器３１が設けられ
る。第１積分器２５は演算増幅器２６、その入力
積分抵抗器２７、入出力端間に接続された積分コ
ンデンサ２８及び積分コンデンサ２８と並列に接
続されたリセツトスイツチ２９とから構成され
る。

第２積分器３１は第１積分器２５の積分速度よ
りも遅い積分速度に設定される。つまり第２積分
器３１は同様に演算増幅器３２、入力積分抵抗器
３３、積分コンデンサ３４、リセツトスイツチ３
５によつて構成される。積分器２５，３１の出力
は比較器３６で比較し両出力電圧の一致を検出す
る。

また第１積分器２５の入力側はスイツチ３７を
通じて一定電圧E₁が与えられた端子３８に接続
し、第２積分器３１の入力側は端子３８に直接接
続する。この例では積分される電圧、つまり入力
電圧が両積分器２５，３１に対し、同一値とされ
ているため、第１積分器２５の積分時定数よりも
第２積分器３１のそれを大として第２積分器３１
の積分速度を遅くしている。しかし第１積分器２
５の入力電圧より第２積分器３１のそれを絶対値
で小さな値に選定し、これによつて積分速度を遅
くしてもよい。或は積分時定数と、入力電圧との
両者を異ならして第２積分器３１の積分速度を遅
くしてもよい。

第４図Ａに示す時間Ｔを伸張するには、先ずス
イツチ２９，３５，３７をオンとしておき、時間
Ｔの間リセツトスイツチ２９のみをオフとして積
分器２５で端子３８の電圧を積分し、第４図Ｂに
示す出力を得る。次にスイツチ３７をオフとし、
スイツチ３５をオフにして第２積分器３１で積分
を行ない、第４図Ｃに示すような積分出力を得
る。この積分出力が第１積分器２５の出力−V₁
と一致すると、第４図Ｄに示すように比較器３６
の出力が反転する。積分器３１の積分開始から比
較器３６の出力が反転するまでの期間αTが時間
Ｔを伸張した時間となる。尚第１積分器２５の積
分が終つた後に或る時間をおいてから第２積分器
３１を動作させてもよい。

この発明においては第３図に示した時間幅伸張
部によつて△Ｔ＋nT₀とnT₀を伸張した時間T_C、
T_Dを測定し、この二つの時間T_C、T_Dから第(2)式
を演算し、被測定時間T_Xの前縁と後縁で発生す
る端数時間△T_a、△T_bをそれぞれ求めるもので
ある。

△T_a及び△T_b＝Ａ｛T_C−T_D｝｛１−T_D−Ｂ／Ｂ｝ ……(2) ここでＡは時間伸張の際の拡大率の逆数、Ｂは
固定時間nT₀の理想拡大値である。

第(2)式の導出は次の如くである。

第１、第２積分器２５，３１の時定数をR₁・
C₁及びR₂・C₂とし、積分器２５，３１に与える
入力電圧をE₁、E₂とした場合R₁・C₁／E₁＜R₂・C₂／E₂ となるように選定する。ここでE₁・R₂・C₂／
E₂・R₁・C₁＝Ｋをアナログ部の時間拡大率と定
義する。

この発明においては測定すべき時間は被測定時
間T_Xの前縁と後縁のそれぞれにおいて△T₁＋
nT₀とnT₀及び△T₂＋nT₀とnT₀の二種類である。
この二種類の時間を時間伸張して測定を行なう。
時間伸張後の二種類の時間t_a1、t_a2及びt_b1、t_b2は
既知の周期t₀を持つクロツクを計数することによ
つて測定される。以下説明を簡素化するために時
間伸張後の時間を前縁側及び後縁側の別なくt₁、
t₂として表示する。計数されたクロツクの数を
S₁、S₂とすると、伸張後の時間t₁、t₂は t₁＝S₁・t₀＝Ｋ（△Ｔ＋nT₀） ……(3) t₂＝S₂・t₀＝Ｋ・nT₀ ……(4) となる。これらの関係から △Ｔ＝t₀／Ｋ（S₁−S₂） ……(5) が得られる。ここでt₀／Ｋは一定値として扱われ
る。

ここでアナログ部に何らかの変動要因が加わ
り、時間伸張率ＫがＫからＫ±△Ｋ（△Ｋ＞０）
に変化した場合を考える。ＫがＫ±△Ｋに変化し
た場合に時間伸張した時間t₁′及びt₂′のそれぞれ
のクロツク計数値をS₁′、S₂′とすれば第(5)式から △Ｔ＝t₀／Ｋ±△Ｋ（S₁′−S₂′） ……(6) が真値となるが、補正を実施しなかつた場合、即
ちＫの変動を考慮しない場合には △Ｔ＝t₀／Ｋ（S₁′−S₂′） ……(7) として扱われ、第(6)式との差分が誤差となり精密
測定には使えないことがわかる。

このため第(6)式より △Ｔ＝t₀／Ｋ±△Ｋ（S₁′−S₂′） ＝t₀（S₁′−S₂′）／Ｋ・１／１±△Ｋ／Ｋ≒ t₀（S₁′−S₂′）／Ｋ・（１±△Ｋ／Ｋ） （△Ｋ／Ｋ≪１による近似） ここで第(4)式より S₂′t₀＝（Ｋ±△Ｋ）nT₀ ……(8) 第(8)式と第(4)式より ±△Ｋ／Ｋ＝−S₂′−S₂／S₂ ……(9) が得られるから △Ｔ≒t₀（S₁′−S₂′）／Ｋ・（１−S₂′−S₂／S₂） ≒t₀／Ｋ（S₁′−S₂′）−t₀／Ｋ・１／S₂（S₁′−
S₂′） （S₂′−S₂） ……(10) となる。第(10)式において第２項がアナログ部の時
定数等がドリフトすることによつて発生した誤差
分である。

第(10)式は △Ｔ≒t₀／Ｋ｛S₁′−S₂′｝｛１−S₂′−S₂／S₂｝……
(11) と書替ることができる。t₀／Ｋ＝Ａ、S₂＝Ｂ、第
１測定時間S₁′をS₁′＝T_C、第２測定時間S₂′を
S₂′＝T_Dとおけば、被測定時間T_Xの前縁側の端数
時間T_aと後縁側端数時間T_bは △T_a又は△T_b＝Ａ｛T_C−T_D｝｛１−T_D−Ｂ／Ｂ｝ ……(12) となる。

前縁側の測定値をT_C1、T_D1、後縁側の測定値
をT_C2、T_D2、クロツクP_Cの計数値をＭとすれば
被測定時間T_Xは T_X＝MT₀＋Ａ｛T_C1−T_D1｝｛１−T_D1−Ｂ／Ｂ｝−Ａ
｛T_C2−T_D2｝｛１−T_D2−Ｂ／Ｂ｝……（13） により求めることができる。この式において第２
項が被測定パルスの前縁側の端数時間、第３項が
後縁側の端数時間を示す。

次に第５図を参照してこの発明による時間測定
装置の具体例を説明しよう。端子４１に第６図Ａ
に示すようにリセツトパルスがオアゲート４２を
通じてフリツプフロツプ４３，４４のリセツト端
子に、更にフリツプフロツプ４５に与えられ、又
カウンタ４６のリセツト端子に与えられる。端子
４１よりオアゲート４７を通じてフリツプフロツ
プ４８がリセツトされ、又端子４１よりフリツプ
フロツプ５８もリセツトされる。これによりフリ
ツプフロツプ４３，４４，４５，４８の出力端子
Ｑがそれぞれ低レベルとされる。この状態におい
てフリツプフロツプ４３，４４の各出力はレベル
変換器５１を通じて第１、第２積分器２５，３１
のスイツチ２９，３５をオンの状態としており、
つまりリセツト状態とし、又フリツプフロツプ４
４の出力によつてスイツチ３７はオンになつてい
る。

この状態で端子５２より例えば第６図Ｂに示す
ように時点t₁に第１図における測定時間T_Xの立
上りを示すパルスP_bが入力されると、これはオ
アゲート５３を通じてフリツプフロツプ４３のト
リガ端子に与えられてこの時点t₁においてフリツ
プフロツプ４３の出力端子Ｑは第６図Ｄに示すよ
うに高レベル信号P_dを出力する。これにより第
１積分器２５のリセツトスイツチ２９がオフとな
つて第１積分器２５は端子３８の電圧＋E₁を積
分し始める。その積分出力P_fは第６図Ｆに示すよ
うに漸次出力が低下する。フリツプフロツプ４３
の出力端子Ｑの高レベル信号P_dはフリツプフロ
ツプ４５のデータ端子に与えられているため、端
子５４よりの第６図Ｃに示す第１クロツクパルス
の時点t₁の直後のパルスP_C0によつてフリツプフ
ロツプ４５の出力端子Ｑが高レベルとなつてその
出力によつてアンドゲート５６が開かれ、従つて
端子５４のクロツクがアンドゲート５６を通過す
ることができるようになる。このアンドゲート５
６の出力はカウンタ４６によつて計数される。

この第５図、第６図の例においては先のｎ＝２
の場合でカウンタ４６はｎ＝２を計数すると出力
が得られるようにされる。即ちカウンタ４６がク
ロツクの数を２個数えるとその時点t₂でフリツプ
フロツプ４４がセツトされてその出力が第６図Ｅ
に示すように高レベルとなり、この高レベルによ
つてスイツチ３５，３７がオフとされ、第１積分
器２５の積分動作が停止され、その第１積分器２
５の出力には例えば第６図Ｆに示すように電圧
V₁が得られる。又この時点t₂において第２積分器
３１のリセツトスイツチ３５がオフとされて第２
積分器３１は積分動作を開始し、その出力は第６
図Ｇに示すように漸次低下する直流信号P_gが得
られる。第２積分器３１の出力と第１積分器２５
の出力とが比較器３６で比較される。

フリツプフロツプ４４の出力端子Ｑはアンドゲ
ート５７の一方の入力端子に接続されている。ア
ンドゲート５７の他方の入力端子には端子６１よ
り第６図Ｌに示すように端子５４の第１クロツク
P_cに比べて充分早い第２クロツクP_lが与えられて
いる。従つて時点t₂からはフリツプフロツプ４４
の出力が高レベルとなるため、ゲート５７が開い
て端子６１よりの高速度クロツクがゲート５７を
第６図ＭにP_n1として示すように通過し、出力端
子６７から出力される。比較器３６において第２
積分器３１の出力がV₁に一致したことが検出さ
れるとその出力が高レベルとなつてこれがオアゲ
ート４２に与えられ、よつてフリツプフロツプ４
３，４４，４５がリセツトされるとともにカウン
タ４６がリセツトされる。その結果比較器３６の
各入力は初期状態となるから比較器３６の出力は
低レベルとなり、第６図Ｈに示すようにパルス状
の信号P_hとなる。

フリツプフロツプ４４がリセツトされて出力端
子Ｑが低レベルになつた時点t₃においてフリツプ
フロツプ５８がセツトされその出力端子は第６
図Ｉに示すように低レベルに立下り、その立下り
によりタイマ６２が駆動され、第６図Ｊに示すよ
うにタイマ６２の出力P_jが一定時間T_aの期間だ
け高レベルとなつたのち時点t₄において低レベル
となつてその立下りによりフリツプフロツプ４８
がセツトされ、その出力P_kが第６図Ｋに示すよ
うに時点t₄において高レベルとなる。尚タイマ６
２から出力される信号P_jは出力端子６５から後述
するラツチ指令信号として出力される。

フリツプフロツプ４８の出力端子Ｑが高レベル
に反転することによつてゲート６３が開かれ、よ
つて時点t₄の次に端子５４にクロツクP_c0が与え
られるとそのクロツクP_c0はゲート６３と５３を
通じてフリツプフロツプ４３に与えられ、時点t₅
においてフリツプフロツプ４３の出力端子Ｑは第
６図Ｄに示すように高レベルとなる。よつて第６
図Ｆに示すように第１積分器２５が時点t₅より再
び積分動作を開始する。一方タイマ６２の立上り
によりフリツプフロツプ４５がプリセツトされ出
力端子Ｑに高レベルを出力する。このためゲート
５６が開に制御されクロツクP_c0の次のクロツク
P_c1がカウンタ４６とフリツプフロツプ４８のリ
セツト端子に与えられる。これによりフリツプフ
ロツプ４８がリセツトされてその出力端子Ｑは第
６図Ｋに示すように低レベルとなるとともにクロ
ツクP_c1はカウンタ４６で計数される。尚フリツ
プフロツプ４８の出力P_kは出力端子６６から後
述するクリヤ信号として出力される。

カウンタ４６は次のクロツクP_c2を計数すると
桁上信号を出力し、時点t₆においてフリツプフロ
ツプ４４をセツトし、その出力を第６図Ｅに示す
ように高レベルに反転させ、第２積分器３１を積
分動作させる。第２積分器３１の出力P_gは第６
図Ｇに示すように低下し、これとともにフリツプ
フロツプ４４の出力P_eによつてゲート５７が再
び開かれ、時点t₆より端子６１に与えられている
第２クロツクP_lはゲート５７を通過し、第６図Ｍ
にP_n2として示すように出力端子６７から出力さ
れる。

第２積分器３１の出力P_gがその時の第１積分
器２５の出力P_f、V₂と一致するとその時点t₇にお
いて先の場合と同様に比較器３６の出力が高レベ
ルとなつてゲート４２を通じてフリツプフロツプ
４３，４４，４５がリセツトされ、更にカウンタ
４６がリセツトされ初期状態に戻る。

以上のようにして第１図の測定時間T_Xの立上
りより△T₁＋nT₀とnT₀の二つの時間に対応した
数の高速クロツクP_n1とP_n2がゲート５７より出
力端子６７に得られる。被測定時間T_Xの終りの
時点においてもそのトリガが入力端子５２に与え
られることによつてこれと対応する△T₂＋nT₀と
nT₀の二つの時間に対応した数の高速クロツク
P_n1、P_n2が得られ、同様にして自動的に測定さ
れる。

次にこのような微少な時間測定を利用して第１
図Ａに示す被測定時間T_Xを測定する場合につい
て第７図及び第８図を参照して説明しよう。第７
図の端子４１より第８図Ａに示すようなリセツト
パルスが与えられて初期状態にリセツトされる。
この状態において端子６８より第８図Ｂに示す被
測定時間T_Xのパルスが微分回路６９に与えられ、
第８図Ｃ及びＤに示すようなその立上り微分出力
及び立下り微分出力が第１及び第２端数時間測定
部７１及び７２にそれぞれ与えられる。この等端
数時間測定部７１，７２は第５図に示したものと
同一構成を持つている。従つてこれ等には端子４
１よりセツトパルスが与えられ、又端子５４より
第１クロツクP_cが、更に端子６１から高速度の第
２クロツクP_lがそれぞれ供給される。

端数時間測定部７１においては先に述べたよう
にして時間幅△T₁＋nT₀、nT₀のパルスが作ら
れ、これ等に対応した数の第２クロツクP_n1と
P_n2が端子６７ａに出力される。端子６７ａに出
力される△T₁＋nT₀に対応したクロツクP_n1はカ
ウンタ７４にてカウントされ、カウント終了時に
端子６５ａに出力されるラツチ指令信号によりラ
ツチ回路７３に取込まれる。ラツチ指令が与えら
れてラツチ回路７３にデータを取込むのと同時に
出力端子６６ａにクリヤ信号が出力されカウンタ
７４はクリヤされ、次に出力されるクロツクパル
スP_n2の計数に備える。カウンタ７４がクリヤさ
れると次に出力端子６７ａにnT₀に対応したクロ
ツクパルスP_n2が出力されこれが計数される。

一方この端数時間測定部７１の第５図のフリツ
プフロツプ４４から出力されるゲート開閉信号
P_e（第６図Ｅ）がフリツプフロツプ７５のトリガ
端子Ｔに与えられており、このフリツプフロツプ
７５は予めリセツトされ、かつそのデータ端子Ｄ
には高レベルが与えられている。従つて端子６４
からの最初のパルス立上り（第６図Ｅの時点t₂）
でフリツプフロツプ７５のＱ出力は第８図Ｆに示
すように高レベルとなり、この出力はゲート７６
に与えられる。一方端子４１よりのリセツトパル
スにより予めリセツトされたフリツプフロツプ７
７の出力が第８図Ｉに示すように高レベルとし
てゲート７６に与えられている。又このゲート７
６には端子５４より第８図Ｅに示す第１クロツク
パルスが与えられている。従つて時点t₂より第１
クロツクパルスが第８図Ｊに示すようにゲート７
６を通過してカウンタ７８に計数される。

第２端数時間測定部７２においては被測定時間
T_Xの終りのパルス（第８図Ｄ）が与えられ、こ
れにより時間幅△T₂＋nT₀に対応した数の第２ク
ロツクパルスP_n1が出力端子６７ｂに現われる。
このパルスP_n1はカウンタ８２に計数される。こ
の計数終了時点でラツチ指令信号が出力端子６５
ｂから出力されカウンタ８２の計数値をラツチ回
路８１に取込む。これとともに出力端子６６ｂか
らクリヤ信号が出力されカウンタ８２はクリヤさ
れる。カウンタ８２がクリヤされると続いてnT₀
に対応したクロツクパルスP_n2が出力端子６７ｂ
から出力され、このクロツクパルスP_n2がカウン
タ８２に計数される。

ラツチ回路７３及びカウンタ７４に取込まれた
計数値T_C1、T_D1と、ラツチ回路８１及びカウン
タ８２に取込まれた計数値T_C2、T_D2及びカウン
タ７８に取込まれた計数値Ｍはそれぞれ演算器８
３に与えられ、演算指令信号９１（第８図Ｋ）が
適当な時期に発生される。演算器８３ではこれら
計数値T_C1、T_D1、T_C2、T_D2及びＭを利用して第
（13）式により、 T_X＝MT₀＋Ａ｛T_C1−T_D1｝｛１−T_D1−Ｂ／Ｂ｝＋ Ａ｛T_C2−T_D2｝｛１−T_D2−Ｂ／Ｂ｝を演算して求め ることができる。

ここでこの演算を更に高速化することができる
方法を説明する。

(1) 第７図における計数器を全て10進形のものと
する。

(2) 第１クロツクP_cの周期T₀を10のベき乗値
（例えば10^-7＝100ナノ秒）に選定する。

(3) t₀／Ｋ の値を10のベき乗値（例えば25ナノ秒／2500＝
10^-11秒＝10ピコ秒）に選定する。

(4) nT₀を拡大したときの基準値の値Ｂを10のべ
き乗値（例えばＢ＝10⁵）に選定する。

(5) 第（13）式は次のように書換えることができ
る。

T_X＝10^-7M＋10^-11｛（T_C1−T_D1）−10^-5（T_C1−
T_D1）（T_D1−10⁵）｝−10^-11 ｛（T_C2−T_D2）−10^-5（T_C2−T_D2）（T_D2−
10⁵）｝ ……(14) 第(14)式によれば全ての演算が加減算と乗算に
より処理できるため演算時間を従来の割算方式
と比較して1/3〜1/5程度に短縮することができ
る。よつてそれだけ測定時間を短かくできるこ
とから分解能が高い時間間隔測定を行なうこと
ができる。

またnT₀に相当する時間T_D1及びT_D2を測定
し、これを補正値として利用するから測定精度
も高く採ることができる。

尚第９図に示すように積分器２５及び３１の出
力を差動増幅器８７でその差を増幅し、その出力
を比較器３６でゼロレベルと比較するように構成
して差動増幅器８７の利得を上げることによつて
検出能力を高めることにより測定精度を上げるこ
とができる。またこの発明は時間幅の測定を一般
的に行なうのみならず、周期の測定が更にその逆
数をとつて周波数の測定にも利用することができ
る。

【図面の簡単な説明】

第１図は従来の時間測定装置を説明するための
タイムチヤート、第２図は従来の時間測定装置を
示す接続図、第３図はこの発明による時間測定装
置の要部である時間幅伸張部分の具体例を示す接
続図、第４図は第３図の動作の説明に供するため
の波形図、第５図はこの発明による時間測定装置
の一例を示す論理回路図、第６図は第５図の説明
に供するためのタイムチヤート、第７図はこの発
明を時間測定装置に適用した例を示すブロツク
図、第８図は第７図の動作の説明に供するための
タイムチヤート、第９図は時間伸張部の他の例を
示す接続図である。 ２５，３１：第１、第２積分器、３６：電圧比
較器、８３：演算器。

Claims (1)

1. 【特許請求の範囲】 １ Ａ 端数時間の始まりで積分動作を開始し第
   １測定時間の後その時点における積分電圧を保
   持する第１積分器と、 Ｂ この第１積分器の積分速度より遅い積分速度
   を持ち上記第１積分器の積分動作が終了した後
   に積分動作を開始する第２積分器と、 Ｃ これら第１と第２積分器の積分電圧が互に一
   致するまでの時間を上記第１測定時間の拡大時
   間として検出する電圧比較器と、 Ｄ 一致が得られた後速やかに上記第１、第２積
   分器の積分電圧を放電させ引き続いて上記第１
   測定時間に含まれる固定時間分を第２測定時間
   として測定する手段と、 Ｅ 上記第１測定時間の拡大率を1/A、第２測定
   時間の理想拡大値をＢ、第１測定時間をT_C、
   第２測定値をT_Dとしたとき Ａ｛T_C−T_D｝｛１−T_D−Ｂ／Ｂ｝ を演算する演算手段と、 から成る時間測定装置。