JPS6025483A - 時間測定装置 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 定する際に、そのクロック周期に対する端数を拡大して
測定する場合に適用される時間測定装置に関する。

して第１図Ｃに示すゲート出力を得て、そのゲートされ
たクロックパルスの数？ｌ計数すると共に第１図ＤＫ示
すように被測定時間ＴＸの始めからその直後のクロック
パルスまでの間隔△Ｔ１、また第１図Ｅに示すように被
測定時間ＴＸの終シがらその直後のクロックパルスまで
の間隔△Ｔ２′ｆ：それぞれ作シ、これ等△ＴＩ、△Ｔ
２を第１図Ｂのクロック周期し、或は△Ｔ１及び△Ｔ２
をそれぞれ時間伸張してそれぞれ測定し、これ等の測定
値からＮ＋△Ｔ１＝△Ｔ２をめて被測定時間Ｔｘとして
高い精度の測定値が得られる。

この場合△Ｔ１及び△Ｔ２はそれぞれ非常に短かいため
、時間幅を伸張して測定することによ”って安価な構成
で高い精度の測定を行なうことができる。

しかし△Ｔ１及び△Ｔ２は０からＴ。の間の値を取シ、
０に近い非常に小さな時間の場合には、時間幅の伸張に
用いられる時間電圧変換器の変換特性における非直線部
分に入るおそれがあった。また時間電圧変換器の変換特
性が周囲温度の影響を受ける。

これらの点より第１図Ｆに示すように例えば端数時間△
Ｔ１の測定に当って一定時間Ｔ。を伺加した時間△Ｔ１
＋”ＴＯ（図はｎ−１の場合）のパルスと、その一定時
間ｎＴｏよシも大きい一定時間（ｎ＋１）′ｒｏのパル
スと、更にｖｉＪ記付加した一定時間ｎＴ０のパルスと
の三つのパルスを作り、これら三つのノくルスを時間幅
伸張してそれぞれの時間を測定し、その測定結果より次
式を演算して （Ｋは時間幅伸率で決る倍率指数）△Ｔ１を測定するこ
とが特願昭５．６−３７４４８号「時間測定装置」で提
案されている。この従来装置においては次のようにして
時間幅伸張を行なっていた。即ら△Ｔ、　＋ｎＴＯ、（
＋１＋１　）ＴＯ、ｎＴｏのそれぞれについて、その時
間の間第１積分器で一定電圧を積分し、その後その第１
積分器よりも積分速度が遅い第２積分器で一定電圧を積
分し、これら第１積分器及び第２積分器の出力を電圧比
較器で比較し、両者が一致した時点で第２積分器の積分
を停止させる。

このとき第２積分器の積分期間が入力に対する伸張され
た時間となる。このようにして△Ｔ、　＋ｎ　Ｔｏ、。

（ｎ＋１）Ｔｏ、ｎＴｏのそれぞれについて時間伸張さ
れる。時間伸張された測定結果を基に上記した第（１）
式を演算する。第（１）式によれば測定時間の比がめら
れる。このように時間の比をめることにより積分器等の
アナログ回路の温度変動に伴うドリフト等の影響を除去
することができる。

〈従来の欠点〉 このように従来の時間測定装置は一つの時間を測定する
のに三つの時間へ’ｒ１＋ｎ’ｒｏ、（ｎ＋１）Ｔｏ。

ｎＴｏ及び△’ｒ２＋ｎ’Ｉ’。、（ｎ＋１）Ｔｏ　、
ｎ、’Ｉ’ｏをそれぞれ拡大測定しなければならないこ
とと、上記した第（１）式を演算しなければならないた
め測定に時間が掛る欠点がある。

つまシ第（１）式の演算は時間の比をめてアナログ回路
の温度変化に伴うドリフト等による影響を除去するため
の割算である。割算動作は周知のように多くの減算動作
によって実行されるため演算結果が出るまでに時間が掛
る欠点がある。

端数時間の測定に時間が掛ることがら従来の時間測定装
置では測定できる時間間隔の分解能は良くても１００ピ
コ秒程度が限界となる。

〈発明の目的〉 この発明は測定できる時間間隔の分解能を１０ピコ秒程
度の高分解能とすることができる時間測定装置を提供し
ようとするものである。

〈発明の実施例〉 第３図はこの発明による時間測定装置の要部である時間
幅伸張部の一例を示す。時間幅伸張部には第１積分器２
５と第２積分器３１が設けられる。

第１積分器２５は演算増幅器２６、その入力積分抵抗器
２７、入出力端間に接続された積分コンデンサ２８及び
積分コンデンサ２８と並列に接続されたリセットスイッ
チ２９とから構成される。

第２積分器３１は第１積分器２５の積分速度よりも遅い
積分速度に設定される。つまシ第２積分器３１は同様に
演算増幅器３２、入力積分抵抗器３３、積分コンデンサ
３４、リセットスイッチ３５によって構成される。積分
器２５．３１の出力は比較器３６で比較し両出力電圧の
一致を検出する。

また第１積分器２５の入力倶］はスイッチ３７を通じて
一定電圧Ｅ１が与えられた端子３８に接続し、第２積分
器３１の入力側は端子３８に直接接続する。この例では
積分される電圧、つまり入力電圧が両種分器２５．３１
に対し、同一値とされているため、第１積分器２５の積
分時定敬よシも第２積分器３１のそれを大として第２積
分器３１の積分速度を遅くしている。しかし第１積分器
２５０入力電圧よシ第２積分器３１のそれを絶対顧で小
さな値に選定し、これによって積分速度を遅くしてもよ
い。或は積分時定数と、入力電圧との両者を異ならして
第２積分器３１の積分速度を遅くしてもよい。

第４図Ａに示す時間Ｔを伸張するには１．先ずスイッチ
２９，３５．３７をオンとしておき、時間Ｔの間リセッ
トスイッチ２９のみをオフとして積分器２５で喘子３８
の電圧を積分し、第４図Ｂに示す出力を得る。次にスイ
ッチ３７をオフとし、スイッチ３５をオフにして第２積
分器３１で積分を行ない、第４図Ｃに示すような積分出
力を得る。

この積分出力が第１積分器２５の出力−■１と一致する
と、第４図りに示すように比較器３６の出力が反転する
。積分器３１の積分開始から比較器３６の出力が反転す
るまでの期間αＴが時間Ｔを伸張した時間となる。尚第
１積分器２５の積分が終った後に成る時間をおいてから
第２積分器３１を動作させてもよい。

この発明においては第３図に示した時間幅伸張部によっ
て△Ｔ＋ｎ　ＴｏとｎＴｏを伸張した時間’ｒｅ　、　
’ｒＤを測定し、この二つの時間’ｒｅ　、　’ｒＤか
ら第（２）式を演算し、被測定時間ＴｘＯ前縁と後縁で
発生する端数時間△Ｔａ、△Ｔｂをそれぞれめるもので
ある。

△Ｔａ及び△Ｔｂ二Ａ　（Ｔｃ　Ｔｖ　）　（１−”−
”）　−−（２）ここでＡは時間伸張の際の拡大率の逆
数、Ｂは固定時間ｎＴｏの理想拡大値である。

第（２）式の導出は次の如くである。

第１、第２積分器２５．３１の時定数をＲＩ”ｃｌ及び
Ｒ２・Ｃ２とし、積分器２５．３１に与える人となるよ
うに選定する。ここでＥｌ・Ｒ２・Ｃ２／）Ｃ２・Ｒ，
・（、ｓ−Ｋをアナログ部の時間拡大率と定義する。

この発明においては測定すべき時間は被測定時間ＴｘＯ
前縁と後縁のそれぞれにおいて△Ｔ、＋ｌＩＴ。

とｎＴｏ及び△’ｒ２＋ｎ’ｒｏとｎＴｏの二種類であ
る。この二種類の時間を時間伸張して測定全行なう。時
間伸張後の二種類の時間’ａｌ・’ａ２及びｔｂ＋・Ｉ
）２は既知の周期ｔ。を持つクロックを計数することに
よって測定される。以下説明を簡素化するために時間伸
張後の時間を前縁側及び後縁側の別なくｔｌ。

ｔ２として表示する。計数されたクロックの数をｓ、。

Ｓ２とすると、伸張後の時間１．　、１２はｔ、＝Ｓ、
　・ｔｏ＝Ｋ（△Ｔｏ＋ｎＴｏ）　・・・・・・・・・
（３）’２　＝　３２　”　ｏ　＝　Ｋ”　”Ｔｏ　”
”・”””・（４）となる。これらの関係から △Ｔｏ　”　”（Ｓｔ　８２） え　・・・・・自・・・・・（５） がＩｉＪられる。ここでｔ。／には一定値として扱われ
る。

ここでアナログ部に何らかの変動要因が加わり、時間伸
張率ＫがＫからに±ΔＫ（ΔＫ＞０）ｔｃ’＆化した場
合を考える。Ｋかに±ΔＫＫ変化した場合に時間伸張し
た時間弓及びｔＡのそれぞれのクロック計数値ｔ　Ｓ；
　、Ｓ′２とすれば第（５）式から△”　”Ｋ＋６Ｋ（
ｓ：　”””　）　”’・月・・・・・（６）が真値と
なるが、補正を実施しなかった場合、即ちＫの変動を考
慮しない場合には −０１１ △Ｔ　−−（Ｓｔ　−Ｓ、）　・・・・・・・す・・（
７）として扱われ、第（６）式との差分が誤差となり精
密測定には使えないことがわかる。

このため第（６）式よシ △Ｔ−−二’　（Ｓ；５２） Ｋ±Δに ΔＫ　゛ （□（１による近似） ここで第（４）式よシ ５２ｔｏ−（Ｋ±ΔＫ　）　ｎ　Ｔｏ　−・・−・−・
（ｓ）第（８）式と第（４）式より が得られるから （Ｓ２　５ｌｌ）　・・・・・・・・・・・・・・・（
１０）となる。第（１０）式において第２項がアナログ
部の時定数等がドリフトすることによって発生した誤差
分である。

第（１０）式は と）！１替ることができる。ｔｏ／に＝　Ａ　、　５２
＝Ｂ　、第１測定時間Ｓ：をＳ：　＝　’Ｉ’ｃ、第２
測定時間Ｓ：をＳニー丁りとおけば、被測定時間Ｔｘ　
Ｃ’Ａ’Ｊ縁側の端数時間Ｔ。

と後縁側端数時間Ｔｂは ・・・・・・・・・・・’　、（１２）となる。

前縁側の測定値をＴＣＩ　＋　ＴＤＩ　、後縁側の測定
値をＴｅ３　＋　ＴＤ２　、クロックＰｃの計数値をＭ
とすれば被測定時間Ｔｘは によりめることができる。この式において第２項が被測
定パルスの前縁側の端数時間、第３項が後縁側の端数時
間を示す。

次に第５図を参照してこの発明による時間測定装置の具
体例を説明しよう。端子４１に第６図Ａに示すようにリ
セットパルスがオアゲート４２を通じてフリップフロッ
プ４３．４４のリセット端子に、更にフリップフロップ
４５に与えられ、又カウンタ４６のリセット端子に与え
られる。端子４１よジオアゲート４７を通じてフリップ
フロップ４８がリセットされ、又端子４１よシフリップ
フロップ５８もリセットされる。これによυフリップフ
ロップ４３，４４，４５．４８の出力端子Ｑがそれぞれ
低レベルとされる。この状態においてプリップフロップ
４３．４４の各出力はレベル変換器５１を通じて第１、
第２積分器２５．３１のスイッチｊ９　、３５をオンの
状態としており、つまりリセット状態゛と゛し、又フリ
ップフロシブ４４の出力によってスイッチ３７はオンに
なっている。

この状態で端子５２より例えば第６図Ｂに示すように時
点ｔ１に第１図における測定時間ＴＸの立上りを示すパ
ルスＰｂが入力されると１、これはオアゲート５３を通
じてフリップフロップ４３のトリガ端子に句えられてこ
の時点ｔ１においてフリップフロップ４３の出力端子Ｑ
は第６図りに示すように高レベル信号Ｐｄを出力する。

これにより第１積分器２５のリセットスイッチ２９がオ
フとなって第１積分器２５は端子３８の電圧子Ｅ１を積
分し始める。その積分出力Ｐｆは第６図Ｆに示すように
漸次出力が低下する。フリップフロップ４３の出力端子
９の１１：」レベル信号Ｐｄはフリップフロップ４５の
データ錦１子に与えられているため、端子５４よシの第
６図Ｃに示す第１クロツクパルスの時点ｔ１の直後のパ
ルスＰＣＯによってフリップフロップ４５の出力端子Ｑ
が高レベルとなってその出力によってアンドゲート５６
が開かれ、従って端子５４のクロックがアンドゲート５
６を通過することができるようになる。このアンドゲー
ト５６の出力はカウンタ４６によって計数される。

この第５図、第６図の例においては先の１１＝２の場合
でカウンタ４６はｎ＝２を計数すると出力が得られるよ
うにされる。即ぢカウンタ４６がクロックの数を２個数
えるとその時点ｔ２でフリップフロップ４４がセットさ
れてその出力が第６図Ｅに示すように高レベルとなシ、
この高レベルによってスイッチ３５．３７がオフとされ
、第１積分器２５の積分動作が停止され、その第１ｆｉ
！を分器２５の出力には例えば第６図Ｆに示すように電
圧ｖｌが得られる。又この時点ｔ２において第２積分器
３１のリセットスイッチ３５がオフとされて第２桔分器
３１は積分動作を開始し、その出力は第６図Ｇに示すよ
うに漸次低下する直流信号Ｐｇが（１ｔられる。

第２積分器３１の出力と第１積分器２５の出力とが比較
器３６で比較される。

ブリップフロップ４４の出力端子Ｑはアントゲ−１−５
７の一方の入力端子に接続されている。アンドゲート、
５７の他方の入力端子には端子６１より第６図りに示す
ように端子５４の第１クロックＰ、に比べて充分早い第
２クロックＰ、が共１ｎに与えられている。従って時点
ｔ２からはフリップフロップ４４の出力が高レベルとな
るため、ゲート５７が開いて端子６１よシの高速度クロ
ックがゲート５７を第６図ＭにＰｆ］１１として示すよ
うに通過し、出力端子６７から出力される。比較器３６
において第２積分器３１の出力がＶｌに一致したことが
検出されるとその出力が高レベルとなって第６図Ｈに示
すようにパルスＰｂを発生し、これがオアゲート４２に
与えられ、よってフリップフロップ４３゜４４．４５が
リセットされるとともにカウンタ４６がリセットされる
。

ブリップソロツブ４４がリセットされて出力端子Ｑが低
レベルになった時点ｔ８においてフリップフロップ５８
がセットされその出力端子互は第６図■に示すように低
レベルに立下り、その立下りによシタイマ６２が駆動さ
れ、第６図Ｊに示すようにタイマ６２の出力Ｐ、が一定
時間Ｔａの期間だけ高レベルとなったのち時点ｔ４にお
いて低レベルとなってその立下シによりフリッププロッ
プ４８がセットされ、その出力ＰＩＣが第６図Ｋに示す
ように時点ｔ４において高レベルとなる。尚タイマ６２
から出力される信号Ｐｊは出力端子６５から後述するラ
ッチ指令信号として出力される。

フリップフロップ４８の出力端子Ｑが高し・くルに反転
することによってゲート６３が開かれ、よって時点ｔ４
の次に端子５４にクロックｐｅａがりえられるとそのク
ロックＰｃｏはゲート６３と５３を通じてフリップフロ
ップ４３に与えられ、時点ｔ５においてフリップフロッ
プ４３の出力端子Ｑは第６図りに・示すように高レベル
となる。よって第６図Ｆに示すように第１積分器２５が
時点【５より再び積分動作を開始する。一方タイマ６２
の立上りによシフリップフロップ４５がプリセットされ
出力端子Ｑに高レベルを出力する。このためゲート５６
が開に制御されクロックＰＣＯの次のクロックＰＣＩが
カウンタ４６とフリップフロップ４８のリセット端子に
与えられる。これによシフリップフロップ４８がリセッ
トされてその出力端子Ｑは第６図Ｋに示すように低レベ
ルとなるとともにクロックＰｃｔはカウンタ４６で計数
される。尚フリップフロップ４８の出力Ｐｋは出力端子
６６から後述するクリヤ信号として出力される。

カウンタ４６は次のクロックＰＣ□を計数すると桁上信
号を出力し、時点ｔ６においてフリップフロップ４４を
セットし、その出力を第６図Ｅに示すように高レベルに
反転させ、第２積分器３１を積分動作させる。第２積分
器３１の出力Ｐ２は第６図ＧＫ示すように低下し、これ
とともにフリップフロップ４４の出力Ｐｅによってゲー
ト５７が１１び開かれ、時点ｔ６よ多端子６１に与えら
れている第２クロツクＰノはゲート５７を通過し、第６
因ＭＫＰｍ２として示すように出力端子６７から出力さ
れる。

第２積分器３１の出力Ｐｇがその時の第１積分器２５の
出力Ｐ（、Ｖ２と一致するとその時点ｔ７において先の
場合と同様に比較器３６の出力が高レベルとなってゲー
ト４１を通じてフリップフロップ４３．４４．４５がリ
セットされ、更にカウンタ４６がリセットされ初期状態
に戻る。

以上のようにして第１図の測定時間Ｔｘの立上りよシ△
Ｔ、　十ｎ　ＴｏとｎＴｏの二つの時間に対応した数の
高速クロックＰｍ、とｐｒｎ　Ｑがゲート５７よ多出力
端子６７に得られる。被測定時間Ｔｘの終りの時点にお
いてもそのトリガが入力端子５２に与えられることによ
ってこれと対応する△Ｔ２＋ｎＴｏとｎＴ。

の二つの時間に対応した数の高速クロックＰｌｎｌ　Ｉ
ＰＩｎ２が得られ、同様にして自動的に測定される。

次にこのような微少な時間測定を利用して第１図Ａに示
す被測定時間ＴＸを測定する場合について第７図及び第
８図を参照して説明しよう。第７図の端子４１よシ第８
図Ａに示すようなリセットパルスが与えられて初期状態
にリセットされる。この状態において端子６８よシ第８
図Ｈに示す被測定時間Ｔｘのパルスが微分回路６９に与
えられ、第８図Ｃ及びＤに示すようなその立上り微分出
力及び立下シ微分出力が第１及び第２端数時間測定部７
１及び７２にそれぞれ与えられる。これ等端数時間測定
部７１．７２は第５図に示したものと同一構成を持って
いる。従ってこれ等には端子４１よりリセットパルスが
与えられ、父端子５４よシ第１タロツクＰ。が、更に端
子６１から高速度の第２クロツクＰ７がそれぞれ供給さ
れる。

端数時間測定部７１においては先に述べたようにして時
間幅へ’ｒ、　＋　ｎ’ｒｏ　＋　”　’ｒｏのパルス
が作られ、これ等に対応した数の第２クロツクＰｌｎｌ
とＰｍ２が端子６７ａに出力される。端子６．６８に出
力される△Ｔ、＋１ＩＴｏに対応したタロツクＰＩ：１
１１はカウンタ７４にてカウントされ、カウント終了時
に端子６５．３に出力されるラッチ指令信号によりラッ
チ回路７３に取込まれる。ラッチ指令が与えられてラッ
チ回路７３にデータを取込むのと同時に出力端子６６に
クリヤ信号が出力されカウンタ７４はクリヤされ、次に
出力されるタロツクパルスＰｍ２の計数に備える。カウ
ンタ７４がクリ−Ｖされると次に出力端子６７ａにｎＴ
ｏに対応したクロックパルスＰｍ２が出力されこれが計
数される。

一方この端数時間測定部７１の第５図のフリップフロッ
プ４４から出力されるゲート開閉信号Ｐｅ（第６図Ｅ）
力Ｓフリップフロップ７５０トリが端子Ｔに与えられて
おシ、このフリップフロップ７５は予めリセットされ、
かつそのデータ端子りには高レベルが与えられている。

従って端子６４からの最初のパルス立上り（第６図Ｅの
時点ｔ２）でフリップフロップ７５のＱ出力は第８図Ｆ
に示すように高レベルとなり、この出力はゲート７６に
与えられる。一方端子４１よシのリセットパルスによシ
予めリセットされたブリップフロップ７７の４出力が第
８図１に示すように高レベルとしてゲ−ｌ−７６に与え
られている。又このゲート７６には端子５４よシ第８図
Ｅに示す第１クロツクパルスが勺えられている。従って
１１４１点ｔ２より第１タロツクパルスが第８図Ｊに示
すようにゲート７６を通過してカウンタ７８に計数され
る。

第２端数時間測定部７２．においては被測定時間Ｔｘの
終シのパルス（第８図Ｄ）が与えられ、これにより１１
ＪＣ間幅△Ｔ２＋ｎ　Ｔｏに対応した数の第２クロツク
パルスＰｍ１が出力端子６７ｂに現われる。このパルス
Ｐｌｎｌはカウンタ８２に計数される。このｆｒｌ数終
了時点でラッチ指令信号が出力端子６５ｂから出力され
カウンタ８２の計数値をラッチ回路７３に取込む。これ
とともに出力端子６６ｂからクリヤ信号が出力されカウ
ンタ７４はクリヤされる。カウンタ７４がクリヤされる
と続いてｎＴｏに対応したクロックパルスＰＩｎ２が出
力端子６７ｂから出力され、このクロックパルスＰｍ２
がカウンタ８２に計数される。

ラッチ回路７３及びカウンタ７４に取込まれた計数値Ｔ
ｅｌ　＋　Ｔ’ｎｌと、ラッチ回路８１及びカウンタ８
２に取込まれた計数値ＴＣ２ｔ　ＴＤ２及びカウンタ７
８に取込まれた計数値Ｍはそれぞれ演算器８３にｉ＝ｉ
えられる。演算器８３ではこれら計数値ＴＣｉｌ＋ＴＤ
Ｉ　、　Ｔｅ３　、　ＴＤ２及びＭを利用して第（１３
）式によシ、 Ｔｘ＝　ＭＴ、　＋Ａ’（ＴＣＩ　−’ｒＤｌ　）　（
１−ＴＤｌ−Ｂ）’　＋Ａ　（Ｔｅ３　ＴＤ２　）　（
１−５）を演算してめることができる。

ここでこの演算を更に高速化することができる方法を説
明する。

（１）第７図における計数器を全て１０進形のものとす
る。

（２）第１クロツクＰ。の周期Ｔ。′ｆ：ｉｏのべき乗
値／２５００　＝　１０−”秒＝１０ピコ秒）に選定す
る。

（４）ｎＴ、を拡大したときの基堕値の値Ｂを１．０（
１のべ゛・き乗値（例えばＢ＝１０５）に選定する。

（５）第（１３）式は次のように書候えることができる
。

Ｔ）（７１（ｊ　７Ｍ＋１Ｏ−１１（（Ｔｃ＋　ＴＤｌ
　）−’１０”（Ｔｃ＋　ＴＤＩ　）（ＴＤＩ　’１０
５））　１０　”（（Ｔｅ３　ＴＤ２）　１Ｏ−５（Ｔ
ｅ３　ＴＤ２）（ＴＤ２−１０’））・・・・・・・・
・・・・　（１４） 第（１４）式によれば全ての演算が加威算と乗算により
処理できるため演算時間を従来の割算方式と比較して１
／３〜１１５程度に短縮することができる。よってそれ
だけ測定時間を短かくできることから分解能が高い時間
間隔測定に行なうことができる。

またｎＴｏに相当する時間ＴＤＩ及びＴＤ２を測定し、
これを補正値として利用するから測定精度も高く採るこ
とができる。

尚第９図に示すように積分器２５及び３１の出力を差動
増幅器８７でその差を増幅し、その出力を比較器３６で
ゼロレベルと比較するように構成して差動増幅器３７の
利得を上げることによって検出能力を高めることにより
測定精度を上げることができる。またこの発明は時間幅
の測定を一般的に行なうのみならず、周期の測定や更に
その逆数ヲとって周波数の測定にも利用１することがで
きる。

【図面の簡単な説明】

タイムチャート、第２図は従来の時間測定装置を示す接
続図、第３図はこの発明による時間測定装置の要部であ
る時間幅伸張部分の具体例を示す接続図、第４図は第３
図の動作の説明に供するだめの波形図、第５図はこの発
明による時間測定装置の一例を示す論理回路図、第６図
ｔよ第５図の説明に供するためのタイムチャート、第７
図はこの発明を時間測定装置に適用した例を示すブロッ
ク図、第８図は第７図の動作の説明に供するためのタイ
ツ・チャート、第９図は時間伸張部の曲の例を示す接続
図である。 ２５．３１：第１、第２積分器、３６：電圧比較器、８
３：演算器。 特許出願人　タヶダ理研工業株式会社 代　理　人　草　野　屯 オ　１　図 第２　図 ７３　閃 １ 第４　ｚ 手続補正書（自発） 昭和５８年１１月　２日 １事件の表示　特願昭５８−１３４８５４２発明の名称
　時間測定装置 ３、補市をする者 Ｉ：ｌＳ件との関係　特許出願人 タケダ理研工業株式会社 ４代　１４１　人　東京都新宿区新宿４−２−２１　和
積ビル（２）明細書４日２〜１１行「特願昭・・・・・
・・・・積分期間が」を［既に提案されている。この従
来装置においては第２図のようにして時間幅伸張を行な
っていた。即ち△Ｔ１＋ｎＴｏ、（ｎ＋１）Ｔｏ、ｎＴ
。 のそれぞれについて、その時間の間第１積分器１１で一
定電圧を積分し、その積分電圧をホールド回路１５，１
６．１７にそれぞれホールドさせ、その後その第１積分
器１１よりも持分速度が遅い第２積分器２１で一定電圧
を積分し、各ホールド回路１５．１６．１７のホールド
電圧及び第２積分器２１の出力を電圧比較器１９で比較
し、両者が一致した時点で第２積分器２１の積分を停止
させる。このとき第２積分器２１の積分期間が」と訂正
する。 （３）同書９頁５行、８行、１６行の式中「、へＴ。」
を「、へＴ」とそれぞれ訂正する。 （４）同書１２頁４行、２１頁１９イｊの式中れぞれ訂
正する。 （５）同偶１５頁６行１１１＝ａ［ｊｔ削除−ｒる。 （６）同書１５日１３〜１７行「第６図Ｈに・・・・・
・・・・リセットされる。」を「これがオアゲート４２
に勾えられ、よってフリップフロップ４３．４４゜４５
がリセット・されるとともにカウンタ４６がリセットさ
れる。その結果比較器３６の各入力は初期状態となるか
ら比較器３６の出力は低レベルとなり、第６図Ｈに示す
ようにパルス状のイ＝号Ｐｈとなる。」と訂正する。 （７）同書１６　ｔｒｉ　１ｓ行「立−ド９」を「立上
り」と副圧する。 （８）　同円ｘｓｃｑｚ行「ゲート４１」　を「ゲート
４２」とｉｌ正する。 （９）同書１９　ＬＴ　１１行「端子６６ａ」を「端子
６７ａ」と訂正する。 （１０）　同書１９じ１１７行　「端子６６」を「端子
６６ａ」と、τｊ市する。 （１１）　同；１４：　２１白６　（−ｊ　ｒ　７３に
取込む。」を［８１にｉｌｙ込む。」と訂正する。 （１２）　同ｉｔ４：　２１頁フィーｊ１８行「カウン
タ７４」を「カウンタ８２」とそれぞれ訂正する。 （１３）　同書２１　ｔ”ｒ　１６行「与えられる。Ｊ
、Ｉを「与えられ、演算指令信号９１（第８図Ｈ）が適
当な時期に発生される。」と訂正する。 ７−１ｔ （１４）　同書２２頁９何「直を「〒」と訂正する。 （１５）同書２３頁１４行「差動増幅器３７」を「差動
増幅器８７」と訂正する。 （１６）図面中温５図、第７図、第８図全添付図に訂正
する。 以上 特許請求の範囲 （ｉ）　Ａ、＋７：Ｍ数時間の始まシで゛積分動作を開
始し第１測定時間の後その時点における積分電圧を保持
する第１積分器と、 Ｂ、この第１積分器の積分速度より遅い積分速度を持ち
上記第１積分器の積分動作が終了した後に積分動作を開
始する第２積分器と、Ｃ０これら第１と第２積分器の積
分電圧が互に一致するまでの時間を上記第１測定時間の
拡大時間として検出する電圧比較器と、 Ｄ、一致が得られた俊速やかに上記第１、第２積分器の
積分電圧ｆ：放電させ引き続いて上記第１１１１１１定
時間に含まれる固定時間分を第２測定時間として測定す
る手段と、 Ｅ、上記第１測定時間の拡大率を１　第２測定Ａゝ 時間の理想拡大値をＢ、第１測定時間をＴｃ、第２測定
値をＴＤとしたとき Ａ　（Ｔｃ　Ｔｐ　）　（１−Ｔ！ｌ’−”）を演算す
る演算手段と、 から成る時間測定装置。 オフ　図 ７１７８　図 一一一一一一一−４］−一一一一

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. （１）Ａ、端数時間の始まシで積分動作を開始し第１測
   定時間の後その時点における積分電圧を保持する第１積
   分器と、 Ｂ、この第１積分器の積分速度より遅い積分速度を持ち
   上記第１積分器の積分動作が終了した後に積分動作を開
   始する第２積分器と、Ｃ１これら第１と第２積分器の積
   分電圧が互に一致するまでの時間を上記第１測定時間の
   拡大時間として検出する電圧比較器と、 Ｄ、一致が得られた俊速やかに上記第１、第２積分器の
   積分電圧を放電させ引き続いて上記第１測定時間に含ま
   れる固定時間分を第２１１１１定時間として測定する手
   段と、 Ｅ、上記第１１１ｔｌＪ定時間の拡大率を１、第２測定
   時間の理想拡大値をＢ、第１測定時間をＴＣ％第２Ｉ則
   定（直をＴＤとしたとき 段と、 から成る時間測定装置。