JPS6332365A - 液中異物の計測システム - Google Patents

液中異物の計測システム

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JPS6332365A
JPS6332365A JP61175615A JP17561586A JPS6332365A JP S6332365 A JPS6332365 A JP S6332365A JP 61175615 A JP61175615 A JP 61175615A JP 17561586 A JP17561586 A JP 17561586A JP S6332365 A JPS6332365 A JP S6332365A
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Shozo Sakai
酒井 正三
Masayoshi Ezawa
江澤 正義
Shigeru Wakana
若菜 茂
Toshiyuki Matsumoto
松本 敏志
Toshikazu Morishita
敏和 森下
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明は、電子管、電子デバイス等に使用される構成部
品の清浄化および清浄後の構成部品の清浄度の評価に好
適な液中異物の計測システムに関するものである。
〔従来の技術〕
従来、この種の液中異物の計測装置には、断続方式によ
る粒径5〜100μs程度の異物を計測する超音波照射
形の異物計測方式と、粒径0.5〜60tm程度の異物
を計測するレーザ光線照射形の異物計測方式とが用いら
れていた。
なお、このような液中異物の計測装置の構造は、例えば
昭和59年2月「第3回空気清浄とコンタミネーション
コントロールに関する技術研究大会」において発表され
た「液体中微粒子のオンライン測定」等に記載されてい
る。
〔発明が解決しようとする問題点〕
この種の液中異物の計測装置は、構成部品洗浄後の被検
体液を超音波照射法により異物粒子の計測を行なう場合
、5〜10a/lll1n程度の流量で異物レベルの測
定を行なっていたが1例えば流量が数百m Q /mi
n程度の低流量での粒子計測については全く配慮されて
いなかった。すなわち低流量計測では被検体液の流れの
線速度が小さくなり、異物粒子の沈降、付着が生じ、測
定誤差が大きくなり、測定精度が低下するという問題が
あった6本発明の目的は、被検体液の線速度を増大させ
被検体液中の異物を連続かつ高精度で計測することがで
きる液中異物の計測システムを提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明による液中異物の計測システムは、被検体液から
異物を検知する異物計測手段の被検体液入出口部を、異
物計測手段から配管方向に向かってフロー径を順次小さ
くさせたものである。
〔作用〕
本発明においては、異物計測手段のフロー径が配管方向
に向かって小さくしたことにより、異物計測センサ内の
被検体液に線速度を増大させる。
〔実施例〕
次に図面を用いて本発明の詳細な説明する。
第1図は本発明による液中異物の計測システムの一実施
例を示す構成図である。同図において。
1はサンプリング部であり、2は内部に電子管。
電子デバイス等に用いられる構成部品としての被検処理
体を浸漬し洗浄処理した洗浄液2aを収容する洗浄層、
3は撹拌器を有しがっ内部に粒径0゜5〜4 、9−の
異物が60000個/ 100 m Qおよび粒径5〜
100pの異物が5166個7100mAの割合で含む
モニタ校正用の標準液3aを収容した標準液貯水槽、4
は清浄部品評価洗浄液4aを収容した洗浄液槽、5は洗
浄部品、6は洗浄部品5の洗浄評価容器、7は清浄部品
評価被検液、8は内部に評価容器6および洗浄水8aを
収容し外部に超音波発生装置8bを有する超音波洗浄層
、9は洗浄液2aのサンプリングチューブ。
10は標準液3aのサンプリングチューブ、11は洗浄
液4aのサンプリングチューブ、12は被検液7のサン
プリングチューブ、13は各チューブ9,10.12内
に流れる各液測定用切換弁である。なお、これらの各液
は約20〜1000mα/分の流速で順次送流されてい
る。
また、20は超音波異物計測部であり、21は被検液中
の混在気体を脱気する真空脱気装置、22は被検液中の
粒径5〜100pの異物を検知する超音波異物センサ、
23は電源、24はマイコン、25はデイスプレィ、2
6はプリンタ、27は被検液を20〜1000 m Q
 7分の流速で吸引する吸引ポンプ、28は検液後の排
液チューブである。
また、30はレーザ異物計測部であり、このレーザ異物
計測部30は、被検液中の粒径0.5〜25tmの異物
を検知するレーザ光異物センサ31を有し、残部は前述
した超音波異物計測部20と同様に構成されている。
なお、前述した真空脱気装置21は、有機膜室内に有機
物からなるチューブを通し、この有機膜室内を真空とし
、この部分に被検液が通過する際有機チューブ内の被検
液中の混在気体を除去する有機膜製真空脱気装置または
低真空中で被検液を衝突板に噴霧し、低真空吸引による
液中混在気体を脱気する真空スプレー脱気装置が使用で
き、これらの脱気装置は、毎分20〜10100Oの速
度で送液される被検液中の混在気体1〜1100ppを
脱気する機能を有している。
また、前述した超音波異物センサ22は、第2図(a)
、(b)に断面図で示すように被検体液を流通させる例
えばアクリル樹脂等の透光体からなる円筒状のチャンバ
22aの両端部には口径が順次小さくなる漏斗状のフロ
ー絞り管22b、22cがそれぞれ一体的に結合され、
このフロー絞り管22b、22cの小口径端には被検体
液を流入出させる配管22d、22eが一体的に結合さ
れており、これらはアクリル樹脂等の透光体から形成さ
れている。また、このチャンバ22aの側面には円形状
の開口部が形成され、この開口部には音響レンズ22f
、クォーツクリスタル素子22gおよび超音波センサ2
2hからなるセンサ部221が設けられている。なお、
前述したチャンバ22aの長さL工は約150m、その
内径D□は約24mm、フロー絞り管22b、22cの
長さL2は約50mmおよび配管22d、22eの内径
D2は約8m程度の寸法を有して形成されている。
このように構成された超音波異物センサ22は、第3図
に示すようにチャンバ22a内に連続して流れる被検体
液4oの流路側面よりクォーツクリスタル素子22gに
約400Vの高周波電圧を印加して第3図に示すように
約15 M Hz超音波音圧に変換した超音波パルス4
1を1秒間に200回(2μ5ec1回)連続して繰返
し照射する。その超音波エネルギーは音響レンズ22f
で集束させ、円錐状に焦点を結ばせると、被検体液40
中に超音波が伝搬するため、その密度が最も高くなる領
域42での異物粒子43からの後方反射する反射エネル
ギー(粒子の大きさに比例する)を利用し、粒子1個か
らの1個の反射波をエコーとして返してくるため、反射
パルス受信ゲート44の約1゜4mmφ内の反射のみを
センサ22hで受ける。なお、45は超音波ビームであ
る。そして、1000回の発射パルス41によって返っ
て来た反射パルス計測値46,47.48をカウントパ
ルスに変換することにより、粒径5〜100岬の異物の
連続計測を行う。
また、前述したレーザ光異物センサ31は、第4図に示
すようにセンサセル31a内に連続して流れる被検液3
1bの流路測面より、He−Neレーザ31cをプリズ
ム31dで反射させ集束レンズ31fで集光したレーザ
光31sを照射し、被検液31b中の異物(粒径0.5
〜6otM)により散乱された光を集光レンズ31f′
で集め、高感度のフォトダイオード31gでその大きさ
および数量を検出することにより、粒径0.5〜25ρ
の異物の連続計測を行う。なお、非散乱はプリズム31
hで反射させ、フォトダイオード31gに入射されない
このような構成において、まず、製作された図示しない
例えば電子銃構体等の被検処理体を、洗浄槽2内に純水
を収容してその中に浸漬し、洗浄処理する。この場合、
この純水中には被検処理体の表面に付着していた各種粒
径の異物が除去され含有された洗浄液2aとなる。次に
洗浄処理された被検処理体は洗浄部品として評価容器6
内に収容し、洗浄液槽4からサンプリングチューブ11
を通して例えば純水等の洗浄液4aを供給し、超音波発
生装置7により超音波を連続的に照射して再洗浄し、清
浄部品5に付着残存していた異物をさらに除去して含有
させて清浄品評価被検液7とする。次にこの清浄品評価
被検液7およびモニタ校正用標準液3aは、それぞれサ
ンプリングチューブ12.10を通して各液測定用切換
弁13により切換えられ、超音波異物計測部20および
レーザ異物計測部30の各吸引ポンプ27により約10
0mfl/分の流速で各真空脱気装置21に導入され、
被検液7および標準液3a内に含有されている気泡、ガ
ス等の混在気体を十分に脱気させた後、超音波異物計測
部20では、被検液7および標準液3aが超音波異物セ
ンサ22に導入され。
第3図で説明したように粒径5〜100−の液中異物の
みが計測される。一方、レーザ異物計測部30では、同
様に脱気した被検液7および標準液3aがレーザ光異物
センサ31にそれぞれ導入され、第4図で説明したよう
に粒径0.5〜4.9tmの液中異物のみが計測される
。この結果、標準液3aは、前述した標準値(粒径0.
5〜4.9tInの異物粒子数60000個/loom
M、粒径5〜100−の異物粒子数5166/100w
Q)に対して変動係数が±15%以内で計測され、がっ
前述した被検処理体を全体の水流量を約20〜100o
ff+27分で洗浄した場合、評価容器6内の清浄品評
価被検液7中の異物は13000〜16000個/10
0taΩであった。また、製作後の被検処理体10本を
サンプリング部1で評価容器6内での超音波洗浄による
再洗浄を行わないで、初期の洗浄槽2のみによる洗浄後
、超音波異物計測部20で真空脱気装置21を通して計
測した結果、粒径5〜100pの付着異物の合計が30
000〜50000個/本(X、、=46000個/本
)テアッたのに対して本実施例の如き評価容器6内での
超音波洗浄による再洗浄を行った場合には3100〜6
2oO個/本(X=3700個/本)となり、連続的な
異物の計測が可能となる。ここで真空脱気装置21を用
いて液中異物を連続計測する場合、予め測定済みの異物
の粒子数および大きさの判明している既知試料を用い、
異物の大きさとその数の両者に対する照射超音波の反射
エネルギーとの関係曲線を作成し、マイコン24に記憶
させ、これと被検液中の異物によるそれぞれの超音波異
物センサ22による計測数を演算し、異物の数と大きさ
とをグラフ表示および作表し、同時にプリンタ26にプ
リントアウトおよびデイスプレィ25に表示することに
より、液中異物が連続計測される。
このように構成された液中異物の計測システムにおいて
、第2図に示したように超音波異物センサ22は、円筒
状の透光性チャンバ22aとこのチャンバ22aより内
径の小さい配管22d、22eとの間にフロー絞り管2
2b、22cを設けたことにより、チャンバ22a内に
流れる被検体液40の流量が前記寸法では100〜50
0mQ/minの場合、線速度が2〜10 m/win
と可変され。
異物粒子がチャンバ22aの内壁に付着、沈降されるこ
となく、チャンバ22a内を通過し、被検体液40中に
存在している異物粒子が全て連続的に検出することがで
きる。
また、この超音波異物センサ22は、そのチャンバ22
a、フロー絞り管22b、22cおよび配管22ci、
22eが透光性のアクリル樹脂から形成されているので
、内部に流れる被検体液40および異物粒子43の流れ
状況等が視認でき、内部の変化を一目でamすることが
できる。
なお、前述した実施例においては、超音波異物センサ2
2を構成するチャンバ22a、フロー絞り管22b、2
2cおよび配管22d、22eを透光性のアクリル樹脂
で形成した場合について説明したが、本発明はこれに限
定されるものではなく、テフロン、ポリ塩化ビニール等
の合成樹脂材で形成しても同様の効果が得られることは
勿論である。
また、前述した実施例においては、超音波異物センサ2
2を構成するフロー絞り管22b、22Cの形状を、断
面で三角形状とした場合について説明したが、本発明は
これに限定されるものではなく、第5図に示すように断
面で台形状をなすフロー絞り管22c’、第6図に示す
ように断面で楕円状をなすフロー絞り管220′あるい
は第7図に示すように断面で円形状をなすフロー絞り管
220″′であっても前述と全く同様の効果が得られる
〔発明の効果〕
以上説明したように本発明によれば、被検体液中の異物
を検知する超音波異物計測手段の被検体液入出口部を、
異物計測手段から配管方向に向かってフロー怪を順次小
さくさせたことにより、異物計測手段内の被検体液の線
速度が増大し、異物粒子を付着、沈降させることなく、
計測できるので、測定精度を向上させることができると
いう極めて優れた効果が得られる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による液中異物の計測システムの一実施
例を示す構成図、第2図は超音波異物センサを説明する
断面図、第3図は超音波異物センサの動作を説明する図
、第4図はレーザ光異物センサを説明する図、第5図な
いし第7図は本発明に係る超音波異物センサの他の実施
例を示す要部断面図である。 1・・・サンプリング部、2・・・洗浄槽、2a・・・
洗浄液、3・・・標準液貯水槽、3a・・・標準液、4
・・・洗浄液槽、4a・・・清浄部品評価洗浄液、5・
・・清浄部品、6・・・清浄評価容器、7・・・清浄部
品評価被検液、8・・・超音波洗浄槽、8a・・・洗浄
水、8b・・・超音波発生装置、9,10,11.12
・・・サンプリングチューブ、13・・・各液測定用切
換弁、20・・・超音波異物計測部、21・・・真空脱
気装置、21a・・・合成樹脂チューブ、21b・・・
真空チャンバ、21c・・・圧力センサ、21d・・・
コントロールボックス、21e・・・真空ポンプ、21
f・・・真空装置、22・・・超音波異物センサ、22
a・・・チャンバ、22b、22c、220′、220
1,220″ ・・・フロー絞り管、22d、22e・
・・配管、22f・・・音響レンズ、22g・・・クォ
ーツクリスタル素子、22h・・・超音波センサ、22
i・・・センサ部、23・・・電源、24・・・マイコ
ン、25・・・デイスプレィ、26・・・プリンタ、2
7・・・ポンプ、28・・・排液チューブ、30・・・
レーザ異物計測部、31・・・し−ザ光異物センサ、4
o・・・被検体液、41・・・超音波パルス、42・・
・領域、43・・・異物粒子、44・・・パルス受信ゲ
ート、45・・・超音波ビーム、46,47.48・・
・反射パルス計測値。 ¥ 見6図 弔7図 召

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、粒径および数量が異なる各種の異物を含有する被検
    体液と前記被検体液の既知量を含有する校正用標準液と
    を作製するサンプリング手段と、前記被検体液中に含有
    する異物を計測する異物計測手段とを備え、前記異物計
    測手段の被検体液入出口部を、該異物計測手段から配管
    方向に向ってフロー径を順次小さく形成したことを特徴
    とする液中異物の計測システム。
JP61175615A 1986-07-28 1986-07-28 液中異物の計測システム Expired - Fee Related JP2604726B2 (ja)

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Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS539593A (en) * 1976-07-15 1978-01-28 Tokyo Keiki Kk Suspension concentration measuring instrument
JPS61247958A (ja) * 1985-04-26 1986-11-05 Suzuki Motor Co Ltd 濃度測定装置

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