JPS6332173B2

JPS6332173B2 -

Info

Publication number: JPS6332173B2
Application number: JP54051527A
Authority: JP
Inventors: Takashi Saegusa; Osamu Yoneda; Tooru Fukuhara
Original assignee: Nippon Kogaku KK
Current assignee: Nikon Corp
Priority date: 1979-04-27
Filing date: 1979-04-27
Publication date: 1988-06-28
Also published as: JPS55143544A

Description

【発明の詳細な説明】本発明はカメラの自動露出制御装置に関する。

レンズの絞りを開放絞り口径から最小絞り口径
に向つて絞り込みつつ、その絞り開口を通過した
被写体からの光を光電素子によつて測定し、被写
体の明るさと絞り込み中の絞り口径とが予め設定
されたシヤツタ速度に対応した関係となつたと
き、絞り込み動作を阻止して絞りを自動的に調定
し、もつて自動的に露出を制御する装置は、特公
昭49−23779号公報等により既に知られている。

一方、撮影画面を複数の領域に分割し、その各
測光領域についての各測光出力を処理して、画面
全体の露出を決定するための測光出力を演算する
測光装置（以下、マルチ測光装置という。）も特
開昭52−12828号公報、特開昭53―52419号公報等
により既に公知である。また、本件出願人はこれ
の類似技術として特願昭54−23019号、特願昭54
−23020号、特願昭54−23021号等を出願してい
る。このマルチ測光装置は、被写体各部の輝度差
が比較的小さい一般の被写体はもちろんのこと例
えば逆光下の人物やスポツトライト照明下の人物
等に代表されるような被写体各部の輝度差が大き
い特殊な被写体の撮影に際して、これを自動的に
判別してそれぞれに適合する露出を得られるとい
う利点がある。

そこで、マルチ測光装置を先に述べた自動露出
制御装置とを組合せると非常に便利であるが、以
下のような欠点が生ずる。詳述すると；マルチ測
光装置の演算された測光出力（以下、マルチ測光
出力という。）は、被写体の条件によつては演算
前の各測光出力のいずれとも一致しない場合があ
る。これに対して、例えば前述の組合せを自動露
出制御装置の光電素子をマルチ測光装置の光電素
子の一部あるいは全部と置換して達成した場合
（以下この置換されたマルチ測光装置の光電素子
をモニター用光電素子という。）、絞り込みの阻止
時期はモニター用光電素子によつて絞り込測光を
行うことにより監視されなければならないから、
マルチ測光出力とモニター用光電素子の測光出力
とが絞り込み前において一致していなければ、制
御された絞り開口にその出力差分の制御誤差が生
ずる。例えば、モニター用光電素子が画面の中央
領域の測光を担当するよう設計されている場合に
おいて、マルチ測光装置が画面の隅に存在する主
要被写体に対して露出を調定すべくマルチ測光出
力を発生したとき、自動露出制御装置はモニター
用光電素子の出力から得られる絞りと画面中央の
被写体の明るさとの関係が予め設定されたシヤツ
タ速度に対応したときに絞り込みを阻止するか
ら、画面の隅に存在する主要被写体に対しての絞
り制御は行われない。

以上のことは、マルチ測光用の光電素子とモニ
ター用光電素子とを兼用しない場合にも成立す
る。例えば、モニター用光電素子はフイルム面、
シヤツタ幕面からの反射光を測光し、マルチ測光
用光電素子はカメラの焦点板を通過した光を測光
する場合である。

本発明は、このようにマルチ測光装置の測光出
力とモニター用光電素子の出力との誤差に起因し
た絞り制御失敗を防止したカメラの自動露出制御
装置を提供するものである。

以下、本発明を実施例に即して説明する。

第１図は、測光光学系を示す概略図であり、撮
影レンズ２０、絞り２１を通つた被写体光は、ミ
ラー２２で反射されて焦点板２３上に結像され
る。この被写体像はコンデンサレンズ２４、ペン
タダハプリズム２５、接眼レンズ２６を介して観
察される。また、焦点板２３上の被写体像はペン
タダハプリズム２５のダハ面に貼付したプリズム
２７、リレーレンズ２８によつて光電素子PDの
受光面上に結像される。この光電素子PDは第２
図に示すような受光面パターンをもつている。つ
まり、基板Ｂ上には、画面中央領域を測光する光
電素子PD₁、画面右上、下方領域を測光する光電
素子PD₂，PD₃、及び画面左上、下方領域を測光
する光電素子PD₄，PD₅がそれぞれ形成されてい
る。そして、光電素子PD₁〜PD₅はマルチ測光用
に作動し、光電素子PD₁は先に述べたモニター用
光電素子としても作動することもできるし、又ミ
ラーのハーフミラー２２ａを通過したフイルム面
及び／又はシヤツタ幕面ｆで反射した光を受光す
る光電素子PD₁₀₀をモニター用とすることもでき
る。

第３図、第４図は自動露出制御装置における絞
り制御装置の機械的構成を示す説明図である。以
下、絞り制御の作動シーケンスを知るために動作
を述べる。尚、撮影に際して絞りを最小絞りまで
絞り込めるような状態にレンズ鏡筒を設定してお
く。第３図の状態からシヤツタ押釦（不図示）を
押圧すると、レリーズ部材７は図中上方に移動し
てレリーズ連動レバー６の一端を突き上げる。こ
のとき、スイツチsw₁はレリーズ部材７の移動初
期にオフとなり、絞り制御装置の作動タイミング
がレリーズ動作時と絞り込動作時との間にあるこ
とを検知する。よつてレリーズ連動レバー６は時
計方向へ回動し、他端は面カム４の係止を解除す
る。そのためばね９によつて扇形歯車８は反時計
方向に回動し、これに連動して面カム４は時計方
向へ回動する。一方、絞り制御レバー３は、ばね
２によつて時計方向に付勢されるのでピン３ｄは
カム面に当接している。従つて扇形歯車８の回転
によつて面カム４は制御レバー３を時計方向に回
転させる。こうして制御レバー３が時計方向に回
転するとばね２の付勢力により絞りレバー１も第
３図示の絞り開放位置から絞り込み方向へ（図中
下方）移動する。またこれと同時にラチエツト歯
車１２も扇形歯車３ｃによつて反時計方向に回動
されることになる。絞りレバー１が絞り込み方向
へ移動し、絞り２１が所定絞り開口まで絞り込ま
れると絞り制御回路により、複合電磁石Mgのコ
イルに瞬間的な通電がなされ、電磁石は永久磁石
の磁力を打ち消してアマーチヤ１３ｂの吸引を解
除する。したがつて係止レバー１３は付勢力によ
つて時計方向に回動し係止爪１３ａがラチエツト
歯車１２と噛み合いその状態が維持される。また
この噛み合いによつて制御レバー３及び絞りレバ
ー１も停止されることになる。こうして適正露出
を得る為の絞り値に絞りが調整される。一方、扇
形歯車８はその後も反時計方向の回動を続け、そ
の回動終端で露光信号レバー１０と係合し、これ
を左方へ移動する。このとき、スイツチsw₂はレ
バー１０の移動初期にオンされ、絞り制御装置の
作動タイミングが絞り込終了時とシヤツタレリー
ズ時との間にあることを検出する。そして、レバ
ー１０の移動終了時に不図示の機構によつてミラ
ーが撮影光路外へ退避し、続いてシヤツタ幕がレ
リーズされ、予め設定したシヤツタ速度に従つて
シヤツタ幕は開閉する。シヤツタ先幕走行信号発
生レバー１６はシヤツタ先幕走行開始時に左方へ
移動し、スイツチsw₃をオンする。このオンによ
つて露光開始の作動タイミングが検出される。こ
うして露光動作が終了する。この状態が第４図示
の状態である。露光動作が終了するとミラーが下
降して原位置すなわち観察位置に戻りこれに連動
して不図示の機構がミラー連動レバー１４を右下
方向へ移動する（第４図二点鎖線図示）。したが
つて復元レバー１５は付勢力に抗して反時計方向
に回転することになりピン１５ａが板ばね１３ｃ
を押し上げることにより係止レバー１３はその付
勢力に抗して反時計方向に回動する。係止レバー
１３が回転してアマーチヤ１３ｂが複合電磁石
Mg上へ復帰すると、再びアマーチヤ１３ｂは複
合電磁石Mgの永久磁石により吸引保持される
（第４図二点鎖線図示）。また復元レバー１５の反
時計方向の回転によりピン１５ｂは制御レバー３
を押し上げ、絞りレバー１は絞り開放位置へ復帰
する（第４図二点鎖線図示）。その後、巻上レバ
ー（不図示）を操作しフイルム巻上、シヤツタチ
ヤージ、ミラーチヤージ等の巻上動作を行なうと
チヤージレバー１１は右方向へ移動し、付勢力に
抗して扇形歯車８は時計方向へ回転される。この
回転に従い、面カム４は反時計方向に回転し、そ
の最大半径部がレリーズ連動レバー６を乗り越え
ると、レリーズ連動レバー６は面カム４の最小半
径部に落ち込む。したがつてその後面カム４の時
計方向の回転は阻止される。こうして巻上動作が
完了し第３図示の状態となる。

第５図は、本発明の電気回路構成を表わすブロ
ツク図である。尚、以下の説明において、測光装
置はTTL開放測光方式のものとする。

測光回路A₁は、前述の光電素子PD₁〜PD₅を含
む、レリーズ前においては光電素子PD₁〜PD₅に
よつて画面を複数の領域に分割して測光し、レリ
ーズ後はモニター用光電素子PD₁によつて絞り込
測光を行う。各光電素子PD₁〜PD₅の測光出力P₁
〜P₅は処理回路A₂に入力されると共にモニター
用光電素子PD₁の測光出力P₁は分岐されて後述の
第１、第２の演算回路A₃，A₅に入力される。こ
の測光出力P₁〜P₅は、これらをPnで代表して表
わすと、Pn＝Bv・ｎ−Avo（但し、Bvは被写体
輝度のアペツクス表示値、Avoはレンズの開放Ｆ
値のアペツクス表示値である。）なる出力である。
処理回路A₂は各測光出力P₁〜P₅を所定のプログ
ラムに従つて処理し、結果として被写体条件に最
適の測光出力を演算し、これを出力する（この出
力は前述したマルチ測光出力である。）。ところ
で、処理回路A₂がどのような動作によつてマル
チ測光出力を発生するかは前に引用した特開昭52
−12827号公報、同53−52419号公報等に詳述され
ているが、理解のために概説すると；各測光出力
のうち最大値Pmaxと最小値Pminとを検出して、
Pmax−Pminを演算する。そして、Pmax−
Pmin≦δのときには被写体各部の輝度差があま
り大きくない（一般の被写体）と判定し、Pmax
−Pmin≦δのときには被写体各部の輝度差が大
きい（逆光下の人物のように特殊な被写体）と判
定する。その結果、Pmax−Pmin≦δのときに
は各測光出力の平均値Pmeanが出力され、Pmax
−Pmin≧δのときには白バツク（逆光下の人物
のように背景が明るい画面）か、黒バツク（スポ
ツトライト照明下の人物のように背景が暗い画
面）かを決定してPmaxあるいはPminを出力す
る。白バツクか黒バツクかの決定は複数の測光出
力の最大値と最小値との中央値（Pmax＋
Pmin）／２と複数の測光出力の平均値Pmeanと
を比較することにより行われる。即ち、中央値が
平均値より大のときには黒バツクとし、逆の場合
には白バツクとする。

以上が処理回路A₂の一例であるが、ここで重
要なことは、処理回路が、複数の光電出力を入力
とし、所定のプログラムに従つてこれを処理する
ことによつて、画面に最適の測光出力を演算する
ということである。

情報設定回路A₄は、露出因子をカメラボデイ
あるいはレンズ（例えば交換レンズ）から取り入
れ、フイルム感度情報に応じた出力P₇＝Sv（但
し、Svはフイルム感度のアペツクス表示値）を
第１の演算回路A₃に、またレンズの開放Ｆ値に
応じた出力P₈＝Avoを処理回路A₂と第１の演算
回路A₃とに、それぞれ伝達し、更に、予め設定
されたシヤツタ速度に応じた出力P₉…Tv・
Preset（但し、Tvはシヤツタ速度のアペツクス表
示値）を絞り制御回路A₆に伝達する。シーケン
ス制御回路A₉は第１、２図で述べたスイツチsw₁
〜sw₃のオン、オフ信号を入力として、自動露出
制御装置の各作動タイミングを判別し、回路A₃，
A₅〜₈、の動作をこの作動タイミングに応じて制
御する。

次に動作を説明する。まず、カメラのレリーズ
動作以前においては、測光回路A₁からのTTL開
放測光による測光出力P₁〜P₅を入力とする処理
回路A₂は、被写体の条件に最適のマルチ測光出
力P₆＝Bv・ansを出力している。このとき処理回
路は、測光出力P₁〜P₅が含んでいる開放Ｆ値
Avoの成分を情報設定回路A₄からの出力P₈によ
つて既に相殺している。続いて、第１の演算回路
A₃はP₁，P⁶，P₇，P₈から Pans・１＝P₆−P₁＋P₇−P₈ ＝Bv・ans−（Bv・１−Avo）＋Sv −Avo＝Bv・ans−Bv・１＋Sv …(1) を演算し、その出力Pans・１を第２の演算回路
A₅に印加する。

次に、レリーズ動作後、スイツチsw₁がオフに
なると、シーケンス制御回路A₉の制御のもとに
第１の演算回路A₃は、スイツチS₁オフ時の
Pans・１をホールドし、絞り制御回路A₆は作動
開始する。そして、絞り制御機構によつて絞り２
１が絞り込まれると、モニター用光電素子PD₁の
測光出力は、 P₁＝Bv・１−Av …(2) （但し、Avは絞り込み途中のＦ値）となり、
その出力はAvに応じて変化することになる。第
２の演算回路A₅は、この出力P₁と第１の演算回
路A₃によりホールドされている出力Pans・１と
を入力として、 Pans・２＝Pans・１＋P₁ ＝Bv・ans−Av・ｎ＋Sv＝Tv・ｎ …(3) （但し、Tv・ｎは絞り込途中における絞りの
Ｆ値Av・ｎの変化により定まるシヤツタ速度の
アペツクス表示値である。）を演算し、その出力
Pans・２を絞り制御回路A₆に印加する。ここで、
この出力Pans・２に着目すると、第１、第２の
演算回路A₃，A₅により２通りの演算を行つた結
果、出力Pans・２はマルチ測光出力Bv・ansと
絞り込み中の絞り値Avとによつて定まるシヤツ
タ速度を表わすことになる。つまり、モニター用
光電素子の出力P₁とマルチ測光出力P₆との差が
補正されたことになる。

絞り制御回路A₆はTv・ｎとTv・Presetを比較
し、絞り込みが進んでTv・ｎ＝Tv・Presetとな
ると、絞り制御回路A₆は先に述べたように複合
電磁石Mgを作動して絞り込みを阻止する。この
ときの絞り２１のＦナンバーはTv・Preset，
Bv・ans，Svとによつて定まる適正絞り値であ
る。

その後、絞り制御のための作動シーケンスが終
了してスイツチsw₂がオンされると、シーケンス
制御回路A₉によつてメモリ回路A₈は絞り制御後
の第２の演算回路A₅の出力Pans・２を記憶する。
そして、シヤツタがレリーズされてsw₃がオンす
ると、シーケンス制御回路A₉はシヤツタ制御回
路A₇を作動させる。シヤツタ制御回路A₇はシヤ
ツタ先幕走行による露光開始時からの露光時間を
積分し、その積分出力が出力Pans・２と所定の
関係になるとシヤツタ後幕を走行させる。以上の
作動によつて露光制御動作が完了する。

ところで、以上の構成においてフイルム感度
Svは、第１の演算回路A₃に入力したが、これは
第２の演算回路A₅に入力してもよいし、また絞
り制御回路に入力してもよい。それは、Tv・
Presetと比較される段階においてTv・ｎが生じ
ていれば足りるからである。

第６図は本発明のより具体的な実施回路例であ
り、第７図は、各回路の出力波形を示すタイミン
グチヤートである。以下の説明ではまずシヤツタ
優先による露出制御動作をのべる。タイミングパ
ルス発生回路３０は、一定周期のクロツクパルス
（第７図ａ）とリセツトパルス（第７図a′）とを
発生する。リセツトパルスはクロツクパルスの発
生直前に発生する。制御回路２９は、回路を絞り
込み制御の作動シーケンスに従つて動作させるよ
うに、所定の回路をシーケンス制御する。回路２
９，３０でシーケンス制御回路A₉を構成する。

さて、画面の測光領域の分割数に応じてフオト
ダイオードPDの数Ｎが決まり（ここではＮ＝５
とする。）、それぞれがOPアンプOP₁〜OP₅に接
続されている。各OPアンプはログダイオードD₁
〜D₅によつて対数圧縮された各フオトダイオー
ドの測光出力P₁・Ａ，P₂・Ａ，…P₅・Ａ（添字Ａ
はアナログを意味する。）を発生する。この測光
出力は、第７図ｂにフオトダイオードPD₁の出力
P₁・Ａで代表して示されている。以上は光電変
換系を構成する。尚、このとき、絞りを絞り込
んでも線形性の良好な測光出力に着目すると、こ
れは画面中央部を測光するフオトダイオード（こ
こではPD₁とする。）が当てはまる。このフオト
ダイオードPD₁はモニター用の光電素子も兼ね
る。続いて、フオトダイオードPD₁〜PD₅のアナ
ログ測光出力はＡ／Ｄ変換系の各Ａ／Ｄ変換器
AD₁〜AD₅に入力され、デジタル出力P₁・Ｄ〜
P₅・Ｄ（添字Ｄはデジタルを意味する）に変換さ
れる。Ａ／Ｄ変換系はタイミングパルス発生回
路３０からの一定周期のクロツクパルス（第７図
ａ）によつて、一定周期毎にＡ／Ｄ変換を繰り返
す。

説明上、P₁・Ａ＝12・５〔Bv〕で、８ビツトの
Ａ／Ｄ変換をすれば、デジタル測光出力P₁・Ｄ
は２進数1100.1000で表わされるものとする。第
７図Ｃにはこのデジタル出力が示されている。フ
オトダイオードPD₂〜PD₅も同様に処理される。
光電変換系，Ａ／Ｄ変換系は測光回路A₁を
構成する。そして、出力P₁・Ａ〜P₅・Ａ，P₁・
Ｄ〜P₅・ＤはTTL開放測光の場合、レンズの開
放Ｆ値情報Avoを含んでいる。

次に、Ａ／Ｄ変換された測光出力P₁・Ｄ〜
P₅・Ｄは処理回路A₂に入力される。一方、情報
設定回路A₄は、レンズの開放Ｆ値情報Avoを、
デジタル化した出力P₈・Ｄ（例えばAvo＝２とす
ると２進数0010.0000で表わされる）を処理回路
A₂に印加している。処理回路A₂は、第７図ａの
第１番目のクロツクパルスで測光出力P₁・Ｄ〜
P₅・Ｄを一度メモリし、次のクロツクパルスで
所定のプログラムに応じてこれを処理し、デジタ
ル化されたマルチ測光出力P₆・Ｄ＝Bvans・Ｄを
発生するという動作を繰り返す。このマルチ測光
出力Bvans・Ｄ＝11.5とすると、２進数1011.1000
で表わされる。これが第７図ｄに示されている。

補正値算出回路３１には、処理回路A₂からの
マルチ測光出力Bvans・Ｄと情報設定回路A₄か
らの開放Ｆ値情報P₈・Ｄ＝Avo・Ｄ及びＡ／Ｄ変
換器AD₁からモニター用フオトダイオードPD₁の
デジタル測光出力P₁・Ｄ＝Bv1・Ｄ−Avo・Ｄが
それぞれ入力され、P₆・Ｄ＋P₈・Ｄ−P₁・Ｄ＝
Bvans・Ｄ−Bv1・Ｄを算出する。前述のように
Avo＝２なので、この出力は−３〔Bv〕となり２
進数1101.0000で表わされる（１ビツト目はマイ
ナスを表わす。）。この出力は第７図ｅに示されて
いる。

この補正値算出回路３１の出力は、表示回路３
２によつて、マルチ測光出力とモニター用光電出
力との差として表示されると共に、加算回路３３
に入力される。加算回路３３は、情報設定回路
A₄からのデジタル化されたフイルム感度情報
P₇・Ｄ＝Sv・Ｄと、この回路３１からの出力を
加算して、結果的に上述の(1)式をデジタル加算し
た出力Pans1・Ｄを発生する。このときフイルム
感度がASA100ならばSv＝０であるからこの加算
回路３３の出力は補正値算出回路３１の出力と同
じである。以上の動作は第７図ａの第１と第２番
目のクロツクパルスの周期内において完了する。
そして、第２番目のクロツクパルスが発生する
と、Pans1・Ｄはホールド回路３４によつてホー
ルドされる。今、加算回路３３の出力は２進数
1101.0000で表わされているから、ホールド回路
の１，２，４ビツト目に対応するパラレル出力は
１であり他は０である。第７図ｆにはこのパラレ
ル出力のうち１ビツト目の出力が代表して表わさ
れている。この出力はクロツクパルスの入る直前
のリセツトパルスa′でリセツトされ続くクロツク
パルスで新しい情報によつてセツトされる。

これらのホールド回路の各ビツト出力をＡ／Ｄ
変換器３５によつてＤ／Ａ変換することにより第
７図ｇに示すようにBvans・Ａ−Bv1・Ａ＋Sv・
Ａのリアルタイムのアナログ出力を発生する。以
上の回路３１，３３〜３５は第１の演算回路A₃
を構成する。今−３〔BV〕をアナログ量で示し
ている。この出力とモニター用フオトダイオード
PD₁の出力P_1Aがアナログ加算回路３６（第２の
演算回路A₅）に入力すると、ここで、(3)式の演
算（但し、Av・ｎ＝Avo）が行われ、第７図ｈ
に示す出力が得られる。絞り開放状態ではTv・
ｎ＝9.5である。ただし測光を開始してから第２
番目のクロツクパルスが発生するまでの区間は補
正値の加わらない状態なので、適正露出値を出力
することは出来ない。そのためレリーズ操作の第
１ストローク等による電源の印加により回路が安
定し、クロツクパルスを２個カウントするまでは
シヤツタレリーズが出来ないようなシーケンス制
御にしておく。以上のステツプで測光までのステ
ツプは完了する。

一方、情報設定回路A₄はモードセレクタ（不
図示）がシヤツタ優先モードであることを検出す
ると、予め設定されたシヤツタ速度のデジタル出
力P₉・Ｄ、フイルム感度のデジタル出力P₇・Ｄ
及び処理回路A₂の出力を入力とする演算回路に
対して、該３つの情報から絞り値を算出し、これ
を表示回路４０に印加させ、かつＤ／Ａ変換器４
１には出力P₉・Ｄを入力させる。そのため、表
示回路４０はマルチ測光出力によつて制御される
絞り値を表示し、補正値表示回路３２はモニター
用フオトダイオードPD₁の出力によつて制御され
る絞り値に対する補正段数を示すことになる。こ
れによつて、画面内における明るさに傾向を把握
できるようになり、従つて撮影者の意図を撮影に
反影することが可能となる。

次にレリーズされると、（第２ストローク）補
正値表示回路３２や表示回路への電源の供給を停
止する。そして制御回路２９はタイミングパルス
発生回路３０のクロツクパルスとリセツトパルス
の発生を停止させる。するとホールド回路３４の
出力はメモリされる。次に、レンズの絞りが上述
の絞り制御機構によつて絞り込まれ、モニター用
フオトダイオードPD₁の出力は(2)式の如く低下す
る。同様に、アナログ加算回路３６の出力もこれ
に応じて低下する。これは、第７図ａ，ｈにおい
てレリーズから絞り込係止までのτ₁で示された期
間内に生ずる。

シヤツタ速度優先方式の場合、絞り制御回路
A₆は、情報設定回路A₄から導入された、予め設
定したシヤツタ速度に対応したアナログ出力
TvPreset・Ａとアナログ加算回路３６の出力と
を比較し、(3)式の関係が成立すると絞り込みを係
止する。実際には機械的な遅れによつて設定した
T_V値と若干異なるが、その分測光値が変化する
ので、これは、メモリ回路A₈に入力し、ミラー
の上昇の直前に記憶され、その値でシヤツタの開
閉がシヤツタ制御回路A₇において制御される。

この実施回路例においては更にプログラム露出
制御も可能である。それは、モードセレクタがプ
ログラムモードを選択していることを検出すると
情報設定回路A₄は、表示回路４０及びＤ／Ａ変
換器４１に対して露出制御のプログラムに従つた
シヤツタ速度を印加するよう演算回路３９を制御
する。この露出制御のプログラムは被写体輝度、
ここでは処理回路A₂より得られる出力Bvans・
Ｄに応じてシヤツタ速度と絞りとの組合せを決定
するためのものであり、ある被写体輝度に対して
はひとつのシヤツタ速度と絞りとの組合せしか得
られない。つまり、手動により予め設定されるシ
ヤツタ速度が輝度によつて自動的に設定されるの
である。そして、表示回路４０はプログラムに従
つたシヤツタ速度の表示を行い、絞り制御回路
A₆はアナログ加算回路３６の出力とＤ／Ａ変換
器４１の出力とが所定の関係になるまで絞りを絞
り込む。その他の動作は前述と同様である。

第８図は、別の実施回路例である。この実施例
においては、モニター用フオトダイオードPD₁₀₀
がシヤツタ幕面及び／又はフイルム面反射光を受
光するようになつていて、光電変換系のフオト
ダイオードとは別設されている。このフオトダイ
オードPD₁₀₀はミラーダウン時（観察時）はミラ
ーの中央付近のハーフミラー２２ａを介してシヤ
ツタ幕面で反射した被写体光を測光し（補正値表
示のために）、ミラーアツプ時（撮影時）には直
接シヤツタ幕面及び／又はフイルム面で反射した
被写体光を測光する。尚、ミラーダウン時とミラ
ーアツプ時におけるハーフミラー２２ａを介して
測光するか否かによる測光偏差は予め補正量に見
込んでおくことができる。

さて、第８図においては、フオトダイオード
PD₁₀₀のアナログ測光出力はＡ／Ｄ変換器AD₁₀₀
によつてデジタル出力に変換されて、補正値算出
回路に入力され、また、該アナログ測光出力はア
ナログ加算回路３１に入力される。そして、ミラ
ーダウン時においても、補正値算出回路３１は、
補正値を算出し表示回路３２はこれを表示する。
尚、この実施例においては、メモリ回路A₈は不
要であるがその他の動作は第６図実施回路例と同
じである。

第９図は、更に別の実施回路例を示し、光電変
換系のフオトダイオードPD₁の測光出力をＡ／
Ｄ変換器AD₁でデジタル化して処理回路A₂、補
正値算出回路３１に入力して補正値を算出、表示
するように成し、更に、モニター用フオトダイオ
ードとしてはミラーアツプ後にシヤツタ幕面及
び／又はフイルム面反射光を測光するフオトダイ
オードPD₁₀₁とし、このアナログ測光出力をアナ
ログ加算回路３６に出力し、絞り込測光制御時に
おける(3)式のアナログ出力を得るようにしてあ
る。尚、このとき、フオトダイオードPD₁の測光
領域とフオトダイオードPD₁₀₁の測光領域はほぼ
同一としておく必要がある。この実施例において
は、メモリ回路A₈は不要である。

以上のような本発明によれば、絞り制御時にお
いて絞りを通過した被写体光をモニターするモニ
ター用光電素子の測光出力とマルチ測光出力とに
差異がある場合における露出制御誤差を防止する
ことができる。またマルチ測光の演算を演算手段
にてデジタル演算を行うことにより達成するの
で、複雑な演算も容易に達成することができる。
さらに絞り込み動作中の絞り値を該絞りを通過す
る光に対応するアナログ値でモニターするので、
高速で変化する絞り径を適切な径で正確に停止さ
せることができる。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明によるカメラの自動露出制御装
置の測光光学系の概略図であり、第２図は第１図
の光電素子PDの拡大平面図であり、第３図及び
第４図は本発明によるカメラの自動露出装置の機
械的構成の説明する図であり、第５図は本発明に
よるカメラの自動露出制御装置の電気回路構成を
示すブロツク図であり、第６図は本発明によるカ
メラの自動露出制御装置の電気回路の一実例を示
す回路図であり、第７図は第６図の電気回路の各
部分における出力波形を示すグラフを示す図であ
り、第８図及び第９図はそれぞれ本発明によるカ
メラの自動露出制御装置の電気回路の別の実施例
を示す回路図である。主要部分の符号の説明、第１の測光手段…A₁、
第２の測光手段…PD₁₀₀，PD₁、第１の演算手段
…A₃、第２の演算手段…A₅、阻止手段…A₆、補
正値算出回路…３１、ホールド回路…３４、加算
回路…３３。

Claims

【特許請求の範囲】１撮影レンズの絞りを透過した光を受け撮影す
べき被写界を複数の測光領域に分割して測光し、
各測光領域に対応したアナログ測光出力を得る第
１の測光手段PD１〜PD５，OP１〜OP５，Ｄ１
〜Ｄ５と、該第１の測光手段より出力される各アナログ測
光出力をそれぞれデジタル値に変換する第１の
AD変換手段AD１〜AD５と、該AD変換手段が出力する複数のデジタル出力
を用いてデジタル演算を行うことにより、撮影す
べき被写界の輝度分布状態を判別し該被写界に対
して適正露光となる制御出力を算出するマルチ測
光出力発生手段Ａ２と、撮影レンズの絞りを通過した光を受け、撮影す
べき被写界の中央部に関してアナログ測光出力を
得る第２の測光手段PD１，OP１，Ｄ１；PD１
００，OP１００，Ｄ１００；PD１０１，OP１
０１，Ｄ１０１と、前記第２の測光手段のアナログ測光出力をデジ
タル値に変換する第２のAD変換手段AD１と、前記制御出力と前記第２のAD変換手段の出力
とから両出力の差に関する出力を得る検出手段３
１と、該検出手段の出力をアナログ値に変換するDA
変換手段３５と、シヤツタレリーズ動作に応答し、絞り込み動作
開始前に前記DA変換手段の出力を保持する保持
手段３４と、前記DA変換手段の保持された出力と、絞り込
み動作開始後に絞りを通過した光を受光する前記
第２測光手段のアナログ測光出力との合計値が、
前記マルチ測光出力発生手段から得た制御出力と
所定の関係になつた時に絞りを停止する制御手段
Ａ５〜Ａ６とを有することを特徴とするカメラの自動露出制御
装置。２特許請求の範囲第１項に記載の自動露出制御
装置において、前記第２の測光手段は、前記第１の測光手段の
うち被写界の中央部を測光する中央部測光手段と
兼用されており、また前記第２のAD変換手段
は、第１のAD変換手段のうち前記中央部測光手
段からの出力をAD変換するAD手段と兼用され
ていることを特徴とするカメラの自動露出制御装
置。３特許請求の範囲第１項に記載の自動露出制御
装置において、前記第２の測光手段はフイルム面及び／又はシ
ヤツタ幕面での反射光を測光することを特徴とす
るカメラの自動露出制御装置。