JPS63317703A - ラインセンサ位置測定装置 - Google Patents
ラインセンサ位置測定装置Info
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- JPS63317703A JPS63317703A JP62153279A JP15327987A JPS63317703A JP S63317703 A JPS63317703 A JP S63317703A JP 62153279 A JP62153279 A JP 62153279A JP 15327987 A JP15327987 A JP 15327987A JP S63317703 A JPS63317703 A JP S63317703A
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 11
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims description 11
- 230000001186 cumulative effect Effects 0.000 claims description 3
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 8
- 238000000034 method Methods 0.000 abstract description 5
- 230000003321 amplification Effects 0.000 abstract description 2
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 abstract description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 8
- 230000005484 gravity Effects 0.000 description 4
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- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 1
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Landscapes
- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
- Facsimiles In General (AREA)
- Facsimile Scanning Arrangements (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、ファクシミリ等の読取り装置用ラインセンサ
における、主走査方向の高精度位置測定に好適なライン
センサ位置測定装置に関するものである。
における、主走査方向の高精度位置測定に好適なライン
センサ位置測定装置に関するものである。
ラインセンサの主走査方向の位置を測定する方法として
、上記ラインセンサ上に結像された場合の幅が、画素ピ
ッチにほぼ等しいような副走査方向に長い線分パタンを
用い、上記パタンに対応する画像信号を観察し、信号強
度が最大（黒地に白線パタンの場合）ｔたは最小（白地
に黒線パタンの場合）となる画素のアドレスにより、ラ
インセンサの位置を測定する方法がある。すなわち、Ｎ
番目の画素からの信号が最大または最小となった場合に
は、上記ラインセンサの画素ピッチをＰとし、ラインセ
ンサが基準位置にある場合に、信号が最大または最小に
なる画素の番号をＮ。とすると。
、上記ラインセンサ上に結像された場合の幅が、画素ピ
ッチにほぼ等しいような副走査方向に長い線分パタンを
用い、上記パタンに対応する画像信号を観察し、信号強
度が最大（黒地に白線パタンの場合）ｔたは最小（白地
に黒線パタンの場合）となる画素のアドレスにより、ラ
インセンサの位置を測定する方法がある。すなわち、Ｎ
番目の画素からの信号が最大または最小となった場合に
は、上記ラインセンサの画素ピッチをＰとし、ラインセ
ンサが基準位置にある場合に、信号が最大または最小に
なる画素の番号をＮ。とすると。
上記ラインセンサの位置はＰ・（Ｎ−Ｎｏ）で求められ
る。
る。
また、第２の方法として、特開昭６１−２２２３６号に
記されているように１ラインセンサの画素読取りピッチ
の整数倍と僅かに異なるピッチの縞パタンを、位置測定
用のテストチャートとし、ラインセンサからのうなりを
含む信号から、バタンと最も一致している、すなわち、
出方が最小または最大になる画素のアドレスを知り、上
記画素アドレスに対応するバタン位置から、ラインセン
サの位置を測定する方法がある。
記されているように１ラインセンサの画素読取りピッチ
の整数倍と僅かに異なるピッチの縞パタンを、位置測定
用のテストチャートとし、ラインセンサからのうなりを
含む信号から、バタンと最も一致している、すなわち、
出方が最小または最大になる画素のアドレスを知り、上
記画素アドレスに対応するバタン位置から、ラインセン
サの位置を測定する方法がある。
なお、この種の装置に関連するものには、他に例えば特
開昭５８−５５７１号があげられる。
開昭５８−５５７１号があげられる。
上配従来技術は、ラインセンサの主走査方向の位置を測
定するのに、信号の最大または最小になる画素のアドレ
ス番号により求めるため、測定量の最小単位、すなわち
分解能がラインセンサを構成する画素のピッチで制約さ
れる。第２図に示しり例テハ、バタン白線部１ｂの中心
がラインセンサ３のｎ番目の画素Ｐｎと一致している場
合であり。
定するのに、信号の最大または最小になる画素のアドレ
ス番号により求めるため、測定量の最小単位、すなわち
分解能がラインセンサを構成する画素のピッチで制約さ
れる。第２図に示しり例テハ、バタン白線部１ｂの中心
がラインセンサ３のｎ番目の画素Ｐｎと一致している場
合であり。
第６図に示した例は、バタン白線部１ｂの中心が。
ラインセンサ３のｎ番目の画素Ｐｎの中心から画素Ｐｎ
＋、側に僅かに寄った場合の例である。どちらも、信号
が最大となる画素のアドレスはｎであり、第２図に示し
た例と第３図に示した例との間にあるラインセンサ３と
、バタン白線部１ｂとの僅かな位置の差は検出できない
。上記のように従来技術では、画素ピッチ以下の位置ず
れを検出することはできない。
＋、側に僅かに寄った場合の例である。どちらも、信号
が最大となる画素のアドレスはｎであり、第２図に示し
た例と第３図に示した例との間にあるラインセンサ３と
、バタン白線部１ｂとの僅かな位置の差は検出できない
。上記のように従来技術では、画素ピッチ以下の位置ず
れを検出することはできない。
また、第２の従来技術はうなりを用いているため、バタ
ンに大きなスペースを必要とする。さらに上記のバタン
か大きいことによシ、演算処理に多くのデータ、例えば
数１０から１００といった個数の画素信号データが必要
である。
ンに大きなスペースを必要とする。さらに上記のバタン
か大きいことによシ、演算処理に多くのデータ、例えば
数１０から１００といった個数の画素信号データが必要
である。
本発明の目的は、小さなスペースのバタンを用い、少な
い個数の画素信号データにょ多画素ピッチ以下の高い精
度で、ラインセンサの位置を測定するラインセンサ位置
測定装置を得ることにある。
い個数の画素信号データにょ多画素ピッチ以下の高い精
度で、ラインセンサの位置を測定するラインセンサ位置
測定装置を得ることにある。
上記目的は、位置検出チャートのバタンとして副走査方
向に長い１本の線を用い、上記バタンに対応するライン
センサの画素信号の個々の画素データと１画素のアドレ
スデータとの積を加算累計し、その値を画素データの加
算累計値で除した値を用いて、ラインセンサの位置出力
とすることによシ達成される。
向に長い１本の線を用い、上記バタンに対応するライン
センサの画素信号の個々の画素データと１画素のアドレ
スデータとの積を加算累計し、その値を画素データの加
算累計値で除した値を用いて、ラインセンサの位置出力
とすることによシ達成される。
個々の画素データと画素アドレスとの積を加算累計し、
その値を画素データの加算累計値で除することは、数学
的には１画素データ波形の重心を求めることと等価であ
る。このようＫすることにより、ラインセンサ上に結像
された位置測定用バタンの位置ずれを、信号強度の変化
という連続量でとらえることになり、画素ピッチ以下の
僅かな位置ずれも検出することが可能になって、高精度
なラインセンサの位置測定ができる。
その値を画素データの加算累計値で除することは、数学
的には１画素データ波形の重心を求めることと等価であ
る。このようＫすることにより、ラインセンサ上に結像
された位置測定用バタンの位置ずれを、信号強度の変化
という連続量でとらえることになり、画素ピッチ以下の
僅かな位置ずれも検出することが可能になって、高精度
なラインセンサの位置測定ができる。
また、テストチャートのバタンとして、１本の白線だけ
ですむため、テストチャートに要するスペースが少なく
てよい。
ですむため、テストチャートに要するスペースが少なく
てよい。
つぎに本発明の実施例を図面とともに説明する。
第１図は本発明によるラインセンサ位置測定装置の一実
施例を示すブロック図、第２図はラインセンサが基準位
置にある場合を示す図、第３図はラインセンサが基準位
置から僅かにずれている場合を示す図である。第１図に
おいて、位置測定用テストチャート１を原稿読取り位１
１に配置する。１ａはテストチャート１の平面図で、黒
地に白線１ｂがバタンとして描かれている。上記テスト
チャート１の像はレンズ２によって、ラインセンサ３上
に結像される。信号処理部４はラインセンサ３からの出
力信号に対して、増幅およびＡＤ変換等を行う。信号処
理部４の出力４ａはアドレス信号発生器５からの出力５
ａとともに乗算器６に入力され、上記乗算器６の出力６
ａは第１の加算累計器７に入力される。上記信号処理部
４の出力４ａはさらに第２の加算累計器８に入力される
。上記２個の加算累計器７，８の出カフａ 、 ８ ａ
は除算器９に入力され、ここで第１の加算累計器７の出
カフａを第２の加算累計器８の出力８ａで割算する演算
が行われる。その出力９ａは、上記白線１ｂに対応する
信号の基準位置データを出力する基準値信号発生器１０
の出力１０ａとともに、減算器１１に入力される。上記
減算器１１の出力１１ａが、上記ラインセンサ３の位置
測定量になる。
施例を示すブロック図、第２図はラインセンサが基準位
置にある場合を示す図、第３図はラインセンサが基準位
置から僅かにずれている場合を示す図である。第１図に
おいて、位置測定用テストチャート１を原稿読取り位１
１に配置する。１ａはテストチャート１の平面図で、黒
地に白線１ｂがバタンとして描かれている。上記テスト
チャート１の像はレンズ２によって、ラインセンサ３上
に結像される。信号処理部４はラインセンサ３からの出
力信号に対して、増幅およびＡＤ変換等を行う。信号処
理部４の出力４ａはアドレス信号発生器５からの出力５
ａとともに乗算器６に入力され、上記乗算器６の出力６
ａは第１の加算累計器７に入力される。上記信号処理部
４の出力４ａはさらに第２の加算累計器８に入力される
。上記２個の加算累計器７，８の出カフａ 、 ８ ａ
は除算器９に入力され、ここで第１の加算累計器７の出
カフａを第２の加算累計器８の出力８ａで割算する演算
が行われる。その出力９ａは、上記白線１ｂに対応する
信号の基準位置データを出力する基準値信号発生器１０
の出力１０ａとともに、減算器１１に入力される。上記
減算器１１の出力１１ａが、上記ラインセンサ３の位置
測定量になる。
上記ラインセンサ６が基準となる位置にある場合、パタ
ン１の白線部１ｂは、上記ラインセンサ３を構成する画
素のｎ番目を中心として結像されるものとする。すなわ
ち、第２図（ａ）に示すように、パタン白線部１ｂの中
心がラインセンサ３のｎ番目の画素Ｐの中心に一致する
と、信号は第３図（ｂ）に示すようにＰｎで信号強度最
大、Ｐｎ−１と”ｉ＋１ の信号強度は等しく、他の
画素の信号は０になる。
ン１の白線部１ｂは、上記ラインセンサ３を構成する画
素のｎ番目を中心として結像されるものとする。すなわ
ち、第２図（ａ）に示すように、パタン白線部１ｂの中
心がラインセンサ３のｎ番目の画素Ｐの中心に一致する
と、信号は第３図（ｂ）に示すようにＰｎで信号強度最
大、Ｐｎ−１と”ｉ＋１ の信号強度は等しく、他の
画素の信号は０になる。
このような信号をラインセンサ３の出力とすると。
第１図で示した実施例の出力９ａの値は、パタンの白線
１ｂに対応する信号の重心位置を示し、第２図（ｂ）で
はＧがその重心位置を示し、その値はｎである。第２図
（ａ）に示した例では、ラインセンサ３が基準位置にあ
るから、第１図で示す基準値信号発生器１０の出力１０
ａの値はｎである。したが ゛って、上記の場合の位置
測定量は０である。
１ｂに対応する信号の重心位置を示し、第２図（ｂ）で
はＧがその重心位置を示し、その値はｎである。第２図
（ａ）に示した例では、ラインセンサ３が基準位置にあ
るから、第１図で示す基準値信号発生器１０の出力１０
ａの値はｎである。したが ゛って、上記の場合の位置
測定量は０である。
第３図はパタンの白線部１ｂの中心が、ラインセンサ３
のｎ番目の画素Ｐの中心とずれている場合の動作を説明
する。第３図（ａ）はパタンの白線部１’ｂとラインセ
ンサ６との位置関係を示しており、白線部１ｂの中心は
画素Ｐｎの中心からＰｒ＋＋１ ”にずれている。第３
図（ｂ）は上記のような場合の信号波形である、白線部
１ｂの中心が画素％、 ｆｕｌｌに片寄っているため１
画素Ｐｎ＋１の信号は画素Ｐｎ、の信号よりも大きい。
のｎ番目の画素Ｐの中心とずれている場合の動作を説明
する。第３図（ａ）はパタンの白線部１’ｂとラインセ
ンサ６との位置関係を示しており、白線部１ｂの中心は
画素Ｐｎの中心からＰｒ＋＋１ ”にずれている。第３
図（ｂ）は上記のような場合の信号波形である、白線部
１ｂの中心が画素％、 ｆｕｌｌに片寄っているため１
画素Ｐｎ＋１の信号は画素Ｐｎ、の信号よりも大きい。
上記のような場合における第１図に示す実施例での出力
９ａの値、すなわち第３図（ｂ）の信号波形の重心位置
Ｇはｎよりも大きくなる。
９ａの値、すなわち第３図（ｂ）の信号波形の重心位置
Ｇはｎよりも大きくなる。
ｎとこの値との差がＣＣＤラインセンサ３の位置測定量
で、基準位置からのずれ量となる。ただし、第１図に示
す実施例で得られる出力は、ラインセンサ６の画素の読
取りビｌチを単位にするので、必要に応じてこれを長さ
に変換して出力Ｈａに画素のピッチを乗算する。
で、基準位置からのずれ量となる。ただし、第１図に示
す実施例で得られる出力は、ラインセンサ６の画素の読
取りビｌチを単位にするので、必要に応じてこれを長さ
に変換して出力Ｈａに画素のピッチを乗算する。
また、第１図に示す実施例では、乗算をはじめとする演
算をそれぞれ独立の演算器で実行するような構成になっ
ているが、上記各演算器の一部または全部を、マイクロ
コンピュータ等の計算機で代替することができるのはい
うまでもない。
算をそれぞれ独立の演算器で実行するような構成になっ
ているが、上記各演算器の一部または全部を、マイクロ
コンピュータ等の計算機で代替することができるのはい
うまでもない。
上記のように本発明によるラインセンサ位置測定装置は
、複数の画素から構成されるラインセンサに、位置測定
用テストチャートのパタンを結像させ１画像信号から上
記ラインセンサの位置ずれ量を測定するラインセンサ位
置測定装置において、上記テストチャートのパタンか原
稿の副走査方向に長い１本の白線で構成され、上記パタ
ンに対応する画像信号の個々の画素に応じた信号データ
と、画素のアドレスデータとの積を加算累計し、上記加
算昼計値を画素に対応する信号データの加算累計値で除
した値を、上記ラインセンサの主走査方向の位置データ
出力とすることにより、上記ラインセンサの位置を、少
ないスペースのパタンと少ない個々の画素信号データの
演算によって、高い精度で測定することができる。
、複数の画素から構成されるラインセンサに、位置測定
用テストチャートのパタンを結像させ１画像信号から上
記ラインセンサの位置ずれ量を測定するラインセンサ位
置測定装置において、上記テストチャートのパタンか原
稿の副走査方向に長い１本の白線で構成され、上記パタ
ンに対応する画像信号の個々の画素に応じた信号データ
と、画素のアドレスデータとの積を加算累計し、上記加
算昼計値を画素に対応する信号データの加算累計値で除
した値を、上記ラインセンサの主走査方向の位置データ
出力とすることにより、上記ラインセンサの位置を、少
ないスペースのパタンと少ない個々の画素信号データの
演算によって、高い精度で測定することができる。
第１図は本発明によるラインセンサ位置測定装置の一実
施例を示すブロック図、第２図はラインセンサが基準位
置にある場合を示す図で、（ａ）はラインセンサの一部
を示す平面図、（ｂ）は信号波形を示す図、第３図はラ
インセンサが基準位置から僅かにずれている場合を示す
図で、（ａ）はラインセンサの一部を示す平面図、（ｂ
）は信号波形を示す図である。 １・・・テストチャート １ｂ・・・パタン ３・・・ラインセンサ ４・・・信号処理部 ５・・・アドレス信号発生器 ６・・・乗算器 ７．８・・・加算累計器 ９・・・除算器 １０・・・基準値信号発生器。 代理人 弁理士 小川勝男 ・ 第１Ｌ￥１ ／Ｉｂ イ鹿号派汗多
施例を示すブロック図、第２図はラインセンサが基準位
置にある場合を示す図で、（ａ）はラインセンサの一部
を示す平面図、（ｂ）は信号波形を示す図、第３図はラ
インセンサが基準位置から僅かにずれている場合を示す
図で、（ａ）はラインセンサの一部を示す平面図、（ｂ
）は信号波形を示す図である。 １・・・テストチャート １ｂ・・・パタン ３・・・ラインセンサ ４・・・信号処理部 ５・・・アドレス信号発生器 ６・・・乗算器 ７．８・・・加算累計器 ９・・・除算器 １０・・・基準値信号発生器。 代理人 弁理士 小川勝男 ・ 第１Ｌ￥１ ／Ｉｂ イ鹿号派汗多
Claims (1)
- １、複数の画素から構成されるラインセンサに、位置測
定用テストチャートのパタンを結像させ、画像信号から
上記ラインセンサの位置ずれ量を測定するラインセンサ
位置測定装置において、上記テストチャートのパタンが
原稿の副走査方向に長い１本の白線で構成され、上記パ
タンに対応する画像信号の個々の画素に応じた信号デー
タと、画素のアドレスデータの積を加算累計し、上記加
算累計値を画素に対応する信号デーータの加算累計値で
除した値を、上記ラインセンサの主走査方向の位置デー
タ出力とすることを特徴とするラインセンサ位置測定装
置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62153279A JPS63317703A (ja) | 1987-06-22 | 1987-06-22 | ラインセンサ位置測定装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP62153279A JPS63317703A (ja) | 1987-06-22 | 1987-06-22 | ラインセンサ位置測定装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS63317703A true JPS63317703A (ja) | 1988-12-26 |
Family
ID=15558995
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP62153279A Pending JPS63317703A (ja) | 1987-06-22 | 1987-06-22 | ラインセンサ位置測定装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS63317703A (ja) |
-
1987
- 1987-06-22 JP JP62153279A patent/JPS63317703A/ja active Pending
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