JPS6331033A - 光ピツクアツプ - Google Patents
光ピツクアツプInfo
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- JPS6331033A JPS6331033A JP61173836A JP17383686A JPS6331033A JP S6331033 A JPS6331033 A JP S6331033A JP 61173836 A JP61173836 A JP 61173836A JP 17383686 A JP17383686 A JP 17383686A JP S6331033 A JPS6331033 A JP S6331033A
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- optical
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Links
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- 238000000034 method Methods 0.000 description 4
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Landscapes
- Optical Integrated Circuits (AREA)
- Optical Head (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[産業上の利用分野1
本発明は光ディスク等に用いられる光ピックアップに関
するものである。
するものである。
[従来の技術]
コンパクトディスクやレーザディスク等の光ディスクに
用いられる光ピックアップは1例えば第4図に分解斜視
図を示す様に、各種のレンズや偏光板等を組合せて構成
されるのが通常である6図の例では、半導体レーザ26
から放射されたレーザ光は、偏光ビームスプリッタ23
を介してコリメータレンズ22に入射して該コリメータ
レンズ22により偏光した平行なレーザビームとなり、
さらに入74波長板21及び集束レンズ20を介してレ
ーザディスク17上に集束する。このレーザディスク1
7上に集束したレーザ光18はレーザディスク17で反
射され、この反射光は入射光とは逆の方向に集束レンズ
20.λ/4波長板21、コリメータレンズ22を通過
して、偏光ビームスプリンタ23で図の右方向に折りま
げられ、シリンドリカルレンズ24を介して、光検出器
25に入射し、該光検出器25により電気信号として検
出される。なお、符号19は前記集束レンズ20を駆動
するアクテユエイタを略示する。
用いられる光ピックアップは1例えば第4図に分解斜視
図を示す様に、各種のレンズや偏光板等を組合せて構成
されるのが通常である6図の例では、半導体レーザ26
から放射されたレーザ光は、偏光ビームスプリッタ23
を介してコリメータレンズ22に入射して該コリメータ
レンズ22により偏光した平行なレーザビームとなり、
さらに入74波長板21及び集束レンズ20を介してレ
ーザディスク17上に集束する。このレーザディスク1
7上に集束したレーザ光18はレーザディスク17で反
射され、この反射光は入射光とは逆の方向に集束レンズ
20.λ/4波長板21、コリメータレンズ22を通過
して、偏光ビームスプリンタ23で図の右方向に折りま
げられ、シリンドリカルレンズ24を介して、光検出器
25に入射し、該光検出器25により電気信号として検
出される。なお、符号19は前記集束レンズ20を駆動
するアクテユエイタを略示する。
このような従来の光ピックアップは、各種のレンズや偏
光板などを用いるために、各レンズや偏光板などの作成
や設定位置の相互の調整に高精度の研磨や位置合せ作業
を必要とし、生産性が悪く生産コストが大きくなるとい
う欠点を有していた。そのために、このようなバルク型
光学素子を用いる代りにプレーナ薄膜技術によりシリコ
ン基板上に、例えば、誘電体よりなる%M H2の光導
波路を形成し、このような光導波路と半導体レーザ等を
ハイブリット結合させることにより光集積回路として小
型化した光ピックアップが提案されている。
光板などを用いるために、各レンズや偏光板などの作成
や設定位置の相互の調整に高精度の研磨や位置合せ作業
を必要とし、生産性が悪く生産コストが大きくなるとい
う欠点を有していた。そのために、このようなバルク型
光学素子を用いる代りにプレーナ薄膜技術によりシリコ
ン基板上に、例えば、誘電体よりなる%M H2の光導
波路を形成し、このような光導波路と半導体レーザ等を
ハイブリット結合させることにより光集積回路として小
型化した光ピックアップが提案されている。
[発明の解決しようとする問題点コ
しかしこのような従来の光ピックアップはプレーナ技術
による薄膜の形成方法を用いているために、形成された
光導波路はその厚さが極めて薄く(例えば1μ11)、
該光導波路と半導体レーザ等を結合させる際、極めて高
精度の位置合せ作業が必要とされ、生産性に劣るという
欠点を有していた。
による薄膜の形成方法を用いているために、形成された
光導波路はその厚さが極めて薄く(例えば1μ11)、
該光導波路と半導体レーザ等を結合させる際、極めて高
精度の位置合せ作業が必要とされ、生産性に劣るという
欠点を有していた。
本発明はこのような従来の光ピックアップの欠点を解消
するためになされたものであり、高精度の位置合せ作業
を必要とすることなく、又、形状の大きな光学レンズな
どの数を少なくすることができ、生産性が良く、かつ形
状の小型の光ピックアップを提供することをその目的と
する。
するためになされたものであり、高精度の位置合せ作業
を必要とすることなく、又、形状の大きな光学レンズな
どの数を少なくすることができ、生産性が良く、かつ形
状の小型の光ピックアップを提供することをその目的と
する。
〔問題を解決するだめの手段]
本発明の光ピックアップは、レーザと、該レーザより発
光されたレーザ光を伝播させる光導波路と、該光導波路
の出射光を対象物上に集束させる集束手段と、対象物か
らの反射光を検出する光検出器とを備えた光ピックアッ
プにおいて、1枚の基板上又は該基板の端面に少なくと
も前記レーザ、光導波路、集束手段及び光検出器を設け
るとともに、該光導波路の厚さを少なくとも10μm以
上に形成して成ることを特徴とするものである。
光されたレーザ光を伝播させる光導波路と、該光導波路
の出射光を対象物上に集束させる集束手段と、対象物か
らの反射光を検出する光検出器とを備えた光ピックアッ
プにおいて、1枚の基板上又は該基板の端面に少なくと
も前記レーザ、光導波路、集束手段及び光検出器を設け
るとともに、該光導波路の厚さを少なくとも10μm以
上に形成して成ることを特徴とするものである。
[作用]
本発明の光ピックアップは、少なくとも10μm以上の
厚さを有する光導波路を1枚の基板上に形成し、該光導
波路と共にレーザや光検出器等を前記基板上又は該基板
の端面に設けるようにしたので、光導波路とレーザとの
位置合せは極めて容易に行うことができ、又レンズの数
も少なくてすみ、その相互の位置合せも極めて容易に行
うことができる。
厚さを有する光導波路を1枚の基板上に形成し、該光導
波路と共にレーザや光検出器等を前記基板上又は該基板
の端面に設けるようにしたので、光導波路とレーザとの
位置合せは極めて容易に行うことができ、又レンズの数
も少なくてすみ、その相互の位置合せも極めて容易に行
うことができる。
[実施例]
以下図面を参照しながら本発明の実施例について説明す
る。
る。
第1図は本発明の1実施例を示す平面図であり、第2図
は第1図のA−A断面図である。
は第1図のA−A断面図である。
第1図及び第2図において、シリコン製の基板10上に
はガラス微粒子堆積法により光導波路7が形成されてお
り、該光導波路7の厚みはほぼ100μmである。
はガラス微粒子堆積法により光導波路7が形成されてお
り、該光導波路7の厚みはほぼ100μmである。
即ち、この光導波路7は基板lO上にまずS i02の
4777層を10μm乃至20μm形成し、その上に8
102を主成分とし、T i02を添加剤としたコア層
を50μm乃至80μm形成し、さらにその上にS i
02のクラッド層を10μ履乃至20μm形成したもの
である。このようにして形成した光導波路層をドライエ
ツチング法によりパターニングして光導波路7を形成す
るのである。
4777層を10μm乃至20μm形成し、その上に8
102を主成分とし、T i02を添加剤としたコア層
を50μm乃至80μm形成し、さらにその上にS i
02のクラッド層を10μ履乃至20μm形成したもの
である。このようにして形成した光導波路層をドライエ
ツチング法によりパターニングして光導波路7を形成す
るのである。
光導波路7の幅は約lOOμmである。尚、光導波路7
の形成と同時に半導体レーザ5や光検出器6等を挟持し
固定する為のガイド壁1,2,3゜4,9,13.14
等を同時に形成しておく。このガイド壁1.2の間には
半導体レーザ5を挟持固定し、前記光導波路7の入射端
面と接触させる。
の形成と同時に半導体レーザ5や光検出器6等を挟持し
固定する為のガイド壁1,2,3゜4,9,13.14
等を同時に形成しておく。このガイド壁1.2の間には
半導体レーザ5を挟持固定し、前記光導波路7の入射端
面と接触させる。
該半導体レーザ5の前記光導波路7の入射端面と反対側
の方向には、該半導体レーザ5の出力光を検出し該半導
体レーザ5の駆動電圧を制御することにより該半導体レ
ーザ5の出力光を一定に保つだめの光検出器12が前記
半導体レーザ5を固定する為のカイト壁1,2の間に挟
持固定される。光導波路7の経路の一部にはレーザディ
スク等の対象物からの反射光の逆流入を防ぐための偏光
板15及び入ハ波長波1Bがガイド壁13.14に挟持
され固定されている。
の方向には、該半導体レーザ5の出力光を検出し該半導
体レーザ5の駆動電圧を制御することにより該半導体レ
ーザ5の出力光を一定に保つだめの光検出器12が前記
半導体レーザ5を固定する為のカイト壁1,2の間に挟
持固定される。光導波路7の経路の一部にはレーザディ
スク等の対象物からの反射光の逆流入を防ぐための偏光
板15及び入ハ波長波1Bがガイド壁13.14に挟持
され固定されている。
半導体レーザ5で発光されたレーザ光は前記光導波路7
中を伝播し、出射端からビーム集束用レンズ8に入射し
対象物上に集束させられる。対象物から反射された反射
光は前記レンズ8により検出され、光導波路7を逆方向
に伝播し、光導波路11を経て、フォトダイオード。
中を伝播し、出射端からビーム集束用レンズ8に入射し
対象物上に集束させられる。対象物から反射された反射
光は前記レンズ8により検出され、光導波路7を逆方向
に伝播し、光導波路11を経て、フォトダイオード。
フォトマルチプライア等の光検出器6により検出される
。なお、対象物からの反射光が半導体レーザ5に入射し
ても、該反射光に擾乱が少ない場合には前記偏光板15
及びλ/4波長波16は設けなくとも良い。
。なお、対象物からの反射光が半導体レーザ5に入射し
ても、該反射光に擾乱が少ない場合には前記偏光板15
及びλ/4波長波16は設けなくとも良い。
本実施例においては、光導波路7,11と同時にガイド
壁 1.2.3.4.9.13.14を形成しているた
めに半導体レーザ5や光検出器6,12等の電子部品や
偏光板15.入へ波長波1B、レンズ8等の光学部品を
光導波路?、11に対して極めて高精度にかつ容易に実
装することができるのである。又、光導波路7,11は
厚さが厚いために従来の偏光板15.λ/4波長波16
.レンズ8等の光学部品をそのまま構成部品として活用
することができる。なお、レンズ8を実装する部分は基
板lOが階段状になっており、該レンズ8の実装空間を
確保している。更に、光導波路?、11及びガイド壁
1.2.3.4.9.13.14はフォトリングラフィ
によるエツチングを行って形成しているので極めて高い
位置精度が確保できるのである。又光導波路7の端面は
エツチングだけでも直角にきれいな面がでるので、その
まま半導体レーザ5.光検出器6等を接着することがで
きる。このように各部品を実装する丘で極めて容易に実
装することができ、かつ調整箇所がほとんどなく、一基
板りにすべての部品を実装することができるので形状も
極めて小型となる。なお、図には示していないが、半導
体レーザ5はその表面にヒートシンクを接着しており、
本実施例の光ピックアップは全体としてシリコン樹脂で
クラツディングされている。
壁 1.2.3.4.9.13.14を形成しているた
めに半導体レーザ5や光検出器6,12等の電子部品や
偏光板15.入へ波長波1B、レンズ8等の光学部品を
光導波路?、11に対して極めて高精度にかつ容易に実
装することができるのである。又、光導波路7,11は
厚さが厚いために従来の偏光板15.λ/4波長波16
.レンズ8等の光学部品をそのまま構成部品として活用
することができる。なお、レンズ8を実装する部分は基
板lOが階段状になっており、該レンズ8の実装空間を
確保している。更に、光導波路?、11及びガイド壁
1.2.3.4.9.13.14はフォトリングラフィ
によるエツチングを行って形成しているので極めて高い
位置精度が確保できるのである。又光導波路7の端面は
エツチングだけでも直角にきれいな面がでるので、その
まま半導体レーザ5.光検出器6等を接着することがで
きる。このように各部品を実装する丘で極めて容易に実
装することができ、かつ調整箇所がほとんどなく、一基
板りにすべての部品を実装することができるので形状も
極めて小型となる。なお、図には示していないが、半導
体レーザ5はその表面にヒートシンクを接着しており、
本実施例の光ピックアップは全体としてシリコン樹脂で
クラツディングされている。
第3図は本発明の他の実施例を示す平面図である。図に
おいて第1図及び第2図の実施例と同一の構成部品は同
一の番号を付しその説明を省略する。本実施例は対象物
に対して複数本のレーザ光を発光して、かつそれぞれの
反射光を受光し得るようにしたものである。
おいて第1図及び第2図の実施例と同一の構成部品は同
一の番号を付しその説明を省略する。本実施例は対象物
に対して複数本のレーザ光を発光して、かつそれぞれの
反射光を受光し得るようにしたものである。
光導波路7の各出射端面27.28.29は30’乃至
45°のテーパを構成するように切断研磨され電子描画
法により F=4mmのグレーティングレンズが形成さ
れている。各反射点に対応して光検出器8a、 8b、
8cが設けられており、光検出器6bは出射端28で検
出されたピックアンプ信号の読取りに使用され、光検出
器6a、8cはそれぞれ出射端27.29で検出された
トレース用ビームの読取りに用いる。このように複数本
の光ビームを用いることにより、例えばウオブリング法
によりフォーカシングの焦点ずれの検出を行うことが可
能となる。
45°のテーパを構成するように切断研磨され電子描画
法により F=4mmのグレーティングレンズが形成さ
れている。各反射点に対応して光検出器8a、 8b、
8cが設けられており、光検出器6bは出射端28で検
出されたピックアンプ信号の読取りに使用され、光検出
器6a、8cはそれぞれ出射端27.29で検出された
トレース用ビームの読取りに用いる。このように複数本
の光ビームを用いることにより、例えばウオブリング法
によりフォーカシングの焦点ずれの検出を行うことが可
能となる。
[発明の効果]
本発明になる光ピックアップにおいては1枚の基板り又
は該基板の端面に少なくともレーザ、光導波路、集束手
段及び光検出器を設けるとともに、該光導波路の厚さを
少なくとも10pm以上に形成したので、電子部品や光
学部品の装着を極めて容易に行うことができ、かつ極め
て高精度の相対位置関係をもって装着することができる
。また1枚の基板上にすべての構成部品を一体的に形成
しであるために、極めて形状が小型となり、かつ重量も
軽量なものとなる。
は該基板の端面に少なくともレーザ、光導波路、集束手
段及び光検出器を設けるとともに、該光導波路の厚さを
少なくとも10pm以上に形成したので、電子部品や光
学部品の装着を極めて容易に行うことができ、かつ極め
て高精度の相対位置関係をもって装着することができる
。また1枚の基板上にすべての構成部品を一体的に形成
しであるために、極めて形状が小型となり、かつ重量も
軽量なものとなる。
第1図は本発明の1実施例の平面図、第2図は第1図の
A−A断面図、第3図は本発明の他の実施例の平面図、
第4図は従来の光ピックアップを示す分解斜視図である
。 1、2.3.4.9. 13.14 ニガイド壁、5
:半導体レーザ、 J12:光検出器、?、 +1
:光導波路、 8 :レンズ、10:基板、15:偏
光板、16二人ハ波長板第4 図
A−A断面図、第3図は本発明の他の実施例の平面図、
第4図は従来の光ピックアップを示す分解斜視図である
。 1、2.3.4.9. 13.14 ニガイド壁、5
:半導体レーザ、 J12:光検出器、?、 +1
:光導波路、 8 :レンズ、10:基板、15:偏
光板、16二人ハ波長板第4 図
Claims (7)
- (1)レーザと、該レーザより発光されたレーザ光を伝
播させる光導波路と、該光導波路の出射光を対象物上に
集束させる集束手段と、対象物からの反射光を検出する
光検出器とを備えた光ピックアップにおいて、1枚の基
板上又は該基板の端面に少なくとも前記レーザ、光導波
路、集束手段及び光検出器を設けるとともに、該光導波
路の厚さを少なくとも10μm以上に形成して成ること
を特徴とする光ピックアップ。 - (2)光導波路はSiO_7を主成分とするものである
特許請求の範囲第1項記載の光ピックアップ。 - (3)レーザは半導体レーザである特許請求の範囲第1
項記載の光ピックアップ。 - (4)集束手段はレンズである特許請求の範囲第1項記
載の光ピックアップ。 - (5)集束手段は光導波路の出射端面に形成されたグレ
ーティングレンズである特許請求の範囲第1項記載の光
ピックアップ。 - (6)光導波路はその一部にλ/4波長板を含む特許請
求の範囲第1項記載の光ピックアップ。 - (7)光導波路はその一部に偏光板を含む特許請求の範
囲第1項又は第6項記載の光ピックアップ。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61173836A JPS6331033A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 光ピツクアツプ |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61173836A JPS6331033A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 光ピツクアツプ |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6331033A true JPS6331033A (ja) | 1988-02-09 |
Family
ID=15968055
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61173836A Pending JPS6331033A (ja) | 1986-07-25 | 1986-07-25 | 光ピツクアツプ |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6331033A (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH01300438A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Hitachi Ltd | 光ピックアップ並びにそれを備えた光ディスク装置及びロータリエンコーダ |
JP2007223718A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Fuji Seisakusho:Kk | 固形食品の供給装置 |
Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5756807A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-05 | Canon Inc | Thin film waveguide type head |
JPS6059547A (ja) * | 1983-09-12 | 1985-04-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光学ヘツド |
-
1986
- 1986-07-25 JP JP61173836A patent/JPS6331033A/ja active Pending
Patent Citations (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5756807A (en) * | 1980-09-24 | 1982-04-05 | Canon Inc | Thin film waveguide type head |
JPS6059547A (ja) * | 1983-09-12 | 1985-04-05 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光学ヘツド |
Cited By (2)
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---|---|---|---|---|
JPH01300438A (ja) * | 1988-05-27 | 1989-12-04 | Hitachi Ltd | 光ピックアップ並びにそれを備えた光ディスク装置及びロータリエンコーダ |
JP2007223718A (ja) * | 2006-02-22 | 2007-09-06 | Fuji Seisakusho:Kk | 固形食品の供給装置 |
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