JPS6330749A - 表面欠陥検査装置 - Google Patents

表面欠陥検査装置

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JPS6330749A
JPS6330749A JP17528886A JP17528886A JPS6330749A JP S6330749 A JPS6330749 A JP S6330749A JP 17528886 A JP17528886 A JP 17528886A JP 17528886 A JP17528886 A JP 17528886A JP S6330749 A JPS6330749 A JP S6330749A
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JP17528886A
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Masato Sakakibara
正人 榊原
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Toyota Motor Corp
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 [産業上の利用分野] 本発明は、物体の表面形態等の欠陥を検査する装置に関
する。
[従来の技術] 従来より物体表面における凹凸等の有無の検査は、検査
員により視覚あるいは触覚に基づいて行なわれている。
この検査員の視覚あるいは触覚による検査は、検査員の
主観または熟練度が介在し易く、検査の均一性に関して
問題があり、また検査に必要な手間や時間が多くかかり
能率が悪くなるといった問題があった。これらの問題を
解決するものとして、例えば、特開昭52−90988
号に示される「物体の表面欠陥検査方法」等の発明や提
案等がなされている。これらの発明や提案等は、検査さ
れる物体表面に縞状の明暗模様等を写し出し、物体表面
に凹凸等の欠陥がおれば、写し出された縞模様等が歪み
・乱れることを利用して物体表面の欠陥検査を行なうも
のでおる。
[発明が解決しようとする問題点] 上記発明や提案等は、検査される物体表面に写し出され
る縞模様等の歪み・乱れにより物体表面の欠陥の有無を
判定することができるので、検査の均一性を向上させ、
作業の能率化を図ることができるという優れた効果を有
するものの、猶、依然として、縞模様等の歪み・乱れの
程度を検査員が判断することによって物体表面の欠陥の
有無を判定しているので、未だに検査結果の均一性に欠
けるといった問題が残されていた。このため、この縞模
様等の歪み・乱れを数値化し、物体表面の欠陥の有無を
定量値として判断しようとする試みもなされているが、
猶、上記問題を解決するには至っていない。この結果、
物体表面の欠陥検査の省力化やロボット等を用いての無
人化は妨げられている。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
あり、物体表面の欠陥の有無を客観的・定量的かつ自動
的に検査することのできる表面欠陥検査装置を提供する
ことをその目的としている。
発明の構成 [問題点を解決するための手段] 本発明の表面欠陥検査装置は、次のように構成されてい
る。即ち、 本発明の表面欠陥検査装置は、 予め定められた明暗模様を被検査表面に写し出す明暗模
様投影手段と、 該明暗模様投影手段により上記被検査表面に写し出され
た上記明暗模様の明部および暗部のどららにも属しない
中間濃度部を検出する中間濃度部検出手段と、 該中間濃度部検出手段により検出された上記中間濃度部
の内、その有する面積が所定面積以上の中間濃度部を抽
出し上記被検査表面の欠陥部とする欠陥部検出手段と、 を備えて構成されている。
ここで、明暗模様投影手段とは、予め定められた明暗模
様を被検査表面に写し出す手段のことであって、映写機
等を用いて所定パターン、例えば、縞状明暗模様等を被
検査表面に写し出すよう構成すること等種々の構成を考
えることができる。尚、被検査表面に写し出される明暗
模様は、被検査表面の反射によって生じる虚像でおって
もよいし、あるいは単に投影された像であってもよい。
中間′a度部を検出する中間濃度部検出手段とは、明暗
模様投影手段により被検査表面に写し出された明暗模様
の明部および暗部のどちらにも属しない所謂中間濃度部
を検出する手段のことであって、−次元もしくは2次元
の搬像手段によって@像された明暗模様の明るさを所定
の基準値と比較することにより中間濃度部を検出するよ
う構成すること等種々の構成を与えることができる。こ
うした所定の基準値としては、明暗模様の明るさを一定
に調整し得る場所には一定値としてもよいし、明暗模様
の持つ明るさの平均値に基づく値を用いてもよい。尚、
中間濃度部は、検査される物体表面に写し出された明暗
模様が物体表面の凹凸等の欠陥により歪み・乱れること
によって生じるので、明暗模様の明部あるいは暗部のど
ちらにも属しないレベルとして検出し表面欠陥の検出に
供するのである。
欠陥部検出手段とは、中間濃度部検出手段により検出さ
れた中間濃度部の内、その有する面積が所定面積以上の
中間濃度部を抽出し、被検査表面の欠陥部とする手段で
必って、ディスクリートな回路として、あるいはマイク
ロコンピュータ等を用いた論理演算回路として構成する
こと等が考えられる。
[作用] 上記構成を有する本発明の表面欠陥検査装置は次の如く
作用する。
本発明の表面欠陥検査装置は、明暗模様投影手段により
被検査表面に写し出された明暗模様の中間濃度部を中間
濃度部検出手段により検出し、この中間濃度部検出手段
により検出された中間濃度部の内、その有する面積が所
定面積以上の中間濃度部を欠陥部検出手段により被検査
表面の欠陥部として抽出するよう動く。
[実施例] 次に本発明の表面欠陥検査装置の構成を一層明らかにす
るために好適な実施例を図面と共に説明する。
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図である。
本実施例の表面欠陥検査装置は、大きくは、凹凸等の欠
陥の有無が検査される被検査物OBの表面に縞状の明暗
模様を投影する縞模様投影装置1と、被検査物OBの表
面に投影された縞模様の虚像を躍映しその明暗模様の明
部および暗部のどちらにも屈しない中間濃度部を検出す
る中間濃度部検出装置3と、中間濃度部検出装置3によ
り検出された中間濃度部の内、その有する面積が所定面
積以上の中間114度部を抽出し被検査物OBの表面検
査結果を出力する判定装置5と、から構成されている。
縞模様投影装置1は、多数の等間隔のスリットを有する
平板10と散乱光を射出する光源11とから構成されて
いて、被検査物OBの表面に所定ピッチの縞模様(本実
施例では、明部・暗部共にその間隔1.5mmとしてい
る)を写し出す。尚、本実施例では、被検査物OBは光
沢を有する鉄板であって、縞模様は虚像として写し出さ
れる。被検査物OBが光沢を有しない物体の時には、光
源11を平行光を射出する構成とし、縞模様を被検査物
O8の表面に投影することができる。
中間濃度部検出装@3は、被検査物OBの表面に写る縞
模様を躍映する囮像管(以下、単にTVカメラという)
30と、TVカメラ30により囮映された縞模様の中間
温度部を検出する分配器31、バイパスフィルタ回路3
2.絶対値回路33゜ロウパスフィルタ回路34.比較
器35.混合器36とから構成されている。尚、CRT
ディスプレイDP1はTVカメラ30により躍映された
縞模様を表示するもので必って、CRTディスプレイD
P2は混合器36より出力される中間濃度部を表示する
ものである。
判定装置5は、画像収縮回路51.欠陥部抽出回路52
とから構成されている。この判定装置5は、所謂マイク
ロコンピュータを用いた論理演算回路として構成されて
いる。尚、CRTディスプレイDP3は画像収縮回路5
1より出力される画像(ビデオ信号)を表示するもので
ある。
次に本実施例の表面欠陥検査装置の作用を、第2図に示
すタイミングチャートを適宜用いて説明する。第2図に
示すタイミングチャートは、中間濃度部検出装置3およ
び判定装置5の各部の出力信号を表わしたものである。
縞模様投影装置1により被検査物OB上に写される縞模
様の虚像は、TVカメラ30よりビデオ信号VD1 (
第2図タイミングチャート ビデオ信号MDI)に変換
されて分配器31に出力される。また、このビデオ信号
VD1は、CRTディスプレイDPIにも出力され、T
Vカメラ30により躍映された画像はCRTディスプレ
イDPIの画面上に再生される。TVカメラ30から出
力されるビデオ信号VD1は、被検査物OBの表面が滑
らかな状態の時には、本来縞模様が持つ明部のハイレベ
ルと暗部のロウレベルとを規則正しい状態で有する正弦
波的な信号となるが、凹凸等の欠陥部を有している時に
は、その欠陥部により縞模様は歪み・乱されて明部のハ
イレベルおるいは暗部のロウレベルのどちらにも属しな
いレベル所謂中間濃度の信号を有することになる(第2
図タイミングチャート ビデオ信号VD1)。この欠陥
部により歪み・乱された中間濃度部badは、第1図に
絵画的に示したようにCRTディスプレイDP1の画面
上おいても観察することができる。
尚、TVカメラ30によるビデオ信号VD1は、被検査
物OB上の縞模様に直交するスキャン走査による映像信
号である。従って、第2図に示されるタイミングチャー
トは時ntをパラメータとしている。
分配器31に入力されたビデオ信号VD1は、ここで、
画像のビデオ信号VD2と同期信号SSとに分離される
(第2図タイミングチャート ビデオ信号VD2.同期
信号SS)。ビデオ信号VD1の有するビデオ信号VD
2は正のレベル、同期信号SSは負のレベルなので、分
配器31は整流器等を用いて簡易に構成することができ
る。
分配器31から出力されるビデオ信号D2は、バイパス
フィルタ回路32に入力される。バイパスフィルタ回路
32に入力されたビデオ信号VD2は、ここでオフセッ
ト電圧力を取り除かれて、縞模様の明部を正レベル、暗
部を9のレベルとするビデオ信号VD3に変換される。
これにより、中間濃度部badiるいは縞模様の明部と
暗部との境界部はほぼ零レベルの信号にされる(第2図
タイミングチャート ビデオ信号VD3)。尚、オフセ
ット電圧とは、被検査物O8自体が持つ明暗のレベル信
号である。
バイパスフィルタ回路32でオフセット電圧分を取り除
かれたビデオ信号VD3は、絶対値回路33に入力され
る。絶対値回路33に入力されたビデオ信@ V D 
3の暗部等の負のレベル信号は、ここで正レベルの信号
に変換される(第2図タイミングチャート ビデオ信@
VD4)。即ち、絶対値回路33に入力されたビデオ信
号VD3は、ここで仝波整流されたビデオ信号VD4と
なる。
絶対値回路33より出力されるビデオ信号VD4は、そ
のままの形で比較器35のプラス側に入力されると共に
、ロウパスフィルタ回路34を介して比較器35のマイ
ナス側にも入力される。
ロウパスフィルタ回路34は所謂積分回路として構成さ
れていて、入力されたビデオ信号VD4に基づいて浮動
しきい値信号SLを作る(第2図タイミングチャート 
浮動しきい値信号SL>。
この浮動しきい値信号SLは、第2図のタイミングヂャ
ートに示すように、どデオ信@ V D 4の明部のハ
イレベル信号より小さく、中間濃度部badより大きい
信号とされている。
浮動しきい値信号SLを比較の基準値とする比較器35
は、明部をハイレベル、暗部をロウレベルとする2値信
月のビデオ信号VD5を混合器36に出力する(第2図
タイミングチャート ビデオ信号VD5>。
ビデオ信号VD5は混合器36に入力されるが、この混
合器36には、CRTディスプレイDP2に映像出力す
るために、上述した分配器31により分離された同期信
号SSも入力され、ビデオ信号VD5は同期信号SSを
含んだビデオ信号VD6とされる(第2図タイミングチ
ャート ビデオ信号VD6)。同期信号SSを含んだビ
デオ信号VD6は、判定装置5の画像収縮回路51に出
力される。尚、ビデオ信号VD6は、CRTディスプレ
イDP2にも出力されるが、CRTディスプレイDP2
の画面上には、ビデオ信号VD6のロウレベル信号が暗
部として表示される。即ち、上述したCRTディスプレ
イDP1に表示された明部と暗部との境界線と中間濃度
部badとが画面上に暗部として表示されるのでおる。
判定装置5の画像収縮回路51に入力されるビデオ信@
VD6は、周知のごとく、第3図に示す走査線に従った
信号である。つまり、中間濃度部badが表われる走査
線rnにおいては、ビデオ信号VD6の1塙模様となる
暗部の画素数は少なく、中間濃度部badの画素数は多
数である。これにより、画像収縮回路51は、暗部とな
る画素数が所定数以上の場合には、暗部となる画素を明
部の画素とする所謂画像収縮作業を行なう。この画像収
縮作業は、縞模様の暗部が消えるまで行なわれる(第2
図タイミングチャート ビデオ信号VD7)。ここで、
CRTディスプレイDP1.OF2、OF3の画面サイ
ズは100mmX100mmであり、走査線の横・縦の
1ラインの画素数は各々512とされている。従って、
]画素の面積は約0.2x0.2mm2である。また、
画像収縮作業は以下のようにして行なわれる。即ち、1
ラインの走査線において、暗部となる画素数が所定数(
本実施例では、2〜3画素)続いている場合のみに1画
素の暗部とし、この作業を所定間隔毎の縦縞が消えるま
で行なうのである。
縞模様の暗部が消去されたビデオ信号VD7は、欠陥部
抽出回路52に出力される。尚、このビデオ信号VD7
は、CRTディスプレイDP3にも出力され、中間濃度
部badは画面上に表示される。この時の中間濃度部b
adは、画像収縮回路51により若干収縮された画像と
なっている。
欠陥部抽出回路52では、中間濃度部badの面積の大
きざが判定される。本実施例では、中間濃度部badの
大きさが直径1mm程度の円に相当する大きさ以上の時
、即ち、中間濃度部badの画素数が255画素上の時
に中間濃度部badを欠陥部とし、NG信号を出力する
尚、第4図に示すフローヂャートは、以上詳細に説明し
た本実施例の中間濃度部検出装置3および判定装置3の
行なう動作をフローチャートとして表わしたものである
。従って、TVカメラ30によるビデオ信号VD1を一
旦デジタル画像信号に変換し、中間濃度部検出装置3と
判定装置5とを論理演算回路として構成した場合には、
第4図に示すフローチャートに従って上述した処理を実
現すればよい。
本実施例の表面欠陥検査装置によると、被検査物O8上
の凹凸等の欠陥部を、TVカメラ30がとらえた被検査
物08表面の画像に含まれる中間濃度部を用いて正確か
つ自動的に検出することができる。また、画像収縮作業
により明暗模様の明部と暗部との境界に発生する中間濃
度部と、欠陥による中間濃度部badとを明確に区別し
て欠陥部を検出することができる。
これにより、ロボット等の産業機器を用いて物体の表面
検査を無人化することができ、著しく作業効率を高める
ことができるという優れた効果を有する。また、被検査
物08上の中間濃度部badの犬きざは数値化すること
ができ、定量値(本実施例では25画素以上)と比較さ
れて欠陥部と判定されるので、検査結果に均一性を有し
極めて信頼性の高い検査結果を得ることができるという
効果も奏している。更に、凹凸等の欠陥部を中間a’1
3E部badとして検出することができるので、被検査
物O8の表面が曲面等の場合に、明暗の縞模様の間隔が
狭くなっても、欠陥部により歪み・乱れる縞の面積は一
定となり正確な検査結果を得ることができるという優れ
た効果を有している。
また、本実施例においては、明暗模様の明部および暗部
の間隔を各々1.5mmとしたが、検出したい欠陥部の
大きさよりも縞間隔を狭くしていけば、欠陥部検出の精
度を向上させることができるという効果も奏する。更に
、本実施例においては、CRTディスプレイを3台用い
て、検査処理の各段階の状態を見ることができるので、
判定装置5の出力結果と合わせて用いることにより誤検
出を防ぐことができると共に、欠陥部の位置確H,9で
きるという効果も有している。
以上、本発明の表面欠陥検査装置の一実施例について詳
細に説明したが、本発明の表面欠陥検査装置は上記実施
例に回答限定されるものではなく、本発明を逸脱しない
範囲において種々の実施を行なうことができるのはもら
ろんのことである。
発明の効果 本発明の表面欠陥検査装置によると、被検査物上の凹凸
等の欠陥部を自動的に検出することができるという優れ
た効果を有している。これにより、ロボット等の産業機
器を用いて物体の表面検査を無人化することができ、著
しく作業効率を高めることができるという優れた効果を
有する。また、被検査物上の中間濃度部の大きさは数値
化することができ、定量値と比較されて欠陥部と判定さ
れるので、検査結果に均一性を有し極めて信頼性の高い
検査結果を(qることかできるという効果も奏している
。更に、凹凸等の欠陥部を中間濃度部として検出するこ
とができるので、被検査物の表面が曲面等の場合に、明
暗の縞模様の間隔が狭くなっても、欠陥部により歪み・
乱れる縞の面積は一定となり正確な検査結果を得ること
ができるという優れた効果を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図、第2図はその各部の出力信号を示すタイ
ミングチャート、第3図はそのCRTディスプレイDP
2の走査線を示す説明図、第4図はその中間濃度部検出
装置3および判定装置5の行なう動作を示すフローチャ
ート、で必る。 1・・・縞模様投影装置 3・・・中間濃度部検出装置 5・・・判定装置 DPI、DP2.DP3・・・CRTディスプレイOB
・・・被検査物 bad・・・中間濃度部 rn・・・走査線

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 予め定められた明暗模様を被検査表面に写し出す明暗模
    様投影手段と、 該明暗模様投影手段により上記被検査表面に写し出され
    た上記明暗模様の明部および暗部のどららにも属しない
    中間濃度部を検出する中間濃度部検出手段と、 該中間濃度部検出手段により検出された上記中間濃度部
    の内、その有する面積が所定面積以上の中間濃度部を抽
    出し上記被検査表面の欠陥部とする欠陥部検出手段と、 を備えて構成された表面欠陥検査装置。
JP17528886A 1986-07-23 1986-07-23 表面欠陥検査装置 Expired - Fee Related JPH0752159B2 (ja)

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002148195A (ja) * 2000-11-06 2002-05-22 Sumitomo Chem Co Ltd 表面検査装置及び表面検査方法
JP2004191070A (ja) * 2002-12-06 2004-07-08 Daihatsu Motor Co Ltd 塗装面の検査装置

Cited By (2)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2002148195A (ja) * 2000-11-06 2002-05-22 Sumitomo Chem Co Ltd 表面検査装置及び表面検査方法
JP2004191070A (ja) * 2002-12-06 2004-07-08 Daihatsu Motor Co Ltd 塗装面の検査装置

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