JPS6338146A - 表面欠陥検査装置 - Google Patents

表面欠陥検査装置

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JPS6338146A
JPS6338146A JP18249986A JP18249986A JPS6338146A JP S6338146 A JPS6338146 A JP S6338146A JP 18249986 A JP18249986 A JP 18249986A JP 18249986 A JP18249986 A JP 18249986A JP S6338146 A JPS6338146 A JP S6338146A
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JP
Japan
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defect
inspected
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signal
light
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JP18249986A
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English (en)
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Masato Sakakibara
正人 榊原
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 灸団り亘力 [産業上の利用分野] 本発明は、物体の表面形態等の欠陥を検査する装置に関
する。
[従来の技術] 従来J:り物体表面における凹凸等の有無の検査は、検
査員により視覚めるいは触覚に基づいて行なわれている
。この検査員の視覚あるいは触覚による検査は、検査員
の主観または熟練度が介在し易く、検査の均一性に関し
て問題がおり、また検査に必要な手間や時間が多くかか
り能率が悪くなるといった問題がおった。これらの問題
を解決するものとして、例えば、特開昭52−9098
8号に示される「物体の表面欠陥検査方法」等の発明や
提案等がなされている。これらの発明や提案等は、検査
される物体表面に縞状の明暗模様等を写し出し、物体表
面に凹凸等の欠陥があれば、写し出された縞模様等が歪
み・乱れることを利用して物体表面の欠陥検査を行なう
ものである。
[発明が解決しようとする問題点] 上記発明や提案等は、検査される物体表面に写し出され
る縞模様等の歪み・乱れにより物体表面の欠陥の有無を
判定することができるので、検査の均一性を向上させ、
作業の能率化を図ることができるという優れた効果を有
するものの、猶、依然として、縞模様等の歪み・乱れの
程度を検査0が判断することによって物体表面の欠陥の
有無を判定しているので、未だに検査結果の均一性に欠
けるといった問題が残されていた。このため、この縞模
様等の歪み・乱れを数値化し、物体表面の欠陥の有無を
定量値として判断しようとする試みもなされているが、
猶、上記問題を解決するには至っていない。この結果、
物体表面の欠陥検査の省力化やロボット等を用いての無
人化は妨げられている。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
あり、物体表面の欠陥の有無を客観的・定損的かつ自動
的に検査することのできる表面欠陥検査装置を12供す
ることをその目的としている。
発明の構成 [問題点を解決するための手段」 本発明の表面欠陥検査装置は、次のように構成されてい
る。即ら、 本発明の表面欠陥検査装置は、 予め定められた明暗の縞模様を被検査表面に投影する明
暗模様投影手段と、 該明暗模様投影手段により明暗模様の投影された上記被
検査表面を瞳像し白部と黒部との2値信号に分離する分
離手段と、 該分離された2値信号から上記明暗模様投影手段が投影
する明暗の縞模様を除去し、上記被検査表面の欠陥部を
検出する欠陥部検出手段と、を備えて構成されている。
ここで、明暗模様投影手段とは、予め定められた明暗模
様を被検査表面に写し出す手段のことであって、映写機
等を用いて所定パターン、例えば、縞状明暗模様等を被
検査表面に写し出すよう構成すること等種々の構成を考
えることができる。尚、被検査表面に写し出される明暗
模様は、被検査表面の反射によって生じる虚像であって
もよいし、あるいは単に投影された像でおってもよい。
分離手段とは、明暗模様投影手段により明18模様の投
影された被検査表面を九像し白部と黒部との2値信号に
分離する手段であって、−次元もしくは二次元の穎像手
段によって撮像された明暗模様の明度を所定の基準値と
比較することにより白部と黒部との2値信号に分離する
よう構成すること等種々の構成を考えることができる。
こうした所定の基準値としては、明暗模様の明るさを一
定に調整しくqる場所には一定値としてもよいし、明暗
模様の持つ明るさの平均値に基づく値を用いてもよい。
一般に、検査される物体表面に凹凸等の欠陥部がある場
合には、物体表面に写し出された明暗模様が欠陥部によ
り歪み・乱され、欠陥部の明るさは明暗模様の明部おる
いは暗部に属しないレベルに変化する。これにより、明
暗模様の投影された物体表面を撮像し、この瞳像によっ
て得られた信号を所定の基準値と比較して白部と黒部と
の2埴信号に分離すれば、1qられる2値信号は、投影
手段によって投影された明暗の縞模様と較べて、表面欠
陥部に応じた部分が異なるものとなる。
また、表面欠陥による白部あるいは黒部は、上記所定の
基準値の値によりどららに属するかが決定するが、どち
らに属するよう基準値を選定してもJ:いことはらちろ
んのことである。
欠陥部検出手段とは、分離手段により分離された2値信
号から明暗模様投影手段が投影する明暗の縞模様を除去
し、被検査表面の欠陥部を検出する手段であって、所定
ピッチの明暗の縞模様に塁づく2値信号分を上記分離手
段による2値信号から除去した後に残った信号を所定方
向に積分する等して被検査表面の欠陥部とする等種々の
構成を考えることができる。また、この時、積分して得
られた面積が所定値以上の時に欠陥部とすることもでき
る。
[作用] 上記構成を有する本発明の表面欠陥検査装置は次の如く
作用する。
本発明の表面欠陥検査装置は、明暗模様投影手段により
明暗模様の投影された被検査表面を分離手段によって瞳
像し山部と黒部との2値信号に分離し、欠陥部検出手段
によって分離された2値信号から上記明暗の縞模様を除
去し被検査表面の欠陥部を検出するよう働く。
[実施例] 次に本発明の表面欠陥検査装置の構成を一層明らかにす
るために好適な実施例を図面と共に説明する。
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図である。
本実施例の表面欠陥検査装置は、大きくは、凹凸等の欠
陥の有無が検査される被検査物OBの表面に縞状の明暗
模様を投影する縞模様投影装置1と、被検査物O8の表
面に投影された縞模様の虚像を倣映しその明暗模様を被
検査物OBの表面欠陥部および明暗模様の暗部が各々属
する黒部と明暗模様の明部が属する白部とに分離する2
値化装置3と、2値化装置3により分離された黒部から
明暗模様の暗部に相当する黒部を除去した後の黒部の内
、その有する面積が所定面積以上の黒部を仙出し被検査
物O8の表面検査結果を出力する判定装置W 5と、か
ら構成されている。
縞模様投影装@1は、多数の等間隔のスリットを有する
平板10と散乱光を射出する光源11とから構成されて
いて、被検査物OBの表面に所定ピッチの縞模様(本実
施例では、明部・暗部共にスリン1へのその間隔1.5
mmとしている)を写し出す。尚、本実施例では、被検
査物OBは光沢を有する鉄板であって、縞模様は虚像と
して写し出される。
2値化装置3は、被検査物OBの表面に写る明暗模様を
穎映する撮像管(以下、単にTVカメラという>30と
、TVカメラ30により躍映された明暗模様を黒部と白
部とに分離する分配器31゜ロウパスフィルタ回路32
.対数増幅器33.比較器34.混合器35とから構成
されている。尚、CRI−デイスプレィDP1はTVカ
メラ30により蹟映された縞模様を表示するもので必っ
て、CRTデイスプレィDP2は混合器36より出力さ
れる欠陥部を表示するものでおる。
判定装置5は、画像収縮回路51.欠陥部抽出回路52
とから構成されている。この判定装置5は、所謂マイク
ロコンピュータを用いた論理演算回路として構成されて
いる。尚、CRTデイスプレィDP3は画像収縮回路5
1より出力される画像(ビデオ信号)を表示するもので
ある。
次に本実施例の表面欠陥検査装置の作用を、第2図に示
すタイミングチャートを適宜用いて説明する。第2図に
示すタイミングチャートは、2値化装置3および判定装
置5の各部の出力信号を表わしたものである。
縞模様投影装置1により被検査物OB上に写される縞模
様の虚像は、TVカメラ30よりビデオ信gVD1(第
2図タイミングチャート ビデオ信号VD1)に変換さ
れて分配器31に出力される。また、このビデオ信号M
DIは、CRTデイスプレィDP1にも出力され、TV
カメラ30により穎映された画像はCRTデイスプレィ
DP1の画面上に再生される。TVカメラ30から出力
されるビデオ信号VDIは、被検査物OBの表面が滑ら
かな状態の時には、本来縞模様が持つ明部のハイレベル
と■0部のロウレベルとを規則正しい状態で有する正弦
波的な信号となるが、凹凸等の欠陥部を有している時に
は、その欠陥部により縞模様は歪み・乱されて明部のハ
イレベルあるいは1111部のロウレベルのどららにも
属しないレベルの信号、換言すれば、欠陥部に対応する
欠陥部レベルの信号を有することになる(第2図タイミ
ングチャート ビデオ信号VD1区間bad)。この欠
陥部により歪み・乱された欠陥レベル部badは、第1
図に絵画的に示したようにCRTデイスプレィDPIの
画面上おいても観察することができる。尚、TVカメラ
30によるビデオ信MVD1は、被検査物OB上の縞模
様に直交するスキャン走査による映保信号である。従っ
て、第2図に示されるタイミングチャートは時間tをパ
ラメータとしている。
分配器31に入力されたビデオ信号VD1は、ここで、
画像のビデオ信号VD2と同朋信@SSとに分離される
(第2図タイミングチャート ビデオ信号VD2.同門
信号SS)。ビデオ信号■D1に含まれるビデオ信号V
 D 2は正のレベル、同期信号SSは負のレベルなの
で、分配器31は整流器等を用いて簡易に構成すること
ができる。
分配器31から出力されるビデオ信号VD2は、一方は
比較器34のプラス側に直接入力され、他方はロウパス
フィルタ回路32および対数増幅器33を介して比較器
34のマイナス側に入力される。即ら、ビデオ信AVD
2は、ロウバスフィルタ回路32と対数増幅器33とを
介することによりビデオ信号VD2と比較される基準値
としての浮動しきい値信号に変換される。次に、このロ
ウバスフィルタ回路32と対数増幅器33とについて説
明する。
ロウパスフィルタ回路32は所謂積分回路として構成さ
れ、入力されたビデオ信号VD2に基づいて浮動しきい
値信号SLIを作る(第2図タイミングチャート 浮動
しきい値信号5L1)。この浮動しきい値信号S11は
、第2図のタイミングチ〜・−トに示すように、ビデオ
信号VD2の明部のハイレベル信号より小さく、欠陥レ
ベル部badより大きい信号とされている。
ロウバスフィルタ回路34より出力される浮動しきい値
信号SLIは対数増幅器33に入力される。この対数増
幅器33は、入力信号を対数的に増幅、即ら、人力信号
が低い(1らの時には増幅率を大きくし入力信号が高い
値の時には増幅率を小さくして入力信号を増幅するもの
である。従って、対数増幅器33から出力される浮動し
きい値信号S L 2は、第2図のタイミングチャー1
〜に示すように、欠陥レベル部badに対して浮動しき
い値信号SLIより大ぎい値の信号となる(第2図タイ
ミングチャート )1動しきい値信号St 2>。
この処理は、次の理由による。即ち、比較器34は、浮
動しきい値信号S[−2とビデオ信号VD2とを比較し
、欠陥レベル部badを黒部とする処理を行なうため、
浮動しきい値信号312を欠陥レベル部badより確実
に大きい値としているのである。尚、この処理は、オフ
レット電圧を浮動しきい値信@SL1に印加することに
よっても実現することができる。
浮動しきい値信号SL2を比較の基準値とする比較器3
4は、ビデオ信号VD2を2値信号のビデオ信号VD3
として出力するく第2図タイミングチャート ビデオ信
号VD3)。
ビデオ信号VD3は混合器35に入力されるが、この混
合器35には、CRTデイスプレィDP2に映像出力す
るために、上述した分配器31により分離された同期信
号SSも入力され、ビデオ信号VD3は同期信号SSを
含んだビデオ信号VD4とされる(第2図タイミングチ
ャート〜 ビデオ信号VD4)。同明信号SSを含んだ
ビデオ信号VD4は、判定装置5の画像収縮回路51に
出力される。尚、ビデオ信号VD4は、CRTデイスプ
レィDP2にも出力されるが、CRTデイスプレィDP
2の画面上には、ビデオ信号VD4のロウレベル信号が
暗部として表示される。即ち、上述したCRTデイスプ
レィDPIに表示された暗部と欠陥レベル部badとが
画面上に黒部として表示されるのである。
判定装置5の画像収縮回路5]に入力されるビデオ信号
VD4は、周知のごとく、第3図に示す走査線に従った
信号でおる。つまり、欠陥レベルbadが表われる走査
線rnにおいては、ビデオ信号VD4の縞模様となる黒
部の画素数は少なく、欠陥レベル部b a dの画素数
は多数である。これにより、画像収縮回路51は、黒部
となる画素数が所定数以上の場合には、黒部となる画素
を明部の画素とする所謂画像収縮作業を行なう。この画
像収縮作業は、縞模様の暗部が消えるまで行なわれる(
第2図タイミングチャート ビデオ信8VD5>。ここ
で、CRTデイスプレィDP1.DP2.DP3の画面
サイズは100mmx100mm、走査線の横・縦の1
ラインの画素数は各々512とされている。従って、1
画素の面積は約0.2XO,2mm2である。また、画
像収縮作業は以下のようにして行なわれる。■1ら、]
ラインの走査線において、黒部となる画素数が所定数(
本実施例では、5〜6画素)続いている鳴合のみに1画
素の黒部とし、この作業を所定間隔毎の縦縞が消えるま
で行なうのである。
縞模様の黒部が消去されたビデオ信号D5は、欠陥部抽
出回路52に出力される。尚、このビデオ信号VD5は
、CRTデイスプレィD1つ”3にし出力され、欠陥レ
ベル部badは画面上に表示される。この11!Iの欠
陥レベル部b a d L−1、画像収縮回路51によ
り若干収縮された画像となっている。
欠陥部抽出回路52では、欠陥レベル部badの面積の
大きざが判定される。本実施例では、欠陥レベル部ba
dの大きざが直径1.Omm程度の円に相当する大きざ
以上の時、即ら、欠陥レベル部badの画素数が25画
素を越える時に欠陥レベル部badを欠陥部とし、NG
信号を出力する。これは、縞模様投影装置1の平板10
のスリット間隔が1.5mmであっても、被検査物08
表面に写し出される明暗模様の暗部が巾1.Omm以下
になることに起因する。
尚、第4図に示すフローチャートは、以上詳細に説明し
た本実施例の2値化装置3および判定装置5の行なう動
作をフローチ+7−1”として表わしたものである。従
って、TVカメラ30によるビデオ信号VD1を−Hデ
ジタル画像信号に変換し、2値化装置3と判定装置5と
を論理演算回路として構成した場合には、第4図に示す
フローチャートに従って上述した処理を実現すればよい
本実施例の表面欠陥検査装置によると、被検査物OB上
の凹凸等の欠陥部を、TVカメラ30がとらえた被検査
物08表面の画像に含まれる欠陥レベル部を用いて正確
かつ自動的に検出することができる。また、画像収縮作
業により明暗模様の暗部に相当する黒部と、欠陥部によ
る欠陥レベル部badとを明確に区別して欠陥部を検出
することができる。
これにより、ロボット等の産業機器を用いて物体の表面
検査を無人化することができ、著しく作業効率を高める
ことができるという優れた効果を有する。また、被検査
物OB上の欠陥レベル部badの大きさは数値化するこ
とができ、定量値(本実施例では25画素以上)と比較
されて欠陥部と判定されるので、検査結果に均一性を有
し極めて信頼性の高い検査結果を得ることができるとい
う効果も奏している。更に、凹凸等の欠陥部による黒部
の欠陥レベル部badを簡易な構成により検出すること
ができるという優れた効果を有する。また、本実施例に
おいては、明暗模様の明部および暗部の間隔を各々1.
5mmとしたが、検出したい欠陥部の大きさよりも縞間
隔を狭くしていけば、欠陥部検出の精度を向上させるこ
とができるという効果も奏する。更に、本実施例におい
ては、CRTデイスプレィを3台用いて、検査処理の各
段階の状態を見ることができるので、判定装置5の出力
結果と合わせて用いることにより誤検出を防ぐことがで
きると共に、欠陥部の位置確認をできるという効果も有
している。
以上、本発明の表面欠陥検査装置の一実施例について詳
細に説明したが、本発明の表面欠陥検査装置は上記実施
例に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱
しない範囲において種々の態様で実施を行なうことがで
きるのはもちろんのことである。
発明の効果 本発明の表面欠陥検査装置によると、被検査物上の凹凸
等の欠陥部を自動的に検出することができるという優れ
た効果を有している。これにより、ロボット等の産業機
器を用いて物体の表面検査を無人化することができ、著
しく作業効率を高めることができるという優れた効果を
有する。また、被検査物上の欠陥部の大きさは数値化す
ることができ、定量値と比較されて欠陥部と判定される
ので、検査結果に均一性を有し極めて信頼性の高い検査
結果を得ることができるという効果も奏している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図、第2図はその各部の出力信号を示すタイ
ミングチV−ト、第3図はそのCRTデイスプレィDP
2の走査線を示す説明図、第4図はその2値化装置3お
よび判定装置5の行なう動作を示すフローチャート、で
ある。 1・・・縞模様投影装置 3・・・2値化装置 5・・・判定装置 DPl、DP2.DP3・・・CRTデイスプレィOB
・・・被検査物 bad・・・欠陥レベル部 rn・・・走査線

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 予め定められた明暗の縞模様を被検査表面に投影する明
    暗模様投影手段と、 該明暗模様投影手段により明暗模様の投影された上記被
    検査表面を撮像し白部と黒部との2値信号に分離する分
    離手段と、 該分離された2値信号から上記明暗模様投影手段が投影
    する明暗の縞模様を除去し、上記被検査表面の欠陥部を
    検出する欠陥部検出手段と、を備えて構成された表面欠
    陥検査装置。
JP18249986A 1986-08-02 1986-08-02 表面欠陥検査装置 Pending JPS6338146A (ja)

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JP18249986A JPS6338146A (ja) 1986-08-02 1986-08-02 表面欠陥検査装置

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