JPS6338147A - 表面欠陥検査装置 - Google Patents

表面欠陥検査装置

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JPS6338147A
JPS6338147A JP18256586A JP18256586A JPS6338147A JP S6338147 A JPS6338147 A JP S6338147A JP 18256586 A JP18256586 A JP 18256586A JP 18256586 A JP18256586 A JP 18256586A JP S6338147 A JPS6338147 A JP S6338147A
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JP
Japan
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defect
signal
inspected
light
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Pending
Application number
JP18256586A
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English (en)
Inventor
Masato Sakakibara
正人 榊原
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 及皿り貝仰 [産業上の利用分野] 本発明は、物体の表面形態等の欠陥を検査する装置に関
する。
[従来の技術] 従来より物体表面における凹凸等の有無の検査は、検査
員により視覚あるいは触覚に基づいて行なわれている。
この検査員の視覚あるいは触覚による検査は、検査員の
主観または熟練度が介在し易く、検査の均一性に関して
問題がおり、また検査に必要な手間や時間が多くかかり
能率が悪くなるといった問題があった。これらの問題を
解決するものとして、例えば、特開昭52−90988
号に示される[物体の表面欠陥検査方法]等の発明や提
案等がなされている。これらの発明や提案等は、検査さ
れる物体表面に縞状の明暗模様等を写し出し、物体表面
に凹凸等の欠陥がおれば、写し出された縞模様等が歪み
・乱れることを利用して物体表面の欠陥検査を行なうも
のでおる。
[発明が解決しようとする問題点] 上記発明や提案等は、検査される物体表面に写し出され
る縞模様等の歪み・乱れにより物体表面の欠陥の有無を
判定することができるので、検査の均一性を向上させ、
作業の能率化を図ることができるという優れた効果を有
するものの、猶、依然として、縞模様等の歪み・乱れの
程度を検査員が判断することによって物体表面の欠陥の
有無を判定しているので、未だに検査結果の均一性に欠
けるといった問題が残されていた。このため、この縞模
様等の歪み・乱れを数値化し、物体表面の欠陥の有無を
定伍値として判断しようとする試みもなされているが、
猶、上記問題を解決するには至っていない。この結果、
物体表面の欠陥検査の省力化やロボット等を用いての無
人化は妨げられている。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
あり、物体表面の欠陥の有無を客観的・定量的かつ自動
的に検査することのできる表面欠陥検査装置を提供する
ことをその目的としている。
1更の貝式 [問題点を解決するための手段] 本発明の表面欠陥検査装置は、次のように構成されてい
る。即ち、 本発明の表面欠陥検査装置は、 予め定められた明暗模様を被検査表面に写し出す明暗模
様投影手段と、 該明暗模様の写し出された被検査表面を所定の分解能で
躍像し、該分解能に応じた画素の明度を順次に検出し画
像信号として出力する画像信号出力手段と、 該画像信号出力手段により順次出力される画像信号に基
づいて、上記明暗模様の少なくとも明部に属しない画素
が所定個数以上続いたことを検出した時、所定の欠陥部
信号を出力する欠陥部信号出力手段と、 該欠陥部信号を用いて、上記被検査表面の欠陥部の面積
を算出し、該算出された面積が所定以上の部位を欠陥部
として抽出する欠陥部抽出手段と、を備えて構成されて
いる。
ここで、明暗模様投影手段とは、予め定められた明暗模
様を被検査表面に写し出す手段のことであって、映写機
等を用いて所定パターン、例えば、縞状明暗模様等を被
検査表面に写し出すよう構成すること等種々の構成を考
えることができる。尚、被検査表面に写し出される明暗
模様は、被検査表面の反射によって生じる虚像であって
もよいし、おるいは単に投影された像であってもよい。
画像信号出力手段とは、明暗模様投影手段により明暗模
様の写し出された被検査表面を所定の分解能で暗像し、
この分解能に応じた画素の明度を順次に検出し画像信号
として出力する手段であって、明118の縞模トにと交
差する方向に走る走査線に従って被検査表面に形成され
た明暗模様を所定の分解能で撮像し、所定の分解能に応
じた画素の明度を電圧レベルとして出力する等種々の構
成を考えることができる。
所定の欠陥部信号を出力する欠陥部信号出力手段とは、
画像信号出力手段により順次出力される画像信号に基づ
いて、被検査表面に写し出される明暗模様の少なくとも
明部に属しない画素が所定個数以上続いたことを検出し
た時、所定の信号を欠陥部信号として出力する手段であ
って、ディスクリートな回路や論理演算回路として構成
することが考えられる。一般に、明暗模様投影手段によ
り被検査表面に形成される明暗模様は、被検査表面に凹
凸等の欠陥部を有する場合には、欠陥部により歪み・乱
されて少なくとも正常時の明暗模様の明部に属しない明
度に変化する。これにより、被検査表面の少なくとも明
部に属しない明度の部位を検出し表面欠陥の検出に供す
るのでおる。
[作用] 上記構成を有する本発明の表面欠陥検査装置は次の如く
作用する。
本発明の表面欠陥検査装置は、明暗模様投影手段により
被検査表面に写し出された明暗模様を画像信号出力手段
により所定の分解能で撮像すると共に該分解能に応じた
画素の明度を順次に画像信号として出力し、この画像信
号に基づいて、欠陥部信号出力手段により上記明暗模様
の少なくとも明部に属しない画素が所定面積以上続いた
ことを検出した時、所定の欠陥部信号を出力し、該欠陥
部信号を用いで、欠陥部抽出手段により算出された被検
査表面の欠陥部の面積が所定面積以上の時にこれを欠陥
部として抽出するよう働く。
[実施例] 次に本発明の表面欠陥検査装置の構成を一層明らかにす
るために好適な実施例を図面と共に説明する。
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図である。
本実施例の表面欠陥検査装置は、大きくは、凹凸等の欠
陥の有無が検査される被検査物OBの表面に縞状の明暗
模様を投影する縞模様投影装置1と、被検査物OBの表
面に投影された縞模様の虚像を囮映し明暗模様の濃度レ
ベルの変化を周波数の変化とするビデオ信号を出力する
画像信号出力装置3と、画像信号出力装置3より出力さ
れる画像信号から被検査物OBの表面欠陥による欠陥部
信号を検出する欠陥部信号検出装置5と、欠陥部信号検
出装置5から出力される欠陥部信号に基づく欠陥部の面
積が所定面積以上の場合NG信号を出力する判定装置7
と、から構成されている。
縞模様投影装置1は、多数の等間隔のスリットを有する
平板10と散乱光を射出する光源11とから構成されて
いて、被検査物OBの表面に所定ピッチの縞模様(本実
施例では、明部・暗部共にその間隔1.5mmとしてい
る)を写し出す。尚、本実施例では、被検査物08は光
沢を有する鉄板であって、縞模様は虚像として写し出さ
れる。
画像信号出力装置3は、本実施例では撮像管(以下、単
にTVカメラという>30を用いて構成されている。T
Vカメラ30は、被検査物OB上の縞模様に直交するス
キャン走査による画像信号(ビデオ信号)を欠陥部信号
検出装置5の中間濃度部検出回路51に出力すると共に
、CRTデイスプレィDPIにも出力しその撮映した画
像を画面上に再生する。
欠陥部信号検出装置5は、中間濃度部検出回路51、パ
ルス発生回路52.5個のシフトレジスタよりなるシフ
トレジスタ回路53.アンド回路54、インバータ55
.混合器56とから構成されている。これら各回路の構
成および作用については詳しく後述する。尚、CRTデ
イスプレィDP2は、混合器56より出力される欠陥部
信号を画面上に再生するものである。
判定装置7は、欠陥部抽出回路70を中心とし、マイク
ロコンピュータを用いた論理演算回路として構成されて
いる。
次に本実施例の表面欠陥検査装置の作用を、第2図に示
すタイミングチャートを適宜用いて説明する。第2図に
示すタイミングチャートは、画像信号出力装置3.欠陥
部信号検出装置5および判定装置7の各部の出力信号を
表わしたものでおる。
縞模様投影装置1によ−り被検査物OB上に写される縞
模様の1m像は、画像信号出力装@3のTVカメラ30
よりビデオ信号VD1 (第2図タイミングチャート 
ビデオ信@VDI)に変換されて欠陥部信号検出装置5
の中間濃度部検出回路51に出力される。このビデオ信
号VD1は、CRTデイスプレィDP1にも出力され、
第3図に示す走査線に従ってCRTデイスプレィDP1
の画面上に画像を再生するよう働く。CRTデイスプレ
ィDP1の画面サイズは100mmx100mmとされ
、走査線の横・縦の1ラインの画素数は各々512個と
されている。ここで、TVカメラ30から出力されるビ
デオ信号VD1は、被検査物O8の表面が滑らかな状態
の時には、本来縞模様が持つ明部のハイレベルと18部
のロウレベルとを規則正しい状態で有する正弦波的な信
号となるが、凹凸等の欠陥部を有している時には、その
欠陥部により縞模様は歪み・乱されて明部のハイレベル
あるいは暗部のロウレベルのどちらにも属しないレベル
所謂中間濃度の信号を有することになる(第2図タイミ
ングチャート ビデオ信号VD1区間bad)。この欠
陥部により歪み・乱された中間濃度部badは、第1図
に絵画的に示したようにCRTデイスプレィDPIの画
面上おいてもI2察することができる。
中間濃度部検出回路51は、ビデオ信号出力装置3より
入力したビデオ信号VD1を2値信号のビデオ信号VD
2と同明信号SSとに分離する(第2図タイミングチャ
ート ビデオ信号VD2゜同期信号SS)。即ち、ビデ
オ信号VD1に含まれる負のレベルの同期信号SSを整
流器等を用いて分離すると共に、正のレベルのビデオ信
号の内、縞模様の明部と暗部との境界の中間濃度部と欠
陥部としての中間濃度部badとを零レベルとして仝波
整流し、これを2値信号に変換する。この中間濃度部検
出回路51は、コンパレータ等を中心としたディスクリ
ートな回路として、あるいはマイクロコンピュータ等を
用いた論理演算回路として構成することができる。
中間濃度部検出回路51より出力される同期信号SSは
、パルス発生回路52に入力される。パルス発生回路5
2では、同期信号SSの負のレベルのパルスとパルスと
の間、即ち、第3図に示す1ラインの走査線rnにおい
て、等間隔の512個のパルス信号PSを出力する(第
2図タイミングチャート パルス信号PS)。この51
2個のパルス信号PSは、1ラインの走査線rnにおけ
る512個の画素に対応したものである。
一方、中間濃度部検出回路51より出力されるビデオ信
号VD2はシフトレジスタ回路53に入力される。シフ
トレジスタ回路53は、5個のシフトレジスタ53aな
いし53eより構成され、パルス発生回路52より出力
されるパルス信号PSに同期してシリアルのビデオ信号
D2を順次パラレル信号に変換する。即ち、ビデオ信号
VD2の6画素に相当するシリアル信号を、6画素のパ
ラレル信号に順次変換する。
アンド回路54は、シフトレジスタ回路53より出力さ
れる6画素のパラレル信号が総てロウレベルの時のみそ
の出力をハイレベルとする。即ら、パルス発生回路52
.シフトレジスタ回路53゜アンド回路54の働きによ
り、中間濃度部検出回路51より出力されるビデオ信@
 V D 2に、走査線上の1画素に相当するパルス信
号PS1を単位として6画素以上零レベルの部分が存在
する場合を除いて、アンド回路54の出力はそのまま零
レベルに保持する。従って、ビデオ信号VD2に、表面
欠陥により6画素以上に亘る零レベル信号が存在する場
合のみ、インバータ55の出力はロウレベルとなり、こ
れを欠陥部信号として混合器56に出力する。一方、被
検査物OBの表面に欠陥がない場合は、ビデオ信号VD
2に、6画素以上に亘る零レベル信号が存在しなくなり
、インバータ55の出力は総てハイレベルとなる。
インバータ55より出力されるビデオ信号VD3は混合
器56に入力されるが、この混合器56には、CRTデ
イスプレィDP2に映像出力するために、上述した中間
濃度部検出回路51により分離された同明信号SSも入
力され、ビデオ信号D3は同期信号SSを含んだビデオ
信号VD4とされる(第2図タイミングチャート ビデ
オ信号VD4)。同期信@SSを含んだビデオ信号VD
4は、判定装置7の欠陥部抽出回路70に出力される。
尚、ビデオ信号VD4は、CRTデイスプレィDP2に
も出力されるが、CRTデイスプレィDP2の画面上に
は、ビデオ信号VD4のロウレベル信号が暗部として表
示される。即ち、上述したCRTデイスプレィDP1に
表示された表面欠陥による中間濃度部badが画面−F
に暗部として表示されるのである。
欠陥部抽出回路70では、CRTデイスプレィDP2の
画面上に表示される中間濃度部badの面積の大きさが
判定される。本実施例では、中間濃度部badの大きさ
が直径”1mm程度の円に相当する大きざ以上の時、即
ち、中間濃度部badの画素数が25画素以上の時に中
間濃度部badを欠陥部とし、NG倍信号出力する。
尚、第4図に示すフローチャートは、以上詳細に説明し
た本実施例の表面欠陥検査装置の行なう動作をフローチ
p−1〜として表わしたちのである。
従って、TVカメラ30によるビデオ信号VD1を−H
デジタル画像信号に変換し、欠陥部信号検出装置5と判
定装置7とを論理演算回路として構成した場合には、第
4図に示すフローチャートに従って上述した処理を実現
すればよい。
本実施例の表面欠陥検査装置によると、被検査物OB上
の凹凸等の欠陥部を、TVカメラ30がとらえた被検査
物08表面の画像に含まれる中間濃度部を用いて正確か
つ自動的に検出することができる。またシフトレジスタ
回路53等の働きにより明暗模様の明部と暗部との境界
に発生する中間濃度部をリアルタイムに除去し表面欠陥
による中間濃度部badのみを高速で検出することがで
きる。
これにより、ロボット等の産業機器を用いて物体の表面
検査を無人化することができ、著しく作業効率を高める
ことができるという優れた効果を有する。また、被検査
物08上の中間濃度部badの大きさは数値化すること
ができ、定聞値(本実施例では25画素以上)と比較さ
れて欠陥部と判定されるので、検査結果に均一性を有し
極めて信頼性の高い検査結果を1qることかできるとい
う効果も奏している。更に、凹凸等の欠陥部を中間濃度
部badとして検出することができるので、被検査物O
Bの表面が曲面等の場合に、明暗の縞模様の間隔が狭く
なっても、欠陥部により歪み・乱れる縞の面積は一定と
なり正確な検査結果を得ることができるという優れた効
果を有している。
また、本実施例においては、明暗模様の明部および暗部
の間隔を各々1.5mmとしたが、検出したい欠陥部の
大きさよりも縞間隔を狭くしていけば、欠陥部検出の精
度を向上させることができるという効果も奏する。更に
、本実施例においては、CRTデイスプレィを2台用い
て、検査処理の各段階の状態を見ることができるので、
判定装置5の出力結果と合わせて用いることにより誤検
出を防ぐことができると共に、欠陥部の位置確認をでき
るという効果も有している。
以上、本発明の表面欠陥検査装置の一実施例について詳
細に説明したが、本発明の表面欠陥検査装置は上記実施
例に何等限定されるものではなく、本発明の要旨を逸脱
しない範囲において種々の態様で実施を行なうことがで
きるのはもちろんのことである。例えば、本実施例にお
いては、シフトレジスタ回路53のシフトレジスタの数
を5個としたが、除去したい中間濃度部の画素数に応じ
て適宜その数を変更すればよい。また、本実施例におい
ては、被検査物08の欠陥部を中間濃度部badとして
検出したが、TVカメラ3oがら出力されるビデオ信号
■D1を所定の基準値と比較することにより白部と黒部
との2値信号に分離し、該2値信号から明暗模様の明部
に相当する白部あるいは暗部に相当する黒部をシフトレ
ジスタ回路53、アンド回路54等を用いて除去する等
して欠陥部を検出するよう構成してもよい。
λ皿府苅ヌ 本発明の表面欠陥検査装置によると、被検査物上の凹凸
等の欠陥部を自動的かつ高速に検出することができると
いう優れた効果を有している。これにJ:す、ロボット
等の産業機器を用いて物体の表面検査を無人化すること
ができ、著しく作業効率を高めることができるという優
れた効果を有する。また、被検査物上の所定濃度部の大
ぎざは数値化することができ、定聞値と比較されて欠陥
部と判定されるので、検査結果に均一性を有し極めて信
頼性の高い検査結果を得ることができるという効果も奏
している。更に、凹凸等の欠陥部を所定濃度部として検
出することができるので、被検査物の表面が曲面等の場
合に、明暗の縞模様の間隔が狭くなっても、欠陥部によ
り歪み・乱れる縞の面積は一定となり正確な検査結果を
)qることかできるという優れた効果を有している。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図、第2図はその各部の出力信号を示すタイ
ミングチャート、第3図はそのCRTデイスプレィDP
1の走査線を示す説明図、第4図はその表面欠陥検査装
置の行なう動作を示すフローチャート、である。 1・・・、憤模様投影装置 3・・・画像信号出力装置 5・・・欠陥部信号検出装置 7・・・判定装置 DPI、DP2・・・CRTデイスプレィOB・・・被
検査物 bad・・・中間濃度部 rn・・・走査線

Claims (2)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)予め定められた明暗模様を被検査表面に写し出す
    明暗模様投影手段と、 該明暗模様の写し出された被検査表面を所定の分解能で
    撮像し、該分解能に応じた画素の明度を順次に検出し画
    像信号として出力する画像信号出力手段と、 該画像信号出力手段により順次出力される画像信号に基
    づいて、上記明暗模様の少なくとも明部に属しない画素
    が所定個数以上続いたことを検出した時、所定の欠陥部
    信号を出力する欠陥部信号出力手段と、 該欠陥部信号を用いて、上記被検査表面の欠陥部の面積
    を算出し、該算出された面積が所定以上の部位を欠陥部
    として抽出する欠陥部抽出手段と、を備えて構成された
    表面欠陥検査装置。
  2. (2)上記欠陥部信号出力手段は、順次入力した上記画
    像信号を逐次所定ビット数のパラレル信号に変換するシ
    フトレジスタと、該パラレル信号の論理積をとり、該論
    理積の結果を上記所定の欠陥部信号として出力するアン
    ド回路と、から構成されたことを特徴とする特許請求の
    範囲第1項記載の表面欠陥検査装置。
JP18256586A 1986-08-01 1986-08-01 表面欠陥検査装置 Pending JPS6338147A (ja)

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