JPS63111449A - 表面欠陥検査装置 - Google Patents

表面欠陥検査装置

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JPS63111449A
JPS63111449A JP25747186A JP25747186A JPS63111449A JP S63111449 A JPS63111449 A JP S63111449A JP 25747186 A JP25747186 A JP 25747186A JP 25747186 A JP25747186 A JP 25747186A JP S63111449 A JPS63111449 A JP S63111449A
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JP
Japan
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signal
image
area
inspected
video signal
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Application number
JP25747186A
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English (en)
Inventor
Masato Sakakibara
正人 榊原
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Toyota Motor Corp
Original Assignee
Toyota Motor Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 発明の目的 [産業上の利用分野] 本発明は、物体の表面形態等の欠陥を検査する装置に関
する。
[従来の技術] 従来より物体表面における凹凸等の有無の検査は、検査
員により視覚あるいは触覚に基づいて行なわれている。
この検査員の視覚めるいは触覚による検査は、検査員の
主観または熟練度が介在し易く、検査の均一性に関して
問題があり、また検査に必要な手間や時間が多くかかり
能率が悪くなるといった問題があった。これらの問題を
解決するものとして、例えば、特開昭52−90988
号に示される「物体の表面欠陥検査方法」等の発明や提
案等がなされている。これらの発明や提案等は、検査さ
れる物体表面に縞状の明暗模様等を写し出し、物体表面
に凹凸等の欠陥があれば、写し出された縞模様等が歪み
・乱れることを利用して物体表面の欠陥検査を行なうも
のである。
[発明が解決しようとする問題点] 上記発明や提案等は、検査される物体表面に写し出され
る縞模様等の歪み・乱れにより物体表面の欠陥の有無を
判定することができるので、検査の均一性を向上させ、
作業の能率化を図ることができるという優れた効果を有
するものの、猶、依然として、縞模様等の歪み・乱れの
程度を検査員が判断することによって物体表面の欠陥の
有無を判定しているので、未だに検査結果の均一性に欠
けるといった問題が残されていた。このため、この縞模
様等の歪み・乱れを数値化し、物体表面の欠陥の有無を
定量値として判断しようとする試みもなされているが、
猶、上記問題を解決するには至っていない。この結果、
物体表面の欠陥検査の省力化やロボット等を用いての無
人化は妨げられている。また、上記「物体の表面欠陥検
査方法」に示される提案等においては、縞模様の写し出
されていない部分を捉えた場合、欠陥部と誤検出すると
いった危惧も考えられた。
本発明は、上記問題点を解決するためになされたもので
あり、物体表面の欠陥の有無を客観的・定量的かつ自動
的に検査し、縞模様の写し出されていない部分の誤検出
を防ぐことのできる表面欠陥検査装置を提供することを
その目的としている。
■肌五量感 [問題点を解決するための手段] 本発明の表面欠陥検査装置は、次のように構成されてい
る。即ち、 本発明の表面欠陥検査装置は、 予め定められた明暗模様を被検査表面に写し出す明暗模
様投影手段と、 該明暗模様投影手段により上記被検査表面に写し出され
た明暗模様の像を光の強弱レベル信号として@像する瞳
像手段と、 該瞳像手段により瞳像された上記レベル信号を鈍化し、
この鈍化されたレベル信号を所定の基準値と比較するこ
とにより上記明暗模様の像によるレベル信号の領域を検
出する像領域検出手段と、該像領域検出手段により検出
された領域の上記像によるレベル信号が不規則になる不
規則信号を検出し上記被検査表面の欠陥部とする欠陥部
抽出手段と、 を備えて構成されている。
ここで、明暗模様投影手段とは、予め定められた明暗模
様を被検査表面に写し出す手段のことであって、映写機
等を用いて所定パターン、例えば、縞状明暗模様等を被
検査表面に写し出すよう構成すること等種々の構成を考
えることができる。尚、被検査表面に写し出される明暗
模様は、被検査表面の反射によって生じる虚像であって
もよいし、あるいは単に投影された像であってもよい。
像領域検出手段とは、@像手段により瞳像された光の強
弱レベル信号を鈍化し、この鈍化されたレベル信号を所
定の基準値と比較することにより明暗模様の像によるレ
ベル信号の領域を検出する手段であって、後)ホされる
第4図のタイミングチャートに示すように、光の強弱レ
ベル信号としてのビデオ信号VD2を所謂ロウパスフィ
ルタ回路を用い鈍化して瞳像されたレベル信号を平均化
し、明暗模様の写された部分と明暗模様の写されない部
分(第4図タイミングチャート ビデオ信号■21区間
are)とのしきい値を定め比較器等を用いて明暗模様
の像によるレベル信号の領域を検出するよう構成する等
種々の構成を考えることができる。尚、明暗模様の写さ
れていない部分が明暗模様の写された部分よりそのレベ
ルが高い場合でも、同様な構成として明暗模様の像によ
るレベル信号の領域を検出することができる。
欠陥部抽出手段とは、像領域検出手段により検出された
領域における明暗模様の像によるレベル信号が不規則に
なる不規則信号を検出し被検査表面の欠陥部とする手段
であって、検査される物体表面に凹凸等の欠陥部があれ
ば、写し出された明暗模様の像が欠陥部により歪み・乱
され明暗模様の明部必るいは暗部のどちらにも屈しない
レベルの不規則な信号となるが、この不規則な信号を明
部あるいは暗部のどちらにも屈しないレベルの信号とし
て比較器等を用いて、おるいは明暗模様の明部と暗部と
による周期と異なる信号としてフィルタ回路等を用いて
検出するよう構成すること等が考えられる。
[作用] 上記構成を有する本発明の表面欠陥検査装置は次の如く
作用する。
本発明の表面欠陥検査装置は、 明暗模様投影手段により被検査表面に写し出された明暗
模様の像を瞳像手段により光の強弱レベル信号としてi
像し、この撮像されたレベル信号を像領域検出手段によ
り鈍化すると共に鈍化されたレベル信号を所定の基準値
と比較して明暗模様の像によるレベル信号の領域を検出
した後、検出された領域の上記像によるレベル信号が不
規則になる不規則信号を欠陥部抽出手段により検出し上
記被検査表面の欠陥部とするよう働く。
[実施例] 次に本発明の表面欠陥検査装置の構成を一層明らかにす
るために好適な実施例を図面と共に説明する。
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図である。
本実施例の表面欠陥検査装置は、大きくは、凹凸等の欠
陥の有無が検査される被検査物OBの表面に縞状の明暗
模様を投影する縞模様投影平日としての縞模様投影装置
1と、被検査物OBの表面に投影された縞模様の虚像を
躍影し光の強弱レベル信号(以下、明度レベルと呼ぶこ
ともある)としてのビデオ信号を出力する撮像手段とし
ての撮像管(L:1.下、TVカメラという)2と、T
Vカメラ2の出力するビデオ信号に基づいて上記明暗模
様の像の領域を検出する像領域検出手段としての像領域
検出装置3と、TVカメラ2の出力するビデオ信号およ
び像領域検出装置3の出力する像の領域に基づいて上記
明暗模様の像の不規則信号を検出し上記被検査物OBの
欠陥部を抽出する欠陥部抽出手段としての欠陥部抽出装
置4と、欠陥部抽出装置4が抽出した欠陥部の大きさを
判定する判定回路5と、から構成されている。尚、分配
器6は、TVカメラ2の出力するビデオ信号から同期信
号(後に詳述する)を分離するためのものであり、混合
器7は、欠陥部抽出装置の出力するビデオ信号に上記同
期信号を重畳させるためのものである。
縞模様投影装置1は、多数の等間隔のスリットを有する
平板10と散乱光を射出する光源11とから構成されて
いて、被検査物OBの表面に所定ピッチの縞模様(本実
施例では、明部・暗部共にその間隔1.5mmとしてい
る)を写し出す。尚、本実施例では、被検査物OBは光
沢を有する鉄板であって、縞模様は虚像として写し出さ
れる。
像領域検出装置3は、ロウパスフィルタ回路30、比較
器31.水平ブランク発生回路32および論理積回路3
3等から構成されている。
欠陥部抽出装置4は、バイパスフィルタ回路40、絶対
値回路41.ロウパスフィルタ回路42゜比較器43.
収縮回路44および論理和回路45等から構成されてい
る。
判定回路5は、第2図に示すように、所謂CPU50.
ROM51.RAM52等と外部入力回路53および外
部出力回路54とをバス55により相互に接続した論理
演算回路として構成されている。外部入力回路53は混
合器7と接続され、外部出力回路54は欠陥部の大きざ
が所定以上の大きざと判定された時所謂NG信号を出力
するよう構成されている。
尚、CRTディスプレイDPIはTVカメラ2により躍
影された明暗模様の像を表示するものであり、CRTデ
ィプレイDP2は混合器7より出力されるビデオ信号を
再生するものである。
次に本実施例の表面欠陥検査装置の作用を、第3図に示
すタイミングチャートを適宜用いて説明する。第3図に
示すタイミングチャートは、本実施例の各部の出力信号
を表わしたものである。
縞模様投影装置1により被検査物OB上に写される縞模
様の虚像は、TVカメラ2よりビデオ信号VD1 (第
3図タイミングチャート ビデオ信号MDI)に変換さ
れて分配器6に出力される。
また、このビデオ信号VD1は、CRTディスプレイD
P1にも出力され、TVカメラ2により躍映された画像
はCRTディスプレイDP1の画面上に再生される。T
Vカメラ2から出力されるビデオ信号MDIは、被検査
物OBの表面が滑らかな状態の時には、本来縞模様が持
つ明部のハイレベルと暗部のロウレベルとを規則正しい
状態で有する正弦波的な信号となるが、凹凸等の欠陥部
を有している時には、その欠陥部により縞模様は歪み・
乱されて明部のハイレベルあるいは暗部のロウレベルの
どちらにも属しない欠陥レベルとしての所謂中間明度の
信号(不規則信号)を有することになる(第3図タイミ
ングチャート ビデオ信@MDI区間bad)。この欠
陥部により歪み・乱された中間明度部badは、第1図
に絵画的に示したようにCRTディスプレイDP1の画
面上おいても観察することができる。また、このときC
RTディスプレイDP1の画面上に示したようにTVカ
メラ2が縞模様の写されていない領域(以下、単に非縞
領域と呼ぶ)areを捉えた場合には、この領域はレベ
ルの低い不規則な信号となる(第2図タイミングチャー
ト ビデオ信号VD1区間are)。尚、TVカメラ2
によるビデオ信号VD1は、被検査物08上の縞模様に
直交するスキャン走査による映像信号である。従って、
第3図に示されるタイミングチャートは時間tをパラメ
ータとしている。
分配器6に入力されたビデオ信号VD1は、ここで、画
像のビデオ信号VD2と同期信号SSとに分離される(
第3図タイミングチャート ビデオ信号VD2.同期信
号SS)。ビデオ信号VD1の有するビデオ信号VD2
は正のレベル、同期信号SSは負のレベルなので、分配
器6は整流器等を用いて簡易に構成することができる。
分配器6より出力されるビデオ信号VD2は像領域検出
装置3のロウパスフィルタ回路30に、同期信号SSは
水平ブランク発生回路32に各々入力される。像領域検
出装置3は、この入力されたビデオ信号VD2と同期信
号SSとに基づいて上記非縞領域areを検出する。次
に、この像領域検出装置3の働きを第4図のタイミング
チャートを用いて説明する。
ロウパスフィルタ回路30は所謂積分回路として構成さ
れていて、入力したビデオ信号VD2を鈍化する(第4
図タイミングチャート ビデオ信@V21>。この鈍化
されたビデオ信号V21は比較器31のマイナス側に入
力される。一方、比較器31のプラス側には、基準電圧
■1が入力されている。この基準電圧V1は、非縞領域
areの明度レベルよりも若干高い値に予め設定された
ものである。これにより、比較器31は、ビデオ信号V
21の縞模様の領域をロウレベルとする領域信号SG1
を出力する(第4図タイミングチャート 領域信@5G
1)。一方、単安定マルチバイブレータを用いて構成さ
れた水平ブランク発生回路32は、同期信号SSの立ち
上がりに同期して53m間ハイレベルとなる水平ブラン
ク信号HBを出力する(第4図タイミングチャート 水
平ブランク信号HB)。この水平ブランク信号HBはC
RTディスプレイの画面上の走査線1ラインに相当する
。上記領域信号SGIと水平ブランク信号HBとは共に
論理積回路33に入力されている。これにより、論理積
回路33は、非縞領域areの区間をハイレベルとする
非縞領域信号SG2を出力する(第4図タイミングチャ
ート 非縞領域信号SG2>。
一方、分配器6より出力されるビデオ信号VD2は、欠
陥部抽出装置4のバイパスフィルタ回路40にも入力さ
れる。次に、欠陥部抽出装置4の働きについて説明する
バイパスフィルタ回路40に入力されたビデオ信号VD
2は、ここでオフセット電圧力を取り除かれて、縞模様
の明部を正レベル、暗部を負のレベルとするビデオ信@
 V D 3に変換される。これにより、中間明度部b
adあるいは縞模様の明部と暗部との境界部はほぼ零レ
ベルの信号にされ、非縞領域areの低周波信号もほぼ
零レベルの信号にされる(第3図タイミングチャート 
ビデオ信号VD3)。尚、オフセット電圧とは、被検査
物08自体が持つ光のレベル信号である。
バイパスフィルタ回路40でオフセット電圧力を取り除
かれたビデオ信号VD3は、絶対値回路41に入力され
る。絶対値回路41に入力されたビデオ信号VD3の暗
部等の負のレベル信号は、ここで正レベルの信号に変換
される(第3図タイミングチャート ビデオ信号VD4
)。即ち、絶対価回路41に入力されたビデオ信号VD
3は、ここで全波整流されたビデオ信号VD4となる。
絶対値回路41より出力されるビデオ信号VD4は、そ
のままの形で比較器43のプラス側に入力されると共に
、ロウパスフィルタ回路42を介して比較器43のマイ
ナス側にも入力される。
ロウパスフィルタ回路42は入力されたビデオ信号VD
4に基づいて浮動しきい値信号SLを作る(第3図タイ
ミングチャート 浮動しきい短信@SL)。この浮動し
きい値信号SLは、第3図のタイミングチャートに示す
ように、ビデオ信号VD4の明部のハイレベル信号より
小さく、中間明度部badより大きい信号とされている
浮動しきい値信号SLを比較の基準値とする比較器43
は、明部をハイレベル、暗部をロウレベルとする2短信
号のビデオ信号VD5を収縮回路44に出力する(第3
図タイミングチャート ビデオ信号VD5)。
収縮回路44は、4ビツトのシフトレジスタと論理積回
路とより構成され、ビデオ信号VD5の期間の短いロウ
レベルの信号をハイレベルの信号とする。即ち、図示す
るビデオ信号VD5はCRTディスプレイの画面上の走
査線1ラインに相当し512個のパルス信号〈画素に相
当する〉に分解することできるが、4個以上のロウレベ
ルのパルス信号が連続しないような期間の短いロウレベ
ルの信号をハイレベルの信号とするのである。これによ
り、縞模様の明部と暗部との境界部としてのロウレベル
の信号はハイレベルとされ、ビデオ信号VD5は中間明
度部badと非縞領域areとをロウレベル(暗部〉と
するビデオ信号VD6にされる(第3図タイミングチャ
ーミル ビデオ信号VD6)。このビデオ信号VD6は
論理和回路45に入力される。
論理和回路45の他方の入力には、上述した像領域検出
装置3の論理積回路33より出力される非縞領域信号S
G2が入力される。上述したように非縞領域信号SG2
は、非縞領Vtareをハイレベルとする信号である(
第4図タイミングチャート 非縞領域信号SG2>。従
って、論理和回路45より出力されるビデオ信号VD7
は、中間明度部badのみをロウレベルとする信号とさ
れている(第3図タイミングチャート ビデオ信号VD
7)a 論理和回路45より出力されるビデオ信号VD7には、
分配器6より出力された同期信号SSが混合器7を用い
て重畳される(第3図タイミングチャート ビデオ信号
VD8>。この同期信号SSを重畳させたビデオ信号V
D8 (第3図タイミングチャート ビデオ信号VD8
)は、判定回路5に出力されると共にCRTディスプレ
イDP2にも出力される。これにより、CRTディスプ
レイDP2の画面上には、中間明度部badのみが暗部
として表示される。
判定回路5では、中間明度部baclの面積の大きさが
判定される。即ち、第5図のフローチャートに示すよう
に、中間明度部badの画素数が演算され(ステップ1
00)、画素数が所定数(本実施例では25画素)以上
の時(ステップ110)、判定回路5の外部出力回路5
4よりNG信号が出力される(ステップ120)。
本実施例の表面欠陥検査装置によると、被検査物O8上
の凹凸等の欠陥部を、TVカメラ2がとらえた被検査物
08表面の画像に含まれる中間明度部を用いて正確かつ
自動的に検出することができる。また、TVカメラ2が
縞模様の写されていない非縞領域areを捉えたとして
も像領域検出装置3等により非縞領域areは好適に欠
陥部と区別され誤検出されることもない。
これにより、ロボット等の産業は器を用いて物体の表面
検査を無人化することができ、著しく作業効率を高める
ことができるという優れた効果を有する。また、被検査
物OB上の中間明度部badの大きさは数値化すること
ができ、定温値と比較されて欠陥部と判定されるので、
検査結果に客観性を有し極めて信頼性の高い検査結果を
自動的に得ることができるという効果も奏している。更
に、凹凸等の欠陥部を中間明度部badとして検出する
ことができるので、被検査物OBの表面が曲面等の場合
に、明暗の縞模様の間隔が狭くなっても、欠陥部により
歪み・乱れる縞の面積は一定となり正確な検査結果を得
ることができるという優れた効果を有している。また、
本実施例においては、明暗模様の明部および暗部の間隔
を各々1゜5mmとしたが、検出したい欠陥部の大きさ
よりも縞間隔を狭くしていけば、欠陥部検出の精度を向
上させることができるという効果も奏する。
以上、本発明の表面欠陥検査装置の一実施例について詳
細に説明したが、本発明の表面欠陥検査装置は上記実施
例に回答限定されるものではなく、本発明を逸脱しない
範囲において種々の態様で行なうことができるのはもち
ろんのことである。例えば、本実施例においては被検査
物OB上の欠陥部を中間明度部として捉えたが、中間明
度部badと非縞領域areとを信号レベルの不規則部
分としてフィルタ回路等を用いて検出し、この検出され
た不規則部分から像領域検出装@3を用いて検出された
非縞領域areを取り除くよう構成する等種々の構成を
考えることができる。
1皿り四呈 本発明の表面欠陥検査装置によると、被検査物上の凹凸
等の欠陥部を自動的に検出することができるという優れ
た効果を有している。これにより、ロボット等の産業機
器を用いて物体の表面検査を無人化することができ、著
しく作業効率を高めることができるという優れた効果を
有する。また、被検査物上の欠陥部の大きさは数値化す
ることができ、定量値と比較されて欠陥部と判定される
ので、検査結果に客観性を有し極めて信頼性の高い検査
結果を自動的に得ることができるという効果も奏してい
る。更に、撮像手段が明暗模様の写されていない箇所を
捉えたとしても、像領域検出手段により明暗模様の写さ
れた像領域のみを検査するよう働き、誤検出を防ぎ検査
の信頼性を一層高めることができるという効果も有して
いる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明一実施例の表面欠陥検査装置の構成を示
すブロック図、第2図は判定回路5の構成を示すブロッ
ク図、第3図および第4図は本実施例の各部の出力信号
を示すタイミングチャート、第5図は判定回路5の行な
う処理を示すフローチャート、である。 1・・・縞模様投影装置 2・・・@保管(TVカメラ) 3・・・@領域検出装置 4・・・欠陥部抽出装置 5・・・判定回路 DPl、DP2・・・CRTディスプレイare・・・
非縞領域 bad・・・欠陥部

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 予め定められた明暗模様を被検査表面に写し出す明暗模
    様投影手段と、 該明暗模様投影手段により上記被検査表面に写し出され
    た明暗模様の像を光の強弱レベル信号として撮像する撮
    像手段と、 該撮像手段により撮像された上記レベル信号を鈍化し、
    この鈍化されたレベル信号を所定の基準値と比較するこ
    とにより上記明暗模様の像によるレベル信号の領域を検
    出する像領域検出手段と、該像領域検出手段により検出
    された領域の上記像によるレベル信号が不規則になる不
    規則信号を検出し上記被検査表面の欠陥部とする欠陥部
    抽出手段と、 を備えて構成された表面欠陥検査装置。
JP25747186A 1986-10-29 1986-10-29 表面欠陥検査装置 Pending JPS63111449A (ja)

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JP25747186A JPS63111449A (ja) 1986-10-29 1986-10-29 表面欠陥検査装置

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