JPS63304145A - 裏面点検鏡 - Google Patents

裏面点検鏡

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JPS63304145A
JPS63304145A JP14106687A JP14106687A JPS63304145A JP S63304145 A JPS63304145 A JP S63304145A JP 14106687 A JP14106687 A JP 14106687A JP 14106687 A JP14106687 A JP 14106687A JP S63304145 A JPS63304145 A JP S63304145A
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Japan
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inspection
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Takeo Inage
稲毛 竹男
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8806Specially adapted optical and illumination features

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔1既要〕 本発明の裏面点検鏡は額縁型に構成されているので、部
品実装面にそれを載置するだけで、実装部品の裏面を同
時に点検することができる。
〔産業上の利用分野〕
本発明は、例えば集積回路素子等の実装状態を裏面から
点検する際に使用される裏面点検鏡に関する。
集積回路素子等をプリント板(以下基板と呼ぶ)に半田
付は実装する際の最大の問題点は、溶融した半田が飛散
して集積回路素子の裏面に植立されている複数本のリー
ド端子に付着し、端子間の短絡事故を起こすことである
。この現象を見つけるための対策として、部品実装後の
点検を行うことは非常に重要であり、さまざまな点検手
段が講じられている。本発明はその一手段を提供するも
のである。
〔従来の技術〕
第2図は従来の裏面点検方法を説明するための要部側断
面図である。
第2図に示すように、基板10に実装された実装部品1
の裏面2を点検する場合は、反射鏡3aを図のように実
装部品10の側面と平行に配置し、反射面13aの反射
を利用して矢印り方向から裏面2の視認を行い、そこに
植立されている複数本のリード端子4間に図示されない
異物、特に半田等が付着していないか否かを確かめてい
た(視認の情度を向上させるために顕微鏡を用いること
もある)。
〔発明が解決しようとする問題点〕
しかしながら、上記従来の裏面点検方法は、実装部品1
の各側面(集積回路素子は正方形か長方形に形成されて
いるので、4つの側面を持っている)の点検を行う度毎
に反射鏡3の位置決めと傾斜角θの調整とを行う(この
操作は作業員のマニュアル操作によって実行される)必
要があるため、点検作業の作業効率が悪い。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明の裏面点検鏡は、第1図の実施例図に示すように
、台形に形成された複数個の反射鏡(3)を順次接合す
ることによって、これらを額縁型に構成した構造になっ
ている。
〔作用〕
裏面点検鏡をこのように額縁型に形成することにより、
実装部品1の周囲に該裏面点+*鏡を載V1:するだけ
で該実装部品1の各側面を同時に視認することが可能と
なり、また反射鏡3の傾斜角θを調整する必要も無いた
め、実装部品1の裏面点検作業が著しく容易化される。
〔実施例〕
以下実施例図に基づいて本発明の詳細な説明する。
第1図(alと(blは本発明の一実施例を示す要部側
断面図と斜視図であるが、前記第2図と同一部分には同
一符号を付している。
第1図fa)および(b)に示すように、本発明の裏面
点検鏡は、台形に形成された4個の反射鏡3によって構
成され、これらを順次接合することによって額縁型に形
成されている。なお、反射鏡3同志の接合は、例えば溶
接、接着剤による接着、半田付は等の手段を用いて行わ
れる(4個の反射鏡3を連接した形にして、その端部の
みを接合するようにしても良い)。また、該反射鏡3の
材料としては、例えば鏡面研磨を行ったステンレス板、
鍍金を施した黄銅板8等が用いられる。
このように形成された裏面点検鏡によれば、該裏面点検
鏡を第1図(a)に示す位置、即ち実装部品Iの周囲に
配置するといった簡単な操作を行うことによって、実装
部品1の裏面2を四方から同時に視認することができる
ため効率的である。
〔発明の効果〕
以上の説明から明らかなように本発明の裏面点険鏡は、
反射鏡が額縁型に形成されているので、複数方向から実
装部品の裏面を点検することが可能であり、このため、
実装部品の裏面点検作業が著しく効率化される。
【図面の簡単な説明】
第1図(a)と(′b)は本発明の一実施例を示す要部
側断面図と要部斜視図、 第2図は従来の裏面点検方法を説明するための要部側断
面図である。 図中、1は実装部品、 2は実装部品の裏面、 3と38は反射鏡、 4はリード端子、 10は基板、 13と13aは反射面、 θは反射鏡の傾斜角、 1突舊f1品 (b) 本発明。−笑語rJ図 第1図 従来、、裏釦忌不史方5れ茂り口)閃 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 実装部品(1)の裏面(2)を点検するための裏面点検
    鏡であって、 台形に形成された複数個の反射鏡(3)を順次接合する
    ことによって、これらを額縁型に構成してなることを特
    徴とする裏面点検鏡。
JP14106687A 1987-06-04 1987-06-04 裏面点検鏡 Expired - Fee Related JPH0769267B2 (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2001300093A (ja) * 2000-04-25 2001-10-30 Sanyo Product Co Ltd 遊技機
JP2007143701A (ja) * 2005-11-25 2007-06-14 Heiwa Corp 遊技機の基板ケース装置

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JP2001300093A (ja) * 2000-04-25 2001-10-30 Sanyo Product Co Ltd 遊技機
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