JPS63303315A - カセグレイン光学系の走査装置 - Google Patents
カセグレイン光学系の走査装置Info
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- JPS63303315A JPS63303315A JP62138264A JP13826487A JPS63303315A JP S63303315 A JPS63303315 A JP S63303315A JP 62138264 A JP62138264 A JP 62138264A JP 13826487 A JP13826487 A JP 13826487A JP S63303315 A JPS63303315 A JP S63303315A
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- Japan
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- mirror
- sample
- optical system
- measurement
- cassegrain optical
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- Pending
Links
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 title claims abstract description 32
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims abstract description 23
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 13
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 abstract description 4
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 5
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 2
- 238000000034 method Methods 0.000 description 2
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 2
- 238000009529 body temperature measurement Methods 0.000 description 1
- 239000000919 ceramic Substances 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 239000000758 substrate Substances 0.000 description 1
Landscapes
- Radiation Pyrometers (AREA)
- Mechanical Optical Scanning Systems (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明は例えば放射温度計、赤外二次元顕微鏡。
(H小温度分布測定装置などに使用されるカセグレイン
光学系の走査装置に関するものである。
光学系の走査装置に関するものである。
(従来の技術)
従来放射温度計などにおいて視野を走査するには1回転
多面鏡や振動鏡などが使用されている。
多面鏡や振動鏡などが使用されている。
このうち回転多面鏡は高速かつ高分解能の走査が可能で
あるがコストが高いのが欠陥である。一方振動鏡は鏡を
機械的に振動させるもので9手軽に分解能が高い走査を
低コストで行うことができる利点があるが9反面次に述
べるような問題点がある。
あるがコストが高いのが欠陥である。一方振動鏡は鏡を
機械的に振動させるもので9手軽に分解能が高い走査を
低コストで行うことができる利点があるが9反面次に述
べるような問題点がある。
すなわち、振動鏡の駆動方法には、一定周波数で正弦波
状の振動をする共振鏡型と、駆動波形に応じた動きをす
るガルバノミラ−型とがある。このうち共振鏡型は高速
の走査ができるが、鏡が正弦波状に動くので一般に要求
される等速走査ができず、もしも正弦波の直線部のみを
近(C的に使用とすると走査の時間的な有効率が低くな
って実用上不利である。一方、ガルバノミラ−型は有効
率が大きな等速走査ができるが1反面高速走査を行うこ
とができず、また立体角が小さく従ってセンサーへの入
射エネルギーが小さいため、精密な測定を行うことがで
きない等の問題点があった。
状の振動をする共振鏡型と、駆動波形に応じた動きをす
るガルバノミラ−型とがある。このうち共振鏡型は高速
の走査ができるが、鏡が正弦波状に動くので一般に要求
される等速走査ができず、もしも正弦波の直線部のみを
近(C的に使用とすると走査の時間的な有効率が低くな
って実用上不利である。一方、ガルバノミラ−型は有効
率が大きな等速走査ができるが1反面高速走査を行うこ
とができず、また立体角が小さく従ってセンサーへの入
射エネルギーが小さいため、精密な測定を行うことがで
きない等の問題点があった。
また放射温度計用光学系としてカセグレイン光学系を使
用する例として特開昭60−27825号公報所載の発
明がある。しかしながらこの発明は1 副鏡をファイン
ダー光学系の一部を構成するファインダーレンズの最後
面の周辺部に反射部が設けられた構成とするとともに副
鏡の直後で測定用光学系の光軸近傍に副鏡の中央を透過
した光束を反射して、測定光路の外側の他のファインダ
ー光学系に導くミラーを配置することにより放射温度計
のファインダー光学系の簡易化を図ることを目的とする
もので、主鏡と副鏡とを単独に動かし得るようにはして
いない。
用する例として特開昭60−27825号公報所載の発
明がある。しかしながらこの発明は1 副鏡をファイン
ダー光学系の一部を構成するファインダーレンズの最後
面の周辺部に反射部が設けられた構成とするとともに副
鏡の直後で測定用光学系の光軸近傍に副鏡の中央を透過
した光束を反射して、測定光路の外側の他のファインダ
ー光学系に導くミラーを配置することにより放射温度計
のファインダー光学系の簡易化を図ることを目的とする
もので、主鏡と副鏡とを単独に動かし得るようにはして
いない。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は、凹面鏡からなろ主鏡と、凸面鏡からなる副鏡
とを組合わせたカセグレイン光学系の主鏡と副鏡とを周
期的に振動させることによって試料面を走査し1高速か
つ高測定精度で測定するとともに、測定範囲の拡大を図
ることを目的とするものである。
とを組合わせたカセグレイン光学系の主鏡と副鏡とを周
期的に振動させることによって試料面を走査し1高速か
つ高測定精度で測定するとともに、測定範囲の拡大を図
ることを目的とするものである。
(問題点を解決するた必の手段)
本発明は、凹面鏡からなる主鏡と凸面鏡からなる副鏡と
を組合せたカセグレイン光学系を設け。
を組合せたカセグレイン光学系を設け。
かつ該主鏡および副鏡にそれぞれを互に直交方向に振動
させる駆動機構を設けるとともに、該駆動機構を所定の
周期で動作させる同期制御機構を設けたことを特徴とす
るものである。以下図面により本発明について説明する
。第1図は本発明を微小温度測定装置に適用した場合を
示すもので、1は本発明装置を収容した器体、2は試料
である。
させる駆動機構を設けるとともに、該駆動機構を所定の
周期で動作させる同期制御機構を設けたことを特徴とす
るものである。以下図面により本発明について説明する
。第1図は本発明を微小温度測定装置に適用した場合を
示すもので、1は本発明装置を収容した器体、2は試料
である。
また3はカセグレイン光学系の主鏡(凹面鏡)。
4は副鏡(凸面鏡)で、それぞれ駆動機構5および6に
より周期的に振動させるようにしである。
より周期的に振動させるようにしである。
さらにこの主鏡3の背後には、その中心に設けた孔を通
して形成された光軸上に反射鏡12.チョッパ−13,
センサー カセグレイン光学系17.CMT検出器等の検出器18
を順次配設しである。19は検出器槽18からの電気信
号を増巾する増巾器, 20は同期制御機構で。
して形成された光軸上に反射鏡12.チョッパ−13,
センサー カセグレイン光学系17.CMT検出器等の検出器18
を順次配設しである。19は検出器槽18からの電気信
号を増巾する増巾器, 20は同期制御機構で。
該機構20からの信号により前記駆動機構5,6および
チョッパー13を作動させるチョッパーコントローラー
14が制御される。21はデータ処理装置122はプリ
ンター、23はフロッピーディスク、24はCRTであ
る。また7は試料2を測定位置にセットする際に主鏡3
の背後の光軸上に挿入する反射鏡で,その反射像は反射
鏡8を介してCCDカメラ9に入射し,その映像はC
R Tllに表示される。
チョッパー13を作動させるチョッパーコントローラー
14が制御される。21はデータ処理装置122はプリ
ンター、23はフロッピーディスク、24はCRTであ
る。また7は試料2を測定位置にセットする際に主鏡3
の背後の光軸上に挿入する反射鏡で,その反射像は反射
鏡8を介してCCDカメラ9に入射し,その映像はC
R Tllに表示される。
なお10はCCDドライバー、25は試料照明用光源で
ある。
ある。
(作用)
本発明装置を用いて試料2の表面を走査し1その微小温
度分布を測定するには,先ず反射鏡7を光軸上に挿入し
,CCDカメラ9により試料2を撮像しCRTIIでモ
ニターしつつ試料を所定位置にセントする。次いて反射
鏡7を光軸から視野外に外した後,測定を開始する。す
なわち試料2からの放射光はカセグレイン光学系の主鏡
3および副鏡4で反射され,さらに反射鏡12.チョッ
パー13、センサー校正用空胴15,ピンホール16,
カセグレイン光学系17を経て検出器18に入射し,そ
の強度に応じた電気信号に変換され同期制御機構20に
人力する。そこで例えば第3図に示すように試料2の表
面を100ライン、1ライン100点(合計10OX1
00点)測定する場合には,同期制御機構20から副鏡
4の駆動機構6に50H2 の信号を印加して。
度分布を測定するには,先ず反射鏡7を光軸上に挿入し
,CCDカメラ9により試料2を撮像しCRTIIでモ
ニターしつつ試料を所定位置にセントする。次いて反射
鏡7を光軸から視野外に外した後,測定を開始する。す
なわち試料2からの放射光はカセグレイン光学系の主鏡
3および副鏡4で反射され,さらに反射鏡12.チョッ
パー13、センサー校正用空胴15,ピンホール16,
カセグレイン光学系17を経て検出器18に入射し,そ
の強度に応じた電気信号に変換され同期制御機構20に
人力する。そこで例えば第3図に示すように試料2の表
面を100ライン、1ライン100点(合計10OX1
00点)測定する場合には,同期制御機構20から副鏡
4の駆動機構6に50H2 の信号を印加して。
副鏡4を試料2のX方向に走査させる。また同様に同期
制御機構20から主鏡3の駆動機構5に0.5H2の信
号を印加して主鏡3を試料のY方向に走査する。このよ
うにすると一画面の走査を2秒で行うことができる。こ
の主鏡3および副鏡4の駆動と同期して,同期制御機構
20からの信号をチョッパーコントローラー14に印加
してチョッパー13を5KH.の周波数で作動させると
試料表面の放射光は第4図に示すようにチョッパー13
の開閉に周期して検出器18に検出される。すなわちチ
ョッパー13が開いたときには試料の放射光と光学系等
による迷光の和I,チョッパー13が閉じたときにはセ
ンサー校正用空胴15(光学系と等温)の放射光■。(
これは光学系による迷光と等しいと見做すことができる
。)が検出器18に検出される。従って試料2の放射光
はl−10 として求めることができる。そこで検出器
18から出力される各測定点の放射光の強度に基ずく電
気信号を同期制御機構20を介してデータ処理装置21
に入力して温度の値に変換し2 プリンター22および
CRT24に表示することができる。
制御機構20から主鏡3の駆動機構5に0.5H2の信
号を印加して主鏡3を試料のY方向に走査する。このよ
うにすると一画面の走査を2秒で行うことができる。こ
の主鏡3および副鏡4の駆動と同期して,同期制御機構
20からの信号をチョッパーコントローラー14に印加
してチョッパー13を5KH.の周波数で作動させると
試料表面の放射光は第4図に示すようにチョッパー13
の開閉に周期して検出器18に検出される。すなわちチ
ョッパー13が開いたときには試料の放射光と光学系等
による迷光の和I,チョッパー13が閉じたときにはセ
ンサー校正用空胴15(光学系と等温)の放射光■。(
これは光学系による迷光と等しいと見做すことができる
。)が検出器18に検出される。従って試料2の放射光
はl−10 として求めることができる。そこで検出器
18から出力される各測定点の放射光の強度に基ずく電
気信号を同期制御機構20を介してデータ処理装置21
に入力して温度の値に変換し2 プリンター22および
CRT24に表示することができる。
を用いた装置により試料の表面温度分布を測定したとき
の温度分解能は次のとおりてあった。
の温度分解能は次のとおりてあった。
(実施例)
試料としてlQmm x lQmmのセラミックス基盤
を用い2本発明装置および従来のガルバノミラ−を用い
た装置により試料の表面温度分布を測定したときの温度
分解能は次のとおりであった。
を用い2本発明装置および従来のガルバノミラ−を用い
た装置により試料の表面温度分布を測定したときの温度
分解能は次のとおりであった。
温度分解能△T (K)
本発明装置 0.1
従来装置 10
以上の結果から明らかなように1本発明の温度分解能は
従来法に比して約100倍となった。
従来法に比して約100倍となった。
(発明の効果)
以上説明したように本発明装置はカセグレイン光学系を
使用することによって視野の立体角を大きくとることが
でき、従って試料の表面からの放射完敗光のうちの検出
側合が増加し、その結果S/N比を高めることができ、
かつ測定範囲の拡大をはかることができるのみならず、
主鏡および副鏡を振動させるので試料表面の走査速度を
高めることができる等、微小温度測定装置、放射温度計
。
使用することによって視野の立体角を大きくとることが
でき、従って試料の表面からの放射完敗光のうちの検出
側合が増加し、その結果S/N比を高めることができ、
かつ測定範囲の拡大をはかることができるのみならず、
主鏡および副鏡を振動させるので試料表面の走査速度を
高めることができる等、微小温度測定装置、放射温度計
。
赤外二次元顕微鏡などに適用して、その効果は極めて大
きい。
きい。
第1図は本発明を微小温度測定装置に適用した場合を示
す説明図、第2図は本発明における主鏡と副鏡との関係
を示す説明図、第3図は本発明における試料表面の走査
の態様を示す説明図、第4図は本発明における測定デー
タの採取の態様を示す説明図である。 1:器体、2:試料、3:主鏡、4:副鏡。 5:駆動機構、6:駆動機構、12; 反射鏡13;チ
ョッパー、 14:チョッパーコントローラー。 15:センサー校正用空洞、16:ピンホール。 17:カセグレイン光学系、18:検出器。 19:増巾器、20:同期制御機構。 21:データ処理装置、22ニブリンター。 23:フロッピーディスク、 24:CRT。
す説明図、第2図は本発明における主鏡と副鏡との関係
を示す説明図、第3図は本発明における試料表面の走査
の態様を示す説明図、第4図は本発明における測定デー
タの採取の態様を示す説明図である。 1:器体、2:試料、3:主鏡、4:副鏡。 5:駆動機構、6:駆動機構、12; 反射鏡13;チ
ョッパー、 14:チョッパーコントローラー。 15:センサー校正用空洞、16:ピンホール。 17:カセグレイン光学系、18:検出器。 19:増巾器、20:同期制御機構。 21:データ処理装置、22ニブリンター。 23:フロッピーディスク、 24:CRT。
Claims (1)
- 凹面鏡からなる主鎖と凸面鏡からなる副鏡とを組合せた
カセグレイン光学系を設け、かつ該主鏡および副鏡に、
それぞれを互に直交方向に振動させる駆動機構を設ける
とともに、該駆動機構を所定の周期で動作させる同期制
御機構を設けたことを特徴とするカセグレイン光学系の
走査装置
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62138264A JPS63303315A (ja) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | カセグレイン光学系の走査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62138264A JPS63303315A (ja) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | カセグレイン光学系の走査装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS63303315A true JPS63303315A (ja) | 1988-12-09 |
Family
ID=15217869
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62138264A Pending JPS63303315A (ja) | 1987-06-03 | 1987-06-03 | カセグレイン光学系の走査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS63303315A (ja) |
-
1987
- 1987-06-03 JP JP62138264A patent/JPS63303315A/ja active Pending
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